[go: up one dir, main page]

KR200153650Y1 - Precision angle sensor inspection device using mirror - Google Patents

Precision angle sensor inspection device using mirror Download PDF

Info

Publication number
KR200153650Y1
KR200153650Y1 KR2019970005770U KR19970005770U KR200153650Y1 KR 200153650 Y1 KR200153650 Y1 KR 200153650Y1 KR 2019970005770 U KR2019970005770 U KR 2019970005770U KR 19970005770 U KR19970005770 U KR 19970005770U KR 200153650 Y1 KR200153650 Y1 KR 200153650Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
angle sensor
mirror
angle
precision
inspection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
KR2019970005770U
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR19980061528U (en
Inventor
안규봉
Original Assignee
윤종용
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR2019970005770U priority Critical patent/KR200153650Y1/en
Publication of KR19980061528U publication Critical patent/KR19980061528U/en
Application granted granted Critical
Publication of KR200153650Y1 publication Critical patent/KR200153650Y1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/22Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/56Gauges for measuring angles or tapers, e.g. conical calipers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

1. 청구범위에 기재된 고안이 속한 기술분야.1. The technical field to which the invention described in the claims belongs.

본 고안은 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장체에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection object for precision angle sensor using a mirror.

2. 고안이 해결하려고 하는 기술적 과제.2. The technical problem the invention is trying to solve.

본 고안은 정밀 각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 제공함에 있다.The present invention measures the mechanical angle shift optically to enable inspection of the precision angle sensor and compares it with the electrical output (angle) of the angle sensor under test and compares the performance of the angle sensor under test It is to provide a precision angle sensor inspection device using a mirror that can adjust the gain.

3. 고안의 해결방법의 요지.3. Summary of the solution of the design.

본 고안은 정밀각도센서를 검사하거나 관련전자회로의 조정을 위하여 미러가 부착된 검사장치를 제작하여 센서의 이동각을 광학적으로 확인하고 이와 센서의 전기적 각도 출력을 비교하여 정확도를 확인하여 조정할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 특징으로 한다.The present invention is designed to inspect the precision angle sensor or to manufacture an inspection device with a mirror for the adjustment of the related electronic circuit to optically check the moving angle of the sensor and compare the electrical angle output of the sensor with the accuracy to adjust it. It features a precision angle sensor inspection device using a mirror.

4. 고안의 중요한 용도.4. Significant Uses of the Invention.

본 고안은 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치This invention is a precision angle sensor inspection device using a mirror

Description

미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치Precision angle sensor inspection device using mirror

본 고안은 서보제어용으로 사용되는 정밀 각도센서(RESOLVER, TACOMETER등)의 검사장치에 관한 것으로, 특히 정밀각도센서를 검사하거나 관련전자회로의 조정을 위하여 미러가 부착된 검사장치를 제작하여 센서의 이동각을 광학적으로 확인하고 이와 센서의 전기적 각도 출력을 비교하여 정확도를 확인하여 조정할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection device for precision angle sensors (RESOLVER, TACOMETER, etc.) used for servo control. In particular, the inspection of a precision angle sensor or the manufacture of a mirror-mounted inspection device for adjustment of related electronic circuits moves the sensor The present invention relates to a precision angle sensor inspection device using a mirror that can optically check the angle and compare the electrical angle output of the sensor with the accuracy to check and adjust the accuracy.

종래에는 정밀 각도센서의 자체 성능평가 또는 구동전기회로의 조정(ADJUST)을 위하여 기준이 되는 시준기가 있어야 하고, 이 시준기로 피시험체 보다 성능이 우수한 각도센서 사용하였다. 상기 정밀 각도센서의 자체 성능평가 또는 구동전기회로의 조정(ADJUST) 을 위하여 기준이 되는 레퍼런스 센서를 사용한다. 그러나 아주 정밀한 센서를 검사하여야 할 때는 레퍼런스 센서의 정밀도가 문제가 될 수 있다. 보통 레퍼런스 센서는 피시험 센서보다 10배 이상의 정확도를 유지하여야 한다. 또한 레퍼런스 센서의 구동전자회로에 의한 오차도 존재하므로 정밀한 각도 센서의 평가나 시험이 불가능 하였다.Conventionally, a standard collimator should be used for self-performance evaluation of a precision angle sensor or adjustment of a driving electric circuit (ADJUST). As a collimator, an angle sensor having better performance than a test object was used. A reference sensor is used as a reference for self-performance evaluation of the precision angle sensor or adjustment of the driving electric circuit (ADJUST). However, the accuracy of the reference sensor can be a problem when you need to inspect a very precise sensor. Normally, the reference sensor should be 10 times more accurate than the sensor under test. In addition, there was an error caused by the driving electronic circuit of the reference sensor, so that it was impossible to evaluate or test the precise angle sensor.

본 고안의 목적은 정밀 각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 제공함에 있다.The purpose of the present invention is to measure the mechanical angle shift optically to enable inspection of the precision angle sensor and to compare it with the electrical output (angle) of the angle sensor under test and to evaluate the performance of the angle sensor under test An object of the present invention is to provide a precision angle sensor inspection device using a mirror that can adjust the gain of a circuit.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은 정밀각도센서를 검사하거나 관련전자회로의 조정을 위하여 미러가 부착된 검사장치를 제작하여 센서의 이동각을 광학적으로 확인하고 이와 센서의 전기적 각도 출력을 비교하여 정확도를 확인하여 조정할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치를 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is to inspect the precision angle sensor or to manufacture a test device with a mirror for adjusting the related electronic circuit to optically check the moving angle of the sensor and to compare the electrical angle output of the sensor It features a precision angle sensor inspection device using a mirror that can be adjusted by checking the accuracy.

도 1은 본 고안의 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치의 구성도.1 is a block diagram of a precision angle sensor inspection device using a mirror of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 미러 장착대 2 : 미러1: Mirror Mount 2: Mirror

3 : 각도센서 고정자 4 : 각도센서 회전자3: angle sensor stator 4: angle sensor rotor

5 : 각도센서 장착대 6 : 각도이동 손잡이5: angle sensor mount 6: angle shift knob

7 : 장착판 8 : 구동회로7: mounting plate 8: driving circuit

9 : 각도센서 고정대 10 : 회전판9: angle sensor fixture 10: rotating plate

11 : 몸체11: body

본 고안에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명되어질 것이다. 도 1은 본 고안의 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치의 구성도로서, 이를 참조하여 본 고안의 구성 및 작용을 설명하면 하기와 같다.Preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 1 is a configuration of the precision angle sensor inspection device using a mirror of the present invention, with reference to this configuration and operation of the present invention as follows.

본 고안은 정밀각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치이다.The present invention measures the mechanical angle shift optically to enable the inspection of the precision angle sensor and compares it with the electrical output (angle) of the angle sensor under test and compares the performance of the angle sensor under test It is a precision angle sensor inspection device using a mirror that can adjust gain.

상기 정밀각도센서 검사장치는 장착판(7)의 중앙에 각도센서 고정대와 마이크로메타 각도기 몸체(11)를 고정되게 설치한다. 상기 마이크로메타 각도기 몸체(11)의 상부에는 마이크로메타 각도기 회전판(10)이 설치되며, 상기 마이크로메타 각도기 몸체(11)의 측상에는 각도이동 손잡이(6)를 설치한다. 상기 회전판(10)은 각도이동 손잡이(6)로 미세한 각도로 회전시킬 수 있도록 설치한다. 상기 마이크로메타 각도기 회전판(10)에는 각도센서 장착대(5)를 고정되게 설치한다. 상기 각도센서 장착대(5)의 상부에는 미러 장착대(1)를 기구적으로 고정하여 각도센서 장착대(5)가 회전하면 같이 회전하도록 설치한다. 상기 미러 장착대(1)에는 미러(2)가 설치되며, 각도센서 구동회로(8)와 연결한다. 각도센서는 고정자(3)와 회전자(4)로 이루어 지며, 상기 각도센서는 상기 각도센서 장착대(5)에 삽입하여 각도센서 고정자(3)는 각도센서 고정대(9)에 각도센서 회전자(4)는 각도센서 장착대(6)에 고정시킨 후 미러 장착대(1)를 조립하는 것이다.The precision angle sensor inspection device is fixed to the angle sensor holder and the micrometer protractor body (11) in the center of the mounting plate (7). The micrometer protractor rotating plate 10 is installed on the top of the micrometer protractor body 11, and the angle shift knob 6 is installed on the side of the micrometer protractor body 11. The rotating plate 10 is installed to be rotated at a fine angle by the angle moving handle (6). The micrometer protractor rotating plate 10 is fixedly installed to the angle sensor mount (5). The upper part of the angle sensor mount 5 is mechanically fixed to the mirror mount (1) is installed so as to rotate together when the angle sensor mount (5) rotates. The mirror mount 1 is provided with a mirror 2 and connected to the angle sensor driving circuit 8. The angle sensor is composed of a stator (3) and the rotor (4), the angle sensor is inserted into the angle sensor mount (5) so that the angle sensor stator (3) the angle sensor rotor on the angle sensor holder (9) (4) is to assemble the mirror mount (1) after fixing to the angle sensor mount (6).

상기와 같이 구성된 본 고안의 동작상태를 설명하면 고정자(3)와 회전자(4)로된 각도센서를 검사하기 위하여 상기 각도센서를 각도센서 장착대(5)의 내측에 위치하도록 각도센서 고정대(9)에 고정시킨다. 상기 각도센서 고정자(3)는 각도센서 고정대(9)에 각도센서 회전자(4)는 각도센서 장착대(6)에 고정시킨 후 미러 장착대(1)를 조립한다. 상기와 같이 완전히 조립된 상태에서 마이크로메타 각도기 몸체(11)에 설치된 각도이동 손잡이(6)을 조정하면 각도센서 고정대(9)에 고정된 각도센서 고정자(3)는 고정된 상태에서 마이크로메타 각도기 회전판(10)과 각도센서 장착대(5)와 미러 장착대(1)와 고정되어 있는 각도센서 회전자(4)는 미세한 각도로 회전을 한다. 이때 마이크로메타 각도기 회전판(10)과 각도센서 장착대(5)와 미러 장착대(1)가 회전한 각도와 동일한 각도로 미러(2)도 움직인다. 상기 미러(2)의 이동각을 관측물체의 고도 및 수평각을 측정하는데 사용하는 측정용 광학기계인 세오돌라이트(THEODOLITE)로 정확한 광학적 이동각을 파악하게 된다.Referring to the operating state of the present invention configured as described above to check the angle sensor consisting of the stator (3) and the rotor (4) the angle sensor holder to be positioned inside the angle sensor mount (5) ( 9). The angle sensor stator 3 is fixed to the angle sensor holder 9 and the angle sensor rotor 4 is fixed to the angle sensor mount 6, and then assembles the mirror mount 1. When the angle shift knob 6 installed in the micrometer protractor body 11 in the fully assembled state as described above, the angle sensor stator 3 fixed to the angle sensor holder 9 is fixed to the micrometer protractor rotating plate. 10, the angle sensor mount (5) and the mirror mount (1) and the angle sensor rotor (4) is fixed to rotate at a fine angle. At this time, the mirror 2 is also moved at the same angle as the micrometer protractor rotating plate 10, the angle sensor mounting table 5, and the mirror mounting table 1 rotated. The angle of movement of the mirror 2 is determined by the theodolite (THEODOLITE), which is a measuring optical machine used to measure the height and the horizontal angle of the observation object, thereby accurately determining the optical angle of movement.

이와 동시에 이동회전각에 해당하는 만큼 각도센서 구동회로(8)에서는 전기적 각도 값이 출력이 된다.At the same time, the electrical angle value is output from the angle sensor driving circuit 8 as much as the moving rotation angle.

상기와 같이 마이크로메타 각도기 회전판(10)과 각도센서 장착대(5)와 미러 장착대(1)가 회전한 각도와 각도센서의 전기적 출력값을 미러(2)의 이동각을 세오돌라이트(THEODOLITE)로 정확한 광학적 이동각을 파악하여 얻어진 광학적 출력과 비교하여 각도센서 구동회로(8)의 이득을 조정하거나 각도센서의 정확도를 평가할 수 있는 것이다.As described above, the angle of rotation of the micrometer protractor rotating plate 10, the angle sensor mounting base 5, and the mirror mounting base 1, and the electrical output value of the angle sensor are used as the shift angle of the mirror (THEODOLITE). By comparing the optical output obtained by grasping the accurate optical moving angle, the gain of the angle sensor driving circuit 8 can be adjusted or the accuracy of the angle sensor can be evaluated.

상술한 바와 같은 본 고안에 의하면, 상기와 같은 미러를 이용한 정밀각도 검사기로 정밀 각도센서의 검사가 가능하게 하기 위해 기계적 각도이동을 광학적으로 측정하여 이를 레퍼런스로 하여 피시험 각도센서의 전기적 출력(각도)과 비교하여 피시험 각도센서의 성능평가나 관련 전자회로의 이득조정을 할 수 있는 잇점이 있다.According to the present invention as described above, in order to enable the inspection of the precision angle sensor with the precision angle tester using the mirror as described above, the mechanical angle shift is optically measured and the electrical output (angle) Compared with), it is possible to evaluate the performance of the angle sensor under test or to adjust the gain of the related electronic circuit.

Claims (3)

정밀각도센서 검사장치에 있어서,In the precision angle sensor inspection device, 장착판(7)의 중앙에 각도센서 고정대(9)와 마이크로메타 각도기 몸체(11)를 고정되게 설치하고, 상기 몸체(11)의 상부에는 마이크로메타 각도기 회전판(10)이 설치되며, 상기 몸체(11)의 측상에는 각도이동 손잡이(6)를 설치하며, 상기 회전판(10)에는 각도센서 장착대(5)를 고정되게 설치하고, 상기 각도센서 장착대(5)의 상부에는 미러 장착대(1)를 기구적으로 고정하여 각도센서 장착대(5)가 회전하면 같이 회전하도록 설치하고, 상기 미러 장착대(1)에는 미러(2)가 설치되며, 각도센서 구동회로(8)와 연결하며, 각도센서는 고정자(3)와 회전자(4)로 이루어 지며, 상기 각도센서는 상기 각도센서 장착대(5)에 삽입하여 각도센서 고정자(3)는 각도센서 고정대(9)에 각도센서 회전자(4)는 각도센서 장착대(6)에 고정시킨 후 미러 장착대(1)를 조립하여 정밀각도센서를 검사할수 있도록 구성된 것을 특징으로 하는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치.The angle sensor holder 9 and the micrometer protractor body 11 are fixedly installed in the center of the mounting plate 7, and the micrometer protractor rotating plate 10 is installed on the upper part of the body 11, and the body ( An angle shift knob 6 is installed on the side of 11, an angle sensor mount 5 is fixedly installed on the rotating plate 10, and a mirror mount 1 is mounted on the angle sensor mount 5 above. ) Is mechanically fixed and installed so as to rotate together when the angle sensor mount 5 is rotated, and the mirror mount 1 is provided with a mirror 2 and connected to the angle sensor drive circuit 8, The angle sensor is composed of a stator (3) and the rotor (4), the angle sensor is inserted into the angle sensor mount (5) so that the angle sensor stator (3) the angle sensor rotor on the angle sensor holder (9) (4) is fixed to the angle sensor mount (6) and then assembled the mirror mount (1) to inspect the precision angle sensor Precision angle sensor inspection device using a mirror, characterized in that configured to. 제 1항에 있어서, 상기 회전판(10)은 각도이동 손잡이(6)로 미세한 각도로 회전시킬 수 있도록 설치된 것을 특징으로 하는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치.The precision angle sensor inspection apparatus according to claim 1, wherein the rotating plate (10) is installed to rotate at a fine angle with the angle shift knob (6). 제 1항에 있어서, 상기 미러 장착대(1)는 상측에 미러(2)가 설치되며, 하측은 각도센서 장착대(5)와 고정되며 분리할수 있도록 설치된 것을 특징으로 하는 미러를 이용한 정밀각도센서 검사장치.The precision angle sensor according to claim 1, wherein the mirror mount (1) is provided with a mirror (2) on the upper side, and the lower side is fixed to and detachable from the angle sensor mount (5). Inspection device.
KR2019970005770U 1997-03-26 1997-03-26 Precision angle sensor inspection device using mirror Expired - Lifetime KR200153650Y1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019970005770U KR200153650Y1 (en) 1997-03-26 1997-03-26 Precision angle sensor inspection device using mirror

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019970005770U KR200153650Y1 (en) 1997-03-26 1997-03-26 Precision angle sensor inspection device using mirror

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980061528U KR19980061528U (en) 1998-11-05
KR200153650Y1 true KR200153650Y1 (en) 1999-08-02

Family

ID=19497907

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2019970005770U Expired - Lifetime KR200153650Y1 (en) 1997-03-26 1997-03-26 Precision angle sensor inspection device using mirror

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200153650Y1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
KR19980061528U (en) 1998-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3898562A (en) Adjustable probe holder
US6694797B2 (en) Dial indicator calibration apparatus
KR200153650Y1 (en) Precision angle sensor inspection device using mirror
CN218916406U (en) Detection device of high-precision encoder
US3966327A (en) Angular displacement measurement apparatus
CN102967289B (en) Device for calibrating static and dynamic characteristics of contact probe type contourgraph sensor
CN114705283A (en) Vibration measuring system for small motor
CN111735616B (en) Mechanical automatic dynamic balance brake performance tester inspection bench
CN207894371U (en) A kind of multi-faceted altimeter of precision workpiece
CN207351565U (en) A kind of high accuracy luminous power optical wavelength tester table
Mihaliuk et al. Optical lever for monitoring of the magic angle
RU2783189C1 (en) Method for controlling the physical parameters of the resonator of a solid-state wave gyroscope
CN222506543U (en) Magnetic body surface magnetic measuring device
KR200188939Y1 (en) Dial gauge inspection device
JP3940819B2 (en) Semiconductor wafer surface shape measuring apparatus and surface shape measuring method
CN119104428B (en) MTS testing machine extensometer positioning calibration device
CN220279573U (en) Precise positioning platform
SU1720023A1 (en) The unit to generate low rotational speeds
CN220230372U (en) Checking device of shaft displacement sensor
CN221376539U (en) Tool for measuring warpage of rotary target
CN219715240U (en) Plane multi-angle automatic displacement transmittance detection equipment
KR100544953B1 (en) Wobble measurement method of turntable
Li et al. Error analysis and improvements for using parallel-shift method to test a galvanometer-based laser scanning system
KR20030091092A (en) device for testing sensor
Samson et al. Accurate and Straightforward Alignment Procedures for X‐Ray Diffractometers Equipped with a Eulerian Cradle

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
UA0108 Application for utility model registration

Comment text: Application for Utility Model Registration

Patent event code: UA01011R08D

Patent event date: 19970326

UA0201 Request for examination

Patent event date: 19970326

Patent event code: UA02012R01D

Comment text: Request for Examination of Application

UG1501 Laying open of application
E701 Decision to grant or registration of patent right
UE0701 Decision of registration

Patent event date: 19990430

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event code: UE07011S01D

REGI Registration of establishment
UR0701 Registration of establishment

Patent event date: 19990511

Patent event code: UR07011E01D

Comment text: Registration of Establishment

UR1002 Payment of registration fee

Start annual number: 1

End annual number: 3

Payment date: 19990512

UG1601 Publication of registration
UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20020503

Start annual number: 4

End annual number: 4

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20030502

Start annual number: 5

End annual number: 5

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20040504

Start annual number: 6

End annual number: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20050429

Year of fee payment: 7

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20050429

Start annual number: 7

End annual number: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee