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KR101885686B1 - 전자 부품들을 테스트하기 위한 네스트 - Google Patents

전자 부품들을 테스트하기 위한 네스트 Download PDF

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KR101885686B1
KR101885686B1 KR1020147016519A KR20147016519A KR101885686B1 KR 101885686 B1 KR101885686 B1 KR 101885686B1 KR 1020147016519 A KR1020147016519 A KR 1020147016519A KR 20147016519 A KR20147016519 A KR 20147016519A KR 101885686 B1 KR101885686 B1 KR 101885686B1
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KR
South Korea
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pocket
moving part
nest
moving
blade
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KR1020147016519A
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실뱅 비에노
필립 비베흐쥬
마시모 스카르펠라
필립 로아
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이스메카 세미컨덕터 홀딩 에스.아.
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Publication date
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Abstract

본 발명에 따른 네스트는 고정부(3) 및 이동부(5)를 포함하는 네스트(1)로서, 상기 고정부(3) 및 이동부(5)는 전자부품(25)의 적어도 일부를 수용할 수 있는 포켓(7)을 정의하기 위해서 협력하도록 구성되며, 이동부(5)는 제 1 및 제 2 위치 사이를 이동할 수 있으며, 제 1 위치에서 포켓(7)은 개방 될 수 있어서 전자부품의 적어도 일부는 포켓(7)으로 이동할 수 있고, 제 2 위치에서 포켓(7)은 폐쇄 될 수 있어서 포켓 내에 위치된 전자부품(25)의 적어도 일부는 포켓 내에 고정되고, 상기 네스트(1)는 제 2 위치 쪽으로 이동부(5)를 편향시킬 수 있도록 배열된 편향 수단(9)을 더 포함한다. 본 발명에 따른 네스트들에 부품을 고정하는 방법은, 네스트, 및 편향 수단의 힘에 대항하여 제 1 위치로 이동부를 이동하는 단계; 포켓에 부품의 적어도 일부를 위치하는 단계; 및 이동부를 편향 수단의 편향력을 사용해서 제 2 위치로 이동시키며 이동부가 포켓 내에 부품을 고정하기 위해서 부품과 마찰 결합하여 부품에 인접하는 단계; 를 포함한다.

Description

전자 부품들을 테스트하기 위한 네스트{NEST FOR TESTING ELECTRICAL COMPONENTS}
본 발명은 네스트(nest) 시스템, 특히 전자 부품들을 수용하기에 적합한 네스트에 관한 것이로; 네스트 안에 수용되는 전자 부품들의 장착(grasp) 및 위치를 고정하기에 적합한 네스트에 관한 것이다.
부품 취급 어셈블리로 부품을 이송하기 위해, 각 부품은 주로 네스트에 위치된다. 부품을 수용하기에 적합한 포켓은 통상적으로 각 네스트에 구비된다. 이러한 복수의 네스트는 온열 테이블(hot table)같은 회전 테이블에 통상적으로 구비된다. 온열 테이블은 테이블이 회전할 때 테이블 상의 네스트에 고정된 부품들이 기결정된 온도로 점차적으로 가열되는 테이블이다. 부품들은 가열되어 테스트에 요구되는 기결정된 온도를 가지며, 이때 테이블은 부품이 테스트를 위하여 테스트 장치에 놓여지는 위치로 회전한다. 부품은 네스트에 위치된 동안에 테스트된다.
어떤 경우에는 부품들은 테스트 동안에 테스트 장치에 달라붙는다(stuck); 이러한 형상은 온열 테이블에서 열기(heating)로 인해 녹아버린 실리콘(melted silicon)을 가지는 부품 때문에 발생한다; 용해된 실리콘은 테스트 장비에 달라 붙는다. 테스트가 완료되면, 테스트 장치는 네스트로부터 이동하며 부품은 네스트의 밖으로 배출되거나(drag out) 네스트 내로부터 옮겨진다.
특허문헌 CH695871은 전자 부품을 테스트하기 위한 테스트 스테이션 및 상기 전자 부품을 고정하기 위한 적어도 하나의 지지대를 포함하는 전자 부품의 자동 테스트를 위한 장치를 개시하며, 상기 적어도 하나의 지지대는 상기 전자 부품의 두 개의 반대편 측면 및 하부면으로부터 전자 부품을 고정하여서, 전자 부품의 적어도 두 개의 반대편 측면 상에서 접촉점 및 상부 표면은 상기 전자 부품이 적어도 하나의 지지대 상에 유지될 때 완전히 접근가능하다.
특허문헌 EP0457472은 소켓에서 칩을 수용하기 위한 편향력에 대항하여 홀더 및 접촉부를 대신하기 위한 왕복 부재(reciprocating member)의 전방 이동과 함께 이동할 수 있게 배열된 회전식(rotably-mounted) 칩 홀더 및 복수의 탄성 접촉부를 구비하는 칩의 번-인(burn-in) 테스트 동안에 테스트 회로에 칩 리드를 전기적으로 연결하기 위한 통한 회로 칩을 설치하기 위한 소켓(socket)을 개시한다. 상기 홀더 및 접촉부는 각 칩 리드들과 접촉부를 탄성적으로 결합하고 소켓에서 칩을 분리 가능하게 보유하기 위해서 바이어스에 반응하여 최초의 위치로 되돌아 가는 왕복 부재의 되돌아가는 이동과 함께 이동할 수 있다.
