KR102259484B1 - 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 285
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 63
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 33
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 33
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 33
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 10
- 230000027455 binding Effects 0.000 claims description 6
- 230000003100 immobilizing effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 150
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract description 17
- 238000003825 pressing Methods 0.000 abstract description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 50
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 35
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 29
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 27
- 239000000463 material Substances 0.000 description 24
- 230000009471 action Effects 0.000 description 17
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 7
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000004534 enameling Methods 0.000 description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 238000005496 tempering Methods 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 201000011510 cancer Diseases 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 230000002977 hyperthermial effect Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000000837 restrainer Substances 0.000 description 1
- 230000000979 retarding effect Effects 0.000 description 1
- 238000009958 sewing Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 1
- 238000007666 vacuum forming Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/34—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies not provided for in groups H01L21/18, H10D48/04 and H10D48/07, with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/44—Manufacture of electrodes on semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/38 - H01L21/428
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67248—Temperature monitoring
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract
제1 가열 시스템(30)의 제1 가열 표면(15) 및 제2 가열 시스템(26)의 제2 가열 표면(19) 사이에서 상기 접촉 표면(35k,36k)들에 정렬되고 상기 제1 기질(35)과 제2 기질(36)에 의해 형성되는 기질 스택(14)을 배열하는 단계를 포함하고,
a) 상기 제1 가열 표면(15)이 상기 제1 기질(35)의 제1 표면(35o)을 향하고 제1 접촉 표면(35k)으로부터 멀어지는 방향을 향하여 배열되며,
b) 상기 제2 가열 표면(19)이 상기 제2 기질의 제2 표면(36o)을 향하고 제2 접촉 표면(36k)으로부터 멀어지는 방향을 향하여 배열되며,
c) 상기 제1 표면(35o)과 제1 가열 표면(15) 사이에 이격 거리(A) >0μm가 존재하고,
d) 상기 제2 표면(36o)과 제2 가열 표면(19) 사이에 이격 거리(B) >0μm가 존재하며,
상기 가열 표면(15,19)들을 가열하고 상기 이격거리(A,B)를 0μm로 감소시켜서 상기 기질 스택(14)을 상기 가열표면(15,19)들로 접근시키는 단계를 포함하고,
상기 표면(35o,36o)들에서 상기 기질 스택(14)을 가압하여 상기 제1 접촉 표면(35k) 및 제2 접촉 표면(36k) 사이에 결합을 형성하는 단계 특히 시퀀스를 포함한다.
Description
도 1a는, 두 개의 부착된 모듈들을 가진 진공 클러스터의 제1 실시예를 개략적으로 도시한 도면,
도 1b는, 일곱 개의 부착된 모듈들을 가진 진공 클러스터의 제2 실시예를 개략적으로 도시한 도면,
도 2는, 기질 스택을 적재하기 전에 본 발명을 따르는 결합 시스템의 실시예를 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 3은, 기질 스택을 적재 핀에 배열할 때 도 2에 도시된 실시예를 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 4는, 기질 스택으로부터 로봇 암을 제거하는 경우에 도 2에 도시된 실시예를 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 5는, 모듈로부터 로봇 암을 제거하는 경우에 도 2에 도시된 실시예를 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 6은, 두 개의 가열 시스템을 이용하여 기질을 대칭상태로 가열하고 도 2에 도시된 실시예를 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 7은, 가열 시스템들을 기질 스택에 대해 대칭상태로 접근시키는 경우에 도 2에 도시된 실시예를 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 8은, 본 발명에 따라 적재 핀들과 제1 가열 시스템이 접촉할 때 기질에 대해 상기 가열 시스템이 대칭상태로 접근하는 경우에 도 2에 도시된 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 9는, 기질 스택이 대칭상태로 접촉할 때 도 2에 도시된 실시예를 개략적으로 도시한 횡단면도,
도 10은, 스터드 연결된 척(chuck) 및 스터드 연결된 압력판의 둘러싸는 영역을 측면 횡단면도,
도 11은, 본 발명을 따르고 스터드 연결된 결합 척을 도시한 평면도,
도 12는 본 발명을 따르고 스터드 연결된 압력판을 도시한 평면도.
3 : 밀봉 링 4,4' : 진공 전달 챔버
5 : 진공 전달 섹션 6 : 결합 시스템
6o : 챔버 개구부 6s : 슬롯
7 : 지지 구조체 8 : 위치 액추에이터
9 : 하중 액추에이터
10 : 결합 챔버, 특히 진공 챔버 11 : 부착 장치
14 ; 기질 스택 15,15': 제1 가열 표면
16 : 펌프 17 : 복사열
18 : 수용 시스템, 특히 기질 기저부 19,19': 제2 가열 표면
20 : 밀봉체 21 : 적재 핀
21p : 조정 판
22 : 조정 구동장치, 특히 적재 핀 액추에이터
23 : 지지 구조체 24 : 구속기 구동장치
25 : 제2 압력판 26 : 제2 하부 가열 시스템
27 : 밸브 28 : 구속 밀봉체
29 : 제1 압력판 30 : 제1 상부 가열 시스템
31 : 밀봉체 32 : 유동 채널
34 : 로봇, 특히 공정 로봇 35 : 제1 상부 기질
35k : 제1 접촉 표면 35o : 제 표면
36 : 제2 하부 기질 36k : 제2 접촉 표면
36o : 제2 표면 37 : 스터드
38,38': 유닛, 트기 진공 클러스터, 바람직하게는 고진공 클러스터
39 : 구속기 40 : 암
41 : 통로 42,42': 스터드 연결된 압력판
A : 이격 거리 B : 이격 거리
E : 기저부 평면 H : 스터드 높이
Claims (6)
- 제1 기질을 제2 기질에 결합하기 위한 결합 장치에 있어서, 상기 결합 장치는:
제1 기질의 기질 표면과 접촉하기 위한 제1 표면을 가진 제1 접촉 부재; 및
제2 기질의 기질 표면과 접촉하기 위한 제2 표면을 가진 제2 접촉 부재를 포함하되,
제1 및 제2 표면 중 하나 이상의 표면은 복수의 돌출부들에 의해 형성되고, 제1 및 제2 접촉 부재는:
(i) 제1 및 제2 기질을 고정하고,
(ii) 제1 및 제2 기질에 압력을 제공하는 것
중 하나 이상을 위한 척(chuck)이며,
유동 채널들이 복수의 돌출부들 사이에 위치되고,
상기 결합 장치는, 추가로:
가스를 유동 채널 내에 유입시켜 열 대류 및 열 전도 중 하나 이상을 제공하기 위한 가스 공급원; 및
제1 및 제2 표면 중 하나 이상의 표면을 형성하는 복수의 돌출부들의 전체 주변부를 밀봉하는 밀봉 링을 포함하되, 상기 밀봉 링에는 유동 채널들로부터 과도한 가스의 누출을 제어할 수 있는 통로가 제공되는 것을 특징으로 하는 결합 장치. - 제1항에 있어서, 제1 표면은 복수의 돌출부들에 의해 형성되며, 제1 표면의 한 영역은 제1 기질의 기질 표면의 영역의 90% 미만인 것을 특징으로 하는 결합 장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 제2 표면은 복수의 돌출부들에 의해 형성되며, 제2 표면의 한 영역은 제2 기질의 기질 표면의 영역의 90% 미만인 것을 특징으로 하는 결합 장치.
- 제1항에 있어서, 유동 채널들은 제1 및 제2 표면 중 하나 이상의 표면에 대해 1mm 미만의 깊이를 가지는 것을 특징으로 하는 결합 장치.
- 제1항에 있어서, 결합 장치는 적어도 50개의 돌출부들을 포함하는 것을 특징으로 하는 결합 장치.
- 제1항에 있어서, 복수의 돌출부들은 균일하게 분포되는 것을 특징으로 하는 결합 장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/EP2014/052037 WO2015113641A1 (de) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | Verfahren und vorrichtung zum bonden von substraten |
KR1020197022838A KR102186019B1 (ko) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020197022838A Division KR102186019B1 (ko) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20200138415A KR20200138415A (ko) | 2020-12-09 |
KR102259484B1 true KR102259484B1 (ko) | 2021-06-02 |
Family
ID=50064594
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020207034144A Active KR102259484B1 (ko) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
KR1020197022838A Active KR102186019B1 (ko) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
KR1020167021336A Active KR102009551B1 (ko) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020197022838A Active KR102186019B1 (ko) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
KR1020167021336A Active KR102009551B1 (ko) | 2014-02-03 | 2014-02-03 | 기질을 결합하기 위한 방법 및 장치 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US10014193B2 (ko) |
EP (2) | EP3312871B1 (ko) |
JP (1) | JP6395847B2 (ko) |
KR (3) | KR102259484B1 (ko) |
CN (3) | CN105960703B (ko) |
SG (1) | SG11201606136UA (ko) |
TW (3) | TWI752791B (ko) |
WO (1) | WO2015113641A1 (ko) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102365284B1 (ko) * | 2016-02-16 | 2022-02-18 | 에베 그룹 에. 탈너 게엠베하 | 기판 결합 방법 |
JP6816155B2 (ja) | 2016-02-17 | 2021-01-20 | エーファウ・グループ・エー・タルナー・ゲーエムベーハー | 計測装置および計測方法 |
WO2017168534A1 (ja) * | 2016-03-28 | 2017-10-05 | 株式会社ニコン | 基板貼り合わせ装置および基板貼り合わせ方法 |
EP3482231B1 (en) * | 2016-07-05 | 2022-09-07 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Bonding of materials with dissimilar coefficients of thermal expansion |
CN115799124A (zh) * | 2016-09-29 | 2023-03-14 | Ev 集团 E·索尔纳有限责任公司 | 用于结合两个基板的装置和方法 |
SG11201907047SA (en) | 2017-03-16 | 2019-08-27 | Ev Group E Thallner Gmbh | Method for bonding at least three substrates |
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- 2014-02-03 KR KR1020207034144A patent/KR102259484B1/ko active Active
- 2014-02-03 KR KR1020197022838A patent/KR102186019B1/ko active Active
- 2014-02-03 US US15/110,417 patent/US10014193B2/en active Active
- 2014-02-03 KR KR1020167021336A patent/KR102009551B1/ko active Active
- 2014-02-03 EP EP17200753.6A patent/EP3312871B1/de active Active
- 2014-02-03 CN CN201480074793.XA patent/CN105960703B/zh active Active
- 2014-02-03 JP JP2016549744A patent/JP6395847B2/ja active Active
- 2014-02-03 CN CN201910992358.XA patent/CN110707027B/zh active Active
- 2014-02-03 EP EP14702826.0A patent/EP3103135B1/de active Active
- 2014-02-03 WO PCT/EP2014/052037 patent/WO2015113641A1/de active Application Filing
- 2014-02-03 SG SG11201606136UA patent/SG11201606136UA/en unknown
- 2014-02-03 CN CN201910992351.8A patent/CN110707026A/zh active Pending
-
2015
- 2015-02-03 TW TW110100490A patent/TWI752791B/zh active
- 2015-02-03 TW TW104103608A patent/TWI660845B/zh active
- 2015-02-03 TW TW108109184A patent/TWI750463B/zh active
-
2018
- 2018-05-30 US US15/992,274 patent/US10971378B2/en active Active
-
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CN110707027B (zh) | 2023-10-31 |
SG11201606136UA (en) | 2016-09-29 |
TWI752791B (zh) | 2022-01-11 |
US10014193B2 (en) | 2018-07-03 |
KR20190093708A (ko) | 2019-08-09 |
TWI750463B (zh) | 2021-12-21 |
TW201534476A (zh) | 2015-09-16 |
KR102186019B1 (ko) | 2020-12-04 |
JP6395847B2 (ja) | 2018-09-26 |
JP2017511970A (ja) | 2017-04-27 |
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US10971378B2 (en) | 2021-04-06 |
CN110707026A (zh) | 2020-01-17 |
CN105960703A (zh) | 2016-09-21 |
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TW201927577A (zh) | 2019-07-16 |
WO2015113641A1 (de) | 2015-08-06 |
CN105960703B (zh) | 2019-12-03 |
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CN110707027A (zh) | 2020-01-17 |
KR20160115930A (ko) | 2016-10-06 |
US20180277403A1 (en) | 2018-09-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A107 | Divisional application of patent | ||
PA0104 | Divisional application for international application |
Comment text: Divisional Application for International Patent Patent event code: PA01041R01D Patent event date: 20201126 Application number text: 1020197022838 Filing date: 20190802 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20210201 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20210406 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20210527 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20210527 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |