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KR870003430A - 반도체 집적 회로장치 - Google Patents

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KR870003430A
KR870003430A KR1019860007256A KR860007256A KR870003430A KR 870003430 A KR870003430 A KR 870003430A KR 1019860007256 A KR1019860007256 A KR 1019860007256A KR 860007256 A KR860007256 A KR 860007256A KR 870003430 A KR870003430 A KR 870003430A
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semiconductor integrated
integrated circuit
memory
circuit device
signal
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기요시 마쯔바라
다다시 야마우라
Original Assignee
미쓰다 가쓰시게
가부시기가이샤 히다찌 세이사꾸쇼
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    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G—PHYSICS
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Abstract

내용 없음

Description

반도체 집적 회로장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명이 적용된 1칩 마이크로 컴퓨터의 블럭도.
제2도는 제1도의 마이크로 컴퓨터의 비교회로를 도시한 회로도.
제3도는 제1도의 마이크로 컴퓨터의 테스트 동작을 설명하기 위한 타이밍 도면.

Claims (8)

  1. 다음 사항으로 되는 반도체 집적회로장치.
    외부단자로 기억정보의 출력이 금지된 메모리회로와, 상기 메모리회로에서 호출된 기억정보와, 외부단자에서 공급된 입력신호를 비교하여, 그 결과 얻어진 일치 또는 불일치신호를 외부단자로 출력하는 비교회로.
  2. 특허청구의 범위 제1항에 따른 반도체 집적 회로장치에 있어서, 상기 메모리회로는 리이드 온리메모리로 된다.
  3. 특허청구의 범위 제1항에 따른 반도체 집적 회로장치에 있어서, 상기 일치 또는 불일치신호의 출력은, 여러개의 상기 기억정보가 대응하는 여러개의 상기 입력신호와 비교된 후 1회 행하여진다.
  4. 특허청구의 범위 제3항에 따른 반도체 집적 회로장치에 있어서, 상기 기억정보는 여러개의 비트를 단위로서 호출된다.
  5. 특허청구의 범위 제3항에 따른 반도체 집적 회로장치에 있어서, 상기 일치 또는 불일치신호의 출력은, 상기 메모리회로에 공급되는 어드레스 신호의 일부에 의해서 제어된다.
  6. 특허청구의 범위 제3항에 따른 반도체 집적 회로장치에 있어서, 상기 일치 또는 불일치신호의 출력은, 상기 비교동작에 동기한 카운터 회로에 의해서 제어된다.
  7. 특허청구의 범위 제3항에 따른 반도체 집적 회로장치에 있어서, 상기 비교회로는 상기 기억정보와 입력신호를 비교하는 기능과, 상기 일치 또는 불일치신호를 유지하는 기능과, 1개의 일치신호가 발생된후는, 그 불일치 신호를 유지하며, 또한 이후의 비교결과의 거두어들임을 금지하는 기능을 갖는다.
  8. 특허청구의 범위 제1항에 따른 반도체 집적 회로장치로서, 또 다음 사항으로 된다.
    상기 메모리 회로의 상기 기억정보에 따라서, 연상을 행하는 마이크로 프로세서, 이에 있어서, 상기 메모리 회로는 상기 마이크로 프로세스를 위한 프로그램 또는 데이타가 기억된 리이드 온리메모리이다.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019860007256A 1985-09-20 1986-08-20 반도체 집적 회로 장치 Expired - Fee Related KR940009101B1 (ko)

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Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6267800A (ja) * 1985-09-20 1987-03-27 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0827730B2 (ja) * 1986-11-07 1996-03-21 沖電気工業株式会社 シングルチップマイクロコンピュータ及びそのテスト方法
JPS63121934A (ja) * 1986-11-10 1988-05-26 Oki Electric Ind Co Ltd 評価用ワンチツプマイクロコンピユ−タ
US5089951A (en) * 1987-11-05 1992-02-18 Kabushiki Kaisha Toshiba Microcomputer incorporating memory
DK169883B1 (da) * 1988-02-25 1995-03-20 Siemens Ag Fremgangsmåde til sikring af hemmelige kodedata lagret i et datalager og kredsløbsarrangement til udøvelse af fremgangsmåden
JP2534314B2 (ja) * 1988-04-15 1996-09-11 富士通株式会社 半導体集積回路
DE3820728A1 (de) * 1988-06-18 1989-12-21 Philips Patentverwaltung Verfahren zum pruefen eines festwertspeichers und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
KR0136594B1 (ko) * 1988-09-30 1998-10-01 미다 가쓰시게 단일칩 마이크로 컴퓨터
JPH02255925A (ja) * 1988-11-30 1990-10-16 Hitachi Ltd メモリテスト方法および装置
US5293610A (en) * 1989-08-04 1994-03-08 Motorola, Inc. Memory system having two-level security system for enhanced protection against unauthorized access
JPH0393098A (ja) * 1989-09-04 1991-04-18 Sharp Corp 集積回路
EP0418521A3 (en) * 1989-09-20 1992-07-15 International Business Machines Corporation Testable latch self checker
US5278839A (en) * 1990-04-18 1994-01-11 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit having self-check and self-repair capabilities
JPH04195546A (ja) * 1990-11-28 1992-07-15 Nec Corp マイクロコンピュータのテストモード設定回路
US5974570A (en) * 1990-12-01 1999-10-26 Hitachi, Ltd. Method for managing data processing system and high-reliability memory
US5353431A (en) * 1991-04-29 1994-10-04 Intel Corporation Memory address decoder with storage for memory attribute information
US5399912A (en) * 1992-01-13 1995-03-21 Hitachi, Ltd. Hold-type latch circuit with increased margin in the feedback timing and a memory device using same for holding parity check error
JP3186359B2 (ja) * 1993-07-28 2001-07-11 安藤電気株式会社 物理アドレス変換回路
US5617531A (en) * 1993-11-02 1997-04-01 Motorola, Inc. Data Processor having a built-in internal self test controller for testing a plurality of memories internal to the data processor
GB9414266D0 (en) * 1994-07-14 1994-08-31 Jonhig Ltd Testing of memory content
US5592493A (en) * 1994-09-13 1997-01-07 Motorola Inc. Serial scan chain architecture for a data processing system and method of operation
US5615335A (en) * 1994-11-10 1997-03-25 Emc Corporation Storage system self-test apparatus and method
DE69500346T2 (de) * 1995-01-23 1997-12-11 Ibm Verbesserte Speicherselbstprüfung
EP0898747B1 (en) * 1996-11-15 2008-01-09 Nxp B.V. A protection method against eeprom-directed intrusion into a mobile communication device that has a processor, and a device having such protection mechanism
JP3606788B2 (ja) 2000-05-31 2005-01-05 松下電器産業株式会社 半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法
US20050223241A1 (en) * 2002-06-14 2005-10-06 Matsushita Electric Industrial Co. Ltd Semiconductor intergrated circuit device, data storage verification device, and data storage verification method
US20080114582A1 (en) * 2006-11-10 2008-05-15 Texas Instruments Incorporated Detecting tampering of a signal

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3071813D1 (en) * 1979-06-12 1986-12-04 Motorola Inc Microcomputer with mpu-programmable eprom
US4414665A (en) * 1979-11-21 1983-11-08 Nippon Telegraph & Telephone Public Corp. Semiconductor memory device test apparatus
GB2092338B (en) * 1981-01-31 1984-07-18 Jpm Automatic Machines Ltd Improvements relating to programmable memories
US4752914A (en) * 1984-05-31 1988-06-21 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit with redundant circuit replacement
JPS6267800A (ja) * 1985-09-20 1987-03-27 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置

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