KR20210021502A - Apparatus for checking mounting status of electronic component - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전자부품 이송장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 전자부품 이송장치는, 전자부품을 파지하거나 파지를 해제할 수 있는 픽커; 상기 픽커를 전자부품을 파지하는 제1 영역에서 전자부품의 파지를 해제하는 제2 영역으로 이동시키거나, 상기 픽커를 상기 제2 영역에서 상기 제1 영역으로 이동시키는 수평이동기; 상기 픽커에 의한 전자부품의 파지가 가능하도록 상기 픽커를 하강시키거나, 전자부품을 파지한 상기 픽커가 상기 수평이동기에 의해 수평이동이 가능하도록 상기 픽커를 상승시키는 수직이동기; 및 제3 영역에 적재된 전자부품을 카메라로 촬영하기 위해, 광원으로부터 오는 빛을 상기 제2 영역에 적재된 전자부품 측으로 반사시키는 반사판;을 포함하고, 상기 반사판은 상기 픽커와 함께 수평 이동된다.
본 발명에 따르면 카메라에 의한 이미지 획득에 필요한 광원의 설치위치에 대한 설계의 자유도가 상승된다.The present invention relates to an electronic component transfer device.
An electronic component conveying apparatus according to the present invention includes: a picker capable of holding or releasing an electronic component; A horizontal mover for moving the picker from a first area for gripping the electronic component to a second area for releasing the grip of the electronic component or moving the picker from the second area to the first area; A vertical mover for lowering the picker so as to be able to grip the electronic component by the picker or raising the picker so that the picker holding the electronic component can be horizontally moved by the horizontal mover; And a reflector for reflecting light from a light source toward the electronic component loaded in the second area to photograph the electronic component loaded in the third area with the camera, wherein the reflector is horizontally moved together with the picker.
According to the present invention, the degree of freedom in design for the installation position of a light source required for image acquisition by a camera is increased.
Description
본 발명은 제1 영역에서 파지한 전자부품을 제1 영역과 다른 제2 영역으로 이송시키는 전자부품 이송장치에 관한 것이다.The present invention relates to an electronic component transfer device that transfers an electronic component gripped in a first area to a second area different from the first area.
에스에스디(SSD: Solid State Drive)와 같은 전자부품은 생산된 후 공정용 트레이에 적재된다. 그리고 공정용 트레이에 적재된 전자부품은 테스트를 위해 테스트트레이로 이동 적재된다. 전자부품은 테스트트레이에 적재된 상태에서 테스터에 전기적으로 연결됨으로써, 전자부품에 대한 제1 테스트 공정이 수행된다.Electronic components such as SSDs (Solid State Drives) are produced and then loaded onto processing trays. And electronic components loaded in the process tray are moved to the test tray for testing. The electronic component is electrically connected to the tester while being loaded on the test tray, thereby performing a first test process for the electronic component.
제1 테스트 공정에서 양품으로 판정된 전자부품은 케이싱 공정과 라벨링 공정을 통해 출하 제품으로 완성된 후, 제2 테스트 공정이 진행된다. 제2 테스트 공정 후 테스트 결과에 따라 전자부품은 양품과 불량품으로 분류되고, 양품만이 출하된다.The electronic component determined to be good in the first test process is completed into a shipment product through a casing process and a labeling process, and then a second test process proceeds. After the second test process, according to the test result, electronic components are classified into good products and defective products, and only good products are shipped.
종래에는 테스트 공정을 제외한 위와 같은 일련의 과정들이 수작업에 의해 이루어졌기 때문에 생산성이 낮았다. 따라서 본 발명의 출원인은, 본 발명에 앞서서 전자부품에 대한 케이싱 공정과 라벨링 공정을 수행할 수 있는 라벨링 장비(대한민국 출원번호 10-2014-0041140호, 이하 '선행발명1'이라 함), 라벨링이 완료된 전자부품에 대한 제2 테스트 공정을 수행하기 위한 테스트 장비(대한민국 출원번호 10-2014-0091798호, 이하 '선행발명2'라 함), 제2 테스트가 완료된 전자부품을 테스트 결과에 따라 분류하는 전자부품 분류장비(대한민국 출원번호 10-2014-0154576호, 이하 '선행발명2'라 함)를 제안한 바 있다.In the past, productivity was low because a series of processes as described above except for the test process were performed by hand. Therefore, the applicant of the present invention, prior to the present invention, labeling equipment capable of performing a casing process and labeling process for electronic parts (Korean Application No. 10-2014-0041140, hereinafter referred to as'prior invention 1'), labeling Test equipment for performing the second test process on completed electronic parts (Korean Application No. 10-2014-0091798, hereinafter referred to as'Prior Invention 2'), classifying electronic parts that have completed the second test according to test results An electronic component sorting device (Korean Application No. 10-2014-0154576, hereinafter referred to as'Prior Invention 2') has been proposed.
