KR101885686B1 - 전자 부품들을 테스트하기 위한 네스트 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 16
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
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Abstract
Description
특허문헌 CH695871은 전자 부품을 테스트하기 위한 테스트 스테이션 및 상기 전자 부품을 고정하기 위한 적어도 하나의 지지대를 포함하는 전자 부품의 자동 테스트를 위한 장치를 개시하며, 상기 적어도 하나의 지지대는 상기 전자 부품의 두 개의 반대편 측면 및 하부면으로부터 전자 부품을 고정하여서, 전자 부품의 적어도 두 개의 반대편 측면 상에서 접촉점 및 상부 표면은 상기 전자 부품이 적어도 하나의 지지대 상에 유지될 때 완전히 접근가능하다.
특허문헌 EP0457472은 소켓에서 칩을 수용하기 위한 편향력에 대항하여 홀더 및 접촉부를 대신하기 위한 왕복 부재(reciprocating member)의 전방 이동과 함께 이동할 수 있게 배열된 회전식(rotably-mounted) 칩 홀더 및 복수의 탄성 접촉부를 구비하는 칩의 번-인(burn-in) 테스트 동안에 테스트 회로에 칩 리드를 전기적으로 연결하기 위한 통한 회로 칩을 설치하기 위한 소켓(socket)을 개시한다. 상기 홀더 및 접촉부는 각 칩 리드들과 접촉부를 탄성적으로 결합하고 소켓에서 칩을 분리 가능하게 보유하기 위해서 바이어스에 반응하여 최초의 위치로 되돌아 가는 왕복 부재의 되돌아가는 이동과 함께 이동할 수 있다.
도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 네스트의 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 네스트의 추가적인 사시도이다.
도 3은 네스트에 고정된 부품과 도 1에 도시된 네스트의 사시도이다.
도 4는 네스트의 이동부를 움직이기 위해 도 1-3에 도시된 네스트와 협력할 수 있는 엑츄에이터(actuator)의 사시도이다.
도 5 및 도 6은 도 4에 도시된 엑츄에이터(50)의 작동 및 도 1-3에 도시된 네스트의 작동을 도시한다.
Claims (16)
- 고정부(3) 및 이동부(5)를 포함하는 네스트(1)로서,
상기 고정부(3) 및 이동부(5)는 전자부품(25)의 적어도 일부를 수용할 수 있는 포켓(7)을 정의하기 위해서 협력하도록 구성되며,
이동부(5)는 제 1 및 제 2 위치 사이를 이동할 수 있으며,
제 1 위치에서 포켓(7)은 개방될 수 있어서 전자부품의 적어도 일부는 포켓(7)으로 이동할 수 있고,
제 2 위치에서 포켓(7)은 폐쇄될 수 있어서 포켓 내에 위치된 전자부품(25)의 적어도 일부는 포켓 내에 고정되고,
상기 네스트(1)는 제 2 위치 쪽으로 이동부(5)를 편향시킬 수 있도록 배열된 편향 수단(9)을 더 포함하며,
편향 수단(9)은 하나 이상의 플렉시블 블레이드(9a 및 9b)를 포함하며,
전자부품의 적어도 일부가 포켓으로 이동될 수 있도록 제1 위치 쪽으로 이동부(5)를 이동하는 것은 하나 이상의 플렉시블 블레이드의 굽힘을 일으키며, 이동부(5)는 굽혀진 하나 이상의 플렉시블 블레이드의 탄성 복원에 의해서 제2 위치 쪽으로 자동적으로 이동될 수 있는 네스트. - 제 1 항에 있어서,
상기 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때, 전자 부품(25)과 마찰 결합하기 위해, 이동부(5)는 포켓(7) 내에 위치된 전자 부품(25)의 적어도 일부에 인접할 수 있도록 구성되어서, 이동부(5) 및 부품 사이의 마찰력이 포켓(7) 내에 부품을 고정시키는 네스트. - 제 1 항에 있어서,
상기 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때, 이동부(5)는 포켓(7)에 위치된 전자 부품(25)의 적어도 일부에 인접할 수 있도록 구성된 연장 부재(11)를 포함하여, 연장 부재(11) 및 부품 사이의 마찰력이 포켓(7) 내에 부품을 고정시키는 네스트. - 제 1 항에 있어서,
고정부(3) 및 이동부(5)는 LED의 적어도 일부를 수용하는 포켓(7)을 정의하기 위해 협력하도록 구성된 네스트. - 삭제
- 제 1 항에 있어서,
이동부(5)는 하나 이상의 플렉시블 블레이드(9a, 9b)와 협력하도록 배열된 하나 이상의 돌출부(13a, 13b)를 포함하여, 이동부(5)가 제 1 위치로 이동할 때 상기 돌출부(13a, 13b)가 하나 이상의 블레이드(9a, 9b)를 굽히도록 하나 이상의 블레이드(9a, 9b)를 누르는 네스트. - 제 1 항에 있어서,
제 1 단부(15) 및 제 2 단부(17)를 포함하는 제 1 블레이드(9a)를 포함하며,
제 1 단부(15)는 네스트(1)의 고정부(3)에 고정되고 제 2 단부(17)는 자유단이여서 제 1 블레이드는 구부러질 수 있으며,
제 1 단부(15) 및 제 2 단부(17)를 포함하는 제 2 블레이드(9b)를 포함하며,
제 1 단부(15)는 네스트(1)의 고정부(3)에 고정되고 제 2 단부(17)는 자유단이여서 제 2 블레이드는 구부러질 수 있는 네스트. - 제 7 항에 있어서,
이동부(5)는 제 1 블레이드(9a)의 자유단(17)에 가장 가까운 위치에서 제 1 블레이드(9a)와 협력하는 제 1 돌출부(13a) 및 제 2 블레이드(9b)의 자유단(17)에 가장 가까운 위치에서 제 2 블레이드(9b)와 협력하는 제 2 돌출부(13b)를 포함하여, 제 1 위치로의 이동부(5)의 움직임은 제 1 및 제 2 블레이드(9a, 9b)의 굽힘을 일으키는 네스트. - 제 1 항에 있어서,
이동부(5)가 제 1 및 제 2 위치 사이로 움직일 때 이동부(5)의 움직임을 안내할 수 있는 안내 수단(19, 21)을 더 포함하는 네스트. - 제 1 항에 있어서,
가열 수단을 더 포함하는 네스트로서,
상기 가열 수단은 포켓(7)과 열 교류하게 구성되어 가열 수단이 포켓에 고정된 전자 부품(25)을 가열할 수 있는 네스트. - 제 1 항에 있어서,
이동부는 엑츄에이터의 캠과 협력하도록 배열된 표면(23)을 더 포함하여, 캠의 움직임은 제 1 및 제 2 위치 사이로 이동부의 움직임에 영향을 주는 네스트. - 편향 수단의 힘에 대항하여 제 1 위치로 이동부를 이동하는 단계;
포켓에 부품의 적어도 일부를 위치하는 단계; 및
이동부를 편향 수단의 편향력을 사용해서 제 2 위치로 이동시키며 이동부가 포켓 내에 부품을 고정하기 위해서 부품과 마찰 결합하여 부품에 인접하는 단계; 를 포함하는 제 1 항에 따른 네스트에 부품을 고정하는 방법. - 제 1 항에 따른 적어도 하나의 네스트 및 적어도 하나의 엑츄에이터(50)를 포함하는 네스트 어셈블리로서,
상기 엑츄에이터(50)는 네스트(1)의 이동부(5)의 표면(23)과 협력하도록 배열된 편심판(51)의 형태인 캠(51)을 포함하여서, 캠(51)의 회전은 제 1 및 제 2 위치 사이의 이동부(5)의 움직임에 영향을 주며,
상기 엑츄에이터(50)는 캠을 회전하게 작동할 수 있는 모터(53)를 더 포함하는 네스트 어셈블리. - 제 1 항에 따른 네스트(1)를 포함하는 테이블.
