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KR20240118454A - 광학 보상 시스템 및 방법 - Google Patents

광학 보상 시스템 및 방법 Download PDF

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KR20240118454A
KR20240118454A KR1020230010927A KR20230010927A KR20240118454A KR 20240118454 A KR20240118454 A KR 20240118454A KR 1020230010927 A KR1020230010927 A KR 1020230010927A KR 20230010927 A KR20230010927 A KR 20230010927A KR 20240118454 A KR20240118454 A KR 20240118454A
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curved
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generating
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KR1020230010927A
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전재성
박현주
이현우
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
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Publication date
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Priority to US18/529,273 priority patent/US20240257683A1/en
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Abstract

본 개시의 실시예들은 광학 보상 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 테스트 이미지가 표시되는 평면 상태의 디스플레이 패널에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 이미지가 표시되는 곡면 상태의 상기 디스플레이 패널에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터에서 복수의 포인트에 대한 포인트 데이터를 추출하는 단계와, 상기 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계와, 각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계와, 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 광학 보상 방법을 제공할 수 있다.

Description

광학 보상 시스템 및 방법{OPTICAL COMPENSATING SYSTEM AND METHOD}
본 개시의 실시예들은 광학 보상 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 곡면 구조의 디스플레이 패널에 대한 보상 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있는 광학 보상 시스템 및 방법에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 영상을 표시하는 디스플레이 장치에 대한 다양한 요구가 증가하고 있으며, 액정 디스플레이 장치 (Liquid Crystal Display; LCD), 유기 발광 디스플레이 장치 (Organic Light Emitting Display; OLED) 등과 같은 다양한 유형의 디스플레이 장치가 활용되고 있다.
이러한 디스플레이 장치 중 유기 발광 디스플레이 장치는, 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드를 이용함으로써, 응답 속도가 빠르고 명암비, 발광 효율, 휘도 및 시야각 등에서 장점이 존재한다.
이러한 유기 발광 디스플레이 장치는, 디스플레이 패널에 배열된 다수의 서브픽셀(Subpixel) 각각에 배치된 유기 발광 다이오드를 포함하고, 유기 발광 다이오드에 흐르는 구동 전류를 제어함으로써 각각의 서브픽셀을 발광하여 이미지를 표시할 수 있다.
이러한 디스플레이 장치에 형성되는 서브픽셀은 다양한 원인으로 인해 휘도가 균일하지 않을 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 장치의 휘도 균일도는 디스플레이 패널의 공정 편차, 서브픽셀을 제어하는 구동 트랜지스터의 전기적 특성의 편차, 서브픽셀에 인가되는 구동 전압의 편차, 및 서브픽셀을 구성하는 발광 소자의 열화 편차 등에 의하여 달라질 수 있다.
이러한 휘도 편차를 보상하기 위해서, 디스플레이 패널의 촬영 이미지로부터 각 서브픽셀에 대한 보상 데이터를 생성하고, 디스플레이 패널에 데이터 전압을 공급할 때 보상 데이터를 적용함으로써 서브픽셀들 사이의 휘도 편차를 줄이고 휘도 균일도를 향상시킬 수 있다.
따라서, 디스플레이 패널의 휘도 편차를 줄이고 영상 품질을 개선하기 위해서는 정확한 보상 데이터를 생성하는 것이 중요하다고 할 수 있다.
그러나, 일정한 곡률로 휘어지는 곡면 구조의 디스플레이 패널의 경우, 카메라 촬영을 통한 촬영 이미지 생성 과정에서, 평면 영역과 곡면 영역에 대한 초점의 불일치 또는 곡면 영역에서의 빛의 반사로 인해 광도가 변동되어 보상 데이터에 오류가 발생하는 문제가 있다.
이에, 본 개시의 발명자들은 곡면 구조의 디스플레이 패널에 대한 보상 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있는 광학 보상 시스템 및 방법을 발명하였다.
본 개시의 실시예들은 평면 상태의 디스플레이 패널과 커브 상태의 디스플레이 패널에 대한 이미지 편차를 반영함으로써, 위치에 따른 보상 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있는 광학 보상 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은 곡면 구조의 디스플레이 패널에서 곡면 영역의 곡률에 따른 가중치를 반영함으로써, 위치에 따른 보상 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있는 광학 보상 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은 테스트 이미지가 표시되는 평면 상태의 디스플레이 패널에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 이미지가 표시되는 곡면 상태의 상기 디스플레이 패널에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터에서 복수의 포인트에 대한 포인트 데이터를 추출하는 단계와, 상기 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계와, 각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계와, 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 광학 보상 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은 테스트 이미지가 표시되는 디스플레이 패널에 대한 촬영 이미지를 생성하는 카메라와, 평면 촬영 이미지 및 곡면 촬영 이미지를 최초 평면 데이터 및 최초 곡면 데이터로 변환하는 데이터 변환 모듈과, 상기 최초 평면 데이터 및 상기 최초 곡면 데이터에 대한 편차 데이터를 생성하는 편차 데이터 생성 모듈과, 상기 디스플레이 패널의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 곡면 데이터 맵 생성 모듈과, 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 최종 곡면 데이터 생성 모듈과, 상기 최종 곡면 데이터를 이용하여 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성 모듈을 포함하는 광학 보상 장치를 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은 발광 소자가 형성된 복수의 서브픽셀을 포함하는 디스플레이 패널과, 상기 디스플레이 패널에 복수의 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동 회로와, 상기 디스플레이 패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로와, 보상 데이터를 저장하는 메모리와, 상기 보상 데이터를 이용하여 상기 데이터 전압을 보상하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되, 상기 보상 데이터는 테스트 이미지가 표시되는 평면 상태의 디스플레이 패널에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 이미지가 표시되는 곡면 상태의 상기 디스플레이 패널에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터에서 복수의 포인트에 대한 포인트 데이터를 추출하는 단계와, 상기 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계와, 각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계와, 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터를 생성하는 단계를 통해 생성되는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들에 의하면, 곡면 구조의 디스플레이 패널에 대한 보상 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 개시의 실시예들에 의하면, 평면 상태의 디스플레이 패널과 커브 상태의 디스플레이 패널에 대한 이미지 편차를 반영함으로써, 위치에 따른 보상 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 개시의 실시예들에 의하면, 곡면 구조의 디스플레이 패널에서 곡면 영역의 곡률에 따른 가중치를 반영함으로써, 위치에 따른 보상 데이터의 정확도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 시스템을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 시스템에서, 디스플레이 장치가 광학 보상 장치의 보상 데이터를 이용하여 영상을 표시하는 개념을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 곡면 구조의 디스플레이 패널을 카메라로 촬영하는 경우와 곡면 구조의 디스플레이 패널에 대한 촬영 이미지를 예시로 나타낸 도면이다.
도 4는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법의 흐름도를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 평면 상태의 디스플레이 패널 및 곡면 상태의 디스플레이 패널을 대상으로 생성된 촬영 이미지를 예시로 나타낸 도면이다.
도 6은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 평면 촬영 이미지와 곡면 촬영 이미지를 변환한 초기 평면 데이터와 초기 곡면 데이터를 예시로 나타낸 도면이다.
도 7은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 초기 평면 데이터 및 초기 곡면 데이터에서 포인트 데이터를 추출하는 과정을 예시로 나타낸 도면이다.
도 8은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 포인트 데이터를 이용하여 생성된 편차 데이터의 예시를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 곡률에 따른 가중치를 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 과정을 나타낸 도면이다.
도 10은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 곡률에 따른 가중치 테이블의 예시를 나타낸 표이다.
도 11은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 초기 곡면 데이터에 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성한 실험 결과의 예시를 나타낸 도면이다.
도 12는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 장치의 블록도를 나타낸 도면이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.
구성 요소들이나, 동작 방법이나 제작 방법 등과 관련한 시간적 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 개시의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.
도 1은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 시스템을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 시스템은 디스플레이 장치(100)와 광학 보상 장치(200)를 포함할 수 있다.
디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)을 통해 영상을 표시하는 장치로서, 액정 디스플레이 장치 (Liquid Crystal Display; LCD), 유기 발광 디스플레이 장치 (Organic Light Emitting Display) 등과 같은 다양한 유형의 장치일 수 있다.
광학 보상 장치(200)는 디스플레이 장치(100)를 구성하는 디스플레이 패널(110)을 촬영할 수 있는 카메라(210)와, 카메라(210)에서 생성된 촬영 이미지(PI)를 이용하여 보상 데이터(CD)를 생성하는 보상 데이터 처리 유닛(220)을 포함할 수 있다.
카메라(210)는 디스플레이 패널(110)을 촬영하여, 디스플레이 패널(110)의 표면에 대한 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 광학 보상 장치(200)는 흑색 또는 백색의 배경 색상에 도트 타입의 다수의 교정 포인트를 포함하는 테스트 이미지를 디스플레이 패널(110)에 표시하고, 카메라(210)를 통해 디스플레이 패널(110)을 촬영함으로써 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있다.
카메라(210)에서 생성된 촬영 이미지(PI)는 디스플레이 패널(110)에 형성된 복수의 서브픽셀(SP)에 대한 휘도 정보를 포함할 수 있다.
보상 데이터 처리 유닛(220)은 카메라(210)에서 생성된 촬영 이미지(PI)를 이용하여, 디스플레이 패널(110)의 위치에 따른 휘도 데이터를 추출하고, 이를 보상할 수 있는 보상 데이터(CD)를 생성한다.
디스플레이 장치(100)는 광학 보상 장치(200)에서 제공된 보상 데이터(CD)를 바탕으로, 디스플레이 패널(110)에 공급되는 데이터 전압을 보상함으로써, 영상 품질을 개선할 수 있다.
도 2는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 시스템에서, 디스플레이 장치가 광학 보상 장치의 보상 데이터를 이용하여 영상을 표시하는 개념을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 시스템에서, 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110) 및 디스플레이 패널(110)을 구동하기 위한 구동 회로를 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)은 영상이 표시되는 표시 영역(DA)과 영상이 표시되지 않는 베젤 영역(BA)을 포함할 수 있다. 베젤 영역(BA)은 비표시 영역이라고도 할 수 있다.
디스플레이 패널(110)은 영상 표시를 위하여 다수의 서브픽셀(SP)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 다수의 서브픽셀(SP)은 표시 영역(DA)에 배치될 수 있다. 경우에 따라, 베젤 영역(BA)에 적어도 하나의 서브픽셀(SP)이 배치될 수도 있다. 베젤 영역(BA)에 배치되는 적어도 하나의 서브픽셀(SP)은 더미 서브픽셀이라고도 한다.
디스플레이 패널(110)은 다수의 서브픽셀(SP)을 구동하기 위한 다수의 신호 배선들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 다수의 신호 배선들은 다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인(GL)을 포함할 수 있다. 신호 배선들은 서브픽셀(SP)의 구조에 따라, 다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인(GL)과 다른 신호 배선들을 더 포함할 수도 있다. 예를 들어, 다른 신호 배선들은 구동 전압 라인 및 기준 전압 라인 등을 포함할 수 있다.
예를 들어, 2,208 X 2,752 의 해상도를 가지는 디스플레이 장치(100)에서, 하나의 픽셀이 레드(R), 그린(G), 블루(B)의 3개 서브픽셀(SP)로 이루어지는 경우, 2,208 개의 게이트 라인(GL)과 3개의 서브픽셀(RGB)에 각각 연결되는 2,752 개의 데이터 라인(DL)에 의해, 모두 2,752 X 3 = 8,256 개의 데이터 라인(DL)이 구비될 수 있으며, 이들 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 교차되는 지점에 각각 서브픽셀(SP)이 배치될 수 있다.
다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인(GL)은 서로 교차할 수 있다. 다수의 데이터 라인(DL) 각각은 제 1 방향으로 연장되면서 배치될 수 있다. 다수의 게이트 라인(GL) 각각은 제 2 방향으로 연장되면서 배치될 수 있다. 여기서, 제 1 방향은 열(Column) 방향이고 제 2 방향은 행(Row) 방향일 수 있다. 본 명세서에서, 열(Column) 방향과 행(Row) 방향은 상대적인 것이다. 예를 들어, 열 방향은 세로 방향이고 행 방향은 가로 방향일 수 있다. 다른 예를 들어, 열 방향은 가로 방향이고 행 방향은 세로 방향일 수도 있다.
구동 회로는 다수의 데이터 라인(DL)을 구동하기 위한 데이터 구동 회로(130) 및 다수의 게이트 라인들(GL)을 구동하기 위한 게이트 구동 회로(120)를 포함할 수 있다. 구동 회로는 데이터 구동 회로(130) 및 게이트 구동 회로(120)를 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(140)를 더 포함할 수도 있다.
데이터 구동 회로(130)는 다수의 데이터 라인(DL)을 구동하기 위한 회로이고, 다수의 데이터 라인(DL)으로 영상 신호에 해당하는 데이터 신호(데이터 전압이라고도 함)을 출력할 수 있다. 게이트 구동 회로(120)는 다수의 게이트 라인(GL)을 구동하기 위한 회로이고, 게이트 신호들을 생성하여 다수의 게이트 라인(GL)으로 게이트 신호들을 출력할 수 있다. 게이트 신호는 하나 이상의 스캔 신호와 발광 신호를 포함할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 제어할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는, 외부의 호스트 시스템(도면에 도시되지 않음)에서 입력되는 영상 신호를 데이터 구동 회로(130)에서 사용하는 데이터 신호의 형식에 맞게 영상 데이터(Data)로 변환하여 데이터 구동 회로(130)에 공급할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(140)는 메모리(142)를 포함할 수 있다. 메모리(142)는 타이밍 컨트롤러(140)의 외부에 위치할 수도 있지만, 여기에서는 타이밍 컨트롤러(142)의 내부에 위치하는 경우를 예시로 나타내고 있다. 메모리(142)는 광학 보상 장치(200)에서 전달된 보상 데이터(CD)를 저장할 수 있다.
이에 따라, 타이밍 컨트롤러(140)는 메모리(142)에 저장된 보상 데이터(CD)를 반영하여, 호스트 시스템에서 입력되는 영상 신호를 영상 데이터(Data)로 변환한다. 따라서, 데이터 구동 회로(130)를 통해 디스플레이 패널(110)에 공급되는 데이터 신호는 디스플레이 패널(110)의 휘도 편차를 반영하게 되어, 디스플레이 패널(110)을 통해 표시되는 영상의 품질이 개선될 수 있다.
또한, 타이밍 컨트롤러(140)는 디스플레이 구동 제어 신호들을 외부의 호스트 시스템으로부터 수신할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 구동 제어 신호들은 수직 동기 신호, 수평 동기 신호, 입력 데이터 인에이블 신호, 클럭 신호 등을 포함할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(140)는, 호스트 시스템에서 입력된 디스플레이 구동 제어 신호들에 기초하여, 데이터 구동 제어 신호(DCS) 및 게이트 구동 제어 신호(GCS)를 생성할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 제어 신호(DCS)를 데이터 구동 회로(130)에 공급함으로써, 데이터 구동 회로(130)의 구동 동작 및 구동 타이밍을 제어할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는, 게이트 구동 제어 신호(GCS)를 게이트 구동 회로(120)에 공급함으로써, 게이트 구동 회로(120)의 구동 동작 및 구동 타이밍을 제어할 수 있다.
데이터 구동 회로(130)는 하나 이상의 소스 구동 집적 회로(Source Driving Integrated Circuit; SDIC)를 포함할 수 있다. 각 소스 구동 집적 회로는 시프트 레지스터(Shift Register), 래치 회로(Latch Circuit), 디지털 아날로그 컨버터(Digital to Analog Converter; DAC), 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다. 각 소스 구동 집적 회로는, 경우에 따라서, 아날로그 디지털 컨버터(Analog to Digital Converter; ADC)를 더 포함할 수 있다.
예를 들어, 각 소스 구동 집적 회로는 테이프 오토메티드 본딩(Tape Automated Bonding; TAB) 방식으로 디스플레이 패널(110)과 연결되거나, 칩 온 글래스(Chip On Glass; COG) 또는 칩 온 패널(Chip On Panel; COP) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드에 연결되거나, 칩 온 필름(Chip On Film; COF) 방식으로 구현되어 디스플레이 패널(110)과 연결될 수 있다.
게이트 구동 회로(120)는 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 턴-온 레벨 전압의 게이트 신호를 출력하거나 턴-오프 레벨 전압의 게이트 신호를 출력할 수 있다. 게이트 구동 회로(120)는 다수의 게이트 라인(GL)으로 턴-온 레벨 전압의 게이트 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동할 수 있다.
게이트 구동 회로(120)는 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(Gate Driving Integrated Circuit; GDIC)를 포함할 수 있다.
게이트 구동 회로(120)는 테이프 오토메티드 본딩(TAB) 방식으로 디스플레이 패널(110)과 연결되거나, 칩 온 글래스(COG) 또는 칩 온 패널(COP) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 칩 온 필름(COF) 방식에 따라 디스플레이 패널(110)과 연결될 수 있다. 또는, 게이트 구동 회로(120)는 게이트 인 패널(Gate In Panel; GIP) 타입으로 디스플레이 패널(110)의 베젤 영역(BA)에 형성될 수 있다. 게이트 구동 회로(120)는 기판 상에 배치되거나 기판에 연결될 수 있다. 즉, 게이트 구동 회로(120)는 게이트 인 패널(GIP) 타입인 경우 기판의 베젤 영역(BA)에 배치될 수 있다. 게이트 구동 회로(120)는 칩 온 글래스(COG) 타입, 칩 온 필름(COF) 타입 등인 경우 기판에 연결될 수 있다.
한편, 데이터 구동 회로(130) 및 게이트 구동 회로(120) 중 적어도 하나의 구동 회로는 표시 영역(DA)에 배치될 수도 있다. 예를 들어, 데이터 구동 회로(130) 및 게이트 구동 회로(120) 중 적어도 하나의 구동 회로는 서브픽셀들(SP)과 중첩되지 않게 배치될 수도 있고, 서브픽셀(SP)과 일부 또는 전체가 중첩되게 배치될 수도 있다.
데이터 구동 회로(130)는 디스플레이 패널(110)의 일 측(예: 상측 또는 하측)에 연결될 수도 있다. 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라, 데이터 구동 회로(130)는 디스플레이 패널(110)의 양측(예: 상측과 하측)에 모두 연결되거나, 디스플레이 패널(110)의 4 측면 중 둘 이상의 측면에 연결될 수도 있다.
게이트 구동 회로(120)는 디스플레이 패널(110)의 일측(예: 좌측 또는 우측)에 연결될 수도 있다. 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라, 게이트 구동 회로(120)는 디스플레이 패널(110)의 양측(예: 좌측과 우측)에 모두 연결되거나, 디스플레이 패널(110)의 4 측면 중 둘 이상의 측면에 연결될 수도 있다.
타이밍 컨트롤러(140)는, 데이터 구동 회로(130)와 별도의 부품으로 구현될 수도 있고, 또는 데이터 구동 회로(130)와 함께 통합되어 집적 회로로 구현될 수 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는 통상의 디스플레이 기술에서 이용되는 컨트롤러(Controller)이거나, 타이밍 컨트롤러를 포함하여 다른 제어 기능도 더 수행할 수 있는 제어 장치일 수 있으며, 또는 제어 장치 내 회로일 수도 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는, IC(Integrated Circuit), FPGA(Field Programmable Gate Array), ASIC(Application Specific Integrated Circuit), 또는 프로세서(Processor) 등의 다양한 회로나 전자 부품으로 구현될 수 있다.
