KR102017257B1 - 입자 크기별 계수가 가능한 소형 광학식 미세 먼지 센서 - Google Patents

Abstract

본 발명은 소형 광학식 미세 먼지 센서에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 10㎛ 이하의 크기를 가지는 미세먼지를 검출하기 위한 소형 광학식 먼지 센서에 관한 것이다.
본 발명에 따른 먼지센서는 먼지 측정 영역에 광을 조광하는 제1 발광 소자와; 상기 먼지 측정 영역에 상기 제1 발광 소자와 상이한 방향에서 광을 조광하는 제2 발광 소자, 여기서 상기 제2 발광 소자는 상기 제1 발광 소자의 조광 시 먼지에 의해 발생하는 음영 영역을 조광하도록 조광되고; 상기 제1 발광 소자 및/또는 제2 발광소자에서 조광되고, 상기 제1영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제1 전기 신호를 출력하는 제1 수광소자와; 상기 제1 발광 소자 및/또는 제2 발광소자에서 조광되고, 상기 제1영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제2 전기 신호를 출력하는 제2 수광 소자; 및 상기 제1 전기 신호와 상기 제2 전기 신호를 가공해서 출력하는 가공부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

입자 크기별 계수가 가능한 소형 광학식 미세 먼지 센서{Small-sized optical fine dust sensor capable of counting by particle size}

본 발명은 소형 광학식 미세 먼지 센서에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 10㎛ 이하의 크기를 가지는 미세먼지를 검출하기 위한 소형 광학식 먼지 센서에 관한 것이다.

차량의 실내 공기 질을 관리하기 위해서 먼지 센서가 사용되고 있다. 먼지 량을 크기별로 정확하게 검출하는 방안으로 먼지의 숫자를 직접 계수하는 카운팅 장치가 있지만, 고가의 가격으로 인해 차량에 사용하기가 쉽지 않다.

이에 따라서, 차량용으로는 저렴한 가격 조건을 충족할 수 있도록, 광을 이용한 먼지센서가 고려되고 있다. 광을 이용한 먼지 센서는 광 반사량을 이용하여 먼지량을 측정하는 방식이며, 그 기본적인 구조는 LED 혹은 Laser Diode로 이루어진 발광소자와 Photo Diode나 Photo transistor로 이루어진 수광소자를 포함하고, 발광소자로부터 발생된 평행광이 미세먼지에 맞고 반사되는 산란 광을 수광소자가 수광하여 수광되는 광량으로 먼지의 농도를 측정하는 방식이다.

이러한 방식들은 기본적으로 수광 광량을 먼지의 양으로 환산하는 방식으로서, 먼지 간의 겹침 현상에 따른 음영 지역 발생으로 인해 정확도가 떨어지며, 주변환경의 변화에 따라 급속히 변하는 먼지 양을 실시간으로 신속히 측정하기 어렵다는 문제가 있다. 또한, 센서를 통과하는 먼지의 총량 분석만 가능할 뿐이며, 센서를 통과하는 먼지를 크기별로 분별하여 측정할 수 없다는 문제가 있다.

또한, 센서를 통과하는 먼지의 총량 분석만 가능할 뿐이며, 센서를 통과하는 먼지를 크기별로 분별하여 측정할 수 없다는 문제가 있다.

이를 해결하기 위해서, 도 2와 같이, 차량의 먼지에서 측정을 원하는 크기의 먼지를 별도로 물리적으로 분리하는 방식, 즉 가상 임팩터 (Virtual impactor)을 사용하는 기술을 채택하고 있으나, 가상 임팩터는 구조상 사이즈가 커지고 유량의 변화를 유지하기 위해선 FAN을 반드시 사용해야 한다는 문제가 있다. 또한, 유량 변화에 민감한 환경인 차량용으로 적용하기에는 어렵다는 단점을 가지고 있다.

대한민국 실용신안 등록 제0372496호 대한민국 특허 공개 제10-2017-0136885호

본 발명에서 해결하고자 하는 과제는 먼지 간의 겹침 현상에 따른 음영 지역 발생으로 인한 문제를 해결할 수 있는 높은 정확도의 소형 광학식 먼지센서를 제공하는 것이다.

