KR20150007196A - 유체 노즐 및 기판 세정 장치, 및 기판의 세정 방법 - Google Patents
유체 노즐 및 기판 세정 장치, 및 기판의 세정 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20150007196A KR20150007196A KR1020140008086A KR20140008086A KR20150007196A KR 20150007196 A KR20150007196 A KR 20150007196A KR 1020140008086 A KR1020140008086 A KR 1020140008086A KR 20140008086 A KR20140008086 A KR 20140008086A KR 20150007196 A KR20150007196 A KR 20150007196A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- fluid
- liquid
- substrate
- nozzle
- introduction pipe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000012530 fluid Substances 0.000 title claims abstract description 128
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 104
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 88
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 110
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 claims description 14
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 claims description 7
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 2
- 239000008213 purified water Substances 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 10
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000011086 high cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000012487 rinsing solution Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05B—SPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
- B05B7/00—Spraying apparatus for discharge of liquids or other fluent materials from two or more sources, e.g. of liquid and air, of powder and gas
- B05B7/02—Spray pistols; Apparatus for discharge
- B05B7/04—Spray pistols; Apparatus for discharge with arrangements for mixing liquids or other fluent materials before discharge
- B05B7/0416—Spray pistols; Apparatus for discharge with arrangements for mixing liquids or other fluent materials before discharge with arrangements for mixing one gas and one liquid
- B05B7/0483—Spray pistols; Apparatus for discharge with arrangements for mixing liquids or other fluent materials before discharge with arrangements for mixing one gas and one liquid with gas and liquid jets intersecting in the mixing chamber
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05B—SPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
- B05B7/00—Spraying apparatus for discharge of liquids or other fluent materials from two or more sources, e.g. of liquid and air, of powder and gas
- B05B7/02—Spray pistols; Apparatus for discharge
- B05B7/08—Spray pistols; Apparatus for discharge with separate outlet orifices, e.g. to form parallel jets, i.e. the axis of the jets being parallel, to form intersecting jets, i.e. the axis of the jets converging but not necessarily intersecting at a point
- B05B7/0884—Spray pistols; Apparatus for discharge with separate outlet orifices, e.g. to form parallel jets, i.e. the axis of the jets being parallel, to form intersecting jets, i.e. the axis of the jets converging but not necessarily intersecting at a point the outlet orifices for jets constituted by a liquid or a mixture containing a liquid being aligned
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/02—Cleaning by the force of jets or sprays
- B08B3/024—Cleaning by means of spray elements moving over the surface to be cleaned
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B5/00—Cleaning by methods involving the use of air flow or gas flow
- B08B5/02—Cleaning by the force of jets, e.g. blowing-out cavities
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Nozzles (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
Abstract
본 발명의 해결 수단은 내부 전면(213)과, 해당 내부 전면과 간격을 두고 서로 마주 보는 내부 후면(214)과, 내부 전면(213) 및 내부 후면(214) 각각의 일단끼리를 연결하고 있는 내부 저면(216)과, 타단끼리를 연결하고 있는 내부 정상면(215)에 의해 그 내부에 유체 챔버(3)가 구획 형성되어 있는 노즐 본체(2)와, 유체 챔버(3)와 노즐 본체(2)의 외부를 각각 연통하도록, 내부 정상면(215)을 관통하고 있는 기체 도입관(4)과, 내부 전면(213)을 관통하여 유체 챔버(3)에 들어가 내부 후면(214) 근처까지 연장하고 있는 액체 도입관(5)과, 각각 내부 저면(216)을 관통하고 있는 복수의 유체 분출로(6)를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 유체 노즐, 및 해당 유체 노즐을 구비한 기판 세정 장치와, 해당 기판 세정 장치를 이용한 기판의 세정 방법을 제공하는 것이다.