본 발명의 목적은 상기 언급된 단점의 적어도 일부를 극복 또는 완화하는 것이다.
본 발명에 따르면, 고정부(fixed part) 및 이동부(movable part)를 포함하는 네스트가 구비되며, 고정부 및 이동부는 전자 부품의 적어도 일부를 수용할 수 있는 포켓(pocket)을 정의하기 위해 협력하도록 구성되고, 이동부는 제 1 위치 및 제 2 위치 사이로 이동할 수 있으며, 제 1 위치에서 포켓은 개방될 수 있어서 전자 부품의 적어도 일부는 포켓 안으로 이동될 수 있으며, 제 2 위치에서 포켓은 폐쇄될 수 있어서 포켓에 위치된 전자 부품의 적어도 일부는 포켓 내에 고정되며, 네스트는 제 2 위치 쪽으로 이동부를 편향하도록 배열된 편향 수단(biasing means)을 더 포함한다.
이동부가 제 1 위치로 이동될 때, 포켓의 치수는 증가하여, 부품은 포켓 안으로 쉽게 이동할 수 있다. 이동부가 제 2 위치로 이동될 때, 포켓의 치수는 감소하여, 부품은 포켓 내에 고정된다. 이동부가 제 2 위치로 이동될 때 포켓은 폐쇄되며; 포켓이 폐쇄될 때 부품은 고정된다. 부품은 고정될 수 있으며, 예컨대 부품은 이동부 및 고정부 사이에 결찰(clamp)될 수 있으며, 이동부가 제 2 위치에 있을 때 이동부는 부품의 일부를 덮거나 결합하는 확장(extension)을 포함할 수 있어서, 부품은 포켓에 유지되며, 이동부와 부품 및 고정부와 부품 사이에 마칠력이 부품을 포켓에 유지시킨다.
이동부가 제 2 위치에 있을 때, 전자 부품과 마찰 결합하기 위해, 이동부는 포켓에 위치된 전자 부품의 적어도 일부에 인접할 수 있게 구성되어, 이동부와 부품 사이에 마찰력이 포켓 내에 부품을 고정한다.
이동부가 제 2 위치에 있을 때, 이동부는 포켓에 위치된 부품에 인접할 수 있게 구성된 연장 부재(extending member)를 포함할 수 있어, 연장 부재 및 부품 사이의 마찰력이 포켓 내에 부품을 고정한다.
부품은 LED일 수 있다. 고정부 및 이동부는 적어도 LED의 일부를 수용하기에 적합한 포켓을 정의하기 위해 협력하도록 구성될 수 있다.
바람직하게는, 고정부 및 이동부는 테스트를 위해 노출된 LED의 다른 부분을 그대로 두면서 LED의 수용되는 부분에 적합한 포켓을 정의하기 위해 협력하도록 구성된다. 예컨대, 고정부 및 이동부는 테스트를 위해 노출된 포켓으로부터 돌출하는 LED의 렌즈부(lens portion)를 그대로 두면서 LED의 전기 접촉(electrical contacts)을 수용하기에 적합한 포켓을 정의하기 위해 협력하도록 구성될 수 있다.
고정부는 포켓의 하나 이상의 벽(wall)을 정의하는 하나 이상의 돌출부(projection)를 포함할 수 있다. 고정부는 포켓의 3 개의 벽을 정의하는 3 개의 돌출부를 포함할 수 있다.
이동부는 포켓의 하나 이상의 다른 벽을 정의하기 위해 구성될 수 있다. 이동부는 포켓의 네 번째 벽을 정의하도록 구성될 수 있다.
고정부는 고정부에 구비된 하나 이상의 돌출부를 수용할 수 있는 구멍(aperture)을 포함할 수 있다. 적어도 구멍의 길이 치수는 고정부의 하나 이상의 돌출부의 길이 치수보다 더 커서, 고정부 상에 하나 이상의 돌출부가 이동부의 구멍에 수용될 때 이동부는 고정부에 대하여 이동할 수 있다.
편향 수단은 적어도 하나의 플렉시블 블레이드(flexible blade)를 포함한다.
이동부는 플렉시블 블레이드와 협력하도록 배열되어 제 1 위치로의 이동부의 움직임은 적어도 하나의 플렉시블 블레이드를 굽혀지게 한다.
굽혀진 블레이드의 탄성력은 제 2 위치 쪽으로 이동부를 편향시킬 것이다.
이동부 및 적어도 하나의 플렉시블 블레이드는 이동부가 제 2 위치에 있을 때 플렉시블 블레이드는 굽혀지도록 배열되어, 제 2 위치에 있을 때 편향력이 이동부에 가해지며, 포켓 내에 위치된 부품은 포켓에 부품을 고정하기 위해서 이동부 및 고정부 사이에 결착된다.
이동부는 플렉시블 블레이드와 협력하도록 배열된 하나 이상의 돌출부를 포함해서, 이동부가 제 1 위치로 이동될 때 상기 돌출부는 블레이드를 굽히기 위해서 블레이드에 대항하여 누른다.
바람직하게는, 하나 이상의 돌출부들은 플렉시블 블레이드에 인접하게 배열된다.
네스트는 제 1 단부 및 제 2 단부를 포함하는 제 1 블레이드를 포함하고, 제 1 단부는 네스트의 고정부에 고정되고 제 2 단부는 자유단(free end)이어서 제 1 블레이드가 굽혀질 수 있으며, 상기 네스트는 제 1 단부 및 제 2 단부를 포함하는 제 2 블레이드를 포함하고, 제 1 단부는 네스트의 고정부에 고정되고 제 2 단부는 자유단이어서 제 2 블레이드가 굽혀질 수 있다.
이동부는 제 1 블레이드의 자유단에 가장 가까운 제 1 블레이드와 협력하는 제 1 돌출부, 및 제 2 블레이드의 자유단에 가장 가까운 제 2 블레이드와 협력하느 제 2 돌출부를 포함하여, 제 1 위치 쪽으로 이동부의 움직임이 제 1 및 제 2 블레이드의 굽힘을 일으킬 것이다.
자유롭게 굽혀지는 블레이드의 단부를 그대로 두고, 네스트는 블레이드의 길이를 따라 중심점에 고정부를 고정되기 위해 구성된 플렉시블 블레이드를 포함할 수 있다. 이동부에 하나 이상의 돌출부는 자유롭게 굽혀지는 블레이드의 단부들에 가장 가까운 위치에서 블레이드와 협력하기 위해 배열된다.
이동부가 제1 및 제 2 위치 사이로 이동할 때 네스트는 이동부의 움직임을 안내할 수 있는 안내 수단(guide means)을 더 포함한다. 바람직하게는, 안내 수단은 이동부 상에 하나 이상의 트랙(track)과 결합한 고정부에 하나 이상의 돌출 부재(projection member)를 포함한다. 대안적으로, 안내 수단은 고정부에 하나 이상의 트랙이 결합한 이동부 상에 하나 이상의 돌출 부재를 포함할 수 있다. 어떤 적합한 안내 수단이 사용될 수 있음이 이해되어야 한다.
네스트는 포켓과 열 교류(thermal communication)하도록 구성된 가열 수단(heating means)을 더 포함하여, 가열 수단이 포켓에 고정된 부품을 가열할 수 있다. 바람직하게는, 가열 수단은 네스트 내에 통합된 하나 이상의 가열 요소(heating element)를 포함한다.
이동부는 엑츄에이터(actuator)의 캠과 협력하도록 배열될 수 있는 표면(surface)을 더 포함하여서 캠의 움직임은 제 1 및 제 2 위치 사이의 이동부의 움직임에 영향을 줄 수 있다. 바람직하게는, 이동부는 고정부의 모서리를 넘어 연장하는 선반(ledge)을 포함하며, 상기 선반은 엑츄에이터의 캠과 협력하기에 적합한 표면을 포함하여서, 캠의 움직임은 제 1 위치 및 제 2 위치 사이의 이동부의 움직임에 영향을 줄 것이다. 바람직하게는, 엑츄에이터의 캠과 협력하기에 적합한 표면은 선반의 측면이다. 바람직하게는, 선반의 측면은 실질적으로 수평이다.
본 발명의 추가적인 양태에 따르면, 편향수단에 대항하여 제 1 위치로 이동부를 이동하는 단계, 포켓 내에 부품의 적어도 일부를 위치시키는 단계, 편향 수단을 사용하여 제 2 위치로 이동부를 이동하여 포켓에 위치한 부품의 적어도 일부가 포켓 내에 고정되는 단계를 포함하는 상기한 네스트 중 적어도 하나에 따르는 네스트에 부품을 고정하는 방법이 있다.
바람직하게는, 상기 방법은 편향수단을 사용하여 제 2 위치로 이동부를 이동하여 이동부의 연장 부재가 포켓 내에 위치한 부품과 인접하여서, 연장 부재 및 부품 사이의 마찰력이 포켓 내에 부품을 고정하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 이동부가 제 2 위치로 이동하여 연장 부재와 부품 및 고정부와 부품 사이의 마찰력이 포켓 내에 부품을 고정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 방법은 편향 수단을 사용하여 이동부에 편향력을 가하여 부품이 포켓 내에 부품을 고정하기 위해서 이동부 및 고정부 사이에 결착되는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 추가적인 양태에 따르면, 적어도 상기한 네스트 중 어떤 하나에 따른 네스트 및 적어도 하나의 엑츄에이터를 포함하는 네스트 어셈블리(nest assembly)가 구비되며, 상기 엑츄에이터는 네스트의 이동부의 표면과 협력하도록 배열된 편심 캠(eccentric cam)의 형태인 캠을 포함하여, 캠의 회전은 제 1 및 제 2 위치 사이의 이동부의 움직임에 영향을 줄 것이며 상기 엑츄에이터는 캠을 회전하게 하는 모터를 더 포함한다. 모터는 스텝모터(stepper motor)일 것이다.
복수의 네스트는 회전 가능한 테이블에 구비되며, 상기 테이블은 간헐적으로(intermittently) 회전하게 구성되고, 복수의 엑츄에이터 각각은 고정부에 배열되고 테이블의 주변부에 가장 가깝게 위치하여, 각 엑츄에이터의 캠은 상응하는 네스트의 이동부의 표면과 협력할 수 있어서 캠의 회전은 제 1 및 제 2 위치 사이로 상응하는 네스트의 이동부의 움직임에 영향을 줄 것이다.
테이블은 온열 테이블이며, 여기서 네스트에 고정된 부품이 가열된다. 바람직하게는, 부품은 테이블이 회전할 때 점차 가열되어서 부품들은 기정의된 위치에 도착하기 전에 기결정된 온도로 가열된다. 테이블은 가열 챔버(heating chamber)에 구비된다. 테이블은 테이블의 네스트에 고정된 부품을 가열하도록 구성된 통합 가열 수단을 포함할 수 있다.
본 발명의 추가적인 양태에 따르면, LED가 네스트의 포켓에 고정되는 동안 LED의 테스트를 허용하기 위해서, 상기 언급된 네스트 어셈블리 중 하나를 따르는 네스트 어셈블리 및 LED와 협력하여 작동하도록 구성된 LED 테스트 장치를 포함하는 부품 조작 어셈블리(component handling assembly)가 있다.
본 명세서에 포함되어 있음.
본 발명은 다음의 도면에 도시되고 오직 예에 의해서 제공되는 실시예의 설명의 도움으로 더 잘 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 네스트의 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 네스트의 추가적인 사시도이다.
도 3은 네스트에 고정된 부품과 도 1에 도시된 네스트의 사시도이다.
도 4는 네스트의 이동부를 움직이기 위해 도 1-3에 도시된 네스트와 협력할 수 있는 엑츄에이터(actuator)의 사시도이다.
도 5 및 도 6은 도 4에 도시된 엑츄에이터(50)의 작동 및 도 1-3에 도시된 네스트의 작동을 도시한다.
도 1-3을 참조하면, 본 발명의 하나의 실시예에 따른 네스트(nest)(1)의 사시도를 도시한다. 네스트(1)는 고정부(fixed part)(3) 및 이동부(movable part)(5)를 포함하며, 상기 고정부(3) 및 이동부(5)는 포켓(pocket)(7)을 정의하기 위해서 협력되도록 구성된다. 포켓(7)은 LED 또는 전자 부품의 적어도 일부 같은 전자 부품을 수용하기에 적합하다.
고정부(3)는 포켓(7)의 3개의 벽(wall)(35a, 35b, 35c)을 정의하는 3개의 부재(member)(33a, 33b, 33c)를 포함한다; 이동부(5)는 포켓(7)의 네 번째 벽(35d)을 정의한다. 3개의 부재(33a, 33b, 33c)는 이동부(5)에 구비된 리세스(recess)(39)를 통하여 돌출되게 배열된다; 리세스(39)는 이동부(5)가 고정부(3)에 대하여 움직이도록 하기 위해 3개의 벽(35a, 35b, 35c)보다 길게 연장하도록 치수화된다.
이동부(5)는 제 1 위치 및 제 2 위치 사이로 이동할 수 있다. 도 2는 제 1 위치에 이동부(5)를 도시한다; 이동부(5)가 제 1 위치에 있을 때 포켓(7)의 치수가 최대여서 전자부품은 포켓(7)으로 쉽게 이동할 수 있다. 이동부(5)가 제 1 위치에 있을 때 포켓(7)은 "개방"이다. 도 3은 에 2 위치에 이동부(5)를 도시한다; 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때 포켓(7)의 길이 치수가 적어도 포켓(7) 내에 위치된 전자 부품의 길이와 맞아 포켓(7)의 치수가 최소이므로, 포켓(7) 내에 위치된 전자 부품이 고정된다. 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때 포켓(7)은 "폐쇄"이다.
도 3은 포켓(7) 내에 고정된 LED(25)의 형태의 전자 부품을 도시한다. 테스트를 위해 드러나는 포켓(7)으로부터 돌출하는 LED(25)의 렌즈부(lens portion)(43)를 그대로 두면서, 포켓(7)은 LED(25)의 전기 접촉(electrical contacts)(41)을 수용하는데 적합할 수 있다.
이동부(5)가 제 2 위치에 있을때, 이동부(5)가 포켓(7)의 네 번째 벽(35d)를 정의하는 이동부(5)의 일부는 포켓(7)에 위치된 LED(25)에 인접할 수 있도록 구성된 연장 부재(extending member)(11)를 포함한다. 연장 부재(11)가 포켓(7)에 위치된 LED(25)에 인접할 때, 연장 부재(11)와 LED(25) 사이 및 LED와 3개의 부재(33a, 33b, 33c)사이의 마찰력이 포켓(7) 내에 LED(25)를 고정한다.
네스트(1)는 제 2 위치 쪽으로 이동부(5)를 편향(bias)하도록 배열된 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(flexible blade)(9a, 9b)의 형태인 편향 수단(biasing means)을 더 포함한다. 제 1 블레이드(9a)는 제 1 단부(15) 및 제 2 단부(17)를 포함한다; 제 1 단부(15)는 네스트(1)의 고정부(3)에 고정되고 제 2 단부(17)는 자유단이기에 제 1 블레이드는 굽혀질 수 있다. 제 2 블레이드(9b) 또한 제 1 단부(15) 및 제 2 단부(17)를 포함하며, 제 1 단부는 네스트(1)의 고정부(3)에 고정되고 제 2 단부(17)는 자유단이기에 제 2 블레이드는 굽혀질 수 있다.
이동부(5)는 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)와 협력하도록 배열되어 제 1 위치로의 이동부(5)의 이동은 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)를 굽혀지게 한다. 이동부(5)는 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드에 각각 인접하게 배열된 두 개의 돌출부(projection)(13a, 13b)를 포함한다. 제 1 돌출부(13a)는 제 1 블레이드(9a)의 자유단(17)에 가장 가까운 위치에서 제 1 블레이드(9a)에 인접하고 제 2 돌출부(13b)는 제 2 블레이드(9b)의 자유단(17)에 가장 가까운 위치에서 제 2 블레이드(9b)에 인접하여서, 제 1 위치로의 이동부(5)의 이동이 제 1 및 제 2 블레이드(19a, 19b)의 굽힘(flexion)을 일으킬 것이다. 굽혀진 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)의 탄성력이 제 2 위치 쪽으로 이동부(5)를 편향시킬 것이다.
또한, 선택적으로, 이동부(5), 및 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)는 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)가 굽혀지도록 배열되어서, 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때 편향력이 이동부(5)에 가해진다. 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때 이동부에 편향력을 가하는 것은 이동부(5) 및 고정부(3) 사이에 포켓(7) 내에 위치한 부품/LED(25)의 결착을 가능하게 할 것이다; 부품/LED(25)의 결착은 상기 부품이 포켓(7) 내에 좀 더 단단히 고정하는 것을 확실하게 할 것이다.
네스트(1)는 이동부(5)가 제 1 및 제 2 위치 사이로 이동할 때 이동부(5)의 움직임을 안내할 수 있는 안내 수단(19, 21)을 더 포함한다. 상기 특정 예에서, 안내 수단(19, 21)은 네스트(1)의 고정부(3)에 고정되는 두 개의 돌출 부재(projection member)(19) 및 이동부(5)에 구비된 두 개의 트랙(track)(21)을 포함한다. 상기 돌출 부재(19)는 트랙들과 결합하고, 이동부(5)가 제 1 및 제 2 위치 사이로 움직일 때 트랙(21)을 따라 이동한다. 어떤 수의 돌출 부재(19) 및 트랙(21)도 구비될 수 있음이 이해되어야 할 것이다. 어떤 적합한 안내 수단이 사용될 수 있음이 이해되어야 할 것이다; 예컨대, 대안적으로 안내 수단은 고정부(3)에 하나 이상의 트랙(21)과 결합한 이동부(5) 상의 하나 이상의 돌출 부재(19)를 포함할 수 있음이 이해되어야 할 것이다.
네스트(1)는 가열 수단(heating means)(미도시)을 더 포함하며, 상기 가열 수단은 포켓(7)과 열 교류(thermal communication)할 수 있도록 구성되어서 가열 수단은 포켓(7)에 위치한 LED(25)를 가열 할 수 있다. 바람직하게는, 가열 수단은 네스트(1) 내에 통합된 하나 이상의 가열 요소(미도시)를 포함한다.
이동부(3)는 고정부(3)의 단부(29)를 넘어 연장하는 선반(27)을 더 포함한다. 선반(27)은 엑츄에이터(actuator)(미도시)의 캠(cam)과 협력하기에 적합한 표면(23)을 포함하여서, 캠의 움직임은 제 1 및 제 2 위치 사이에 이동부(5)의 움직임에 영향을 줄 것이다. 도 2 및 도 3에 도시되었듯이, 엑츄에이터의 캠과 협력하기에 적합한 표면(23)은 선반(27)의 앞면(47)에 구비된다; 표면(23)은 실질적으로 수평하게 구성된다.
도 4는 제 1 위치 및 제 2 위치 사이로 이동부(5)를 이동시키기 위한 도 1-3에 도시된 네스트(1)와 협력하기에 적합한 엑츄에이터(actuator)(50)의 사시도이다. 엑츄에이터(50)은 편심판(eccentric disc)의 형태인 캠(51)을 포함하며, 상기 캠은 네스트(1)의 이동부(5)의 표면(23)에 인접하게 배열되어 캠(51)의 회전은 제 1 및 제 2 위치 사이의 이동부(5)의 움직임에 영향을 줄 것이다.
엑츄에이터(50)는 캠(51)을 회전 작동하게 하는 모터(53)를 더 포함한다. 바람직하게는 모터(53)는 스텝 모터(stepper motor)이다.
도 4에 도시된 엑츄에이터(50)은 네스트 어셈블리(nest assembly)를 형성하기 위해 도 1-3에 도시된 네스트(1)화 협력하도록 배열된다. 엑츄에이터(50)는 이러한 경우에 편심판(eccentric disc)(51)의 형태인 캠(51)이 이동부(5)의 선반(27)의 표면(23)에 인접하도록 배열되어야 한다. 편심판(51)이 회전하는 동안에 편심판은 제 1 위치 및 제 2 위치 사이의 이동부(5)의 움직임에 영향을 줄 것이다.