본 발명에서 해결하고자 하는 다른 과제는 먼지 간의 겹침 현상에 따른 음영 지역 발생으로 인한 문제가 없어 높은 정확도를 가지면서, 유량변화가 심한 자동차 용도로 사용할 수 있는 소형 광학식 먼지 센서를 제공하는 것이다.

본 발명에서 해결하고자 하는 다른 과제는 먼지 간의 겹침 현상에 따른 음영 지역 발생으로 인한 문제가 없어 높은 정확도를 가지면서, 유량변화가 심한 자동차 용도로 사용할 수 있으며, 먼지를 크기별로 측정할 수 있어 가상 임펙터의 사용과 이로 인한 크기 증가를 방지할 수 있으며, 팬의 사용과 이로 인한 크기의 증가를 방지할 수 있는 새로운 소형 광학식 먼지 센서를 제공하는 것이다.

상기와 같은 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은

먼지 측정 영역에 광을 조광하는 제1 발광 소자와;

상기 먼지 측정 영역에 상기 제1 발광 소자와 상이한 방향에서 광을 조광하는 제2 발광 소자, 여기서 상기 제2 발광 소자는 상기 제1 발광 소자의 조광 시 먼지에 의해 발생하는 음영 영역을 조광하도록 위치하며;

상기 제1 발광 소자 및/또는 제2 발광소자에서 조광되고, 상기 제1영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제1 전기 신호를 출력하는 제1 수광소자와;

상기 제1 발광 소자 및/또는 제2 발광소자에서 조광되고, 상기 제1영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제2 전기 신호를 출력하는 제2 수광 소자; 및

상기 제1 전기 신호와 상기 제2 전기 신호를 가공해서 출력하는 가공부를 포함하는 먼지센서를 제공한다.

본 발명에 있어서, 상기 제2 발광 소자는 상기 제1 발광 소자의 음영 영역을 조광할 수 있도록, 제1 발광 소자와 90~180°의 범위에 위치하는 것이 바람직하며, 가장 바람직하게는 제1 발광 소자의 음영 영역 전체를 조광할 수 있도록, 제2 발광 소자의 반대편에 대향하여 배치되는 것이 좋다.

본 발명에 있어서, 상기 제1 수광 소자와 제2 수광 소자는 제1 발광 소자와 제2 발광 소자의 반사광을 효과적으로 수광할 수 있도록, 제1 발광 소자와 제2 발광 소자의 사이에 배치하는 것이 바람직하며, 제2 수광소자는 제1 수광소자와 대향하여 배치하는 것이 좋다.

본 발명의 바람직한 실시에 있어서, 상기 제1 발광 소자와 제2 발광 소자는 먼지 측정 영역을 중심으로 서로 대향하여 배치되고, 상기 제1 수광 소자와 제2 수광소자도 먼지 측정 영역을 중심으로 서로 대향하여 배치되는 것이 좋다.

본 발명에 있어서, 상기 발광 소자는 평행광을 조광할 수 있는 발광 소자일 수 있으며, 바람직하게는 엘이디나 레이저 다이오드를 발광 소자를 사용할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 수광 소자는 수광되는 광량에 따라서 전기적 신호량이 달라지는 광소자를 사용할 수 있으며, 바람직하게는 포토 트랜지스터나 포토 다이오드를 포함하는 수광 소자일 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 수광 소자에서 출력되는 전기적 신호는 전류 및/또는 전압 신호일 수 있으며, 바람직하게는 포토 다이오드 칩에서 출력된 미세한 전류 신호를 전압으로 변환 및 증폭시킨 출력한 전압 신호일 수 있다. 본 발명의 실시에 있어서, 상기 가공부의 가공을 위해서 상기 제1 수광 소자와 제2 수광 소자는 동종의 전기신호인 것이 바람직하다.

