KR200153650Y1 - Precision angle sensor inspection device using mirror - Google Patents
Precision angle sensor inspection device using mirror Download PDFInfo
- Publication number
- KR200153650Y1 KR200153650Y1 KR2019970005770U KR19970005770U KR200153650Y1 KR 200153650 Y1 KR200153650 Y1 KR 200153650Y1 KR 2019970005770 U KR2019970005770 U KR 2019970005770U KR 19970005770 U KR19970005770 U KR 19970005770U KR 200153650 Y1 KR200153650 Y1 KR 200153650Y1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- angle sensor
- mirror
- angle
- precision
- inspection device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/22—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/56—Gauges for measuring angles or tapers, e.g. conical calipers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/002—Active optical surveying means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
1. 청구범위에 기재된 고안이 속한 기술분야.1. The technical field to which the invention described in the claims belongs.
본 고안은 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장체에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection object for precision angle sensor using a mirror.
2. 고안이 해결하려고 하는 기술적 과제.2. The technical problem the invention is trying to solve.
본 고안은 정밀 각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 제공함에 있다.The present invention measures the mechanical angle shift optically to enable inspection of the precision angle sensor and compares it with the electrical output (angle) of the angle sensor under test and compares the performance of the angle sensor under test It is to provide a precision angle sensor inspection device using a mirror that can adjust the gain.
3. 고안의 해결방법의 요지.3. Summary of the solution of the design.
본 고안은 정밀각도센서를 검사하거나 관련전자회로의 조정을 위하여 미러가 부착된 검사장치를 제작하여 센서의 이동각을 광학적으로 확인하고 이와 센서의 전기적 각도 출력을 비교하여 정확도를 확인하여 조정할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 특징으로 한다.The present invention is designed to inspect the precision angle sensor or to manufacture an inspection device with a mirror for the adjustment of the related electronic circuit to optically check the moving angle of the sensor and compare the electrical angle output of the sensor with the accuracy to adjust it. It features a precision angle sensor inspection device using a mirror.
4. 고안의 중요한 용도.4. Significant Uses of the Invention.
본 고안은 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치This invention is a precision angle sensor inspection device using a mirror
Description
본 고안은 서보제어용으로 사용되는 정밀 각도센서(RESOLVER, TACOMETER등)의 검사장치에 관한 것으로, 특히 정밀각도센서를 검사하거나 관련전자회로의 조정을 위하여 미러가 부착된 검사장치를 제작하여 센서의 이동각을 광학적으로 확인하고 이와 센서의 전기적 각도 출력을 비교하여 정확도를 확인하여 조정할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection device for precision angle sensors (RESOLVER, TACOMETER, etc.) used for servo control. In particular, the inspection of a precision angle sensor or the manufacture of a mirror-mounted inspection device for adjustment of related electronic circuits moves the sensor The present invention relates to a precision angle sensor inspection device using a mirror that can optically check the angle and compare the electrical angle output of the sensor with the accuracy to check and adjust the accuracy.
종래에는 정밀 각도센서의 자체 성능평가 또는 구동전기회로의 조정(ADJUST)을 위하여 기준이 되는 시준기가 있어야 하고, 이 시준기로 피시험체 보다 성능이 우수한 각도센서 사용하였다. 상기 정밀 각도센서의 자체 성능평가 또는 구동전기회로의 조정(ADJUST) 을 위하여 기준이 되는 레퍼런스 센서를 사용한다. 그러나 아주 정밀한 센서를 검사하여야 할 때는 레퍼런스 센서의 정밀도가 문제가 될 수 있다. 보통 레퍼런스 센서는 피시험 센서보다 10배 이상의 정확도를 유지하여야 한다. 또한 레퍼런스 센서의 구동전자회로에 의한 오차도 존재하므로 정밀한 각도 센서의 평가나 시험이 불가능 하였다.Conventionally, a standard collimator should be used for self-performance evaluation of a precision angle sensor or adjustment of a driving electric circuit (ADJUST). As a collimator, an angle sensor having better performance than a test object was used. A reference sensor is used as a reference for self-performance evaluation of the precision angle sensor or adjustment of the driving electric circuit (ADJUST). However, the accuracy of the reference sensor can be a problem when you need to inspect a very precise sensor. Normally, the reference sensor should be 10 times more accurate than the sensor under test. In addition, there was an error caused by the driving electronic circuit of the reference sensor, so that it was impossible to evaluate or test the precise angle sensor.
본 고안의 목적은 정밀 각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 제공함에 있다.The purpose of the present invention is to measure the mechanical angle shift optically to enable inspection of the precision angle sensor and to compare it with the electrical output (angle) of the angle sensor under test and to evaluate the performance of the angle sensor under test An object of the present invention is to provide a precision angle sensor inspection device using a mirror that can adjust the gain of a circuit.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은 정밀각도센서를 검사하거나 관련전자회로의 조정을 위하여 미러가 부착된 검사장치를 제작하여 센서의 이동각을 광학적으로 확인하고 이와 센서의 전기적 각도 출력을 비교하여 정확도를 확인하여 조정할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is to inspect the precision angle sensor or to manufacture a test device with a mirror for adjusting the related electronic circuit to optically check the moving angle of the sensor and to compare the electrical angle output of the sensor It features a precision angle sensor inspection device using a mirror that can be adjusted by checking the accuracy.
도 1은 본 고안의 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치의 구성도.1 is a block diagram of a precision angle sensor inspection device using a mirror of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 미러 장착대 2 : 미러1: Mirror Mount 2: Mirror
3 : 각도센서 고정자 4 : 각도센서 회전자3: angle sensor stator 4: angle sensor rotor
5 : 각도센서 장착대 6 : 각도이동 손잡이5: angle sensor mount 6: angle shift knob
7 : 장착판 8 : 구동회로7: mounting plate 8: driving circuit
9 : 각도센서 고정대 10 : 회전판9: angle sensor fixture 10: rotating plate
11 : 몸체11: body
본 고안에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명되어질 것이다. 도 1은 본 고안의 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치의 구성도로서, 이를 참조하여 본 고안의 구성 및 작용을 설명하면 하기와 같다.Preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 1 is a configuration of the precision angle sensor inspection device using a mirror of the present invention, with reference to this configuration and operation of the present invention as follows.
본 고안은 정밀각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치이다.The present invention measures the mechanical angle shift optically to enable the inspection of the precision angle sensor and compares it with the electrical output (angle) of the angle sensor under test and compares the performance of the angle sensor under test It is a precision angle sensor inspection device using a mirror that can adjust gain.
상기 정밀각도센서 검사장치는 장착판(7)의 중앙에 각도센서 고정대와 마이크로메타 각도기 몸체(11)를 고정되게 설치한다. 상기 마이크로메타 각도기 몸체(11)의 상부에는 마이크로메타 각도기 회전판(10)이 설치되며, 상기 마이크로메타 각도기 몸체(11)의 측상에는 각도이동 손잡이(6)를 설치한다. 상기 회전판(10)은 각도이동 손잡이(6)로 미세한 각도로 회전시킬 수 있도록 설치한다. 상기 마이크로메타 각도기 회전판(10)에는 각도센서 장착대(5)를 고정되게 설치한다. 상기 각도센서 장착대(5)의 상부에는 미러 장착대(1)를 기구적으로 고정하여 각도센서 장착대(5)가 회전하면 같이 회전하도록 설치한다. 상기 미러 장착대(1)에는 미러(2)가 설치되며, 각도센서 구동회로(8)와 연결한다. 각도센서는 고정자(3)와 회전자(4)로 이루어 지며, 상기 각도센서는 상기 각도센서 장착대(5)에 삽입하여 각도센서 고정자(3)는 각도센서 고정대(9)에 각도센서 회전자(4)는 각도센서 장착대(6)에 고정시킨 후 미러 장착대(1)를 조립하는 것이다.The precision angle sensor inspection device is fixed to the angle sensor holder and the micrometer protractor body (11) in the center of the mounting plate (7). The micrometer protractor rotating plate 10 is installed on the top of the micrometer protractor body 11, and the angle shift knob 6 is installed on the side of the micrometer protractor body 11. The rotating plate 10 is installed to be rotated at a fine angle by the angle moving handle (6). The micrometer protractor rotating plate 10 is fixedly installed to the angle sensor mount (5). The upper part of the angle sensor mount 5 is mechanically fixed to the mirror mount (1) is installed so as to rotate together when the angle sensor mount (5) rotates. The mirror mount 1 is provided with a mirror 2 and connected to the angle sensor driving circuit 8. The angle sensor is composed of a stator (3) and the rotor (4), the angle sensor is inserted into the angle sensor mount (5) so that the angle sensor stator (3) the angle sensor rotor on the angle sensor holder (9) (4) is to assemble the mirror mount (1) after fixing to the angle sensor mount (6).
