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KR910006661B1 - 에러 및 데이타 검출을 위한 독립적 광경로를 갖춘 자기 광헤드 - Google Patents

에러 및 데이타 검출을 위한 독립적 광경로를 갖춘 자기 광헤드 Download PDF

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KR910006661B1
KR910006661B1 KR1019890000347A KR890000347A KR910006661B1 KR 910006661 B1 KR910006661 B1 KR 910006661B1 KR 1019890000347 A KR1019890000347 A KR 1019890000347A KR 890000347 A KR890000347 A KR 890000347A KR 910006661 B1 KR910006661 B1 KR 910006661B1
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KR
South Korea
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medium
polarization
laser
diffraction
reflection
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Application number
KR1019890000347A
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KR890012285A (ko
Inventor
와이 혼 리
Original Assignee
펜콤 인터내셔날 코오퍼레이션
알. 에이. 드브리지
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 펜콤 인터내셔날 코오퍼레이션, 알. 에이. 드브리지 filed Critical 펜콤 인터내셔날 코오퍼레이션
Publication of KR890012285A publication Critical patent/KR890012285A/ko
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Abstract

내용 없음.

Description

에러 및 데이터 검출을 위한 독립적 광경로를 갖춘 자기광헤드
제1a도는 종래의 자기 광헤드의 블록도.
제1b도는 제1a도의 초점 및 트랙킹 검출기의 도면.
제2a도는 세비임 회절격자를 이용한 제2종래기술의 자기광헤드의 블록도.
제2b도는 제2도의 광검출기의 도면.
제3도는 본 발명에 따른 자기 광헤드의 블록도.
제4도는 서로 매우 인접한 레이저 다이오드 및 광검출기를 갖는 본 발명에 따른 광헤드의 바람직한 실시예의 도면.
제5도는 제4도의 반도체 레이저 및 광검출기의 정면도.
제6도는 본 발명에 따른 자기 광헤드의 제2실시예의도면.
제7도는 선(7-7)을 취한 제6도의 실시예의 단면도.
제8도는 선(8-8)을 취한 제6도의 실시예의 단면도.
제9도는 두검출기를 이용한 제6도의 자기 광검출기의 일실시예.
제10도는 제9도의 평광자의 상이한 편광을 도시한 도면.
제11도는 제9도의 검출기에 의해 검출된 신호벡터의 도면.
본 발명은 데이터기록 및 검색 시스템에 사용되는 자기 광헤드에 관한 것이다.
열 자기기록은 소거 및 재기입능력을 제공한다. 열자기 기록의 원리는 어떤 강자성체의 특성에 근거한다. 이물질의 온도가 큐리온도이상 상승될 때, 그 물질의 자화는 작은 자계에 의해 영향을 받는다. 이 원리는 매체의 온도를 큐리온도이상 상승시키기 위하여 레이저 비임이 기록 매체에 집중되는 열자기 광학데이터 기억장치에 사용된다. 작은 전자석은 매체의 다른측에 위치되어 매체부근에 자계를 발생시켜 매체의 자화를 변경시킨다. 매체로부터 정보를 검색하기 위하여 레이저 비임은 다시 매체에 집중되지만 작은 파워에 있다. 매체의 자화에 따라서, 매체로부터 반사된 비임의 편광은 변하지 않거나 0.4도 정도 회전된다.
광검출기앞에 끼워진 분석기(편광자)는 검출기로 하여금 반송된 비임의 평광의 이러한 두 상이한 상태를 감지하게 한다. 기록된 정보를 소거하는 한 방법은 먼저 전자석의 자화방향을 반대로 되게 하고 다음 집중된 레이저 비임을 가하여 매체의 온도를 큐리온도이상 상승시켜서 매체를 한방향으로 균일하게 자화시키는 것이다.
광 데이터 기억장치 시스템에서 상기 원리를 이용하기 위하여 광헤드는 열자기 매체에 집중된 레이저 비임을 발생시키는데 요구된다. 더욱이, 편광자는 검출기로 하여금 매체상에 기록된 정보를 판독하게 하는데 필요하다.
열자기 광헤드에 요구되는 편광자는 2형태로 상업상 이용가능하다, 하나는 이색성에 근거한 시트형 편광자인데, 이색성은 물질을 통한 전송중에 다른 직교편광에 우선하여 한면의 편광에 대한 선택적 흡수를 하는 것이다. 시트 편광자는 플라스틱시트로 끼워진 유기물질로부터 제조된다. 시트는 연장되며, 이것에 의하여 분자를 정렬하고 그것들을 복굴절하게하고 그다음에 피그먼트로 물들인다. 물들인 분자는 그 자신들을 정렬된 폴리머분자에 선택적으로 부착하여서, 그결과 흡수는 한면에서는 매우 높고 다른면에서는 비교적 약하다. 전송된 빛은 다음에 선형적으로 편광된다. 시트형 편광자의 광학질은 비교적 낮다. 그것들은 낮은 파워 및 시각응용에 대개 사용된다.
다른형의 편광자는 두 직교편광을 구별하기 위하여 와이어 그리드 구조의 사용에 근거한다. 광방사가 방사의 파장보다 작거나 비슷한 간격을 갖는 평행 반사 스트라이프의 어레이에 입사될 때, 전기벡터가 어레이방향에 수직인 방사는 반사된다. 결과는 전송된 방사가 대개 선형적으로 편광된다. 두형태의 편광자의 단점은 광효율이 통상 30%이하라는 것이다.
자기 광 검출을 위한 통상의 광헤드가 제1a도에 도시되었다. 레이저는 바람직한 지향성을 지닌다는 점에서 통상의 광과 구별된다.
P-편광은 지향성이 제1a도의 종이에 평행함을 의미한다. S-편광을 지향성이 종이에 수직임을 의미한다. 따라서, S 및 P 성분을 직교한다.
제1a도에서, 레이저팬(10)은 조준된 비임을 비임 스플리터(12)를 통하여 비임을 자기광매체(16)에 집속하는 대물렌즈(14)에 보낸다. 비임 스플리터(12)의 특징은 P 편광광의 80%를 통과시키며 S 편광광의 100%를 반사시킬 것이다. 레이저 다이오드로써 비임스플리터에 대하여 광의 80%의 P 편광이 대물렌즈를 통하여 매체에 전송된다. 나머지 20%는 비임 스플리터에 의해 반사되며 손실된다.
레이저 비임이 매체의 면에 접속될 때, 발생된 열은 물체를 기록 매체의 자기영역의 지향성이 작은 외부자계에 의해 역으로 되는 온도로 상승시킨다. 결과적으로 정보는 데이터 시퀸스에 따라 레이저 다이오드를 펄스화하여 기록될수 있다.
기록된 정보는 매체에 낮은 파워 레이저 비임을 다시 접속시켜 검색될수 있다. 국소 자기영역 지향성과 광비임의 상호작용은 반사된 비임의 편광이 작은 각도로 회전되게 한다. 즉, 매체와 상호작용후, P 편광광비임은 작은 S 편광성분을 포함한다. 회전광 벡터의 방향은 매체의 자기영역의 지향성에 좌우된다. 따라서, S 성분값은 +1혹은 -1에 따라 양 혹은 음이다. 디지털 넘버에 대하여, -1은 디지털 0에 대응한다,
반사비임의 비임 스플리터(12)에 다시 들어갈 때, S 편광성분의 100%가 반사되며 단지 20%의 P 편광성분만이 반사된다. 반사비임의 P 편광성분의 80%가 비임 스플리터(12)를 통하여 레이저 다이오드쪽으로 전송되며 사용되지 않는다. 두 P 및 S 성분이 검출기에 의하여 요구되므로, P 혹은 S 성분의 일부가 손실되어야 하는데 이것은 두 개 모두 비임 스플리터에 의하여 스플리터 오프될수는 없기 때문이다. P 성분은 P 성분에 대해 작은 S 성분의 값을 증가시키기 위해 감소되도록 선택된다. 비임 스플리터(12)에 의해 반사된 비임의 편광방향을 P 성분에 대한 S 성분의 값을 더 증가시키기 위해 비임 스플리터(20)를 통과하기전에 웨이브 플레이트(18)에 의해 45도 정도 더 회전된다. 비임 스플리터(20)는 S 편광성분의 100%가 반사되며 P 편광성분의 100%는 통과되는 성질을 갖는다. 리턴된 비임의 회전방향은 검출기(22) 및 검출기(26)에 의해 검출된 광의 차이를 고려하여 검출될수 있다. 물론 검출기(26)는 4검출기를 구비하고 있으므로 광헤드에 대한 정상적인 방법으로 트랙킹에러 및 초점에러검출을 수행할수 있다.
제2가능한 실시예가 제2a도에 도시되었다. 레이저펜(10), 대물렌즈(14) 및 자기광매체(16)가 제1a도와 같이 구비되었다. 비임 스플리터(28)는 제1a도의 비임 스플리터(12)와 동일한 성질을 갖는다. 리턴광이 비임 스플리터(28)에 의해 반사될 때, 광은 격자(32)를 통하여 렌즈(30)에 의해 검출기(34,36,38)에 접속된다. 홀로그래픽방법에 의해 바람직하게 제작된 회절격자(32)는 비임 스플리터대신 사용되며, 검출기(34,36,38)에 세회절 비임을 공급한다. 검출기(34,38)앞의 편광자(40,42)는 각각 리턴비임의 편광회전의 방향의 검출을 가능하게 한다. 제2b도로부터 알수 있는 바와같이, 검출기(34,38)는 싱글 검출기인 반면 검출기(36)는 초점 및 트랙킹에러 검출을 위한 사분면 검출기이다.
본 발명은 원래의 레이저펜과 실제적으로 동일한 광경로에 초점에러 및 트랙킹에러 검출기를 둔 레이저펜을 사용한 개량된 자기광헤드이다, 본 발명에서 기억된 정보는 비임 스플리터에 의해서 반사된 비임으로부터 유도되는 반면 전송된 광은 트랙킹에러 및 초점에러 신호를 발생하기 위하여 이용된다.
종래 장치에서는 서보 전자신호뿐만아니라 기억된 정보는 제1 및 2a도의 비임 스플리터(12) 혹은 비임 스플리터(28)에 의해 반사된 작은양의 광비임에서 유도된다. 더욱이 본 발명은 비임 스플리터가 모든 P 편광성분을 실제적으로 투과시키는 반면 모든 S 편광성분을 실제적으로 반사시키는 종래의 장치에 유사한 80/20형 혹은 비임 스플리터일수 있는 잇점을 지니고 있다. 이것은 레이저 다이오드로부터 장치의 매체로서 광처리량을 향상시킨다. 더욱이, 모든 P 편광을 투과시키며 모든 S 편광을 반사시키기 위한 그러한 비임 스플리터는 통상 더 획득하기 쉬우며 덜 비싸다.
본 발명의 독특한 레이저펜은 훨씬 작은 광헤드를 감소된 수의 부품들과 사용될수 있게 한다. 레이저펜은 대물렌즈에 보내기 위한 레이저 비임을 발생하기 위한 레이저 다이오드를 포함한다. 리턴 경로에서, 레이저 비임은 회전격자에 충돌하며, 이것은 레이저와 대물렌즈사이에서 홀로그래픽일수 있다. 레이저에서 대물렌즈로의 전향경로상의 회전비임은 사용되지 않지만, 리턴 경로에서 회절비임의 하나는 레이저 다이오드에 바로 인접한 광검출기에 집속된다.
본 발명의 성질 및 장점의 충분한 이해를 돕기위하여 첨부도면과 관련지어 계속되는 상세한 설명이 제공된다.
제3도는 본 발명에 따른 자기광헤드의 블록도이다. 레이저펜(44)은 조준렌즈(50) 및 홀로그래픽광소자(52)와 함께 레이저 다이오드(46) 및 인접하는 광검출기(48)를 포함한다. 레이저 다이오드는 비임 스플리터(54)의 입사면에 평행한 편광을 갖도록 배열된다(즉, 레이저 비임은 비임 스플리터에 대해 P 편광된다). 비임 스플리터(54)는 모든 P 편광을 실제로 투과시키고 모든 S 편광을 실제로 반사시키는 성질을 갖고 있다. 따라서, 레이저 다이오드로 부터의 모든 P 편광조준광은 매체에 기입 혹은 매체로부터 판독하기 위하여 자기 광매체(58)에 집속하기 위하여 대물렌즈(56)에 비임 스플리터(54)에 의해 전송된다.
매체로부터 정보를 검색함에 있어서, 국한된 자기도메인 방향과 광비임의 상호작용은 반사비임의 편광을 작은 각도로 회전되게 한다. 즉, 매체와의 상호작용이후, P 편광 비임은 이제 작은 S 편광성분을 포함한다. 횐전의 광벡터방향은 매체상의 자기 도메인의 방향에 의존한다. 이 방사된 비임이 비임 스플리터(54)에 재진입할 때, 작은 S 편광성분의 100%가 반사되며, P 편광성분의 동일하게 작은 양이 비임 스플리터(54)의 불완전성으로 인하여 반사된다. 결과적으로, 비임 스플리터(56)에 의한 반사후에 광비임의 편광방향은 크게회전된다. 회전방향은 분석기(편광자)(60) 및 광검출기(62)를 사용하면 쉽게 해석될수 있다.
매체로부터 반사된 광의 P 편광성분의 대부분은 초점에러 및 트랙킹 에러시호를 검출하기 위하여 레이저펜 유니트에 리턴된다. 따라서 본 발명의 이러한 실시예는 사용될 종래기술의 80/20 비임 스플리터보다 더 간단한 비임 스플리터의 사용을 허용한다. 제1a도의 실시예의 여분의 편광 비임 스플리터는 제거된다. 본 발명은 향상된 신호 대 잡음비를 제공하는데, 이는 비임 스플리터(54)에 의해 반사된 광은 기억된 정보를 회복하는 데만 사용되며, 이 광의 어느것도 서보에러를 센싱하기 위해 세분되지 않기 때문이다.
제3도의 레이저펜이 제4도에 도시되었다. 이러한 광헤드배열은 열자기 매체 혹은 랜드 및 피트를 이용한 매체와 같은 상이한 기록매체를 위해 사용될수 있다. 반도체 레이저 및 검출기(68)는 레이저 비임(70)을 조준렌즈(72)에 방사한다. 조준비임은 홀로그램렌즈(74)를 통하여 대물렌즈(76)로 통과된다. 홀로그램렌즈(74)는 반도체 레이저 및 검출기(68)와 조준렌즈(72)사이에도 둘수 있다. 대물렌즈(76)는 비임을 매체(78)에 접속한다. 대물렌즈(76)는 초점 및 트랙킹 작동기(82)에서 코일(80)에 의해 이동될수 있다. 반도체 레이저 및 검출기(68) 조준렌즈(72) 및 홀로그램렌즈(74)는 광헤드의 레이저팬(84)부를 형성한다.
제5도는 반도체 레이저 및 광검출기(68)의 전면을 도시한 것이다. 반도체 레이저(86)는 히트싱크(88)위에 장치된다. 사분면 광검출기(90)는 히트싱크(88)면위에 장치된다. 광검출기(92)는 반도체 레이저(86)뒤에 위치되어 반도체 레이저로부터 방사된 광을 측정한다. 광 검출기(92)는 반도체 레이저(86)로 다시 광을 반사하지 않도록 각을 이룬다. 사분면 검출기(90)는 바람직하게는 반도체 레이저(86)의 5밀리미터이내에 있게되며, 바람직하게는 레이저(86)와 동일면의 2mm이내이다, 전형적인 제조공정에 의하면 0.25 내지 0.5mm의 두께 및 따라서 광 검출기 표면과 레이저 다이오드면 사이에 이정도 양의 간격을 갖는 광검출기가 생산된다. 이 간격은 초점에러 발생을 위한 난시파두면과 종래의 렌즈에 유사한 구면파두면을 조합한 홀로그램렌즈로 보상될수 있다. 이것은 검출기를 광헤드의 초점에러범위내에 두어야 한다. 반도체 레이저 및 광검출기(86)의 바람직한 실시예에 대한 더 상세한 설명은 1986년 5월 1일에 출원된 계류중인 출원번호 제 858,411호에 나타나있다.
동작에서, 반도체 레이저(86)로 부터의 레이저 비임(70)은 조준렌즈(72)에 의해 조준 혹은 평행하게 된다 이 조준된 비임은 홀로그램렌즈(74)를 통과하여 제로차 회절비임 및 다수의 고차 회절비임을 발생시킨다. 제로차 회절비임은 각을 이루는 것이 아니고 동일경로에서 계속되는 것이며 광헤드의 전향광 경로에서 사용되는 유일한 비임이다. 이 비임은 코일(80)로써 이동될수 있는 대물렌즈(76)에 의해 매체(78)에 접속된다.
리턴경로에서, 비임은 다시 제로 및 더 고차회절비임을 발생하는 홀로그램렌즈(74)에 도달한다. 제로차 비임은 레이저로 리턴되며 검출을 위해 사용되지 않는다(일부 종래기술은 반사비임의 강도를 측정하기 위하여 반사비임으로 인한 레이저의 파워 변화를 이용한다. 그러나 이러한 스시템은 이 방식으로 초점 및 트랙킹을 할수 없다). 리턴 경로상의 반사비임은 또한 홀로그래픽렌즈(74)로부터 더 고차인 회절비임을 발생한다. 이러한 고차 회절비임의 하나는 광검출기(90)에 비추어진다. 바람직하게 이것은 대략 10°정도 회절된 제1차 회절비임이다. 이러한 구성은 동일 기계적 구조에 장치되는 반도체 레이저 및 광검출기를 갖는 잇점이 있다. 따라서, 이러한 기계장치의 운동은 광헤드에 의해 수신된 신호에 거의 영향을 미치지않는데 이것은 검출기가 비임이 반도체 레이저의 이동으로 인하여 움직일 동일량 및 방향으로 움직일 것이기 때문이다.
제4도의 실시예는 레이저펜(84)이 초점 및 트랙킹작동기(84)로부터 분리 대체될수 있는 점에서 모듈적이다. 사실 제4도의 초점 및 트랙킹 적동기는 종래기술의 초점 및 트랙킹 작동기와 동일하다.
광검출기에 충돌하도록 그것을 약간 이동시키기 위한 광의 비임을 회절하는 외에도 홀로그램렌즈(74)는 광검출기와 결합하여 트랙킹 및 초점 기능을 수행하기 위하여 구성될수 있다. 그러한 시스템은 모출원 시리얼넘버 제 938,085호에 기재되어 있다.
제6도는 본 발명의 다른 실시예의 상단면도이다. 다시, 종래기술로 부터의 이러한 실시예의 특징은 기억된 정보 및 서보에러신호의 개개의 검출이다. 더욱이, 이 실시예에서의 다른 홀로그래픽 비임 스플리터의 사용은 미분검출방법에 의한 리턴비임의 편광회전의 센싱을 허여한다.
제6도에서 알수 있는 바와같이. 레이저펜(94)을 P 편광 레이저 비임을 정형광소자(96)를 통하여 80/20편광 비임 스플리터(98)로 향하게 한다. 그곳으로부터 비임은 자기광 매체로의 투사를 위해 도시되지 않은 작동기에 페이지로 부터의 비임을 향하게 하는 터닝미러(100)로 향해진다. 리턴경로에서, 터닝미러(100)는 광을 다시 비임 스플리터(98)로 향하게 한다. P 편광성분의 80%는 비임 스플리터(98)를 통과하여 서보에러신호를 발생하기 위하여 레이저펜(94)으로 리턴된다. 광자기 상호작용에 의해 발생된 S 성분 및 P 성분의 20%는 자기 광검출기 모듈(102)로 행하여 진다.
제7도는 작동기(104)로부터 미러(100), 편광 비임 스플리터(98), 및 광소자(96)를 통하여 레이저펜(94)의 광검출기까지의 레이저 비임의 P 성분의 경로를 보여주는 제6도의 선(7-7)을 따라 취한 단면도이다. 제7도는 대물렌즈 및 대물렌즈를 이동시키기 위한 기구를 포함하는 작동기(104)의 접속을 도시한 것이다.
제8도는 작동기(104)로부터 미러(100)(도시되지않음) 및 편광 비임 스플리터(98)를 통하여 자기광 검출기(102)까지의 S 성분의 경로를 보여주는 제6도의 선(8-8)을 따라 취한 단면도이다.
제9도는 제6도의 자기광 검출기(102)의 일실시예이다. 제9도의 실행은 소망되는 80/20 비임 스플리터의 사용을 허여한다. 이 실시예는 제3도의 실시예의 싱글 광검출기와 비교할 때 P 및 S 성분이 전송되므로 두 광검출기(106,108)를 이용한다. 레이저 비임은 조준렌즈(112)를 통과한후에 광검출기(106,108)에 충돌하기 위해 두 회절비임을 발생시키는 홀로그램렌즈(110)를 통과한다. 편광자(114,116)는 각각 광검출기(106,108)앞에 위치된다.
제10도에 도시된 바와같이 편광자(114,116)는 직교 편광성분을 갖는 레이저 비임의 성분을 통과시킨다.
제11도에 도시된 바와같이, 신호벡터(118)는 P 축에 대해 약간 회전될 수 있다. 알려진 바와같이, 분석기(114,116)가 성분(A,B) 방향으로 성분을 통과시키면, 광검출기는 상이한 진폭신호를 검출할 것이다. P 혹은 S 성분, 혹은 0.4도 기대 회전 벡터의 성분을 위해 분석기를 정확하게 정렬시키기가 가능하지 않을수도 있음을 주의하자. 그러나, 그러한 정확한 정렬은 필요하지 않다. 따라서, 광검출기의 값간의 차이는 검출된 신호를 제공하며, 그것은 성분(A)이 B보다 크면 1이며, 작으면 -1이다.
당분야의 전문가에게 이해될 것인바. 본 발명은 그 취지나 본질적인 특성을 벗어나지 않으면 기타의 특정형태로 구현될수 있다. 예를들면, 제9도의 편광자는 직교할 필요는 없다. 부가하면, 광검출기의 하나는 홀로그램렌즈(100)로부터 0차(축에서) 1회절비임을 검출하도록 위치될수 있다. 따라서 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 기재는 예증적인 것이며, 이하 청구범위에 기재된 본 발명의 취지에 대한 제한이 아니다.

Claims (6)

  1. 반사성 매체에 제1편광을 갖는 레이저 비임을 보내기 위해, 초점에러검출을 위하여 상기 매체로 부터의 상기 레이저 비임의 반사비임에서 회절비임을 발생하는 회절격자를 포함하는 레이저펜 : 상기 레이저 비임의 상기 제1편광에 직교하는 제2편광을 갖는 상기 반사비임의 제1성분의 모두를 실제로 반사시키기 위하여 상기 회절격자와 상기 매체 사이에 장치된 편광 비임 스플리터 : 및 상기 반사성분을 검출하기 위한 광검출기 수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 반사성 매체에 기록된 정보를 판독하기 위한 자기광헤드.
  2. 제1항에 있어서, 상기 비임 스플리터는 상기 레이저 비임과 동일한 편광을 갖는 상기 반사비임의 제2성분의 모두를 실제로 상기 회절격자에 보내는 것을 특징으로 하는 자기광헤드.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2편광의 광을 보내기 위해 상기 편광 비임 스플리터와 상기 광검출기 수단 사이에 장치된 분석기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기광헤드.
  4. 제1항에 있어서, 상기 비임 스플리터는 상기 레이저 비임과 동이한 편광을 갖는 상기 반사비음의 제2성분부분을 반사하며, 상기 반사성분을 받아서 다수의 회절비임을 발생하기 위하여 장치된 제2회절격자 : 상기 회절비임의 하나를 인터셉트하도록 장치된 제2광검출기 수단 : 및 상기 제 1 편광에 본질적으로 직교하는 편광을 갖는 상기 반사 성분부분으로 보내기 위하여 상기 제2회절격자와 제2광검출기 수단 사이에 장치된 제2분석기 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기광헤드.
  5. 초점 에러 검출을 위해 상기 매체로부터 의 상기 레이저 비임의 반사비임에서 회절비임을 발생시키기 위한 회절격자를 포함하는 상기 매체에 레이저 비임을 보내기 위한 레이저펜 : 상기 레이저 비임에 직교하는 편광을 갖는 상기 반사비임의 성분의 실질적인 부분을 반사하며, 상기 레이저 비임과 동일한 편광을 갖는 상기 반사비임 성분부분을 상기 회절격자에 보내며 또한 상기 제2성분부분을 반사하기 위하여 상기 회절격자와 상기 매체 사이에 장치된 편광 비임 스플리터 : 상기 반사성분으로부터 다수의 상이한 비임을 발생하기 위한 제2회절격자 : 상기 제2회절격자로부터 비임을 검출하기 위한 제1 및 제2광검출기 : 및 상기 제2회절격자와 상기 제1 및 제2광검출기 사이에 각각 장치되는 제1편광에 대해 대략 45°각을 이룬 제2편광의 광을 보내는 제1편광자 및 제2편광에 대해 대략 90°각을 이룬 제3편광의 광을 보내는 제2편광자를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기광헤드.
  6. 레이저 비임을 방사하기 위한 반도체 레이저 수단 : 반사비임의 광축에 대해 각을 이룬 광축을 갖는 회절비임을 상기 매체로 부터의 상기 레이저 비임의 반사비임에서 발생하기 위해 상기 레이저수단과 상기 매체사이에 위치되며, 상기 매체상의 상기 레이저 비임의 초점 변화량에 응하여 상기 회절비임에 있어서, 공간적 변화량을 발생하도록 패턴화된 회절격자 : 상기 회절비임에서의 상기 공간적 변화량을 검출하기 위하여 상기 회절비임을 인터셉트하도록 위치된 제1광검출기 수단 : 상기 레이저 비임에 직교하는 편광을 갖는 상기 반사비임의 실질적인 모든 성분을 반사하기 위해 상기 회절격자와 상기 매체사이에 장치된 편광 비임 스플리터 : 및 상기 반사성분을 검출하기 위한 제2광검출기 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반사성 매체에 기록된 정보를 판독하기 위한 자기광헤드.
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