본 발명에 있어서, 상기 가공부는 상기 제1 수광 소자에서 출력되는 제1 전기신호와 제2 수광소자에서 출력되는 제2 전기신호를 처리하여 먼지 농도 출력을 위한 가공 신호를 출력할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 가공부는 먼지의 음영으로 인해 발생하는 오차를 줄이기 위해서, 상기 제1 수광소자에서 입력된 제1 전기 신호와 제2 수광 소자에서 입력된 제2 전기신호를 평균해서 출력하는 평균처리부를 가질 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 가공부는 제1 전기 신호와 제2 전기 신호의 차이가 일정 수준 이하인 경우에만 정상 신호로 판단하여 출력하는 비교 처리부를 포함할 수 있으며 제1 전기신호와 제2 전기신호의 차이가 소정 크기 이상일 경우, 동일 영역을 측정한 결과에 차이가 크므로 이를 측정 에러로 판단하여 에러 신호를 출력할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 가공부는 먼지의 크기별 측정을 위해서, 상기 평균 출력부에서 출력되는 신호를 문턱별로 구분하여 출력할 수 있으며, 바람직하게는 문턱 전압별로 구분하여 출력할 수 있다. 이론적으로 한정된 것은 아니지만, 큰 먼지는 큰 전압신호를 출력하고, 적은 먼지는 적은 전압 신호를 출력하므로, 전기 신호에 문턱 전압을 적용하면, 해당 문턱을 넘는 먼지 수를 측정할 있다. 따라서, 동일한 출력신호에 상이한 크기의 문턱 전압을 적용하면, 각 문턱에 해당되는 크기를 넘는 먼지를 수를 측정할 수 있으며, 이를 이용하여, 먼지를 크기별로 측정할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 먼지 센서는 가공부의 신호를 이용하여 소정 크기의 먼지량을 측정하는 제어부를 더 포함할 수 있다.

본 발명은 일 측면에서,

먼지 유로를 가지는 몸체와,

상기 먼지 유로의 먼지 측정 영역에 광을 조광하는 제1 발광 소자와;

상기 먼지 측정 영역에 상기 제1 발광 소자와 상이한 방향에서 광을 조광하는 제2 발광 소자, 여기서 상기 제2 발광 소자는 상기 제1 발광 소자의 조광 시 먼지에 의해 발생하는 음영 영역을 조광하도록 위치하며;

상기 제1 발광 소자 및/또는 제2 발광소자에서 조광되고, 상기 제1영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제1 전기 신호를 출력하는 제1 수광소자와;

상기 제1 발광 소자 및/또는 제2 발광소자에서 조광되고, 상기 제1영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제2 전기 신호를 출력하는 제2 수광 소자; 및

상기 제1 전기 신호와 상기 제2 전기 신호를 가공해서 출력하는 가공부를 포함하는 먼지 센서를 제공한다.

본 발명은 일 측면에서, 동일한 먼지 측정 영역에 2 이상의 방향에서 광을 조광하고, 상기 먼지 측정 영역에서 반사되는 광을 2 이상의 수광 센서들에서 수광하는 단계;

상기 수광 센서들에서 출력되는 신호를 평균처리하여 출력하는 단계;

평균해서 출력된 신호를 문턱 처리하여 문턱별로 출력하는 단계; 및

상기 문턱 별로 출력된 신호를 이용하여 크기별 먼지 량을 측정하는 단계

를 포함하는 크기별 먼지 측정 방법을 제공한다.

본 발명에 의해서 음영에 따른 오차가 저감된 정확도가 높은 먼지센서가 제공되었다.

본 발명에 의해서, 또한, 먼지 센서의 측정 오류를 자가 진단할 수 있는 새로운 먼지 센서가 제공되었다.

본 발명에 의해서, 또한, 유량의 변화가 심한 환경에서도 정확도 높은 광 방식 먼지 센서가 제공되어, 차량 실내 자동 환기 시스템에 적용할 수 있다.

도 1은 종래 기술의 일 실시에 따른 먼지 센서의 작동 원리를 보여주는 도면이다.
도 2는 종래 기술의 다른 일 실시에 따른 먼지 센서의 작동 원리를 보여주는 도면이다.
도 3은 본 발명이 일 실시에 따른 먼지 센서의 단면도를 보여주는 도면이다.
도 4는 본 발명이 일 실시에 따른 먼지 센서의 작동상태를 보여주는 설명도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시에 따른 먼지 센서의 신호 처리 흐름을 보여주는 흐름도이다.
도 6은 볼 발명의 일 실시에 따른 먼지 센서에서 다수의 문턱이 적용된 신호를 보여주는 도면이다.

이하, 실시예를 통해서 본 발명을 상세하게 설명한다. 하기 실시예는 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다.

도 3에서 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 먼지센서(1)는 중심부에 먼지 유로(10)가 형성된 직사각형 단면의 몸체(20)를 가진다. 상기 몸체(20)의 일측 모서리(21)에 먼지 유로(10) 방향으로 제1 발광 소자(100)가 위치하고, 상기 몸체(20)에서 상기 제1 모서리(21)에 대향하는 제2 모서리(22)에 상기 제1 발광 소자(10)와 대향하는 제2 발광 소자(200)가 형성된다. 제1 수광소자(300)는 상기 제1 발광 소자(100)과 제2 발광소자(200)가 위치하는 제1 모서리(21)과 제2 모서리(22) 사이의 제3 모서리(23)에 위치하며, 제2 수광소자(400)는 제1 수광소자(300)과 대면하게 제4 모서리(24)에 배치된다.

제1 발광 소자(100) 및 제2 발광소자(200)는 LED광을 발광하는 발광 칩과, 발광칩의 발광을 제어하는 발광 제어칩으로 이루어진 통상의 발광소자를 사용한다. 제1 수광 소자(300) 및 제2 수광 소자(400)는 수광되는 광량에 따라서 전류를 출력하는 포토다이오드 칩과, 포토다이오드 칩에서 출력되는 전류를 전압으로 변환 및 증폭하여 전압 신호를 출력하는 수광 제어칩으로 이루어진 통상의 수광소자를 사용한다.

본 발명에 따른 먼지 센서(1)는 중심부의 먼지 유로(10)를 통해서 먼지가 연속적으로 통과하며, 제1 발광 소자(100), 제2 발광소자(200), 제1 수광소자(300), 및 제2 수광소자(400)이 마주보며 배치된 먼지 측정 영역(S)을 통과하게 된다.

도 4에서 도시된 바와 같이, 제1 발광 소자(100)가 발광하면, 발광된 광은 대향하는 제2 발광소자(200) 방향으로 방출된 후, 먼지측정 영역(S)에 있는 먼지에 반사되어 제1 수광 소자(300)와 제2 수광 소자(400)으로 입사된다. 제1 수광 소자(100)에 입사되는 반사광은 제1 수광 소자(300) 및 제2 수광소자(400)의 포토다이오드에서 광전 변환에 의해서 미세 전류를 방출하고, 미세 전류는 전압으로 변환 및 증폭되어 전압 신호를 방출한다. 동일하게, 제2 발광 소자(200)가 발광하면, 발광된 광은 대향하는 제1 발광 소자(100) 방향으로 방출된 후, 동일한 먼지측정 영역(S)에 있는 먼지에 반사되어 제1 수광 소자(300)와 제2 수광 소자(400)으로 입사된다. 제1 수광 소자(100)에 입사되는 반사광은 제1 수광 소자(300) 및 제2 수광소자(400)의 포토다이오드에서 광전 변환에 의해서 미세 전류를 방출하고, 미세 전류는 전압으로 변환 및 증폭되어 전압 신호를 방출한다.

먼지 측정 영역(S)에 제1 먼지 입자(11)와 제2 먼지 입자(12)가 유입되고, 발광소자(100)에서만 발광이 이루어질 경우, 제1 발광소자에서 발광된 광을 제1 먼지입자(11)가 가려서, 제2 먼지입자(12)에는 조광되지 않게 되며 제1 발광소자(100)에서 발광된 광은 제1 먼지 입자(11)에서만 반사되며, 제2 먼지입자(12)는 반사되지 않게 된다. 이로 인해, 먼지 양에 비해서 적은 반사광이 발생되며, 제1 수광소자(300)과 제2 수광소자(400)에는 제1 먼지입자(11)에 해당하는 제1 반사광(21)들만 입사되어 적은 전압 신호가 출력되고, 이로 인해 오차가 발생한다.

