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KR20150024482A - A resist stripper composition - Google Patents

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KR20150024482A
KR20150024482A KR20130101154A KR20130101154A KR20150024482A KR 20150024482 A KR20150024482 A KR 20150024482A KR 20130101154 A KR20130101154 A KR 20130101154A KR 20130101154 A KR20130101154 A KR 20130101154A KR 20150024482 A KR20150024482 A KR 20150024482A
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ether
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resist
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고경준
김성식
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동우 화인켐 주식회사
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Abstract

본 발명은 (a) 하기 화학식 1로 표시되는 1차 아미노알코올: 및 (b) 극성 유기용제를 포함하는 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물에 관한 것이다:
(화학식 1)

Figure pat00005

상기 화학식 1에서, R1 및 R2는 C1~C5의 알킬기이다.The present invention relates to a resist stripping liquid composition comprising (a) a primary amino alcohol represented by the following general formula (1) and (b) a polar organic solvent:
(Formula 1)
Figure pat00005

In Formula 1, R 1 and R 2 are C1-C5 alkyl groups.

Description

레지스트 박리액 조성물{A RESIST STRIPPER COMPOSITION}Resist stripper composition {A RESIST STRIPPER COMPOSITION}

본 발명은 플랫 패널 디스플레이 기판의 제조 공정에 있어서, 별도의 부식방지제 없이도 구리 및 알루미늄 금속을 포함하는 막질에 대한 부식을 최소화 할 뿐 아니라, 고형화된 레지스트의 용해도를 극대화 시키는 레지스트 박리액 조성물에 관한 것이다.The present invention relates to a resist stripper composition which maximizes the solubility of a solidified resist as well as minimizing corrosion of a film quality including copper and aluminum metal in a manufacturing process of a flat panel display substrate without a separate corrosion inhibitor .

최근 플랫패널디스플레이의 고해상도 구현 요구가 증가함에 따라 단위면적당의 화소수를 증가시키기 위한 노력이 계속되고 있다. 이러한 추세에 따라 배선 폭의 감소가 요구되고 있으며, 그에 대응하기 위해서 건식 식각 공정이 도입되는 등 공정 조건도 갈수록 가혹해지고 있다. 또한, 평판표시장치의 대형화로 인해 배선에서의 신호 속도 증가도 요구되고 있으며, 그에 따라 알루미늄이나 구리 등의 비저항이 낮은 배선재료가 실용화되고 있다. 이에 발맞추어 레지스트 제거 공정인 박리공정에 사용되는 박리액에 대한 요구 성능도 높아지고 있다. 구체적으로 금속배선에 대한 상당한 수준의 박리력을 보유하면서도, 알루미늄뿐만 아니라 구리에 대한 부식억제력도 요구되고 있다. 특히, 가격 경쟁력 확보를 위해, 별도의 부식방지제 없이도, 구리나 알루미늄에 대한 부식을 최소화하는 박리액의 개발이 요청되는 실정이다. 또한, 기판의 처리매수가 향상되어, 경제성이 우수한 박리액을 제공하기 위해서는 고형화된 레지스트의 용해도를 극대화 시키는 박리액의 개발 역시 필요하다. In recent years, efforts have been made to increase the number of pixels per unit area as the demand for high resolution implementation of flat panel displays increases. In accordance with this trend, reduction of the wiring width is required, and in order to cope with this, the dry etching process has been introduced, and the process conditions have become increasingly severe. In addition, due to the enlargement of the flat panel display device, an increase in the signal speed in the wiring is also required, and a wiring material having a low resistivity such as aluminum or copper has been put to practical use. Accordingly, the required performance of the stripping solution used in the stripping process, which is a resist stripping process, is increasing. Specifically, there is a demand for corrosion inhibiting ability for copper as well as aluminum, while maintaining a considerable level of peeling force for metal wiring. Particularly, in order to secure price competitiveness, development of a peeling liquid which minimizes corrosion of copper and aluminum is demanded without a separate corrosion inhibitor. In addition, in order to improve the number of processed substrates and provide a peeling solution having excellent economical efficiency, it is also necessary to develop a peeling solution that maximizes the solubility of the solidified resist.

한편, 대한민국 공개특허 제 2006-0117666호에는 (a) 수용성 유기아민 화합물, (b) 양자성 알킬렌글리콜 모노알킬에테르 화합물, (c) 극성 비양자성 용매 및 (d) 부식방지제를 포함하는 레지스트용 스트리퍼 조성물이 개시되어 있다. 그러나 상기 발명의 조성물은, 부식방지제가 포함되지 않는 경우 구라나 알루미늄에 대한 부식성이 지나치게 클 뿐 아니라, 레지스트의 용해도가 저조한 단점이 있다.Korean Patent Laid-Open No. 2006-0117666 discloses a resist composition comprising (a) a water-soluble organic amine compound, (b) a quantitative alkylene glycol monoalkyl ether compound, (c) a polar aprotic solvent, and (d) Stripper compositions are disclosed. However, when the corrosion inhibitor is not included, the composition of the present invention has a disadvantage in that it is not only extremely corrosive to copper and aluminum, but also solubility of the resist is low.

이에, 위와 같은 종래기술의 문제점을 해결하는 레지스트 박리액 조성물의 개발이 필요하다.Accordingly, there is a need to develop a resist stripping liquid composition that solves the above problems of the prior art.

대한민국 공개특허 제 2006-0117666호Korea Patent Publication No. 2006-0117666

상술한 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 별도의 부식방지제 없이도 구리 및 알루미늄 금속을 포함하는 막질에 대한 부식을 최소화 할 뿐 아니라, 고형화된 레지스트의 용해도를 극대화 시키는 레지스트 박리액 조성물을 제공하는데 목적이 있다.In order to solve the above problems, the present invention aims to provide a resist stripper composition which not only minimizes corrosion of film quality including copper and aluminum metal but also maximizes the solubility of a solidified resist without any additional corrosion inhibitor have.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 (a) 하기 화학식 1로 표시되는 1차 아미노알코올: 및 (b) 극성 유기용제를 포함하는 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물을 제공한다:In order to achieve the above object, the present invention provides a resist stripping liquid composition comprising: (a) a primary amino alcohol represented by the following general formula (1): and (b) a polar organic solvent:

(화학식 1)(Formula 1)

Figure pat00001
Figure pat00001

상기 화학식 1에서, R1 및 R2는 C1~C5의 알킬기이다In the above formula (1), R 1 and R 2 are C1-C5 alkyl groups

또한, 본 발명은 상기 레지스트 박리액 조성물을 사용하여 플랫 패널 디스플레이 기판을 세정하는 공정을 포함하는 플랫 패널 디스플레이 기판의 제조방법을 제공한다.
In addition, the present invention provides a method of manufacturing a flat panel display substrate including a step of cleaning the flat panel display substrate using the resist stripping liquid composition.

