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KR850002321A - 투명체의 불균질성 분석방법 및 그 장치 - Google Patents

투명체의 불균질성 분석방법 및 그 장치 Download PDF

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KR850002321A
KR850002321A KR1019830005592A KR830005592A KR850002321A KR 850002321 A KR850002321 A KR 850002321A KR 1019830005592 A KR1019830005592 A KR 1019830005592A KR 830005592 A KR830005592 A KR 830005592A KR 850002321 A KR850002321 A KR 850002321A
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KR
South Korea
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transparent body
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heterogeneity
Prior art date
Application number
KR1019830005592A
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English (en)
Inventor
마이아르(외 1) 알렝
Original Assignee
제이. 테시
이조베르 쌩-꼬벵
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 제이. 테시, 이조베르 쌩-꼬벵 filed Critical 제이. 테시
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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    • G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • G—PHYSICS
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Abstract

내용 없음

Description

투명체의 불균질성 분석방법 및 그 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 분석방법을 도시한 다이아그램. 제7도는 본 발명에 따른 분석장치에 대한 개요도.

Claims (10)

  1. 용융유리속에 존재하는 결함들을 분석하는 방법으로서, 파장이 3×10-6미터 이하인 단색비임이 적어도 그 일부가 재료속으로 침투하여 결함의 방향과 강도에 따라 그 부딪치는 결함위에 확산되는 방식으로 재료에 안내되고, 산란복사가 분석대상재료에 대한 반사 또는 굴절로 인하여 생기는 복사에 의하여 차폐되지 아니하고, 복사기 단색비임의 파장만이 여과장치를 통과한 후 리시버에 수신되도록 배치된 수신기에 의하여 탐지되며, 산란광의 강도가 단색비임속을 통과하는 결함에 비례하여 변동되고 리시버가 받아들인 복사를 전기신호로 바꾸어 이를 확대 및 기록함으로써 결함의 성질이 신호의 형태로 변화되도록 재료가 분석비임에 반대되는 상대운동을 하게 하는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  2. 제1항에 있어서, 결함의 성질에 따라 입사 단색비임과 분석재료에 대한 리시버의 위치를 선택함으로써 결함을 분석하는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  3. 제2항에 있어서 단면이 거의 원형으로 되어 있고 계속적으로 유출되는 유리섬유의 분석방법으로서, 분석하는 단색비임이 평면으로 단면을 따라 섬유에 안내되고 리시버가 비임의 평면과 적어도 5°이상 50°이하의 각을 이루는 산란복사를 받아들일 수 있게 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  4. 제3항에 있어서, 불투명 입자들로 구성된 결함의 분석방법으로서, 수신기가 유리섬유 및 입사비임의 방향에 의하여 그 범위가 한정되는 평면과 150°이상의 각(D)을 이루는 평면내에 위치하는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  5. 제3항에 있어서, 기포로 구성된 결함을 분석하는 방법으로서, 리시버가 유리섬유 및 입사비임의 방향에 의하여 그 범위가 한정되는 평면과 110°이상의 각(B)을 이루는 평면내에 위치하는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  6. 제3항에 있어서, 고무로 구성된 결함을 분석하는 방법으로서, 리시버가 유리섬유와 입사비임의 방향에 의하여 그 범위가 한정되는 평면과 50°이상의 각(C)을 이루는 평면내에 위치하는 것을 특징으로 하는 투명체가 불균질성 분석방법.
  7. 제1항 내지 제6항중 한 항에 있어서, 리시버의 동일한 위치에서 결함의 성질이 수신된 신호의 형태에 의하여 명확히 밝혀지고 여러가지 형태가 확대 및 기록수단에 결합된 전자여과수단에 의하여 분리되는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  8. 제1항 내지 제7항중 한 항에 있어서, 단색비임의 파장이 0.4미터에서 2×10-6미터 사이에 있는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  9. 제1항 내지 제8항중 한 항에 의한 방법을 실시하기 위한 장치로서, 분석재료(2)쪽으로 안내되는 파장 3×10-6미터 이하의 단색비임의 트랜스미터, 트랜스미터의 파장위에 집중되어 있는 필터, 수신된 복사를 전기신호로 전화시키고 수단등이 포함된 복합수신기(6), 신호들을 그 성질에 따라 분리하는 전자여과수단 및 계산수단이 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 투명체의 불균질성 분석방법.
  10. 제9항에 있어서, 섬유의 직경을 측정하여 분석중 이러한 섬유의 직경을 결함에 관한 각 측정에 연관시키고, 직경의 예상 변동을 참작하여 경우에 따라서는 자동적으로 이러한 측정결과를 수정할 수 있는 수단에 포함되어 있는 것이 특징일 액상재료의 섬유를 분석하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019830005592A 1982-11-25 1983-11-25 투명체의 불균질성 분석방법 및 그 장치 KR850002321A (ko)

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FR8219753A FR2536860B1 (fr) 1982-11-25 1982-11-25 Procede et dispositif pour l'analyse d'heterogeneites dans un materiau transparent

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KR1019830005592A KR850002321A (ko) 1982-11-25 1983-11-25 투명체의 불균질성 분석방법 및 그 장치

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Patent event date: 19831125

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