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KR20060126801A - 전자장치 - Google Patents

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KR20060126801A
KR20060126801A KR1020067017616A KR20067017616A KR20060126801A KR 20060126801 A KR20060126801 A KR 20060126801A KR 1020067017616 A KR1020067017616 A KR 1020067017616A KR 20067017616 A KR20067017616 A KR 20067017616A KR 20060126801 A KR20060126801 A KR 20060126801A
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KR
South Korea
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circuit layer
circuit
base substrate
layer
electronic device
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KR1020067017616A
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English (en)
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Inventor
코우지 타사키
히로노리 이시자카
마사히토 시부타니
코우스케 타나카
마사히사 신자와
히데히코 토노츠카
카츠야 이와타
Original Assignee
히다치 가세고교 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Abstract

IC소자(10)와, 표면에 도전층에 의한 안테나 회로(21)가 형성된 제1의 회로층(20)과, 표면에 도전층(31)이 형성된 제2의 회로층(30)을 포함하고, IC소자(10)는 규소로 이루어지는 베이스 기판(11)과, 베이스 기판(11)의 한쪽 면에 반도체회로가 형성된 반도체 회로층(12)과, 반도체 회로층(12) 상에 형성된 전극(13)을 가지고, 제1의 회로층(20)이 베이스 기판(11)의 다른 쪽 면 또는 전극(13)의 어느 한쪽과, 제2의 회로층(30)이 베이스 기판(11)의 다른 쪽 면 또는 전극(13)의 나머지 한쪽과 각각 전기적으로 접속함으로써, 저가로 생산성이 우수하고 동시에 양호한 통신특성을 얻을 수 있는 전자장치를 제공한다.
IC소자, 도전층, 회로층, 전자장치