Description
도 2는 본 발명에 따른 기판 세정 장치의 일 실시형태를 도시하는 사시도,
도 3은 본 발명에 따른 기판 세정 장치의 일 실시형태를 도시하는 상면도,
도 4는 도 3의 IV-IV선에 따른 단면도,
도 5는 도 4와 직교하는 방향을 따른 단면도,
도 6은 본 발명에 따른 유체 노즐의 일 실시형태에 있어서 액체 도입관이 갖는 액체 유출구의 설치 각도를 도시하는 부분 확대도,
도 7은 본 발명에 따른 기판 세정 장치의 일 사용태양을 개략적으로 도시하는 도 4에 준하는 단면도,
도 8은 본 발명에 따른 기판 세정 장치의 일 사용태양을 개략적으로 도시하는 도 5에 준하는 단면도,
도 9는 본 발명에 따른 기판 세정 장치 이외 사용태양을 개략적으로 도시하는 도 4에 준하는 단면도,
도 10은 도 9의 사용 태양에 있어서의 피세정 기판을 도시하는 부분 확대도.
1 : 유체 노즐 2 : 노즐 본체
210 : 제 1 외측면 211 : 제 2 외측면
212 : 접속면 213 : 내부 전면
214 : 내부 후면 215 : 내부 정상면
216 : 내부 저면 217 : 외부 저면
218 : 외부 상면 3 : 유체 챔버
4 : 기체 도입관 5 : 액체 도입관
51 : 액체 유입구 52 : 액체 유출구
6 : 유체 분출로 7 : 린스액
71 : 이산화탄소 72 : 액체
8 : 기체 9 : 기판
Claims (8)
- 내부에 유체 챔버가 마련되어 있는 노즐 본체로서, 상기 유체 챔버가, 상기 노즐 본체의 내부에 마련되어 있는 내부 전면과, 상기 내부 전면과 소정의 제 1 방향으로 간격을 두고 서로 마주하고 있는 내부 후면과, 상기 내부 전면 및 상기 내부 후면 각각의 일단끼리를 연결하고 있는 내부 저면과, 상기 내부 전면 및 상기 내부 후면 각각의 타단끼리를 연결하고 있으며 상기 내부 저면과 서로 마주하고 있는 내부 정상면에 의해 구획 형성되어 있는, 상기 노즐 본체와,
상기 유체 챔버와 상기 노즐 본체의 외부를 연통하도록 상기 내부 정상면을 관통하고 있는 기체 도입관과,
상기 유체 챔버와 상기 노즐 본체의 외부를 연통하도록 상기 제 1 방향을 따라서 상기 내부 전면을 관통하여 상기 유체 챔버에 인입하며, 적어도 상기 내부 후면 근처까지 연장하고 있는 액체 도입관과,
상기 노즐 본체의 외부와 상기 유체 챔버를 연통하도록 상기 제 1 방향으로 서로 간격을 두고 각각 상기 내부 저면을 관통하고 있는 복수의 유체 분출로를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는
유체 노즐. - 제 1 항에 있어서,
상기 액체 도입관은, 상기 내부 전면에 가까운 측에 상기 노즐 본체의 외부를 향하여 개구하도록 형성된 액체 유입구와, 상기 내부 저면 쪽을 향하여 상기 제 1 방향으로 길게 개구하도록 형성된 액체 유출구를 갖는 것을 특징으로 하는
유체 노즐. - 제 2 항에 있어서,
상기 노즐 본체는, 그 외부에, 상기 내부 정상면과 표리 관계로 되어 있는 외부 상면과, 상기 내부 저면과 표리 관계로 되어 있는 외부 저면을 갖고 있고,
상기 기체 도입관은 상기 외부 상면 및 상기 내부 정상면 각각의 거의 중앙을 관통하도록 소정의 축선을 따라서 마련되어 있으며,
상기 액체 도입관은 상기 액체 유출구를 2개 갖고 있으며, 2개의 상기 액체 유출구는 각각 상기 축선의 양측으로 연장하며, 각각의 상기 액체 유출구의 개구 방향의 연장선이 상기 축선에 대하여 비스듬하게 되어 있는 것을 특징으로 하는
유체 노즐. - 제 3 항에 있어서,
상기 복수의 유체 분출로는, 각각이 상기 축선에 대하여 비스듬하게 된 방향으로 연장하며 상기 내부 저면과 상기 외부 저면을 관통하도록 형성되어 있는 것을 특징으로 하는
유체 노즐. - 기판 세정 장치에 있어서,
상기 제 1 방향과 직교하는 방향을 따라서 복수 나열된 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 기재된 유체 노즐을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는
기판 세정 장치. - 제 5 항에 있어서,
상기 유체 노즐을 2개 구비하고, 2개의 상기 유체 노즐 중 한쪽의 상기 복수의 유체 분출로와 다른 쪽의 상기 복수의 유체 분출로가 상기 내부 저면으로부터 상기 외부 저면에 근접함에 따라 서로 멀어지도록 연장하고 있는 것을 특징으로 하는
기판 세정 장치. - 제 5 항에 기재된 기판 세정 장치를 이용한 기판 세정 방법에 있어서,
이산화탄소를 순수에 용해시켜서 이루어진 세정액을 상기 유체 노즐의 상기 액체 도입관으로부터 상기 유체 챔버에 주입하는 동시에, 기체를 상기 유체 노즐의 상기 기체 도입관으로부터 상기 유체 챔버에 주입하고, 상기 세정액을 상기 복수의 유체 분출로로부터 상기 유체 노즐의 외부에 분출시켜, 상기 기판에 분사하는 것을 특징으로 하는
기판 세정 방법. - 제 7 항에 있어서,
상기 순수로서 탈이온수를 이용하는 것을 특징으로 하는
기판 세정 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW102124701 | 2013-07-10 | ||
TW102124701A TWI462148B (zh) | 2013-07-10 | 2013-07-10 | Fluid nozzle and fluid nozzle device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150007196A true KR20150007196A (ko) | 2015-01-20 |
KR101568924B1 KR101568924B1 (ko) | 2015-11-12 |
Family
ID=52274202
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140008086A Active KR101568924B1 (ko) | 2013-07-10 | 2014-01-23 | 유체 노즐 및 기판 세정 장치, 및 기판의 세정 방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9737901B2 (ko) |
JP (1) | JP5678217B2 (ko) |
KR (1) | KR101568924B1 (ko) |
DE (1) | DE102014206355A1 (ko) |
TW (1) | TWI462148B (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI584882B (zh) * | 2016-03-11 | 2017-06-01 | Els System Technology Co Ltd | Multi-nozzle device |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3315611B2 (ja) * | 1996-12-02 | 2002-08-19 | 三菱電機株式会社 | 洗浄用2流体ジェットノズル及び洗浄装置ならびに半導体装置 |
JP3939077B2 (ja) * | 2000-05-30 | 2007-06-27 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板洗浄装置 |
US6578369B2 (en) * | 2001-03-28 | 2003-06-17 | Fsi International, Inc. | Nozzle design for generating fluid streams useful in the manufacture of microelectronic devices |
TW200608453A (en) * | 2004-08-20 | 2006-03-01 | Aqua Science Corp | Object treating device and method |
JP2006255603A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Hitachi Chem Co Ltd | 電解水での洗浄方法及び洗浄装置 |
JP4527660B2 (ja) * | 2005-06-23 | 2010-08-18 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理方法及び基板処理装置 |
JP4986566B2 (ja) * | 2005-10-14 | 2012-07-25 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP2008153322A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 二流体ノズル、基板処理装置および基板処理方法 |
US8580042B2 (en) * | 2007-12-10 | 2013-11-12 | Acm Research (Shanghai) Inc. | Methods and apparatus for cleaning semiconductor wafers |
JP2011507685A (ja) * | 2007-12-20 | 2011-03-10 | レイブ・エヌ・ピー・インコーポレーテッド | ノズル用の流体噴射組立体 |
TWI469832B (zh) * | 2008-12-17 | 2015-01-21 | Aqua Science Corp | 對象物清洗方法及對象物清洗系統 |
JP5650896B2 (ja) * | 2009-09-03 | 2015-01-07 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2011129579A (ja) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Sharp Corp | 洗浄装置 |
JP2011151283A (ja) * | 2010-01-25 | 2011-08-04 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP5762925B2 (ja) * | 2010-12-28 | 2015-08-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置および液処理方法 |
US20140026926A1 (en) * | 2012-07-30 | 2014-01-30 | Lam Research Ag | Method and apparatus for liquid treatment of wafer-shaped articles |
-
2013
- 2013-07-10 TW TW102124701A patent/TWI462148B/zh active
-
2014
- 2014-01-08 JP JP2014001461A patent/JP5678217B2/ja active Active
- 2014-01-23 KR KR1020140008086A patent/KR101568924B1/ko active Active
- 2014-03-13 US US14/209,972 patent/US9737901B2/en active Active
- 2014-04-03 DE DE102014206355.8A patent/DE102014206355A1/de not_active Ceased
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201503225A (zh) | 2015-01-16 |
US20150013727A1 (en) | 2015-01-15 |
DE102014206355A1 (de) | 2015-01-29 |
US9737901B2 (en) | 2017-08-22 |
JP5678217B2 (ja) | 2015-02-25 |
TWI462148B (zh) | 2014-11-21 |
JP2015019046A (ja) | 2015-01-29 |
KR101568924B1 (ko) | 2015-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104941948B (zh) | 基板清洗方法及基板清洗装置 | |
JP3653198B2 (ja) | 乾燥用ノズルおよびこれを用いた乾燥装置ならびに洗浄装置 | |
KR101099612B1 (ko) | 스윙노즐유닛 및 그것을 갖는 기판 처리 장치 | |
KR20130012581A (ko) | 혼합 유체 분사 장치 | |
JP6431208B2 (ja) | 基板液処理装置及び方法 | |
US10005092B2 (en) | Nozzle and substrate treating apparatus including the same | |
KR20100045802A (ko) | 매엽식 기판 처리 장치 및 방법 | |
KR100673024B1 (ko) | 노즐 및 이를 가지는 기판 처리 장치 | |
KR101568924B1 (ko) | 유체 노즐 및 기판 세정 장치, 및 기판의 세정 방법 | |
KR100710803B1 (ko) | 기판 세정 장치 | |
KR101933080B1 (ko) | 기판 처리 장치, 공정 유체 처리기 및 오존 분해 방법 | |
KR20160066382A (ko) | 초음파 세정 시스템 | |
KR20110056975A (ko) | 기판 세정용 혼합유체 분사노즐 | |
KR100862231B1 (ko) | 세정액 분사 장치 및 이를 갖는 기판 세정 장치 | |
CN104415930A (zh) | 清洗基板方法、流体喷头及流体喷头装置 | |
KR20080005942U (ko) | 기판 세정용 이류체 공급모듈 및 이를 이용한 세정장치 | |
JP2012114228A (ja) | ウェーハの洗浄方法 | |
JP6656255B2 (ja) | 基板をリンスするシステム及び方法 | |
JP2004016919A (ja) | 微細孔を有するワークの洗浄装置及び洗浄方法 | |
TWM482444U (zh) | 流體噴頭及流體噴頭裝置 | |
KR101987709B1 (ko) | 사류체 노즐 | |
KR102115173B1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
KR101582566B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
TWI785995B (zh) | 噴頭裝置 | |
CN214234531U (zh) | 等离子体清洁喷头及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20140123 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20141223 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20150626 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20150925 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20151106 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20151106 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190604 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190604 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200601 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210601 Start annual number: 7 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20231017 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20241017 Start annual number: 10 End annual number: 10 |