[go: up one dir, main page]

KR102714915B1 - 데이터 구동 회로 - Google Patents

데이터 구동 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR102714915B1
KR102714915B1 KR1020190175034A KR20190175034A KR102714915B1 KR 102714915 B1 KR102714915 B1 KR 102714915B1 KR 1020190175034 A KR1020190175034 A KR 1020190175034A KR 20190175034 A KR20190175034 A KR 20190175034A KR 102714915 B1 KR102714915 B1 KR 102714915B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
driving
data
impedance
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
KR1020190175034A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20210082766A (ko
Inventor
최은지
Original Assignee
에스케이하이닉스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에스케이하이닉스 주식회사 filed Critical 에스케이하이닉스 주식회사
Priority to KR1020190175034A priority Critical patent/KR102714915B1/ko
Priority to US16/902,876 priority patent/US11264064B2/en
Priority to CN202010717503.6A priority patent/CN113054985B/zh
Publication of KR20210082766A publication Critical patent/KR20210082766A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102714915B1 publication Critical patent/KR102714915B1/ko
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
    • G11C29/50008Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing of impedance
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0005Modifications of input or output impedance
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/025Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in signal lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • G11C29/028Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters with adaption or trimming of parameters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/106Data output latches
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1066Output synchronization
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • G11C7/222Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/017545Coupling arrangements; Impedance matching circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 기술은 데이터 전송을 위한 복수의 신호 패스들 중에서 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 제외한 나머지 신호 패스를 차단할 수 있도록 구성된 트리거 회로; 및 상기 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 통해 전송되는 데이터를 복수의 임피던스 제어코드에 따라 정해진 임피던스로 구동하도록 구성된 프리 드라이버를 포함할 수 있다.

Description

데이터 구동 회로{DATA DRIVING CIRCUIT}
본 발명은 반도체 회로에 관한 것으로서, 특히 데이터 구동 회로에 관한 것이다.
반도체 장치는 데이터를 반도체 장치 외부로 출력하기 위한 구동 회로를 포함하고 있다.
데이터 구동 회로는 반도체 장치의 드라이빙 스트랭스 및 터미네이션을 위한 스펙에 맞는 다양한 임피던스를 구현하도록 설계되어야 한다.
본 발명의 실시예는 로직 간소화 및 소비전력 감소가 가능한 데이터 구동 회로를 제공한다.
본 발명의 실시예는 데이터 전송을 위한 복수의 신호 패스들 중에서 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 제외한 나머지 신호 패스를 차단할 수 있도록 구성된 트리거 회로; 및 상기 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 통해 전송되는 데이터를 복수의 임피던스 제어코드에 따라 정해진 임피던스로 구동하도록 구성된 프리 드라이버를 포함할 수 있다.
본 기술은 데이터 구동 회로의 로직 간소화 및 소비전력 감소가 가능하다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 구동 회로의 구성을 나타낸 도면,
도 2는 도 1의 트리거 회로의 구성을 나타낸 도면,
도 3은 도 1의 프리 드라이버의 구성을 나타낸 도면,
도 4는 도 3의 프리 풀업 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면,
도 5는 도 3의 프리 풀다운 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면,
도 6은 도 1의 메인 드라이버의 구성을 나타낸 도면,
도 7은 도 1의 임피던스 조정 회로의 구성을 나타낸 도면,
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 데이터 구동 회로의 구성을 나타낸 도면,
도 9는 도 8의 트리거 회로의 구성을 나타낸 도면,
도 10은 도 8의 프리 드라이버의 구성을 나타낸 도면,
도 11은 도 10의 프리 풀업 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면이고,
도 12는 도 10의 프리 풀다운 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 구동 회로의 구성을 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 데이터 구동 회로(100)는 트리거 회로(101), 프리 드라이버(102) 및 메인 드라이버(103)를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 데이터 구동 회로(100)는 임피던스 조정 회로(105)를 더 포함할 수 있다.
트리거 회로(101)는 위상차를 갖는 복수의 클럭 신호들(RCLKDO, FCLKDO)에 따라 복수의 제 1 데이터(RDATA, FDATA)를 래치하여 복수의 제 2 데이터(RDATAS<J:0>, FDATAS<J:0>)로서 출력할 수 있다.
프리 드라이버(102)는 복수의 제 2 데이터(RDATAS<J:0>, FDATAS<J:0>)를 복수의 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<K:0>, CONPD<K:0>)에 따라 정해진 드라이빙 스트랭스 및 복수의 임피던스 제어코드(PUCODE<L:0>), PDCODE<L:0>)에 따라 정해진 임피던스로 구동하여 복수의 구동 제어신호(PU<M:0>_<N:0>, PD<M:0>_<N:0>)를 생성할 수 있다.
메인 드라이버(103)는 복수의 구동 제어신호(PU<M:0>_<N:0>, PD<M:0>_<N:0>)에 따라 출력단(DQ)을 구동할 수 있다.
임피던스 조정 회로(105)는 외부 저항 패드(107)와 연결된 외부 저항(109)의 저항 값을 목표 값으로 복수의 임피던스 제어코드(PUCODE<L:0>), PDCODE<L:0>)를 조정할 수 있다.
도 2는 도 1의 트리거 회로의 구성을 나타낸 도면이다.
이때 도 2는 복수의 제 2 데이터(RDATAS<J:0>, FDATAS<J:0>)에서 J = 2인 경우의 트리거 회로(101)의 구성 예를 든 것이다.
도 2를 참조하면, 트리거 회로(101)는 제 1 래치 회로(110), 제 1 신호 분배 회로(111-0 ~ 111-2), 제 2 래치 회로(120) 및 제 2 신호 분배 회로(121-0 ~ 121-2)를 포함할 수 있다.
제 1 래치 회로(110)는 복수의 클럭 신호들(RCLKDO, FCLKDO) 중에서 제 1 클럭 신호(RCLKDO)에 따라 제 1 데이터(RDATA)를 래치하여 제 1 래치 신호(RDIN)를 생성할 수 있다.
제 1 신호 분배 회로(111-0 ~ 111-2)는 제 1 래치 신호(RDIN)를 분배하여 복수의 제 2 데이터(RDATAS<2:0>, FDATAS<2:0>) 중에서 RDATAS<2:0>로서 출력할 수 있다.
제 1 신호 분배 회로(111-0 ~ 111-2)는 각각 인버터 체인으로 구성될 수 있다.
제 2 래치 회로(120)는 복수의 클럭 신호들(RCLKDO, FCLKDO) 중에서 제 2 클럭 신호(FCLKDO)에 따라 제 1 데이터(FDATA)를 래치하여 제 2 래치 신호(FDIN)를 생성할 수 있다.
제 2 신호 분배 회로(121-0 ~ 121-2)는 제 2 래치 신호(FDIN)를 분배하여 복수의 제 2 데이터(RDATAS<2:0>, FDATAS<2:0>) 중에서 FDATAS<2:0>로서 출력할 수 있다.
제 2 신호 분배 회로(121-0 ~ 121-2)는 각각 트랜스미션 게이트와 인버터로 구성될 수 있다.
트랜스미션 게이트는 부 제어단에 접지 전압이 인가되고 정 제어단에 전원 전압이 인가될 수 있다.
트랜스미션 게이트는 제 2 신호 분배 회로(121-0 ~ 121-2)가 제 1 신호 분배 회로(111-0 ~ 111-2)와 동일한 신호 지연시간을 갖도록 하기 위해 구성될 수 있다.
도 3은 도 1의 프리 드라이버의 구성을 나타낸 도면이다.
이때 도 3은 복수의 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<K:0>, CONPD<K:0>), 복수의 임피던스 제어코드(PUCODE<L:0>), PDCODE<L:0>) 및 복수의 구동 제어신호(PU<M:0>_<N:0>, PD<M:0>_<N:0>)에서 K = L = M = N = 4인 경우 프리 드라이버(102)의 회로 구성 예를 나타낸 것이다.
도 3을 참조하면, 프리 드라이버(102)는 복수의 프리 드라이빙 유닛들(201-0 ~ 201-4, 202-0 ~ 202-4)을 포함할 수 있다.
복수의 프리 드라이빙 유닛들(201-0 ~ 201-4, 202-0 ~ 202-4)은 복수의 프리 풀업 드라이빙 유닛들(201-0 ~ 201-4)과 복수의 프리 풀다운 드라이빙 유닛들(202-0 ~ 202-4)로 구분될 수 있다.
제 1 프리 풀업 드라이빙 유닛(201-0)은 제 2 데이터(RDATAS<0>), 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<0>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 2 프리 풀업 드라이빙 유닛(201-1)은 제 2 데이터(RDATAS<1>), 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<1>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 3 프리 풀업 드라이빙 유닛(201-2)은 제 2 데이터(RDATAS<2>), 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<2>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 4 프리 풀업 드라이빙 유닛(201-3)은 제 2 데이터(RDATAS<2>), 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<3>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 5 프리 풀업 드라이빙 유닛(201-4)은 제 2 데이터(RDATAS<2>), 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 1 프리 풀다운 드라이빙 유닛(202-0)은 제 2 데이터(FDATAS<0>), 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<0>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 2 프리 풀다운 드라이빙 유닛(202-1)은 제 2 데이터(FDATAS<1>), 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<1>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 3 프리 풀다운 드라이빙 유닛(202-2)은 제 2 데이터(FDATAS<2>), 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<2>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 4 프리 풀다운 드라이빙 유닛(202-3)은 제 2 데이터(FDATAS<2>), 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<3>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 5 프리 풀다운 드라이빙 유닛(202-4)은 제 2 데이터(FDATAS<2>), 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
도 4는 도 3의 프리 풀업 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면이다.
복수의 프리 풀업 드라이빙 유닛들(201-0 ~ 201-4)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 5 프리 풀업 드라이빙 유닛(201-4)의 구성을 설명하기로 한다.
도 4를 참조하면, 제 5 프리 풀업 드라이빙 유닛(201-4)은 코드 제어 회로(210) 및 구동 제어신호 생성 회로(220)를 포함할 수 있다.
코드 제어 회로(210)는 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<4:0>)를 생성할 수 있다.
코드 제어 회로(210)는 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>)에 따라 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)를 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<4:0>)로 바이패스 시키거나, 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<4:0>)를 특정 로직 레벨로 고정시킬 수 있다.
코드 제어 회로(210)는 복수의 코드 제어 유닛들 즉, 제 1 내지 제 5 코드 제어 유닛(211 ~ 215)을 포함할 수 있다.
제 1 코드 제어 유닛(211)은 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 중에서 하나 CONPU<0>와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<0>를 논리 곱한 신호를 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPU<4:0>) 중에서 하나 TRIMPU<0>로서 출력할 수 있다.
제 2 코드 제어 유닛(212)은 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 중에서 하나 CONPU<1>와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<1>를 논리 곱한 신호를 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPU<4:0>) 중에서 하나 TRIMPU<1>로서 출력할 수 있다.
제 3 코드 제어 유닛(213)은 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 중에서 하나 CONPU<2>와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<2>를 논리 곱한 신호를 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPU<4:0>) 중에서 하나 TRIMPU<2>로서 출력할 수 있다.
제 4 코드 제어 유닛(214)은 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 중에서 하나 CONPU<3>와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<3>를 논리 곱한 신호를 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPU<4:0>) 중에서 하나 TRIMPU<3>로서 출력할 수 있다.
제 5 코드 제어 유닛(215)은 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 중에서 하나 CONPU<4>와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<4>를 논리 곱한 신호를 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPU<4:0>) 중에서 하나 TRIMPU<4>로서 출력할 수 있다.
제 1 내지 제 5 코드 제어 유닛(211 ~ 215)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 1 코드 제어 유닛(211)의 구성을 설명하기로 한다.
제 1 코드 제어 유닛(211)은 제 1 로직 게이트(211-1) 및 제 2 로직 게이트(211-2)를 포함할 수 있다.
제 1 로직 게이트(211-1)는 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>) 중에서 하나 CONPU<0>와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<0>를 부정 논리 곱할 수 있다.
제 2 로직 게이트(211-2)는 제 1 로직 게이트(211-1)의 출력을 반전시킨 신호를 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<0>)로서 출력할 수 있다.
구동 제어신호 생성 회로(220)는 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<4:0>) 및 제 2 데이터(RDATAS<2>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
구동 제어신호 생성 회로(220)는 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<4:0>)에 따라 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)로 바이패스 시키거나, 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)를 특정 로직 레벨로 고정시킬 수 있다.
구동 제어신호 생성 회로(220)는 복수의 구동 제어신호 생성 유닛들 즉, 제 1 내지 제 5 구동 제어신호 생성 유닛(221 ~ 225)을 포함할 수 있다.
제 1 구동 제어신호 생성유닛(221)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<0>)를 논리곱한 신호를 제 1 구동 제어신호(PU<4>_<0>)로서 출력할 수 있다.
제 2 구동 제어신호 생성유닛(222)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<1>)를 논리곱한 신호를 제 1 구동 제어신호(PU<4>_<1>)로서 출력할 수 있다.
제 3 구동 제어신호 생성유닛(223)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<2>)를 논리곱한 신호를 제 1 구동 제어신호(PU<4>_<2>)로서 출력할 수 있다.
제 4 구동 제어신호 생성유닛(224)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<3>)를 논리곱한 신호를 제 1 구동 제어신호(PU<4>_<3>)로서 출력할 수 있다.
제 5 구동 제어신호 생성유닛(225)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<4>)를 부정 논리곱한 신호를 제 1 구동 제어신호(PU<4>_<4>)로서 출력할 수 있다.
제 1 내지 제 4 구동 제어신호 생성 유닛(221 ~ 224)는 서로 동일하게 구성할 수 있으므로 제 1 구동 제어신호 생성 유닛(221)의 구성을 설명하기로 한다.
제 1 구동 제어신호 생성 유닛(221)은 제 1 내지 제 3 로직 게이트(221-1 ~ 221-3)를 포함할 수 있다.
제 1 로직 게이트(221-1)는 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시켜 출력할 수 있다.
제 2 로직 게이트(221-2)는 제 1 로직 게이트(221-1)의 출력과 제 1 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPU<0>)를 부정 논리곱하여 출력할 수 있다.
제 3 로직 게이트(221-3)는 제 2 로직 게이트(221-2)의 출력을 반전시켜 제 1 구동 제어신호(PU<4>_<0>)로서 출력할 수 있다.
제 5 구동 제어신호 생성 유닛(225)은 제 1 구동 제어신호 생성 유닛(221)의 제 3 로직 게이트(221-3)를 제외한 나머지 구성과 동일하게 구성할 수 있다.
도 5는 도 3의 프리 풀다운 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면이다.
복수의 프리 풀다운 드라이빙 유닛들(202-0 ~ 202-4)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 5 프리 풀다운 드라이빙 유닛(202-4)의 구성을 설명하기로 한다.
도 5를 참조하면, 제 5 프리 풀다운 드라이빙 유닛(202-4)은 코드 제어 회로(310) 및 구동 제어신호 생성 회로(320)를 포함할 수 있다.
코드 제어 회로(310)는 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<4:0>)를 생성할 수 있다.
코드 제어 회로(310)는 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>)에 따라 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)를 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<4:0>)로 바이패스 시키거나, 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<4:0>)를 특정 로직 레벨로 고정시킬 수 있다.
코드 제어 회로(310)는 복수의 코드 제어 유닛들 즉, 제 1 내지 제 5 코드 제어 유닛(311 ~ 315)을 포함할 수 있다.
제 1 코드 제어 유닛(311)은 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 중에서 하나 CONPD<0>와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<0>를 논리 곱한 신호를 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPD<4:0>) 중에서 하나 TRIMPD<0>로서 출력할 수 있다.
제 2 코드 제어 유닛(312)은 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 중에서 하나 CONPD<1>와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<1>를 논리 곱한 신호를 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPD<4:0>) 중에서 하나 TRIMPD<1>로서 출력할 수 있다.
제 3 코드 제어 유닛(313)은 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 중에서 하나 CONPD<2>와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<2>를 논리 곱한 신호를 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPD<4:0>) 중에서 하나 TRIMPD<2>로서 출력할 수 있다.
제 4 코드 제어 유닛(314)은 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 중에서 하나 CONPD<3>와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<3>를 논리 곱한 신호를 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPD<4:0>) 중에서 하나 TRIMPD<3>로서 출력할 수 있다.
제 5 코드 제어 유닛(315)은 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 중에서 하나 CONPD<4>와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<4>를 논리 곱한 신호를 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호들(TRIMPD<4:0>) 중에서 하나 TRIMPD<4>로서 출력할 수 있다.
제 1 내지 제 5 코드 제어 유닛(311 ~ 315)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 1 코드 제어 유닛(311)의 구성을 설명하기로 한다.
제 1 코드 제어 유닛(311)은 제 1 로직 게이트(311-1) 및 제 2 로직 게이트(311-2)를 포함할 수 있다.
제 1 로직 게이트(311-1)는 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>) 중에서 하나 CONPD<0>와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<0>를 부정 논리 곱할 수 있다.
제 2 로직 게이트(311-2)는 제 1 로직 게이트(311-1)의 출력을 반전시킨 신호를 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<0>)로서 출력할 수 있다.
구동 제어신호 생성 회로(320)는 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<4:0>) 및 제 2 데이터(RDATAS<2>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
구동 제어신호 생성 회로(320)는 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<4:0>)에 따라 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)로 바이패스 시키거나, 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)를 특정 로직 레벨로 고정시킬 수 있다.
구동 제어신호 생성 회로(320)는 복수의 구동 제어신호 생성 유닛들 즉, 제 1 내지 제 5 구동 제어신호 생성 유닛(321 ~ 325)을 포함할 수 있다.
제 1 구동 제어신호 생성유닛(321)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<0>)를 논리곱한 신호를 제 2 구동 제어신호(PD<4>_<0>)로서 출력할 수 있다.
제 2 구동 제어신호 생성유닛(322)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<1>)를 논리곱한 신호를 제 2 구동 제어신호(PD<4>_<1>)로서 출력할 수 있다.
제 3 구동 제어신호 생성유닛(323)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<2>)를 논리곱한 신호를 제 2 구동 제어신호(PD<4>_<2>)로서 출력할 수 있다.
제 4 구동 제어신호 생성유닛(324)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<3>)를 논리곱한 신호를 제 2 구동 제어신호(PD<4>_<3>)로서 출력할 수 있다.
제 5 구동 제어신호 생성유닛(325)은 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시킨 신호와 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<4>)를 논리곱한 신호를 제 2 구동 제어신호(PD<4>_<4>)로서 출력할 수 있다.
제 1 내지 제 5 구동 제어신호 생성 유닛(321 ~ 325)는 서로 동일하게 구성할 수 있으므로 제 1 구동 제어신호 생성 유닛(321)의 구성을 설명하기로 한다.
제 1 구동 제어신호 생성 유닛(321)은 제 1 내지 제 3 로직 게이트(321-1 ~ 321-3)를 포함할 수 있다.
제 1 로직 게이트(321-1)는 제 2 데이터(RDATAS<2>)를 반전시켜 출력할 수 있다.
제 2 로직 게이트(321-2)는 제 1 로직 게이트(321-1)의 출력과 제 2 스트랭스 및 임피던스 조정신호(TRIMPD<0>)를 부정 논리곱하여 출력할 수 있다.
제 3 로직 게이트(321-3)는 제 2 로직 게이트(321-2)의 출력을 반전시켜 제 2 구동 제어신호(PD<4>_<0>)로서 출력할 수 있다.
도 6은 도 1의 메인 드라이버의 구성을 나타낸 도면이다.
도 6을 참조하면, 메인 드라이버(103)는 출력단(DQ)과 공통 연결된 제 1 드라이버(410) 및 제 2 드라이버(420)를 포함할 수 있다.
제 1 드라이버(410)는 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)에 따라 정해진 터미네이션 임피던스 및 드라이빙 스트랭스에 맞도록 출력단(DQ)을 풀업 시킬 수 있다.
제 2 드라이버(420)는 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)에 따라 정해진 터미네이션 임피던스 및 드라이빙 스트랭스에 맞도록 출력단(DQ)을 풀다운 시킬 수 있다.
제 1 드라이버(410)는 복수의 풀업 레그들(410-0 ~ 410-P)을 포함할 수 있다.
복수의 풀업 레그들(410-0 ~ 410-P)은 반도체 장치의 스펙에 정해진 드라이빙 스트랭스 및 터미네이션 임피던스를 구현하기 위한 임피던스 값들의 조합에 맞도록 설계될 수 있다.
반도체 장치의 스펙에 따라 복수의 풀업 레그들(410-0 ~ 410-P)의 수 및 각 풀업 레그의 목표 임피던스는 달라질 수 있다.
제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)을 복수의 풀업 레그들(410-0 ~ 410-P)에 분배하는 방식 또한 반도체 장치의 스펙에 따라 달라질 수 있다.
복수의 풀업 레그들(410-0 ~ 410-P) 중에서 일부에는 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)의 신호 성분 각각이 일대일 입력될 수 있고, 다른 일부에는 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>) 중에서 어느 하나 이상이 공통 입력될 수 도 있다.
제 2 드라이버(420)는 복수의 풀다운 레그들(420-0 ~ 420-Q)을 포함할 수 있다.
복수의 풀다운 레그들(420-0 ~ 420-Q)은 반도체 장치의 스펙에 정해진 드라이빙 스트랭스 및 터미네이션 임피던스를 구현하기 위한 임피던스 값들의 조합에 맞도록 설계될 수 있다.
반도체 장치의 스펙에 따라 복수의 풀다운 레그들(420-0 ~ 420-Q)의 수 및 각 풀업 레그의 목표 임피던스는 달라질 수 있다.
제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)을 복수의 풀다운 레그들(420-0 ~ 420-Q)에 분배하는 방식 또한 반도체 장치의 스펙에 따라 달라질 수 있다.
복수의 풀다운 레그들(420-0 ~ 420-Q) 중에서 일부에는 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)의 신호 성분 각각이 일대일 입력될 수 있고, 다른 일부에는 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>) 중에서 어느 하나 이상이 공통 입력될 수 도 있다.
도 7은 도 1의 임피던스 조정 회로의 구성을 나타낸 도면이다.
외부 저항(109)의 저항 값이 300ohm으로 설정된 경우, 반도체 장치의 스펙에 정해진 드라이빙 스트랭스 및 터미네이션 임피던스들을 구현하도록 임피던스 조정 회로(105)를 설계한 예를 도 7을 참조하여 설명하기로 한다.
도 7을 참조하면, 임피던스 조정 회로(105)는 기준전압 발생회로(VREF Gen)(431), 제 1 복제 레그(432), 제 1 코드 생성회로(433), 제 2 복제 레그(435), 제 3 복제 레그(436) 및 제 2 코드 생성회로(437)를 포함할 수 있다.
기준전압 발생회로(431)는 기준전압(VREF)을 생성할 수 있다.
기준전압(VREF)은 예를 들어, 전원 전압의 절반의 값을 가질 수 있다.
제 1 복제 레그(432)는 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 임피던스가 조정될 수 있다.
제 1 복제 레그(432)는 제 1 목표 값 즉, 외부 저항(109)의 저항값인 300ohm과 동일한 임피던스를 갖도록 설계될 수 있다.
제 1 복제 레그(432)는 예를 들어, 도 6의 복수의 풀업 레그들(410-0 ~ 410-P) 중에서 어느 하나를 복제하여 구성될 수 있다.
제 1 복제 레그(432)는 외부 저항 패드(107)를 통해 외부 저항(109)과 연결될 수 있다.
제 1 코드 생성회로(433)는 제 1 복제 레그(432)와 외부 저항(109)이 연결된 노드의 전압과 기준 전압(VREF)을 비교한 결과에 따라 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)의 값을 조정할 수 있다.
제 1 코드 생성회로(433)는 제 1 비교기(433-1) 및 제 1 카운터(433-2)를 포함할 수 있다.
제 1 비교기(433-1)는 제 1 복제 레그(432)와 외부 저항(109)이 연결된 노드의 전압과 기준 전압(VREF)을 비교하여 그 비교 결과를 출력할 수 있다.
제 1 카운터(433-2)는 제 1 비교기(433-1)의 출력에 따라 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)의 값을 조정할 수 있다.
제 2 복제 레그(435)는 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 임피던스가 조정될 수 있다.
제 2 복제 레그(435)는 제 1 목표 값 즉, 외부 저항(109)의 저항값인 300ohm과 동일한 임피던스를 갖도록 설계될 수 있다.
제 2 복제 레그(435)는 제 1 복제 레그(432)와 동일하게 구성될 수 있다.
제 3 복제 레그(436)는 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 임피던스가 조정될 수 있다. 제 3 복제 레그(436)는 예를 들어, 도 6의 복수의 풀다운 레그들(420-0 ~ 420-Q) 중에서 어느 하나를 복제하여 구성될 수 있다.
제 2 코드 생성회로(437)는 제 2 복제 레그(435)와 제 3 복제 레그(436)가 연결된 노드의 전압과 기준 전압(VREF)을 비교한 결과에 따라 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)의 값을 조정할 수 있다.
제 2 코드 생성회로(437)는 제 2 비교기(437-1) 및 제 2 카운터(437-2)를 포함할 수 있다.
제 2 비교기(437-1)는 제 2 복제 레그(435)와 제 3 복제 레그(436)가 연결된 노드의 전압과 기준 전압(VREF)을 비교하여 그 비교 결과를 출력할 수 있다.
제 2 카운터(437-2)는 제 2 비교기(437-1)의 출력에 따라 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)의 값을 조정할 수 있다.
이하, 상술한 임피던스 조정 회로(105)의 동작을 설명하면 다음과 같다.
외부 저항(109)은 칩 외부에 구성되므로 내부 동작 환경과 무관하게 일정한 저항값 즉, 300ohm을 유지할 수 있다.
따라서 외부 저항(109)의 저항값을 목표값으로 제 1 복제 레그(432)의 임피던스를 조정하는 동작이 수행될 수 있다.
제 1 복제 레그(432)와 외부 저항(109)이 연결된 노드의 전압과 기준 전압(VREF)을 비교하여 두 값이 오차범위 내에서 일치함에 따라 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)의 조정이 완료될 수 있다.
제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)가 제 2 복제 레그(435)에 제공되므로 제 2 복제 레그(435)의 임피던스 조정 동작 또한 제 1 복제 레그(432)와 동시에 완료될 수 있다.
이어서 제 2 복제 레그(435)의 임피던스를 목표값으로 제 3 복제 레그(436)의 임피던스를 조정하는 동작이 수행될 수 있다.
제 2 복제 레그(435)와 제 3 복제 레그(436)가 연결된 노드의 전압과 기준 전압(VREF)을 비교하여 두 값이 오차범위 내에서 일치함에 따라 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)의 조정이 완료될 수 있다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 데이터 구동 회로의 구성을 나타낸 도면이다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 데이터 구동 회로(500)는 트리거 회로(501), 프리 드라이버(502) 및 메인 드라이버(503)를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 데이터 구동 회로(500)는 임피던스 조정 회로(505)를 더 포함할 수 있다.
트리거 회로(501)는 데이터 전송을 위한 복수의 신호 패스들 중에서 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 제외한 나머지 신호 패스를 차단할 수 있다.
트리거 회로(501)는 위상차를 갖는 복수의 클럭 신호들(RCLKDO, FCLKDO)에 따라 복수의 제 1 데이터(RDATA, FDATA)를 래치하여 생성한 복수의 제 2 데이터(RDATACON<J:0>, FDATACON<J:0>)를 전송하기 위한 복수의 신호 패스들 중에서 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 제외한 나머지 신호 패스를 차단할 수 있다.
트리거 회로(501)는 복수의 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<K:0>, CONPD<K:0>)에 따라 드라이빙 스트랭스 및 그에 대응되는 신호 패스를 결정할 수 있다.
프리 드라이버(502)는 복수의 제 2 데이터(RDATACON<J:0>, FDATACON<J:0>) 중에서 트리거 회로(501)에서 선택된 신호 패스를 통해 전송되는 데이터를 복수의 임피던스 제어코드(PUCODE<L:0>), PDCODE<L:0>)에 따라 정해진 임피던스로 구동하여 복수의 구동 제어신호(PU<M:0>_<N:0>, PD<M:0>_<N:0>)를 생성할 수 있다.
메인 드라이버(503)는 복수의 구동 제어신호(PU<M:0>_<N:0>, PD<M:0>_<N:0>)에 따라 출력단(DQ)을 구동할 수 있다.
임피던스 조정 회로(505)는 외부 저항 패드(107)와 연결된 외부 저항(109)의 저항 값을 목표 값으로 복수의 임피던스 제어코드(PUCODE<L:0>), PDCODE<L:0>)를 조정할 수 있다.
도 9는 도 8의 트리거 회로의 구성을 나타낸 도면이다.
이때 도 9는 복수의 제 2 데이터(RDATACON<J:0>, FDATACON<J:0>), 복수의 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<K:0>, CONPD<K:0>), 복수의 임피던스 제어코드(PUCODE<L:0>), PDCODE<L:0>) 및 복수의 구동 제어신호(PU<M:0>_<N:0>, PD<M:0>_<N:0>)에서 J = 2, K = L = M = N = 4인 경우의 회로 구성 예를 나타낸 것이다.
도 9를 참조하면, 트리거 회로(501)는 제 1 래치 회로(510), 제 1 신호 분배 회로(511), 제 2 래치 회로(520) 및 제 2 신호 분배 회로(521)를 포함할 수 있다.
제 1 래치 회로(510)는 복수의 클럭 신호들(RCLKDO, FCLKDO) 중에서 제 1 클럭 신호(RCLKDO)에 따라 제 1 데이터(RDATA)를 래치하여 제 1 래치 신호(RDIN)를 생성할 수 있다.
제 1 신호 분배 회로(511)는 복수의 제 1 신호 패스들(511-0 ~ 511-4)을 포함할 수 있다.
제 1 신호 분배 회로(511)는 복수의 제 1 신호 패스들(511-0 ~ 511-4) 중에서 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>)에 따라 선택된 신호 패스를 통해서만 제 1 래치 신호(RDIN)를 분배하여 복수의 제 2 데이터(RDATACON<2:0>, FDATACON<2:0>) 중에서 RDATACON<2:0>로서 출력할 수 있다.
복수의 제 1 신호 패스들(511-0 ~ 511-4)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 그 중 하나(511-0)의 구성을 설명하기로 한다.
신호 패스(511-0)는 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호(CONPU<0>)가 하이 레벨인 경우에만 제 1 래치 신호(RDIN)를 반전시켜 출력할 수 있다.
신호 패스(511-0)는 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호(CONPU<0>)가 로우 레벨인 경우에는 제 1 래치 신호(RDIN)의 로직 레벨과 무관하게 제 2 데이터(RDATACON<0>)를 하이 레벨로 고정시킬 수 있다.
신호 패스(511-0)는 낸드 게이트 및 인버터 체인을 포함할 수 있다.
낸드 게이트는 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호(CONPU<0>)와 제 1 래치 신호(RDIN)를 부정 논리곱하여 출력할 수 있다.
인버터 체인은 낸드 게이트의 출력을 지연시켜 제 2 데이터(RDATACON<0>)로서 출력할 수 있다.
제 2 래치 회로(520)는 복수의 클럭 신호들(RCLKDO, FCLKDO) 중에서 제 2 클럭 신호(FCLKDO)에 따라 제 1 데이터(FDATA)를 래치하여 제 2 래치 신호(FDIN)를 생성할 수 있다.
제 2 신호 분배 회로(521)는 복수의 제 2 신호 패스들(521-0 ~ 521-4)을 포함할 수 있다.
제 2 신호 분배 회로(521)는 복수의 제 2 신호 패스들(521-0 ~ 521-4) 중에서 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPD<4:0>)에 따라 선택된 신호 패스를 통해서만 제 2 래치 신호(FDIN)를 분배하여 복수의 제 2 데이터(RDATACON<2:0>, FDATACON<2:0>) 중에서 FDATACON<2:0>로서 출력할 수 있다.
복수의 제 2 신호 패스들(521-0 ~ 521-4)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 그 중 하나(521-0)의 구성을 설명하기로 한다.
신호 패스(521-0)는 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호(CONPD<0>)가 로우 레벨인 경우에만 제 2 래치 신호(FDIN)를 반전시켜 출력할 수 있다.
신호 패스(521-0)는 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호(CONPD<0>)가 하이 레벨인 경우에는 제 2 래치 신호(FDIN)의 로직 레벨과 무관하게 제 2 데이터(FDATACON<0>)를 하이 레벨로 고정시킬 수 있다.
신호 패스(521-0)는 노아 게이트, 트랜스미션 게이트 및 인버터를 포함할 수 있다.
노아 게이트는 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호(CONPD<0>)와 제 2 래치 신호(FDIN)를 부정 논리합하여 출력할 수 있다.
트랜스미션 게이트는 부 제어단에 접지 전압이 인가되고 정 제어단에 전원 전압이 인가될 수 있다.
트랜스미션 게이트는 신호 패스(521-0)가 제 1 신호 분배 회로(511)의 신호 패스(511-0)와 동일한 신호 지연시간을 갖도록 하기 위해 구성될 수 있다.
인버터는 노아 게이트의 출력을 반전시켜 제 2 데이터(FDATACON<0>)로서 출력할 수 있다.
도 10은 도 8의 프리 드라이버의 구성을 나타낸 도면이다.
도 10을 참조하면, 프리 드라이버(502)는 복수의 프리 드라이빙 유닛들(601-0 ~ 601-4, 602-0 ~ 602-4)을 포함할 수 있다.
복수의 프리 드라이빙 유닛들(601-0 ~ 601-4, 602-0 ~ 602-4)은 복수의 프리 풀업 드라이빙 유닛들(601-0 ~ 601-4)과 복수의 프리 풀다운 드라이빙 유닛들(602-0 ~ 602-4)로 구분될 수 있다.
제 1 프리 풀업 드라이빙 유닛(601-0)은 제 2 데이터(RDATACON<0>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<0>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 2 프리 풀업 드라이빙 유닛(601-1)은 제 2 데이터(RDATACON<1>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<1>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 3 프리 풀업 드라이빙 유닛(601-2)은 제 2 데이터(RDATACON<2>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<2>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 4 프리 풀업 드라이빙 유닛(601-3)은 제 2 데이터(RDATACON<2>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<3>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 5 프리 풀업 드라이빙 유닛(601-4)은 제 2 데이터(RDATACON<2>) 및 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>)에 따라 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 1 프리 풀다운 드라이빙 유닛(602-0)은 제 2 데이터(FDATACON<0>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<0>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 2 프리 풀다운 드라이빙 유닛(602-1)은 제 2 데이터(FDATACON<1>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<1>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 3 프리 풀다운 드라이빙 유닛(602-2)은 제 2 데이터(FDATACON<2>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<2>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 4 프리 풀다운 드라이빙 유닛(602-3)은 제 2 데이터(FDATACON<2>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<3>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
제 5 프리 풀다운 드라이빙 유닛(602-4)은 제 2 데이터(FDATACON<2>) 및 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>)에 따라 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
도 11은 도 10의 프리 풀업 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면이다.
복수의 프리 풀업 드라이빙 유닛들(601-0 ~ 601-4)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 5 프리 풀업 드라이빙 유닛(601-4)의 구성을 설명하기로 한다.
도 11을 참조하면, 제 5 프리 풀업 드라이빙 유닛(601-4)은 복수의 코드 제어 유닛들 즉, 제 1 내지 제 5 코드 제어 유닛(611 ~ 615)을 포함할 수 있다.
제 1 코드 제어 유닛(611)은 제 2 데이터(RDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<0>를 논리 곱한 신호를 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>) 중에서 하나 PU<4>_<0>로서 출력할 수 있다.
제 2 코드 제어 유닛(612)은 제 2 데이터(RDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<1>를 논리 곱한 신호를 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>) 중에서 하나 PU<4>_<1>로서 출력할 수 있다.
제 3 코드 제어 유닛(613)은 제 2 데이터(RDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<2>를 논리 곱한 신호를 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>) 중에서 하나 PU<4>_<2>로서 출력할 수 있다.
제 4 코드 제어 유닛(614)은 제 2 데이터(RDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<3>를 논리 곱한 신호를 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>) 중에서 하나 PU<4>_<3>로서 출력할 수 있다.
제 5 코드 제어 유닛(615)은 제 2 데이터(RDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<4:0>) 중에서 하나 PUCODE<4>를 부정 논리 곱한 신호를 제 1 구동 제어신호들(PU<4>_<4:0>) 중에서 하나 PU<4>_<4>로서 출력할 수 있다.
제 1 내지 제 4 코드 제어 유닛(611 ~ 614)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 1 코드 제어 유닛(611)의 구성을 설명하기로 한다.
제 1 코드 제어 유닛(611)은 제 1 내지 제 3 로직 게이트(611-1 ~ 611-3)를 포함할 수 있다.
제 1 로직 게이트(611-1)는 제 2 데이터(RDATACON<4>)를 반전시켜 출력할 수 있다.
제 2 로직 게이트(611-2)는 제 1 로직 게이트(611-1)의 출력과 제 1 임피던스 제어코드(PUCODE<0>)를 부정 논리곱하여 출력할 수 있다.
제 3 로직 게이트(611-3)는 제 2 로직 게이트(611-2)의 출력을 반전시켜 제 1 구동 제어신호(PU<4>_<0>)로서 출력할 수 있다.
제 5 코드 제어 유닛(615)은 제 1 코드 제어 유닛(611)의 제 3 로직 게이트(611-3)를 제외한 나머지 구성과 동일하게 구성할 수 있다.
도 12는 도 10의 프리 풀다운 드라이빙 유닛의 구성을 나타낸 도면이다.
복수의 프리 풀다운 드라이빙 유닛들(602-0 ~ 602-4)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 5 프리 풀다운 드라이빙 유닛(602-4)의 구성을 설명하기로 한다.
도 12를 참조하면, 제 5 프리 풀업 드라이빙 유닛(602-4)은 복수의 코드 제어 유닛들 즉, 제 1 내지 제 5 코드 제어 유닛(621 ~ 625)을 포함할 수 있다.
제 1 코드 제어 유닛(621)은 제 2 데이터(FDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<0>를 논리 곱한 신호를 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>) 중에서 하나 PD<4>_<0>로서 출력할 수 있다.
제 2 코드 제어 유닛(612)은 제 2 데이터(FDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<1>를 논리 곱한 신호를 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>) 중에서 하나 PD<4>_<1>로서 출력할 수 있다.
제 3 코드 제어 유닛(613)은 제 2 데이터(FDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<2>를 논리 곱한 신호를 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>) 중에서 하나 PD<4>_<2>로서 출력할 수 있다.
제 4 코드 제어 유닛(614)은 제 2 데이터(FDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<3>를 논리 곱한 신호를 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>) 중에서 하나 PD<4>_<3>로서 출력할 수 있다.
제 5 코드 제어 유닛(615)은 제 2 데이터(FDATACON<4>)를 반전시킨 신호와 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<4:0>) 중에서 하나 PDCODE<4>를 논리 곱한 신호를 제 2 구동 제어신호들(PD<4>_<4:0>) 중에서 하나 PD<4>_<4>로서 출력할 수 있다.
제 1 내지 제 5 코드 제어 유닛(621 ~ 625)은 서로 동일하게 구성될 수 있으므로 제 1 코드 제어 유닛(621)의 구성을 설명하기로 한다.
제 1 코드 제어 유닛(621)은 제 1 내지 제 3 로직 게이트(621-1 ~ 621-3)를 포함할 수 있다.
제 1 로직 게이트(621-1)는 제 2 데이터(FDATACON<4>)를 반전시켜 출력할 수 있다.
제 2 로직 게이트(621-2)는 제 1 로직 게이트(621-1)의 출력과 제 2 임피던스 제어코드(PDCODE<0>)를 부정 논리곱하여 출력할 수 있다.
제 3 로직 게이트(621-3)는 제 2 로직 게이트(621-2)의 출력을 반전시켜 제 2 구동 제어신호(PD<4>_<0>)로서 출력할 수 있다.
메인 드라이버(503)는 도 6과 동일하게 구성할 수 있으므로 그 구성 및 동작 설명은 생략하기로 한다.
임피던스 조정 회로(505)는 도 7과 동일하게 구성할 수 있으므로 그 구성 및 동작 설명은 생략하기로 한다.
상술한 본 발명의 다른 실시예에 따른 데이터 구동 회로(500)의 동작을 설명하기로 한다.
트리거 회로(501)는 클럭 신호들(RCLK, RCLK)에 따라 데이터(RDATA, FDATA)를 래치하여 생성한 복수의 제 2 데이터(RDATAS<J:0>, FDATAS<J:0>)를, 도 9를 참조하여 설명한 복수의 제 1 및 제 2 신호 패스들(511-0 ~ 511-4, 521-0 ~ 521-4) 모두를 통해 전송하는 것이 아니라, 일부 선택된 신호 패스(또는 신호 패스들)을 통해서만 전송한다.
트리거 회로(501)는 복수의 드라이빙 스트랭스 제어신호들(CONPU<4:0>, CONPD<4:0>)에 따라 복수의 신호 패스들(511-0 ~ 511-4, 521-0 ~ 521-4) 중에서 일부를 선택할 수 있다.
복수의 제 1 및 제 2 신호 패스들(511-0 ~ 511-4, 521-0 ~ 521-4) 중에서 선택되지 않은 신호 패스는 임의의 로직 레벨로 고정되어 전류 소비가 차단될 수 있다.
프리 드라이버(502)는 선택된 신호 패스로만 전송된 복수의 제 2 데이터(RDATAS<J:0>, FDATAS<J:0>)의 일부에 대해서만 복수의 임피던스 제어코드들(PUCODE<4:0>, PDCODE<4:0>)을 적용하여 복수의 구동 제어신호들(PU<4:0>_<4:0>, PD<4:0>_<4:0>)을 생성할 수 있다.
메인 드라이버(503)는 복수의 구동 제어신호들(PU<4:0>_<4:0>, PD<4:0>_<4:0>)에 따라 정해진 터미네이션 임피던스 및 드라이빙 스트랭스에 맞도록 출력단(DQ)을 구동할 수 있다.
이와 같이, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

Claims (13)

  1. 데이터 전송을 위한 복수의 신호 패스들 중에서 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 제외한 나머지 신호 패스를 차단할 수 있도록 구성된 트리거 회로; 및
    상기 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 통해 전송되는 데이터를 복수의 임피던스 제어코드에 따라 정해진 임피던스로 구동하도록 구성된 프리 드라이버를 포함하며,
    상기 트리거 회로는
    위상차를 갖는 복수의 클럭 신호들에 따라 복수의 제 1 데이터를 래치하여 생성한 복수의 제 2 데이터를 전송하기 위한 복수의 신호 패스들 중에서 상기 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 제외한 나머지 신호 패스를 차단하도록 구성되는 데이터 구동 회로.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 트리거 회로는
    제 1 클럭 신호에 따라 상기 복수의 제 1 데이터 중에서 어느 하나를 래치하여 제 1 래치 신호를 생성하도록 구성된 제 1 래치 회로,
    상기 복수의 신호 패스들에 포함된 복수의 제 1 신호 패스들 중에서 제 1 드라이빙 스트랭스 제어신호들에 따라 선택된 신호 패스를 통해서만 상기 제 1 래치 신호를 분배하여 상기 복수의 제 2 데이터 중에서 일부로서 출력하도록 구성된 제 1 신호 분배 회로,
    제 2 클럭 신호에 따라 상기 복수의 제 1 데이터 중에서 다른 하나를 래치하여 제 2 래치 신호를 생성하도록 구성된 제 2 래치 회로, 및
    상기 복수의 신호 패스들에 포함된 복수의 제 2 신호 패스들 중에서 제 2 드라이빙 스트랭스 제어신호들에 따라 선택된 신호 패스를 통해서만 상기 제 2 래치 신호를 분배하여 상기 복수의 제 2 데이터 중에서 나머지로서 출력하도록 구성된 제 2 신호 분배 회로를 포함하는 데이터 구동 회로.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 프리 드라이버는
    상기 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 통해 전송되는 데이터를 상기 복수의 임피던스 제어코드 중에서 제 1 임피던스 제어코드에 따라 구동하도록 구성된 복수의 프리 풀업 드라이빙 유닛들, 및
    상기 현재 선택된 드라이빙 스트랭스에 대응되는 신호 패스를 통해 전송되는 데이터를 상기 복수의 임피던스 제어코드 중에서 제 2 임피던스 제어코드에 따라 구동하도록 구성된 복수의 프리 풀다운 드라이빙 유닛들을 포함하는 데이터 구동 회로.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 프리 드라이버의 출력에 따라 상기 데이터 구동 회로의 출력단을 구동하도록 구성된 메인 드라이버를 더 포함하는 데이터 구동 회로.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 메인 드라이버는
    상기 프리 드라이버의 출력 중에서 제 1 구동 제어신호들에 따라 상기 출력단을 풀업 시키도록 구성된 제 1 드라이버, 및
    상기 프리 드라이버의 출력 중에서 제 2 구동 제어신호들에 따라 상기 출력단을 풀다운 시키도록 구성된 제 2 드라이버를 포함하는 데이터 구동 회로.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 메인 드라이버는
    상기 출력단과 공통 연결된 복수의 풀업 레그들 및 복수의 풀다운 레그들을 포함하는 데이터 구동 회로.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 복수의 풀업 레그들 중에서 일부에는 제 1 구동 제어신호들의 신호 성분 각각이 일대일 입력될 수 있고, 다른 일부에는 상기 제 1 구동 제어신호들 중에서 어느 하나 이상이 공통 입력되는 데이터 구동 회로.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 복수의 풀다운 레그들 중에서 일부에는 제 2 구동 제어신호들의 신호 성분 각각이 일대일 입력될 수 있고, 다른 일부에는 상기 제 2 구동 제어신호들 중에서 어느 하나 이상이 공통 입력되는 데이터 구동 회로.
  10. 제 1 항에 있어서,
    외부 저항의 저항 값을 목표 값으로 상기 복수의 임피던스 제어코드를 조정하도록 구성된 임피던스 조정 회로를 더 포함하는 데이터 구동 회로.
  11. 제 10 항에 있어서,
    외부 저항과 연결되며, 상기 복수의 임피던스 제어코드 중에서 제 1 임피던스 제어코드에 따라 임피던스가 조정되도록 구성된 제 1 복제 레그,
    상기 제 1 복제 레그와 상기 외부 저항이 연결된 제 1 노드의 전압과 기준 전압을 비교한 결과에 따라 상기 제 1 임피던스 제어코드의 값을 조정하도록 구성된 제 1 코드 생성회로,
    상기 제 1 임피던스 제어코드에 따라 임피던스가 조정되도록 구성된 제 2 복제 레그,
    상기 복수의 임피던스 제어코드 중에서 제 2 임피던스 제어코드에 따라 임피던스가 조정되도록 구성된 제 3 복제 레그, 및
    상기 제 2 복제 레그와 상기 제 3 복제 레그가 연결된 제 2 노드의 전압과 상기 기준 전압을 비교한 결과에 따라 상기 제 2 임피던스 제어코드의 값을 조정하도록 구성된 제 2 코드 생성회로를 포함하는 데이터 구동 회로.
  12. 제 11 항에 있어서,
    제 1 코드 생성회로는
    상기 제 1 노드의 전압과 상기 기준 전압을 비교하여 그 비교 결과를 출력하도록 구성된 비교기, 및
    상기 비교기의 출력에 따라 상기 제 1 임피던스 제어코드의 값을 조정하도록 구성된 카운터를 포함하는 데이터 구동 회로.
  13. 제 11 항에 있어서,
    상기 제 2 코드 생성회로는
    상기 제 2 노드의 전압과 상기 기준 전압을 비교하여 그 비교 결과를 출력하도록 구성된 비교기, 및
    상기 비교기의 출력에 따라 상기 제 2 임피던스 제어코드의 값을 조정하도록 구성된 카운터를 포함하는 데이터 구동 회로.
KR1020190175034A 2019-12-26 2019-12-26 데이터 구동 회로 Active KR102714915B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190175034A KR102714915B1 (ko) 2019-12-26 2019-12-26 데이터 구동 회로
US16/902,876 US11264064B2 (en) 2019-12-26 2020-06-16 Data driving circuit
CN202010717503.6A CN113054985B (zh) 2019-12-26 2020-07-23 数据驱动电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190175034A KR102714915B1 (ko) 2019-12-26 2019-12-26 데이터 구동 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20210082766A KR20210082766A (ko) 2021-07-06
KR102714915B1 true KR102714915B1 (ko) 2024-10-11

Family

ID=76507629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190175034A Active KR102714915B1 (ko) 2019-12-26 2019-12-26 데이터 구동 회로

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11264064B2 (ko)
KR (1) KR102714915B1 (ko)
CN (1) CN113054985B (ko)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100668499B1 (ko) 2006-02-09 2007-01-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 회로 및 방법
KR101053542B1 (ko) * 2010-04-12 2011-08-03 주식회사 하이닉스반도체 데이터 스트로브 신호 출력 드라이버
US20180053567A1 (en) 2016-08-16 2018-02-22 SK Hynix Inc. Semiconductor devices, semiconductor systems, and methods thereof

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5955894A (en) * 1997-06-25 1999-09-21 Sun Microsystems, Inc. Method for controlling the impedance of a driver circuit
KR100308791B1 (ko) * 1999-09-07 2001-11-05 윤종용 반도체 장치의 프로그래머블 임피던스 콘트롤 출력회로 및 프로그래머블 임피던스 콘트롤 방법
JP3744867B2 (ja) * 2002-03-19 2006-02-15 株式会社半導体理工学研究センター データ保持回路
JP2004145709A (ja) * 2002-10-25 2004-05-20 Renesas Technology Corp 半導体装置
KR100502664B1 (ko) 2003-04-29 2005-07-20 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 모드 전환 회로 및 그방법
KR100543197B1 (ko) 2003-08-25 2006-01-20 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력드라이버
KR100625298B1 (ko) * 2005-09-29 2006-09-15 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 제어 장치
KR100930399B1 (ko) * 2007-05-10 2009-12-08 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치의 데이터 출력 드라이빙 회로
KR101045071B1 (ko) * 2009-11-30 2011-06-29 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력회로
JP5624441B2 (ja) * 2010-11-30 2014-11-12 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. 半導体装置
KR20140001000A (ko) 2012-06-27 2014-01-06 에스케이하이닉스 주식회사 온 다이 터미네이션 회로 및 터미네이션 방법
JP2015050691A (ja) * 2013-09-03 2015-03-16 マイクロン テクノロジー, インク. 半導体装置
KR102192543B1 (ko) * 2014-04-04 2020-12-18 에스케이하이닉스 주식회사 신호 전달회로 및 그의 동작방법
KR102246878B1 (ko) * 2014-05-29 2021-04-30 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 장치, 이를 포함하는 메모리 모듈, 및 이를 포함하는 메모리 시스템
KR20180029347A (ko) * 2016-09-12 2018-03-21 에스케이하이닉스 주식회사 캘리브레이션 동작을 수행하는 반도체 장치 및 시스템
KR102441423B1 (ko) * 2017-12-21 2022-09-07 에스케이하이닉스 주식회사 스트로브 신호 생성 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치
US10867094B2 (en) * 2018-03-16 2020-12-15 Ambient Scientific Inc. Adjustable integrated circuits and methods for designing the same
US10504571B1 (en) * 2018-10-04 2019-12-10 Microa Technology, Inc. Apparatus with a calibration mechanism

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100668499B1 (ko) 2006-02-09 2007-01-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 회로 및 방법
KR101053542B1 (ko) * 2010-04-12 2011-08-03 주식회사 하이닉스반도체 데이터 스트로브 신호 출력 드라이버
US20180053567A1 (en) 2016-08-16 2018-02-22 SK Hynix Inc. Semiconductor devices, semiconductor systems, and methods thereof

Also Published As

Publication number Publication date
CN113054985B (zh) 2025-04-18
CN113054985A (zh) 2021-06-29
US20210201962A1 (en) 2021-07-01
KR20210082766A (ko) 2021-07-06
US11264064B2 (en) 2022-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8519763B2 (en) Integrated circuits with dual-edge clocking
US7595661B2 (en) Low voltage differential signaling drivers including branches with series resistors
US8476947B2 (en) Duty cycle distortion correction circuitry
US8766663B2 (en) Implementing linearly weighted thermal coded I/O driver output stage calibration
US7570094B2 (en) Automatic duty cycle correction circuit with programmable duty cycle target
US20090179686A1 (en) Time-balanced multiplexer switching methods and apparatus
EP2664063A1 (en) Flop type selection for very large scale integrated circuits
US6683932B1 (en) Single-event upset immune frequency divider circuit
US10715143B1 (en) Radiation event protection circuit with double redundancy and latch
US11201610B2 (en) Selectable delay buffers and logic cells for dynamic voltage scaling in ultra low voltage designs
US10921846B1 (en) Clock generation circuit of semiconductor device
KR100410978B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 임피이던스 매칭회로
KR102714915B1 (ko) 데이터 구동 회로
US8692604B2 (en) Impedance calibration circuit
KR101638264B1 (ko) 부하 독립 버퍼를 개량하기 위한 방법 및 장치
US7528630B2 (en) High speed flip-flop
US20080231336A1 (en) Scan flip-flop circuit with extra hold time margin
US11281249B2 (en) Voltage sensitive current circuit
US7279924B1 (en) Equalization circuit cells with higher-order response characteristics
US10382038B2 (en) System and method of acceleration of slow signal propagation paths in a logic circuit
US8830780B2 (en) System and method of performing power on reset for memory array circuits
Gupta et al. PFSCL Circuits with Reduced Gate Count
Verma et al. High-speed and area efficient low-power dynamic parity generator and parity checker
US5900777A (en) Method for interconnecting CMOS chip types

Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20191226

PG1501 Laying open of application
A201 Request for examination
PA0201 Request for examination

Patent event code: PA02012R01D

Patent event date: 20221031

Comment text: Request for Examination of Application

Patent event code: PA02011R01I

Patent event date: 20191226

Comment text: Patent Application

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20240123

Patent event code: PE09021S01D

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

Patent event code: PE07011S01D

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event date: 20240708

PG1601 Publication of registration