Description

전자장치{ELECTRONIC DEVICE}
본 발명은 IC소자를 탑재한 비접촉식 개체식별 장치에 관한 것으로, 저가로 생산성이 뛰어나고, 또한 양호한 통신 특성을 얻는 것으로 바람직한 전자장치에 관한 것이다.
최근, RFID(Radio Frequency Identification)택을 이용하는 비접촉식 개체식별 시스템은 사물의 라이프사이클 전체를 관리하는 시스템으로서, 제조, 물류, 판매의 모든 업태에서 주목받고 있다. 특히, 2.45GHz의 마이크로파를 이용하는 전파방식의 RFID택은 IC소자에 외부 안테나를 설치한 구조로, 수미터의 통신 거리가 가능하다는 특징에 의해 주목받고 있고, 현재, 대량의 상품의 물류 및 물품관리나 제조물 이력관리 등을 목적으로 시스템의 구축이 진행되고 있다.
상기 마이크로파를 이용하는 전파방식의 RFID택으로서는, 예를 들면, 주식회사 히다치제작소와 주식회사 르네상스테크놀로지사에 의해 개발된 TCP(Tape Carrier Package)형 인렛(inlet)을 이용한 것이 알려져 있다.
또한, 그 밖의 인렛구조로서, 예를 들면, 주식회사 히다치제작소의 우사미에 의해, IC소자의 전극이 마주 본 1조의 각각의 면에 1개씩 형성된 IC소자에 있어서, 각각의 면에 형성된 각 전극에 다이폴 안테나를 접속하는 유리 다이오드·패키지 구조가 개발되어 있다(특개2002-269520호 공보). 또한, 우사미 등에 의해 상기 2개의 전극이 IC소자가 마주 본 1조의 각각의 면에 1개씩 형성된 IC소자를 여진 슬릿형 다이폴 안테나에 설치할 때에, 안테나에 의해 상기 IC소자의 마주 본 1조의 각각의 면에 1개씩 형성된 각 전극을 끼운, 샌드위치·안테나 구조가 개발되어 있다 (ISSCC Digest of Technical Papers, pp.398~399, 2003년). 여진 슬릿을 갖는 다이폴 안테나 구조는 이 슬릿의 폭 및 길이를 바꾸므로써 안테나의 인피던스와 상기 IC소자의 입력 인피던스를 조정하는 것이 가능해서, 통신 거리를 향상시킬 수 있다.
발명의 개시
RFID택을 이용한 비접촉식 개체식별 시스템에서 대량의 상품의 물류 및 물품관리를 실현하기 위해서는 상품 1개 1개에 RFID택을 설치할 필요가 있고, 그것을 위하여는 RFID택의 저가의 대량 생산이 불가피하게 된다.
그러나, 신호입출력용의 2개의 전극이 동일면내에 형성된 IC소자에서는, IC소자상의 전극과 안테나 회로를 정밀도 좋게 위치 맞춤할 필요가 있다. 특히, 양호한 통신 특성을 얻을 수 있는 여진형 다이폴 안테나 구조에서는 IC소자의 2개의 전극이 여진 슬릿을 걸쳐서 안테나에 접속되므로써 공진 회로를 형성하기 위해서, 동일면상에 모든 전극이 형성된 IC소자에서는 신호입력용의 2개의 전극과 슬릿을 정밀도 좋게 위치 맞춤할 필요가 있다. 그 때문에 종래에는 TAB(Tape Automated Bonding)공법을 이용해서 IC소자를 1개씩 안테나 기판에 설치하고 있었지만, 상기 TAB공법에서는, 다이싱 필름으로부터의 진공흡착기에 의한 동일면상에 모든 전극이 형성된 IC소자의 흡착이나 동일면 상에 모든 전극이 형성된 IC소자와 안테나 기판의 위치 맞춤 및 가열압착, 또한 수지봉지 등의 각 공정을 동일면 상에 모든 전극이 형성된 IC소자에 대해 1개씩 행하기 위해서, 각 공정의 택트 시간을 1초 정도 또는 1초 이하로 단축하는 것은 대단히 곤란하여 대량생산성에 있어서 큰 과제로 되어 있었다.
또한, 택트 시간이 길면, 그 만큼의 인건비 등이 소요되어 저코스트화의 방해가 되는 것에 더해, 동일면상에 모든 전극이 형성된 IC소자와 안테나 기판과의 접속은 금-주석 또는 금-땜납 접합에 따라 행하기 때문에, 기판재료로서 내열성이 뛰어나고, 고가의 폴리이미드 필름에 동박을 붙인 테이프 기재를 이용할 필요가 있으므로, 저렴한 인렛의 생산이 곤란하게 되어있다.
상기 안테나에 의해 2개의 전극이 마주 본 1조의 각각의 면에 1개씩 형성된 IC소자의 각각의 면에 1개씩 형성된 각 전극을 끼우는 샌드위치·안테나 구조를 이용하면, 여진 슬릿과 상기 IC소자의 각각의 면에 1개씩 형성된 각 전극과의 고정밀도의 위치 맞춤이 불필요하게 되지만, 전극을 IC소자의 양면에 형성해야 할 필요는 있다. 이들 전극은, 종래에는, 전기저항이 작고, 내산화성이 뛰어난 금을 이용하는 것이 많아, 저코스트화의 방해가 된다.
본 발명은 상기를 감안하여 이루어진 것으로, 저가로 생산성이 뛰어나고, 동시에 양호한 통신 특성을 얻을 수 있는 전자장치를 제공하는 것이다.
전술의 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 관한 전자장치는 IC소자와 제1 및 제2의 회로층을 포함하는 전자장치에 있어서, 상기 IC소자는 규소로 이루어지는 베이스 기판과, 상기 베이스 기판의 한쪽 면에 반도체회로가 형성된 반도체 회로층과, 상기 반도체 회로층상에 형성된 전극을 가지고, 상기 제1의 회로층이 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면 또는 상기 전극의 어느 한쪽과, 상기 제2의 회로층이 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면 또는 상기 전극의 나머지 한쪽과 각각 전기적으로 접속하고 있다.
상기 제1 및 제2의 회로층의 적어도 1개 이상의 층은 송신, 수신 또는 송수신기능을 갖는 것이 바람직하다.
이 전자장치는 IC소자와 송수신 안테나로서 동작하는 제1 및 제2의 회로층을 포함하고, 상기 IC소자는 규소로 이루어지는 베이스 기판과, 베이스 기판의 한쪽 면에 반도체회로가 형성된 반도체 회로층과, 반도체 회로층 상에 형성된 전극을 가지고, 마주 본 1조의 각각의 면에 위치하는 상기 베이스 기판면의 다른 쪽 면 및 상기 전극의 어느 한쪽이 상기 제1의 회로층과, 그 나머지 한쪽이 상기 제2의 회로층과 전기적으로 접속하고 있는 것이 바람직하다.
이 전자장치는 IC소자와 슬릿이 형성된 송수신 안테나로서 동작하는 제1의 회로층과 상기 IC소자와 상기 안테나를 전기적으로 접속하는 단락판으로서 동작하는 제2의 회로층을 포함하는 전자장치에 있어서, 상기 IC소자는 규소로 이루어지는 베이스 기판과, 베이스 기판의 한쪽 면에 반도체회로가 형성된 반도체 회로층과, 반도체 회로층 상에 형성된 전극을 가지고, 마주 본 1조의 각각의 면에 위치하는 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면 및 상기 전극중 어느 한쪽을 제1의 회로층과 전기적으로 접속하고, 나머지 한쪽을 제2의 회로층과 전기적으로 접속하는 것이 바람직하다.
적어도 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면은 상기 제1 또는 제2의 회로층과 도전성접착제를 통해서 접속되는 것이 바람직하다.
상기 도전성접착제는 열경화성의 매트릭스수지와 입상 혹은 비늘편상 혹은 침상(針狀)의 금속편으로 이루어지는 것이 바람직하다.
적어도 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면은 상기 제1 또는 제2의 회로층과 이방도전성 접착제를 통해서 접속되는 것이 바람직하다.
상기 이방도전성접착제는 매트릭스수지와 금속입자 혹은 표면에 금속층이 형성된 유기수지입자로 이루어지는 도전성입자를 함유하는 것이 바람직하다.
상기 IC소자는 상기 이방도전접착제의 매트릭스수지에 의해 봉지되어 있는 것이 바람직하다.
상기 제1 또는 제2의 회로층의 적어도 한쪽은 알루미늄 혹은 동에 의한 도전층을 포함하는 것이 바람직하다.
상기 제1 또는 제2의 회로층의 적어도 한쪽은 유기수지로 이루어지는 베이스 기재에 지지되어 있고, 상기 유기수지는 염화비닐수지(PVC), 아크릴로니트릴부타디엔스티렌(ABS), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 글리콜 변성 폴리에틸렌테레프탈레이트(PETG), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 폴리카보네이트수지(PC), 2축 연신 폴리에스테르(0-PET), 폴리이미드수지로부터 선택되는 것이 바람직하다.
상기 제1 또는 제2의 회로층의 적어도 하나는 종이로 이루어지는 베이스 기재로 지지되어 있는 것이 바람직하다.
본 발명에 의하면, 저가로 생산성이 뛰어나고, 또한 양호한 통신 특성을 얻을 수 있는 전자장치를 실현할 수 있다.
발명을 실시하기 위한 최선의 형태
이하, 본 발명의 실시형태에 대해서 도면을 이용해서 상세하게 설명한다.
본 발명에 있어서 전자장치는 하나의 면에 전극이 형성되고, 그 대향하는 면이 규소로 이루어지는 베이스 기판인 IC소자와, 적어도 어느 하나가 송수신 안테나로서 동작하는 제1 및 제2의 회로층을 포함하는 것이다.
도1에 본 실시형태의 전자장치인 RFID택용 인렛의 일례이며, 다이폴 안테나에 IC소자를 설치한 인렛의 개략도를 나타낸다. 도1(a)는 상면에서 본 개략도이며, 도1(b)는 A-A'부분의 단면개략도이다. 상기 IC소자(10)에는 규소로 이루어지는 베이스 기판(11)과, 베이스 기판(11)면의 한쪽 면에 형성된 반도체 회로층(12)과, 이 반도체 회로층(12) 상에 전극(13)이 각각 형성되어 있다. 상기 IC소자(10)는 전극(13)에 의해 이방도전성접착제층(40)에 함유되는 도전입자(41)를 통해서, 안테나로서 동작하는 제1의 회로층(20)에 접속되어 있다. 또한, 상기 IC소자(10)는 베이스 기판(11)의 다른 쪽 면을 따라 이방도전성접착제층(40)에 함유되는 도전입자(41)를 통해서 동일하게 안테나로서 동작하는 제2의 회로층(30)에 접속되어 있다. IC소자(10)의 전극(13)은 제1의 회로층(20)과, 베이스 기판(11)은 제2의 회로층(30)과 각각 전기적으로 접속되어 있다.
또한, 본 발명에 있어서의 전자장치는 하나의 면에 전극(13)이 형성되고, 그 대향하는 면이 규소로 이루어지는 베이스 기판(11)인 IC소자(10)와, 슬릿이 형성되고, 송수신 안테나로서 동작하는 제1의 회로층(20)과 상기 IC소자(10)와 상기 제1의 회로층(20)을 전기적으로 접속하는 단락판으로서 동작하는 제2의 회로층(30)을 포함하는 것이다.
여진 슬릿을 갖는 다이폴 안테나 구조는 이 슬릿의 폭 및 길이를 바꾸므로써 안테나의 인피던스와 상기 IC소자(10)의 입력 인피던스를 정합하는 것이 가능해서, 양호한 통신 특성을 얻는데에 바람직한 구조이다.
도2에 본 실시형태의 전자장치인 RFID택용 인렛의 일례이며, 여진 슬릿형 다이폴 안테나에 IC소자(10)를 설치한 샌드위치·안테나 구조를 가지는 인렛을 나타낸다. 도2(a)는 이 인렛을 상면에서 본 개략도이며, 도2(b)는 도2(a)의 B-B'부분의 단면개략도이다. 이 도2를 이용하여, 상기 인렛의 구조를 간단하게 설명한다.