타이밍 컨트롤러(140)는 인쇄 회로 기판, 연성 인쇄 회로 등에 실장 되고, 인쇄 회로 기판, 연성 인쇄 회로 등을 통해 데이터 구동 회로(130) 및 게이트 구동 회로(120)와 전기적으로 연결될 수 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는, 미리 정해진 하나 이상의 인터페이스에 따라 데이터 구동 회로(130)와 신호를 송수신할 수 있다. 여기서, 예를 들어, 인터페이스는 LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 인터페이스, EPI 인터페이스, SP(Serial Peripheral Interface) 등을 포함할 수 있다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110)이 자체적으로 발광하는 자체 발광 디스플레이 장치일 수 있다. 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)가 자체 발광 디스플레이 장치인 경우, 다수의 서브픽셀(SP) 각각은 발광 소자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 발광 소자가 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode; OLED)로 구현된 유기 발광 디스플레이 장치일 수 있다.
다른 예를 들어, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 발광 소자가 무기물 기반의 발광 다이오드로 구현된 무기 발광 디스플레이 장치일 수 있다. 또 다른 예를 들어, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 발광 소자가 스스로 빛을 내는 반도체 결정인 퀀텀닷(Quantum Dot)으로 구현된 퀀텀닷 디스플레이 장치일 수 있다.
이 때, 디스플레이 패널(110)이 곡면 구조로 이루어지는 경우, 임의의 곡률을 가지는 곡면 영역과 평평한 평면 영역 사이에 나타나는 광도(Luminance Intensity) 차이에 의하여, 촬영 이미지(PI)로부터 생성되는 보상 데이터(CD)에 오류가 발생할 수 있다.
도 3은 곡면 구조의 디스플레이 패널을 카메라로 촬영하는 경우와 곡면 구조의 디스플레이 패널에 대한 촬영 이미지를 예시로 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 광학 보상 장치(200)에서 평면 영역(FA)과 곡면 영역(CA)을 포함하는 디스플레이 패널(110)을 촬영하는 경우에, 카메라(210)는 거리가 먼 곡면 영역(CA)을 대상으로 초점(Focus)을 맞추게 된다.((a)의 경우)
이와 같이, 곡면 영역(CA)에 카메라(210)의 초점을 맞추어서 촬영하는 경우, 촬영 이미지(PI)에서 곡면 영역(CA)이 위치하는 곳은 초점이 맞아서 광도가 높게 나타나지만(In Focus), 평면 영역(FA)은 초점이 흐려져서(De Focus) 광도가 낮게 나타나게 된다.
또한, 카메라(210)를 이용한 촬영을 위해서 디스플레이 패널(110)에 빛을 비추는 경우에, 곡면 영역(CA)에서 반사되는 빛에 의해서 곡면 영역(CA)의 광도가 높게 나타나게 된다.
이와 같이, 카메라(210)의 초점이 어긋나고, 곡면 영역(CA)에서 반사되는 빛에 의해서, 촬영 이미지(PI)의 곡면 영역(CA)과 평면 영역(FA) 사이에 휘도 편차가 나타나게 되므로 보상 데이터(CD)에 오류가 발생하게 된다.((b)의 경우)
본 개시의 광학 보상 시스템은 일정한 곡면 영역을 포함하는 곡면 디스플레이 패널(110)에 대하여, 위치에 따른 보상 데이터(CD)의 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 4는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법의 흐름도를 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법은 평면 상태의 디스플레이 패널(110)에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계(S100), 곡면 상태의 디스플레이 패널(110)에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계(S200), 초기 평면 데이터 및 초기 곡면 데이터를 정규화하는 단계(S300), 초기 평면 데이터 및 초기 곡면 데이터에서 포인트 데이터를 추출하는 단계(S400), 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계(S500), 각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계(S600), 초기 곡면 데이터에 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계(S700), 및 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터(CD)를 생성하는 단계(S800)를 포함할 수 있다.
평면 상태의 디스플레이 패널(110)에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계(S100)는 평면 상태로 제조된 디스플레이 패널(110)을 촬영하여 촬영 이미지(PI)를 생성하고, 이를 초기 평면 데이터로 변환하는 과정이다.
곡면 상태의 디스플레이 패널(110)에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계(S200)는 평면 상태의 디스플레이 패널(110)에 대해 지정된 위치를 지정된 곡률로 벤딩시켜서 곡면 상태의 디스플레이 패널(110)로 변형하고, 이를 촬영한 촬영 이미지(PI)를 초기 평면 데이터로 변환하는 과정이다.
도 5는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 평면 상태의 디스플레이 패널 및 곡면 상태의 디스플레이 패널을 대상으로 생성된 평면 촬영 이미지 및 곡면 촬영 이미지를 예시로 나타낸 도면이고, 도 6은 평면 촬영 이미지와 곡면 촬영 이미지를 변환한 초기 평면 데이터와 초기 곡면 데이터를 예시로 나타낸 도면이다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 광학 보상 장치(200)는 카메라(210)를 이용하여 평면 상태로 제조된 디스플레이 패널(110)을 촬영함으로써, 평면 촬영 이미지(PI_Flat)를 생성한다. 카메라(210)를 통해 생성된 평면 촬영 이미지(PI_Flat)는 보상 데이터 처리 유닛(220)에 전달되고, 보상 데이터 처리 유닛(220)에서는 평면 촬영 이미지(PI_Flat)를 내부에서 처리가능한 초기 평면 데이터(FD_Init)로 변환한다.
또한, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 광학 보상 장치(200)는 카메라(210)를 이용하여, 지정된 위치가 지정된 곡률로 벤딩된 곡면 상태의 디스플레이 패널(110)을 촬영함으로써, 곡면 촬영 이미지(PI_Curve)를 생성한다. 이 때, 곡면 촬영 이미지(PI_Curve)는 곡면 영역(CA)과 평면 영역(FA)에 대한 카메라(210)의 초점 불일치 및 곡면 영역(CA)에서 반사되는 빛에 의해서, 곡면 영역(CA)과 평면 영역(FA) 사이에 휘도 편차가 나타나게 된다.
카메라(210)를 통해 생성된 곡면 촬영 이미지(PI_Curve)는 보상 데이터 처리 유닛(220)에 전달되고, 보상 데이터 처리 유닛(220)에서는 곡면 촬영 이미지(PI_Curve)를 내부에서 처리가능한 초기 곡면 데이터(SD_Init)로 변환한다.
이 때, 초기 곡면 데이터(SD_Init)는 곡면 영역(CA)과 평면 영역(FA) 사이의 휘도 편차를 가지는 곡면 촬영 이미지(PI_Curve)에 의해서, 휘도 편차가 색상으로 나타나게 된다.
초기 평면 데이터(FD_Init) 및 초기 곡면 데이터(SD_Init)를 정규화하는 단계(S300)는 동일 범위에서의 데이터 처리를 위해 초기 평면 데이터(FD_Init)와 초기 곡면 데이터(SD_Init)를 동일한 범위의 분포로 처리하는 과정이다. 예를 들어, 초기 평면 데이터(FD_Init)와 초기 곡면 데이터(SD_Init)가 255 계조의 휘도를 나타내는 경우, 초기 평면 데이터(FD_Init)와 초기 곡면 데이터(SD_Init)를 256으로 나누어 0 에서 1 사이의 분포로 정규화시킬 수 있다. 이 때, 초기 평면 데이터(FD_Init) 및 초기 곡면 데이터(SD_Init)를 정규화하는 단계(S300)는 생략될 수도 있다.
초기 평면 데이터(FD_Init) 및 초기 곡면 데이터(SD_Init)에서 포인트 데이터를 추출하는 단계(S400)는 노이즈를 제거하고 데이터 처리의 효율성을 높이기 위해서, 전체 디스플레이 패널(110) 중에서 일부 포인트에서의 데이터를 추출하는 과정이다.
도 7은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 초기 평면 데이터 및 초기 곡면 데이터에서 포인트 데이터를 추출하는 과정을 예시로 나타낸 도면이다.
도 7을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법은 초기 평면 데이터(FD_Init) 및 초기 곡면 데이터(SD_Init)에서 N X M 매트릭스의 포인트를 지정하고 이로부터 포인트 데이터를 추출할 수 있다.
여기에서는 8 X 8 매트릭스의 포인트를 대상으로 포인트 데이터를 추출하는 경우를 나타내고 있다. 이 경우, 매트릭스 포인트는 가로 방향으로 8개의 포인트 라인(P1 - P8)을 포함하고, 각 포인트 라인(P1 - P8)은 8개의 포인트를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제 1 포인트 라인(P1)은 P11 - P18의 8개 포인트를 포함하고 제 8 포인트 라인(P8)은 P81 - P88의 포인트를 포함하게 될 것이다.
2,208 X 2,752 의 해상도를 가지는 디스플레이 패널(110)을 대상으로 8 X 8 매트릭스의 포인트를 지정하는 경우, 가로 방향의 포인트 간격은 344 픽셀이 되고, 세로 방향의 포인트 간격은 276 픽셀이 될 것이다.
한편, 초기 평면 데이터(FD_Init) 및 초기 곡면 데이터(SD_Init)의 에지 영역(EA)은 디스플레이 패널(110)의 내측과 외측의 경계에 해당하므로, 휘도 데이터의 변동이 심한 고주파 성분으로 나타날 수 있다. 따라서, 고주파 성분의 에지 특성을 제거할 수 있도록 N X M 매트릭스 포인트를 초기 평면 데이터(FD_Init) 및 초기 곡면 데이터(SD_Init)의 에지 영역(EA)이 아닌 내측 영역으로 설정하는 것이 바람직하다.
이 때, N X M 매트릭스 포인트 중 일부는 디스플레이 패널(110)의 곡면 라인을 따라 위치하게 될 것이다. 예를 들어, 가로 방향을 따라 디스플레이 패널(110)의 중앙 부근에 곡면 영역(CA)이 형성되는 경우, N X M 매트릭스 포인트 중에서 가로 방향의 제 5 포인트 라인(P5)이 디스플레이 패널(110)의 곡면 영역(CA)에 대응될 수 있다. 이 경우, 곡면 영역(CA)에 대응되는 제 5 포인트 라인(P5)을 따라 표시되는 휘도값과 평면 영역(FA)에 대응되는 포인트 라인을 따라 표시되는 휘도값은 편차를 가지게 된다.
포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계(S500)는 초기 평면 데이터(FD_Init)와 초기 곡면 데이터(SD_Init)에서 추출된 포인트 데이터를 이용하여, 각 포인트에서의 편차를 계산하는 과정이다.
도 8은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 포인트 데이터를 이용하여 생성된 편차 데이터의 예시를 나타낸 도면이다.
도 8을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 편차 데이터(DD)는 동일한 위치에 해당하는 초기 평면 데이터(FD_Init)의 포인트 데이터와 초기 곡면 데이터(SD_Init)의 포인트 데이터를 비교함으로써 생성할 수 있다.
예를 들어, 편차 데이터(DD)는 초기 평면 데이터(FD_Init)의 포인트 데이터를 초기 곡면 데이터(SD_Init)의 포인트 데이터로 나누어서 생성할 수 있다. 또는, 초기 곡면 데이터(SD_Init)의 포인트 데이터를 초기 평면 데이터(FD_Init)의 포인트 데이터로 나누어서 생성할 수도 있다.
따라서, 편차 데이터(DD)는 N X M 매트릭스 포인트에 대해서, 초기 평면 데이터(FD_Init)와 초기 곡면 데이터(SD_Init) 사이의 편차를 반영하게 된다.
앞에서 설명한 바와 같이, N X M 매트릭스 포인트를 초기 평면 데이터(FD_Init) 및 초기 곡면 데이터(SD_Init)의 내측 영역에 설정함으로써, 에지 영역(EA)의 고주파 성분은 제거될 수 있다.
각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 편차 데이터(DD)에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계(S600)는 각 포인트에서의 곡률에 따라 초기 평면 데이터(FD_Init)와 초기 곡면 데이터(SD_Init) 사이의 편차를 조정하는 과정이다.
도 9는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 곡률에 따른 가중치를 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 과정을 나타낸 도면이고, 도 10은 곡률에 따른 가중치 테이블의 예시를 나타낸 표이다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법은 초기 곡면 데이터(SD_Init) 상에 N X M 매트릭스의 포인트를 지정하고 이로부터 포인트 데이터를 추출할 수 있다. 예를 들어, 매트릭스 포인트는 가로 방향으로 8개의 포인트 라인(P1 - P8)을 포함하고, 각 포인트 라인(P1 - P8)은 8개의 포인트를 포함할 수 있다.
이와 같이, 8개의 포인트 라인(P1-P8)을 배치하는 경우, 일부의 포인트 라인은 디스플레이 패널(110)의 곡면 영역(CA)에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 여기에서는 제 4 포인트 라인(P4), 제 5 포인트 라인(P5) 및 제 6 포인트 라인(P6)이 곡면 영역(CA)에 대응되는 위치에 형성되는 경우를 나타내고 있다.
곡면 영역(CA) 이외의 영역은 평면 영역(FA)으로 볼 수 있으며, 여기에서는 제 1 포인트 라인(P1) 내지 제 4 포인트 라인(P4) 사이의 영역 및 제 6 포인트 라인(P6) 내지 제 8 포인트 라인(P8) 사이의 영역이 평면 영역(FA)에 해당한다.
이 때, 디스플레이 패널(110)의 임의의 포인트는 곡률에 해당하는 벤딩 각도(A)에 따라 편차 데이터(DD)에 적용하는 가중치가 달라질 수 있다. 예를 들어, 디스플레이 패널(110)의 곡면 영역(CA) 중에서 최대 곡률을 가지는 영역(여기에서는 제 5 포인트 라인(P5))을 기준 라인으로 해서, 곡면 영역(CA)과 평면 영역(FA)이 형성하는 벤딩 각도(A)에 따라 편차 데이터(DD)에 적용하는 가중치를 달리할 수 있다.
이 때, 특정 포인트 라인이 형성하는 벤딩 각도(A)는 기준 라인에 해당하는 제 5 포인트 라인(P5)으로부터 이격된 수평 거리 및 수직 거리에 따라 결정될 수 있다. 예를 들어, 제 6 포인트 라인(P6)의 벤딩 각도(A)는 제 6 포인트 라인(P6)과 제 5 포인트 라인(P5) 사이의 수직 거리를 제 6 포인트 라인(P6)과 제 5 포인트 라인(P5) 사이의 수평 거리로 나눈 값이 tan A 에 해당하게 될 것이다. 따라서, 기준 라인으로부터 이격된 수평 거리 및 수직 거리에 따라 각 포인트의 벤딩 각도(A)가 결정될 수 있다.
디스플레이 패널(110)이 평면 상태인 경우를 기준 가중치 1로 하는 경우, 최대 곡률을 나타내는 제 5 포인트 라인(P5)이 기준 라인으로서 기준 가중치 1이 적용될 수 있다. 또한, 임의의 포인트에서의 벤딩 각도(A)가 클수록 곡면 영역(CA)과 평면 영역(FA) 사이의 수직 간격이 커지기 때문에, 편차 데이터(DD)에 적용하는 가중치가 1보다 작은 값으로 감소하도록 설정될 수 있을 것이다.
이 때, 평면 영역(FA)에 해당하는 제 1 포인트 라인(P1)과 제 4 포인트 라인(P4) 사이의 영역 및 제 6 포인트 라인(P6)과 제 8 포인트 라인(P8) 사이의 영역은 벤딩 각도(A)가 변하지 않고 일정한 값을 유지하기 때문에, 고정 가중치(W1)를 적용할 수 있다. 따라서, 평면 영역에 대한 곡면 데이터 맵(SDM(FA))은 평면 영역의 편차 데이터(DD(FA))에 벤딩 각도(A)에 따른 고정 가중치(W1)를 적용하여 생성할 수 있다.
예를 들어, 디스플레이 패널(110)의 벤딩 각도(A)가 20도 인 경우, 평면 영역의 곡면 데이터 맵(SDM(FA))은 평면 영역에 대한 편차 데이터(DD(FA))에 벤딩 각도 20도에 해당하는 고정 가중치(W1) 0.88을 각각 적용함으로써 생성할 수 있다.
한편, 곡면 영역(CA)에 해당하는 제 4 포인트 라인(P4)과 제 6 포인트 라인(P6) 사이의 영역은 벤딩 각도(A)가 연속적으로 변동되는 구간이다. 따라서, 곡면 영역(CA)에서는 위치에 따라 변동되는 변동 가중치(W2)가 편차 데이터(DD)에 적용될 것이다.
이 때, 곡면 영역(CA)에서의 벤딩 각도(A)는 연속적으로 변동되기 때문에, 변동 가중치(W2)는 고정 가중치(W1)와 기준 가중치(1) 사이에서 보간법(interpolation)을 적용함으로써 생성할 수 있다.
한편, 곡면 데이터 맵(FSD)의 에지 영역(EA)은 휘도 데이터의 변동이 심한 고주파 성분으로 나타날 수 있다. 따라서, 고주파 성분의 에지 특성을 제거할 수 있도록 곡면 데이터 맵(FSD)의 에지 영역에 위치하는 데이터의 일부를 제거하고, 내측에 위치한 데이터만을 선택해서 곡면 데이터 맵(FSD)을 생성할 수도 있을 것이다.
이와 같이 생성된 곡면 데이터 맵(SDM)은 디스플레이 패널(110)의 위치에 따른 곡률을 반영하기 때문에, 초기 곡면 데이터(SD_init)에 적용함으로써 곡률을 반영하는 최종 곡면 데이터(FSD)를 생성할 수 있다.
초기 곡면 데이터(SD_Init)에 곡면 데이터 맵(SDM)을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계(S700)는 디스플레이 패널(110)의 위치에 따른 곡률을 반영함으로써 최종 곡면 데이터를 생성하는 과정이다.
도 11은 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법에서, 초기 곡면 데이터에 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성한 실험 결과의 예시를 나타낸 도면이다.
도 11을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법은 초기 곡면 데이터(SD_Init)에 곡면 데이터 맵(SDM)을 적용함으로써, 디스플레이 패널(110)의 곡률이 반영된 최종 곡면 데이터(FSD)를 생성할 수 있다.
예를 들어, 최종 곡면 데이터(FSD)는 초기 곡면 데이터(SD_Init)에 곡면 데이터 맵(SDM)를 곱셈 연산함으로써 생성될 수 있다.
이와 같이 생성된 최종 곡면 데이터(FDS)는 초기 곡면 데이터(SD_Init)와 비교할 때, 중앙 부분의 곡률 영역(CA)에 의한 휘도 편차가 감소되는 것을 확인할 수 있다.
최종 곡면 데이터(FSD)로부터 보상 데이터(CD)를 생성하는 단계(S800)는 최종 곡면 데이터(FSD)를 이용하여 디스플레이 장치(100)에서 사용하는 보상 데이터(CD)를 생성하는 과정이다.
보상 데이터(CD)는 촬영 이미지(PI)를 생성하기 위해서 디스플레이 패널(110)에 인가된 테스트 이미지와 최종 곡면 데이터(FDS) 사이의 편차를 보상하는 값으로 생성될 수 있을 것이다.
한편, 이러한 보상 데이터(CD)는 테스트 이미지의 계조에 따라 2회 이상 생성될 수 있다.
예를 들어, 디스플레이 패널(110)이 255계조로 표현되는 경우, 40 계조 이하의 저계조 테스트 이미지를 대상으로 한번 생성하고, 150계조 이상의 고계조 테스트 이미지를 대상으로 한번 생성해서, 2개의 보상 데이터(CD)를 이용할 수 있다. 이 경우, 디스플레이 장치(100)는 메모리(142)에 저계조의 보상 데이터와 고계조의 보상 데이터를 저장하고, 디스플레이 패널(110)에 표시되는 영상 이미지의 계조에 따라 서로 다른 보상 데이터(CD)를 적용할 수 있을 것이다.
도 12는 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 장치의 블록도를 나타낸 도면이다.
도 12를 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 장치(200)는 카메라(210), 보상 데이터 처리 유닛(220) 및 가중치 테이블(230)을 포함할 수 있다.
카메라(210)는 디스플레이 장치(100)의 디스플레이 패널(110)에 표시되는 테스트 이미지를 촬영하여, 촬영 이미지(PI)를 생성한다.
예를 들어, 광학 보상 장치(200)는 흑색 또는 백색의 테스트 색상에 도트 타입의 다수의 교정 포인트를 포함하는 테스트 이미지를 디스플레이 패널(110)에 제공하고, 카메라(210)를 통해 테스트 이미지를 촬영함으로써 촬영 이미지(PI)를 생성할 수 있다.
이 때, 테스트 이미지는 광학 보상 장치(200)에서 생성되어 디스플레이 장치(100)에 인가될 수도 있지만, 외부의 호스트 시스템에서 디스플레이 장치(100)에 전달될 수도 있다. 테스트 이미지가 광학 보상 장치(200)에서 생성되는 경우, 광학 보상 장치(200)는 테스트 이미지를 생성하기 위한 테스트 이미지 생성 모듈을 더 포함할 수 있을 것이다.
촬영 이미지(PI)는 디스플레이 패널(110)의 표시 영역에 배치된 복수의 서브픽셀(SP)에 대한 휘도 정보를 포함할 수 있다.
보상 데이터 처리 유닛(220)은 평면 촬영 이미지(PI_Flat) 및 곡면 촬영 이미지(PI_Curve)를 최초 평면 데이터(FD_Init) 및 최초 곡면 데이터(SD_Init)로 변환하는 데이터 변환 모듈(221), 최초 평면 데이터(FD_Init) 및 최초 곡면 데이터(SD_Init)에 대한 편차 데이터(DD)를 생성하는 편차 데이터 생성 모듈(222), 곡률에 따른 가중치를 편차 데이터(DD)에 적용하여 곡면 데이터 맵(SDM)을 생성하는 곡면 데이터 맵 생성 모듈(223), 초기 곡면 데이터(SD_Init)에 곡면 데이터 맵(SDM)을 적용하여 최종 곡면 데이터(FSD)를 생성하는 최종 곡면 데이터 생성 모듈(224), 및 보상 데이터(CD)를 생성하는 보상 데이터 생성 모듈(225)을 포함할 수 있다.
데이터 변환 모듈(221)은 디스플레이 패널(110)이 평면 상태에서 촬영된 평면 촬영 이미지(PI_Flat) 및 디스플레이 패널(110)이 곡면 상태에서 촬영된 곡면 촬영 이미지(PI_Curve)를 최초 평면 데이터(FD_Init) 및 최초 곡면 데이터(SD_Init)로 변환한다.
편차 데이터 생성 모듈(222)은 최초 평면 데이터(FD_Init) 및 최초 곡면 데이터(SD_Init)를 정규화하고, N X M 포인트에서 추출된 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터(DD)를 생성한다.
곡면 데이터 맵 생성 모듈(223)은 각 포인트에서의 곡률에 따른 가중치를 가중치 테이블(230)에서 추출하고, 편차 데이터(DD)에 적용하여 곡면 데이터 맵(SDM)을 생성한다.
최종 곡면 데이터 생성 모듈(224)은 초기 곡면 데이터(SD_Init)에 곡면 데이터 맵(SDM)을 적용하여 최종 곡면 데이터(FSD)를 생성한다.
보상 데이터 생성 모듈(225)은 최종 곡면 데이터(FSD)를 이용하여 보상 데이터(CD)를 생성한다.
본 개시의 광학 보상 시스템은 일정한 곡면 영역(CA)을 포함하는 곡면 구조의 디스플레이 패널(110)에 대하여, 위치에 따른 곡률의 반영하여 보상 데이터(CD)를 생성함으로써, 보상 데이터(CD)의 정확도를 향상시킬 수 있다.
이상에서 설명한 본 개시의 실시예들을 간략하게 설명하면 아래와 같다.
본 개시의 실시예들에 따른 광학 보상 방법은 테스트 이미지가 표시되는 평면 상태의 디스플레이 패널에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 이미지가 표시되는 곡면 상태의 상기 디스플레이 패널에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터에서 복수의 포인트에 대한 포인트 데이터를 추출하는 단계와, 상기 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계와, 각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계와, 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
본 개시의 광학 보상 방법은 상기 포인트 데이터를 추출하는 단계 이전에 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터를 정규화하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 포인트 데이터는 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터 상에 위치하는 N X M 매트릭스 포인트를 대상으로 추출된 데이터일 수 있다.
상기 포인트 데이터는 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터의 에지 영역을 제외한 내측 영역에서 추출된 데이터일 수 있다.
상기 편차 데이터를 생성하는 단계는 상기 초기 평면 데이터의 포인트 데이터를 상기 초기 곡면 데이터의 포인트 데이터로 나누어서 생성하거나, 상기 초기 곡면 데이터의 포인트 데이터를 상기 초기 평면 데이터의 포인트 데이터로 나누어서 생성될 수 있다.
상기 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계는 평면 영역의 편차 데이터에 벤딩 각도에 따른 고정 가중치를 적용하는 단계와, 곡면 영역의 편차 데이터에 벤딩 각도에 따른 변동 가중치를 적용하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 변동 가중치는 상기 고정 가중치와 기준 가중치 사이에서 보간법(interpolation)을 적용할 수 있다.
상기 기준 가중치는 최대 곡률을 나타내는 포인트 라인을 대상으로 할 수 있다.
상기 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계는 에지 영역에 위치하는 데이터의 일부를 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계는 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 곱셈 연산할 수 있다.
상기 보상 데이터를 생성하는 단계는 상기 테스트 이미지와 상기 최종 곡면 데이터 사이의 편차를 보상하는 값으로 생성될 수 있다.
본 개시의 광학 보상 방법은 상기 테스트 이미지를 상기 디스플레이 패널에 공급하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 보상 데이터는 40계조 이하의 저계조의 테스트 이미지로부터 생성된 제 1 보상 데이터와, 150계조 이상의 고계조의 테스트 이미지로부터 생성된 제 2 보상 데이터를 포함할 수 있다.
본 개시의 광학 보상 장치는 테스트 이미지가 표시되는 디스플레이 패널에 대한 촬영 이미지를 생성하는 카메라와, 평면 촬영 이미지 및 곡면 촬영 이미지를 최초 평면 데이터 및 최초 곡면 데이터로 변환하는 데이터 변환 모듈과, 상기 최초 평면 데이터 및 상기 최초 곡면 데이터에 대한 편차 데이터를 생성하는 편차 데이터 생성 모듈과, 상기 디스플레이 패널의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 곡면 데이터 맵 생성 모듈과, 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 최종 곡면 데이터 생성 모듈과, 상기 최종 곡면 데이터를 이용하여 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성 모듈을 포함할 수 있다.
본 개시의 광학 보상 장치는 상기 테스트 이미지를 생성해서 상기 디스플레이 패널에 공급하는 테스트 이미지 생성 모듈을 더 포함할 수 있다.
본 개시의 광학 보상 장치는 상기 디스플레이 패널의 곡률에 따른 가중치 데이터를 저장하는 가중치 테이블을 더 포함할 수 있다.
본 개시의 디스플레이 장치는 발광 소자가 형성된 복수의 서브픽셀을 포함하는 디스플레이 패널과, 상기 디스플레이 패널에 복수의 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동 회로와, 상기 디스플레이 패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로와, 보상 데이터를 저장하는 메모리와, 상기 보상 데이터를 이용하여 상기 데이터 전압을 보상하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되, 상기 보상 데이터는 테스트 이미지가 표시되는 평면 상태의 디스플레이 패널에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 이미지가 표시되는 곡면 상태의 상기 디스플레이 패널에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터에서 복수의 포인트에 대한 포인트 데이터를 추출하는 단계와, 상기 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계와, 각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계와, 상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계와, 상기 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터를 생성하는 단계를 통해 생성될 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다.
100: 디스플레이 장치
110: 디스플레이 패널
120: 게이트 구동 회로
130: 데이터 구동 회로
140: 타이밍 컨트롤러
142: 메모리
200: 광학 보상 장치
210: 카메라
220: 보상 데이터 처리 유닛
221: 데이터 변환 모듈
222: 편차 데이터 생성 모듈
223: 곡면 데이터 맵 생성 모듈
224: 최종 곡면 데이터 생성 모듈
225: 보상 데이터 생성 모듈

Claims (17)

  1. 테스트 이미지가 표시되는 평면 상태의 디스플레이 패널에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계;
    상기 테스트 이미지가 표시되는 곡면 상태의 상기 디스플레이 패널에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계;
    상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터에서 복수의 포인트에 대한 포인트 데이터를 추출하는 단계;
    상기 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계;
    각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계;
    상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터를 생성하는 단계를 포함하는 광학 보상 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 포인트 데이터를 추출하는 단계 이전에
    상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터를 정규화하는 단계를 더 포함하는 광학 보상 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 포인트 데이터는
    상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터 상에 위치하는 N X M 매트릭스 포인트를 대상으로 추출된 데이터인 광학 보상 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 포인트 데이터는
    상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터의 에지 영역을 제외한 내측 영역에서 추출된 데이터인 광학 보상 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 편차 데이터를 생성하는 단계는
    상기 초기 평면 데이터의 포인트 데이터를 상기 초기 곡면 데이터의 포인트 데이터로 나누어서 생성하거나,
    상기 초기 곡면 데이터의 포인트 데이터를 상기 초기 평면 데이터의 포인트 데이터로 나누어서 생성하는 광학 보상 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계는
    평면 영역의 편차 데이터에 벤딩 각도에 따른 고정 가중치를 적용하는 단계; 및
    곡면 영역의 편차 데이터에 벤딩 각도에 따른 변동 가중치를 적용하는 단계를 포함하는 광학 보상 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 변동 가중치는
    상기 고정 가중치와 기준 가중치 사이에서 보간법(interpolation)을 적용하는 광학 보상 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 기준 가중치는
    최대 곡률을 나타내는 포인트 라인을 대상으로 하는 광학 보상 방법.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계는
    에지 영역에 위치하는 데이터의 일부를 제거하는 단계를 더 포함하는 광학 보상 방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계는
    상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 곱셈 연산하는 광학 보상 방법.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 보상 데이터를 생성하는 단계는
    상기 테스트 이미지와 상기 최종 곡면 데이터 사이의 편차를 보상하는 값으로 생성되는 광학 보상 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 테스트 이미지를 상기 디스플레이 패널에 공급하는 단계를 더 포함하는 광학 보상 방법.
  13. 제 1 항에 있어서,
    상기 보상 데이터는
    40계조 이하의 저계조의 테스트 이미지로부터 생성된 제 1 보상 데이터; 및
    150계조 이상의 고계조의 테스트 이미지로부터 생성된 제 2 보상 데이터를 포함하는 광학 보상 방법.
  14. 테스트 이미지가 표시되는 디스플레이 패널에 대한 촬영 이미지를 생성하는 카메라;
    평면 촬영 이미지 및 곡면 촬영 이미지를 최초 평면 데이터 및 최초 곡면 데이터로 변환하는 데이터 변환 모듈;
    상기 최초 평면 데이터 및 상기 최초 곡면 데이터에 대한 편차 데이터를 생성하는 편차 데이터 생성 모듈;
    상기 디스플레이 패널의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 곡면 데이터 맵 생성 모듈;
    상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 최종 곡면 데이터 생성 모듈; 및
    상기 최종 곡면 데이터를 이용하여 보상 데이터를 생성하는 보상 데이터 생성 모듈을 포함하는 광학 보상 장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 테스트 이미지를 생성해서 상기 디스플레이 패널에 공급하는 테스트 이미지 생성 모듈을 더 포함하는 광학 보상 장치.
  16. 제 14 항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널의 곡률에 따른 가중치 데이터를 저장하는 가중치 테이블을 더 포함하는 광학 보상 장치.
  17. 발광 소자가 형성된 복수의 서브픽셀을 포함하는 디스플레이 패널;
    상기 디스플레이 패널에 복수의 스캔 신호를 공급하는 게이트 구동 회로;
    상기 디스플레이 패널에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로;
    보상 데이터를 저장하는 메모리; 및
    상기 보상 데이터를 이용하여 상기 데이터 전압을 보상하는 타이밍 컨트롤러를 포함하되,
    상기 보상 데이터는
    테스트 이미지가 표시되는 평면 상태의 디스플레이 패널에 대한 초기 평면 데이터를 생성하는 단계;
    상기 테스트 이미지가 표시되는 곡면 상태의 상기 디스플레이 패널에 대한 초기 곡면 데이터를 생성하는 단계;
    상기 초기 평면 데이터 및 상기 초기 곡면 데이터에서 복수의 포인트에 대한 포인트 데이터를 추출하는 단계;
    상기 포인트 데이터를 이용하여 편차 데이터를 생성하는 단계;
    각 포인트의 곡률에 따른 가중치를 상기 편차 데이터에 적용하여 곡면 데이터 맵을 생성하는 단계;
    상기 초기 곡면 데이터에 상기 곡면 데이터 맵을 적용하여 최종 곡면 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 최종 곡면 데이터로부터 보상 데이터를 생성하는 단계를 통해 생성되는 디스플레이 장치.

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