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KR20230017674A - 발진 검출기 및 이의 동작 방법 - Google Patents

발진 검출기 및 이의 동작 방법 Download PDF

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KR20230017674A
KR20230017674A KR1020210099489A KR20210099489A KR20230017674A KR 20230017674 A KR20230017674 A KR 20230017674A KR 1020210099489 A KR1020210099489 A KR 1020210099489A KR 20210099489 A KR20210099489 A KR 20210099489A KR 20230017674 A KR20230017674 A KR 20230017674A
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KR
South Korea
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pulse signal
frequency
detection circuit
change detection
voltage
Prior art date
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Pending
Application number
KR1020210099489A
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English (en)
Inventor
이재승
유성민
공태황
양준혁
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Priority to US17/873,795 priority patent/US12117472B2/en
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Abstract

본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기는, 전압들의 레벨을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 생성하도록 구성된 진폭 변화 검출 회로, 제1 펄스 신호의 주파수 성분들 중 소정 주파수 이하의 성분을 필터링함으로써 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성된 주파수 변화 검출 회로, 및 제2 펄스 신호가 소정 시간 이상 동안 연속적인 펄스들을 갖는 경우, 발진 검출 신호를 출력하도록 구성된 시간 변화 검출 회로를 포함할 수 있다.

Description

발진 검출기 및 이의 동작 방법{OSCILLATION DETECTOR AND ITS OPERATION METHOD}
본 개시의 기술적 사상은 발진 검출기 및 이의 동작 방법에 관한 것으로서, 자세하게는 회로의 출력 전압이 발진하는지 여부를 검출하는 것에 관한 것이다.
최근에는 고성능 회로에 대한 수요가 급증하고 있다. 따라서, 회로가 정상적인 전압을 출력하고 있는지 여부를 판단하는 것이 중요해 지고 있다. 회로의 출력 전압이 발진(oscillation)하는 경우, 해당 회로는 비정상적인 동작을 하고 있는 것이므로, 회로의 출력 전압이 발진하는지 여부를 정확히 판단하는 것이 중요할 수 있다. 그러나, 회로의 출력 전압이 발진하는지 여부를 판단하는 발진 검출기는 회로의 정상 동작 시 발생할 수 있는 고주파(high frequency) 성분에 의해 발진에 관한 오판단을 할 수 있으며, 이에 따라, 정상 동작 중인 회로가 셧-다운(shut-down)되는 문제가 발생할 수 있다.
본 개시의 기술적 사상이 해결하려는 기술적 과제는, 전압의 발진 여부를 진폭, 주파수, 시간의 관점에서 판단함으로써 정확한 전압 발진 상황을 검출할 수 있는, 발진 검출기 및 이의 동작 방법을 제공하는 데에 있다.
본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 개시의 예시적 실시예에 따른 전압의 발진을 검출하는 발진 검출기는, 전압들의 레벨을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 생성하도록 구성된 진폭 변화 검출 회로, 상기 제1 펄스 신호의 주파수 성분들 중 소정 주파수 이하의 성분을 필터링함으로써 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성된 주파수 변화 검출 회로, 및 상기 제2 펄스 신호가 소정 시간 이상 동안 연속적인 펄스들을 갖는 경우, 발진 검출 신호를 출력하도록 구성된 시간 변화 검출 회로를 포함할 수 있다.
본 개시의 예시적 실시예에 따른 전압의 발진을 검출하는 발진 검출기는, 제1 전압의 레벨 및 제2 전압의 레벨을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 출력하도록 구성된 진폭 변화 검출 회로, 상기 제1 펄스 신호의 펄스 개수를 카운팅하고, 상기 카운팅된 펄스 개수에 기초하여 제2 펄스 신호를 출력하도록 구성된 주파수 변화 검출 회로, 상기 제2 펄스 신호를 분주함으로써 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 분주 신호들을 생성하고, 복수의 분주 신호들에 기초하여 발진 검출 신호를 출력하도록 구성된 시간 변화 검출 회로를 포함할 수 있다.
본 개시의 예시적 실시예에 따른 전압의 발진을 검출하는 발진 검출기의 동작 방법은, 전압들을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 출력하는 단계, 상기 제1 펄스 신호의 주파수 성분들 중 소정 주파수 이하의 성분을 필터링 함으로써 제2 펄스 신호를 출력하는 단계, 및 상기 제2 펄스 신호가 소정 시간 이상 동안 연속적인 펄스들을 갖는 경우, 발진 검출 신호를 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기는, 진폭, 주파수, 시간의 측면에서 전압을 모니터링함으로써 전압의 발진 여부를 정확히 판단할 수 있다.
또한, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기는, 디지털 회로로 구현될 수 있으므로, 외부 전압을 테스트하기 위한 별도의 트랜지스터 등이 필요하지 않을 수 있으며, 따라서, 구조가 간단하고, 전력 소모량이 적을 수 있다.
본 개시의 예시적 실시예들에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 아니하며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 이하의 기재로부터 본 개시의 예시적 실시예들이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 도출되고 이해될 수 있다. 즉, 본 개시의 예시적 실시예들을 실시함에 따른 의도하지 아니한 효과들 역시 본 개시의 예시적 실시예들로부터 당해 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 도출될 수 있다.
도 1은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기(oscillation detector)를 설명하기 위한 블록도이다.
도 2는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기를 설명하기 위한 도면이다.
도 3a 및 도 3b는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 진폭 변화 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 예시적 실시예에 따른 주파수 변화 검출 회로를 설명하기 위한 도면이다.
도 5 본 개시의 예시적 실시예에 따른 주파수 변화 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 시간 변화 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기의 동작 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 8은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 무선 통신 장치를 나타내는 블록도이다.
도 9는 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 컴퓨팅 시스템을 나타내는 블록도이다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 개시의 실시예들에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기(oscillation detector)를 설명하기 위한 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기(100)는 진폭 변화 검출 회로(110), 주파수 변화 검출 회로(120) 및/또는 시간 변화 검출 회로(130)를 포함할 수 있다.
발진 검출기(100)는 오실레이터(oscillator), LDO(Low Drop-Out), 선형 레귤레이터(linear regulator), 전압 변환기(voltage converter) 등과 같은 회로의 출력 전압을 입력 전압으로 받아 상술한 회로들이 정상 동작하고 있는지 여부를 판단할 수 있는 검출기일 수 있다. 예를 들어, 발진 검출기(100)는 LDO의 출력 전압을 입력 전압으로 받고, LDO의 출력 전압이 발진(oscillation)하고 있는지 여부를 판단할 수 있다. 또한, 발진 검출기(100)는 LDO의 출력 전압이 발진하고 있다고 판단된 경우, LDO의 출력 전압이 발진하고 있음을 나타내는 플래그(flag)를 외부 시스템에 전달할 수 있다.
상술한 LDO와 같이 발진 검출기(100)의 외부에 존재하는 회로의 출력 전압을 외부 전압이라고 지칭할 경우, 발진 검출기(100)는 후술할 내용과 같이, 외부 전압을 진폭(amplitude), 주파수(frequency), 및/또는 시간(time)의 측면들로 세분화하여 모니터링할 수 있다. 발진 검출기(100)는 세분화된 측면들로 외부 전압을 모니터링함으로써, 외부 전압이 발진하는지 여부를 정확하게 검출할 수 있다.
또한, 발진 검출기(100)는 디지털 회로로 구성될 수 있다. 따라서, 발진 검출기(100)는 외부 전압을 테스트하기 위한 별도의 테스트용 트랜지스터 등을 필요로 하지 않을 수 있다. 그러므로, 테스트용 트랜지스터를 필요로 하는 검출기와 달리, 디지털 회로로 구성된 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기(100)를 사용하는 경우, 칩 소형화에 보다 유리할 수 있으며, 전력 소모의 측면에 있어서 효율적일 수 있다.
진폭 변화 검출 회로(110)는 입력된 전압에 기초하여 펄스 신호를 출력하기 위한 회로일 수 있다. 구체적으로, 진폭 변화 검출 회로(110)는 진폭 변화 검출 회로(110)로 입력된 2 개의 전압을 비교하여, 로직 하이(logic high) 및 로직 로우(logic low) 중 어느 하나를 출력하도록 구성된 회로일 수 있다. 다시 말해, 진폭 변화 검출 회로(110)는 입력된 전압들을 비교함으로써 펄스 신호(pulse signal)를 출력하도록 구성될 수 있다.
주파수 변화 검출 회로(120)는 수신된 신호가 소정 주파수 이상의 성분을 가지는 경우에 발진 검출기(100)가 외부 전압이 발진하고 있다고 판단하기 위한 회로일 수 있다. 따라서, 외부 회로가 정상 동작 중에 출력할 수 있는 고주파 성분이 발진 검출기(100)에 입력되더라도, 해당 고주파 성분이 소정 주파수 미만의 성분인 경우, 발진 검출기(100)는 정상 동작 중인 외부 회로를 비정상이라고 판단하지 않을 수 있다.
주파수 변화 검출 회로(120)는 진폭 변화 검출 회로(110)로부터 신호를 수신하도록 구성될 수 있다. 또한, 주파수 변화 검출 회로(120)는 주파수 카운터(frequency counter)를 포함함으로써 주파수를 카운팅할 수 있는 회로일 수 있다. 따라서, 발진 검출기(100)는 외부 전압을 주파수 측면에서 모니터링할 수 있다.
주파수 변화 검출 회로(120)는 수신된 신호의 주파수에 기초하여 펄스 신호를 출력하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 진폭 변화 검출 회로(110)로부터 수신한 신호를 제1 펄스 신호라고 할 경우, 주파수 변화 검출 회로(120)는 제1 펄스 신호의 주파수에 기초하여 제2 펄스 신호를 출력하도록 구성될 수 있다. 구체적으로, 주파수 변화 검출 회로(120)는 제1 펄스 신호의 주파수 성분들 중 소정 주파수 이하의 성분을 필터링함으로써, 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성될 수 있다. 주파수 변화 검출 회로(120)에 관한 보다 자세한 내용은 후술하기로 한다.
시간 변화 검출 회로(130)는 외부 회로의 출력 신호의 고주파 성분이 소정 시간 이상 출력되는 경우, 외부 회로가 발진하는 전압을 출력하고 있다고 판단하기 위한 회로일 수 있다. 외부 전압은 외부 회로가 정상 동작 중이라도 일정 시간 동안 고주파 신호를 출력하는 경우가 발생할 수 있다. 발진 검출기(100)는 시간 변화 검출 회로(130)를 이용하여 외부 회로가 정상 동작 중에 출력할 수 있는 고주파 성분이 있더라도, 해당 고주파 성분이 소정 시간 미만 출력된 경우, 외부 회로가 정상 동작 중이라고 판단할 수 있다. 구체적으로, 시간 변화 검출 회로(130)는 주파수 변화 검출 회로(120)로부터 제2 펄스 신호를 수신하도록 구성될 수 있으며, 제2 펄스 신호가 소정 시간 이상 동안 연속적인 펄스들을 갖는 경우, 발진 검출 신호를 출력하도록 구성될 수 있다. 시간 변화 검출 회로(130)에 관한 보다 자세한 내용은 후술하기로 한다.
도 2는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기를 설명하기 위한 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기(200)는 진폭 변화 검출 회로(210), 주파수 변화 검출 회로(220), 및/또는 시간 변화 검출 회로(230)를 포함할 수 있다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 진폭 변화 검출 회로(210), 주파수 변화 검출 회로(220), 및/또는 시간 변화 검출 회로(230)는 진폭 변화 검출 회로(110), 주파수 변화 검출 회로(120), 및/또는 시간 변화 검출 회로(130)와 대응될 수 있으며, 동일한 기능을 수행하도록 구성될 수 있다.
진폭 변화 검출 회로(210)는 저역 필터(low pass filter)(211), 복수의 저항들(212), 및/또는 비교기(213)를 포함할 수 있다.
저역 필터(211)는 외부 전압(VOSC)을 저역 필터링 하도록 구성된 필터일 수 있다. 도 2에는 저역 필터(211)가 저항과 커패시터로 구성된 것으로 도시되어 있지만, 이에 제한되지 않는다.
복수의 저항들(212)은 외부 전압(VOSC)을 스케일링하기 위한 것일 수 있다. 예를 들어, 외부 전압(VOSC)은 복수의 저항들의 저항 비율에 따라 스케일링될 수 있다.
구체적으로, 저역 필터(211) 또는 복수의 저항들(212)이 비교기(213)의 앞 단에 연결됨으로써, 별도의 고정된 전압이 기준 전압으로서 비교기(213)에 입력되는 것이 아닌, 필터링 또는 스케일링된 외부 전압(VOSC)이 기준 전압으로 입력될 수 있다. 비교기(213)에 고정된 전압이 기준 전압으로 입력되는 경우, 발진 검출기(200)는 외부 회로가 정상적으로 동작하는 상황에서도 외부 전압이 발진하고 있다고 오판단할 수 있다. 예를 들어, LDO와 같은 외부 회로는 정상적인 동작 중에도 순간적으로 일정 레벨 이상의 전압을 출력할 수도 있으며, 이러한 경우, 일정 레벨 이하의 고정된 전압을 비교기(213)의 기준 전압으로 설정하면 외부 회로가 비정상적으로 동작하고 있다고 판단할 수 있다. 다만, 비교기(213)에 필터링 또는 스케일링된 외부 전압(VOSC)이 입력되는 경우, 외부 전압(VOSC)의 레벨에 따라 유동적인 전압이 기준 전압으로 입력될 수 있으므로, 고정 전압을 기준 전압으로 입력할 때보다 외부 전압(VOSC)의 발진 여부를 적응적으로 판단할 수 있으며, 따라서, 보다 정확히 외부 전압(VOSC)의 발진 여부를 판단할 수 있다.
진폭 변화 검출 회로(210)는, 외부 전압(VOSC)이 인가되는 제1 노드와 비교기(213)의 제1 입력단 사이에 연결된 저역 필터(211)를 포함할 수 있다. 또한, 비교기(213)의 제2 입력단과 연결되는 제2 노드와 상술한 제1 노드 사이에 연결된 제1 저항 및 제2 노드와 그라운드 사이에 연결된 제2 저항을 포함할 수 있으며, 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
비교기(213)는 저역 필터(211) 또는 복수의 저항들(212)과 연결됨으로써, 저역 필터링된 외부 전압(VOSC) 및 스케일링된 외부 전압(VOSC)을 비교하여 제1 펄스 신호를 생성하도록 구성될 수 있다. 또한, 비교기(213)는 저역 필터링된 외부 전압(VOSC)을 스케일링함으로써, 스케일링 및 필터링된 외부 전압과 외부 전압을 비교하여 제1 펄스 신호를 생성하도록 구성될 수도 있다.
시간 변화 검출 회로(230)는 시간 카운터(231), 앤드 게이트(AND gate)(232), 및/또는 기억 회로(233)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 기억 회로(233)는 SR 래치(SR latch)일 수 있으며, 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
시간 카운터(231)는 입력된 신호를 분주하도록 구성된 회로일 수 있다. 예를 들어, 시간 카운터(231)는 주파수 변화 검출 회로(220)으로부터 수신된 제2 펄스 신호를 분주함으로써, 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 분주 신호들을 생성하도록 구성될 수 있다.
또한, 앤드 게이트(232)는 생성된 복수의 분주 신호들을 논리곱하도록 구성될 수 있다.
또한, 기억 회로(233)는 논리곱된 신호에 기초하여 발진 검출 신호를 출력하도록 구성될 수 있다. 시간 변화 검출 회로(230)에 관한 보다 자세한 내용은 후술하기로 한다.
도 3a 및 도 3b는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 진폭 변화 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 3a는 도 2의 비교기(213)에 고정된 전압(fixed VREF)을 기준 전압으로 입력했을 때를 예로 들어 여러 신호들을 그래프로 도시한 도면이다.
도 3a의 외부 전압(VLDO)은 목표 진폭 내에서 변화하고 있는 전압이다. 예를 들어, 외부 전압(VLDO)이 LDO의 출력 전압이라고 가정할 때, 외부 전압(VLDO)은 LDO 전압 스펙에서 5% 이내의 범위 내에서 변화하고 있는 전압일 수 있으며, 이를 정상 범위 내에서 변화하는 전압이라고 가정할 수 있다. 구체적으로, LDO 전압 스펙이 0.6V라고 가정하면, 외부 전압(VLDO)는 외부 전압(VLDO)의 직류 성분(VLDO_DC) 레벨에서 30mV를 더한 값 이하, VLDO의 직류 성분(VLDO_DC) 레벨에서 30mV를 뺀 값 이상의 범위에서 변화하는 전압일 수 있다. 다만, 비교기(213)에 고정된 전압(fixed VREF)이 기준 전압으로 인가된 경우, 외부 전압이 목표 진폭 내에서 변화하고 있는 중에도 외부 전압의 직류 성분(VLDO_DC) 레벨에 따라 외부 전압(VLDO)의 레벨이 고정된 전압(fixed VREF) 레벨보다 커지는 구간이 있을 수 있으며, 따라서, 제1 펄스 신호(Pulse1)가 생성될 수 있다. 이는, 외부 회로가 정상적으로 동작하는 상황에서도 외부 전압이 발진하고 있다고 오판하도록 하는 원인이 될 수 있다.
도 3b의 외부 전압(VLDO) 또한 도 3a와 마찬가지로, 목표 진폭 내에서 변화하고 있는 전압이라고 가정할 수 있다.
도 3b를 참조하면, 진폭 변화 검출 회로(210)는 외부로부터 입력된 외부 전압을 스케일링한 제1 전압의 레벨 및 외부 전압의 직류 성분인 제2 전압의 레벨을 비교하고, 제1 전압이 제2 전압보다 큰 경우 펄스 신호를 생성함으로써 제1 펄스 신호를 출력하도록 구성될 수 있다.
또한, 진폭 변화 검출 회로(210)는 외부 전압 레벨과 외부 전압을 저역 필터링 및 스케일링한 전압의 레벨을 비교하고, 외부 전압 레벨이 외부 전압을 저역 필터링 및 스케일링한 전압의 레벨보다 큰 경우 펄스 신호를 생성함으로써, 제1 펄스 신호를 출력하도록 구성될 수 있다.
저역 필터(211)에 의해 필터링되거나 복수의 저항들(212)에 의해 스케일링된 외부 전압(VLDO_DC+α)은 외부 전압(VLDO) 레벨에 따라 유동적으로 변화할 수 있다. 따라서, 외부 전압(VLDO)이 목표 진폭 내에서 변화하고 있는 경우, 비교기(213)는 펄스 신호를 생성하지 않을 수 있다. 예를 들어, 상기 가정한 바와 같이, LDO 전압 스펙에서 5% 이내의 범위 내에서 변화하고 있는 전압을 정상 동작하고 있는 전압이라고 할 경우, 필터링되거나 스케일링된 외부 전압(VLDO_DC+α)은 외부 전압의 직류 성분(VLDO_DC)에서 LDO 전압 스펙의 5%보다 큰 값을 더한 값일 수 있다. 따라서, 외부 전압의 직류 성분(VLDO_DC) 레벨이 변화하더라도 필터링되거나 스케일링된 외부 전압(VLDO_DC+α)의 레벨도 변화하며, 외부 전압(VLOD)이 LDO 전압 스펙의 5% 이내의 범위 내에서 변화하는 경우, 발진 검출기(200)는 LDO가 정상 동작하고 있다고 판단할 수 있다.
따라서, 발진 검출기(200)가 저역 필터(211) 및/또는 복수의 저항들(212)을 포함하는 경우 진폭 측면에서 외부 전압을 정확히 모니터링할 수 있으며, 고정된 전압(fixed VREF)이 기준 전압으로 비교기(213)에 입력되는 경우보다, 적응적이고 정확하게 전압 발진 여부를 판단할 수 있다.
상술한 외부 회로의 정상 동작 전압 범위, LDO의 전압 스펙, 외부 회로가 LDO인 점 등은 설명의 편의를 위한 예시들이며, 이에 제한되는 것은 아니다.
도 4는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 주파수 변화 검출 회로를 설명하기 위한 도면이다.
도 4를 참조하면, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 주파수 카운터(420) 및/또는 비교기(410)를 포함할 수 있다. 주파수 변화 검출 회로는 기준 클럭 신호(REF_CLK)를 입력 받도록 구성될 수 있으며, 주파수 카운터(420)를 포함할 수 있다. 또한, 주파수 카운터(420)는 비교기(410)과 연결될 수 있으며, 기준 클럭 신호(REF_CLK)를 수신하도록 구성될 수 있다.
주파수 카운터(420)는 제1 펄스 신호의 주파수 성분들 중 소정 주파수 이하의 성분들을 필터링함으로써 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성될 수 있다.
또한, 주파수 카운터(420)는 기준 클럭 신호(REF_CLK)를 입력 받고, 기준 클럭 신호(REF_CLK)가 하이 레벨(high level)인 상태에서, 제1 펄스 신호의 사이클이 소정 사이클 이상 카운팅된 경우, 하이 레벨을 갖는 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성될 수 있다. 보다 구체적인 내용은 도 5를 참조하여 설명한다.
도 5 본 개시의 예시적 실시예에 따른 주파수 변화 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 2 및 도 5를 참조하면, 주파수 변화 검출 회로(220)는 기준 클럭 신호(REF_CLK)를 입력 받도록 구성될 수 있다. 또한, 기준 클럭 신호(REF_CLK)의 주파수는 32.5KHz일 수 있으며, 다만, 이에 제한되는 것은 아니다.
주파수 변화 검출 회로(220)는 일 예로서, 기준 클럭 신호(REF_CLK)가 하이 레벨인 상태에서, 제1 펄스 신호(Pulse1)의 펄스 개수가 임계값 미만인 경우, 로우 레벨(low level)을 갖는 제2 펄스 신호(Pulse2)를 생성하도록 구성될 수 있다.
또한, 주파수 변화 검출 회로(220)는 기준 클럭 신호(REF_CLK)가 하이 레벨인 상태에서, 제1 펄스 신호(Pulse1)의 펄스 개수가 임계값 이상인 경우, 임계값 이상의 펄스 개수가 카운팅된 시점부터 하이 레벨을 갖는 제2 펄스 신호(Pulse2)를 생성하도록 구성될 수 있다.
도 5는 상술한 임계값이 16일 경우를 가정하고 도시한 도면이며, 다만, 임계값이 이에 제한되는 것은 아니다.
예를 들어, 주파수 변화 검출 회로(220)는 진폭 변화 검출 회로(210)으로부터 제1 펄스 신호(Pulse1)를 수신하고, 제1 펄스 신호(Pulse1)의 펄스 개수 또는 제1 펄스 신호의 사이클이 반복되는 횟수를 카운팅하도록 구성될 수 있다.
구체적으로, 주파수 변화 검출 회로(220)는 기준 클럭 신호(REF_CLK)가 하이 레벨 상태일 때, 제1 펄스 신호(Pulse1)의 펄스 개수 또는 사이클이 반복되는 횟수를 카운팅하도록 구성될 수 있다. 기준 클럭 신호(REF_CLK)의 주파수를 32.5 KHz로 가정하고 임계값을 16으로 가정하면, 주파수 변화 검출 회로(220)는 기준 클럭 신호(REF_CLK)가 하이 레벨 상태인 동안 제1 펄스 신호(Pulse1)의 사이클 수가 16개 미만인 경우, 로우 레벨을 갖는 제2 펄스 신호(Pulse2)를 생성하도록 구성될 수 있다. 다시 말해, 주파수 변화 검출 회로(220)는 제1 펄스 신호(Pulse1)의 주파수가 500KHz 미만인 경우, 로우 레벨을 갖는 제2 펄스 신호(Pulse2)를 생성하도록 구성될 수 있다.
또한, 주파수 변화 검출 회로(220)는 기준 클럭 신호(REF_CLK)가 하이 상태인 동안 제1 펄스 신호(Pulse1)의 사이클 수가 16개 이상인 경우, 제1 펄스 신호(Pulse1)의 사이클이 16개 이상으로 카운팅된 시점부터 하이 레벨을 갖는 제2 펄스 신호(Pulse2)를 생성하도록 구성될 수 있다. 다시 말해, 주파수 변화 검출 회로(220)는 제1 펄스 신호(Pulse1)의 주파수가 500KHz 이상이라고 판단된 시점부터 하이 레벨을 갖는 제2 펄스 신호(Pulse2)를 생성하도록 구성될 수 있다.
따라서, 주파수 변화 검출 회로(220)에 의해 출력된 제2 펄스 신호의 주파수는 기준 클럭 신호(REF_CLK)의 주파수와 동일할 수 있으며, 제2 펄스 신호(Pulse2)는 기준 클럭 신호(REF_CLK)와 듀티비(duty cycle)만 상이한 신호일 수 있다. 제2 펄스 신호(Pulse2)의 펄스 폭은 기준 클럭 신호(REF_CLK)의 펄스 폭 이하일 수 있다.
위와 같은 주파수 변화 검출 회로(220)의 동작에 의하여 소정 전압(도 5의 경우, 500KHz) 미만의 주파수 성분은 필터링될 수 있다.
도 6은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 시간 변화 검출 회로의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 2 및 도 6을 참조하면, 시간 변화 검출 회로(23)는 제2 펄스 신호(Pulse2)가 소정 시간 이상 동안 연속적인 펄스들을 갖는 경우, 발진 검출 신호를 출력하도록 구성될 수 있다. 시간 변화 검출 회로(230)는 시간 카운터(231)를 이용하여 제2 펄스 신호를 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 분주 신호들(D1 내지 D6)로 분주하도록 구성될 수 있다. 이 때, 복수의 분주 신호들의 개수는 기준 클럭 신호의 주파수 등에 따라 달라질 수 있으며, 설명의 편의를 위해 6개로 가정하였다.
복수의 분주 신호들(D1 내지 D6)은 앤드 게이트(232)에 입력될 수 있으며, 이에 따라 논리곱이 수행될 수 있다. 논리곱이 수행된 신호(AND_OUT)는 복수의 분주 신호들(D1 내지 D6)이 모두 1 값을 가질 때(D<6:1>=111111) 하이 레벨의 펄스가 발생되는 신호일 수 있다. 논리곱이 수행된 신호(AND_OUT)가 소정 시간(certain time) 동안 로우 레벨 상태를 갖고, 소정 시간이 지난 후에 펄스 신호가 발생되는 경우, 발진 검출기(200)는 외부 전압이 소정 시간 이상 발진하고 있다고 판단할 수 있다. 따라서, 논리곱이 수행된 신호(AND_OUT)가 소정 시간이 지난 후에 펄스 신호를 갖는 경우, 시간 변화 검출 회로(230)는 발진 검출 신호를 출력하도록 구성될 수 있다. 논리곱이 수행된 신호(AND_OUT)는 일시적인 펄스를 가질 수 있으며, 펄스 신호는 하이 레벨을 계속해서 유지할 수 없을 수 있다. 시간 변화 검출 회로(230)는 기억 회로(233)에 의해 소정 시간 이후 발생한 펄스 신호가 하이 레벨이 유지되도록 할 수 있다. 도 6에서는, 기억 회로(233)의 예로서 SR 래치를 사용함으로써, 기억 회로(233)의 출력 신호(LATCH_OUT)가 소정 시간 이후 하이 레벨을 유지함이 나타나 있다. 시간 변화 검출 회로(230)는 기억 회로(233)의 출력 신호(LATCH_OUT)을 발진 검출 신호로서 외부에 전달하도록 구성될 수 있으며, 이로 인해, 외부 전압이 발진하고 있음을 알릴 수 있다. 또한, 시간 변화 검출 회로(230)는 기억 회로(233)의 출력 신호(LATCH_OUT)를 반전시킨 신호(OSC_DET)를 발진 검출 신호로 사용할 수 있으며, 기억 회로(233)의 출력 신호(LATCH_OUT)를 반전시킨 신호(OSC_DET)가 소정 시간 이후 로우 레벨을 갖는 경우는 외부 전압이 발진하는 경우일 수 있다.
시간 카운터(231)는 복수의 분주비들로 제2 펄스 신호를 분주할 수 있다. 복수의 분주비들은 기준 클럭 신호의 주파수에 기초하여 결정될 수 있다.
발진 검출기(200)는 시간 변화 검출 회로(230)를 포함함으로써, 소정 시간 이하로 유지되는 고주파 성분의 신호에 대해서는 외부 전압이 발진하고 있지 않다고 판단할 수 있으며, 따라서, 시간의 측면에서 외부 전압을 모니터링할 수 있다.
도 7은 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기의 동작 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 7을 참조하면, 단계 S710에서, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기의 동작 방법은, 전압들을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 출력할 수 있다.
단계 S720에서, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기의 동작 방법은, 제1 펄스 신호의 주파수 성분들 중 소정 주파수 이하의 성분을 필터링함으로써 제2 펄스 신호를 출력할 수 있다. 구체적으로, 기준 클럭 신호를 수신함으로써 기준 클럭 신호와 주파수가 동일한 제2 펄스 신호를 출력할 수 있다.
단계 S730에서, 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기의 동작 방법은, 제2 펄스 신호가 소정 시간 이상 동안 연속적인 펄스들을 갖는 경우, 발진 검출 신호를 출력할 수 있다.
또한, 발진 검출기의 동작 방법은, 기준 클럭 신호가 하이 레벨인 상태에서, 제1 펄스 신호의 사이클이 소정 사이클 이상 카운팅된 경우, 하이 레벨을 갖는 제2 펄스 신호를 생성할 수 있다.
또한 발진 검출기의 동작 방법은, 제2 펄스 신호를 분주함으로써 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 분주 신호들을 생성하고, 복수의 분주 신호들을 논리곱할 수 있다.
도 8은 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 무선 통신 장치를 나타내는 블록도이다.
무선 통신 장치(1300)는 안테나(1340)를 포함할 수 있고, 안테나(1340)를 통해서 신호를 송신하거나 수신함으로서, 상대 장치와 통신할 수 있다. 무선 통신 장치(1300)가 상대 장치와 통신하는 무선 통신 시스템은, 비 제한적인 예시로서 5G(5th generation wireless) 시스템, LTE(Long Term Evolution) 시스템, LTE-Advanced 시스템, CDMA(Code Division Multiple Access) 시스템, GSM(Global System for Mobile Communications) 시스템 등과 같은 셀룰러 네트워크(cellular network)를 이용하는 무선 통신 시스템일 수도 있고, WLAN(Wireless Local Area Network) 시스템 또는 다른 임의의 무선 통신 시스템일 수 있다.
일 구현 예에 따라, 무선 통신 장치(1300)는 신호 프로세서(1310), 송수신기(1230) 및 송수신 듀플렉서(1330)를 포함할 수 있다. 송수신 듀플렉서(1330)는 안테나(1340)를 통해서 수신되는 신호를 RF 입력 신호(RFin)로서 송수신기(1320)에 제공할 수 있고, 송수신기(1320)로부터 수신되는 RF 출력 신호(RFout)를 안테나(1340)에 제공할 수 있다.
구현 예에 따라, 신호 프로세서(1310)는 베이스밴드 프로세서(baseband processor)일 수 있고, 제어 로직(1312)을 포함할 수 있다. 신호 프로세서(1310)는 기저대역의 송수신 신호를 처리할 수 있으며, 구체적으로 송수신기(1320)의 송신 신호 경로를 위한 기저대역 신호를 생성하고 송수신기(1320)의 수신 신호 경로로 수신된 기저대역 신호를 처리할 수 있다.
송수신기(1320)는 송신기(1322), 수신기(1325) 및 주파수 합성 발진기 회로(1324)를 포함할 수 있다.
주파수 합성 발진기 회로(1324)는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기를 포함하거나 또는 발진 검출기와 연결될 수 있다. 따라서, 발진 검출기에 의해 출력 신호의 발진 여부가 모니터링될 수 있다.
송신기(1322)는 신호 프로세서(1310)로부터 수신되는 송신 입력 신호(TXin)를 처리함으로써, RF 출력 신호(RFout)를 생성할 수 있다. 도시된 바와 같이, 송신기(1222)는 송신 입력 신호(TXin)를 처리하기 위하여 가변 이득 증폭기(VGA), TX 필터, TX 믹서(1323) 및 전력 증폭기(PA)를 포함할 수 있다. 수신기1326)는 RF 입력 신호(RFin)를 처리함으로써, 수신 입력 신호(RXin)를 생성하여 신호 프로세서(1310)에 제공할 수 있다. RF 입력 신호(RFin)를 처리하기 위하여 수신기(1325)는 저잡음 증폭기(LNA), RX 믹서(1326), 가변 이득 증폭기(VGA) 및 RX 필터를 포함할 수 있다. 본 개시의 일 실시 예에 따른 주파수 합성 발진기 회로(OSC)(1324)는 송신 입력 신호(TXin) 및 RF 입력 신호(RFin)를 샘플링하기 위한 주파수를 갖는 레퍼런스 클럭을 생성하여 TX 믹서(1323) 및 RX 믹서(1326)로 제공할 수 있다.
도 8에서는 제어 정보가 신호 프로세서(1310)로부터 제공되는 예가 도시 되었으나 본 발명의 실시 예는 이에 국한될 필요가 없다. 일 예로서, 제어 정보는 송수신기(1320) 내부에서 생성되거나, 또는 송수신기(1320) 외부의 다른 제어 회로로부터 생성될 수도 있을 것이다.
도 9는 본 개시의 예시적 실시 예에 따른 컴퓨팅 시스템을 나타내는 블록도이다.
컴퓨팅 시스템(1400)은 데스크탑 컴퓨터, 워크스테이션, 서버 등과 같이 고정형 컴퓨팅 시스템일 수도 있고, 랩탑 컴퓨터 등과 같이 휴대형 컴퓨팅 시스템일 수도 있다. 또한, 컴퓨팅 시스템(1400)은 반도체로 구현한 반도체 장치일 수도 있다.
도 9에 도시된 바와 같이, 컴퓨팅 시스템(1400)은 발진기(1412)를 포함하는 프로세서(1410), 메모리(1420), 입출력 장치들(1430), 저장 장치(1440) 및 네트워크 인터페이스(1450)를 포함할 수 있다. 프로세서(1410), 메모리(1420), 입출력 장치들(1430), 저장 장치(1440) 및 네트워크 인터페이스(1450), 모뎀(1460)은 버스(1470)에 연결될 수 있고, 버스(1370)를 통해서 서로 통신할 수 있다.
프로세서(1410)는 프로세싱 유닛으로 지칭될 수 있고, 예를 들어, 마이크로프로세서(micro-processor), AP(application processor), DSP(digital signal processor), GPU(graphic processing unit)과 같이 임의의 명령어 세트(예컨대, IA-32(Intel Architecture-32), 64 비트 확장 IA-32, x86-64, PowerPC, Sparc, MIPS, ARM, IA-64 등)를 실행할 수 있는 적어도 하나의 코어를 포함할 수 있다. 예를 들면, 프로세서(1410)는 버스(1470)를 통해서 메모리(1420)에 액세스할 수 있고, RAM 또는 ROM에 저장된 명령어들을 실행할 수 있다.
또한, 프로세서(1410)는 발진기(1412)를 포함할 수 있다. 발진기(1412)는 주파수 합성 및 체배, 클럭 생성을 위한 본 개시의 실시 예들에 따른 주파수 합성 발진기 회로를 포함할 수 있다. 일 예로, 발진기(1412)는 클럭 신호가 필요한 프로세서(1410)을 동작시키기 위한 클럭 신호를 생성하고, 상황에 따라 클럭 신호의 주파수를 변경 또는 체배 할 수 있다.
발진기(1412)는 본 개시의 예시적 실시예에 따른 발진 검출기를 포함하거나 또는 발진 검출기와 연결될 수 있다. 따라서, 발진 검출기에 의해 출력 신호의 발진 여부가 모니터링될 수 있다.
메모리(1420)는 DRAM(Dynamic Random Access Memory)를 비롯한 휘발성 메모리(random access memory: RAM)를 포함하거나, 플래시 메모리를 비롯한 비휘발성 메모리(read only memory: ROM)를 포함할 수도 있다.
또한, 메모리(1420)는 발진기(1422)를 포함할 수 있다. 일 예로, 발진기(1422)는 클럭 신호가 필요한 프로세서(1410)을 동작시키기 위한 클럭 신호를 생성하고, 상황에 따라 클럭 신호의 주파수를 변경 또는 체배 할 수 있다.
입출력 장치들(1430)은 키보드, 포인팅 장치 등과 같은 입력 장치를 포함할 수 있고, 디스플레이 장치, 프린터 등과 같은 출력 장치를 포함할 수 있다. 예를 들면, 사용자는 입출력 장치들(1430)을 통해서 M, 디지털 트림 코드 K_int 또는 K_frac를 입력할 수 있고, 입출력 장치들(1430)은 입력된 M, 디지털 트림 코드 K_int 또는 K_frac을 프로세서(1410)에 포함된 발진기(1412), 메모리(1420)에 포함된 발진기(1422)에 버스(1470)를 통해서 전달할 수 있다. 프로세서(1410)에 포함된 발진기(1412), 메모리(1420)에 포함된 발진기(1422)는 수신된 M, 디지털 트림 코드 K_int 또는 K_frac에 따라 클럭 신호의 주파수를 조절할 수 있다.
저장 장치(1440)는 프로세서(1410)에 의해서 처리될 데이터 또는 프로세서(1410)에 의해서 처리된 데이터를 저장할 수도 있다. 즉, 프로세서(1410)는 저장 장치(1440)에 저장된 데이터를 처리함으로써 데이터를 생성할 수 있고, 생성된 데이터를 저장 장치(1440)에 저장할 수도 있다.
네트워크 인터페이스(1450)는 컴퓨팅 시스템(1400) 외부의 네트워크에 대한 액세스를 제공할 수 있다. 예를 들면, 네트워크는 다수의 컴퓨팅 시스템들 및 통신 링크들을 포함할 수 있고, 통신 링크들은 유선 링크들, 광학 링크들, 무선 링크들 또는 임의의 다른 형태의 링크들을 포함할 수 있다.
모뎀(1460)은 외부 장치와 무선 통신 또는 유선 통신을 수행할 수 있다. 예를 들어, 모뎀(1460)은 이더넷(Ethernet) 통신, 근거리 자기장 통신(Near Field Communication; NFC), 무선 식별(Radio Frequency Identification; RFID) 통신, 이동 통신(Mobile Telecommunication), 메모리 카드 통신, 범용 직렬 버스(Universal Serial Bus; USB) 통신 등을 수행할 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다.
또한, 모뎀(1460)는 발진기(1362)를 포함할 수 있다. 일 예로, 발진기(1462)는 클럭 신호가 필요한 모뎀(1360)을 동작시키기 위한 클럭 신호를 생성하고, 상황에 따라 클럭 신호의 주파수를 변경 또는 체배할 수 있다.
구현 예에 따라, 발진기들(1412, 1422, 1462)은 외부에 독립적인 장치로 구성될 수 있고, 컴퓨팅 시스템(1400)의 클럭 신호의 주파수들을 제어하도록 구성된 클럭 제어 유닛을 더 포함할 수 있다. 이에 따라, 각기 다른 동작 주파수로 동작하는 프로세서(1410), 메모리(1420) 및 모뎀(1460)에 서로 다른 클럭 신호를 제공할 수 있다.
이상에서와 같이 도면과 명세서에서 예시적인 실시예들이 개시되었다. 본 명세서에서 특정한 용어를 사용하여 실시예들을 설명되었으나, 이는 단지 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 개시의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 개시의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

Claims (10)

  1. 전압의 발진을 검출하는 발진 검출기에 있어서,
    전압들의 레벨을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 생성하도록 구성된 진폭 변화 검출 회로;
    상기 제1 펄스 신호의 주파수 성분들 중 소정 주파수 이하의 성분을 필터링함으로써 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성된 주파수 변화 검출 회로; 및
    상기 제2 펄스 신호가 소정 시간 이상 동안 연속적인 펄스들을 갖는 경우, 발진 검출 신호를 출력하도록 구성된 시간 변화 검출 회로;를 포함하는 발진 검출기.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 진폭 변화 검출 회로는,
    외부 전압을 저역 필터링하도록 구성된 저역 필터;
    상기 외부 전압을 스케일링하도록 구성된 복수의 저항들; 및
    상기 저역 필터링된 외부 전압의 레벨 및 상기 스케일링된 외부 전압의 레벨을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 생성하도록 구성된 비교기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 발진 검출기.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 주파수 변화 검출 회로는,
    상기 제1 펄스 신호의 주파수가 상기 소정 주파수 이하인 경우, 로우 레벨(low level)을 갖는 상기 제2 펄스 신호를 생성하고,
    상기 제1 펄스 신호의 주파수가 상기 소정 주파수를 초과하는 경우, 하이 레벨(high level)을 갖는 상기 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성된 것을 특징으로 하는 발진 검출기.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 주파수 변화 검출 회로는,
    기준 클럭 신호를 입력 받도록 구성되고,
    상기 제2 펄스 신호의 주파수는 상기 기준 클럭 신호의 주파수와 동일한 것을 특징으로 하는 발진 검출기.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 주파수 변화 검출 회로는,
    주파수 카운터(frequency counter)를 포함하고,
    상기 주파수 카운터는,
    기준 클럭 신호를 입력 받고,
    상기 기준 클럭 신호가 하이 레벨인 상태에서, 상기 제1 펄스 신호의 사이클이 소정 사이클 이상 카운팅된 경우, 하이 레벨을 갖는 상기 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성된 것을 특징으로 하는 발진 검출기.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 시간 변화 검출 회로는,
    상기 제2 펄스 신호를 분주함으로써 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 분주 신호들을 생성하고, 복수의 분주 신호들에 기초하여 발진 검출 신호를 출력하도록 구성된 발진 검출기.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 시간 변화 검출 회로는,
    상기 제2 펄스 신호를 분주하도록 구성된 시간 카운터(time counter);
    상기 복수의 분주 신호들을 논리곱하도록 구성된 앤드 게이트(AND gate); 및
    상기 논리곱된 신호의 펄스를 하이 레벨로 유지함으로써 발진이 발생하였음을 나타내는 발진 검출 신호를 생성하도록 구성된 기억 회로;를 포함하는 것을 특징으로 하는 발진 검출기.
  8. 전압의 발진을 검출하는 발진 검출기에 있어서,
    제1 전압의 레벨 및 제2 전압의 레벨을 비교함으로써 제1 펄스 신호를 출력하도록 구성된 진폭 변화 검출 회로;
    상기 제1 펄스 신호의 펄스 개수를 카운팅하고, 상기 카운팅된 펄스 개수에 기초하여 제2 펄스 신호를 출력하도록 구성된 주파수 변화 검출 회로;
    상기 제2 펄스 신호를 분주함으로써 서로 다른 주파수를 갖는 복수의 분주 신호들을 생성하고, 복수의 분주 신호들에 기초하여 발진 검출 신호를 출력하도록 구성된 시간 변화 검출 회로;를 포함하는 발진 검출기.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 진폭 변화 검출 회로는,
    외부로부터 입력된 외부 전압을 스케일링한 상기 제1 전압의 레벨 및 상기 외부 전압의 직류 성분인 상기 제2 전압의 레벨을 비교하고,
    상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우 펄스 신호를 생성함으로써, 상기 제1 펄스 신호를 출력하도록 구성된 것을 특징으로 하는 발진 검출기.
  10. 제8항에 있어서,
    주파수 변화 검출 회로는,
    기준 클럭 신호를 입력 받고,
    상기 기준 클럭 신호가 하이 레벨인 상태에서, 상기 제1 펄스 신호의 펄스 개수가 임계값 미만인 경우, 로우 레벨을 갖는 상기 제2 펄스 신호를 생성하고,
    상기 클럭 신호가 하이 레벨인 상태에서, 상기 제1 펄스 신호의 펄스 개수가 상기 임계값 이상인 경우, 상기 임계값 이상의 펄스 개수가 카운팅된 시점부터 하이 레벨을 갖는 상기 제2 펄스 신호를 생성하도록 구성된 것을 특징으로 하는 발진 검출기.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1429617A (en) * 1974-06-03 1976-03-24 Hewlett Packard Ltd Method and apparatus for measuring the group delay character istics of a transmission path
CA1033015A (en) * 1976-04-09 1978-06-13 Roger C. Palmer Microwave frequency counter
US4914600A (en) * 1987-06-05 1990-04-03 Gruman Aerospace Corporation Programmable frequency identifier circuit
US8385476B2 (en) 2001-04-25 2013-02-26 Texas Instruments Incorporated Digital phase locked loop
US7402984B1 (en) 2005-03-09 2008-07-22 National Semiconductor Corporation Oscillation sensor for linear regulation circuit
US7880554B2 (en) 2009-02-03 2011-02-01 Qualcomm Incorporated Periodic timing jitter reduction in oscillatory systems
JP2010271091A (ja) * 2009-05-20 2010-12-02 Seiko Epson Corp 周波数測定装置
JP5517033B2 (ja) * 2009-05-22 2014-06-11 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置
JP5876975B2 (ja) * 2009-10-08 2016-03-02 セイコーエプソン株式会社 周波数測定装置及び周波数測定装置における変速分周信号の生成方法
US8487593B2 (en) 2010-04-22 2013-07-16 Intersil Americas Inc. System and method for detection and compensation of aggressive output filters for switched mode power supplies
US8575911B2 (en) 2010-06-28 2013-11-05 Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. Digital hybrid V2 control for buck converters
TWI550379B (zh) 2014-03-14 2016-09-21 瑞昱半導體股份有限公司 漣波控制切換式穩壓器以及漣波控制切換式穩壓方法
US10826429B2 (en) 2017-11-29 2020-11-03 Mediatek Inc. Compensation module, oscillation circuit, and associated compensation method capable of reducing sensitivity of output oscillation signal
KR102030264B1 (ko) 2018-01-29 2019-10-08 충북대학교 산학협력단 완료 신호를 포함하는 비교기를 이용하여 출력 전압 리필을 줄인 디지털 ldo 장치 및 디지털 ldo 장치의 운용 방법
JP7121637B2 (ja) 2018-11-12 2022-08-18 日立Astemo株式会社 電子装置
KR102731056B1 (ko) 2019-04-25 2024-11-15 삼성전자주식회사 출력 전압의 발진을 검출하는 전력 변환기

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