본 발명의 레지스트 박리액 조성물은 별도의 부식방지제 없이도 구리 및 알루미늄 금속을 포함하는 막질에 대한 부식을 최소화 할 뿐 아니라, 고형화된 레지스트의 용해도를 극대화 시키는 효과를 갖는다. The resist stripper composition of the present invention has the effect of minimizing the corrosion to the film quality including copper and aluminum metal, and maximizing the solubility of the solidified resist without any additional corrosion inhibitor.

또한 본 발명의 레지스트 박리액 조성물을 사용하는 경우, 부식방지제를 별도로 추가할 필요가 없어, 전체적인 제조 공정에 소요되는 비용을 절감할 수 있다.
In addition, when the resist stripper composition of the present invention is used, it is not necessary to additionally add a corrosion inhibitor, thereby reducing the cost of the entire manufacturing process.

도 1은 실시예 3에 대한 용해력 평가 결과로 필터페이퍼에 남은 잔량의 레지스트를 디지털 카메라로 촬영한 것이다.
도 2는 비교예 2에 대한 용해력 평가 결과로 필터페이퍼에 남은 잔량의 레지스트를 디지털 카메라로 촬영한 것이다.
Fig. 1 is a photograph of a resist of the remaining amount remaining on the filter paper as a result of the dissolution test for Example 3 with a digital camera. Fig.
Fig. 2 is a photograph of a resist of the remaining amount remaining on the filter paper as a result of the dissolution test for Comparative Example 2 with a digital camera.

이하, 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

본 발명은 (a) 하기 화학식 1로 표시되는 1차 아미노알코올: 및 (b) 극성 유기용제를 포함하는 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물에 관한 것이다:The present invention relates to a resist stripping liquid composition comprising (a) a primary amino alcohol represented by the following general formula (1) and (b) a polar organic solvent:

(화학식 1)(Formula 1)

Figure pat00002
Figure pat00002

상기 화학식 1에서, R1 및 R2는 C1~C5의 알킬기이다
In the above formula (1), R 1 and R 2 are C1-C5 alkyl groups

위와 같은 구성에 의해, 본 발명의 레지스트 박리액 조성물은 별도의 부식방지제 없이도 구리 및 알루미늄 금속을 포함하는 막질에 대한 부식을 최소화 할 뿐 아니라, 고형화된 레지스트의 용해도를 극대화 시키는 효과를 나타냄을 실험적으로 확인하여 본 발명을 완성하였다.
With the above structure, the resist stripper composition of the present invention has the effect of maximizing the solubility of the solidified resist as well as minimizing the corrosion to the film quality including copper and aluminum metal without any additional corrosion inhibitor And confirmed the present invention.

본 발명의 레지스트 박리액 조성물은 상기 (c) 염기성 화합물, (d) 부식방지제 또는 이들의 혼합물을 더 포함할 수 있다.
The resist stripping solution composition of the present invention may further comprise (c) a basic compound, (d) a corrosion inhibitor, or a mixture thereof.

이하, 본 발명의 구성을 구성요소 별로 상세히 설명한다.
Hereinafter, the constitution of the present invention will be described in detail by constituent elements.

(a) 화학식 1로 표현되는 1차 아미노알코올(a) a primary amino alcohol represented by formula

본 발명의 레지스트 박리액 조성물은 하기 화학식 1로 표현되는 1차 아미노알코올을 포함하는 것을 특징으로 한다.The resist stripper composition of the present invention is characterized by containing a primary amino alcohol represented by the following general formula (1).

(화학식 1)(Formula 1)

Figure pat00003
Figure pat00003

이와 같이, 화학식 1로 표현되는 1차 아미노알코올은 건식 또는 습식 식각, 애싱(ashing) 또는 이온주입 공정(ion implant processing) 등의 여러 공정 조건하에서 변질되거나 가교된 레지스트(resist)의 고분자 매트릭스에 강력하게 침투하여 분자 내 또는 분자간에 존재하는 결합을 깨뜨리는 역할을 하며. 기판에 잔류하는 레지스트 내의 구조적으로 취약한 부분에 빈 공간을 형성시켜 레지스트를 무정형의 고분자 겔(gel)덩어리 상태로 변형시킴으로써 기판 상부에 부착된 레지스트가 쉽게 제거될 수 있게 함을 알아내었다. 또한 구리 및 알루미늄을 포함하는 금속 막질에 대해 부식성이 적어 상기 금속 막질에 대한 부식을 최소화 할 수 있으며, 적은 양으로도 겔화된 레지스트 고분자의 용해력을 극대화 시킬 수 있어 (b) 극성 유기용매와 함께 높은 용해력을 구현하여 레지스트가 도포된 기판의 처리용량을 증가 시킬 수 있다.Thus, the primary amino alcohol represented by the general formula (1) is strongly resistant to a polymer matrix of a resist modified or crosslinked under various process conditions such as dry or wet etching, ashing, or ion implant processing. And breaks bonds existing in molecules or between molecules. It has been found that a vacant space is formed in a structurally weak portion in a resist remaining on a substrate so that the resist attached to the upper portion of the substrate can be easily removed by deforming the resist into an amorphous polymer gel lump state. In addition, since it is less corrosive to metal films including copper and aluminum, corrosion to the metal film can be minimized, and the solubility of a resist polymer gelled in a small amount can be maximized. (B) The dissolution power can be realized to increase the processing capacity of the substrate to which the resist is applied.

상기 화학식 1에서 R1 및 R2는 탄소수 1 내지 5의 알킬기의 1차 아미노알코올이다. 그 예로서 3-아미노-2-부탄올, 2-아미노-3-펜탄올, 2-아미노-3-헥산올, 3-아미노-4-헵탄올, 2-아미노-3-헵탄올 및 3-아미노-4-옥탄올 등을 들을 수 있으며, 이들은 1종 단독으로 또는 2종 이상이 함께 사용될 수 있다.Wherein R 1 and R 2 are primary aminoalcohols of an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. Examples thereof include 3-amino-2-butanol, 2-amino-3-pentanol, 2-amino-3-hexanol, 4-octanol, and the like, which may be used singly or in combination of two or more.