IC소자(10)에는 도1(b)에 나타낸 예와 동일하게 규소로 이루어지는 베이스 기판(11)과, 베이스 기판(11)면 상에 형성된 반도체 회로층(12)과, 반도체 회로층(12) 상에 형성된 전극(13)이 각각 형성되어 있다. 상기 IC소자(10)는 전극(13)에 의해 베이스 기재(22) 및 안테나 회로(21)로 구성되고, 제1의 회로층(20)에 제1의 접속부(2)에서, 이방도전성접착제층(40)에 함유되는 도전입자(41)를 통해서 접속되어 있다. 동일하게 베이스 기재(32) 및 도전층(31)으로 구성되고, 제2의 회로층(30)과 상기 IC소자(10)의 베이스 기판(11)이 제2의 접속부(3)에서, 또한, 제2의 회로층(30)과 제1의 회로층(20)이 제3의 접속부(4)에서, 이방도전성접착제층(40)에 함유되는 도전입자(41)를 통해서 각각 접속되어 있다. 상기 IC소자(10)의 베이스 기판(11)의 제2의 접속부(3)와 제1의 회로층(20) 상의 제3의 접속부(4)는 제1의 회로층(20)에 형성된 슬릿(1)을 걸쳐서 접속되는 구조로 된다. 즉, 상기 IC소자(10)의 전극(13)과 베이스 기판(11)은 제1의 접속부(2), 안테나 회로(21), 제3의 접속부(4), 제2의 회로층(30)의 도전층(31) 및 제2의 접속부(3)를 통해서 전기적으로 접속된다. 또한, 제1의 회로층(20)과 제2의 회로층(30)의 틈은 이방도전성접착제층(40)의 매트릭스수지(42)에 의해 봉지되어 있다. 또한, 도2에서는 IC소자(10)의 베이스 기판(11)이 제2의 회로층(30)의 도전층(31)과, 전극(13)이 안테나 회로(21)와 접속된 구조를 나타냈지만, IC소자(10)의 베이스 기판(11)과 전극(13)이 반전한 구조이어도, 인렛으로서의 성능에 변함이 없다.
다음에, 샌드위치·안테나 구조를 가지는 RFID택용 인렛의 제조방법에 대해서 예를 들어서 설명한다.
본 발명에 있어서 상기 전자장치의 제조방법의 제1의 예는 금속박을 이용해서 안테나 회로를 형성하는 공정 및 베이스 기재 상에 상기 안테나 회로를 설치하므로써 제1의 회로층을 형성하는 공정 혹은 베이스 기재상에 설치한 금속박으로 안테나 회로를 설치하므로써 상기 제1의 회로층을 형성하는 공정, 상기 안테나 회로 상의 IC소자 탑재부 및 제2의 회로층과의 접속부에 제1의 도전성접착제층 혹은 이방도전성접착제층을 형성하는 공정, 상기 제1의 회로층의 안테나 회로 상에 IC소자를 위치 맞춤하여 가고정하는 공정, 상기 IC소자 상에 제2의 도전성접착제층 혹은 이방도전성접착제를 형성하는 공정, 가고정한 상기 IC소자 및 상기 제1의 회로층의 안테나 회로 상의 소정의 위치에 전기적으로 접속하도록 도전층을 형성한 상기 제2의 회로층을 위치 맞춤하는 공정, 상기 제2의 회로층을 상기 IC소자 및 제1의 회로층 상에 제2의 도전성접착제층 혹은 이방도전성접착제층을 통해 일괄하여 가열압착하는 공정을 적어도 갖는 것이다.
또한, 본 발명에 있어서 상기 전자장치의 제조방법의 제2의 예는 금속박을 이용해서 안테나 회로를 형성하는 공정 및 베이스 기재 상에 상기 안테나 회로를 설치하므로써 제1의 회로층을 형성하는 공정 혹은 베이스 기재 상에 설치한 금속박으로 안테나 회로를 설치하므로써 상기 제1의 회로층을 형성하는 공정, 상기 제1의 회로층의 안테나 회로 상의 IC소자 탑재부에 제1의 도전성접착제층 혹은 이방도전성접착제층을 형성하는 공정, 상기 제1의 회로층의 안테나 회로 상에 IC소자를 위치 맞춤하여 가고정하는 공정, 상기 IC소자 상에 제2의 도전성접착제 혹은 이방도전성접착제층을 형성하는 공정, 가고정한 상기 IC소자 및 상기 제1의 회로층의 안테나 회로상의 소정의 위치에 전기적으로 접속하도록 도전층을 형성한 제2의 회로층을 위치 맞춤하는 공정, 상기 제2의 회로층을 상기 IC소자 상에 제2의 도전성접착제층 혹은 이방도전성접착제층을 통해서 가열압착하는 공정, 상기 제1의 회로층의 안테나 회로의 소정의 위치에 상기 제2 회로층을 초음파를 인가하면서 압착하는 공정을 적어도 갖는 것이다.
또한, 본 발명에 있어서 상기 전자장치의 제조방법의 제3의 예는 금속박을 이용해서 안테나 회로를 형성하는 공정 및 베이스 기재 상에 상기 안테나 회로를 설치하므로써 제1의 회로층을 형성하는 공정 혹은 베이스 기재 상에 설치한 금속박으로 안테나 회로를 설치하므로써 상기 제1의 회로층을 형성하는 공정, 상기 제1의 회로층의 안테나 회로 상의 IC소자 탑재부에 제1의 도전성접착제층 혹은 이방도전성접착제층을 형성하는 공정, 상기 제1의 회로층의 안테나 회로상에 IC소자를 위치 맞춤하여 가고정하는 공정, 상기 IC소자 상에 제2의 도전성접착제 혹은 이방도전성접착제층을 형성하는 공정, 가고정한 상기 IC소자 및 상기 제1의 회로층의 안테나 회로 상의 소정의 위치에 전기적으로 접속하도록 도전층을 형성한 제2의 회로층을 위치 맞춤하는 공정, 상기 제2의 회로층을 상기 IC소자 상에 제2의 도전성접착제층 혹은 이방도전성접착제층을 통해서 가열압착하는 공정, 상기 제1의 회로층의 안테나 회로의 소정의 위치에 상기 제2의 회로층을 복수의 침상의 돌기를 갖는 치구(治具)로 기계적으로 압접하는 공정을 적어도 갖는 것이다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, IC소자의 전극 및 베이스 기판중의 어느 것이든 제1 회로층과 접속해도, 또한, 전극 및 베이스 기판의 면방향으로 회전해도 전자장치로서의 성능이 변하지는 않고, 상기 IC소자를 특정한 방향으로 나열할 필요가 없기 때문에, 본 발명의 구조는 대량생산을 실현하는 점에서 바람직하다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 적어도 IC소자의 베이스 기판의 접속부는 도전 접착제 혹은 이방도전성접착제를 통해서 형성된다. 상기 도전성접착제는 열경화성의 매트릭스수지와 입상 혹은 비늘편상 혹은 침상의 금속편을 함유한다. 또한, 상기 이방도전성접착제는 매트릭스수지와 금속입자 혹은 표면에 금속층이 형성된 유기수지입자로 이루어지는 도전성입자를 함유한다. IC소자와 제1 및 제2의 회로층을 가열압착할 때에, 매트릭스수지중에 함유되는 금속편 혹은 도전성입자가 IC소자의 규소로 이루어지는 베이스 기판에 밀착한 상태에서 고정되기 때문에 양호한 전기적 접속을 얻을 수 있다.
이방도전성접착제를 통해서 접속을 행할 경우에는 IC소자를 제1 및 제2의 회로층과 가열압착함으로써 전기적 접속을 하는 동시에, 제1 및 제2의 회로층의 틈을 봉지할 수 있다. 이 경우, 이방도전성접착제층의 두께의 합계를 적어도 상기 IC소자의 두께의 2분의 1 이상으로 하는 것이 제1 및 제2의 회로층의 봉지성을 얻을 수 있고, 고신뢰성을 실현하는 점에서 바람직하다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 제1 회로층의 안테나 회로를 형성하는 금속박 및 제2의 회로층을 형성하는 도전층의 적어도 하나는 알루미늄 혹은 동이다
상기 제1~제3의 예에 있어서, 제1 및 제2의 회로층의 제1 및 제2의 금속박의 적어도 하나는 유기수지 또는 종이로 이루어지는 베이스 기재에 지지되어 있다. 상기 유기수지는 염화비닐수지(PVC), 아크릴로니트릴부타디엔스티렌(ABS), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 글리콜 변성 폴리에틸렌테레프탈레이트(PETG), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 폴리카보네이트수지(PC), 2축 연신 폴리에스테르(O-PET), 폴리이미드수지로부터 선택된다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 제1의 회로층을 형성하는 방법으로서는, 예를 들면, 금속박을 이용해서 안테나 회로를 형성하고나서 베이스 기재 상에 설치하므로써 제1 회로층을 형성하는 방법, 베이스 기재 상에 금속박을 설치하고 나서 에칭 등에 의해 안테나 회로를 형성하므로써 제1의 회로층을 형성하는 방법이 있다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 제2 회로층을 형성하기 위해서 도전층을 베이스 기재 상에 설치하는 방법으로서는, 예를 들면, 금속박을 간단하게 상기 베이스 기재 상에 첩부만하는 방법이 있고, 상기 금속박에 대해서 에칭 등의 처리를 할 필요가 없으므로, 저코스트화 할 수 있는 점에서 바람직하다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 도1에 있어서 A-A'방향을 폭방향이라고 했을 때, 제2의 회로층은 슬릿을 걸쳐서 상기 IC소자에 걸리는 정도의 길이를 갖는 것이 필요하고, 안테나 회로의 폭과 거의 동등한 길이를 갖고 있는 것이 인렛 전체의 외관상 바람직하다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 상기 각 공정을 거쳐, 본 발명의 전자장치인 인렛구조를 얻을 수 있다.
상기 인렛에 대해서, RFID택의 형태로 사용할 때에는, 인렛의 상하에 커버 시트를 설치하는 것이 회로를 보호해서 쇼트 등을 막는 점에서 바람직하다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 상기 IC소자와 제2의 회로층을 이용하고, 슬릿을 걸친 접속 구조로 함으로써 상기 IC소자와 안테나 회로 상의 여진 슬릿의 고정밀도한 위치 맞춤이 불필요하기 때문에, 복수의 상기 IC소자를, 예를 들면, 체(篩)나 금형을 사용해서 정렬시키는 것과 같은 거친 위치 정밀도에서도, 일괄해서 제1의 회로층에 양호하게 설치할 수 있다. 즉, 상기 IC소자를 1개씩 설치한 경우에 비하여 뛰어난 생산성을 실현할 수 있다. 생산성을 향상시킴으로써 인렛 1개당의 택트 시간을 단축할 수 있다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 상기 IC소자와 제2의 회로층을 사용하고, 슬릿을 걸친 접속 구조를 형성하기 위해서, 도전성접착제 혹은 이방도전성접착제층을 통해서 접속을 하기 때문에 상기 IC소자의 규소로 이루어지는 베이스 기판 상에 금 등을 이용하여 전극을 형성할 필요가 없고, 저코스트화를 실현할 수 있다.
상기 제1~제3의 예에 있어서, 상기 IC소자와 제1 및 제2의 회로층의 전기적 접속은 도전성접착제 혹은 이방도전성접착제층을 통해서 행하고, 또한, 제1 및 제2의 회로층의 전기적 접속은 도전성접착제 혹은 이방도전성접착제층을 통한 접속, 혹은 초음파를 인가해서 행하는 접속, 혹은 복수의 침상의 돌기를 갖는 치구를 이용한 기계적 압접으로 행하기 때문에, 안테나 회로 상의 표면 도금이 불필요한 것, 또한, 금속접합을 형성하기 위해서 200℃이상의 고온에서의 본딩에 견디는 고내열성 베이스 기재가 불필요한 것으로 부터, 저렴한 베이스 기재 및 안테나 회로의 사용이 가능해지고, 저코스트화를 실현할 수 있다.
예를 들면, 종래의 금-주석 접합 등으로 접속할 경우에는 제1의 회로층의 베이스 기재로서 내열성이 높은 폴리이미드를 사용할 필요가 있는 것에 대해, 예를 들면, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트 등을 사용할 수 있다. 또한, 상기 접속부의 안테나 회로 상의 표면에 주석 도금 등을 실시할 필요가 없는 것으로 부터, 주석이나 땜납의 도금성이 나쁘지만 저렴한 알루미늄을 안테나 회로의 재료에 사용할 수 있다.따라서, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트의 베이스 기재에 알루미늄의 안테나 회로를 형성해서 얻어진 제1의 회로층은 저렴한 RFID택용 인렛을 제조하기 위한 바람직한 부재이다.
즉, 본 발명의 전자장치는 IC소자와 슬릿이 형성된 송수신 안테나로서 동작하는 제1의 회로층과, 상기 IC소자와 상기 안테나를 전기적으로 접속하는 단락판으로서 동작하는 제2의 회로층을 포함하는 전자장치에 있어서, 상기 IC소자는 규소로 이루어지는 베이스 기판과, 베이스 기판 상에 반도체회로가 형성된 반도체 회로층과, 반도체 회로층 상에 형성된 전극을 가지고, 마주 본 1조의 각각의 면에 위치하는 상기 전극(베이스 기판의 한쪽 면) 및 상기 베이스 기판면(베이스 기판의 다른 쪽 면)중 한쪽이 상기 제1의 회로층과 전기적으로 접속하고, 나머지 한쪽이 상기 제2의 회로층과 전기적으로 접속하고 있는 것을 특징으로 하는 전자장치이다.
상기 제1~제3의 예에서 설명한 것과 같이, 적어도 상기 IC소자의 규소로 이루어지는 베이스 기판면과 제1 및 제2의 회로층의 전기적 접속부가 도전성접착제 혹은 이방도전성접착제를 통해서 행하여지는 것에 따라, 인렛을 저코스트로 생산할 수 있는 동시에, 그 생산성을 비약적으로 향상시킬 수 있다.
[도1] 도1은 본 발명의 인렛을 상면에서 본 구조를 나타내는 도면이다.
[도2] 도2는 본 발명의 샌드위치·안테나 구조의 인렛을 상면에서 본 구조와 단면구조를 나타내는 도면이다.
[도3] 도3은 본 발명의 제1의 실시형태를 설명하기 위한 제조 공정도이다.
[도4] 도4는 본 발명의 제2의 실시형태를 설명하기 위한 제조 공정도이다.
[도5] 도5는 본 발명의 제3의 실시형태를 설명하기 위한 제조 공정도이다.
[도6] 도6은 본 발명의 제4의 실시형태를 설명하기 위한 제조 공정도이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 관하여 도면을 이용해서 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.
<제1의 실시형태>
이하, 도3을 이용하여, 제1의 실시형태를 설명한다.
우선, 도3(a)에 나타낸 바와 같이, 두께 50㎛의 폴리에틸렌테레프탈레이트에 의한 베이스 기재(22)에 두께 9㎛의 알루미늄 박을 접착제로 붙인 테이프상 기재의 알루미늄 박면에, 스크린 인쇄로 에칭 레지스트를 형성한 후, 에칭액에 염화제이철수용액을 이용하고, 안테나 회로(21)를 형성하여, 제1의 회로층(10)을 작성한다. 여기에서, 안테나 회로(21)의 안테나 폭을 2.5mm, 슬릿 폭을 0.5mm로 했다.
도면은 이하의 공정을 포함하고, 도2의 B-B'에서 절단했을 경우의 단면을 나타낸다.
다음에, 도3(b)에 나타낸 바와 같이, 안테나 회로(21) 상의 소정의 위치에, 폭 2mm의 이방도전성접착 필름(40)(AC-2052P-45(히타치화성공업(주)제))을 80℃에서 라미네이트 하고, 세퍼레이터 필름을 벗겨서 이방도전성접착제층(40)을 형성했다.
다음에, 도3(c)에 나타낸 바와 같이, IC소자(10)를 안테나 회로(21) 상의 소정의 위치에 위치 맞춤하고 가고정했다. 도면에는 전극(13)이 안테나 회로(21)면에 대향도록 나타냈지만, 상하를 반전해 베이스 기판(11)이 안테나 회로(21)면에 대향하도록 가고정해도 지장은 없다.
다음에, 도3(d)에 나타낸 바와 같이, 두께 50㎛의 폴리에틸렌테레프탈레이트에 의한 베이스 기재(32)에 두께 9㎛의 알루미늄 박을 접착제로 붙인 폭 2mm의 테이프상 기재의 알루미늄 박면 상에, 상기 테이프 기재와 같은 폭의 상기 이방도전 성접착 필름(40)을 80℃에서 라미네이트하고, 세퍼레이터 필름을 벗기고, 이방도전성접착제층(40)에 부착된 제2의 회로층(30)으로 한 후, 상기 이방도전성접착제층(40)이 IC소자(10)에 대향하는 방향으로, 제1의 회로층(20)과 소정의 위치에 맞추어 가고정했다.
다음에, 도3(e)에 나타낸 바와 같이, 이방도전성접착재층(40)에 부착된 제2의 회로층(30)측에서 압착 헤드를 강하하고, 압력 12MPa, 온도 180℃, 가열 시간 15초의 조건에서, 상기 이방도전성접착제층(40)에 부착된 제2의 회로층(30)을 제1의 회로층(20)의 상기 IC소자(10) 및 안테나 회로(21)에 대하여 소정의 위치에 일괄해서 가열압착함과 동시에, 제1의 회로층(20)과 제2의 회로층(30)의 틈을 봉지했다. 압착 헤드에는 상기 IC소자(10)와 제1의 회로층(20) 및 제2의 회로층(30)의 접속과, 제1의 회로층(20) 및 제2의 회로층(30)의 접속이 동시에 일어날 수 있도록, 상기 IC소자(10)의 두께 분의 돌기가 소정의 위치에 형성되어 있다.
이상의 공정에서, 도2 및 도3(e)에 나타내는 형상의 인렛을 얻었다. 또한, 통신 시험을 행한 결과, 통신 불량은 없었다.
본 공정을 이용하면, IC소자(10)의 규소로 이루어지는 베이스 기판(11)(상기 다른 쪽 면) 상에 전극을 형성할 필요가 없기 때문에, 양호한 통신 특성을 갖는 인렛을 저코스트로 실현할 수 있다.
<제2의 실시형태>
이하, 도4를 이용하여, 제2의 실시형태를 설명한다.
우선, 도4(a)에 나타낸 바와 같이, 도3(c)까지는 제1의 실시형태와 동일한 공정을 이용하여, 상기 제1의 회로층(20)의 가공을 행하고, 상기 이방도전성접착 필름을 안테나 회로 상에 라미네이트 하여 이방도전성접착제층(40)을 형성하고, 안테나 회로(21) 상의 소정의 위치에, 상기 IC소자(10)를 가고정했다.
다음에, 도4(b)에 나타낸 바와 같이, 상기 IC소자(10)의 안테나 회로(21)에 대향하는 면과는 반대면 상에 은 필러 함유 도전성접착제(50)를 도포했다.
다음에, 도4(c)에 나타낸 바와 같이, 두께 50㎛의 폴리에틸렌테레프탈레이트에 의한 베이스 기재(32)에, 두께 9㎛의 알루미늄 박을 접착제로 붙여서 도전층(31)으로 하고, 폭 2mm의 테이프상의 제2의 회로층(30)으로 한 후, 상기 알루미늄 박에 의한 도전층(31)이 IC소자(10)에 대향하는 방향으로, 제1의 회로층(20)과 소정의 위치에 맞추어 가고정했다
다음에, 도4(d)에 나타낸 바와 같이, 제2의 회로층(30)측에서 압착 헤드를 강하하고, 압력 12MPa, 온도 180℃, 가열시간 15초의 조건에서, 상기 제2의 회로층(30)을 제1의 회로층(20)의 상기 IC소자(10) 및 안테나 회로(21)에 대하여 소정의 위치에 일괄해서 가열압착하는 동시에, 제1의 회로층(20)과 제2의 회로층(30)의 틈을 봉지했다. 압착 헤드에는, 상기 IC소자(10)와 제1의 회로층(20) 및 제2의 회로층(30)의 접속과, 제1의 회로층(20) 및 제2의 회로층(30)의 접속이 동시에 일어날 수 있도록, 상기 IC소자(10)의 두께 분의 돌기가 소정의 위치에 형성되어 있다.
이상의 공정에서, 도2 및 도4(d)에 나타내는 형상의 인렛을 얻었다. 또한, 통신 시험을 행한 결과, 통신 불량은 없었다.
본 공정를 이용하면, 제1의 실시형태와 동일하게 IC소자(10)의 규소로 이루 어지는 베이스 기판(11)(상기 다른 쪽 면) 상에 전극을 형성할 필요가 없기 때문에, 양호한 통신 특성을 갖는 인렛을 저코스트로 실현할 수 있다.
<제3의 실시형태>
이하, 도5를 이용하여, 제3의 실시형태를 설명한다.
우선, 도5(a)에 나타낸 바와 같이, 도3(c)까지는 제1의 실시형태와 동일한 공정을 이용하여, 상기 제1의 회로층(20)의 가공을 행하고, 상기 이방도전성접착 필름을 안테나 회로(21) 상의 IC소자(10)의 설치 위치의 근방의 소정의 위치에 라미네이트하여 이방도전성접착제층(40)을 형성하고, 안테나 회로(21) 상의 소정의 위치에 상기 IC소자(10)를 가고정했다.
다음에, 도5(b)에 나타낸 바와 같이, 도3(d)와 동일한 공정을 이용하여, 이방도전성접착제층(40)을 IC소자(10)의 접속 위치의 근방의 소정의 장소에 형성한 이방도전성접착제층(40)에 부착된 제2의 회로층(30)을 준비한 후, 상기 이방도전성접착제층(40)이 IC소자(10)에 대향하는 방향으로, 제1의 회로층(20)과 소정의 위치에 맞추어 가고정했다.
다음에, 도5(c)에 나타낸 바와 같이, 제2의 회로층(30)측에서 압착 헤드를 강하하고, 압력 12MPa, 온도 180℃, 가열시간 15초의 조건에서 상기 제2의 회로층(30)을 제1의 회로층(20)의 상기 IC소자(10)에 대하여 소정의 위치에 일괄해서 가열압착하는 동시에, 제1의 회로층(20)과 제2의 회로층(30) 사이의 IC소자(10)의 근방을 봉지했다.
다음에, 도5(d)에 나타낸 바와 같이, 제2의 회로층(30)과 제1의 회로층(20) 의 접속부에 제2의 회로층(30)측으로부터 초음파 접합헤드(110)를 강하하고, 출력 1W의 초음파진동을 압력 12MPa, 온도 180℃, 인가시간 1초의 조건에서 인가하면서 초음파접합을 행하였다.
이상의 공정에서, 도2 및 도5(d)에 나타내는 형상의 인렛을 얻었다. 또한, 통신 시험을 행한 결과, 통신 불량은 없었다.
본 공정을 이용하면, 제1 및 제2의 실시형태와 동일하게, IC소자(10)의 규소로 이루어지는 베이스 기판(11) 상(상기 다른 쪽 면)에 전극을 형성할 필요가 없기 때문에 양호한 통신 특성을 갖는 인렛을 저코스트로 실현할 수 있다.
<제4의 실시형태>
이하, 도6을 이용하여, 제4의 실시형태를 설명한다.
우선, 도6(a)에 나타낸 바와 같이, 도5(c)까지는 제3의 실시형태와 동일한 공정을 이용하여, 제1의 회로층(20)의 가공, 이방도전성접착제층(40)의 형성, 안테나 회로(21) 상의 소정의 위치에서의 IC소자(10)를 가고정, 이방도전성접착제층(40)에 부착된 제2의 회로층(30)의 준비 및 제1의 회로층(20)에의 가고정, 제2의 회로층(30)의 가열압착을 순서대로 행하였다.
다음에, 도6(b)에 나타낸 바와 같이, 제1의 회로층(20)과 제2의 회로층(30)의 접속부를 다수의 침상의 요철을 갖는 1조의 코킹(caulking) 치구(120)를 이용해서 압접을 행하였다. 압접에 의해 제1의 회로층(20)과 제2의 회로층(30)의 알루미늄 박끼리가 소성변형을 일으키고, 기계적으로 접촉한 상태에서 고정되어 전기적 접속을 얻을 수 있다. 즉, 제1의 회로층(20)의 안테나 회로(21)와 제2의 회로 층(30)의 도전층(31)이 전기적으로 접속한다.
이상의 공정에서, 도2 및 도6에 나타내는 형상의 인렛을 얻었다. 또한, 통신 시험을 행한 결과, 통신 불량은 없었다.
본 공정을 이용하면, 제1~제3의 실시형태와 동일하게 IC소자(10)의 규소로 이루어지는 베이스 기판(11) 상(상기 다른쪽 면)에 전극을 형성할 필요가 없기 때문에 양호한 통신 특성을 가지는 인렛을 저코스트로 실현할 수 있다.
이상의 실시예의 결과를 정리해서 표1에 나타낸다.
[표 1]
실시형태 통신불량 (불량수/총수) 최대통신거리 평균치(mm) 최대통신거리 최소치(mm)
제1의 실시형태 0/40 252 247
제2의 실시형태 0/40 251 245
제3의 실시형태 0/40 251 246
제4의 실시형태 0/40 252 246

Claims (9)

  1. IC소자와, 제1 및 제2의 회로층을 포함하는 전자장치에 있어서,
    상기 IC소자는, 규소로 이루어지는 베이스 기판과, 상기 베이스 기판의 한쪽 면에 반도체회로가 형성된 반도체 회로층과, 상기 반도체 회로층 상에 형성된 전극을 가지고,
    상기 제1의 회로층이 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면 또는 상기 전극의 어느한쪽과, 상기 제2의 회로층이 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면 또는 상기 전극의 나머지 한쪽과 각각 전기적으로 접속하고 있는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  2. 제1항에 있어서, 적어도, 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면은 상기 제1 또는 제2의 회로층과 도전성접착제를 통해서 접속되는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 도전성접착제는 열경화성의 매트릭스수지와, 입상 혹은 비늘편상 혹은 침상의 금속편으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  4. 제1항에 있어서, 적어도, 상기 베이스 기판의 다른 쪽 면은 상기 제1 또는 제2의 회로층과 이방도전성접착제를 통해서 접속되는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 이방도전성접착제는 매트릭스수지와, 금속입자 혹은 표면에 금속층이 형성된 유기수지입자로 이루어지는 도전성입자를 함유하는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  6. 제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 IC소자는 상기 이방도전접착제의 매트릭스수지에 의해 봉지되어 있는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 또는 제2의 회로층의 적어도 한쪽은 알루미늄 혹은 동에 의한 도전층을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 또는 제2의 회로층의 적어도 하나는 유기수지로 이루어지는 베이스 기재에 지지되어 있고, 상기 유기수지는 염화비닐수지(PVC), 아크릴로니트릴부타디엔스티렌(ABS), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 글리콜 변성 폴리에틸렌테레프탈레이트(PETG), 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 폴리카보네이트수지(PC), 2축 연신 폴리에스테르(0-PET), 폴리이미드수지로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 전자장치.
  9. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 또는 제2의 회로층의 적어도 한쪽은 종이로 이루어지는 베이스 기재에 지지되어 있는 것을 특징으로 하 는 전자장치.
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Patent event date: 20070927

Patent event code: PE09021S01D

AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
PE0601 Decision on rejection of patent

Patent event date: 20080829

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PE06012S01D

Patent event date: 20070927

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PE06011S01I

AMND Amendment
J201 Request for trial against refusal decision
PJ0201 Trial against decision of rejection

Patent event date: 20080930

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event code: PJ02012R01D

Patent event date: 20080829

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PJ02011S01I

Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal

Decision date: 20081127

Appeal identifier: 2008101010111

Request date: 20080930

PB0901 Examination by re-examination before a trial

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20080930

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event date: 20080930

Patent event code: PB09011R01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20080425

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20061010

Patent event code: PB09011R02I

B701 Decision to grant
PB0701 Decision of registration after re-examination before a trial

Patent event date: 20081127

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event code: PB07012S01D

Patent event date: 20081104

Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial

Patent event code: PB07011S01I

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Comment text: Registration of Establishment

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