또한, 본 발명의 출원인은 위의 선행발명1 내지 선행발명3에 따른 장비들과 하나의 시스템을 이루면서, 제1 테스트 공정을 수행하기 위해 공정용 트레이에 적재된 전자부품을 테스트트레이로 로딩(loading)시키기 위한 장비(대한민국 출원번호 10-2014-01909640호, 이하 '선행발명4'라 함)와 제1 테스트 공정이 완료된 전자부품을 테스트트레이로부터 언더필지그로 언로딩(unloading)시키는 장비(대한민국 출원번호 10-2015-0015600, 이하 '선행발명5'라 함)를 제안한 바 있다.In addition, the applicant of the present invention forms a system with the equipment according to the
본 발명은 위의 선행발명5에서 이루어지는 전자부품 이동 작업에 매우 바람직하게 적용될 수 있는 전자부품 이송장치에 관한 것이다. 특히 본 발명은 전자부품 이송장치에 의해 이동 적재된 전자부품이 적절한 적재 상태를 가짐으로써 다음의 작업이 적절히 이루어질 수 있는지 여부를 확인하기 위한 기술과 관련된다.The present invention relates to an electronic component transfer device that can be very preferably applied to the electronic component transfer operation made in the prior invention 5 above. In particular, the present invention relates to a technique for confirming whether or not the following operation can be properly performed by having an electronic component movably loaded by an electronic component transfer device having an appropriate loading state.
본 발명의 목적은 카메라에 의한 전자부품의 적재 상태를 확인하는 작업을 지원할 수 있는 전자부품 이송장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide an electronic component transfer device capable of supporting the operation of checking the loading state of an electronic component by a camera.
본 발명의 제1 형태에 따른 전자부품 이송장치는, 전자부품을 파지하거나 파지를 해제할 수 있는 픽커; 상기 픽커를 전자부품을 파지하는 제1 영역에서 전자부품의 파지를 해제하는 제2 영역으로 이동시키거나, 상기 픽커를 상기 제2 영역에서 상기 제1 영역으로 이동시키는 수평이동기; 상기 픽커에 의한 전자부품의 파지가 가능하도록 상기 픽커를 하강시키거나, 전자부품을 파지한 상기 픽커가 상기 수평이동기에 의해 수평이동이 가능하도록 상기 픽커를 상승시키는 수직이동기; 및 제3 영역에 적재된 전자부품을 카메라로 촬영하기 위해, 광원으로부터 오는 빛을 상기 제3 영역에 적재된 전자부품 측으로 반사시키는 반사판;을 포함하고, 상기 반사판은 상기 픽커와 함께 수평 이동된다.An electronic component conveying apparatus according to a first aspect of the present invention includes: a picker capable of gripping or releasing an electronic component; A horizontal mover for moving the picker from a first area for gripping the electronic component to a second area for releasing the grip of the electronic component or moving the picker from the second area to the first area; A vertical mover for lowering the picker so as to be able to grip the electronic component by the picker or raising the picker so that the picker holding the electronic component can be horizontally moved by the horizontal mover; And a reflector for reflecting light from a light source to the electronic component mounted in the third area to photograph the electronic component loaded in the third area with the camera, wherein the reflector is horizontally moved together with the picker.
상기 반사판은 상기 수평이동기의 작동에 따라 상기 제3 영역에 위치할 수 있으며, 상기 광원은 상기 반사판이 상기 제3 영역에 위치할 때, 상기 반사판과 상하 방향으로 위치된다.The reflector may be positioned in the third area according to the operation of the horizontal mover, and the light source is positioned in a vertical direction with the reflector when the reflector is positioned in the third area.
상기 제2 영역은 상기 제1 영역과 상기 제3 영역 사이에 있다.The second region is between the first region and the third region.
상기 전자부품 이송장치는 상기 반사판에 설치되는 상기 카메라; 를 더 포함할 수 있다.The electronic component transfer device includes: the camera installed on the reflector; It may further include.
본 발명의 제2 형태에 따른 전자부품 이송장치는, 전자부품을 파지하거나 파지를 해제할 수 있는 픽커; 상기 픽커를 전자부품을 파지하는 제1 영역에서 전자부품의 파지를 해제하는 제2 영역으로 이동시키거나, 상기 픽커를 상기 제2 영역에서 상기 제1 영역으로 이동시키는 수평이동기; 상기 픽커에 의한 전자부품의 파지가 가능하도록 상기 픽커를 하강시키거나, 전자부품을 파지한 상기 픽커가 상기 수평이동기에 의해 수평이동이 가능하도록 상기 픽커를 상승시키는 수직이동기; 상기 수평이동기의 작동에 따라 상기 픽커와 함께 수평 이동되며, 이동 상태에 따라 상기 제2 영역과 다른 제3 영역으로 돌출될 수 있는 설치판; 및 상기 설치판에 설치되며, 상기 제3 영역에 적재된 전자부품을 촬영하기 위해 마련되는 카메라; 를 포함한다.An electronic component conveying apparatus according to a second aspect of the present invention includes: a picker capable of gripping or releasing an electronic component; A horizontal mover for moving the picker from a first area for gripping the electronic component to a second area for releasing the grip of the electronic component or moving the picker from the second area to the first area; A vertical mover for lowering the picker so as to be able to grip the electronic component by the picker or raising the picker so that the picker holding the electronic component can be horizontally moved by the horizontal mover; An installation plate that is horizontally moved together with the picker according to the operation of the horizontal mover and protruded to a third area different from the second area according to the moving state; And a camera installed on the installation plate and provided for photographing electronic components loaded in the third area. Includes.
상기 전자부품 이송장치는 상기 카메라에 의한 촬영에 필요한 빛을 조사하기 위해 상기 설치판에 설치되는 광원; 을 더 포함할 수 있다.The electronic component transfer device includes a light source installed on the installation plate to irradiate light required for photographing by the camera; It may further include.
본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.According to the present invention, there are the following effects.
첫째, 카메라로 전자부품의 적재 상태를 확인하기 위해 필요한 빛을 전자부품 이송장치에 의해 간접적으로 공급할 수 있기 때문에 카메라 및 조명장치의 광원을 설치하기 위한 설계의 자유도가 상승될 수 있다.First, the degree of freedom in design for installing the light source of the camera and the lighting device can be increased because light required to check the loading state of the electronic component with the camera can be indirectly supplied by the electronic component transfer device.
둘째, 카메라의 촬영 거리를 짧게 가져갈 수 있기 때문에 정교한 이미지를 획득할 수 있어서 전자부품의 적재 상태의 확인 작업이 정확히 이루어질 수 있다.Second, since the camera's shooting distance can be shortened, an elaborate image can be obtained, so that the electronic component can be accurately checked.
도1은 전자부품 언로딩장비에 적용되는 테스트트레이에 대한 개략적인 사시도이다.
도2는 전자부품 언로딩장비에 적용되는 언더필지그에 대한 개략적인 사시도이다.
도3은 전자부품 언로딩장비에 대한 개념적인 평면도이다.
도4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치에 대한 개략적인 사시도이다.
도5는 도4의 제2 전자부품 이송장치에 대한 개략적인 정면도이다.
도6 내지 도9는 도4의 제2 전자부품 이송장치의 작동을 설명하기 위한 참조도이다.
도10의 본 발명의 제2 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치에 대한 개략적인 사시도이다.
도11은 제1 및 제2 실시예들의 변형에 따른 예를 설명하기 위한 참조도이다.1 is a schematic perspective view of a test tray applied to an electronic component unloading device.
2 is a schematic perspective view of an underfill jig applied to an electronic component unloading device.
3 is a conceptual plan view of an electronic component unloading device.
4 is a schematic perspective view of a second electronic component transfer device according to a first embodiment of the present invention.
5 is a schematic front view of the second electronic component transfer device of FIG. 4.
6 to 9 are reference diagrams for explaining the operation of the second electronic component transfer device of FIG. 4.
10 is a schematic perspective view of a second electronic component transfer device according to a second embodiment of the present invention.
11 is a reference diagram for explaining an example according to a modification of the first and second embodiments.
이하 상기한 바와 같은 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention as described above will be described with reference to the accompanying drawings, but redundant descriptions will be omitted or compressed as far as possible for the sake of brevity.
본 발명에 따른 전자부품 이송장치를 설명하기에 앞서서, 선행발명5에 따른 전자부품 언로딩장비(EDUE)에서 사용되는 테스트트레이와 언더필지그에 대하여 살펴본 후, 먼저 언로딩장비(EDUE)를 개괄적으로 설명한다.Prior to describing the electronic component transfer device according to the present invention, after examining the test tray and the underfill jig used in the electronic component unloading equipment (EDUE) according to the prior invention 5, first, the unloading equipment (EDUE) is outlined. Explain.
<테스트트레이에 대한 설명><Explanation of the test tray>
도1에서와 같이 테스트트레이(TT)에는 제1 테스트가 완료된 전자부품(ED)이 적재되어 있다. 전자부품(ED, 예를 들면 'SSD')은 테스트트레이(TT)에 적재된 상태로 제1 테스트가 이루어지기 때문에, 테스트트레이(TT)는 접촉모듈(CM)을 구비한다. 접촉모듈(CM)에는 수직 상태의 전자부품(ED)이 삽입될 수 있는 삽입홈(IS)과 연결단자(하부에 구성되기 때문에 미도시됨)들을 가진다. 여기서 삽입홈(IS)에 삽입된 전자부품(ED)은 연결단자들에 전기적으로 접촉되고, 연결단자들은 테스터에 전기적으로 접촉될 수 있다. 따라서 연결단자를 매개로 하여 전자부품(ED)과 테스터가 전기적으로 연결되어서 제1 테스트가 이루어지게 된 것이다.As shown in FIG. 1, the electronic component ED for which the first test is completed is loaded in the test tray TT. Since the first test is performed while the electronic component ED (for example,'SSD') is loaded in the test tray TT, the test tray TT includes a contact module CM. The contact module CM has an insertion groove IS into which an electronic component ED in a vertical state can be inserted and a connection terminal (not shown because it is configured at the lower portion). Here, the electronic component ED inserted into the insertion groove IS may be in electrical contact with the connection terminals, and the connection terminals may be in electrical contact with the tester. Therefore, the electronic component (ED) and the tester are electrically connected through the connection terminal to perform the first test.
물론, 테스트트레이(TT)는 도1의 구조 이외의 다른 구조들을 가질 수도 있다.Of course, the test tray TT may have structures other than the structure of FIG. 1.
<언더필지그에 대한 설명><Explanation of the underfill jig>
도2에서와 같이 언더필지그(Under Fill Jig, UJ)에는 테스트트레이(TT)로부터 언로딩된 전자부품(ED)이 수평 상태로 적재될 수 있다. 이러한 언더필지그(UJ)는 상판(JT)과 하판(JB)으로 구성된다. 전자부품(ED)들은 수평 상태로 하판(JB)에 안착되며, 상판(JT)은 하판(JB)에 탈착 가능하게 결합된다. 따라서 전자부품(ED)을 언더필지그(UJ)에 적재시키기 위해서는 상판(JT)을 하판(JB)에서 분리시켜야 한다.As shown in FIG. 2, the electronic component ED unloaded from the test tray TT may be loaded in a horizontal state in an underfill jig (UJ). This underfill jig (UJ) is composed of an upper plate (JT) and a lower plate (JB). The electronic components ED are mounted on the lower plate JB in a horizontal state, and the upper plate JT is detachably coupled to the lower plate JB. Therefore, in order to load the electronic component ED on the underfill jig UJ, the upper plate JT must be separated from the lower plate JB.
참고로, 전자부품(ED)은 위와 같은 언더필지그(UJ)에 적재된 상태에서 언더필 작업(기판에 설치된 반도체소자의 저부에 필러를 주사하여 반도체소자를 단단히 고정시키는 작업)이 이루어진다. 그리고 도2의 예에서는 언더필지그(UJ)가 6개의 전자부품(ED)을 적재시킬 수 있는 구조를 가지고 있지만, 실시하기에 따라서는 6개 내지 20개의 전자부품을 적재시킬 수 있는 구조를 가질 수 있다. For reference, the electronic component ED is loaded in the underfill jig UJ as described above and an underfill operation (an operation of firmly fixing the semiconductor element by scanning a filler in the bottom of the semiconductor element installed on the substrate) is performed. In the example of FIG. 2, although the underfill jig (UJ) has a structure capable of loading 6 electronic components (ED), it may have a structure capable of loading 6 to 20 electronic components depending on implementation. have.
<전자부품 언로딩장비의 구성에 대한 개괄적인 설명><Overview of the composition of electronic component unloading equipment>
도3은 전자부품 언로딩장비(EDUE)에 대한 개념적인 평면도이다.3 is a conceptual plan view of an electronic component unloading equipment (EDUE).
전자부품 언로딩장비(EDUE)는 트레이이동장치(110), 트레이이송장치(120), 트레이받침장치(200) 전자부품 회전장치(300), 제1 전자부품 이송장치(400), 트레이운반장치(500), 제2 전자부품 이송장치(600), 제1 지그이동장치(710), 제2 지그이동장치(720), 상판탈착장치(730), 하판이송장치(740), 지그운반장치(750), 지그반전장치(760), 지그이송장치(770), 지그반출장치(780), 조명장치(800) 및 제어장치(900)를 포함한다.Electronic component unloading equipment (EDUE) is a
트레이이동장치(110)는 수급위치(SDP)로 공급된 테스트트레이(TT)를 대기위치(WP)로 이동시킨다. 또한, 빈 테스트트레이(TT)의 배출을 위해, 트레이이동장치(110)는 적용된 테스트트레이(TT)의 종류에 따라서 대기위치(WP)에 있는 빈 테스트트레이(TT)를 수급위치(SDP)로 이동시킬 수도 있다.
트레이이송장치(120)는 대기위치(WP)에 있는 테스트트레이(TT)를 언로딩위치(UP)로 이송시키거나 언로딩위치(UP)에 있는 빈 테스트트레이(TT)를 대기위치(WP)로 이송시킨다.The tray transfer device 120 transfers the test tray (TT) in the standby position (WP) to the unloading position (UP) or transfers the empty test tray (TT) in the unloading position (UP) to the standby position (WP). Transfer to.
트레이받침장치(200)는 언로딩위치(UP)에 있는 테스트트레이(TT)를 받친다.The
전자부품 회전장치(300)는 제1 전자부품 이송장치(400)에 의해 테스트트레이(TT)로부터 언로딩되어 와서 수직 상태로 적재된 전자부품(ED)을 수평 상태로 회전시킨다.The electronic
제1 전자부품 이송장치(400)는 테스트트레이(TT)로부터 전자부품(ED)을 언로딩한 후, 수직 상태의 전자부품(ED)을 전자부품 회전장치(300)로 공급한다.The first electronic
트레이운반장치(500)는 대기위치(WP)에 있는 빈 테스트트레이(TT)를 트레이반출위치(TCP)로 운반한다. 이러한 트레이운반장치(500)에 의한 테스트트레이(TT)의 운반은 적용된 테스트트레이(TT)의 종류에 따라서 이루어지거나 이루어지지 아니할 수 있다. 즉, 트레이이동장치(110)에 의해 대기위치(WP)에서 수급위치(SDP)로 되돌려지는 경로를 따라야 하는 테스트트레이(TT)가 적용된 경우에는 트레이운반장치(500)의 작동이 필요 없고, 대기위치(WP)에서 트레이반출위치(TCP)로 이동되는 경로를 따라야 하는 테스트트레이(TT)가 적용된 경우에는 트레이운반장치(500)의 작동이 필요하다.The
제2 전자부품 이송장치(600)는 전자부품 회전장치(300)에 의해 수평 상태로 회전된 전자부품(ED)을 파지한 후 적재위치(LP)에 있는 언더필지그(UJ)의 하판(JB)에 적재시킨다. 본 발명은 이러한 제2 전자부품 이송장치(600)에 관한 것으로서, 차후에 목차를 달리하여 자세히 설명한다.The second electronic
제1 지그이동장치(710)는 지그운반장치(750)에 의해 이동시작위치(MSP)로 공급된 언더필지그(UJ)를 상판탈거위치(TTP)로 이동시키고, 상판탈거위치(TTP)에서 상판(JT)이 탈거된 하판(JB)을 제1 이동종료위치(MEP1)로 이동시킨다.The first
제2 지그이동장치(720)는 적재위치(LP)에 있는 하판(JB)을 상판결합위치(TJP)로 이동시키고, 상판결합위치(TJP)에서 상판(JT)이 결합된 언더필지그(UJ)를 제2 이동종료위치(MEP2)로 이동시킨다.The second
상판탈착장치(730)는 상판탈거위치(TTP)에 있는 언더필지그(UJ)로부터 상판(JT)을 탈거시킨 후, 상판결합위치(TJP)에 있는 하판(JB)에 상판(JT)을 결합시킨다.The upper
하판이송장치(740)는 제1 이동종료위치(MEP1)에 있는 하판(JB)을 후방의 적재위치(LP)로 이동시킨다.The lower
지그운반장치(750)는 지그공급위치(JSP)에 있는 빈 언더필지그(UJ)를 이송시작위치(MSP)로 운반한다. 또한, 지그운반장치(750)는 제2 이송종료위치(MEP2)에 있는 전자부품(ED)이 채워진 언더필지그(UJ)를 반전위치(JDP)로 이동시킨다. The
지그반전장치(760)는 반전위치(JDP)에 있는 언더필지그(UJ)를 좌우 수평선을 회전축으로 하여 180도 회전시킨다.The
지그이송장치(770)는 반전위치(JDP)에 있는 언더필지그(UJ)를 지그반출위치(JCP)로 이송시킨다.The
지그반출장치(780)는 지그반출위치(JCP)에 있는 언더필지그(UJ)를 반출시킨다.The
조명장치(800)는 상판결합위치(TJP)에 있는 하판(JB)에 빛을 조사하기 위해 마련된다. 이러한 조명장치(800)의 광원(801 내지 806)들은 상판결합위치(TJP)의 전후 측에 설치된다. 따라서 광원(801 내지 806)에서 조사된 빛은 상판결합위치(TJP)에 있는 하판(JB)으로 직접 조사되지 못한다. 물론, 광원의 개수 및 형태는 실시하기에 따라서 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 후술할 제2 실시예에 따르면 광원이 제2 전자부품 이송장치(600)에 구비되기 때문에 상판결합위치(TJP)의 전후 측에 구비된 조명장치(800)가 생략될 수 있다. 더 나아가 전자부품 언로딩장비(EDUE)의 내부가 밝으면 별도의 조명장치를 구비하지 않아도 좋다.The
제어장치(900)는 상기한 각 구성을 제어한다. 특히, 상판결합위치(TJP)에 있는 하판(JB)에 전자부품(ED)이 적절히 적재되어 있는지를 판단하고, 전자부품(ED)이 하판(JB)에 적절히 적재되어 있지 아니한 경우에는 잼(JAM)을 발생시킨다.The
<제1 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치에 대한 설명><Description of the second electronic component transfer device according to the first embodiment>
제1 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치(600)는 수평 상태에 있는 전자부품(ED)을 흡착 파지한 후, 파지한 전자부품(ED)을 적재위치(LP)에 있는 하판(JB)으로 이동 적재시킨다. 이를 위해 제2 전자부품 이송장치(600)는 도4의 개략적인 사시도와 도5의 개략적인 정면도에서 참조되는 바와 같이 2개의 픽커(611, 612), 제1 수평이동기(620), 제2 수평이동기(630), 이동프레임(640), 수직이동기(650), 반사판(660) 및 2개의 카메라(671, 672)를 포함한다.The second electronic
2개의 픽커(611, 612)는 진공압에 의해 전자부품(ED)을 흡착 파지하거나 진공압의 해제에 의해 전자부품(ED)의 파지를 해제한다. 본 실시예에서는 2개의 픽커(611, 612)에 의해 전자부품(ED)을 파지하고 있으나, 전자부품(ED)의 크기나 형태에 따라서 하나의 픽커에 의해 전자부품을 파지하도록 구현되거나, 3개 이상의 픽커에 의해 전자부품을 파지하도록 구현될 수 있다.The two
제1 수평이동기(620)는 2개의 픽커(611, 612)를 좌우 방향으로 이동시킴으로써, 2개의 픽커(611, 612)를 제1 영역(S1)에서 제2 영역(S2)으로 이동시키거나, 제2 영역(S2)에서 제1 영역(S1)으로 이동시키기 위해 마련된다. 여기서 제1 영역(S1)은 픽커(611, 612)에 의해 전자부품(ED)을 파지하는 영역으로서, 전자부품 회전장치(300)에 의해 수평 상태로 전환된 전자부품(ED)이 공급되는 영역이다. 그리고 제2 영역(S2)은 제1 영역(S1)에서 이동되어온 전자부품(ED)의 파지를 해제하는 영역으로서, 파지 해제에 의해 전자부품(ED)을 언더필지그(UJ)의 하판(JB)에 적재시키는 영역이다.The first
제2 수평이동기(630)는 픽커(611, 612)를 전후 방향으로 이동시키기 위해 마련된다.The second
이동프레임(640)은 제2 수평이동기(630)에 의해 전후 방향으로 이동되며, 제1 수평이동기(630)의 작동에 의해 제2 수평이동기(630)가 좌우 방향으로 이동함에 따라 함께 좌우 방향으로 이동된다.The moving
수직이동기(650)는 이동프레임(640)에 고정 설치되며, 픽커(611, 612)를 승강시킴으로써 전자부품(ED)의 파지나 파지 해제가 적절히 이루어질 수 있도록 한다.The
반사판(660)은 이동프레임(640)에 고정 설치되며, 조명장치(800)의 광원(801 내지 806)에 의해 하방에서 상방으로 조사되는 빛을 하방으로 반사시킨다. 이러한 반사판(660)은 이동프레임(640)에서 우측 방향으로 돌출된 사각 판 형상이며, 픽커(611, 612)가 결합되어 있는 이동프레임(640)과 함께 이동한다. 따라서 반사판(660)은 픽커(611, 612)와 함께 수평 이동하게 된다. 이로 인해 픽커(611, 612)가 제2 영역(S2) 내에 위치할 때 반사판(660)은 제2 영역(S2)과는 다른 제3 영역(S3)으로 돌출되거나 제3 영역(S3)에 위치한다. 여기서 제3 영역(S3)은 제2 지그이동장치(720)에 의해 적재위치(LP)에서 상판결합위치(TJP)로 이동된 하판(JB)이 위치하는 영역으로서 상판결합위치(TJP)가 속해 있는 영역이다. 따라서 제1 영역(S1), 제2 영역(S2), 제3 영역(S3)은 좌측에서 우측 방향으로 순차적으로 위치한다. 그리고 반사판(660)은 제1 수평이동기(620)의 작동에 의해 제3 영역(S3)에 위치할 때, 상하 방향으로 광원(801 내지 806)과 대면하게 된다.The
카메라(671, 672)는 반사판(660)에 설치된다. 이에 따라 카메라(671, 672)도 반사판(660)과 함께 제2 영역(S2)과 제3 영역(S3) 간을 이동하게 된다. 이러한 카메라(671, 672)는 제3 영역(S3)에 위치할 때 하방의 상판결합위치(TJP)에 있는 하판(JB)을 촬영한다. 물론, 카메라의 개수와 반사판(660) 내에서의 카메라의 설치 위치는 필요에 따라서 다양하게 변경될 수 있다.
계속하여 위와 같은 구성을 가지는 제2 전자부품 이송장치(600)의 작동 및 그에 부대하는 기술에 대하여 설명한다.Subsequently, the operation of the second electronic
도6은 현재 전자부품 회전장치(300)에 의해 수평 상태로 전환된 전자부품(ED)이 제1 영역(S1)에 위치하고 있는 상태이다.6 is a state in which the electronic component ED, which is currently converted to a horizontal state by the electronic component
도6의 상태에서 수직이동기(650)가 작동하여 픽커(611, 612)를 하강시키고, 진공압에 의해 픽커(611, 612)가 전자부품(ED)을 흡착 파지하면 도7에서와 같이 수직이동기(650)가 픽커(611, 612)를 상승시킨다. 물론, 픽커(611, 612)의 상승에 따라 픽커(611, 612)의 수평 이동이 가능해진다. In the state of Fig. 6, when the
도7의 상태에서 제1 수평이동기(620)가 작동하여 도8에서와 같이 픽커(611, 612)를 제1 영역(S1)에서 적재위치(LP)가 속한 제2 영역(S2)으로 이동시킨다. 이 때, 픽커(611, 612)의 이동거리는 6개의 전자부품(ED)을 적재시킬 수 있는 하판(JB)의 어느 부분에 전자부품(ED)을 적재시켜야 하는가에 따라서 다소 달라질 수 있다. 또한, 하판(JB)에는 전후 3부분 각각 전자부품(ED)을 적재시킬 수 있기 때문에, 제2 수평이동기(630)가 필요에 따라 동작하거나 동작하지 아니할 수도 있다. 도8의 상태에서는 픽커(611, 612)가 제2 영역(S2)에 위치하기 때문에, 반사판(660)은 상판결합위치(TJP)가 속한 제3 영역(S3) 측으로 돌출된다.In the state of FIG. 7, the first
도8의 상태에서 수직이동기(650)의 작동에 의해 픽커(611, 612)가 하강하고, 이어서 픽커(611, 612)가 전자부품(ED)의 파지를 해제함으로써 적재위치(LP)에 있는 하판(JB)에 전자부품(ED)을 적재시킨다.In the state of Fig. 8, the
위와 같이 도6 내지 도8의 과정들을 6번 반복 수행함으로써 적재위치(LP)에 있는 하판(JB)에 전자부품(ED)의 적재가 완료되면, 제2 지그이동장치(720)에 의해 적재위치(LP)에 있는 하판(JB)이 상판결합위치(TJP)로 이동된다. 그리고 적재위치(LP)로는 하판이송장치(740)에 의해 새로운 빈 하판(JB)이 공급된다. 따라서 도9에서 참조되는 바와 같이 제2 영역(S2)에 속한 적재위치(LP)에는 새로운 빈 하판(JBn)이 놓이고, 제3 영역(S3)에 속한 상판결합위치(TJP)에는 적재위치(LP)에서 이동되어 온 전자부품(ED)이 적재된 하판(JBm)이 놓이게 된다.When the electronic component (ED) is loaded on the lower plate (JB) in the loading position (LP) by repeating the processes of FIGS. 6 to 8 as described above, the second
한편, 적재위치(LP)에 있는 하판(JBn)으로 전자부품(ED)을 이동 적재시키는 작업이 이루어지거나, 제1 수평이동기(620)의 작동에 따른 별도의 이동에 의해 반사판(660)이 제3 영역(S3)에 위치하게 되면, 카메라(671, 672)로 상판결합위치(TJP)에 있는 하판(JB)의 평면을 촬영하게 된다. 이 때, 조명장치(800)의 광원(801 내지 806)으로부터 상방으로 조사(화살표 a, b, c 참조)된 빛은 반사판(660)에 의해 하방으로 반사(화살표 a', b', c' 참조)됨으로써 카메라(671, 672)의 촬영 작업을 지원한다. 여기서 반사판(660)에 의해 하방으로 반사(화살표 a', b', c' 참조)된 빛이 하판(JB)에 적재된 전자부품(ED)들 및 그 주변을 비출 수 있도록 광원(801 내지 806)의 조사각이 설정되어야 한다. 그리고 카메라(671, 672)에 의해 촬영된 이미지는 제어장치(900)로 보내지고, 제어장치(900)는 미리 저장되어 있는 이미지와 카메라(671, 672)로부터 수신한 이미지를 비교 분석하여 전자부품(ED)이 하판(JB)에 적절히 적재되어 있는지를 판단한다. 만일 전자부품(ED)의 적재가 양호하다고 판단되면, 제어장치(900)는 상판탈착장치(730)를 제어하여 상판결합위치(TJP)에 있는 하판(JB)에 상판(JT)을 결합시킨다. 그러나 전자부품(ED)의 적재가 불량하다고 판단되면, 제어장치(900)는 잼을 발생시킨다. 물론, 카메라(671, 672)에 의한 확인 시점은 필요에 따라서 다양하게 조정되거나 설정될 수 있을 것이다. On the other hand, the operation of moving and loading the electronic component (ED) to the lower plate (JBn) at the loading position (LP) is performed, or the
한편, 위의 제1 실시예에서는 반사판(660)과 광원(801 내지 806)이 상하방향으로 마주보게 구현되었지만, 반사판(660)의 반사각이나 광원(801 내지 806)의 조사각을 설계 여건에 따라 다양하게 변경할 수 있을 것이다.On the other hand, in the first embodiment above, the reflecting
또한, 제1 실시예에서는 카메라(671, 672)를 반사판(660)에 설치하고 있지만, 설계 여건에 따라서는 카메라를 반사판 이외의 다른 위치에 적절히 설치하는 것도 고려될 수 있을 것이다.In addition, in the first embodiment, the
<제2 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치에 대한 설명><Description of the second electronic component transfer device according to the second embodiment>
제2 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치(600')는 수평 상태에 있는 전자부품(ED)을 흡착 파지한 후, 파지한 전자부품(ED)을 적재위치(LP)에 있는 하판(JB)으로 이동 적재시킨다. 이를 위해 제2 전자부품 이송장치(600')는 도10의 개략적인 사시도에서 참조되는 바와 같이 2개의 픽커(611', 612'), 제1 수평이동기(620'), 제2 수평이동기(630'), 이동프레임(640'), 수직이동기(650'), 설치판(660'), 3개의 카메라(671', 672', 673') 및 광원(681 내지 686)을 포함한다.The second electronic component conveying device 600' according to the second embodiment sucks and grips the electronic component ED in a horizontal state, and then places the gripped electronic component ED on the lower plate JB at the loading position LP. ) To move and load. To this end, the second electronic component transfer device 600' includes two pickers 611' and 612', a first horizontal mover 620', and a second
위의 2개의 픽커(611', 612'), 제1 수평이동기(620'), 제2 수평이동기(630'), 이동프레임(640'), 수직이동기(650')는 제1 실시예에서의 2개의 픽커(611, 612), 제1 수평이동기(620), 제2 수평이동기(630), 이동프레임(640), 수직이동기(650)와 그 기능 및 구조가 동일하므로 설명을 생략한다.The above two pickers 611' and 612', the first horizontal mover 620', the second horizontal mover 630', the moving frame 640', and the vertical mover 650' are in the first embodiment. Since the two
설치판(660')은 이동프레임(640')에 고정 설치되며, 3개의 카메라(671', 672', 673') 및 광원(681 내지 686)이 설치된다. 이러한 설치판(660')은 이동프레임(640')에서 우측 방향으로 돌출된 사각 판 형상이며, 픽커(611', 612')가 결합되어 있는 이동프레임(640')과 함께 이동한다. 따라서 설치판(660')은 픽커(611', 612')와 함께 수평 이동하게 된다. 이로 인해 픽커(611', 612')가 제2 영역(S2) 내에 위치할 때 설치판(660')은 제3 영역(S3)으로 돌출되거나 제3 영역(S3)에 위치한다. 마찬가지로 제3 영역(S3)은 제2 지그이동장치(720)에 의해 적재위치(LP)에서 상판결합위치(TJP)로 이동된 하판(JB)이 위치하는 영역으로서 상판결합위치(TJP)가 속해 있는 영역이다. 따라서 설치판(660')이 제3 영역(S3)위치하면, 설치판(660')에 설치된 카메라(671', 672', 673') 및 광원(681 내지 686)도 제3 영역(S3)에 위치하게 됨으로써, 카메라(671', 672', 673')에 의해 제3 영역(S3)에 속한 상판결합위치(TJP)위치에 놓인 하판(JB)의 평면을 촬영할 수 있게 된다. The mounting plate 660' is fixedly installed on the moving frame 640', and three cameras 671', 672', 673' and
카메라(671', 672', 673')는 상판결합위치(TJP)에 놓인 하판(JB)의 평면을 촬영하기 위해 마련되며, 광원(681 내지 686)은 카메라(671', 672', 673')의 촬영에 필요한 빛을 하방으로 조사하기 위해 마련된다.Cameras 671', 672', 673' are provided to photograph the plane of the lower plate JB placed in the upper plate coupling position TJP, and the
본 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치(600')의 작동은 실질적으로 제1 실시예에 따른 제2 전자부품 이송장치(600)와 동일하므로 설명을 생략한다.Since the operation of the second electronic
위의 실시예들에서는 제1 영역(S1)과 제3 영역(S3) 사이에 제2 영역(S2)이 위치하는 것을 예로 들고 있다. 그러나 실시하기에 따라서는 제3 영역이 제2 영역을 사이에 두고 제1 영역과 별도로 나뉘지 않고, 도11에서와 같이 제1 영역(S1)과 제3 영역(S3)이 동일할 수 있다. 이러한 경우 전자부품을 파지하기 위한 제1 영역(S1)은 카메라에 의해 촬영되는 제3 영역(S3)이 된다. 그리고 제1 영역(S1)이면서 제3 영역(S3)의 일 측에 별도의 제2 영역(S2)이 위치한다. 즉, 본 발명은 전자부품의 파지 전에 적절한 파지를 위해 파지 대상인 전자부품의 자세가 적절한지를 미리 확인하기 위해서도 얼마든지 사용될 수 있는 것이다. In the above embodiments, the second region S2 is positioned between the first region S1 and the third region S3 as an example. However, depending on implementation, the third region is not separated from the first region with the second region interposed therebetween, and the first region S1 and the third region S3 may be the same as in FIG. 11. In this case, the first area S1 for gripping the electronic component becomes a third area S3 that is photographed by the camera. In addition, a separate second area S2 is positioned on one side of the first area S1 and the third area S3. That is, the present invention can be used as many times as possible to confirm in advance whether the posture of the electronic component to be gripped is appropriate for proper gripping before gripping the electronic component.
물론, 위의 실시예들에서는 본 발명에 따른 전자부품 이송장치가 전자부품 언로딩장비에 적용된 예로 설명하였지만, 본 발명에 따른 전자부품 이송장치는 테스트핸들러와 같이 전자부품의 이동 작업이 요구되는 다양한 장비들에 모두 적용될 수 있을 것이다.Of course, in the above embodiments, the electronic component transfer device according to the present invention has been described as an example in which the electronic component unloading device is applied, but the electronic component transfer device according to the present invention has various types of movement of electronic components such as a test handler. It could be applied to all equipment.
따라서 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 일 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.Therefore, a specific description of the present invention has been made by an embodiment with reference to the accompanying drawings, but the above-described embodiment is only described with reference to a preferred example of the present invention, so that the present invention is limited to the above embodiment. It should not be understood, and the scope of the present invention should be understood as the following claims and equivalent concepts.
600 : 제2 전자부품 이송장치
611, 612, 611', 612 : 픽커
620, 620' : 제1 수평이동기
630, 630' : 제2 수평이동기
640, 640' : 이동프레임
650, 650' : 수직이동기
660 : 반사판
660' : 설치판
671, 672, 671', 672', 673' : 카메라
681 내지 686 : 광원600: second electronic component transfer device
611, 612, 611', 612: Picker
620, 620': first horizontal mover
630, 630': 2nd horizontal mover
640, 640': moving frame
650, 650': vertical mover
660: reflector 660': installation plate
671, 672, 671', 672', 673': Camera
681 to 686: light source
Claims (3)
상기 판에 안착되어 있는 전자부품의 안착상태를 확인하기 위한 적어도 하나의 카메라;
상기 카메라를 설치할 수 있는 설치판;
상기 설치판을 수평 방향으로 이동시키는 수평이동기;
상기 설치판에 설치되며, 상기 카메라의 촬영에 필요한 빛을 하방으로 조사하는 광원; 을 포함하는
전자부품의 안착상태를 확인하기 위한 장치.A plate on which electronic components can be mounted;
At least one camera for checking the seating state of the electronic component seated on the plate;
An installation plate on which the camera can be installed;
A horizontal mover for moving the installation plate in a horizontal direction;
A light source installed on the installation plate and irradiating downwardly the light required for photographing by the camera; Containing
A device to check the seating state of electronic parts.
상기 카메라는 상기 광원과 광원 사이에 위치하도록 설치되며,
상기 카메라 및 광원을 상승시키거나 하강시키는 수직이동기; 를 더 포함하는
전자부품의 안착상태를 확인하기 위한 장치.The method of claim 1,
The camera is installed to be located between the light source and the light source,
A vertical mover that raises or lowers the camera and the light source; Further comprising
A device to check the seating state of electronic parts.
상기 카메라 및 광원과 함께 수평 이동될 수 있도록 상기 설치판에 일체로 구비되며, 상기 판의 이송을 위해 상기 판을 파지하거나 파지를 해제할 수 있는 이송수단; 을 더 포함하는
전자부품 안착상태를 확인하기 위한 장치.
The method of claim 1,
A transfer means integrally provided on the installation plate so as to be horizontally moved together with the camera and the light source, and capable of holding the plate or releasing the holding plate to transfer the plate; Containing more
A device to check the seating status of electronic components.
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2021
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