상기 (a) 화학식 1로 표현되는 1차 아미노알코올의 함량은 전체 조성물 총중량 중 1 내지 40 중량%를 사용하는 것이 바람직하며, 1 중량% 미만이면 용해력 상승 효과를 얻기 어렵고 박리력이 약해지는 문제점이 있다. 40 중량%를 초과하면 함량 증가에 따른 용해력 상승효과가 미비하여 경제적이지 못하게 된다.
The content of the primary amino alcohol represented by the formula (1) is preferably 1 to 40% by weight based on the total weight of the composition. If the content is less than 1% by weight, the effect of increasing the solubility is difficult to obtain and the peeling force is weakened have. If it exceeds 40% by weight, the effect of increasing the solubility of the composition due to the increase of the content is insufficient.

(b) 극성 유기용매(b) a polar organic solvent

상기 (b) 극성 유기용매는 상기 (a) 화학식 1로 나타내어지는 1차 아미노알코올과 함께 겔화된 레지스트 고분자를 용해 시키는 역할을 하며, 또한 레지스트 박리 이후 탈이온수의 린스 과정에서 물에 의한 박리액의 제거를 수월하게 하여 박리액 및 용해된 레지스트의 재흡착/재부착을 최소화 한다. 상기 극성 유기용매는 적당한 박리력을 위해 비점이 너무 높거나 낮지 않은 것이 바람직하고, 혼합 사용할 수 있다. 상기 극성유기용매는 박리 공정에서 추가 요청되는 성능에 따라 추가 될 수 있다The polar organic solvent (b) serves to dissolve the resist polymer gelled together with the primary amino alcohol (a) represented by the formula (1), and further, Thereby minimizing re-adsorption / re-adhesion of the exfoliation liquid and the dissolved resist. It is preferable that the polar organic solvent does not have a boiling point too high or low for an appropriate peeling force, and may be mixed and used. The polar organic solvent may be added according to the performance additionally required in the peeling process

본 발명에 사용되는 (b) 극성유기용매는 양자성 극성용매와 비양자성 극성용매를 들 수 있으며, 이들은 각각 단독으로 또는 혼합하여 사용할 수 있다. 상기 양자성 극성용매의 바람직한 예로는, 에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 에틸렌글리콜 모노에틸 에테르, 에틸렌글리콜 모노이소프로필 에테르, 에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 디에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 디에틸렌글리콜 모노에틸 에테르, 디에틸렌글리콜 모노이소프로필 에테르, 디에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노에틸 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노이소프로필 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 폴리에틸렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜, 폴리에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 폴리에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 프로필렌글리콜 모노메틸 에테르, 디프로필렌글리콜 모노메틸 에테르, 트리프로필렌글리콜 모노메틸 에테르 등의 알킬렌글리콜 모노알킬 에테르, 프로필렌글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트 및 테트라하이드로퍼푸릴 알코올 등을 들 수 있으며, 이들은 1종 단독으로 또는 2종 이상이 함께 사용될 수 있다.The polar organic solvent (b) used in the present invention includes a protonic polar solvent and an aprotic polar solvent, which may be used alone or in combination. Preferable examples of the protonic polar solvent include ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monoisopropyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, di Ethylene glycol monoisopropyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, triethylene glycol monomethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether, triethylene glycol monoisopropyl ether, triethylene glycol monobutyl ether, polyethylene glycol, polypropylene glycol, Alkylene glycol monoalkyl ethers such as polyethylene glycol monomethyl ether, polyethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether and tripropylene glycol monomethyl ether; Recycled monomethyl ether acetate, and tetrahydroperfuryl alcohol. These solvents may be used alone or in combination of two or more.

상기 비양자성 극성용매의 바람직한 예로는 N-메틸 피롤리돈(NMP), N-에틸 피롤리돈 등의 피롤리돈 화합물; 1,3-디메틸-2-이미다졸리디논, 1,3-디프로필-2-이미다졸리디논 등의 이미다졸리디논 화합물; γ―부티로락톤 등의 락톤 화합물; 디메틸술폭사이드(DMSO), 술폴란 등의 설폭사이드 화합물; 트리에틸포스페이트, 트리부틸포스페이트 등의 포스페이트 화합물; 디메틸카보네이트, 에틸렌카보네이토 등의 카보네이트 화합물; 포름아미드, N-메틸포름아미드, N,N-디메틸포름아미드, 아세트아미드, N-메틸아세트아미드, N,N-디메틸아세트아미드, N-(2-히드록시에틸)아세트아미드, 3-메톡시-N,N-디메틸프로피온아미드, 3-(2-에틸헥실옥시)-N,N-디메틸프로피온아미드, 3-부톡시-N,N-디메틸프로피온아미드 등의 아미드 화합물을 들 수 있으며, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Preferable examples of the aprotic polar solvent include pyrrolidone compounds such as N-methylpyrrolidone (NMP) and N-ethylpyrrolidone; Imidazolidinone compounds such as 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone and 1,3-dipropyl-2-imidazolidinone; lactone compounds such as? -butyrolactone; Sulfoxide compounds such as dimethylsulfoxide (DMSO) and sulfolane; Phosphate compounds such as triethyl phosphate, tributyl phosphate and the like; Carbonate compounds such as dimethyl carbonate, ethylene carbonate, and the like; N, N-dimethylacetamide, N- (2-hydroxyethyl) acetamide, 3-methoxypyridine, N, N-dimethylformamide, Amide compounds such as N, N-dimethylpropionamide, 3- (2-ethylhexyloxy) -N, N-dimethylpropionamide and 3-butoxy-N, N-dimethylpropionamide, These can be used alone or in admixture of two or more.

(b) 극성 유기 용매의 함량은 전체 조성물 총중량에 대해 60 내지 99 중량%를 사용하는 것이 바람직하다. 60 중량% 미만이면 용해력 저하가 발생할 수 있으며 탈이온수에 의한 린스 공정에서 레지스트의 재흡착/재부착이 발생할 수 있다. 또한 99 중량%를 초과하면 상대적으로 (a) 화학식 1로 나타내어지는 1차 아미노알코올의 함량이 줄어들어 박리력이 저하될 수 있다.
The content of the polar organic solvent (b) is preferably 60 to 99% by weight based on the total weight of the entire composition. If the amount is less than 60% by weight, the solubility may be lowered, and re-adsorption / redeposition of the resist may occur in the rinsing step with deionized water. On the other hand, if it exceeds 99% by weight, the content of the primary amino alcohol represented by the formula (1) may be relatively decreased, and the peeling force may be lowered.

(c) 염기성 화합물(c) a basic compound

본 발명의 레지스트 박리액 조성물에 추가적으로 (c) 염기성 화합물이 포함 될 수 있다. 상기 (c) 염기성 화합물 (a) 화학식 1로 나타내어지는 1차 아미노알코올과 함께 사용되어 변질되거나 가교된 레지스트(resist)의 고분자 매트릭스에 강력하게 침투하여 분자 내 또는 분자간에 존재하는 결합을 깨뜨리는 역할을 도와주며, 기판에 잔류하는 레지스트 내의 구조적으로 취약한 부분에 빈 공간을 형성시켜 레지스트를 무정형의 고분자 겔(gel)덩어리 상태로 변형시킴으로써 기판 상부에 부착된 레지스트를 빠르게 제거 시킬 수 있도록 도와준다.In addition to the resist stripping composition of the present invention, (c) a basic compound may be included. The basic compound (c) is used together with (a) the primary amino alcohol represented by the general formula (1) to strongly penetrate into a polymer matrix of a resist which is denatured or crosslinked to break bonds existing in the molecule or between molecules And forms a vacant space in a structurally weak portion in the resist remaining on the substrate, thereby deforming the resist into amorphous polymer gel mass to quickly remove the resist attached on the substrate.

추가로 포함되는 (c) 염기성 화합물은 바람직하게는 KOH, NaOH, TMAH(Tetramethyl ammonium hydroxide), TEAH(Tetraethyl ammonium hydroxide), 탄산염, 인산염, 암모니아 및 아민류 등을 들을 수 있으며, 이들은 1종 단독으로 또는 2종 이상이 함께 사용될 수 있다.The basic compound (c) to be further contained is preferably a basic compound such as KOH, NaOH, Tetramethyl ammonium hydroxide (TMAH), Tetraethyl ammonium hydroxide (TEAH), carbonate, phosphate, ammonia and amines. Two or more species may be used together.

상기 아민류에는 메틸아민, 에틸아민, 모노이소프로필아민, n-부틸아민, sec-부틸아민, 이소부틸아민, t-부틸아민, 펜틸아민 등의 1차 아민; 디메틸아민, 디에틸아민, 디프로필아민, 디이소프로필아민, 디부틸아민, 디이소부틸아민, 메틸에틸아민, 메틸프로필아민, 메틸이소프로필아민, 메틸부틸아민, 메틸이소부틸아민 등의 2차 아민; 디에틸 히드록시아민, 트리메틸아민, 트리에틸아민, 트리프로필아민, 트리부틸아민, 트리펜틸아민, 디메틸에틸아민, 메틸디에틸아민 및 메틸디프로필아민 등의 3차 아민; 콜린, 모노에탄올아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민, 모노프로판올아민, 2-아미노에탄올, 2-(에틸아미노)에탄올, 2-(메틸아미노)에탄올, N-메틸 디에탄올아민, N,N-디메틸에탄올아민, N,N-디에틸아미노에탄올, 2-(2-아미노에틸아미노)-1-에탄올, 1-아미노-2-프로판올, 2-아미노-1-프로판올, 3-아미노-1-프로판올, 4-아미노-1-부탄올, 디부탄올아민 등의 알칸올아민; (부톡시메틸)디에틸아민, (메톡시메틸)디에틸아민, (메톡시메틸)디메틸아민, (부톡시메틸)디메틸아민, (이소부톡시메틸)디메틸아민, (메톡시메틸)디에탄올아민, (히드록시에틸옥시메틸)디에틸아민, 메틸(메톡시메틸)아미노에탄, 메틸(메톡시메틸)아미노에탄올, 메틸(부톡시메틸)아미노에탄올, 2-(2-이미노에톡시)-1-에탄올, 2-(2-아미노에톡시)에탄올 등의 알콕시아민; 디에틸히드록실아민, 디프로필히드록실아민, N-에틸-N-메틸히드록실아민 등의 히드록실아민; 1-(2-히드록시에틸)피페라진, 1-(2-아미노에틸)피페라진, 1-(2-히드록시에틸)메틸피페라진, N-(3-아미노프로필)모폴린, 2-메틸피페라진, 1-메틸피페라진, 1-아미노-4-메틸피페라진, 1-벤질 피페라진, 1-페닐 피페라진, N-메틸모폴린, 4-에틸모폴린, N-포름일모폴린, N-(2-히드록시에틸)모폴린, N-(3-히드록시프로필)모폴린 등의 환을 형성한 고리형아민 등이 있다.The amines include primary amines such as methylamine, ethylamine, monoisopropylamine, n-butylamine, sec-butylamine, isobutylamine, t-butylamine and pentylamine; Examples of the secondary amine such as dimethylamine, diethylamine, dipropylamine, diisopropylamine, dibutylamine, diisobutylamine, methylethylamine, methylpropylamine, methylisopropylamine, methylbutylamine and methylisobutylamine Amine; Tertiary amines such as diethylhydroxyamine, trimethylamine, triethylamine, tripropylamine, tributylamine, tripentylamine, dimethylethylamine, methyldiethylamine and methyldipropylamine; But are not limited to, choline, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, monopropanolamine, 2-aminoethanol, 2- (ethylamino) ethanol, 2- (methylamino) ethanol, Amino-2-propanol, 2-amino-1-propanol, 3-amino-1-propanol, Alkanolamines such as 4-amino-1-butanol and dibutanolamine; (Methoxymethyl) dimethylamine, (methoxymethyl) dimethylamine, (butoxymethyl) dimethylamine, (isobutoxymethyl) dimethylamine, (methoxymethyl) diethanolamine (Methoxymethyl) aminoethanol, methyl (butoxymethyl) aminoethanol, 2- (2-iminoethoxy) - Alkoxyamines such as 1-ethanol and 2- (2-aminoethoxy) ethanol; Hydroxylamines such as diethylhydroxylamine, dipropylhydroxylamine and N-ethyl-N-methylhydroxylamine; 1- (2-hydroxyethyl) piperazine, 1- (2-aminoethyl) piperazine, 1- Methylpiperazine, 1-amino-4-methylpiperazine, 1-benzylpiperazine, 1-phenylpiperazine, N-methylmorpholine, 4-ethylmorpholine, N-formylmorpholine, N - (2-hydroxyethyl) morpholine, N- (3-hydroxypropyl) morpholine and the like.

상기 (c) 염기성 화합물은 전체 조성물 총중량 중 0.1 내지 20 중량%를 사용하는 것이 바람직하며, 0.1중량% 미만이면 (a) 화학식 1로 나타내어지는 1차 아미노알코올과 함께 박리력 개선 효과가 없으며, 20중량% 초과하면 구리 및 알루미늄을 포함하는 금속 막질에 대한 부식 정도가 심해진다.
The amount of the basic compound (c) is preferably 0.1 to 20% by weight based on the total weight of the composition, and if it is less than 0.1% by weight, (a) If it is more than 1 wt%, the degree of corrosion of the metal film including copper and aluminum becomes worse.

(d) 부식 방지제(d) Corrosion inhibitor

본 발명의 레지스트 박리액 조성물에 추가적으로 (d) 부식방지제가 포함 될 수 있다.In addition to the resist stripping composition of the present invention, (d) a corrosion inhibitor may be included.

추가로 포함될 수 있는 (d) 부식 방지제는 벤조트리아졸, 톨리트리아졸, 메틸 톨리트리아졸, 2,2’-[[[벤조트리아졸]메틸]이미노]비스에탄올,2,2’-[[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스메탄올, 2,2’-[[[에틸-1수소 벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스에탄올, 2,2’-[[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스에탄올, 2,2’-[[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스카르복시산, 2,2’- [[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스메틸아민, 2,2’-[[[아민-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스에탄올과 같은 아졸계화합물과 1,2-벤조퀴논, 1,4-벤조퀴논, 1,4-나프토퀴논, 안트라퀴논과 같은 퀴논계화합물 그리고 카테콜, 파이로갈롤, 메틸갈레이트, 프로필갈레이트, 도데실갈레이트, 옥틸갈레이트, 및 갈릭산 등과 같은 알킬 갈레이트류 등이 있으며 이들은 단독 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다. (D) corrosion inhibitors which may be further included include benzotriazole, tolithriazole, methyltolytriazole, 2,2 '- [[[benzotriazole] methyl] imino] bisethanol, 2,2' - [[ethyl-1-hydrogen benzotriazol-1-yl] methyl] imino] Dihydrobenzotriazol-1-yl] methyl] imino] bisethanol, 2,2 '- [[[methyl- - [[methyl-1-hydrogen-benzotriazol-1-yl] methyl] imino] bismethylamine, 2,2 '- [[[ -1 hydrogen-benzotriazol-1-yl] methyl] imino] bis-ethanol and 1,2-benzoquinone, 1,4-benzoquinone, 1,4-naphthoquinone, anthraquinone The same quinone compounds and alkyl gallates such as catechol, pyrogallol, methyl gallate, propyl gallate, dodecylgallate, octylgallate, The acids, etc., and these may be used alone or by mixing two or more.

상기 d) 부식 방지제는 전체 조성물 총중량 중 0.001 내지 10 중량%를 사용하는 것이 바람직하며, 0.001 중량% 미만이면 구리 및 알루미늄을 포함하는 막질의 부식 방지력 효과를 얻기 어려우며, 10 중량% 초과하면 부식 방지제 증량에 따른 부식방지 효과의 상승을 얻을 수 없음으로 경제적으로 비효율적이다.The corrosion inhibitor is preferably used in an amount of 0.001 to 10 wt% based on the total weight of the composition. If the amount of the corrosion inhibitor is less than 0.001 wt%, it is difficult to obtain a corrosion inhibiting effect of a film quality including copper and aluminum. It is inefficient economically since it is impossible to obtain an increase in the corrosion prevention effect due to the increase in the amount of water.

본 발명의 플랫 패널 디스플레이용 레지스트 박리액 조성물을 사용하여 레지스트를 제거하는 방법으로는 침지법이 일반적이지만 기타의 방법, 예를 들면 분무법에 의한 방법을 사용할 수도 있다. 본 발명에 의한 조성물로 처리한 후의 세정제로는 알코올과 같은 유기용제를 사용할 필요가 없고 물로 세정하는 것만으로도 충분하다.As a method for removing the resist using the resist stripping liquid composition for a flat panel display of the present invention, a dipping method is generally used, but other methods such as a spraying method may also be used. As the cleaning agent after treatment with the composition according to the present invention, it is not necessary to use an organic solvent such as alcohol, and it is sufficient to wash with water.

본 발명의 레지스트 박리액 조성물은 반도체 또는 전자제품, 특히 플랫 패널 디스플레이용 레지스트의 제거 공정에서 유용하게 사용될 수 있다.
The resist stripping liquid composition of the present invention can be usefully used in a process for removing a semiconductor or an electronic product, particularly a resist for a flat panel display.

이하에서, 실시예를 통하여 본 발명을 보다 상세히 설명한다. 그러나, 하기의 실시예는 본 발명을 더욱 구체적으로 설명하기 위한 것으로서, 본 발명의 범위가 하기의 실시예에 의하여 한정되는 것은 아니다. 하기의 실시예는 본 발명의 범위 내에서 당업자에 의해 적절히 수정, 변경될 수 있다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples. However, the following examples are intended to further illustrate the present invention, and the scope of the present invention is not limited by the following examples. The following examples can be appropriately modified and changed by those skilled in the art within the scope of the present invention.

실시예Example 1 내지 6 및  1 to 6 and 비교예Comparative Example 1 내지 4.  1-4. 레지스트Resist 박리액Peeling liquid 조성물 제조 Composition manufacturing

하기 표 1에 기재된 성분을 해당 조성비로 혼합하여 실시예 1 내지 6 및 비교예 1 내지 4의 플랫 패널 디스플레이용 레지스트 박리액 조성물을 제조하였다.The components shown in Table 1 below were mixed at the composition ratios to prepare resist stripper compositions for flat panel displays of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 4.

구분division (a) 화학식 1의 아미노알코올(a) an amino alcohol of formula (b) 극성 유기용매(b) a polar organic solvent (c) 염기성 화합물(c) a basic compound (d) 부식 방지제(d) Corrosion inhibitor 종류Kinds 함량
(중량%)
content
(weight%)
종류Kinds 함량
(중량%)
content
(weight%)
종류Kinds 함량
(중량%)
content
(weight%)
종류Kinds 함량
(중량%)
content
(weight%)
실시예1Example 1 3A4O3A4O 1010 NMPNMP 9090 -- -- -- -- 실시예2Example 2 2A3H2A3H 1010 NMFNMF 9090 -- -- -- -- 실시예3Example 3 3A4O3A4O 1010 NMP
BDG
NMP
BDG
60
30
60
30
-- -- -- --
실시예4Example 4 3A4O3A4O 1010 NMP
EDG
NMP
EDG
50
30
50
30
MDEAMDEA 1010 -- --
실시예5Example 5 3A4O3A4O 1010 NMP
EDG
NMP
EDG
54.5
30
54.5
30
AEEAEE 55 BTABTA 0.50.5
실시예6Example 6 3A4O3A4O 1010 NMP
EDG
NMP
EDG
54
30
54
30
MEAMEA 55 BTA
MG
BTA
MG
0.5
0.5
0.5
0.5
비교예1Comparative Example 1 -- -- NMP
EDG
NMP
EDG
60
30
60
30
MDEAMDEA 1010 -- --
비교예 2Comparative Example 2 -- -- NMP
EDG
NMP
EDG
64.5
30
64.5
30
AEEAEE 55 BTABTA 0.50.5
비교예 3Comparative Example 3 -- -- NMP
EDG
NMP
EDG
64
30
64
30
MEAMEA 55 BTA
MG
BTA
MG
0.5
0.5
0.5
0.5
비교예4Comparative Example 4 -- -- NMP
EDG
NMP
EDG
65
30
65
30
MEAMEA 55 -- --

3A4O: 3-아미노-4-옥탄올3A4O: 3-amino-4-octanol

2A3H: 2-아미노-3-헥산올2A3H: 2-amino-3-hexanol

NMP: N-메틸 피롤리돈NMP: N-methylpyrrolidone

NMF: N-메틸 포름아미드NMF: N-methylformamide

BDG: 디에틸렌글리콜 모노부틸 에테르BDG: diethylene glycol monobutyl ether

EDG: 디에틸렌글리콜 모노에틸 에테르EDG: diethylene glycol monoethyl ether

MDEA: N-메틸디에탄올아민MDEA: N-methyldiethanolamine

AEE: 2-(2-이미노에톡시)-1-에탄올AEE: 2- (2-Iminoethoxy) -1-ethanol

MEA: 모노에탄올아민MEA: Monoethanolamine

BTA: 벤조트리아졸BTA: benzotriazole

MG: 메틸갈레이트
MG: methyl gallate

실험예Experimental Example : : 레지스트Resist 박리액Peeling liquid 조성물의 특성 평가 Evaluation of composition characteristics

실험예Experimental Example 1.  One. 박리액의Exfoliation 박리력Peel force 평가 evaluation

레지스트 박리용 조성물의 박리효과를 확인하기 위하여 통상적인 방법에 따라 유리 기판상에 박막 스퍼터링법을 사용하여 Mo/Al, Cu/Ti층을 형성한 후, 포토 레지스트 패턴을 형성시킨 이후, 습식 식각 및 건식 식각 방식에 의해 금속막을 에칭한 기판을 각각 준비하였다. 레지스트 박리용 조성물을 50℃로 온도를 일정하게 유지시킨 후, 1분간 대상물을 침적하여 박리력을 평가하였다. 이후 기판상에 잔류하는 박리액의 제거를 위해서 순수로 1분간 세정을 실시하였으며, 세정 후 기판 상에 잔류하는 순수를 제거하기 위하여 질소를 이용하여 기판을 완전히 건조시켰다. 상기 기판의 변성 또는 경화 레지스트 및 건식 식각 잔사 제거 성능은 주사 전자현미경(SEM, Hitach S-4700)을 이용하여 확인하고, 그 결과를 하기 표 2에 나타냈으며 매우 양호는 ◎, 양호는 ○, 보통은 △, 불량은 ×로 표시하였다.
In order to confirm the peeling effect of the resist stripping composition, a Mo / Al or Cu / Ti layer is formed on a glass substrate by a thin film sputtering method, and then a photoresist pattern is formed. A substrate on which a metal film was etched by a dry etching method was prepared. After the resist stripping composition was maintained at a constant temperature of 50 캜, an object was immersed for 1 minute to evaluate the stripping force. Then, the substrate was cleaned with pure water for 1 minute to remove the peeling liquid remaining on the substrate, and the substrate was completely dried with nitrogen to remove pure water remaining on the substrate after cleaning. The denaturation or curing resist and dry etching residue removal performance of the substrate were confirmed using a scanning electron microscope (SEM, Hitachi S-4700), and the results are shown in Table 2, Quot; and " bad "

실험예Experimental Example 2.  2. 박리액Peeling liquid 금속 배선  Metal wiring 방식력Revolution 평가 evaluation

레지스트 박리액 조성물의 금속배선에 대한 부식 방지능력을 평가는 Mo/Al과 Cu/Ti 배선이 노출된 기판을 사용하였으며 박리액 조성물을 50℃로 온도를 일정하게 유지시키고 상기 기판을 30분간 침적시킨 후, 세정 및 건조를 거쳐 주사 전자현미경(SEM, Hitach S-4700)을 이용하여 평가하였다. 그 결과를 하기의 표 2에 나타냈으며 매우 양호는 ◎, 양호는 ○, 보통은 △, 불량은 ×로 표시하였다.
The evaluation of the corrosion inhibiting ability of the resist stripping solution composition on the metal wiring was carried out by using a substrate on which Mo / Al and Cu / Ti wiring lines were exposed, maintaining the stripping solution composition at a constant temperature of 50 캜, immersing the substrate for 30 minutes , Followed by washing, drying, and evaluation using a scanning electron microscope (SEM, Hitachi S-4700). The results are shown in Table 2 below. Excellent results are shown as " good ", good results are shown as "?&Quot;

실험예Experimental Example 3.  3. 박리액의Exfoliation 레지스트Resist 용해력solvency 평가 evaluation

레지스트 박리액의 성능을 표현하는 방법 중의 하나로 얼마나 많은 양의 레지스트가 도포된 기판을 박리할 수 있는지를 처리매수/처리용량 평가라 한다. 이를 위한 평가 방법으로 고형화된 레지스트(130?에서 3일간 열처리를 통해 용매를 모두 제거시켜 고형화 시킨 레지스트) 5 중량%를 50?에서 1시간 동안 500rpm 동일 조건으로 용해 시킨 후 남은 잔량을 필터페이퍼로 여과하여 무게를 측정 후 용해된 용해도를 %로 계산하였다. 그 수치가 높을수록 높은 레지스트 용해력을 나타내며 처리매수/처리용량이 높다라고 판단할 수 있다. 그 결과를 하기 표 2, 도 1 및 도 2에 나타내었다. As one of the methods for expressing the performance of the resist stripping solution, how much of the substrate on which the resist is applied can be peeled off is referred to as the processing number / processing capacity evaluation. 5% by weight of the resist (solidified by removing all the solvent through heat treatment for 3 days at 130? For 3 days) was dissolved at 50? For 1 hour under the same conditions of 500 rpm, and the remaining amount was filtered with filter paper And the solubility was calculated as% after the weight was measured. It can be determined that the higher the value, the higher the resist solubility and the higher the number of processed / treated capacities. The results are shown in Table 2, Figs. 1 and 2.

구분division 박리력Peel force 방식력Revolution 용해도(%)Solubility (%) AlAl CuCu 실시예1Example 1 98.5%98.5% 실시예2Example 2 98.6%98.6% 실시예3Example 3 98.5%98.5% 실시예4Example 4 98.7%98.7% 실시예5Example 5 98.7%98.7% 실시예6Example 6 98.6%98.6% 비교예1Comparative Example 1 XX 82.5%82.5% 비교예2Comparative Example 2 83.0%83.0% 비교예3Comparative Example 3 81.9%81.9% 비교예4Comparative Example 4 XX XX 82.4%82.4%

상기 표 2의 실험 결과로부터, 본 발명의 박리액 조성물인 실시예 1 내지6 의 조성물은 비교예 1 내지 4의 조성물과 비교하여, 레지스트 제거력이 우수할 뿐만 아니라, 알루미늄 및 구리에 대한 방식성도 모두 우수하며, 고형화된 레지스트에 대한 용해력도 매우 우수한 것을 확인할 수 있었다.From the results of the tests of Table 2, it can be seen that the compositions of Examples 1 to 6, which are the release liquid compositions of the present invention, are superior in terms of resist removal performance as compared with the compositions of Comparative Examples 1 to 4, And the solubility in solidified resist was also excellent.

Claims (8)

(a) 하기 화학식 1로 표시되는 1차 아미노알코올: 및
(b) 극성 유기용제를 포함하는 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물:
(화학식 1)
Figure pat00004

상기 화학식 1에서, R1 및 R2는 C1~C5의 알킬기이다.
(a) a primary amino alcohol represented by the following formula
(b) a polar organic solvent.
(Formula 1)
Figure pat00004

In Formula 1, R 1 and R 2 are C1-C5 alkyl groups.
청구항 1에 있어서, 상기 조성물 총 중량에 대하여,
상기 (a) 화학식 1로 표시되는 1차 아미노알코올 1 내지 40 중량%: 및
상기 (b) 극성 유기용제 60 내지 99 중량%를 포함하는 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물.
The method of claim 1, wherein, relative to the total weight of the composition,
(A) 1 to 40% by weight of a primary amino alcohol represented by the general formula (1): and
And (b) 60 to 99% by weight of the polar organic solvent.
청구항 1에 있어서,
상기 (a) 화학식 1로 표시되는 1차 아미노알코올은 3-아미노-2-부탄올, 2-아미노-3-펜탄올, 2-아미노-3-헥산올, 3-아미노-4-헵탄올, 2-아미노-3-헵탄올 및 3-아미노-4-옥탄올로 구성되는 군에서 선택되는 하나 이상인 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물.
The method according to claim 1,
(A) the primary amino alcohol represented by the general formula (1) is at least one selected from the group consisting of 3-amino-2-butanol, 2-amino-3-pentanol, Amino-3-heptanol and 3-amino-4-octanol.
청구항 1에 있어서,
상기 극성 유기용제는 양자성 극성용매, 비양자성 극성용매 또는 이들의 혼합물이며,
상기 양자성 극성용매는, 에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 에틸렌글리콜 모노에틸 에테르, 에틸렌글리콜 모노이소프로필 에테르, 에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 디에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 디에틸렌글리콜 모노에틸 에테르, 디에틸렌글리콜 모노이소프로필 에테르, 디에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노에틸 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노이소프로필 에테르, 트리에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 폴리에틸렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜, 폴리에틸렌글리콜 모노메틸 에테르, 폴리에틸렌글리콜 모노부틸 에테르, 프로필렌글리콜 모노메틸 에테르, 디프로필렌글리콜 모노메틸 에테르, 트리프로필렌글리콜 모노메틸 에테르, 프로필렌글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트 및 테트라하이드로퍼푸릴 알코올로 구성되는 군에서 선택되는 하나 이상이며,
상기 비양자성 극성용매는, N-메틸 피롤리돈(NMP), N-에틸 피롤리돈, 1,3-디메틸-2-이미다졸리디논, 1,3-디프로필-2-이미다졸리디논, γ―부티로락톤, 디메틸술폭사이드(DMSO), 술폴란, 트리에틸포스페이트, 트리부틸포스페이트, 디메틸카보네이트, 에틸렌카보네이토, 포름아미드, N-메틸포름아미드, N,N-디메틸포름아미드, 아세트아미드, N-메틸아세트아미드, N,N-디메틸아세트아미드, N-(2-히드록시에틸)아세트아미드, 3-메톡시-N,N-디메틸프로피온아미드, 3-(2-에틸헥실옥시)-N,N-디메틸프로피온아미드 및 3-부톡시-N,N-디메틸프로피온아미드로 구성되는 군에서 선택되는 하나 이상인 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물.
The method according to claim 1,
The polar organic solvent may be a protonic polar solvent, apolar polar solvent or a mixture thereof,
Wherein the protonic polar solvent is selected from the group consisting of ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol monoisopropyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol mono Isopropyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, triethylene glycol monomethyl ether, triethylene glycol monoethyl ether, triethylene glycol monoisopropyl ether, triethylene glycol monobutyl ether, polyethylene glycol, polypropylene glycol, polyethylene glycol mono Methyl ether, polyethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol monomethyl ether, tripropylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, and tetrahydrofuran It is at least one selected from a group consisting of furyl alcohol,
The aprotic polar solvent may be at least one selected from the group consisting of N-methylpyrrolidone (NMP), N-ethylpyrrolidone, 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone, , dimethylsulfoxide (DMSO), sulfolane, triethylphosphate, tributylphosphate, dimethylcarbonate, ethylene carbonate, formamide, N-methylformamide, N, N-dimethylformamide, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylacetamide, N- (2-hydroxyethyl) acetamide, 3- methoxy- N, N-dimethylpropionamide, and 3-butoxy-N, N-dimethylpropionamide.
청구항 1에 있어서,
상기 (c) 염기성 화합물, (d) 부식방지제 또는 이들의 혼합물을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물.
The method according to claim 1,
(C) a basic compound, (d) a corrosion inhibitor, or a mixture thereof.
청구항 5에 있어서,
상기 (c) 염기성 화합물은 KOH, NaOH, TMAH(Tetramethyl ammonium hydroxide), TEAH(Tetraethyl ammonium hydroxide), 탄산염, 인산염, 암모니아 및 아민류로 구성된 군에서 선택되는 하나 이상이며,
상기 아민류는 메틸아민, 에틸아민, 모노이소프로필아민, n-부틸아민, sec-부틸아민, 이소부틸아민, t-부틸아민, 펜틸아민, 디메틸아민, 디에틸아민, 디프로필아민, 디이소프로필아민, 디부틸아민, 디이소부틸아민, 메틸에틸아민, 메틸프로필아민, 메틸이소프로필아민, 메틸부틸아민, 메틸이소부틸아민, 디에틸 히드록시아민, 트리메틸아민, 트리에틸아민, 트리프로필아민, 트리부틸아민, 트리펜틸아민, 디메틸에틸아민, 메틸디에틸아민, 메틸디프로필아민, 콜린, 모노에탄올아민, 디에탄올아민, 트리에탄올아민, 모노프로판올아민, 2-아미노에탄올, 2-(에틸아미노)에탄올, 2-(메틸아미노)에탄올, N-메틸 디에탄올아민, N,N-디메틸에탄올아민, N,N-디에틸아미노에탄올, 2-(2-아미노에틸아미노)-1-에탄올, 1-아미노-2-프로판올, 2-아미노-1-프로판올, 3-아미노-1-프로판올, 4-아미노-1-부탄올, 디부탄올아민, (부톡시메틸)디에틸아민, (메톡시메틸)디에틸아민, (메톡시메틸)디메틸아민, (부톡시메틸)디메틸아민, (이소부톡시메틸)디메틸아민, (메톡시메틸)디에탄올아민, (히드록시에틸옥시메틸)디에틸아민, 메틸(메톡시메틸)아미노에탄, 메틸(메톡시메틸)아미노에탄올, 메틸(부톡시메틸)아미노에탄올, 2-(2-이미노에톡시)-1-에탄올, 2-(2-아미노에톡시)에탄올, 디에틸히드록실아민, 디프로필히드록실아민, N-에틸-N-메틸히드록실아민, 1-(2-히드록시에틸)피페라진, 1-(2-아미노에틸)피페라진, 1-(2-히드록시에틸)메틸피페라진, N-(3-아미노프로필)모폴린, 2-메틸피페라진, 1-메틸피페라진, 1-아미노-4-메틸피페라진, 1-벤질 피페라진, 1-페닐 피페라진, N-메틸모폴린, 4-에틸모폴린, N-포름일모폴린, N-(2-히드록시에틸)모폴린 및 N-(3-히드록시프로필)모폴린으로 구성된 군에서 선택되는 하나 이상인 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물.
The method of claim 5,
The basic compound (c) is at least one selected from the group consisting of KOH, NaOH, Tetramethyl ammonium hydroxide (TMAH), Tetraethyl ammonium hydroxide (TEAH), carbonate, phosphate, ammonia,
The amines may be selected from the group consisting of methylamine, ethylamine, monoisopropylamine, n-butylamine, sec-butylamine, isobutylamine, t-butylamine, pentylamine, dimethylamine, diethylamine, dipropylamine, diisopropyl Examples of the amine compound include aliphatic amines such as amine, dibutylamine, diisobutylamine, methylethylamine, methylpropylamine, methylisopropylamine, methylbutylamine, methylisobutylamine, diethylhydroxyamine, trimethylamine, Monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, monopropanolamine, 2-aminoethanol, 2- (ethylamino) ethylamine, diethylamine, diethylamine, Ethanol, 2- (methylamino) ethanol, N-methyldiethanolamine, N, N-dimethylethanolamine, N, N-diethylaminoethanol, 2- Amino-2-propanol, 2-amino-1-propanol, 3-amino- (Butoxymethyl) dimethylamine, (methoxymethyl) dimethylamine, (methoxymethyl) dimethylamine, (methoxymethyl) dimethylamine, (Methoxymethyl) aminoethanol, methyl (methoxymethyl) aminoethanol, methyl (methoxymethyl) aminoethanol, methyl (methoxymethyl) (2-aminoethoxy) ethanol, diethylhydroxylamine, dipropylhydroxylamine, N-ethyl-N-methyl (2-aminoethyl) piperazine, 1- (2-hydroxyethyl) methylpiperazine, N- (3-aminopropyl) morpholine Methylpiperazine, 1-amino-4-methylpiperazine, 1-benzylpiperazine, 1-phenylpiperazine, N-methylmorpholine, 4-ethylmorpholine, N- N- (2-hydroxyethyl) morpholine and N- (3- De-hydroxypropyl) resist stripper composition, characterized in that at least one selected from the group consisting of morpholine.
청구항 5에 있어서,
상기 (d) 부식 방지제는 벤조트리아졸, 톨리트리아졸, 메틸 톨리트리아졸, 2,2’-[[[벤조트리아졸]메틸]이미노]비스에탄올, 2,2’-[[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스메탄올, 2,2’-[[[에틸-1수소 벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스에탄올, 2,2’-[[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스에탄올, 2,2’-[[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스카르복시산, 2,2’- [[[메틸-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스메틸아민, 2,2’-[[[아민-1수소-벤조트리아졸-1-일]메틸]이미노]비스에탄올, 1,2-벤조퀴논, 1,4-벤조퀴논, 1,4-나프토퀴논, 안트라퀴논, 카테콜, 파이로갈롤, 메틸갈레이트, 프로필갈레이트, 도데실갈레이트, 옥틸갈레이트 및 갈릭산으로 구성된 군에서 선택되는 하나 이상인 것을 특징으로 하는 레지스트 박리액 조성물.
The method of claim 5,
(D) the corrosion inhibitor is selected from the group consisting of benzotriazole, tolythriazole, methyltolytriazole, 2,2 '- [[[benzotriazole] methyl] imino] bisethanol, 2,2' - [[[ Methyl-1H-benzotriazol-1-yl] methyl] imino] bis-methanol, 2,2 '- [[ , 2 '- [[[methyl-1H-benzotriazol-1-yl] methyl] imino] Yl] methyl] imino] bismethylamine, 2,2 '- [[[amine-1-hydrogen- Benzoquinone, 1,4-naphthoquinone, anthraquinone, catechol, pyrogallol, methyl gallate, Wherein the resist stripping liquid composition is at least one selected from the group consisting of propyl gallate, propyl gallate, dodecyl gylate, octyl gylate, and gallic acid.
청구항 1 내지 청구항 7 중 어느 한 항에 기재된 레지스트 박리액 조성물을 사용하여 플랫 패널 디스플레이 기판을 세정하는 공정을 포함하는 플랫 패널 디스플레이 기판의 제조방법.A method for manufacturing a flat panel display substrate, comprising the step of cleaning a flat panel display substrate using the resist stripping liquid composition according to any one of claims 1 to 7.
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