상기와 같이 구성된 본 고안의 동작상태를 설명하면 고정자(3)와 회전자(4)로된 각도센서를 검사하기 위하여 상기 각도센서를 각도센서 장착대(5)의 내측에 위치하도록 각도센서 고정대(9)에 고정시킨다. 상기 각도센서 고정자(3)는 각도센서 고정대(9)에 각도센서 회전자(4)는 각도센서 장착대(6)에 고정시킨 후 미러 장착대(1)를 조립한다. 상기와 같이 완전히 조립된 상태에서 마이크로메타 각도기 몸체(11)에 설치된 각도이동 손잡이(6)을 조정하면 각도센서 고정대(9)에 고정된 각도센서 고정자(3)는 고정된 상태에서 마이크로메타 각도기 회전판(10)과 각도센서 장착대(5)와 미러 장착대(1)와 고정되어 있는 각도센서 회전자(4)는 미세한 각도로 회전을 한다. 이때 마이크로메타 각도기 회전판(10)과 각도센서 장착대(5)와 미러 장착대(1)가 회전한 각도와 동일한 각도로 미러(2)도 움직인다. 상기 미러(2)의 이동각을 관측물체의 고도 및 수평각을 측정하는데 사용하는 측정용 광학기계인 세오돌라이트(THEODOLITE)로 정확한 광학적 이동각을 파악하게 된다.Referring to the operating state of the present invention configured as described above to check the angle sensor consisting of the stator (3) and the rotor (4) the angle sensor holder to be positioned inside the angle sensor mount (5) ( 9). The angle sensor stator 3 is fixed to the angle sensor holder 9 and the angle sensor rotor 4 is fixed to the angle sensor mount 6, and then assembles the mirror mount 1. When the angle shift knob 6 installed in the micrometer protractor body 11 in the fully assembled state as described above, the angle sensor stator 3 fixed to the angle sensor holder 9 is fixed to the micrometer protractor rotating plate. 10, the angle sensor mount (5) and the mirror mount (1) and the angle sensor rotor (4) is fixed to rotate at a fine angle. At this time, the mirror 2 is also moved at the same angle as the micrometer protractor rotating plate 10, the angle sensor mounting table 5, and the mirror mounting table 1 rotated. The angle of movement of the mirror 2 is determined by the theodolite (THEODOLITE), which is a measuring optical machine used to measure the height and the horizontal angle of the observation object, thereby accurately determining the optical angle of movement.
이와 동시에 이동회전각에 해당하는 만큼 각도센서 구동회로(8)에서는 전기적 각도 값이 출력이 된다.At the same time, the electrical angle value is output from the angle sensor driving circuit 8 as much as the moving rotation angle.
상기와 같이 마이크로메타 각도기 회전판(10)과 각도센서 장착대(5)와 미러 장착대(1)가 회전한 각도와 각도센서의 전기적 출력값을 미러(2)의 이동각을 세오돌라이트(THEODOLITE)로 정확한 광학적 이동각을 파악하여 얻어진 광학적 출력과 비교하여 각도센서 구동회로(8)의 이득을 조정하거나 각도센서의 정확도를 평가할 수 있는 것이다.As described above, the angle of rotation of the micrometer protractor rotating plate 10, the angle sensor mounting base 5, and the mirror mounting base 1, and the electrical output value of the angle sensor are used as the shift angle of the mirror (THEODOLITE). By comparing the optical output obtained by grasping the accurate optical moving angle, the gain of the angle sensor driving circuit 8 can be adjusted or the accuracy of the angle sensor can be evaluated.
상술한 바와 같은 본 고안에 의하면, 상기와 같은 미러를 이용한 정밀각도 검사기로 정밀 각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 잇점이 있다.According to the present invention as described above, in order to enable the inspection of the precision angle sensor with the precision angle tester using the mirror as described above, the mechanical angle shift is optically measured and the electrical output (angle) Compared with), it is possible to evaluate the performance of the angle sensor under test or to adjust the gain of the related electronic circuit.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019970005770U KR200153650Y1 (en) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | Precision angle sensor inspection device using mirror |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019970005770U KR200153650Y1 (en) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | Precision angle sensor inspection device using mirror |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19980061528U KR19980061528U (en) | 1998-11-05 |
KR200153650Y1 true KR200153650Y1 (en) | 1999-08-02 |
Family
ID=19497907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2019970005770U Expired - Lifetime KR200153650Y1 (en) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | Precision angle sensor inspection device using mirror |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR200153650Y1 (en) |
-
1997
- 1997-03-26 KR KR2019970005770U patent/KR200153650Y1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19980061528U (en) | 1998-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3898562A (en) | Adjustable probe holder | |
US6694797B2 (en) | Dial indicator calibration apparatus | |
KR200153650Y1 (en) | Precision angle sensor inspection device using mirror | |
CN218916406U (en) | Detection device of high-precision encoder | |
US3966327A (en) | Angular displacement measurement apparatus | |
CN102967289B (en) | Device for calibrating static and dynamic characteristics of contact probe type contourgraph sensor | |
CN114705283A (en) | Vibration measuring system for small motor | |
CN111735616B (en) | Mechanical automatic dynamic balance brake performance tester inspection bench | |
CN207894371U (en) | A kind of multi-faceted altimeter of precision workpiece | |
CN207351565U (en) | A kind of high accuracy luminous power optical wavelength tester table | |
Mihaliuk et al. | Optical lever for monitoring of the magic angle | |
RU2783189C1 (en) | Method for controlling the physical parameters of the resonator of a solid-state wave gyroscope | |
CN222506543U (en) | Magnetic body surface magnetic measuring device | |
KR200188939Y1 (en) | Dial gauge inspection device | |
JP3940819B2 (en) | Semiconductor wafer surface shape measuring apparatus and surface shape measuring method | |
CN119104428B (en) | MTS testing machine extensometer positioning calibration device | |
CN220279573U (en) | Precise positioning platform | |
SU1720023A1 (en) | The unit to generate low rotational speeds | |
CN220230372U (en) | Checking device of shaft displacement sensor | |
CN221376539U (en) | Tool for measuring warpage of rotary target | |
CN219715240U (en) | Plane multi-angle automatic displacement transmittance detection equipment | |
KR100544953B1 (en) | Wobble measurement method of turntable | |
Li et al. | Error analysis and improvements for using parallel-shift method to test a galvanometer-based laser scanning system | |
KR20030091092A (en) | device for testing sensor | |
Samson et al. | Accurate and Straightforward Alignment Procedures for X‐Ray Diffractometers Equipped with a Eulerian Cradle |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
UA0108 | Application for utility model registration |
Comment text: Application for Utility Model Registration Patent event code: UA01011R08D Patent event date: 19970326 |
|
UA0201 | Request for examination |
Patent event date: 19970326 Patent event code: UA02012R01D Comment text: Request for Examination of Application |
|
UG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
UE0701 | Decision of registration |
Patent event date: 19990430 Comment text: Decision to Grant Registration Patent event code: UE07011S01D |
|
REGI | Registration of establishment | ||
UR0701 | Registration of establishment |
Patent event date: 19990511 Patent event code: UR07011E01D Comment text: Registration of Establishment |
|
UR1002 | Payment of registration fee |
Start annual number: 1 End annual number: 3 Payment date: 19990512 |
|
UG1601 | Publication of registration | ||
UR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20020503 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
UR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20030502 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
UR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20040504 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20050429 Year of fee payment: 7 |
|
UR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050429 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |