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KR102360789B1 - 터치 센서 내장형 표시패널 및 그의 검사방법 - Google Patents

터치 센서 내장형 표시패널 및 그의 검사방법 Download PDF

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KR102360789B1
KR102360789B1 KR1020150120230A KR20150120230A KR102360789B1 KR 102360789 B1 KR102360789 B1 KR 102360789B1 KR 1020150120230 A KR1020150120230 A KR 1020150120230A KR 20150120230 A KR20150120230 A KR 20150120230A KR 102360789 B1 KR102360789 B1 KR 102360789B1
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박제훈
임진호
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명에 의한 터치 센서 내장형 표시패널은 픽셀 어레이, 터치 센서 블록들, 터치 검사 패드부 및 화상 검사 패드부를 포함한다. 픽셀 어레이에는 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 터치 센서 블록들은 각각 다수의 상기 픽셀들과 연결된다. 터치 검사 패드부는 기수 번째 터치 센서 블록들과 우수 번째 터치 센서 블록들로 분할하여 터치 센서 블록들에 연결된다. 화상 검사 패드부는 기수 번째 블록들과 우수 번째 블록들에 공통으로 연결된다.

Description

터치 센서 내장형 표시패널 및 그의 검사방법{Display Panel Having Touch Sensor and Inspection Method}
본 발명은 터치 센서 내장형 표시패널 및 그의 검사방법에 관한 것이다.
최근, 멀티미디어의 발달과 함께 이를 적절하게 표시할 수 있는 표시장치의 필요성에 부합하여, 대형화가 가능하고, 가격이 저렴하면서, 높은 표시품질(동영상 표현력, 해상도, 밝기, 명암비, 및 색 재현력 등)을 갖는 평면형 표시장치(혹은, 표시장치)가 활발히 개발되고 있다. 이들 평면형 표시장치에는 키보드, 마우스, 트랙볼, 조이스틱, 디지타이저(digitizer) 등의 다양한 입력장치(Input Device)들이 사용자와 표시장치 사이의 인터페이스를 구성하기 위해 사용되고 있다. 그러나, 상술한 바와 같은 입력장치를 사용하는 것은 사용법을 익혀야 하고, 설치 및 작동 공간을 차지하는 등의 불편을 야기하여 제품의 완성도를 높이기 어려운 면이 있다. 따라서, 편리하면서도 간단하고 오작동을 감소시킬 수 있는 표시장치용 입력장치에 대한 요구가 날로 증가하고 있다. 이와 같은 요구에 따라 사용자가 표시장치를 보면서 손이나 펜 등으로 화면을 직접 터치하거나 근접시켜 정보를 입력하면 이를 인식할 수 있는 터치 센서(touch sensor)가 제안되었다.
터치 센서는 간단하고, 오작동이 적으며, 별도의 입력기기를 사용하지 않고도 입력이 가능할 뿐 아니라 사용자가 화면에 표시되는 내용을 통해 신속하고 용이하게 조작할 수 있다는 편리성 때문에 다양한 표시장치에 적용되고 있다.
표시패널에 내장되는 터치 센서는 복수의 픽셀들과 연결되는 터치 센서 블록 단위로 구현되기도 한다. 터치 센서 블록은 공통전압을 센싱전압으로 이용하기 위해서, 픽셀들의 공통전극을 공유한다. 터치 센서를 내장한 표시패널의 제조가 완료된 이후에, 표시패널의 불량 유무를 판별하기 위한 검사 공정을 거치게 된다. 터치 센서를 내장한 표시패널에 대해서는 픽셀 어레이 검사 이외에도 터치 센서 블록의 단선 유무를 확인하기 위한 오픈-쇼트(open-short) 검사를 수행하여야 한다. 터치 센서 블록들 간의 오픈-쇼트 검사를 하기 위해서는 공통전압을 터치 센서 블록 단위로 인가하여야 하기 때문에, 픽셀 어레이를 검사하기 위한 종래의 점등 검사 방법으로는 곤란함이 있다. 또한, 각 공통전극에 다른 전압값을 인가하면 픽셀들의 화상 검사의 정확도가 저하되는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 상술한 문제점을 해소하기 위한 것으로, 터치 센서를 내장한 표시패널의 터치 센서 블록 검사 및 화상 검사를 정확하고 효율적으로 수행하기 위한 터치 센서를 내장한 표시패널을 제공하기 위한 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 의한 터치 센서 내장형 표시패널은 픽셀 어레이, 터치 센서 블록들, 터치 검사 패드부 및 화상 검사 패드부를 포함한다. 픽셀 어레이에는 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 터치 센서 블록들은 각각 다수의 상기 픽셀들과 연결된다. 터치 검사 패드부는 기수 번째 터치 센서 블록들과 우수 번째 터치 센서 블록들로 분할하여 터치 센서 블록들에 연결된다. 화상 검사 패드부는 기수 번째 블록들과 우수 번째 블록들에 공통으로 연결된다.
본 발명에 의한 터치 센서를 내장한 표시패널은 터치 센서 블록들의 오픈-쇼트 검사를 위해서 터치 센서 블록을 기수 번째 열과 우수 번째 열로 구분하여 공통전압을 인가하기 때문에, 간단한 데이터 패턴으로 터치 센서 블록들 간의 오픈-쇼트 현상이 있는지를 확인할 수 있다.
또한, 본 발명에 의한 터치 센서를 내장한 표시패널은 화상 검사 패드부를 이용하여 모든 공통전극에 동일한 공통전압을 인가할 수 있기 때문에, 화상 검사의 정확도를 높일 수 있다.
도 1은 본 발명에 의한 터치 센서를 내장한 표시패널.
도 2는 도 1에 도시된 표시부의 일부를 확대한 도면.
도 3은 터치 검사 패드부 및 화상 검사 패드부의 연결구조를 나타내는 모식도.
도 4 및 도 5는 터치 센서 블록 검사 과정의 일례를 나타내는 도면들.
도 6 및 도 7은 화상 검사 과정의 일례를 나타내는 도면들.
이하, 첨부한 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 실질적으로 동일한 구성 요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기술 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것일 수 있는 것으로서, 실제 제품의 부품 명칭과는 상이할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 의한 표시패널을 나타내는 도면이고, 도 2는 도 1에서 터치 센서 블록의 등가회로도를 나타내는 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 의한 터치 센서를 포함하는 표시패널(100)은 표시부(AA) 및 비표시부(NA)를 포함한다. 표시부(AA)에는 영상 정보를 표시하기 위한 픽셀(P)들 및 터치 센서 블록(TB)들이 배치된다. 비표시부(NA)는 표시부(AA) 외측에 배치되며, 각종 배선들과 터치 검사 패드부(T_PAD) 및 화상 검사 패드부(P_PAD)를 포함한다.
표시패널(100)은 액정층(LC)을 사이에 두고 대향하는 상부 기판과 하부 기판을 포함한다.
표시패널(100)의 픽셀 어레이는 데이터 라인들(DL), 게이트 라인들(GL), 데이터 라인들(DL)과 게이트 라인들(GL)의 교차부에 형성된 박막트랜지스터(TFT), 박막트랜지스터(TFT)에 접속된 화소 전극(5), 및 화소 전극(5)에 접속된 스토리지 커패시터(Storage Capacitor) 등을 포함한다. 박막트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(GL)으로부터의 게이트 펄스에 응답하여 턴-온되어서, 데이터 라인(DL)을 통해 인가되는 데이터 전압을 화소 전극(5)에 공급한다. 액정층(LC)은 화소 전극(5)에 충전되는 데이터전압과 공통전극(7)에 인가되는 공통전압(Vcom) 간의 전압차에 의해 구동되어서, 빛이 투과되는 양을 조절한다.
터치 센서 블록(TB)은 다수의 픽셀들과 연결되고, 정전 용량(capacitance) 타입으로 구현되어 터치 입력을 감지한다. 각각의 터치 센서 블록(TB)에는 여러 개의 픽셀(P)들이 포함될 수 있다. 도 2는 3x3 행렬 방식으로 나열된 9개의 픽셀(P)들이 하나의 터치 센서 블록(TB)에 배정된 경우를 도시하고 있다. 터치 센서 블록(TB)은 공통전압(Vcom)을 이용하여 터치 동작을 감지한다. 공통전극(7)은 터치 센서 블록(TB) 단위로 분할되고, 결국 공통전극(7)이 차지하는 면적이 터치 센서 블록(TB)으로 지칭될 수 있다. 각 터치 센서 블록들(TB)은 센싱 라인(TW)들이 하나씩 배정되어 연결된다. 예를 들어, 1행1열의 터치 센서 블록(T11)에는 1행 1열의 센싱 라인(TW11)이 연결되고, 1행 2열의 터치 센서 블록(T12)에는 1행 2열의 센싱 라인(TW21)이 연결된다.
공통 전극(7)은 인셀 터치 센서들의 전극들로 분할하여 디스플레이 기간 동안 픽셀들의 기준 전압인 공통 전압(Vcom)을 공급하고, 터치 센싱 기간 동안 인셀 터치 센서들에 센싱 신호를 공급한다.
비표시부(NA)는 표시부(AA)의 외측에 배치되며, 데이터라인(DL) 및 게이트라인(GL)을 구동하기 위한 구동회로들을 포함한다. 또한, 비표시부(NA)는 터치 센서 블록 검사를 위한 터치 검사 패드부(T_PAD) 및 픽셀 어레이의 화상 검사를 위한 화상 검사 패드부(P_PAD)를 포함한다. 또한, 비표시부(NA)는 구동장치(IC)가 장착될 영역을 포함한다.
표시패널(100)은 제작이 완료된 이후에, 불량 유무를 판별하기 위한 검사 공정을 거친다. 표시패널(100)에 대한 검사는 터치 센서 블록 검사와 화상 검사를 포함한다.
터치 센서 블록 검사는 터치 센서 블록(TB)들이 오픈(open) 되었거나 쇼트(short) 된 상태인지를 판별하는 검사이고, 특히 터치 센서 블록(TB) 내에 배치된 공통전극(7)들의 오픈-쇼트 상태를 검사할 수 있다. 화상 검사는 픽셀 어레이의 표시부(AA)가 정상적인 영상을 표시하는지 여부를 판별하는 과정이다.
터치 센서 블록 검사를 위해서 표시패널(100)은 도 3에 도시된 것과 같은 터치 검사 패드부(T_PAD)를 포함한다. 터치 검사 패드부(T_PAD)는 제1 터치 검사 패드(T_PAD1), 제2 터치 검사 패드(T_PAD2) 및 제1 스위치부(SA1)를 포함한다. 제1 터치 검사 패드(T_PAD1)는 제1 검사 배선(TL1)을 통해서 기수 번째 터치 센서 블록(TB)들과 연결된다. 제2 터치 검사 패드(T_PAD2)는 제2 검사 배선(TL2)을 통해서 우수 번째 터치 센서 블록(TB)들과 연결된다. 제1 스위치부(SA1)는 다수의 제1 스위치(S1)들 및 터치 검사 신호 입력패드(S1_PAD)를 포함한다. 제1 스위치(S1)들 각각은 터치 검사 신호에 응답하여, 제1 터치 검사 패드(T_PAD1)와 기수 번째 터치 센서 블록을 연결하고, 제2 터치 검사 패드(T_PAD2)와 우수 번째 터치 센서 블록을 연결한다.
화상 검사를 위해서 표시패널은 화상 검사 패드부(P_PAD)를 포함한다. 화상 검사 패드부(P_PAD)는 제1 화상 검사 패드(P_PAD1), 제2 화상 검사 패드(P_PAD2) 및 제2 스위치부(SA2)를 포함한다. 제1 화상 검사 패드(P_PAD1) 및 제2 화상 검사 패드(P_PAD2)는 제3 검사 배선(PL)을 통해서 기수 번째 터치 센서 블록(TB)들 및 우수 번째 터치 센서 블록(TB)들에 연결된다. 제2 스위치부(SA2)는 다수의 제2 스위치(S2)들 및 화상 검사 신호 입력패드(S2_PAD)를 포함한다. 제2 스위치(S2)들 각각은 화상 검사 신호에 응답하여 제1 및 제2 화상 검사 패드(P_PAD1, P_PAD2)와 행 방향의 모든 터치 센서 블록(TB)들을 연결한다.
터치 센서 블록 검사와 화상 검사는 개별적으로 수행된다.
본 발명에 의한 터치패널의 터치 센서 블록 검사를 살펴보면 다음과 같다.
터치 센서 블록 검사 기간 동안에, 터치 검사 패드부(T_PAD)는 도시하지 않은 지그를 통해서 공통전압(Vcom)을 인가받는다. 제1 터치 검사 패드(T_PAD1)는 지그를 통해서 제1 공통전압을 인가받고, 제2 터치 검사 패드(T_PAD2)는 지그를 통해서 제2 공통전압(Vcom)을 인가받는다. 제1 공통전압 및 제2 공통전압은 다른 전압레벨로 설정될 수 있다. 예컨대, 제1 공통전압(Vcom)은 정극성의 공통전압으로 설정되고, 제2 공통전압(Vcom)은 부극성의 공통전압으로 설정될 수 있다.
터치 센서 블록 검사 기간 동안, 제1 스위치부(SA1)는 터치 검사 신호에 의해서 턴-온된다. 그 결과 제1 터치 검사 패드(T_PAD1)로 인가되는 제1 공통전압은 제1 스위치부(SA1)의 기수 번째 스위치(S1_O)를 통해서 기수 터치 센서 블록(TB11,TB13…)에 인가되고, 제2 터치 검사 패드(T_PAD2)로 인가되는 제2 공통전압은 제1 스위치부(SA1)의 우수 번째 스위치(S1_E)를 통해서 우수 터치 센서 블록(TB12,TB14…)에 인가된다.
터치 센서 블록 검사 기간 동안, 각 픽셀(P)들에는 데이터전압이 충전된다. 이를 위해서, 픽셀(P)에서 게이트라인(GL)은 게이트패드(미도시)를 통해서 게이트펄스를 인가받고, 데이터라인(DL)은 데이터패드(미도시)를 통해서 데이터전압을 인가받는다. 게이트패드 및 데이터패드는 표시패널의 점등 검사에 이용되는 공지된 어떠한 것을 이용하여도 무방하다. 게이트펄스에 의해서 박막트랜지스터(TFT)가 턴-온되면, 데이터라인에 인가되는 데이터전압은 화소전극(5)에 충전된다. 그 결과, 액정셀(LC)은 화소전극(5)과 공통전극(7) 간의 전압차에 대응하여 빛을 투과시킨다.
터치 센서 블록 검사 기간 동안, 표시패널(100)은 터치 센서 블록(TB) 단위로 휘도를 표시한다. 도 4는 터치 센서 블록 검사 과정에서, 터치 센서 블록(TB)의 행의 일부를 나타내는 도면이다. 도 4는 터치 센서 블록(TB)이 정상적인 상태에서, 기수 번째 터치 센서 블록(TB)은 블랙 영상을 표시하고, 우수 번째 터치 센서 블록(TB)은 화이트 영상을 표시하는 예를 나타내고 있다.
터치 센서 블록(TB)들 간의 불량이 발생하면, 터치 센서 블록(TB)들이 표시하는 영상은 달라진다. 예컨대, 도 5에서와 같이, 첫 번째 기수 터치 센서 블록(TB11,TB13)의 공통전극과 첫 번째 우수 터치 센서 블록(TB12,TB14)의 공통전극들 간에 쇼트(short) 불량이 발생하면, 첫 번째 기수 터치 센서 블록(TB11,TB13)에 인가되는 제1 공통전압과 첫 번째 우수 터치 센서 블록(TB12,TB14)에 인가되는 제2 공통전압은 챠지 쉐어(charge share)된다. 그 결과, 첫 번째 기수 터치 센서 블록(TB11,TB13)과 첫 번째 우수 터치 센서 블록(TB12,TB14)은 블랙 영상(B)과 화이트 영상(W)의 중간 계조에 해당하는 영상을 표시한다.
이와는 달리, 수직 방향 인접하는 터치 센서 블록(TB)들에서도 불량이 발생할 수 있다. 수직방향으로 배열된 터치 센서 블록(TB)들의 공통전극(7)은 모두 연결되기 때문에, 열 방향의 터치 센서 블록(TB)들은 동일한 전압레벨의 공통전압을 인가받는다. 따라서, 도 6의 (a)에서와 동일한 열에 위치한 터치 센서 블록(TB)들은 동일한 영상을 표시한다. 열 방향의 터치 센서 블록(TB)들의 오픈 여부를 판단하기 위해서, 소정 시간이 지난 후에 각 터치 센서 블록(TB)들에 인가되는 공통전압은 전압레벨이 스윙된다. 예컨대, 기수 터치 센서 블록(TB11,TB13,TB21,TB23)에 인가되던 제1 공통전압은 제2 공통전압으로 스윙되고, 우수 터치 센서 블록(TB12,TB14, TB22, TB24)에 인가되던 제2 공통전압은 제1 공통전압으로 스윙된다. 그 결과, 기수 터치 센서 블록(TB11,TB13, TB21, TB23)에 표시되는 영상과 우수 터치 센서 블록(TB12,TB14, TB22, TB24)에 표시되는 영상은 서로 반전된다.
하지만, 열 방향의 터치 센서 블록(TB)들에서 공통전극이 오픈 된 상태이면 후단의 터치 센서 블록(TB)에 인가되는 공통전압은 전압레벨 변화가 없다. 그 결과, 도 6의 (b)에서와 같이, 첫 번째 행의 기수 터치 센서 블록(TB11)의 영상이 블랙 영상에서 화이트 영상으로 반전되는 것에 반해서, 두 번째 행의 기수 터치 센서 블록(TB21)의 영상은 블랙 영상을 그대로 유지한다. 이처럼 열 방향의 터치 센서 블록(TB)들 간의 공통전극(7)이 오픈된 상태인지는 각 터치 센서 블록(TB)들의 공통전압을 스윙하였을 때에, 영상이 변하는지 여부를 바탕으로 확인할 수 있다.
이처럼 본 발명에 의한 터치 센서 검사 패드부(T_PAD)는 기수 터치 센서 블록들과 우수 터치 센서 블록들에 개별적인 공통전압을 인가하여, 간단한 방법으로 터치 센서 블록들 간의 오픈-쇼트 여부를 확인할 수 있다.
본 발명에 의한 터치패널의 화상 검사 방법을 살펴보면 다음과 같다.
화상 검사는 픽셀 어레이에 일정한 데이터 패턴을 기입하여 표시부(AA)가 원하는 영상을 표시하는지 여부를 확인하는 과정이다. 이를 위해서, 화상 검사 기간 동안 모든 픽셀(P)에는 동일한 전압레벨의 공통전압이 인가되고, 각 픽셀(P)들에 인가되는 데이터전압은 영상 패턴에 따라서 달라진다.
픽셀들에 표시되는 영상을 정확하게 판별하려면 모든 공통전극(7)에 동일한 크기의 공통전압이 인가되어야 하는데, 터치 검사 패드부(T_PAD)를 통해서 공통전압을 인가하면 공통전압이 인가되는 경로 차이에 의해서 공통전압의 딜레이(delay) 차이가 발생한다. 예컨대, 도 7에서 보는 것처럼, 첫 번째 기수 터치 센서 블록(TB11)과 첫 번째 우수 터치 센서 블록(TB12)은 바로 인접하여 배치되지만, 첫 번째 기수 터치 센서 블록(TB11)이 공통전압을 인가받는 제1 경로(pass1)는 첫 번째 우수 터치 센서 블록(TB12)이 공통전압을 인가받는 제2 경로(pass2)에 대비하여 길다. 따라서, 제1 터치 검사 패드(T_PAD1)와 제2 터치 검사 패드(T_PAD2)에 동일한 크기의 공통전압을 인가한다고 할지라도, 첫 번째 기수 터치 센서 블록(TB11)과 첫 번째 우수 터치 센서 블록(TB12)에 인가되는 공통전압은 전압 차이가 발생한다. 따라서, 첫 번째 기수 터치 센서 블록(TB11)과 첫 번째 우수 터치 센서 블록(TB12)에 동일한 영상을 표시할 때에도, 공통전압의 편차로 인해서 다른 영상이 표시된다. 특히 블랙 영상과 화이트 영상의 중간 계조를 표시할 때에는 작은 전압 차이의 공통전압에 대해서도 표시 영상의 휘도 차이는 크게 나타난다. 따라서, 픽셀 어레이 기판 및 공통전극(7)들은 정상적인 상태인데, 화상 검사에서 불량 판정을 받을 수 있다.
이처럼 터치 센서 블록(TB)들에 인가되는 공통전압 딜레이 차이를 줄이기 위해서, 본 발명에 의한 화상 검사는 화상 검사 패드부(P_PAD)를 이용하여 공통전압을 인가받는다.
화상 검사 기간 동안, 제2 스위치부(SA2)는 화상 검사 신호에 의해서 턴-온된다. 그 결과 제1 및 제2 화상 검사 패드(P_PAD1, P_PAD2)로 인가되는 공통전압은 제2 스위치부(SA2)의 스위치들을 통해서 각 터치 센서 블록(TB)에 인가된다. 제1 및 제2 화상 검사 패드(P_PAD1, P_PAD2)는 서로 연결되고, 표시부의 양 끝단에서 동시에 공통전압을 터치 센서 블록(TB)들로 인가한다. 터치 센서 블록(TB)들은 화상 검사 배선(PL)의 양 끝단에서 동시에 인가되는 공통전압을 제공받기 때문에, 인접하는 터치 센서 블록(TB)들 간의 공통전압의 차이는 거의 무시될 정도이다. 따라서, 화상 검사 기간 동안에는 공통전압의 딜레이 차이로 인해서 인접하는 터치 센서 블록(TB)들 간의 휘도 차이를 개선할 수 있다. 그 결과 화상 검사의 정확도를 높일 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
5: 화소전극 7: 공통전극
TB: 터치 센서 블록 TW: 센싱라인
T_PAD: 터치 센서 검사 패드 P_PAD: 화상 검사 패드

Claims (11)

  1. 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된 픽셀 어레이;
    각각 다수의 상기 픽셀들과 연결된 다수의 터치 센서 블록들;
    기수 번째 터치 센서 블록들과 우수 번째 터치 센서 블록들로 분할하여 상기 터치 센서 블록들에 연결되는 터치 검사 패드부; 및
    기수 번째 블록들과 우수 번째 블록들에 공통으로 연결된 화상 검사 패드부를 포함하고,
    상기 터치 검사 패드부는,
    제1 공통전압을 인가받는 제1 터치 검사 패드,
    상기 제1 공통전압과 다른 전압 레벨의 제2 공통전압을 인가받는 제2 터치 검사 패드, 및
    터치 검사 신호에 응답하여, 상기 제1 터치 검사 패드와 상기 기수 번째 터치 센서 블록을 연결하고, 상기 제2 터치 검사 패드와 상기 우수 번째 터치 센서 블록을 연결하는 제1 스위치부를 포함하고,
    상기 화상 검사 패드부는,
    상기 제1 공통전압 또는 상기 제2 공통전압과 같은 제3 공통전압을 인가받는 화상 검사 배선,
    상기 화상 검사 배선의 일단에 연결되고 상기 제3 공통전압을 인가받는 제1 화상 검사 패드,
    상기 화상 검사 배선의 타단에 연결되고, 상기 제3 공통전압을 인가받는 제2 화상 검사 패드, 및
    화상 검사 신호에 응답하여, 상기 제1 및 제2 화상 검사 패드부를 통해서 인가받는 상기 제3 공통전압을 상기 기수 터치 센서 블록들과 상기 우수 터치 센서 블록들에 공급하는 제2 스위치부를 포함하는 터치 센서 내장형 표시패널.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치 검사 신호는 터치 센서 블록 단선 검사기간 동안 상기 제1 스위치부에 인가되는 터치 센서 내장형 표시패널.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 터치 센서 블록 검사기간 동안 상기 제1 공통전압 및 제2 공통전압은 다른 전압레벨을 유지하는 터치 센서 내장형 표시패널.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 화상 검사 신호는 상기 픽셀 어레이의 화상 검사기간 동안에 상기 제2 스위치부에 인가되는 터치 센서 내장형 표시패널.
  8. 삭제
  9. 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된 픽셀 어레이 및 각각 다수의 상기 픽셀들과 연결된 다수의 터치 센서 블록들을 포함하는 표시패널의 검사 방법으로서,
    터치 센서 블록 검사 기간 동안, 상기 터치 센서 블록들 중에서 기수 번째 터치 센서 블록들에 제1 공통전압을 인가하고, 우수 번째 터치 센서 블록들에 상기 제1 공통전압과 다른 전압 레벨의 제2 공통전압을 인가하는 단계;
    상기 터치 센서 블록 검사 기간 동안, 상기 기수 번째 터치 센서 블록들 및 우수 번째 터치 센서 블록들에 배치된 상기 픽셀들에 동일한 데이터전압을 인가하는 단계;
    픽셀 어레이 검사기간 동안, 상기 터치 센서 블록들 각각에 동일한 공통전압을 인가하는 단계; 및
    상기 픽셀 어레이 검사기간 동안, 상기 터치 센서 블록들에 배치된 상기 픽셀들 각각에 데이터전압을 인가하는 단계를 포함하고,
    상기 픽셀 어레이 검사기간은 상기 제1 공통전압 또는 상기 제2 공통전압과 같은 제3 공통전압을 인가받는 화상 검사 배선, 상기 화상 검사 배선의 일단에 연결되고 상기 제3 공통전압을 인가받는 제1 화상 검사 패드, 상기 화상 검사 배선의 타단에 연결되고, 상기 제3 공통전압을 인가받는 제2 화상 검사 패드, 및 화상 검사 신호에 응답하여, 상기 제1 및 제2 화상 검사 패드부를 통해서 인가받는 상기 제3 공통전압을 상기 기수 터치 센서 블록들과 상기 우수 터치 센서 블록들에 공급하는 제2 스위치부에 의해 이루어지는 터치 센서 내장형 표시패널의 검사방법.
  10. 삭제
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 터치 센서 블록 검사 기간 동안, 상기 제1 및 제2 공통전압은 일정 주기 단위로 전압레벨이 스윙되는 터치 센서 내장형 표시패널의 검사방법.
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