도 5 및 도 6은 도 1-3에 도시된 네스트 및 도 4에 도시된 엑츄에이터(50)의 작동을 도시한다.
사용하는 동안에, 엑츄에이터(50)의 모터(53)는 편심판(51)을 회전하도록 작동하여 편심판(51)은 이동부(5)의 선반(27)에 표면(23)에 인접한다. 회전하는 편심판(51)은 제 1 위치 쪽으로 네스트(1)의 이동부를 밀어서 포켓(7)을 연다. 이동부(5)가 제 1 위치로 이동될 때, 포켓(7)의 치수는 증가하여, LED(25)는 포켓(7) 안으로 쉽게 이동될 수 있다.
테스트를 위해 드러나는 포켓(7)으로부터 돌출하는 LED(25)의 렌즈부(lens portion)(43)를 그대로 두면서, LED(25)는 전기 접점(electrical contact)(41)이 포켓(7) 내에 위치되도록 배열된다.
네스트(1)의 이동부(5)가 제 1 위치 쪽으로 이동할 때 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)에 각각 인접한 두 개의 돌출부(13a, 13b)는 상기 블레이트(9a, 9b)의 굽힘(flexion)을 일으키기 위해 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)의 자유단(17)을 누른다(push on). 굽혀진 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)의 탄성력은 제 2 위치 쪽으로 이동부(5)를 편향시킬 것이다.
일단 LED(25)가 포켓(7) 내에 위치되면, 엑츄에이터(50)의 모터(53)는 편심판(51)을 회전하도록 작동하여서 편심판(51)은 이동부(5)의 선반(27) 상의 표면(23)에 더 이상 인접하지 않는다. 동시에, 굽혀진 제 1 및 제2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)의 편향력은 제 2 위치로 이동부(5)를 이동시킨다.
이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때, 포켓(7)의 네 번째 벽(35d)을 정의하는 이동부(5)의 일부에 위치한 연장 부재(extending member)(11)(도 5에 도시되며 도 6에는 도시되지 않음)는 포켓(7)에 위치한 LED(25)에 인접한다. 또한 LED(25)는 고정부(3)에 구비된 3개의 부재(33a, 33b, 33c)에 의해 정의된 3개의 벽(35a, 35b, 35c)에 인접할 것이다. 연장 부재(11)와 LED(25) 사이 및 LED(25)와 3 개의 부재(33a, 33b, 33c) 사이에 존재하는 마찰력이 포켓(7) 내에 LED(25)를 고정한다. 그리하여, 이동부(5)가 제 2 위치로 이동할 때, 포켓(7)의 치수는 감소하여, LED(25)는 포켓(7) 내에 마찰력에 의해서 고정된다.
선택적으로, 만약 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)가 굽혀지도록 이동부(5a) 및 제 1 및 제 2 플렉시블 블레이드(9a, 9b)가 배열된다며, 부품/LED(25)은 이동부(5) 및 고정부(3) 사이에 결착될 것이다; 부품/LED(25)의 결착은 부품/LED(25)이 포켓(7) 내에 좀더 단단히 고정되는 것을 확실하게 할 것이다.
이동부(5)가 제 1 및 제 2 위치 사이로 이동할 때, 고정부(3)에 고정된 두 개의 돌출 부재(19)는 이동부(5)에 구비된 트랙(21)을 따라 이동한다. 그리하여, 돌출 부재(19) 및 트랙(21)의 협력이 이동부의 움직임을 안내한다; 예컨대 상기 협력이 고정부(3)에 대하여 이동부(5)의 회전을 막는다.
일단 LED(25)가 포켓(7) 내에 배열되면, 포켓(7)과 열 교류하도록 구성된 가열 수단은 테스트에 요구되는 적합한 온도로 LED(25)를 가열하도록 작동할 수 있다.
또한 상기 언급되며 도 1-3에 도시된 네스트(1)는 네스트(1)에 부품들(35)을 고정하기 위한 새로운 방법을 실행하는 것을 용이하게 하며, 상기 방법은: 포켓을 열기 위해 편향 수단(biasing means)(9a, 9b)에 의해 제공되는 편향력에 대항하여 제 1 위치로 이동부를 이동시키는 단계; 포켓(7) 내에 부품(35)의 적어도 일부를 위치시키는 단계; 및 포켓(7)에 위치된 부품(25)을 포켓(7) 내에 고정되도록 편향 수단(9a, 9b)를 사용하여 제 2 위치로 이동부(5)를 이동시키는 단계;를 포함한다.
본 발명의 바람직한 실시예의 다양한 변형 및 변경은 첨부된 청구항들에 정의된 발명의 범위를 떠나지 않고 통상의 기술자에게 명백해질 것이다. 비록 본 발명은 특정한 선호되는 실시예와 연관하여 설명되었지만, 본 발명은 이러한 특정한 실시예에 지나치게 제한되지 않아야 한다.
예컨대, 대안적으로, 또는 추가적으로, 자유롭게 굽혀질 수 있는 블레이드의 단부를 그대로 두면서, 네스트(1)는 블레이드의 길이를 따라 중심점에 고정부(3)에 고정되도록 구성될 수 있는 플렉시블 블레이드를 포함할 수 있다. 이동부에 두 개의 돌출부(13a, 13b)는 자유롭게 굽혀질 수 있는 블레이드의 단부에 가장 가까운 위치에 블레이드와 협력하도록 배열될 수 있다.
도 1-3에 도시된 복수의 네스트(1)는 테이블, 예컨대 온열 테이블(hot table) 상에 구비될 수 있다. 테이블은 간헐적으로(intermittently) 회전하도록 구성될 수 있다. 도 4에 도시된 복수의 엑츄에이터(50)는 테이블의 주변부에 가장 가까운 위치에 고정되도록 배열되어, 각 엑츄에이터(50)의 캠들(51)은 상응하는 네스트(1)의 표면(23)과 협력할 수 있다.
도 1-3에 도시된 하나 이상의 네스트(1) 및 도 4에 도시된 하나 이상의 엑츄에이터(50)는 네스트 어셈블리를 형성하기 위해 협력하도록 배열될 수 있다. 부품 취급 어셈블리 또한 구비될 수 있으며, 상기 부품 취급 어셈블리는 상기한 네스트 어셈블리, 및 LED가 네스트(1)의 포켓(7) 내에 고정되는 동안에 LED의 테스트하기 위해 LED와 협력하여 작동할 수 있게 구성된 LED 테스트 장치를 포함한다. LED 테스트 장치는 LED가 포켓(7) 내에 고정될 때 포켓(7)의 외부에 남아있는 LED의 렌즈(lens)와 협력하여 작동하도록 구성될 수 있다.

Claims (16)

  1. 고정부(3) 및 이동부(5)를 포함하는 네스트(1)로서,
    상기 고정부(3) 및 이동부(5)는 전자부품(25)의 적어도 일부를 수용할 수 있는 포켓(7)을 정의하기 위해서 협력하도록 구성되며,
    이동부(5)는 제 1 및 제 2 위치 사이를 이동할 수 있으며,
    제 1 위치에서 포켓(7)은 개방될 수 있어서 전자부품의 적어도 일부는 포켓(7)으로 이동할 수 있고,
    제 2 위치에서 포켓(7)은 폐쇄될 수 있어서 포켓 내에 위치된 전자부품(25)의 적어도 일부는 포켓 내에 고정되고,
    상기 네스트(1)는 제 2 위치 쪽으로 이동부(5)를 편향시킬 수 있도록 배열된 편향 수단(9)을 더 포함하며,
    편향 수단(9)은 하나 이상의 플렉시블 블레이드(9a 및 9b)를 포함하며,
    전자부품의 적어도 일부가 포켓으로 이동될 수 있도록 제1 위치 쪽으로 이동부(5)를 이동하는 것은 하나 이상의 플렉시블 블레이드의 굽힘을 일으키며, 이동부(5)는 굽혀진 하나 이상의 플렉시블 블레이드의 탄성 복원에 의해서 제2 위치 쪽으로 자동적으로 이동될 수 있는 네스트.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때, 전자 부품(25)과 마찰 결합하기 위해, 이동부(5)는 포켓(7) 내에 위치된 전자 부품(25)의 적어도 일부에 인접할 수 있도록 구성되어서, 이동부(5) 및 부품 사이의 마찰력이 포켓(7) 내에 부품을 고정시키는 네스트.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 이동부(5)가 제 2 위치에 있을 때, 이동부(5)는 포켓(7)에 위치된 전자 부품(25)의 적어도 일부에 인접할 수 있도록 구성된 연장 부재(11)를 포함하여, 연장 부재(11) 및 부품 사이의 마찰력이 포켓(7) 내에 부품을 고정시키는 네스트.
  4. 제 1 항에 있어서,
    고정부(3) 및 이동부(5)는 LED의 적어도 일부를 수용하는 포켓(7)을 정의하기 위해 협력하도록 구성된 네스트.
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서,
    이동부(5)는 하나 이상의 플렉시블 블레이드(9a, 9b)와 협력하도록 배열된 하나 이상의 돌출부(13a, 13b)를 포함하여, 이동부(5)가 제 1 위치로 이동할 때 상기 돌출부(13a, 13b)가 하나 이상의 블레이드(9a, 9b)를 굽히도록 하나 이상의 블레이드(9a, 9b)를 누르는 네스트.
  7. 제 1 항에 있어서,
    제 1 단부(15) 및 제 2 단부(17)를 포함하는 제 1 블레이드(9a)를 포함하며,
    제 1 단부(15)는 네스트(1)의 고정부(3)에 고정되고 제 2 단부(17)는 자유단이여서 제 1 블레이드는 구부러질 수 있으며,
    제 1 단부(15) 및 제 2 단부(17)를 포함하는 제 2 블레이드(9b)를 포함하며,
    제 1 단부(15)는 네스트(1)의 고정부(3)에 고정되고 제 2 단부(17)는 자유단이여서 제 2 블레이드는 구부러질 수 있는 네스트.
  8. 제 7 항에 있어서,
    이동부(5)는 제 1 블레이드(9a)의 자유단(17)에 가장 가까운 위치에서 제 1 블레이드(9a)와 협력하는 제 1 돌출부(13a) 및 제 2 블레이드(9b)의 자유단(17)에 가장 가까운 위치에서 제 2 블레이드(9b)와 협력하는 제 2 돌출부(13b)를 포함하여, 제 1 위치로의 이동부(5)의 움직임은 제 1 및 제 2 블레이드(9a, 9b)의 굽힘을 일으키는 네스트.
  9. 제 1 항에 있어서,
    이동부(5)가 제 1 및 제 2 위치 사이로 움직일 때 이동부(5)의 움직임을 안내할 수 있는 안내 수단(19, 21)을 더 포함하는 네스트.
  10. 제 1 항에 있어서,
    가열 수단을 더 포함하는 네스트로서,
    상기 가열 수단은 포켓(7)과 열 교류하게 구성되어 가열 수단이 포켓에 고정된 전자 부품(25)을 가열할 수 있는 네스트.
  11. 제 1 항에 있어서,
    이동부는 엑츄에이터의 캠과 협력하도록 배열된 표면(23)을 더 포함하여, 캠의 움직임은 제 1 및 제 2 위치 사이로 이동부의 움직임에 영향을 주는 네스트.
  12. 편향 수단의 힘에 대항하여 제 1 위치로 이동부를 이동하는 단계;
    포켓에 부품의 적어도 일부를 위치하는 단계; 및
    이동부를 편향 수단의 편향력을 사용해서 제 2 위치로 이동시키며 이동부가 포켓 내에 부품을 고정하기 위해서 부품과 마찰 결합하여 부품에 인접하는 단계; 를 포함하는 제 1 항에 따른 네스트에 부품을 고정하는 방법.
  13. 제 1 항에 따른 적어도 하나의 네스트 및 적어도 하나의 엑츄에이터(50)를 포함하는 네스트 어셈블리로서,
    상기 엑츄에이터(50)는 네스트(1)의 이동부(5)의 표면(23)과 협력하도록 배열된 편심판(51)의 형태인 캠(51)을 포함하여서, 캠(51)의 회전은 제 1 및 제 2 위치 사이의 이동부(5)의 움직임에 영향을 주며,
    상기 엑츄에이터(50)는 캠을 회전하게 작동할 수 있는 모터(53)를 더 포함하는 네스트 어셈블리.
  14. 제 1 항에 따른 네스트(1)를 포함하는 테이블.
  15. 제 13 항에 따른 네스트 어셈블리를 포함하는 부품 취급 어셈블리로서,
    LED 테스트 장치는 LED를 테스트하기 위해서 네스트의 포켓에 고정된 LED와 협력하여 작동하도록 구성된 부품 취급 어셈블리.
  16. 삭제
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013117265A1 (en) 2012-02-10 2013-08-15 Ismeca Semiconductor Holding Sa Nest for testing electrical components
CN107535088B (zh) * 2015-07-31 2021-02-02 伊斯梅卡半导体控股公司 用于操纵构件的组件及方法
KR102654553B1 (ko) * 2023-12-13 2024-04-04 주식회사 프로이천 네스트플레이트

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2976075B2 (ja) * 1990-05-14 1999-11-10 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 ソケット
US20030132770A1 (en) * 2002-01-14 2003-07-17 Conroy Chad M. Hinged heat sink burn-in socket

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5482471A (en) * 1993-02-24 1996-01-09 Texas Instruments Incorporated Socket apparatus for IC package testing
US5469074A (en) * 1994-02-08 1995-11-21 The Whitaker Corporation Chip socket testing apparatus with adjustable contact force
US5578870A (en) * 1995-08-03 1996-11-26 Precision Connector Designs, Inc. Top loading test socket for ball grid arrays
JP2001212246A (ja) 2000-02-07 2001-08-07 Shimadzu Corp 生体内分解性ステント
US6797936B1 (en) 2002-01-03 2004-09-28 Opto Electronic Systems, Inc. Automated laser diode testing
CH695871A5 (fr) * 2002-11-07 2006-09-29 Ismeca Semiconductor Holding Dispositif et procédé pour le test de composants électroniques.
US6881088B2 (en) * 2003-07-29 2005-04-19 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Connector assembly with actuation system
CN201107385Y (zh) * 2007-11-07 2008-08-27 深圳市同洲电子股份有限公司 半导体高低温实验仪
US8305104B2 (en) * 2009-03-26 2012-11-06 Electro Scientific Industries, Inc. Testing and sorting system having a linear track and method of using the same
CN201976264U (zh) * 2010-12-23 2011-09-14 大连艾科科技开发有限公司 适用于dil外壳及蝶形外壳内部件焊接装配的加热台
WO2013117265A1 (en) 2012-02-10 2013-08-15 Ismeca Semiconductor Holding Sa Nest for testing electrical components
CN103424186A (zh) * 2012-05-18 2013-12-04 全亿大科技(佛山)有限公司 发光二极管检测量具

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2976075B2 (ja) * 1990-05-14 1999-11-10 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 ソケット
US20030132770A1 (en) * 2002-01-14 2003-07-17 Conroy Chad M. Hinged heat sink burn-in socket

Also Published As

Publication number Publication date
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