KR20160011271A - 전자부품 테스트 장비 - Google Patents
전자부품 테스트 장비 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20160011271A KR20160011271A KR1020140091798A KR20140091798A KR20160011271A KR 20160011271 A KR20160011271 A KR 20160011271A KR 1020140091798 A KR1020140091798 A KR 1020140091798A KR 20140091798 A KR20140091798 A KR 20140091798A KR 20160011271 A KR20160011271 A KR 20160011271A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- tray
- moving
- loading
- stacking tray
- electronic component
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract 2
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67271—Sorting devices
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
본 발명에 따른 반도체소자 전자부품 테스트 장비는, 전단에 결합된 장비 측으로부터 오는 적재트레이를 반입위치까지 이동시키는 반입이동장치; 상기 반입이동장치에 의해 반입된 적재트레이에 적재되어 있는 전자부품들을 테스트하기 위한 테스터; 상기 테스터에 의해 테스트가 완료된 전자부품들이 적재되어 있는 적재트레이를 후단에 결합된 장비 측으로 반출시키기 위한 반출이동장치; 및 상기 반입이동장치에 의해 반입위치에 있는 적재트레이를 이동시켜 적재트레이에 적재된 전자부품을 상기 테스터에 전기적으로 연결시키고, 상기 테스터에 의해 테스트가 완료된 전자부품이 적재된 적재트레이를 상기 반출이동장치에 의해 반출될 반출위치로 이동시키는 이동픽커; 를 포함한다.
본 발명에 따르면 전단에 결합된 장비와 후단에 결합된 장비 사이에서 적재트레이를 중계하며, 전단에 결합된 장비에서 생산 공정이 완료된 전자부품을 테스트한 후 후단에 결합된 장비로 보낼 수 있는 신규의 장비가 제시된다.
Description
도6은 본 발명에 따른 전자부품 테스트 장비에 대한 개념적인 평면도이다.
도7은 도6의 전자부품 테스트 장비에 적용된 컨베이어에 대한 개략적인 구성도이다.
도8 및 도9는 도6의 전자부품 테스트 장비에 적용된 트레이정지장치를 설명하기 위한 참조도이다.
도10은 도6의 전자부품 테스트 장비에 적용된 테스터에 대한 개략도이다.
도11은 도6의 전자부품 테스트 장비에 적용된 이동픽커에 대한 개략도이다.
도12는 도6의 전자부품 테스트 장비의 전체적인 작동과 적재트레이의 이동을 설명하기 위한 참조도이다.
611 : 제1 중계이동장치 612 : 제2 중계이동장치
620 : 반입이동장치
631 내지 634 : 테스터
TA : 테스트부분 SB : 소켓보드
640 : 반출이동장치 650 : 상태확인장치
661 내지 663 : 트레이식별장치
670 : 이동픽커
671 : 연결확인기
681 내지 686 : 트레이정지장치
Claims (9)
- 전단에 결합된 장비 측으로부터 오는 적재트레이를 반입위치까지 이동시키는 반입이동장치;
상기 반입이동장치에 의해 반입된 적재트레이에 적재되어 있는 전자부품들을 테스트하기 위한 테스터;
상기 테스터에 의해 테스트가 완료된 전자부품들이 적재되어 있는 적재트레이를 후단에 결합된 장비 측으로 반출시키기 위한 반출이동장치; 및
상기 반입이동장치에 의해 반입위치에 있는 적재트레이를 이동시켜 적재트레이에 적재된 전자부품을 상기 테스터에 전기적으로 연결시키고, 상기 테스터에 의해 테스트가 완료된 전자부품이 적재된 적재트레이를 상기 반출이동장치에 의해 반출될 반출위치로 이동시키는 이동픽커; 를 포함하는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제1항에 있어서,
상기 테스터는,
전기적으로 연결된 전자부품의 전기적인 특성을 테스트하는 테스트부분; 및
상기 테스트부분에 전자부품을 전기적으로 연결시키는 소켓들을 구비한 소켓보드; 를 포함하고,
상기 소켓보드는 상기 테스트부분으로부터 탈착 가능하게 구비되는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제1항에 있어서,
상기 테스터는 적재트레이의 이동 경로 상에서 상기 반입위치와 상기 반출위치 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제1항에 있어서,
상기 반입이동장치를 통해 반입되어 오는 적재트레이에 적재된 전자부품의 적재상태를 확인하기 위한 상태확인장치; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제1항에 있어서,
적재트레이의 이동 경로 상에서 이동하는 적재트레이를 식별하기 위한 적어도 하나의 트레이식별장치; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제1항에 있어서,
상기 테스터에 전기적으로 연결된 전자부품들과 상기 테스터의 전기적인 연결상태를 확인하기 위한 연결확인기; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제6항에 있어서,
상기 연결확인기는 상기 이동픽커에 결합된 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제1항에 있어서,
적재트레이의 이동 경로 상에서 이동하는 적재트레이를 정지시킬 수 있는 트레이정지장치; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비. - 제1항에 있어서,
후단에 결합된 장비 측으로부터 오는 적재트레이를 전단에 결합된 장비 측으로 보내기 위한 중계이동장치; 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
전자부품 테스트 장비.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140091798A KR102145306B1 (ko) | 2014-07-21 | 2014-07-21 | 전자부품 테스트 장비 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140091798A KR102145306B1 (ko) | 2014-07-21 | 2014-07-21 | 전자부품 테스트 장비 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160011271A true KR20160011271A (ko) | 2016-02-01 |
KR102145306B1 KR102145306B1 (ko) | 2020-08-19 |
Family
ID=55353849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140091798A Active KR102145306B1 (ko) | 2014-07-21 | 2014-07-21 | 전자부품 테스트 장비 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102145306B1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180028882A (ko) * | 2016-09-09 | 2018-03-19 | (주)테크윙 | 전자부품 테스트용 핸들러 |
CN110376993A (zh) * | 2019-08-01 | 2019-10-25 | 中山市博测达电子科技有限公司 | 在线电动牙刷半成品装配测试设备 |
KR20220118373A (ko) * | 2017-11-03 | 2022-08-25 | (주)테크윙 | 전자부품의 테스트를 지원하는 핸들러용 픽킹장치 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100194326B1 (ko) * | 1996-05-27 | 1999-06-15 | 정문술 | 수평식핸들러의 테스트트레이 이송방법 |
JP2000329809A (ja) * | 1999-05-17 | 2000-11-30 | Advantest Corp | 電子部品基板の試験装置および試験方法 |
KR20010098584A (ko) | 2000-04-14 | 2001-11-08 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 어플리케이션 특정 이벤트 기반의 반도체 메모리 테스트시스템 |
KR100910119B1 (ko) * | 2008-02-05 | 2009-08-03 | 에버테크노 주식회사 | 테스트 핸들러 |
KR20090128267A (ko) * | 2008-06-10 | 2009-12-15 | 미래산업 주식회사 | 전자부품 테스트 시스템 |
KR20090133141A (ko) * | 2007-05-09 | 2009-12-31 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험장치, 전자부품 시험 시스템 및 전자부품의 시험방법 |
-
2014
- 2014-07-21 KR KR1020140091798A patent/KR102145306B1/ko active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100194326B1 (ko) * | 1996-05-27 | 1999-06-15 | 정문술 | 수평식핸들러의 테스트트레이 이송방법 |
JP2000329809A (ja) * | 1999-05-17 | 2000-11-30 | Advantest Corp | 電子部品基板の試験装置および試験方法 |
KR20010098584A (ko) | 2000-04-14 | 2001-11-08 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 어플리케이션 특정 이벤트 기반의 반도체 메모리 테스트시스템 |
KR20090133141A (ko) * | 2007-05-09 | 2009-12-31 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 전자부품 시험장치, 전자부품 시험 시스템 및 전자부품의 시험방법 |
KR100910119B1 (ko) * | 2008-02-05 | 2009-08-03 | 에버테크노 주식회사 | 테스트 핸들러 |
KR20090128267A (ko) * | 2008-06-10 | 2009-12-15 | 미래산업 주식회사 | 전자부품 테스트 시스템 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180028882A (ko) * | 2016-09-09 | 2018-03-19 | (주)테크윙 | 전자부품 테스트용 핸들러 |
KR20220118373A (ko) * | 2017-11-03 | 2022-08-25 | (주)테크윙 | 전자부품의 테스트를 지원하는 핸들러용 픽킹장치 |
CN110376993A (zh) * | 2019-08-01 | 2019-10-25 | 中山市博测达电子科技有限公司 | 在线电动牙刷半成品装配测试设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102145306B1 (ko) | 2020-08-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20170103496A (ko) | 전자부품 공급용 트레이 공급대차 및 전자부품을 처리하는 핸들러 | |
KR101811662B1 (ko) | 반도체소자 테스트용 핸들러 및 반도체소자 테스트용 핸들러에서의 테스트 지원 방법 | |
KR102483395B1 (ko) | 전자부품 테스트용 핸들러 및 그 작동 방법 | |
KR20160011271A (ko) | 전자부품 테스트 장비 | |
CN202548248U (zh) | 机械手式在线测试设备 | |
KR102335827B1 (ko) | 프로브 카드 로딩 장치, 그를 포함하는 프로브 카드 관리 시스템 | |
CN109205222A (zh) | 一种物料传输装置及方法 | |
TW201431764A (zh) | 模組積體電路分選機及模組積體電路分選機的上載方法 | |
KR102214037B1 (ko) | 전자부품 로딩장비 | |
KR102252639B1 (ko) | 전자부품 언로딩장비 | |
CN108792563B (zh) | 一种集成电路板自动测试设备及其测试方法 | |
KR102249574B1 (ko) | 전자부품 언로딩장비 | |
KR102338464B1 (ko) | 운반물 반송 유닛, 그를 포함하는 운반물 관리 장치 | |
CN105588524A (zh) | 检测装置 | |
CN214669445U (zh) | 电路板检测系统 | |
KR102156154B1 (ko) | 트레이 이송장치 및 전자부품 테스트 핸들러 | |
TWI536030B (zh) | Electronic component testing classifier | |
TW201902799A (zh) | 電子元件載具裝置及其應用之作業分類設備 | |
KR20160034148A (ko) | 반도체소자 테스트용 핸들러 | |
KR20200105637A (ko) | 연결장치 | |
CN109911583A (zh) | 上料机构及其自动测试机 | |
KR102670140B1 (ko) | 전자부품 핸들러용 캐리어프레임 | |
KR102231407B1 (ko) | 전자부품 분류 장비 | |
KR20200057201A (ko) | 전자부품 테스트용 핸들러 | |
TWI529400B (zh) | 可校正取放高度之電子元件測試分類機 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20140721 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20190124 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20140721 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20191125 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20200521 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20200811 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20200812 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230801 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240807 Start annual number: 5 End annual number: 5 |