KR102497417B1

KR102497417B1 - 온도를 제어하여 열화 성능을 검사하는 검사 시스템

Info

Publication number: KR102497417B1
Application number: KR1020210001998A
Authority: KR
Inventors: 박병옥
Original assignee: 박병옥
Priority date: 2021-01-07
Filing date: 2021-01-07
Publication date: 2023-02-08
Anticipated expiration: 2041-01-07
Also published as: KR20220099737A

Abstract

본 발명은 영상을 표시하는 표시장치의 검사 시스템으로서, 표시장치를 미리 설정된 테스트온도로 가열하는 가열수단을 포함하며, 가열수단은 미리 설정된 패턴으로 표시장치의 외면과 대면하도록 배치되고, 일측에는 표시장치의 각 신호선들과 접촉되는 연결 핀들이 인입되도록 개방부위가 형성된, 표시장치 수용모듈; 연결 핀들과 접촉되어 연결되는 프로브 핀들이 포함되며, 개방부위 측에 위치되는 프로브 블럭부; 신호선들로 테스트신호를 입력하고, 신호선들로부터 테스트 결과에 대한 신호를 피드백 받는, 적어도 하나의 플랙시블 회로기판부; 각 프로브 핀들 및 각 프로브 핀들과 대응하는 배선들을 전기적으로 연결하는 연결패턴들을 포함하는 패턴기판부로서, 연결패턴은 상부에 배치되는, 패턴기판부; 테스트신호 및 테스트신호의 피드백신호를 송수신하는 양방향 검사부로서, 피드백신호에 포함된 정보를 미리 설정된 방식으로 이용하여, 신호선들의 상태를 확인하는, 양방향 검사부; 및 표시장치 수용모듈 및 양방향 검사부와 연결되는 제어모듈로서, 표시장치의 온도가 테스트온도에 도달하도록 가열수단을 제어하며, 테스트온도에 대한 정보를 양방향 검사부로 전달하는, 제어모듈을 포함하는 검사 시스템을 제공한다.

Description

온도를 제어하여 열화 성능을 검사하는 검사 시스템{Inspection system that controls temperature to test deterioration performance}

본 발명은 온도를 제어하여 열화 성능을 검사하는 검사 시스템에 관한 것이다.

일반적으로 디지털 표시장치의 개발이 활발히 진행되고 있으며, 디지털 표시장치는 데스크톱 컴퓨터, 노트북 컴퓨터, 게임기와 같은 정보 처리장치 및 디지털 TV 등에 널리 적용되고 있다. 대표적인 디지털 표시장치로는 액정을 이용하는 액정표시장치, 플라즈마를 이용하는 플라즈마 표시장치 및 유기 발광물질을 이용하는 OLED 표시장치 등이 있다.

이들 디지털 표시장치는 아날로그 표시장치와 다르게 신호선들에 디지털 영상신호가 입력되고 디지털 영상신호에 의하여 액정, 플라즈마, 유기발광 물질을 이용하여 영상이 표시된다.

디지털 표시장치의 신호선들은 주로 금속막 증착 공정, 금속막 패터닝 공정과 같은 박막 처리 공정에 의하여 형성된다.

디지털 영상신호가 입력되는 신호선들을 갖는 디지털 표시장치들은 조립이 완료된 후 테스트 공정이 수행되는데, 디지털 표시장치의 테스트 공정은 신호선들에 테스트신호를 인가하여 디지털 표시장치에 테스트 영상을 구현한 후 테스트 영상을 작업자가 비주얼 방식으로 검사하여 디지털 표시장치의 양부를 판별한다.

그러나, 종래 디지털 표시장치를 비주얼 방식으로 테스트할 경우, 작업자의 숙련도 및 작업자의 피로도에 따라서 테스트가 정확하게 이루어지지 않는 문제점을 갖는다.

또한, 종래 디지털 표시장치의 테스트 공정은 디지털 표시장치가 완전히 조립된 후 수행되기 때문에 테스트 공정에서 불량으로 판정된 디지털 표시장치는 리페어가 불가하여 폐기되고 이로 인해 수율이 감소되는 문제점을 갖는다.

특히, 디지털 표시장치가 완전히 조립된 후 테스트 공정이 수행될 경우, 디지털 표시장치의 신호선들을 형성하는 공정 중 발생된 신호선의 단선과 같은 치명적인 불량을 조기에 발견하기 어려운 문제점을 갖으며, 또한, 디지털 표시장치가 사용자에 의해 실제로 사용될 때, 발열에 따른 문제가 발생된다.

대한민국 등록특허공보 제10-0991367호 대한민국 등록특허공보 제10-2188565호

상기와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명은 디지털 표시장치의 조립 전에 신호선들의 치명적인 불량을 조기에 발견함과 동시에, 발열이 되는 실제의 상황과 유사한 분위기를 모사하여 표시장치 및 신호선들의 열화 성능을 모두 사전에 검사할 수 있는 기술을 제안하고자 한다.

본 발명은 영상을 표시하는 표시장치의 검사 시스템으로서, 표시장치가 수용되는 표시장치 수용모듈로서, 상기 표시장치를 미리 설정된 테스트온도로 가열하는 가열수단을 포함하며, 상기 가열수단은 미리 설정된 패턴으로 상기 표시장치의 외면과 대면하도록 배치되고, 일측에는 상기 표시장치의 각 신호선들과 접촉되는 연결 핀들이 인입되도록 개방부위가 형성된, 표시장치 수용모듈; 상기 연결 핀들과 접촉되어 연결되는 프로브 핀들이 포함되며, 상기 개방부위 측에 위치되는 프로브 블럭부; 상기 신호선들로 테스트신호를 입력하고, 상기 신호선들로부터 테스트 결과에 대한 신호를 피드백 받기 위해 상기 프로브 핀들의 개수와 동일한 개수로 형성된 배선들을 포함하는, 적어도 하나의 플랙시블 회로기판부; 상기 각 프로브 핀들 및 상기 각 프로브 핀들과 대응하는 상기 배선들을 전기적으로 연결하는 연결패턴들을 포함하는 패턴기판부로서, 상기 연결패턴은 상부에 배치되는, 패턴기판부; 상기 테스트신호 및 상기 테스트신호의 피드백신호를 송수신하는 양방향 검사부로서, 상기 피드백신호에 포함된 정보를 미리 설정된 방식으로 이용하여, 상기 신호선들의 상태를 확인하는, 양방향 검사부; 및 상기 표시장치 수용모듈 및 상기 양방향 검사부와 연결되는 제어모듈로서, 상기 표시장치 수용모듈의 내부 또는 상기 표시장치의 온도가 상기 테스트온도에 도달하도록 상기 가열수단을 제어하며, 상기 테스트온도에 대한 정보를 상기 양방향 검사부로 전달하는, 제어모듈; 을 포함하며, 상기 양방향 검사부는, 상기 표시장치의 테스트온도 변화에 따라, 상기 피드백신호에 포함된 전기적정보를 분석하되, 제1 테스트온도에서의 상기 전기적정보의 유효범위는 미리 설정되고, 상기 피드백신호에 포함된 전기적정보가 상기 유효범위 내에 포함되는지 여부를 통해, 상기 신호선들의 상태를 확인하는 검사 시스템을 제공한다.

또한, 상기 표시장치 수용모듈의 상기 가열수단은 제1 내지 제n 가열선으로 구성되며, 상기 표시장치 수용모듈은, 가열선 전원공급부와 연결된 상기 제1 내지 제n 가열선; 및 상기 표시장치 수용모듈 내부의 온도 또는 상기 표시장치 중 적어도 일 부위의 온도를 센싱하는 센서부; 를 포함하고, 상기 제어모듈은, 상기 센서부에 의해 센싱된 온도가 상기 테스트온도에 도달할 경우, 상기 가열선 전원공급부의 전원을 차단할 수 있다.

또한, 상기 표시장치 수용모듈은, 제1 내지 제n 냉각선으로 구성되며, 상기 표시장치 수용모듈 내부의 온도를 미리 설정한 온도로 강제 냉각시키되, 상기 제어모듈에 의해 동작이 제어되는 냉각수단; 을 더 포함하며, 상기 제1 내지 제n 가열선은, 각각 소정의 간격을 두고 평행하게 배치되고, 상기 제1 내지 제n 가열선 중 이웃한 가열선 사이에 제k 냉각선이 배치되며, 상기 제어모듈은, 상기 가열수단 및 냉각수단을 이용하여, 상기 표시장치 수용모듈 내부 또는 상기 표시장치를 반복하여 가열 또는 냉각시킴으로써, 상이한 테스트온도를 형성하며, 상기 양방향 검사부는, 테스트온도마다, 상기 테스트신호 및 상기 테스트신호의 피드백신호를 반복적으로 송수신함으로써, 상기 신호선들 및 상기 표시장치의 상태를 확인할 수 있다.

또한, 상기 제1 내지 제n 가열선은, 상기 표시장치와 대면하는 부위의 폭이 서로 상이한 폭이 되도록 형성하되, 상기 표시장치의 중심으로부터 외측으로 갈수록 상기 폭이 감소하도록 형성될 수 있다.

한편, 본 발명은 전술한 검사 시스템을 이용한 방법으로서, (a) 표시장치 수용모듈에 표시장치가 수용되며, 제어모듈에 테스트온도가 입력되는 단계(S110); (b) 상기 표시장치 수용모듈의 가열수단이 동작되어 상기 표시장치 수용모듈의 내부 또는 상기 표시장치의 온도가 테스트온도로 상승되는 단계(S120); (c) 양방향 검사부로부터 상기 표시장치의 각 신호선들로 테스트신호가 송신되는 단계(S130); (d) 상기 테스트신호의 피드백신호를 미리 설정된 방식으로 분석하여, 상기 신호선들 또는 상기 표시장치의 상태를 확인하는 단계(S140); 및 (e) 상기 (d) 단계에서, 상기 신호선들 및 상기 표시장치의 상태가 정상으로 확인된 경우, 상기 표시장치 수용모듈로부터 상기 표시장치를 분리하며, 상기 표시장치 수용모듈의 냉각수단을 통해, 상기 표시장치 수용모듈 내부의 온도를 기준온도로 형성시키는 단계(S150); 를 포함하는 방법을 제공한다.

본 발명은 디지털 표시장치의 조립 전에 신호선들의 치명적인 불량을 조기에 발견함과 동시에, 발열이 되는 실제의 상황과 유사한 분위기를 모사하여 표시장치 및 신호선들의 열화 성능을 모두 사전에 검사할 수 있다.

도 1 및 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 시스템의 전체 모식도를 개략적으로 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 시스템의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 시스템 중 표시장치 수용모듈의 단면을 개략적으로 도시한다.
도 5는 도 3의 가열선 형상의 변형예이다.
도 6은 도 3의 가열선 및 냉각선의 또다른 변형예이다.
도 7은 본 발명인 검사 시스템을 이용한 방법의 순서도이다.

이하 첨부된 도면 및 실시예를 통하여 본 발명을 상세히 설명하기로 하며, 하기에서 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그에 대해 상세한 설명을 생략하였다.

그리고 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로써, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.

본 발명에서 빈번하게 사용되는 "표시장치"는 복수개의 신호선들 및 신호선들에 디지털 영상 신호를 인가하여 영상을 표시하는 디지털 표시장치를 의미하며, "표시장치"는 액정표시(liquid crystal display device, LCD) 장치, 플라즈마 표시 패널(plasma display panel, PDP) 장치 및 유기 광 발생 다이오드(organic light emitting diodes, OLED) 장치 등을 포함할 수 있다. 본 발명에서 빈번하게 사용되는 "표시장치"는 LCD 장치, PDP 장치, OLED 장치 이외에 신호선에 디지털 영상 신호를 제공하여 디지털 영상을 표시하는 모든 장치를 포함할 수 있다.

또한, 본 발명에서 사용되는 "양방향 검사장치"는 "표시장치"의 신호선들에 테스트신호를 제공 및 신호선들로부터 피드백된 피드백신호를 이용하여 "표시장치"의 신호선들을 테스트하는 장치로서 정의된다.

도 1 내지 도 3을 참조하여, 본 발명에 따른 검사 시스템을 설명한다.

검사 시스템은 표시장치 수용모듈(1000), 프로브 블럭부(110), 플랙시블 회로기판부(120), 패턴기판부(130), 양방향 검사부(200) 및 제어모듈(1040)을 포함한다.

본원에서는 표시장치 수용모듈(1000) 이외의 구성들을 먼저 설명한 후, 표시장치 수용모듈(1000)에 대해서는 자세히 후술하도록 한다. 여기서, 프로브 블럭부(110), 플랙시블 회로기판부(120) 및 패턴기판부(130)는 표시장치용 검사모듈(100)을 구성한다. 즉, 본 발명에 따른 검사 시스템은, 표시장치 수용모듈(1000), 표시장치용 검사모듈(100), 양방향 검사부(300) 및 제어모듈(1040)로 크게 구분된다.

표시장치용 검사모듈(100)은 앞서 정의된 표시장치(200) 및 양방향 검사장치(300)를 전기적으로 연결한다. 표시장치용 검사모듈(100)은 양방향 검사장치(300)로부터 발생된 테스트신호(TS)를 표시장치(200)의 각 신호선들로 제공하고, 표시장치(200)의 신호선들로부터 피드백신호(FS)를 양방향 검사장치(300)로 인가한다.

양방향 검사장치(300)는 표시장치용 검사모듈(100)을 통해 제공된 피드백신호(FS)를 이용하여 표시장치(200)가 완전히 조립되기 이전에 표시장치(200)를 테스트하여 각 신호선들의 양부는 물론 표시장치(200)의 양부를 테스트한다.

표시장치용 검사모듈(100)은 프로브 블럭부(110), 플랙시블 회로기판부(120) 및 패턴기판부(130)을 포함한다. 이에 더하여 표시장치용 검사모듈(100)은 베이스 기판(140)을 더 포함할 수 있다. 프로브 블럭부(110)은 블럭 몸체(112) 및 프로브 핀(116)들을 포함한다. 블럭 몸체(112)는, 예를 들어, 직육면체 형상을 갖고, 블럭 몸체(112)에는 그루브(groove) 형상을 갖는 복수개의 프로브 핀 홈(113)들이 형성된다. 각 프로브 핀(116)들은 얇은 두께를 갖는 금속판 형상을 갖고, 프로브 핀(116)들은 블럭 몸체(112)의 각 프로브 핀 홈(113)들 내에 고정된다. 프로브 핀 홈(113)들에 고정된 프로브 핀(116)들은 제1 간격으로 배치된다. 각 프로브 핀(116)들은 제1 콘택부(117) 및 제2 콘택부(118)를 포함한다. 제1 콘택부(117)는 핀(pin) 형상으로 도 1 및 도 2에 도시된 표시장치(200)의 신호선들과 전기적으로 연결된 연결 핀들(YS)과 점 접촉되고, 제2 콘택부(118)는 후술 될 패턴기판부(130)의 연결 패턴들과 전기적으로 접속된다.

플랙시블 회로기판부(120)은 기판 몸체(122) 및 배선(124)들을 포함한다. 기판 몸체(122)는 얇은 두께를 갖는 플랙시블한 절연 플레이트를 포함하고, 배선(124)은 기판 몸체(122) 상에 배치된다. 배선(124)들은 솔더레지스트 필름 등에 의하여 절연되고, 각 배선(124) 중 커넥터 등과 접속되는 부분은 솔더레지스트 필름의 개구에 의하여 노출된다.

플랙시블 회로기판부(120)은 적어도 하나, 바람직하게 복수 개로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 플랙시블 회로기판부(120)은 2개로 이루어진다. 본 실시예에서는 비록 2 개의 플랙시블 회로기판부(120)들이 도시 및 설명되고 있지만, 플랙시블 회로기판부(120)은 프로브 핀(116)의 개수에 비례하여 적어도 3개 이상으로 이루어질 수 있다.

일 예시로, 2개의 플랙시블 회로기판부(120)들에 형성된 배선(124)들의 개수의 총 합은 프로브 블럭부(110)의 프로브 핀(116)들의 개수와 실질적으로 동일할 수 있다. 이와 다르게, 각 플랙시블 회로기판부(120)에 형성된 배선(124)들의 개수의 총 합은 배선(124)의 단선에 따른 리페어를 위하여 프로브 핀(116)의 개수보다 다소 많게 형성될 수 있다.

프로브 핀(116)들의 개수 및 각 플랙시블 회로기판부(120)들에 형성된 배선(124)들의 개수의 총합은 동일하다. 예를 들어, 프로브 블럭부(110)은, 예를 들어, 5개의 프로브 핀(116)들을 포함하고, 각 플랙시블 회로기판부(120)들에 형성된 배선(124)의 개수의 총 합은 프로브 핀(116)들의 개수와 동일하게 5개이다.

실제로 제품에서는 수백 내지 수천 개의 프로브 핀(116)들 및 배선(124)들은 프로브 블럭부(110) 및 플랙시블 회로기판부(120)에 각각 형성된다.

각 플랙시블 회로기판부(120)들은 각각 제1 회로기판부(125) 및 제2 회로기판부(126)들을 포함한다. 제1 회로기판부(125)는 후술될 패턴기판부(130)의 연결 패턴과 전기적으로 접속되는 배선(124)의 일측 단부를 포함하며, 제1 회로기판부(125)는 제1 폭(W1)으로 형성된다. 제1 회로기판부(125)에 형성된 배선(124)들은 프로브 블럭부(110)에 고정된 프로브 핀(116)들의 상기 제1 간격보다 넓은 제2 간격으로 형성된다.

도 1 및 도2를 다시 참조하면, 양방향 검사장치(300)는 표시장치(200)의 각 신호선으로 제공될 복수개의 테스트신호(TS)들을 생성하고, 각 테스트신호(TS)들을 표시장치용 검사모듈(100)의 각 플랙시블 회로기판부(120)의 각 배선(124)들로 동시 또는 순차적으로 제공한다.

플랙시블 회로기판부(120)의 각 배선(124)들로 동시 또는 순차적으로 제공된 테스트신호(TS)는 배선(124), 패턴기판부(130)의 연결 배선(131, 132) 및 프로브 블럭부(110)의 프로브 핀(116)을 경유하여 표시장치(200)의 신호선들로 각각 제공된다.

이 때, 양방향 검사장치(300)로부터 발생된 각 테스트신호(TS)는 배선(124)들, 연결 배선(131,132)들 및 프로브 핀(116)들에 의하여 테스트신호(TS)에 대응하는 표시장치(200)의 신호선들로 각각 제공된다.

이어서, 표시장치(200)의 신호선들로부터는 테스트 결과 신호인 피드백신호(FS)가 출력되고, 피드백신호(FS)는 각 프로브 핀(116), 각 프로브 핀(116)과 대응하는 패턴기판부(130)의 각 연결 패턴(131,132) 및 각 연결패턴(131,132)들과 연결된 플랙시블 회로기판부(120)의 배선(124)들을 통해 양방향 검사장치(300)로 제공되고, 양방향 검사장치(300)는 피드백신호(FS)를 이용하여 신호선들의 양부를 판별한다. 본 발명의 일실시예에서는 각 신호선들, 각 신호선들과 직렬 방식으로 연결된 각 프로브 핀(116)들, 각 프로브 핀(116)들과 직렬 방식으로 연결된 연결 패턴(131,132)들, 각 연결 패턴(131,132)들과 직렬 방식으로 연결된 배선(124)들 및 각 배선(124)들과 직렬 방식으로 양방향 검사장치(300)를 연결하여, 양방향 검사장치(300)로부터 표시장치(200)의 각 신호선으로 테스트신호를 입력 및 각 신호선으로부터 피드백신호를 양방향 검사장치(300)로 입력하여 표시장치(200)의 각 신호선들의 개별적인 불량 여부를 신속 정확하게 테스트할 수 있다.

표시장치용 검사모듈은 표시장치의 신호선들 및 양방향 검사장치를 일대일로 연결함으로써, 양방향 검사장치로부터 테스트신호를 신호선들로 인가 및 신호선들로부터 피드백신호를 양방향 검사장치로 제공하여 각각의 신호선들을 전기적으로 검사하여 검사 정확도를 보다 향상시키고, 표시장치를 완전히 조립하기 이전에 표시장치를 단위 공정마다 검사할 수 있는 효과를 갖는다.

도 1 및 도 3을 참조하여, 본 발명의 표시장치 수용모듈(1000)에 대해 설명한다. 표시장치 수용모듈(1000)은 가열수단(1010) 및 냉각수단(1020)을 포함하며, 표시장치(200)가 내측으로 삽입되도록 형성된 하우징 구조이다. 표시장치(200)의 내측 삽입과 표시장치의 각 신호선들과 접촉되는 연결 핀들(YS)의 인입을 위해, 일측 부분은 개방 형성된다.

가열수단은 제1 내지 제n 가열선으로 구성되며, 이들은 가열선 전원공급부(1011)와 연결되어 전원을 공급받는다. 여기서 가열선은 일 예시로, 열선 코일로 구성될 수 있으며, 표시장치 수용모듈(1000)의 내측면에 형성됨으로써, 표시장치 수용모듈(1000) 내부의 온도를 상승시킬 수 있고, 또한, 표시장치(200) 자체의 온도를 상승시킬 수 있다.

이와 같이, 가열선을 이용하여, 표시장치의 온도를 상승시키는 이유는 사용자가 실제로 표시장치를 사용할 때에는 발열이 가장 큰 문제로 작용될 수 있기 때문이다. 표시장치(200)가 내부 발열 또는 태양광에 의해 가열될 때, 표시장치(200) 내부의 소자 또는 신호선이 정상적으로 동작되는지 확인하는 것은 매우 중요하나, 종래에는 온도를 일정하게 유지하거나, 또는 발열시의 온도에서는 테스트를 하지 않았다는 문제가 있었다. 사용자들은 각자 사용환경이 상이한 바, 실제 사용과정에서 발열의 문제가 많이 발생한 바, 이러한 환경과 유사한 분위기를 모사하여 테스트를 수행함으로써, 상기의 문제를 미연에 방지할 수 있다.