반면, 제1 발광소자(100)와 제2 발광소자(200)에서 발광이 이루어질 경우, 제1 발광소자에서 발광된 광을 제1 먼지입자(11)가 가려서, 제2 먼지입자(12)에는 조광되지 않게 되며, 제1 발광소자(100)에서 발광된 광은 제1 먼지 입자(11)에서만 반사되며, 제2 먼지입자(12)는 반사되지 않게 되지만, 맞은편의 제2 발광소자(200)에서 발광된 광은 제1 먼지입자(11)과 제2 먼지입자(12)를 조광할 수 있게 되며, 제1 먼지 입자(11)과 제2 먼지입자(12)에서 반사가 이루어진다. 이로 인해, 제1 발광소자의 광은 먼지 양에 비해 적은 반사광을 발생시키지만, 제2 발광소자는 먼지 양에 상응하는 반사광을 발생시키게 되므로, 제1 발광소자(100)만을 사용하는 경우에 비해서 측정 오차가 줄어들게 된다.

도 5 에서 도시되는 바와 같이, 제1 수광소자(300)와 제2 수광소자(400)에서 출력되는 전기적 신호는 가공부(500)으로 입력된다. 가공부(500)는 제1 수광소자(300)의 제1 전압 신호(310)와 제2 수광소자(400)의 제2 전압신호(410)를 비교하는 비교처리부(510)를 가진다. 상기 비교처리부(510)에서는 제1 전압신호(310)와 제2 전압신호(410)의 차이가 허용 범위 이내인지를 확인하고, 허용 범위를 벗어나는 경우, 에러신호(511)를 출력하고, 상기 제1 전압신호(310)와 제2 전압신호(410)의 차이가 허용 범위일 경우에는, 정상 신호로 판단하여 그대로 출력한다. 상기 비교처리부(510)에서 출력된 신호들은 평균 처리부(520)로 입력되어, 상기 제1 전압신호(310)와 제2 전압신호(410)를 평균값으로 평균 처리하는 평균 처리부(520)에서 제3 전압신호(521)로 출력된다.

도 5 및 도 6에서 도시된 바와 같이, 아날로그 신호인 제3 전압신호(521)는 문턱 처리부(530)에서 소정의 문턱 전압들을 초과하는 영역만을 표시한 펄스 형식으로 가공한 디지털 형태의 제4전압신호(540)를 출력한다. 제4 전압신호(540)은 가장 높은 제1 문턱 전압을 적용한 제1 문턱 처리신호(541), 제1 문턱 전압보다 낮은 제2 문턱 전압을 적용한 제2 문턱 처리신호(542), 제2 문턱 전압보다 낮은 제3 문턱 전압을 적용한 제3 문턱 처리신호(543), 및 제3 문턱 전압보다 낮은 제4 문턱 전압을 적용한 제4 문턱 처리신호(544)로 구분된다.

제1 문턱 처리신호(541)는 가장 높은 제1 문턱전압(551)를 적용하여, 제1 문턱 전압을 초과하는 영역들을 펄스로 표시한 신호이다. 제1 문턱 처리신호(541)는 제1 기준보다 큰 먼지 입자의 수 또는 량을 의미한다.

제2 문턱 처리신호(542)는 두 번째로 높은 제2 문턱전압(552)를 적용하여, 제2 문턱 전압을 초과하는 영역들을 펄스로 표시한 신호이다. 제2 문턱 처리신호(541)는 제2 기준보다 큰 먼지 입자의 수를 의미한다. 따라서, 제2 문턱 처리 신호(542)에서 제1 문턱 처리신호(541)를 빼면, 제2 기준보다 크고 제1 기준보다 작은 먼지의 수 또는 량을 의미하게 된다.

제3 문턱 처리신호(543)는 세 번째로 높은 제3 문턱전압(553)를 적용하여, 제3 문턱 전압을 초과하는 영역들을 펄스로 표시한 신호이다. 제3 문턱 처리신호(541)는 제3 기준보다 큰 먼지 입자의 수를 의미한다. 제3 문턱 처리 신호(543)에서 제2 문턱 처리신호(543)를 빼면, 제3 기준보다 크고 제2 기준보다 작은 먼지의 수 또는 량을 의미하게 된다.

제4 문턱 처리신호(542)는 두 번째로 높은 제2 문턱전압(552)를 적용하여, 제2 문턱 전압을 초과하는 영역들을 펄스로 표시한 신호이다. 제4 문턱 처리신호(541)는 제4 기준보다 큰 먼지 입자의 수를 의미한다. 제4 문턱 처리 신호(544)에서 제3 문턱 처리신호(543)를 빼면, 제4 기준보다 크고 제3 기준보다 작은 먼지의 수 또는 량를 의미하게 된다.

이를 식으로 표현하면, 하기 식(5)과 같이 표현될 수 있다. 여기서, 먼지 사이즈에 따른 다수의 문턱전압을 설정하여(사용자 설정) 얻어진 Discriminator의 출력 펄스 수를 빼면 낮은 문턱 전압에 해당하는 크기의 먼지의 량을 산출하게 된다.

PQ(thn) = N(Binn) - N(Binn-1)

* PQ(thn): 특정 사이즈의 Particle Quantity

* N(Binn): Binn에서 얻어진 Pulse 개수.

* N(Binn-1): Binn-1에서 얻어진 Pulse 개수

100: 제1 발광 소자
200: 제2 발광 소자
300: 제1 수광 소자
400: 제2 수광 소자
500: 가공부
510: 비교처리부
520: 평균처리부
530: 문턱처리부

Claims (10)

1. 먼지 측정 영역에 광을 조광하는 제1 발광 소자와;
   상기 먼지 측정 영역에 상기 제1 발광 소자와 상이한 방향에서 광을 조광하는 제2 발광 소자, 여기서 상기 제2 발광 소자는 상기 제1 발광 소자의 조광 시 먼지에 의해 발생하는 음영 영역을 조광하도록 위치하며;
   상기 제1 발광 소자, 제2 발광소자, 또는 양자에서 조광되고, 상기 먼지 측정 영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제1 전기 신호를 출력하는 제1 수광소자와;
   상기 제1 발광 소자, 제2 발광소자, 또는 양자에서 조광되고, 상기 먼지 측정 영역의 먼지에 의해서 반사되는 광을 수광하여 제2 전기 신호를 출력하는 제2 수광 소자; 및
   상기 제1 전기 신호와 상기 제2 전기 신호를 가공해서 출력하는 가공부를 포함하고,
   여기서 제1 발광소자는 제2 발광 소자의 반대편에 대향하여 배치되는 것을 특징으로 하는 먼지센서.
2. 삭제
3. 삭제
4. 제1항에 있어서,
   상기 제1 수광 소자와 제2 수광 소자는 제1 발광 소자와 제2 발광 소자의 사이에 서로 대향하여 배치하는 것을 특징으로 하는 먼지 센서.
5. 제1항에 있어서,
   상기 제1 수광 소자와 제2 수광 소자는 동종의 전기신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 먼지 센서.
6. 제1항에 있어서,
   상기 가공부는 상기 제1 수광소자에서 출력되어 입력된 제1 전기 신호와 제2 수광 소자에서 출력되어 입력된 제2 전기신호를 비교하여, 제1 전기신호와 제2 전기신호의 차이가 소정 크기 이상일 경우, 에러신호를 출력하고, 제1 전기신호와 제2 전기신호의 차이가 소정 크기 미만일 경우, 정상신호를 출력하는 비교처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 먼지 센서.
7. 제1항에 있어서,
   상기 가공부는 상기 제1 수광소자에서 출력되어 입력된 제1 전기 신호와 제2 수광 소자에서 출력되어 입력된 제2 전기신호를 평균해서 출력하는 평균처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 먼지 센서.
8. 제7항에 있어서, 상기 가공부는 상기 평균처리부에 출력된 신호를 문턱별로 구분하여 출력하는 것을 특징으로 하는 먼지 센서.
9. 제1항 또는 제8항에 있어서,
   상기 먼지 센서는 가공부에 출력되는 신호를 이용하여 소정 크기의 먼지량을 측정하는 제어부를 더 포함하는 먼지센서.
10. 동일한 먼지 측정 영역에 제1 발광 소자와 반대편에 대향하여 배치된 제2 발광 소자에서 광을 조광하고, 상기 먼지 측정 영역에서 반사되는 광을 2 이상의 수광 센서들에서 수광하는 단계;
    상기 수광 센서들에서 출력되는 신호를 평균처리하여 출력하는 단계;
    평균해서 출력된 신호를 문턱 처리하여 문턱별로 출력하는 단계; 및
    상기 문턱 별로 출력된 신호를 이용하여 크기별 먼지량을 측정하는 단계
    를 포함하는 크기별 먼지 측정 방법.

Images