KR20190042179A - 커버 글라스 분석 장치 - Google Patents
커버 글라스 분석 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20190042179A KR20190042179A KR1020170133797A KR20170133797A KR20190042179A KR 20190042179 A KR20190042179 A KR 20190042179A KR 1020170133797 A KR1020170133797 A KR 1020170133797A KR 20170133797 A KR20170133797 A KR 20170133797A KR 20190042179 A KR20190042179 A KR 20190042179A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- cover glass
- unit
- image
- illuminations
- different angles
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 title claims abstract description 76
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010309 melting process Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
-
- H04N5/225—
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
Landscapes
- Analytical Chemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
본 발명은 라인 스캔(LINE SCAN) 동작 시에 복수의 조명을 순차적으로 동작시켜 카메라의 이동 거리 및/또는 횟수를 감소시킬 수 있는 커버 글라스 분석 장치에 관한 것이다.
본 발명인 커버 글라스 분석 장치는 분석 대상인 커버 글라스의 일단과 커버 글라스의 타단 사이의 영역이 촬상부에 의해 촬영되도록 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동(회전도 포함됨)시키는 이송부와, 커버 글라스에 기준 각도를 유지하면서 커버 글라스의 이미지를 획득하는 촬상부와, 커버 글라스에 대하여 서로 다른 위치에서 서로 다른 각도로 광을 조사하는 제 1 내지 제 3 조명과, 이송부를 제어하여 이송부에 안착되는 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동시키며 제 1 내지 제 3 조명을 순차적으로 동작 제어하여 제 1 내지 제 3 조명으로부터의 광에 의한 커버 글라스의 이미지를 촬상부로부터 획득하는 제어부로 구성된다.
본 발명인 커버 글라스 분석 장치는 분석 대상인 커버 글라스의 일단과 커버 글라스의 타단 사이의 영역이 촬상부에 의해 촬영되도록 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동(회전도 포함됨)시키는 이송부와, 커버 글라스에 기준 각도를 유지하면서 커버 글라스의 이미지를 획득하는 촬상부와, 커버 글라스에 대하여 서로 다른 위치에서 서로 다른 각도로 광을 조사하는 제 1 내지 제 3 조명과, 이송부를 제어하여 이송부에 안착되는 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동시키며 제 1 내지 제 3 조명을 순차적으로 동작 제어하여 제 1 내지 제 3 조명으로부터의 광에 의한 커버 글라스의 이미지를 촬상부로부터 획득하는 제어부로 구성된다.
Description
본 발명은 커버 글라스 분석 장치에 관한 것으로서, 특히 라인 스캔(LINE SCAN) 동작 시에 복수의 조명을 순차적으로 동작시켜 카메라의 이동 거리 및/또는 횟수를 감소시킬 수 있는 커버 글라스 분석 장치에 관한 것이다.
LCD 디스플레이, OLED 디스플레이 등의 디스플레이 장치에는 해당 디스플레이를 보호하기 위한 커버 글라스가 장착된다. 일반적으로, 이러한 커버 글라스는 용융 제조공정을 거쳐 완성되는데 이렇게 완성된 커버 글라스는 검사 공정에 보내져서 미세한 상처나 이물 등의 결함의 유무에 대한 검사를 거치게 된다. 최근 소형의 디스플레이가 필수적으로 장착되는 스마트폰이나 태블릿 피씨 등의 휴대용 디지털 기기에 대한 관심이 급증하였는데, 이러한 휴대용 디지털 기기의 폭발적인 보급으로 인하여 커버 글라스 검사 공정 및 장치에 대한 관심도 더욱 증가하고 있다. 특히 휴대용 디지털 기기의 경우 일반적인 사용 태양에 있어서, 사용자의 육안과 기기와의 거리가 매우 근접하게 되므로 커버 글라스의 결함 여부가 해당 기기의 품질에 직접적인 영향을 미치게 되므로 그 분석 공정은 더욱 중요하게 되었다.
이러한 커버 글라스의 분석 공정에 사용되는 장치는, 이송용 롤러 상에 수평으로 커버 글라스를 적재하고, 이송용 롤러로 커버 글라스를 수평으로 이동시키면서 커버 글라스에 광을 조사하고, 그로부터 반사, 회절, 산란되어서 나오는 광을 이미지 센서, 즉 카메라로 감지하여 컴퓨터로 분석하는 것으로 커버 글라스의 결함을 자동으로 검출하는 방법이 이용되고 있다. 예를 들어, 미국 등록특허 제7551274호 등의 종래 기술에서는 이와 같은 방식의 분석 공정 및 장치가 개시되고 있다.
종래 기술에 따른 분석 장치는 커버 글라스에 서로 다른 각도로 광을 조사하는 조명을 구비하여, 하나의 조명만이 광을 조사하는 중에 하나의 카메라를 이용하여 커버 글라스의 일단에서 타단으로의 라인 스캔을 수행하고, 다시 다른 조명만이 광을 조사하여 커버 글라스의 타단에서 일단으로의 라인 스캔을 수행하는 방식으로 진행하였다. 이러한 복수의 조명들과 커버 글라스의 이동 제어 과정에서, 조명의 개수만큼 커버 글라스의 이동 거리 및/또는 이동 횟수가 증가하여 전체적인 분석 시간이 증가하는 문제점이 있다.
본 발명은 커버 글라스의 이동 중에 복수의 조명들을 순차적으로 동작시켜 커버 글라스의 일단에서 타단으로의 1회의 이동으로 복수의 조명들에 대한 라인 스캔된 이미지를 획득할 수 있는 커버 글라스 분석 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명인 커버 글라스 분석 장치는 분석 대상인 커버 글라스의 일단과 커버 글라스의 타단 사이의 영역이 촬상부에 의해 촬영되도록 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동(회전도 포함됨)시키는 이송부와, 커버 글라스에 기준 각도를 유지하면서 커버 글라스의 이미지를 획득하는 촬상부와, 커버 글라스에 대하여 서로 다른 위치에서 서로 다른 각도로 광을 조사하는 제 1 내지 제 3 조명과, 이송부를 제어하여 이송부에 안착되는 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동시키며 제 1 내지 제 3 조명을 순차적으로 동작 제어하여 제 1 내지 제 3 조명으로부터의 광에 의한 커버 글라스의 이미지를 촬상부로부터 획득하는 제어부로 구성된다.
본 발명은 커버 글라스의 이동 중에 복수의 조명들을 순차적으로 동작시켜 커버 글라스의 일단에서 타단으로의 1회의 이동으로 복수의 조명들에 대한 라인 스캔된 이미지를 획득함으로써, 커버 글라스의 이동 거리 및/또는 이동 횟수를 감소시키며, 하나의 촬상 장치(예를 들면, 카메라)만을 이용하여 복수의 조명들에 대한 라인 스캔을 수행할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명인 커버 글라스 분석 장치의 제어 구성도이다.
도 2a 내지 2c는 도 1의 커버 글라스 분석 장치의 개략 동작도들이다.
도 2a 내지 2c는 도 1의 커버 글라스 분석 장치의 개략 동작도들이다.
이하에서, 본 발명은 실시예와 도면들을 통하여 상세하게 설명된다.
도 1은 본 발명인 커버 글라스 분석 장치의 제어 구성도이다.
본 발명인 커버 글라스 분석 장치는 사용자로부터의 입력(예를 들면, 라인 스캔 시작/종료, 전원의 온/오프 등)을 획득하는 입력부(1)와, 동작 상태(라인 스캔 수행 중 등)와 분석 정보(예를 들면, 이물질의 위치/크기/개수 등)을 표시하는 표시부(3)와, 분석 대상인 커버 글라스의 일단과 커버 글라스의 타단 사이의 영역이 촬상부(7)에 의해 촬영되도록 커버 글라스 및/또는 촬상부(7)를 이동(회전도 포함됨)시키는 이송부(5)와, 커버 글라스에 기준 각도를 유지하면서 커버 글라스의 이미지를 획득하는 촬상부(7)와, 커버 글라스에 대하여 서로 다른 위치에서 서로 다른 각도로 광을 조사하는 제 1 내지 제 3 조명(9a 내지 9c)과, 상술된 구성요소들을 제어하며, 이송부(5)를 제어하여 이송부(5)에 안착되는 커버 글라스 및/또는 촬상부(7)를 이동시키며 제 1 내지 제 3 조명(9a 내지 9c)를 순차적으로 동작 제어하여 제 1 내지 제 3 조명(9a 내지 9c)으로부터의 광에 의한 커버 글라스의 이미지를 촬상부(7)로부터 획득하는 과정을 수행하며, 전체 커버 글라스의 외면 또는 내부에 이물질이 존재하는지를 판단하는 제어부(20)로 구성된다. 다만, 커버 글라스 분석 장치의 각 구성요소들에 전원을 공급하는 전원부(미도시), 입력부(1), 표시부(3), 이송부(5) 및 촬상부(7) 등은 본 발명이 속하는 기술 분야에 통상의 지식을 가진 사람들에게는 당연히 널리 알려진 기술에 불과하여, 상세한 설명이 생략된다.
제 1 내지 제 3 조명(9a 내지 9c)는 커버 글라스의 외측 및 내부로의 광 조사를 수행하기 위한 것으로, 예를 들면 커버 글라스에 대하여 서로 다른 위치에서 서로 다른 각도로 광을 조사한다. 제 1 조명(9a)은 커버 글라스의 표면 또는 커버 글라스의 이동 방향 또는 촬상부(7)의 촬영 영역의 이동 방향에 평행한 방향에 수직하면서 촬상부(7)와 같은 위치(예를 들면, 커버 글라스의 상측)에 위치된다. 제 2 조명(9b)은 커버 글라스의 표면에 일정 각도(예를 들면, 90°미만)를 유지하면서 촬상부(7)와 같은 위치(예를 들면, 커버 글라스의 상측)에 위치된다. 제 3 조명(9c)은 커버 글라스의 표면 또는 커버 글라스의 이동 방향 또는 촬상부(7)의 촬영 영역의 이동 방향에 평행한 방향에 수직하면서 커버 글라스에 대하여 촬상부(7)와 대칭적인 위치(예를 들면, 커버 글라스의 하측)에 위치된다.
제어부(20)는 제 1 내지 제 3 조명(9a 내지 9c) 중에서 하나의 조명만을 순차적으로 동작시킴으로써 서로 다른 각도와 위치에서의 커버 글라스의 이미지를 촬상부(7)로부터 획득한다. 또한, 제어부(20)는 획득된 이미지를 처리하여 커버 글라스에 블랍(blob) 등을 포함하는 결함이 있는지를 판단한다.
도 2a 내지 2c는 도 1의 커버 글라스 분석 장치의 개략 동작도들이다.
도 2a 내지 2c에서 제어부(20)는 이송부(5)를 제어하여 커버 글라스(G)를 직선 이송시키거나 촬상부(7)를 회전 이동시킴으로써 촬상부(7)가 커버 글라스(G)의 제1위치에서 제2위치로의 이미지(원본 이미지)를 획득하여 저장한다. 도 2a 내지 2c에서 촬상부(7)는 제1위치와 제2위치 간에 라인스캔을 수행하며, 커버 글라스(G)는 상측면에 블랍(blob)(B1)과, 내부에 블랍(B2)을 포함하고 있다.
도 2a에서 제어부(20)는 촬상부(7)를 동작시키면서 제1조명(9a)만을 동작시키고 제2 및 제3조명(9b, 9c)을 동작 중지시킨다. 제어부(20)는 기준 시간 이후에, 도 2b와 같이, 제2조명(9b)만을 동작시키고 제1 및 제3조명(9a, 9c)을 동작 중지시킨다. 이어서, 제어부(20)는 기준 시간 이후에, 도 2b와 같이, 제3조명(9c)만을 동작시키고, 제1 및 제2 조명(9a, 9b)을 동작 중지시킨다. 이러한 순서로 제어부(20)는 이송부(5)를 제어하여 라인 스캔을 수행하면서, 촬상부(7)의 동작 중에 제1 내지 제3조명(9a 내지 9c)을 순처적으로 1개씩만 동작시켜서 복수의 각도에서의 커버 글라스(G)의 이미지를 획득할 수 있다.
이후에, 제어부(20)는 커버 글라스(G)나 촬상부(7)를 평행 이동시켜 다른 라인에 대한 스캔을 제2위치에서 제1 위치로 진행하여 이미지를 획득하여 저장한다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형의 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.
1: 입력부
3: 표시부
5: 이송부 7: 촬상부
9a, 9b, 9c: 제 1 내지 제3조명 20: 제어부
5: 이송부 7: 촬상부
9a, 9b, 9c: 제 1 내지 제3조명 20: 제어부
Claims (1)
- 분석 대상인 커버 글라스의 일단과 커버 글라스의 타단 사이의 영역이 촬상부에 의해 촬영되도록 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동(회전도 포함됨)시키는 이송부와;
커버 글라스에 기준 각도를 유지하면서 커버 글라스의 이미지를 획득하는 촬상부와;
커버 글라스에 대하여 서로 다른 위치에서 서로 다른 각도로 광을 조사하는 제 1 내지 제 3 조명과, 이송부를 제어하여 이송부에 안착되는 커버 글라스 및/또는 촬상부를 이동시키며 제 1 내지 제 3 조명을 순차적으로 동작 제어하여 제 1 내지 제 3 조명으로부터의 광에 의한 커버 글라스의 이미지를 촬상부로부터 획득하는 제어부로 구성되는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020170133797A KR20190042179A (ko) | 2017-10-16 | 2017-10-16 | 커버 글라스 분석 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020170133797A KR20190042179A (ko) | 2017-10-16 | 2017-10-16 | 커버 글라스 분석 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20190042179A true KR20190042179A (ko) | 2019-04-24 |
Family
ID=66282109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020170133797A Withdrawn KR20190042179A (ko) | 2017-10-16 | 2017-10-16 | 커버 글라스 분석 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20190042179A (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110220915A (zh) * | 2019-06-21 | 2019-09-10 | 银河水滴科技（北京）有限公司 | 玻璃检测机 |
| CN110470676A (zh) * | 2019-09-11 | 2019-11-19 | 江苏维普光电科技有限公司 | 平板玻璃检测机 |
-
2017
- 2017-10-16 KR KR1020170133797A patent/KR20190042179A/ko not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110220915A (zh) * | 2019-06-21 | 2019-09-10 | 银河水滴科技（北京）有限公司 | 玻璃检测机 |
| CN110220915B (zh) * | 2019-06-21 | 2025-01-24 | 银河水滴科技（北京）有限公司 | 玻璃检测机 |
| CN110470676A (zh) * | 2019-09-11 | 2019-11-19 | 江苏维普光电科技有限公司 | 平板玻璃检测机 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6169600B1 (en) | Cylindrical object surface inspection system | |
| US6061086A (en) | Apparatus and method for automated visual inspection of objects | |
| CN103901037B (zh) | 检测系统 | |
| US20170053394A1 (en) | Inspection apparatus, inspection method, and article manufacturing method | |
| TW201245701A (en) | Method for inspecting minute defect of translucent board-like body, and apparatus for inspecting minute defect of translucent board-like body | |
| US20200378899A1 (en) | Glass processing apparatus and methods | |
| JP2008275618A5 (ko) | ||
| KR20160121716A (ko) | 하이브리드 조명 기반 표면 검사 장치 | |
| CN208833689U (zh) | 检测设备 | |
| JP2020041800A (ja) | 外観検査装置及び検査システム | |
| KR20190042179A (ko) | 커버 글라스 분석 장치 | |
| TWI484165B (zh) | 物體表面檢測系統 | |
| JP4687248B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| CN107110790A (zh) | 光学检测系统 | |
| KR100825968B1 (ko) | 평판 디스플레이의 가장자리 검사 장치 | |
| CN211403010U (zh) | 显示面板异物定位装置 | |
| JP6801860B2 (ja) | 被検査物の外観検査装置 | |
| JP2007334423A (ja) | 自動撮影装置 | |
| JP2007235490A (ja) | 自動撮影装置 | |
| US20100295939A1 (en) | Table gauge | |
| KR101485425B1 (ko) | 커버 글라스 분석 장치 | |
| JP2009204563A (ja) | リング状板部材の外観検査装置 | |
| KR20180020046A (ko) | 다각도 커버 글라스 분석 장치 | |
| JP6937647B2 (ja) | 光学表示パネルの損傷検査方法 | |
| TWM457889U (zh) | 面板瑕疵檢測之裝置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20171016 |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| PC1203 | Withdrawal of no request for examination |