표시장치 수용모듈(1000)의 내측에는 표시장치 수용모듈 내부의 온도 또는 표시장치 중 적어도 일 부위의 온도를 센싱하는 센서부(미도시)를 포함한다. 센서부는 제어모듈(1040)과 연결되어 온도정보를 제어모듈(1040)로 전송하며, 센서부에 의해 센싱된 온도가 테스트온도에 도달할 경우, 가열선 전원공급부(1011)의 전원을 차단한다.

도 1을 참조하면, 표시장치 수용모듈(1000)은 삽입된 표시장치(200)의 외면을 둘러싸도록 가열선(1010, 1012, 1014, 1016)이 배치된다. 도 1에서는 상부에서 바라본 상태가 도시되나, 표시장치(200)의 상부 뿐만 아니라, 하부까지 모두 둘러싸도록 배치된다. 또한, 표시장치 수용모듈(1000)은 냉각수단(1020)이 더 구비된다. 냉각수단(1020)은 제1 내지 제n 냉각선(1020, 1022, 1024, 1026)으로 구성되며, 표시장치 수용모듈 내부의 온도를 미리 설정한 온도로 강제 냉각시키되, 제어모듈(1040)에 의해 동작이 제어된다.

이 때, 제1 내지 제n 가열선(1010, 1012, 1014, 1016)은, 각각 소정의 간격을 두고 평행하게 배치되고, 제1 내지 제n 가열선(1010, 1012, 1014, 1016) 중 이웃한 가열선 사이에 제k 냉각선이 배치된다. 즉, 가열선-냉각선-가열선-냉각선 순서로 배치되는 예로 구성될 수 있다.

냉각선(1020, 1022, 1024, 1026)은 동일한 표시장치(200)에 대한 검사를 반복할 경우, 매우 유용하게 사용될 수 있다. 테스트온도를 변화시키면서, 표시장치(200) 또는 신호선의 검사를 수행할 경우, 이미 가열된 이들을 최대한 빠르게 냉각시킴으로써, 다시 초기상태를 형성할 수 있다. 이를 위해, 냉매순환펌프(1021)와 연결될 수 있으며, 추가적으로, 냉각을 위한 팬수단(1030)이 더 구비될 수 있다. 냉각선(1020, 1022, 1024, 1026)은 전술한 제1 내지 제n 가열선(1010, 1012, 1014, 1016)과는 달리, 냉매가 유동하는 유로로 구성될 수 있다.

이 때, 양방향 검사부(300)는, 테스트온도마다, 상기 테스트신호 및 상기 테스트신호의 피드백신호를 반복적으로 송수신함으로써, 신호선들 및 상기 표시장치의 상태를 확인할 수 있다. 일 예시로, 양방향 검사부(300)는 테스트신호의 피드백신호에 포함된 전압정보, 전류정보 등을 이용하여 이상상태를 판단할 수 있다. 본원에서는 이들을 '전기적정보'로 통칭한다. 양방향 검사부(300)는, 표시장치의 테스트온도 변화에 따라, 피드백신호에 포함된 전기적정보를 분석하되, 제1 테스트온도에서의 전기적정보의 유효범위는 미리 설정되고, 피드백신호에 포함된 전기적정보가 상기 유효범위 내에 포함되는지 여부를 통해, 신호선들의 상태를 확인하도록 구성된다. 전기적정보의 유효범위는 테스트온도마다 각각 상이하게 설정될 수 있다.

제어모듈(1040)에는 표시장치 온도설정부(1042), 가열선 동작부(1044) 및 냉각선 동작부(1046)을 포함한다. 표시장치 온도설정부(1042)에는 테스트온도가 입력된다. 테스트온도는 자동으로 입력될 수도 있으며, 입력시 관련 법규 등이 더욱 고려되는 것이 바람직하다.

도 4 내지 6을 참조하여, 본 발명에 따른 가열선 및 냉각선의 배치에 대한 변형예를 설명하며, 차이점을 중심으로 설명한다.

도 4는 가열선(1010, 1012, 1014, 1016) 및 냉각선(1020, 1022, 1024, 1026)이 교번하여 배치된 구조이며, 가열선과 냉각선 사이에는 측벽이 위치된다.

도 5 역시, 가열선(1110, 1112, 1114) 및 냉각선(1120, 1122, 1124)이 교번하여 배치되는 구조이긴 하나, 중심 측의 가열선 면적이 넓게 형성된 구조이다. 이는 실제와 가장 유사한 상황을 모사하기 위함이다. 사용자가 표시장치(200)를 사용할 때, 표시장치(200)의 중심 측의 발열이 가장 심할 수 있는 바, 이러한 상황을 모사하기 위해, 중심 측의 가열선(1110) 폭 내지 면적을 가장 크게 형성한 것이다. 가열선(1110, 1112, 1114)은 중심으로부터 외측으로 갈수록 폭이 감소하도록 형성된다.

도 6은 가열선 및 냉각선의 동심원 패턴을 도시한다. 가열선 및 냉각선이 교번하여 배열되며, 도 6의 패턴 역시 표시장치(200)의 중심 측 발열 상황을 모사하기 위함이다. 본 발명은 단일의 표시장치(200)에 대해 도 4 내지 6에 도시된 표시장치 수용모듈(1000)을 모두 적용하여, 열화 성능을 평가할 수 있다.

도 7은 본 발명인 검사 시스템을 이용한 방법의 순서도이다.

본 방법은 단계(S110) 내지 단계(S150)으로 구성된다.

단계(S110)은 표시장치 수용모듈에 표시장치가 수용되며, 제어모듈에 테스트온도가 입력되는 단계이다.

단계(S120)은 상기 표시장치 수용모듈의 가열수단이 동작되어 상기 표시장치 수용모듈의 내부 또는 상기 표시장치의 온도가 테스트온도로 상승되는 단계이다.

단계(S130)은 양방향 검사부로부터 상기 표시장치의 각 신호선들로 테스트신호가 송신되는 단계이다.

단계(S140)은 상기 테스트신호의 피드백신호를 미리 설정된 방식으로 분석하여, 상기 신호선들 또는 상기 표시장치의 상태를 확인하는 단계이다.

단계(S150)은 상기 단계(S140)에서, 상기 신호선들 및 상기 표시장치의 상태가 정상으로 확인된 경우, 상기 표시장치 수용모듈로부터 상기 표시장치를 분리하며, 상기 표시장치 수용모듈의 냉각수단을 통해, 상기 표시장치 수용모듈 내부의 온도를 기준온도로 형성시키는 단계이다.

여기서, 단계(S150) 이후에는, 표시장치(200) 또는 표시장치 수용모듈(1000) 내부의 온도를 기준온도로부터 다시 소정의 테스트온도로 승온시키면서, 표시장치의 상태 확인을 반복할 수 있다. 전술한 바와 같이, 피드백신호에 포함된 전기적정보인 전압정보, 전류정보 등을 이용하여, 표시장치(200) 및 신호선의 정상 여부를 판단한다.

본 발명에서 상기 실시형태는 하나의 예시로서 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 특허청구범위에 기재된 기술적 사상과 실질적으로 동일한 구성을 하고 동일한 작용효과를 이루는 것은 어떠한 것이라도 본 발명의 기술적 범위에 포함된다.

100: 표시장치용 검사모듈 110: 프로브 블럭부
120: 회로기판부 130: 패턴기판부
200: 표시장치 300: 양방향 검사장치
1000: 표시장치 수용모듈 1030: 팬수단
1040: 제어모듈

Claims

영상을 표시하는 표시장치의 검사 시스템으로서,
표시장치가 수용되는 표시장치 수용모듈로서, 상기 표시장치를 미리 설정된 테스트온도로 가열하는 가열수단을 포함하며, 상기 가열수단은 미리 설정된 패턴으로 상기 표시장치의 외면과 대면하도록 배치되고, 일측에는 상기 표시장치의 각 신호선들과 접촉되는 연결 핀들이 인입되도록 개방부위가 형성된, 표시장치 수용모듈;
상기 연결 핀들과 접촉되어 연결되는 프로브 핀들이 포함되며, 상기 개방부위 측에 위치되는 프로브 블럭부;
상기 신호선들로 테스트신호를 입력하고, 상기 신호선들로부터 테스트 결과에 대한 신호를 피드백 받기 위해 상기 프로브 핀들의 개수와 동일한 개수로 형성된 배선들을 포함하는, 적어도 하나의 플랙시블 회로기판부;
상기 각 프로브 핀들 및 상기 각 프로브 핀들과 대응하는 상기 배선들을 전기적으로 연결하는 연결패턴들을 포함하는 패턴기판부로서, 상기 연결패턴은 상부에 배치되는, 패턴기판부;
상기 테스트신호 및 상기 테스트신호의 피드백신호를 송수신하는 양방향 검사부로서, 상기 피드백신호에 포함된 정보를 미리 설정된 방식으로 이용하여, 상기 신호선들의 상태를 확인하는, 양방향 검사부; 및
상기 표시장치 수용모듈 및 상기 양방향 검사부와 연결되는 제어모듈로서, 상기 표시장치 수용모듈의 내부 또는 상기 표시장치의 온도가 상기 테스트온도에 도달하도록 상기 가열수단을 제어하며, 상기 테스트온도에 대한 정보를 상기 양방향 검사부로 전달하는, 제어모듈; 을 포함하며,
상기 양방향 검사부는,
상기 표시장치의 테스트온도 변화에 따라, 상기 피드백신호에 포함된 전기적정보를 분석하되,
제1 테스트온도에서의 상기 전기적정보의 유효범위는 미리 설정되고,
상기 피드백신호에 포함된 전기적정보가 상기 유효범위 내에 포함되는지 여부를 통해, 상기 신호선들의 상태를 확인하고,
상기 표시장치 수용모듈의 상기 가열수단은 제1 내지 제n 가열선으로 구성되며,
상기 제1 내지 제n 가열선은,
각각 소정의 간격을 두고 평행하게 배치되고,
상기 표시장치와 대면하는 부위의 폭이 서로 상이한 폭이 되도록 형성하되, 상기 표시장치의 중심으로부터 외측으로 갈수록 상기 폭이 감소하도록 형성되는,
검사 시스템.
청구항 1에 있어서,
상기 표시장치 수용모듈은,
가열선 전원공급부와 연결된 상기 제1 내지 제n 가열선; 및
상기 표시장치 수용모듈 내부의 온도 또는 상기 표시장치 중 적어도 일 부위의 온도를 센싱하는 센서부; 를 포함하고,
상기 제어모듈은,
상기 센서부에 의해 센싱된 온도가 상기 테스트온도에 도달할 경우, 상기 가열선 전원공급부의 전원을 차단하는,
검사 시스템.
청구항 2에 있어서,
상기 표시장치 수용모듈은,
제1 내지 제n 냉각선으로 구성되며, 상기 표시장치 수용모듈 내부의 온도를 미리 설정한 온도로 강제 냉각시키되, 상기 제어모듈에 의해 동작이 제어되는 냉각수단; 을 더 포함하며,
상기 제1 내지 제n 가열선 중 이웃한 가열선 사이에 제k 냉각선이 배치되며,
상기 제어모듈은,
상기 가열수단 및 냉각수단을 이용하여, 상기 표시장치 수용모듈 내부 또는 상기 표시장치를 반복하여 가열 또는 냉각시킴으로써, 상이한 테스트온도를 형성하며,
상기 양방향 검사부는,
테스트온도마다, 상기 테스트신호 및 상기 테스트신호의 피드백신호를 반복적으로 송수신함으로써, 상기 신호선들 및 상기 표시장치의 상태를 확인하는,
검사 시스템.
삭제
청구항 1 내지 3 중 어느 한 항에 따른 검사 시스템을 이용한 방법으로서,
(a) 표시장치 수용모듈에 표시장치가 수용되며, 제어모듈에 테스트온도가 입력되는 단계(S110);
(b) 상기 표시장치 수용모듈의 가열수단이 동작되어 상기 표시장치 수용모듈의 내부 또는 상기 표시장치의 온도가 테스트온도로 상승되는 단계(S120);
(c) 양방향 검사부로부터 상기 표시장치의 각 신호선들로 테스트신호가 송신되는 단계(S130);
(d) 상기 테스트신호의 피드백신호를 미리 설정된 방식으로 분석하여, 상기 신호선들 또는 상기 표시장치의 상태를 확인하는 단계(S140); 및
(e) 상기 (d) 단계에서, 상기 신호선들 및 상기 표시장치의 상태가 정상으로 확인된 경우, 상기 표시장치 수용모듈로부터 상기 표시장치를 분리하며, 상기 표시장치 수용모듈의 냉각수단을 통해, 상기 표시장치 수용모듈 내부의 온도를 기준온도로 형성시키는 단계(S150); 를 포함하는,
방법.