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KR920015379A - Eeprom 및 eeprom 독출 방법 - Google Patents

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KR920015379A
KR920015379A KR1019920000507A KR920000507A KR920015379A KR 920015379 A KR920015379 A KR 920015379A KR 1019920000507 A KR1019920000507 A KR 1019920000507A KR 920000507 A KR920000507 A KR 920000507A KR 920015379 A KR920015379 A KR 920015379A
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South Korea
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transistor
cell
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coupled
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KR1019920000507A
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마사노부 요시다
기요노리 오구라
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세끼사와 요시
후지쓰 가부시끼가이샤
하요시 도시요끼
후지쓰 브이 엘 에스 아이 가부시끼가이샤
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    • G—PHYSICS
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    • G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
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    • G—PHYSICS
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Abstract

내용 없음

Description

EEPROM 및 EEPROM 독출 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예를 도시하는 개략도, 제2도는 본 발명의 제2실시예를 도시하는 개략도, 제3도는 본 발명의 제2실시예에 따른 셀어레이를 사용하는 반도체 기억장치의 요부를 도시하는 회로도.

Claims (12)

  1. 행과 열에 배열되고, 소오스, 드레인 및 제어 게이트를 포함하는 다수의 전기적으로 소거 가능하고 프로그램 가능한 비휘발성 셀 트랜지스터를 갖는 셀 어레이;상기 셀 트랜지스터의 행중의 특정한 하나와 결합되어 있으며, 각각의 결합된 셀 트랜지스터의 제어 게이트에 연결되어 있는 다수의 워어드라인; 및 상기 셀 트랜지스터 어레이의 연결된 행에서 셀 트랜지스터의 소오스에 연결되어 있으며, 선택된 셀 트랜지스터를 활성화하도록 배치되어 있는 다수의 제1선택소자로 이루어지는 전기적으로 프로그램 가능하고 전기적으로 소거 가능한 비휘발성 반도체 기억장치에 있어서, 상기 제1선택소자는 그들과 연결된 워어드 라인을 선택할때 관련 셀 트랜지스터의 소오스를 제1전원에 전기적으로 연결하기 위하여 그들과 연결된 워어드 라인의 선택과 동기하여 활성화되도록 배열되는 비휘발성 반도체장치.
  2. 제1항에 있어서, : 성기 제1전원의 전위와 다른 전위를 갖는 제2전원에 셀 트랜지스터의 소오스를 전기적으로 접속하고, 워어드 라인이 선택되지 않을때 제2전원에 전기적으로 연결된 셀 트랜지스터용 상기 셀 트랜지스터의 특정 행과 결합되어 있는 다수의 조절소자(rerulating element)를 포함하는 연결 수단을 더 포함하는 비 휘발성 반도체 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 조절소자가 저항인 비휘발성 반도체 장치.
  4. 제2항에 있어서, 상기 조절소자가 트랜지스터인 비휘발성 반도체 장치
  5. 제2항에 있어서, 각각의 제1선택 소자가 N-채널형MOS트랜지스터이고, 각 MOS트랜지스터의 게이트는 관련 워어드 과인에 연결되고, 각 MOS 트랜지스터의 드레인은 관련 워어드 라인에서 각각의 셀 트랜지스터의 소오스에 연결되며, MOS트랜지스터의 소오스는 제1전원(VS1)에 연결되는 비휘발성 반도체 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 조절소자가 P-채널형 MOS 트;랜지스터인 비휘발성 반도체 장치.
  7. 제6항에 있어서, 제2선택소자가 제1선택소자로서 동일 신호에 의해 활성화되는 비휘발성 반도체 장치.
  8. 제1항에 있어서, 제1전원이 접지 전위에서 설정되는 비휘발성 반도체 장치.
  9. 행과 열에 기능적으로 배열되며 소오스, 드레인 제어 게이트 및 부동 게이트를 포함하는 다수의 전기적으로 소거 가능하고 전기적으로 프로그램 가능한 비휘발성 단일 트랜지스터 셀을 갖는 셀어레이; 상기 트랜지스터 셀의 행중의 특정한 하나와 결합되어 있고, 각각의 결합된 트랜지스터 셀의 제어 게이트에 연결되어 있는 다수의 워어드 라인; 상기 트랜지스터 셀 열중의 특정한 하나와 결합되어 있는 다수의 비트라인; 상기 트랜지스터 셀중의 선택된 하나로 부터 정보를 독출하고 그안에 정보를 기록하며, 선택된 트랜지스터 셀과 결합된 워어드 라인 및 비트라인을 선택하도록 배열되어 있는 선택수단; 및 상기 트랜지스터 셀의 소오스에 제1 및 제2전위를 교대로 공급하기 위하고, 독출동작시 선택된 행에서 트랜지스터 셀의 소오스에 그 트랜지스터 셀의 독출을 허용하는 상기 제1전위가 공급되도록 그리고 독출동작시 그와 결합된 트랜지스터 셀이 off를 유지하도록 보장하기 위해서 선택된 행의 트랜지스터 셀의 소오스에 상기 제2전위가 공급되도록 배열되어 있는 스위칭 수단으로 구성되는 전기적으로 프로그램 가능하고 전기적으로 소거 가능한 비휘발성 반도체 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 트랜지스터 셀 어레이의 특정행과 각각 결합되어 있으며, 관련 셀 어레이에서 트랜지스터 셀의 소오스를 전기적으로 접속하기 위해 각기 배열되어 있는 다수의 선택 라인을 더 포함하며, 상기 스위칭소자가 다수의 선택소자를 포함하는데, 각 선택소자는 결합된 선택 라인에 연결되고 그와 관련된 워어드 라인이 선택될 때 상기 제1전위에서 그와 관련된 셀 트랜지스터의 소오스를 제1전원에 전기적으로 연결하기 위하여 관련 워어드 라인의 선택과 동기하여 활성화되도록 배열되어 있는 비 휘발성 반도체 장치.
  11. 그행에 트랜지스터 셀의 제어 게이트에 연결된 워어드 라인을 갖는 각 행과 그열에 트랜지스터 셀의 드레인에 연결된 비트라인을 갖는 각 열등 다수의 행과열로 기능적으로 분할되어 있으며, 소오스, 드레인, 제어게이트 및 부동 게이트를 각각 갖는 단일 트랜지스터 셀로 부터 형성되는 셀 어레이로 이루어지는 전기적으로 프로그램 가능하고 전기적으로 소거 가능한 비휘발성 반도체 기억장치로 부터 정보를 독출하는 방법에 있어서, 요구된 트랜지스터 셀의 행을 선택하고, 비선택된 행의 트랜지스터 셀의 소오스를 트랜지스터 셀을 활성화 하지 않는 제2전위로 유지하는 동안 선택된 열의 트랜지스터 셀의 소오스를 제1전위에 연결하여 선택된 행에서 트랜지스터셀 만을 활성화 시키는 단계, 및 요구된 트랜지수터 셀의 열을 선택하고 선택된 열과 결합되어 있는 비트라인으로 부터 정보를 독출하는 단계를 포함하는 방법.
  12. 제11항에 있어서, 제1전위가 접지 레벨인 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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