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KR900005439A - Eeprom 메모리 셀용 구동 회로 - Google Patents

Eeprom 메모리 셀용 구동 회로 Download PDF

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KR900005439A
KR900005439A KR1019890012643A KR890012643A KR900005439A KR 900005439 A KR900005439 A KR 900005439A KR 1019890012643 A KR1019890012643 A KR 1019890012643A KR 890012643 A KR890012643 A KR 890012643A KR 900005439 A KR900005439 A KR 900005439A
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source
transistor
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circuit
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드아리고 세바스티아노
이몬디 기우리아노
웨이 린 성
길 맨저
Original Assignee
엔.라이스.머레트
텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드
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Publication date
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Abstract

내용 없음

Description

EEPROM 메모리 셀용 구동 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 개량된 회로의 한 실시예의 회로도.
제2도는 본 발명의 회로의 제2실시예의 회로도.

Claims (12)

  1. 상기 워드라인(WL)에 정 및 기준 전압(VSV,VPP,VSS)를 스위칭하기 위한 회로 수단(10), 소오스-드레인 경로가 상기 워드라인(WL)과 상기 회로 수단(10)내의 반대 채널 형의 각각의 트랜지스터의 소오스-드레인 경로사이에 접속된 한 채널 형의 최소한 하나의 제1분리 트랜지스터(T1), 및 소오스-드레인 경로가 부의 소거 전압원(Ver/HI)와 상기 워드라인(WL)사이에 접속된 상기 한 채널형의 제2분리 트랜지스터(T2)로 구성된 것을 특징으로 하는 부동-게이트-형 EEPROM셀 어레이내의 워드라인(WL)에 판독, 프로그래밍 및 소거전압(VSV,VPP,Ver)을 인가하기 위한 구동기 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1분리 트랜지스터(T1)의 게이트가 공급/감지/신호 전압원(Vdd,VSV,VCP,SW4)에 접속된 것을 특징으로 하는 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1분리 트랜지스터(T1)의 게이트가 공급/신호 전압원 (Vdd/VCP,SW4)에 접속된 것을 특징으로 하는 회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1분리 트랜지스터(T1)의 탱크가 프로그래밍/감지 전압원(VPP,VSV,SW1)에 접속된 것을 특징으로 하는 회로.
  5. 제1항에 있어서, 상기 제2분리 트랜지스터(T2)의 게이트가 상기 소거 전압원 (Ver/HI)에 접속된 것을 특징으로 하는 회로.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제2분리 트랜지스터(T2)의 탱크가 프로그래밍/감지 전압원(VPP,VSV,SW1)에 접속된 것을 특징으로 하는 회로.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제1및 제2 트랜지스터(T1,T2)가 P-채널 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 회로.
  8. 제1항에 있어서, 상기 소거 전압원(Ver/HI)가 부의 소거 전압 펄스들 사이의 간격들중에 고 임피던스를 갖는 것을 특징으로 하는 회로.
  9. 제1항에 있어서, 상기 회로 수단(10)이 프로그래밍/감지 전압원(VPP,VSV,T1)과 기준 전압원(VSS)사이에 직렬로 접속된 소오스-드레인 경로들을 갖고, 게이트들이 공급/기준 전압원(Vdd,VSS,SW2)에 접속된 P-채널 트랜지스터(T4)및 N-채널 트랜지스터(T5)로 구성되고, 상기 직렬 소오스-드레인 경로들 사이에서 상기회로수단(10)의 출력(A)에 접속된 반전기(T4,T5)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
  10. 제1항에 있어서, 상기 회로 수단(10)이 프로그래밍/감지 전압원(VPP,VSV,T1)과 방해-보호/기준전압원(VdP,VSS,SW3)사이에 직렬로 접속된 소오스-드레인 경로들을 갖고, 게이트들이 공급/기준 전압원(Vdd,VSS,SW2)에 접속된 P-채널 트랜지스터(T4) 및 N-채널 트랜지스터(T5)로 구성되고, 상기 직렬 소오스-드레인 경로들사이에서 상기 회로 수단(10)의 출력(A)에 접속된 반전기(T4,T5)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
  11. 제1항에 있어서, 상기 회로 수단(10)이 프로그래밍/감지 전압원(VPP,VSV,T1)과 기준 전위(VSS)사이에 직렬로 접속된 소오스-드레인 경로들을 갖고, 게이트들이 N-채널 제3분리 트랜지스터(T3)의 소오스-드레인 단자에 접속된 P-채널 트랜지스터 (T4) 및 N-채널 트랜지스터(T5)로 구성되고, 상기 직렬 소오스-드레인 경로들사이에서 상기 회로 수단(10)의 출력(A)에 접속된 반전기(T4,T5)를 포함하고, 상기 제3분리 트랜지스터의 다른 소오스-드레인 단자가 공급/기준 전압원(Vdd,VSS,SW2)에 접속되고, 상기 제3분리 트랜지스터(T3)의 게이트가 상기 공급 전압원(Vdd)에 접속된 것을 특징으로 하는 회로.
  12. 제1항에 있어서, 상기 회로 수단(10)이 프로그래밍/감지 전압원(VPP,VSV,SW1)과 공급/기준 전압원(Vdd,VSS,SW2)사이에 직렬로 접속된 소오스-드레인 경로를 갖고, 게이트들이 공급기준 전압원(Vdd,VSS,SW2)에 접속된 P-채널 트랜지스터(T4) 및-N-채널 트랜지스터(T5)로 구성되고, 상기 직렬 소오스-드레인 경로들 사이에서 상기 회로 수단(10)의 출력(A)에 접속되고, 소오스-드레인 경로가 상기 프로그래밍/감지 전압원(VPP,VSV,SW1)과 상기 공급/기준 전압원(Vdd,VSS,SW2)사이에 접속되고 게이트가 상기 회로 수단(10)의 상기 출력(A)에 접속된 P-채널 궤환 트랜지스터(T6)를 갖고 있는 반전기(T4,T5)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102345713B1 (ko) 2020-10-27 2021-12-31 화인칩스 주식회사 Eeprom 메모리 셀 구동장치

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4920512A (en) * 1987-06-30 1990-04-24 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Non-volatile semiconductor memory capable of readily erasing data
JPH0793019B2 (ja) * 1988-09-02 1995-10-09 株式会社東芝 半導体集積回路
US5265052A (en) * 1989-07-20 1993-11-23 Texas Instruments Incorporated Wordline driver circuit for EEPROM memory cell
US5177705A (en) * 1989-09-05 1993-01-05 Texas Instruments Incorporated Programming of an electrically-erasable, electrically-programmable, read-only memory array
US5077691A (en) * 1989-10-23 1991-12-31 Advanced Micro Devices, Inc. Flash EEPROM array with negative gate voltage erase operation
GB9007791D0 (en) * 1990-04-06 1990-06-06 Foss Richard C High voltage boosted wordline supply charge pump and regulator for dram
GB9007790D0 (en) * 1990-04-06 1990-06-06 Lines Valerie L Dynamic memory wordline driver scheme
US5287536A (en) * 1990-04-23 1994-02-15 Texas Instruments Incorporated Nonvolatile memory array wordline driver circuit with voltage translator circuit
DE69126234T2 (de) * 1990-04-23 1997-11-06 Texas Instruments Inc Wortleitungstreiberschaltung für nichtflüchtiges Speicherzellenarray
IT1239781B (it) * 1990-05-08 1993-11-15 Texas Instruments Italia Spa Circuito e metodo per commutare selettivamente tensioni negative in circuiti integrati cmos
JP2636476B2 (ja) * 1990-07-17 1997-07-30 日本電気株式会社 不揮発性半導体記憶装置
JPH04123471A (ja) 1990-09-14 1992-04-23 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置のデータ書込みおよび消去方法
JP2835215B2 (ja) * 1991-07-25 1998-12-14 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
EP0961290B1 (en) * 1991-12-09 2001-11-14 Fujitsu Limited Flash memory with improved erasability and its circuitry
EP0559995B1 (en) * 1992-03-11 1998-09-16 STMicroelectronics S.r.l. Decoder circuit capable of transferring positive and negative voltages
DE4219464A1 (de) * 1992-06-13 1993-12-16 Philips Patentverwaltung Verfahren und Schaltungsanordnung zum Erzeugen einer Programmierspannung
US5311480A (en) * 1992-12-16 1994-05-10 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for EEPROM negative voltage wordline decoding
US5506816A (en) * 1994-09-06 1996-04-09 Nvx Corporation Memory cell array having compact word line arrangement
US5513147A (en) * 1994-12-19 1996-04-30 Alliance Semiconductor Corporation Row driving circuit for memory devices
DE69524259T2 (de) * 1995-01-26 2002-07-25 Macronix International Co. Ltd., Hsinchu Dekodierter wortadressleitungstreiber mit positiven und negativen spannungsmodi
DE19612456C2 (de) * 1996-03-28 2000-09-28 Siemens Ag Halbleiterspeichervorrichtung
IT1285894B1 (it) * 1996-09-13 1998-06-24 Texas Instruments Italia Spa Circuito di pilotaggio di riga per memorie flash eeprom a bassa tensione.
US6259631B1 (en) 1996-09-13 2001-07-10 Texas Instruments Incorporated Row drive circuit equipped with feedback transistors for low voltage flash EEPROM memories
US6021083A (en) * 1997-12-05 2000-02-01 Macronix International Co., Ltd. Block decoded wordline driver with positive and negative voltage modes
DE19808525A1 (de) * 1998-02-27 1999-09-02 Siemens Ag Integrierte Schaltung
US6049498A (en) * 1998-06-19 2000-04-11 Lucent Technologies, Inc. Double transistor switch for supplying multiple voltages to flash memory wordlines
US6563742B1 (en) * 2001-03-02 2003-05-13 Aplus Flash Technology, Inc. Method to turn a flash memory into a versatile, low-cost multiple time programmable EPROM
US7443836B2 (en) * 2003-06-16 2008-10-28 Intel Corporation Processing a data packet
US8059458B2 (en) * 2007-12-31 2011-11-15 Cypress Semiconductor Corporation 3T high density nvDRAM cell
US8064255B2 (en) * 2007-12-31 2011-11-22 Cypress Semiconductor Corporation Architecture of a nvDRAM array and its sense regime
US10128248B1 (en) * 2017-07-14 2018-11-13 Intel Corporation Aging tolerant apparatus

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5840280B2 (ja) * 1980-10-22 1983-09-05 株式会社東芝 半導体メモリ
EP0061513B1 (de) * 1981-04-01 1984-10-10 Deutsche ITT Industries GmbH Integrierte Auswahlschaltung in CMOS-Technik für vier Potentiale und deren Vereinfachung für drei Potentiale
JPH0638318B2 (ja) * 1985-02-15 1994-05-18 株式会社リコー Epromの書込み方法
US4694430A (en) * 1985-03-21 1987-09-15 Sprague Electric Company Logic controlled switch to alternate voltage sources
EP0199305B1 (en) * 1985-04-18 1992-03-18 Nec Corporation Programmable read only memory operable with reduced programming power consumption
US4742492A (en) * 1985-09-27 1988-05-03 Texas Instruments Incorporated EEPROM memory cell having improved breakdown characteristics and driving circuitry therefor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102345713B1 (ko) 2020-10-27 2021-12-31 화인칩스 주식회사 Eeprom 메모리 셀 구동장치

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Publication number Publication date
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EP0356650A2 (en) 1990-03-07
US4823318A (en) 1989-04-18
KR0139807B1 (ko) 1998-07-15

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