- 제 13 항에 따른 네스트 어셈블리를 포함하는 부품 취급 어셈블리로서,
LED 테스트 장치는 LED를 테스트하기 위해서 네스트의 포켓에 고정된 LED와 협력하여 작동하도록 구성된 부품 취급 어셈블리. - 삭제
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH1862012 | 2012-02-10 | ||
CH00186/12 | 2012-02-10 | ||
PCT/EP2012/074397 WO2013117265A1 (en) | 2012-02-10 | 2012-12-05 | Nest for testing electrical components |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140134263A KR20140134263A (ko) | 2014-11-21 |
KR101885686B1 true KR101885686B1 (ko) | 2018-09-11 |
Family
ID=47294902
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020147016519A Active KR101885686B1 (ko) | 2012-02-10 | 2012-12-05 | 전자 부품들을 테스트하기 위한 네스트 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9523710B2 (ko) |
EP (1) | EP2812713B1 (ko) |
KR (1) | KR101885686B1 (ko) |
CN (1) | CN104160288A (ko) |
MY (1) | MY167965A (ko) |
PH (1) | PH12014501249A1 (ko) |
SG (1) | SG11201402256QA (ko) |
TW (1) | TWI589894B (ko) |
WO (1) | WO2013117265A1 (ko) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013117265A1 (en) | 2012-02-10 | 2013-08-15 | Ismeca Semiconductor Holding Sa | Nest for testing electrical components |
CN107535088B (zh) * | 2015-07-31 | 2021-02-02 | 伊斯梅卡半导体控股公司 | 用于操纵构件的组件及方法 |
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WO2013117265A1 (en) | 2012-02-10 | 2013-08-15 | Ismeca Semiconductor Holding Sa | Nest for testing electrical components |
CN103424186A (zh) * | 2012-05-18 | 2013-12-04 | 全亿大科技(佛山)有限公司 | 发光二极管检测量具 |
-
2012
- 2012-12-05 WO PCT/EP2012/074397 patent/WO2013117265A1/en active Application Filing
- 2012-12-05 MY MYPI2014001501A patent/MY167965A/en unknown
- 2012-12-05 KR KR1020147016519A patent/KR101885686B1/ko active Active
- 2012-12-05 CN CN201280069402.6A patent/CN104160288A/zh active Pending
- 2012-12-05 TW TW101145608A patent/TWI589894B/zh not_active IP Right Cessation
- 2012-12-05 EP EP12795810.6A patent/EP2812713B1/en not_active Not-in-force
- 2012-12-05 US US14/369,189 patent/US9523710B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-12-05 SG SG11201402256QA patent/SG11201402256QA/en unknown
-
2014
- 2014-06-03 PH PH12014501249A patent/PH12014501249A1/en unknown
Patent Citations (2)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SG11201402256QA (en) | 2014-06-27 |
US9523710B2 (en) | 2016-12-20 |
MY167965A (en) | 2018-10-09 |
TW201333491A (zh) | 2013-08-16 |
EP2812713B1 (en) | 2015-11-25 |
WO2013117265A1 (en) | 2013-08-15 |
PH12014501249B1 (en) | 2014-09-08 |
KR20140134263A (ko) | 2014-11-21 |
TWI589894B (zh) | 2017-07-01 |
EP2812713A1 (en) | 2014-12-17 |
PH12014501249A1 (en) | 2014-09-08 |
US20140375323A1 (en) | 2014-12-25 |
CN104160288A (zh) | 2014-11-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0105 | International application |
Patent event date: 20140617 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20170331 Comment text: Request for Examination of Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20180219 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20180720 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20180731 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20180801 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |