KR101882576B1 - Light sintering device having protecting damage to substrate - Google Patents
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- 238000005245 sintering Methods 0.000 title claims abstract description 118
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 89
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 71
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 47
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 36
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 17
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 12
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 abstract description 9
- 239000002356 single layer Substances 0.000 abstract description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 14
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 10
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 6
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 5
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 5
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000002082 metal nanoparticle Substances 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- JQMFQLVAJGZSQS-UHFFFAOYSA-N 2-[4-[2-(2,3-dihydro-1H-inden-2-ylamino)pyrimidin-5-yl]piperazin-1-yl]-N-(2-oxo-3H-1,3-benzoxazol-6-yl)acetamide Chemical compound C1C(CC2=CC=CC=C12)NC1=NC=C(C=N1)N1CCN(CC1)CC(=O)NC1=CC2=C(NC(O2)=O)C=C1 JQMFQLVAJGZSQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CONKBQPVFMXDOV-QHCPKHFHSA-N 6-[(5S)-5-[[4-[2-(2,3-dihydro-1H-inden-2-ylamino)pyrimidin-5-yl]piperazin-1-yl]methyl]-2-oxo-1,3-oxazolidin-3-yl]-3H-1,3-benzoxazol-2-one Chemical compound C1C(CC2=CC=CC=C12)NC1=NC=C(C=N1)N1CCN(CC1)C[C@H]1CN(C(O1)=O)C1=CC2=C(NC(O2)=O)C=C1 CONKBQPVFMXDOV-QHCPKHFHSA-N 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- OAYXUHPQHDHDDZ-UHFFFAOYSA-N 2-(2-butoxyethoxy)ethanol Chemical compound CCCCOCCOCCO OAYXUHPQHDHDDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 2
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000009770 conventional sintering Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000007647 flexography Methods 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 238000007646 gravure printing Methods 0.000 description 1
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 238000000813 microcontact printing Methods 0.000 description 1
- 238000009768 microwave sintering Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 1
- 229920001230 polyarylate Polymers 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 description 1
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 description 1
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000011877 solvent mixture Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- KKEYFWRCBNTPAC-UHFFFAOYSA-L terephthalate(2-) Chemical compound [O-]C(=O)C1=CC=C(C([O-])=O)C=C1 KKEYFWRCBNTPAC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- B22F3/00—Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
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- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41M—PRINTING, DUPLICATING, MARKING, OR COPYING PROCESSES; COLOUR PRINTING
- B41M7/00—After-treatment of prints, e.g. heating, irradiating, setting of the ink, protection of the printed stock
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Abstract
기판 손상 방지 장치를 구비하는 광 소결 장치를 제공한다. 본 발명의 광 소결 장치는, 진공을 가하여 인쇄회로 기판을 고정시키는 진공 홀 및 인쇄회로 기판을 가열 또는 냉각시키는 열 플레이트를 포함하는 진공-가열 플레이트, 진공-가열 플레이트의 상부에 위치하고 광을 조사하여 인쇄회로 기판을 광 소결시키는 광 출력부 및 진공-가열 플레이트의 일 측에 위치하고, 인쇄회로 기판을 일 방향으로 이송시키는 기판 이송부를 포함할 수 있다. 본 발명에 따른 광 소결 장치는 인쇄 회로 기판에 연속적인 광 소결을 수행할 시 유발되는 기판의 우그러짐 및 이에 따른 소결의 불균일성을 줄일 수 있다. 이에 따라 높은 전기전도도를 가지면서도 기판의 휨 현상이 없는 단층 또는 다층의 인쇄회로기판을 제작할 수 있다. A light sintering apparatus having a substrate damage preventing device is provided. The photo-sintering apparatus of the present invention is a vacuum-heating plate including a vacuum hole for applying a vacuum to fix a printed circuit board and a heat plate for heating or cooling the printed circuit board, a vacuum- A light output section for photo-sintering the printed circuit board, and a substrate transfer section positioned on one side of the vacuum-heating plate and for transferring the printed circuit board in one direction. The light sintering apparatus according to the present invention can reduce the wastage of the substrate caused by continuous light sintering on the printed circuit board and thus the non-uniformity of sintering. Accordingly, a single-layer or multi-layer printed circuit board having high electrical conductivity and free from warping of the substrate can be manufactured.
Description
본 발명은 광 소결 장치에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 백색광 광소결 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a light sintering apparatus, and more particularly, to a white light sintering apparatus.
최근 전자 소자 또는 장치 제조에 있어서 인쇄 기반의 인쇄전자 기술이 주목 받고 있다. 인쇄전자 기술이란 인쇄, 소결, 검사라는 간단한 공정만으로 전극 형성이 가능하기 때문에 적은 공정으로 인하여 낮은 설비 투자비용, 친환경성, 대면적 대량생산 등의 이점을 가지고 있다. 이러한 이점들 때문에 플렉서블 디스플레이(Flexible display), 태양전지(Solar cell), RFID(Radio Frequency Identification Device), 웨어러블 전자제품(Wearable electronics), OLED(Organic light emitting device), Sensor 등 다양한 분야에 적용이 가능하여 널리 쓰일 것으로 예측된다. BACKGROUND ART [0002] In recent years, print-based printing electronic technology has attracted attention in the manufacture of electronic devices or devices. Printed electronic technology has advantages such as low facility investment cost, eco-friendliness and large-scale mass production because it can form electrodes by simple processes such as printing, sintering and inspection. These advantages can be applied to various fields such as flexible display, solar cell, RFID (Radio Frequency Identification Device), wearable electronics (OLED), organic light emitting device And is expected to be widely used.
인쇄전자 기술의 요소 중 소결 기술은 전극의 품질을 직접적으로 결정짓는 요소이기 때문에 중요한 부분이라 할 수 있다. 기존의 소결 방법으로 열 소결법, 레이저 소결법, 플라즈마 소결법, 마이크로웨이브 소결법 등이 개발되었으나 각각이 가지고 있는 한계점으로 인해 상용화에 어려움이 있는 실정이다. 따라서, 상기 문제점들을 극복하고자 발명자에 의해 백색광 극단파 광소결 방법이 개발되었다.Among the elements of printed electronic technology, sintering technology is an important part because it directly determines the quality of electrodes. Thermal sintering method, laser sintering method, plasma sintering method, microwave sintering method and the like have been developed as conventional sintering methods, but they are difficult to commercialize due to limitations of each method. Accordingly, a white light extreme ultraviolet light sintering method has been developed by the inventor to overcome the above problems.
상기 제안된 소결 방법을 이용하여 소결 된 전극의 품질을 향상시키기 위해 현재 전도성 잉크 또는 페이스트의 관점에서 많은 개발이 이루어지고 있다. 하지만, 기존에 구비되어있는 광조사 장비 및 컨베이어 벨트를 이용한 연속 광소결 프로세스 수행 시 기판의 우그러짐 발생 및 기판의 우그러짐으로 인하여 결국 광의 불균일 조사로 이어지게 되어 소결의 불균일성 문제까지 발생하고 있다. 하지만, 산업현장에서의 실제적인 적용을 위해서는 소결 후 높은 전기전도도 뿐만 아니라 소결의 균일성 및 기판에 손상이 없어야 한다. 따라서, 상기 문제점들을 해결하기 위해서는 설비적인 관점에서의 해결책이 필요한 실정이다.In order to improve the quality of the sintered electrode using the above-described sintering method, many developments are currently being made in view of the conductive ink or paste. However, when the continuous light sintering process using the conventional light irradiation equipment and the conveyor belt is performed, wrinkles of the substrate and wobbling of the substrate may lead to irregularity of light, resulting in non-uniformity of sintering. However, for practical application in the industrial field, it is necessary to have high electrical conductivity after sintering, uniformity of sintering, and no damage to the substrate. Therefore, in order to solve the above problems, a solution from the standpoint of equipment is needed.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 인쇄회로 기판에 연속적인 광 소결을 수행할 시 유발되는 기판의 우그러짐 및 이에 따른 소결의 불균일성을 줄일 수 있는 광 소결 장치를 제공함에 있다. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a photo-sintering apparatus capable of reducing wrinkling of a substrate caused by continuous photo-sintering on a printed circuit board, and thus non-uniformity of sintering.
상기 과제를 이루기 위하여 본 발명의 일 측면은 광 소결 장치를 제공한다. 상기 광 소결 장치는, 진공을 가하여 인쇄회로 기판을 고정시키는 진공 홀; 및 상기 인쇄회로 기판을 가열 또는 냉각시키는 열 플레이트를 포함하는 진공-가열 플레이트, 상기 진공-가열 플레이트의 상부에 위치하고 광을 조사하여 상기 인쇄회로 기판을 광 소결시키는 광 출력부 및 상기 진공-가열 플레이트의 일 측에 위치하고, 상기 인쇄회로 기판을 일 방향으로 이송시키는 기판 이송부를 포함할 수 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided a light sintering apparatus. The light sintering apparatus includes: a vacuum hole for applying a vacuum to fix the printed circuit board; A vacuum-heating plate including a heating plate for heating or cooling the printed circuit board; a light output unit positioned above the vacuum-heating plate and optically sintering the printed circuit board by irradiating light; And a substrate transferring unit which is disposed on one side of the substrate transferring unit and transfers the printed circuit board in one direction.
상기 광 출력부는 상기 인쇄회로 기판의 상부에서 상하 운동이 가능하도록 하는 수직 이동부와 연결되어 있으며, 상기 광 출력부는 광 소결 시, 상기 인쇄회로 기판 방향으로 하방 이동하는 것일 수 있다. The optical output unit may be connected to a vertical moving unit that can move up and down on the printed circuit board, and the optical output unit may be moved downward toward the printed circuit board when photo-sintering.
상기 광 출력부는 서로 마주보는 측면에 설치된 상부 가이드 레일을 포함하고, 상기 진공-가열 플레이트는 서로 마주보는 측면에 설치된 하부 가이드 레일을 포함하고, 상기 가이드 레일들은 상기 광 출력부가 하방 이동할 때 상기 인쇄회로 기판을 사이에 두고 서로 마주보도록 배열되는 것일 수 있다.Wherein the light output portion includes upper guide rails disposed on opposite sides of the light output portion, wherein the vacuum-heating plate includes a lower guide rail disposed on a side opposite to the light output portion, And may be arranged to face each other with the substrate interposed therebetween.
상기 광 출력부는 서로 마주보는 두 쌍의 측면에 설치된 상부 가이드 레일을 포함하고, 상기 진공-가열 플레이트는 서로 마주보는 두 쌍의 측면에 설치된 하부 가이드 레일을 포함하고, 상기 가이드 레일들은 상기 광 출력부가 하방 이동할 때 상기 인쇄회로 기판을 사이에 두고 서로 마주보도록 배열되는 것일 수 있다. Wherein the light output portion includes upper guide rails provided on two pairs of side faces facing each other, wherein the vacuum-heating plate includes lower guide rails provided on two pairs of side faces facing each other, And may be arranged to face each other with the printed circuit board interposed therebetween when moving downward.
상기 가이드 레일들은 회전이 가능하되, 상기 광 출력부가 하방 이동할 때 상기 상부 가이드 레일 및 하부 가이드 레일은 각각 상기 진공-가열 플레이트의 중심부에서 외부 방향으로 회전함으로써, 상기 인쇄회로 기판이 펼쳐지도록 할 수 있다. The guide rails are rotatable, and when the light output portion moves downward, the upper guide rail and the lower guide rail turn outward from the central portion of the vacuum-heating plate, respectively, so that the printed circuit board can be unfolded .
상기 광 출력부는 극단파 백색광 출력부, 상기 극단파 백색광 출력부의 일 측에 위치하는 원자외선 출력부를 포함하고, 상기 극단파 백색광 및 상기 원자외선을 동시 또는 순차 조사하는 것일 수 있다. The optical output unit may include an extreme ultraviolet-white light output unit and a far ultraviolet ray output unit located at one side of the extreme ultraviolet-white light output unit. The extreme ultraviolet-white light and the far ultraviolet light may be simultaneously or sequentially irradiated.
상기 극단파 백색광 출력부는, 적어도 하나의 극단파 백색광 램프, 상기 램프의 상부에 배치되어 광을 반사시키는 반사경, 상기 램프의 하부에 배치되어 광 경로를 조정하는 빔 가이드 및 상기 빔 가이드 내부에 배치되어, 빛의 파장대역을 조절하는 광 파장 필터를 포함할 수 있다. The extreme ultraviolet light output unit includes at least one extreme ultraviolet white light lamp, a reflector disposed above the lamp and reflecting the light, a beam guide disposed under the lamp to adjust the light path, , And an optical wavelength filter for adjusting the wavelength band of light.
상기 광 파장 필터는 광의 파장을 300nm 내지 700nm로 조절하되, 상기 광 파장 필터와 상기 원자외선 출력부를 동시에 적용하여 광 소결을 수행하는 것일 수 있다. The optical wavelength filter may adjust the wavelength of the light to 300 to 700 nm, and perform the light sintering by simultaneously applying the optical wavelength filter and the far ultraviolet ray output unit.
상기 극단파 백색광 램프는, 본 조사 램프 및 예비 광조사 램프를 구비하고, Wherein the extreme ultraviolet-white light lamp comprises a main illumination lamp and a preliminary light illumination lamp,
상기 예비 광조사 램프는 상기 본 조사 램프보다 광이 먼저 조사되고, 상기 본 조사 램프에서 조사되는 광보다 낮은 세기의 광을 조사하는 것일 수 있다. The preliminary light irradiation lamp may be one that irradiates light earlier than the main illumination lamp and emits light of lower intensity than that of the main illumination lamp.
상기 진공 홀은 상기 진공-가열 플레이트의 내부에 복수개가 서로 이격 배치되고, 상기 인쇄회로 기판의 하부에 진공을 가하고, 상기 홀의 직경은 100μm 내지 1mm이며, 상기 홀의 간격은 1cm 내지 5cm일 수 있다. The plurality of vacuum holes are spaced apart from each other in the vacuum-heating plate and a vacuum is applied to a lower portion of the printed circuit board. The holes may have a diameter of 100 μm to 1 mm and an interval of 1 cm to 5 cm.
상기 진공의 세기는 0.1MPa 내지 0.6MPa일 수 있다. The intensity of the vacuum may be 0.1 MPa to 0.6 MPa.
상기 진공-가열 플레이트에 의하여 상기 인쇄회로 기판의 온도는 -50℃ 내지 300℃로 조절되는 것일 수 있다. The temperature of the printed circuit board may be controlled by the vacuum-heating plate to a range of -50 ° C to 300 ° C.
상기 진공-가열 플레이트의 가열판에 의하여 기판의 온도는 100℃ 내지 300℃로 조절되는 것일 수 있다. The temperature of the substrate may be adjusted to 100 ° C to 300 ° C by the heating plate of the vacuum-heating plate.
상기 기판 이송부는 상기 진공-가열 플레이트의 양측에 위치하여 상기 인쇄회로 기판을 일 방향으로 이동시키는 롤 형태이거나, 상기 인쇄회로 기판의 하부에 위치하고 자체 회전하는 컨베이어 벨트 형태일 수 있다. The substrate transfer part may be in the form of a roll located on both sides of the vacuum-heating plate to move the printed circuit board in one direction or may be in the form of a conveyor belt that is positioned at the lower part of the printed circuit board and rotates itself.
상기 인쇄회로 기판은 전도성 금속 잉크 또는 전도성 금속 페이스트 패턴을 구비하는 것일 수 있다. The printed circuit board may comprise a conductive metal ink or a conductive metal paste pattern.
상기 인쇄회로 기판은 다층의 회로 패턴과 비아-홀을 포함하는 것일 수 있다. The printed circuit board may include a multilayer circuit pattern and a via-hole.
상기 다층의 회로 패턴과 비아-홀을 포함하는 상기 인쇄회로 기판의 광 소결을 수행할 시에는, 상기 회로 패턴보다 상기 비아-홀에 광을 먼저 통과시키는 마스킹 장치를 더 포함하는 것일 수 있다. The method may further include a masking device for passing light through the via hole before the circuit pattern in performing the photo-sintering of the printed circuit board including the multilayer circuit pattern and the via-hole.
본 발명에 따른 광 소결 장치는 인쇄 회로 기판에 연속적인 광 소결을 수행할 시 유발되는 기판의 우그러짐 및 이에 따른 소결의 불균일성을 줄일 수 있다. 이에 따라 높은 전기 전도도를 가지면서도 기판의 손상이 없는 단층 또는 다층의 인쇄회로기판을 제작할 수 있다. The light sintering apparatus according to the present invention can reduce the wastage of the substrate caused by continuous light sintering on the printed circuit board and thus the non-uniformity of sintering. As a result, a single-layer or multi-layer printed circuit board having high electrical conductivity and no damage to the substrate can be manufactured.
본 발명의 기술적 효과들은 이상에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical effects of the present invention are not limited to those mentioned above, and other technical effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
도 1a 및 도 1b는 각각 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예에 따른 광 소결 장치의 구조를 나타낸 분해사시도이다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 일 실시예에 따른 광 소결 장치의 공정 과정을 순서대로 나타낸 모식도들이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광 소결된 인쇄회로 기판의 표면을 관찰한 전자주사현미경의 이미지이다.
도 4는 본 발명의 실험예 1에 따른 소결 결과를 나타낸 그래프이다.
도 5는 본 발명의 실험예 2에 따른 기판의 휨 정도를 비교한 이미지들이다.
도 6은 본 발명의 실험예 3에 따른 기판의 휨 정도를 비교한 이미지들이다.
도 7a 및 도 7b는 각각 비교예 1 및 실시예 1에 따른 인쇄회로 기판의 패턴을 나타낸 사진이다. FIGS. 1A and 1B are exploded perspective views showing the structure of the light sintering apparatus according to the first embodiment and the second embodiment of the present invention, respectively.
FIGS. 2A to 2D are schematic views illustrating a process sequence of a light sintering apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is an image of a scanning electron microscope observing the surface of a photo-sintered printed circuit board according to an embodiment of the present invention.
4 is a graph showing the result of sintering according to Experimental Example 1 of the present invention.
FIG. 5 is a graph comparing the degree of warping of the substrate according to Experimental Example 2 of the present invention.
FIG. 6 is an image comparing the degree of bending of the substrate according to Experimental Example 3 of the present invention.
7A and 7B are photographs showing patterns of the printed circuit board according to Comparative Example 1 and Example 1, respectively.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 의한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명이 여러 가지 수정 및 변형을 허용하면서도, 그 특정 실시예들이 도면들로 예시되어 나타내어지며, 이하에서 상세히 설명될 것이다. 그러나 본 발명을 개시된 특별한 형태로 한정하려는 의도는 아니며, 오히려 본 발명은 청구항들에 의해 정의된 본 발명의 사상과 합치되는 모든 수정, 균등 및 대용을 포함한다. While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, specific embodiments thereof are shown by way of example in the drawings and will herein be described in detail. Rather, the intention is not to limit the invention to the particular forms disclosed, but rather, the invention includes all modifications, equivalents and substitutions that are consistent with the spirit of the invention as defined by the claims.
층, 영역 또는 기판과 같은 요소가 다른 구성요소 "상(on)"에 존재하는 것으로 언급될 때, 이것은 직접적으로 다른 요소 상에 존재하거나 또는 그 사이에 중간 요소가 존재할 수도 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. It will be appreciated that when an element such as a layer, region or substrate is referred to as being present on another element "on," it may be directly on the other element or there may be an intermediate element in between .
도 1a 및 도 1b는 각각 본 발명의 제1 실시예 및 제2 실시예에 따른 광 소결 장치의 구조를 나타낸 분해사시도이다.FIGS. 1A and 1B are exploded perspective views showing the structure of the light sintering apparatus according to the first embodiment and the second embodiment of the present invention, respectively.
도 1a를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 광 소결 장치는, 인쇄회로 기판(100)을 지지하는 진공-가열 플레이트(200), 광 출력부(300) 및 상기 인쇄회로 기판(100)을 이동시키는 기판 이송부(210, 211)를 포함할 수 있다. 1A, a light sintering apparatus according to a first embodiment of the present invention includes a vacuum-
상기 인쇄회로 기판(100)은 단층 또는 다층의 기판일 수 있으며, 각 층의 일면 또는 양면이 인쇄된 것일 수 있다. 예를 들어, 상기 단층의 인쇄회로 기판(100)은 전도성 금속 잉크 또는 전도성 금속 페이스트 등으로 형성되는 회로 패턴(101)을 구비하는 것일 수 있다. 상기 인쇄회로 기판(100)은 다층의 회로 패턴(101)과 이들 사이에 형성된 비아-홀 구조를 포함하는 것일 수 있다.The printed
상기 기판은 폴리머 또는 종이 등과 같은 연성의 재질이거나, 유리 또는 세라믹 등과 같은 경성의 재질일 수 있다. 예를 들어, 상기 연성의 재질의 기판으로는, 포토페이퍼, 폴리에틸렌 테트라프탈레이트(PET), 종이, 폴리뷰틸렌테레프탈레이트, 폴리에테르, 폴리에틸렌나프탈레이트 (PEN), 초산비닐수지 (EVA), 부틸 고무수지, 폴리이미드, 실리콘 또는 FR-4을 포함할 수 있다. The substrate may be a flexible material such as a polymer or paper, or a hard material such as glass or ceramics. For example, the flexible substrate may be made of a material selected from the group consisting of photo paper, polyethylene terephthalate (PET), paper, polystyrene terephthalate, polyether, polyethylene naphthalate (PEN), vinyl acetate resin (EVA) Resin, polyimide, silicone or FR-4.
예컨대, 상기 경성의 재질의 기판으로는, 유리, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리술폰, 폴리에테르이미드, 아크릴 수지, 내열성 에폭시 (Epoxy), BT 에폭시/유리 섬유, 폴리아릴레이트, 페라이트 또는 세라믹을 포함할 수 있다. For example, the rigid substrate may include glass, polyethylene terephthalate, polysulfone, polyetherimide, acrylic resin, heat resistant epoxy, BT epoxy / glass fiber, polyarylate, ferrite or ceramic have.
상기 전도성 금속 잉크 또는 페이스트는 금속 나노 입자를 포함할 수 있다. 상기 금속 나노 입자로는 구리, 은, 금, 백금, 철, 몰리브덴, 니켈, 알루미늄 또는 이들의 조합일 수 있다. 구체적으로는, 상기 금속 나노 입자는 구리 또는 이들의 혼합물을 포함할 수 있다. 상기 전도성 금속 잉크는 상기 금속 나노 입자 및 바인더 등을 용매에 분산시켜 제조된 것일 수 있다. The conductive metal ink or paste may comprise metal nanoparticles. The metal nanoparticles may be copper, silver, gold, platinum, iron, molybdenum, nickel, aluminum, or a combination thereof. Specifically, the metal nanoparticles may include copper or a mixture thereof. The conductive metal ink may be prepared by dispersing the metal nanoparticles, the binder and the like in a solvent.
상기 전도성 금속 잉크 또는 페이스트는 상기 기판 상에 패터닝 될 수 있다. 상기 패터닝의 방법으로는 스크린 프린팅(screen printing), 잉크젯 프린팅(inkjet printing), 미세 접촉 프린팅 (micro-contact printing), 임프린팅 (imprinting), 그라비아 프린팅 (gravure printing), 그라비아-옵셋 프린팅(gravure-offset printing) 및 플렉소 프린팅 (Flexography printing)으로 이루어진 군으로부터 선택된 것일 수 있다. The conductive metal ink or paste may be patterned on the substrate. Examples of the patterning method include screen printing, inkjet printing, micro-contact printing, imprinting, gravure printing, gravure-offset printing, offset printing, and flexography printing.
상기 인쇄회로 기판(100)의 상부에는 광 출력부(300)가 배치될 수 있다. 상기 광 출력부(300)는 상기 인쇄회로 기판의 상부에서 상하 운동이 가능하도록 하는 수직 이동부(미도시) 및 지지대(미도시)에 연결되어 있을 수 있다. 이에 상기 광 출력부(300)는 광 소결 시, 상기 인쇄회로 기판(100) 방향으로 하방 이동될 수 있다. The
상기 광 출력부(300)는 일 측면에 설치된 상부 가이드 레일(221)을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 상부 가이드 레일(221)은 상기 광 출력부(300)의 측면의 최하단부, 즉, 상기 인쇄회로 기판(100)과 접할 수 있는 위치에 설치될 수 있다. The
상기 인쇄회로 기판(100)의 하부에는 상기 진공-가열 플레이트(200)가 배치될 수 있다. 상기 진공-가열 플레이트(200)는 진공 홀(미도시)과 열 플레이트(미도시)를 포함할 수 있다. The vacuum-
보다 구체적으로, 상기 진공 홀(미도시)은 상기 진공-가열 플레이트(200)의 내부에 설치되되, 복수개의 진공 홀(미도시)이 서로 이격 배치되고, 상기 인쇄회로 기판(100)의 하부에 진공을 가하여, 광 소결이 수행될 시 상기 인쇄회로 기판(100)을 고정시키는 역할을 할 수 있다. More specifically, the vacuum holes (not shown) are installed inside the vacuum-
이때, 상기 진공의 세기는 상기 기판(100)을 제대로 고정시키면서도 기판 자체가 상기 진공에 의해 손상되지 않도록 하는 진공압의 범위를 가질 수 있다. 구체적으로, 상기 진공의 세기는 0.1MPa 내지 0.6MPa일 수 있다. 일 예로, 상기 진공의 세기는 0.5MPa일 수 있다. At this time, the intensity of the vacuum may have a range of vacuum pressure to secure the
또한, 상기 진공 홀의 적절한 직경 및 상기 홀들의 간격은 상기 진공압에 영향을 줄 수 있다. 예를 들어, 상기 진공 홀의 직경은 100μm 내지 1mm일 수 있다. 상기 홀의 간격은 1cm 내지 5cm일 수 있다. Also, the proper diameter of the vacuum hole and the spacing of the holes may affect the vacuum pressure. For example, the diameter of the vacuum hole may be 100 [mu] m to 1 mm. The interval of the holes may be 1 cm to 5 cm.
상기 열 플레이트(미도시)는 상기 진공-가열 플레이트(200)의 내부에 설치되되, 가열판 및 냉각판으로 이루어질 수 있으며, 일 예로, 광 소결시 상기 열 플레이트의 가열판의 가열에 의하여, 상기 인쇄회로 기판(100)의 온도, 구체적으로는 기판(100)의 하부의 온도를 변화 또는 유지시키는 역할을 할 수 있다.The heat plate (not shown) is installed inside the vacuum-
즉, 종래의 광 소결 장치의 경우, 전도성 금속 잉크의 소결 시 인쇄회로 기판의 상부(표면) 부분은 광에 의한 소결 효율이 비교적 높은 반면, 기판의 하부에는 광에 의한 열이 충분히 전달되지 못해 소결이 일어나지 못하는 문제점이 존재한다. 이에 상기 진공-가열 플레이트(200)의 열 플레이트의 가열로 인하여 인쇄회로 기판의 전체적인 고른 소결 효과를 얻을 수 있다. That is, in the case of the conventional light sintering apparatus, the upper (surface) portion of the printed circuit board during sintering of the conductive metal ink has relatively high sintering efficiency due to light, whereas the heat due to light is not sufficiently transmitted to the lower portion of the substrate, There is a problem that can not occur. Accordingly, the entire sintering effect of the printed circuit board can be obtained by heating the thermal plate of the vacuum-
예를 들어, 상기 기판(100)의 온도는 -50℃ 내지 300℃로 조절될 수 있다. 구체적으로는 상기 가열판에 의하여 조절되는 상기 기판(100)의 가열 온도는 100℃ 내지 300℃일 수 있다. 보다 구체적으로는, 상기 기판(100)의 가열 온도는 200℃일 수 있다. For example, the temperature of the
상기 진공-가열 플레이트(200)는 일 측면에 설치된 하부 가이드 레일(220)을 더 포함할 수 있다. 구체적으로는, 상기 진공-가열 플레이트(200)의 측면에 설치될 수 있으며, 전술된 상기 광 출력부(300)의 상부 가이드 레일들(221)과 위치적으로 각각 대응될 수 있다. 이에 상기 가이드 레일들(220, 221)은 광 소결이 수행될 시 상기 광 출력부(300)가 하방 이동할 때 상기 인쇄회로 기판(100)을 사이에 두고 서로 마주보도록 배열될 수 있다. The vacuum-
상기 가이드 레일들(220, 221)은 회전이 가능한 구조이되, 상기 가이드 레일들(220, 221)들은 모두 상기 진공-가열 플레이트(200)의 중심부에서 외부 방향으로 회전하는 것일 수 있다. 다시 말해서, 상기 광 출력부(300)가 하방 이동할 때, 상기 각 가이드 레일들(220, 221)이 서로 대응하여 상기 인쇄회로 기판(100)을 사이에 두고 배열되고, 상기 진공-가열 플레이트(200)의 중심부에서 외부 방향으로 동시에 회전함으로써, 상기 인쇄회로 기판(100)의 중심으로부터 외곽 방향으로 힘을 가함으로써 펼쳐지도록 할 수 있다. 이로써, 광 소결시 야기될 수 있는 상기 기판(100)의 우그러짐을 방지할 수 있다. The guide rails 220 and 221 are rotatable and the
상기 가이드 레일(220, 221)에 의한 기판의 우그러짐 방지 효과에 대하여는 상기 광 소결 공정에 따라 후술될 도 2a 내지 2d를 참조하여 보다 구체적으로 설명될 것이다. The effect of preventing the substrate from being wrinkled by the
한편, 상기 광 출력부(300)는 극단파 백색광 출력부(310)와 상기 극단파 백색광 출력부(310)의 일 측에 위치하는 원자외선 출력부(320)를 포함할 수 있다. 이에 상기 광 출력부(300)는 상기 극단파 백색광 및 상기 원자외선을 복합적으로 동시 또는 순차 조사할 수 있다. The
상기 극단파 백색광 출력부(310)는 펄스형의 극단파 백색광을 방출시키는 적어도 하나의 램프(312, 313)가 구비될 수 있다. 상기 램프(312, 313)들은 전원부(미도시)로부터 전압 및 전류를 입력받고, 축전부(미도시)로부터 집적된 전하를 인가받아 아크 플라즈마를 생성시켜 극단파 백색광을 조사할 수 있다. The extreme ultraviolet
예를 들어, 상기 극단파 백색광 출력부(310)는 본 조사 램프(312) 및 예비 광조사 램프(313)가 구비되어 광 조사가 순차적으로 이루어질 수 있다. 일 예로, 상기 예비 광조사 램프(313)는 상기 본 조사 램프(312)보다 광이 먼저 조사되어 상기 인쇄회로 기판(100)의 온도를 높일 수 있다. 이때, 상기 예비 광조사 램프(313)에서 조사되는 광의 세기는, 상기 본 조사 램프(312)에서 조사되는 광의 세기보다는 낮을 수 있다. For example, the extreme ultraviolet
즉, 상기 예비 광조사 램프(313)는 상기 본 조사 램프(312)에 의한 광 소결이 수행되기 전 또는 수행되는 중에, 전술된 진공-가열 플레이트의 열 플레이트와 같이, 상기 인쇄회로 기판(100)의 하부까지 충분히 열이 도달되도록 하여 보다 높은 소결 효율을 제공할 수 있다. That is, the preliminary
예컨대, 상기 램프들(312, 313)은 제논, 크립톤 또는 이들의 혼합으로 이루어진 가스를 포함한 것일 수 있다. 구체적으로 상기 램프(312, 313)들은 제논 플래쉬 램프일 수 있다. 상기 제논 플래쉬 램프는 실린더 형상의 밀봉된 석영튜브 안에 주입된 제논가스를 포함하고, 상기 제논 가스는 입력받은 전기에너지로부터 광에너지, 구체적으로 극단파 백색광을 출력한다. For example, the
상기 극단파 백색광은 짧은 시간 동안 넓은 면적에 강한 광 에너지를 일시에 발산하는 플래시 광으로서, 파장 범위가 160nm 내지 2.5mm 사이로 자외선부터 적외선까지의 넓은 파장대역의 광 스펙트럼을 가질 수 있다. The extreme ultraviolet light is a flash light that emits strong light energy at a large area at a time over a short period of time, and can have an optical spectrum in a wide wavelength band from ultraviolet to infrared rays in a wavelength range of 160 nm to 2.5 mm.
이러한 극단파 백색광의 에너지는 약 0.1 J/㎠ 내지 100 J/㎠일 수 있다. 구체적으로는 상기 극단파 백색광의 에너지는 1J/㎠ 내지 70J/㎠일 수 있다. 또한, 광 조사 시간은 0.1ms 내지 100 ms까지 조절할 수 있는데, 이는 상기 램프에 연결된 제어부(미도시)를 통해 구현할 수 있다. 구체적으로 상기 광 조사 시간은 0.01ms 내지 30ms일 수 있다. 또한, 상기 극단파 백색광의 펄스갭(Pulse gap)은 0.01ms 내지 30ms일 수 있으며, 상기 펄스수(Pulse number)는 1회 내지 50회일 수 있다. The energy of such extreme-wave white light may be about 0.1 J /
단, 상기 극단파 백색광의 조사 조건들은 전도성 금속 잉크의 종류 또는 기판의 종류에 따라 조절될 수 있다. However, the irradiation conditions of the extreme ultraviolet ray may be adjusted depending on the type of the conductive metal ink or the type of the substrate.
상기 극단파 백색광 출력부(310)는 상기 광을 반사시키는 반사경(410), 광의 경로를 조정하는 빔 가이드(311) 및 광의 파장대역을 조절하는 광 파장 필터(400)를 더 포함할 수 있다.The extreme ultraviolet
구체적으로, 상기 반사경(410)은 상기 램프(312, 313)의 상부에 배치될 수 있으며, 예컨대, 상기 반사경(410)은 반원통 형태일 수 있다. 상기 반사경(410)은, 원통 형태인 상기 램프(312,313)에서 상기 인쇄회로 기판(100) 방향과 반대방향으로 조사되는 광을 다시 반사시켜 상기 인쇄회로 기판(100)의 방향으로 광의 경로를 변경시킬 수 있다. 따라서, 상기 램프(312, 313)로부터 발생되는 극단파 백색광이 상기 인쇄회로 기판(100)으로 전달되는 양을 증가시켜 상기 광 에너지로의 에너지 변환 효율을 증가시킬 수 있다. For example, the
상기 반사경(410)의 내부의 코팅 물질로는 세라믹, 금 또는 알루미늄일 수 있다. The coating material inside the
상기 빔 가이드(311)는 상기 램프(312, 313)의 하부에 배치될 수 있으며, 상기 광 파장 필터(400)는 상기 빔 가이드(311) 내부에 배치되되, 일 예로, 상기 빔 가이드(311)를 통과한 광이 모두 지나갈 수 있도록 상기 빔 가이드(311)와 평행하게 배치될 수 있다. 이에 상기 빔 가이드(311)를 통과한 빛을 일정 파장대역으로 필터링할 수 있다. 예컨대, 상기 광 파장 필터(400)는 광의 파장을 300nm 내지 700nm로 조절할 수 있다. The
일 예로, 상기 광 파장 필터(400)는 상기 전도성 금속 잉크가 구리 잉크일 경우, 상기 광의 파장을 500nm 내지 700nm로 조절할 수 있다. 상기 전도성 금속 잉크가 은 잉크일 경우, 상기 광의 파장은 300nm 내지 500nm로 조절될 수 있다. 상기 전도성 금속 잉크가 구리 및 은의 혼합물일 경우, 상기 광의 파장은 300nm 내지 700nm로 조절될 수 있다.For example, the
상기 원자외선 출력부(320)는 상기 원자외선(Far ultraviolet ray), 즉 자외선 영역(400nm 이하의 파장 영역) 중에서도 단파장 영역(100nm 내지 200nm)의 광선을 방출할 수 있다. 상기 원자외선은 펄스 형이 아닌 연속 조사 방식으로 조사될 수 있다. 이러한, 상기 원자외선은 광 소결 시 상기 전도성 금속 잉크 내의 바인더 성분의 환원을 도와 상기 광 소결의 효율을 보다 높일 수 있다.The far ultraviolet
상기 원자외선 출력부(320)에서 조사되는 원자외선의 에너지는 상기 광 소결 효율을 높이면서도 기판 자체를 손상시키지 않는 범위로 조사될 수 있다. 예를 들어, 상기 기판(100)에 직접 조사되는 에너지를 기준으로 10μW/cm2 내지 100μW/cm2일 수 있다. The energy of the far ultraviolet ray irradiated from the far ultraviolet
상기 원자외선 출력부(320)는 전술된 상기 광 파장 필터(400)를 함께 적용하여 광 소결을 수행할 수 있다. 상기 원자외선과 상기 광 파장 필터(400)에 의하여 필터링 된 상기 극단파 백색광을 동시에 적용할 경우, 상기 회로 패턴(101)의 비저항을 낮춰 전기 전도도의 향상 효과를 발휘할 수 있다.The far ultraviolet
한편, 상기 인쇄회로 기판(100)은 상기 광 소결 장치 내에서 상기 인쇄회로 기판(100)의 일 측에 위치하는 기판 이송부(210, 211)에 의해 일 방향으로 이송될 수 있다. 이로써, 상기 인쇄회로 기판(100)의 광 소결이 연속적으로 이루어질 수 있다. The printed
상기 기판 이송부(210, 211)의 구조 또는 형태는 특별한 제한이 있는 것은 아니며, 예를 들어, 상기 기판 이송부(210, 211)는 상기 인쇄회로 기판(100)의 양측에 위치하여, 상기 인쇄회로 기판(100)을 일 방향으로 이동시키는 롤 형태이거나, 상기 인쇄회로 기판(100)의 하부에 위치하고 자체 회전하는 컨베이어 벨트 형태일 수 있다. For example, the
도 1b는 본 발명의 제2 실시예에 따른 광 소결 장치의 구조를 나타낸 분해 사시도이다. 1B is an exploded perspective view showing a structure of a light sintering apparatus according to a second embodiment of the present invention.
도 1b를 참조하면, 후술되는 내용을 제외하고는, 상기 도 1a에 설명된 내용과 동일하다.Referring to FIG. 1B, except for the following, the same contents as those described in FIG. 1A are used.
상기 인쇄회로 기판(100)은 비아-홀 구조(102)를 포함하는 것일 수 있다. 일 예로 상기 비아-홀 구조(102)는 베이스 층(102a), 제1 회로패턴(102b), 절연층(102c) 및 상기 절연층(102c) 내에 형성된 비아-홀(102d) 및 제2 회로 패턴(102e)을 포함하는 구조일 수 있으며, 상기 비아-홀(102d) 내부에 전도성 금속 잉크가 충진된 것일 수 있다. The printed
상기 비아-홀 구조(102)를 포함하는 상기 인쇄회로 기판(100)의 광 소결 시에는, 상기 기판(100)의 상부에 상기 비아-홀(102d) 부분에만 빛을 통과시킬 수 있는 마스킹 장치(103)를 사용할 수 있다. 이로써, 잉크 또는 기판의 손상 없이 개별적으로 상기 비아-홀(102d)만의 소결이 가능할 수 있다.
다시 말해서, 상기 비아-홀 구조(102)를 포함하는 상기 인쇄회로 기판(100)에서는 상기 비아-홀(102d)은 상기 회로 패턴(102e)보다 잉크의 두께가 두껍기 때문에 광 소결시 보다 높은 에너지가 요구된다. 이에 따라서, 만일 상기 비아-홀(102d)과 회로 패턴(102e)을 동일한 에너지로 동시에 광 소결 시키면 상기 비아-홀(102d) 내의 잉크가 소결이 되지 못하거나, 상기 인쇄회로 패턴(102e) 및 상기 인쇄회로 기판(100)에 번 아웃(burn-out)이 발생되어 기판의 손상의 우려가 있다. In other words, in the printed
따라서, 상기 비아-홀(102d)을 상기 회로 패턴(102e)보다 먼저 소결시키되, 상기 마스킹 장치(103)를 사용하여 상기 회로 패턴(102e) 소결 시보다 높은 에너지로 상기 비아-홀(102d)을 먼저 소결시킨 후, 상기 에너지보다 낮은 강도의 에너지로 상기 회로 패턴(102e)을 소결시킴으로써, 상기 회로 기판(100)의 소결의 완성도를 보다 높일 수 있다. Therefore, the via-
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 일 실시예에 따른 광 소결 장치에 따른 광 소결 과정을 순서대로 나타낸 모식도들이다. FIGS. 2A to 2D are schematic views sequentially illustrating a light sintering process according to an embodiment of the present invention. FIG.
도 2a를 참조하면, 상기 인쇄회로 기판(100)이 상기 기판 이송부(210, 211)에 의하여 일 방향으로 이동할 수 있다. 예를 들어, 상기 기판 이송부(210, 211)의 하부 롤(210)과 상부 롤(211)은 상기 인쇄회로 기판(100)을 사이에 두고, 서로 다른 방향으로 회전하여 상기 인쇄회로 기판(100)을 일 방향으로 이동시킬 수 있다. Referring to FIG. 2A, the printed
일 예로, 상기 하부 롤(210)들은 시계 방향으로 회전하고, 상기 상부 롤(211)들은 반시계 방향으로 회전하여 상기 인쇄회로 기판(100)이 A방향으로 이동될 수 있다. 이에 상기 기판(100)의 회로 패턴(101)이 상기 광 출력부(300)와 상기 진공-가열 플레이트(200) 사이에 위치할 수 있도록 한다.For example, the
도 2b를 참조하면, 상기 인쇄회로 패턴(101)이 상기 광 출력부(300)와 상기 진공-가열 플레이트(200) 사이의 중앙에 위치하면, 상기 광 출력부(300)의 광 조사에 의한 광 소결이 수행될 수 있다. 이때, 상기 기판 이송부(210, 211)는 기판 이송을 중지하고, 상기 진공-가열 플레이트(200)의 진공 홀(미도시)이 상기 인쇄회로 기판(100)을 고정시키게 된다. 이때, 상기 기판 이송부(210,211)의 기판 이송 중지로 인하여 순간적으로 상기 인쇄회로 기판(100)에 휨(100') 현상이 발생하게 된다. 또한, 상기 광 소결이 수행되면서 상기 회로 패턴(101)을 형성하는 전도성 금속 잉크 내의 금속 입자간의 수축으로 인한 기판의 휨(100')이 또 한번 발생하게 된다. Referring to FIG. 2B, when the printed
도 2c를 참조하면, 상기 광 소결이 진행되는 동안에 상기 광 출력부(300)가 수직 이동부(미도시)에 의하여 상기 인쇄회로 기판(100) 방향으로 하방 이동하여, 상기 인쇄회로 기판(100)의 상기 회로 패턴(101)에 광이 조사될 수 있다. 2C, the
이때, 상기 가이드 레일들(220, 221)은 도 1에서 전술된 바와 같이 상기 광 출력부(300)가 하방 이동할 때 상기 인쇄회로 기판(100)을 사이에 두고 서로 마주보도록 배열될 수 있다. 이때, 상기 가이드 레일들(220, 221)은 상기 진공-가열 플레이트(200)의 중심부에서 외부 방향으로 동시에 회전하여 상기 인쇄회로 기판(100)을 펼쳐지도록 할 수 있다. 이에 상기 광 소결 시 야기될 수 있는 기판의 우그러짐에 의한 기판의 손상을 방지하여 전극의 소결 균일도를 향상시키는 효과를 발휘할 수 있다.In this case, the
또한, 상기 인쇄회로 기판(100)의 하부에 배치된 진공-가열 플레이트(200)의 진공 홀에서 일정한 진공 압을 유지시켜 상기 인쇄회로 기판(100)을 고정시킴으로써 기판의 우그러짐을 방지하는 효과를 더 높일 수 있다. In addition, it is possible to prevent the substrate from being worn out by fixing the printed
이 때, 일 예로, 상기 진공의 세기는 상기 기판(100)을 제대로 고정시키면서도 기판 자체가 상기 진공에 의해 손상되지 않도록 하는 진공압의 범위를 가질 수 있다. 구체적으로, 상기 진공의 세기는 0.1MPa 내지 0.6MPa일 수 있다. 일 예로, 상기 진공의 세기는 0.5MPa일 수 있다. In this case, for example, the intensity of the vacuum may have a range of vacuum pressure to secure the
한편, 상기 광 소결이 수행될 시, 상기 인쇄회로 기판(100)의 상부 및 하부에 열을 가하여 소결 온도를 조절할 수 있다. 예를 들어, 상기 진공-가열 플레이트의 가열판(미도시) 및 냉각판(미도시)은 상기 인쇄회로 기판(100)의 온도를 조절할 수 있다. 일 예로, 상기 가열판을 이용하여 상기 인쇄회로 기판(100)의 하부를 가열할 수 있다. 이에 상기 인쇄회로 기판(100)의 하부까지 미처 열이 도달하지 못하여 완전히 소결이 이루어지지 못하는 문제를 해결할 수 있다. On the other hand, when the light sintering is performed, the sintering temperature can be controlled by applying heat to the upper and lower portions of the printed
상기 인쇄회로 기판(100)의 온도를 높이는 것은 상기 극단파 백색광 출력부(300)의 예비 광 조사 램프(313)에 의하여 수행될 수 있다. The temperature of the printed
도 2d를 참조하면, 상기 광 소결이 이루어진 상기 회로 패턴(101)은 다시 기판 이송부(210, 211)에 의해 A방향으로 이동되어 상기 인쇄회로 기판(100)의 연속적인 광 소결이 수행될 수 있다. Referring to FIG. 2D, the photo-sintered
이하, 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위하여 본 발명에 따른 바람직한 실험예를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms.
후술되는 실시예들은 각각 본 발명의 일 실시예에 따른 광 소결 장치, 즉 진공-가열플레이트, 광 파장 필터 및 원자외선 출력부가 도입된 광 소결 장치로 광 소결을 수행하되, 기판의 종류 및 광 조사 조건 등을 달리하여 실시한 예들을 나타낸 것이다. Each of the embodiments described below performs photo-sintering with a light sintering apparatus according to an embodiment of the present invention, that is, a light-sintering apparatus having a vacuum-heating plate, an optical wavelength filter, and a far ultraviolet ray output unit, Conditions, and the like.
실시예Example 1 : 진공-가열플레이트, 광 파장 필터 및 1: vacuum-heating plate, optical wavelength filter and 원자외선Far-ultraviolet 출력부가 도입된 광 소결 장치로 광 소결 수행(1) Performing photo-sintering with a light sintering device with an output section introduced (1)
먼저, DEG(Diethylene glycol)와 DGBE(Diethylene glycol butyl ether)를 혼합한 용매에 고분자 바인더 수지 PVP(Polyinylpyrrolidone, MW 55,000)를 중량분율 2만큼 녹이고 소니케이터를 이용해 분산시킨 용액에 구리나노 입자(Tekna, diameter: 100nm)를 전체 잉크의 75 중량 분율이 되도록 첨가한 후 3롤밀을 이용하여 분산시켜 전도성 구리잉크를 제조하였다. First, a solution of polyvinylpyrrolidone (MW 55,000) in a solvent mixture of DEG (Diethylene glycol) and DGBE (Diethylene glycol butyl ether) was dissolved in a weight ratio of 2 and dispersed using a sonicator. Copper nanoparticles (Tekna , diameter: 100 nm) was added so as to be 75 parts by weight of the total ink, followed by dispersion using a 3-roll mill to prepare a conductive copper ink.
상기 제조된 전도성 구리잉크를 폴리이미드기판(PI, thickness: 50μm)위에 스크린 프린터를 이용하여 100mm/s의 속도로 전극 형태로 인쇄한 다음, 상기 인쇄 된 패턴을 온도 110℃의 적외선을 이용하여 건조시켜 전극 패턴을 완성시켰다.The prepared conductive copper ink was printed on a polyimide substrate (PI, thickness: 50 μm) in the form of an electrode at a speed of 100 mm / s using a screen printer, and then the printed pattern was dried using infrared rays at a temperature of 110 ° C. Thereby completing an electrode pattern.
이후, 제논 플래쉬 램프를 사용하여 극단파 백색광을 상기 건조된 패턴에 조사하였다. 상기 패턴은 진공 홀을 이용하여 0.5 MPa의 세기로 고정되었고, 열 플레이트를 이용하여 상기 패턴의 온도는 200℃로 가열되었다. 상기 극단파 백색광 조사 조건으로는, 강도는 8 J/cm2, 펄스 수는 1회, 조사 시간은 5 ms이었고, 500nm 내지 600nm를 통과하는 광 파장 필터를 적용하였으며, 원자외선의 세기는 10 mW/cm2로 진행하였다.Thereafter, extreme ultraviolet white light was irradiated onto the dried pattern using a xenon flash lamp. The pattern was fixed at 0.5 MPa using a vacuum hole, and the temperature of the pattern was heated to 200 DEG C using a thermal plate. The light intensity of the ultraviolet light was 8 J / cm 2 , the number of pulses was 1, the irradiation time was 5 ms, the wavelength of the light passing through 500 to 600 nm was applied, and the intensity of the far ultraviolet light was 10 mW / cm < 2 & gt ;.
실시예Example 2: 진공-가열플레이트, 광 파장 필터 및 2: vacuum-heating plate, optical wavelength filter and 원자외선Far-ultraviolet 출력부가 도입된 광 소결 장치로 광 소결 수행(2) (2) Performing photo-sintering with a light sintering apparatus in which an output section is introduced.
기판으로 폴리이미드 대신 실리콘 웨이퍼(Si wafer)을 사용한 점, 이에 상기 극단파 백색광 조사 조건으로, 강도는 50 J/cm2, 펄스 수는 30회, 조사 시간은 1 ms을 달리한 점을 제외하고는 전술된 실시예 1과 동일한 방식으로 소결이 수행되었다. Except that silicon wafers (Si wafers) were used instead of polyimide as the substrate and the intensity was 50 J / cm 2 , the number of pulses was 30, and the irradiation time was 1 ms in the extreme white light irradiation conditions Was sintered in the same manner as in Example 1 described above.
비교예 1: 진공-가열플레이트, 광 파장 필터 및 원자외선 출력부가 도입되지 않은 광 소결 장치로 광 소결 수행(1) Comparative Example 1: Performing photo-sintering with a vacuum-heating plate, a light wavelength filter, and a light sintering apparatus in which a far-ultraviolet output unit was not introduced (1)
전술된 실시예 1의 전도성 구리 잉크를 이용하여 폴리이미드(polyimide) 기판에 프린팅 후 100 ℃의 적외선을 이용하여 건조 후 전극 패턴을 완성시켰다.After printing on a polyimide substrate using the conductive copper ink of Example 1 described above, an electrode pattern was formed by drying using infrared rays at 100 ° C.
그 다음에 상기 패턴에 극단파 백색광을 조사하되, 조사 조건으로 강도는 8 J/cm2, 펄스 수는 1회, 조사 시간은 5ms로 하여 소결을 진행하였다. Subsequently, the pattern was irradiated with extreme ultraviolet-white light, and the sintering was performed under the irradiation conditions under the conditions of the intensity of 8 J / cm 2 , the number of pulses once, and the irradiation time of 5 ms.
단, 진공-가열 플레이트, 원자외선 조사 및 광 파장 필터는 적용되지 않았다.However, vacuum-heating plate, far ultraviolet irradiation and optical wavelength filter were not applied.
비교예 2: 진공-가열플레이트, 광 파장 필터 및 원자외선 출력부가 도입되지 않은 광 소결 장치로 광 소결 수행(2) Comparative Example 2: Performing photo-sintering with a vacuum-heating plate, a light wavelength filter, and a light sintering apparatus not having a far ultraviolet output section (2)
기판으로 폴리이미드 대신 실리콘 웨이퍼(Si wafer)를 사용한 것을 제외하고는 전술된 비교예 1과 동일한 방식으로 소결이 수행되었다. Sintering was carried out in the same manner as in Comparative Example 1, except that a silicon wafer (Si wafer) was used instead of polyimide as the substrate.
하기의 표 1은 각 실시예들의 소결 조건에 따른 소결 후 저항, 소결 후 저항의 균일도를 측정한 결과 값을 작성한 것이다. 각 실시예들은 인쇄 패턴으로 모두 전도성 구리 잉크를 사용하였고, 이에 따라 비교예들을 제외한 실시예 1 내지 4의 경우 광 파장 필터로 500nm 내지 600nm의 파장대역으로 극단파 백색광을 필터링 하였다. 단, 하기 표에 기재된 광 조사 조건, 즉, 펄스 수, 조사 강도, 조사 간격 등은 기판의 종류가 달라짐에 따라 그에 맞게 사용되는 조건임에 유의한다. Table 1 below shows the results of measuring the resistance after sintering and the uniformity of resistance after sintering according to the sintering conditions of each example. In each of the embodiments, the conductive copper ink was used as a printing pattern. Thus, in Examples 1 to 4 except for the comparative examples, the extreme ultraviolet light was filtered by the optical wavelength filter in the wavelength band of 500 nm to 600 nm. Note that the light irradiation conditions described in the following table, that is, the number of pulses, the irradiation intensity, the irradiation interval, and the like, are conditions used in accordance with the type of the substrate.
상기 표 1을 참조하면, 실시예 1 내지 4의 경우, 기판의 종류와 상관없이 소결 후 저항 균일도가 모두 95%이상으로 매우 높은 값을 나타냄을 알 수 있다. 이는 본 발명에 따른 광 소결 장치의 원자외선 출력부, 진공-가열 플레이트 및 광 파장 필터 등을 적용하였을 경우에 광 소결 후 저항 균일도가 높아진 것임을 알 수 있다. Referring to Table 1, it can be seen that, in Examples 1 to 4, the resistance uniformity after sintering is as high as 95% or more regardless of the type of the substrate. It can be seen that the uniformity of the resistance after the photo-sintering is increased when the far ultraviolet ray output portion, the vacuum-heating plate and the optical wavelength filter of the light sintering apparatus according to the present invention are applied.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광 소결된 인쇄회로 기판의 표면을 관찰한 전자주사현미경의 이미지이다.3 is an image of a scanning electron microscope observing the surface of a photo-sintered printed circuit board according to an embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예 1에 의하여 광 소결된 구리 기판은 매우 균일한 소결이 이루어졌음을 알 수 있다. Referring to FIG. 3, it can be seen that the copper substrate photo-sintered according to the first embodiment of the present invention is highly uniformly sintered.
후술되는 실험예들은 실시예 1에 따른 광 소결 장치의 구성들, 즉, 광 파장 필터, 원자외선, 진공-가열플레이트 및 비아-홀 마스킹 장치 등의 효과를 측정하기 위한 예시들이다. Experimental examples to be described later are examples for measuring the effects of the structures of the light sintering apparatus according to Example 1, that is, optical wavelength filters, far ultraviolet rays, vacuum-heating plates and via-hole masking apparatuses.
<실험예 1><Experimental Example 1>
광 파장 필터 및 Optical wavelength filter and 원자외선Far-ultraviolet 적용 여부에 따른 기판의 비저항 값 비교 Comparison of resistivity value of substrate with application
전술된 실시예 1의 방법으로 광 소결을 수행하되,Light sintering was performed by the method of Example 1 described above,
실험군으로 상기 광 파장 필터와 원자외선을 모두 적용시킨 경우, 상기 광 파장 필터만을 적용시킨 경우, 상기 광 파장 필터와 원자외선을 모두 적용시키지 않은 경우로 조건을 달리하여 광 소결을 수행하였다. 그 다음에, 각각의 경우 인쇄 회로 기판의 비저항 값을 측정하였다.Experiments were carried out in the case where both the optical wavelength filter and the deep ultraviolet light were applied, the optical wavelength filter was used alone, and the optical wavelength filter and the deep ultraviolet light were not applied. Then, in each case, the resistivity value of the printed circuit board was measured.
도 4는 본 발명의 실험예 1에 따른 소결 결과를 나타낸 그래프이다.4 is a graph showing the result of sintering according to Experimental Example 1 of the present invention.
도 4를 참조하면, 상기 광 파장 필터와 원자외선을 모두 적용시킨 경우에 비저항 값이 12μΩ·cm로 매우 낮아짐을 확인할 수 있다. 단, 상기 광 파장 필터와 원자외선을 모두 적용하지 않은 경우 비저항 값이 32μΩ·cm 로 3배 가까이 높아짐을 확인할 수 있다.Referring to FIG. 4, when the optical wavelength filter and the far-ultraviolet light are both applied, the specific resistance value is as low as 12 μΩ · cm. However, when the optical wavelength filter and the far ultraviolet ray are not applied, the specific resistance value is 32 μΩ · cm, which is about three times higher.
즉, 상기 광 파장 필터로 파장대역이 필터링 된 극단파 백색광과 원자외선을 복합 조사함으로써, 인쇄회로 기판의 전기전도도의 향상 효과를 얻을 수 있다. That is, an effect of improving electric conductivity of the printed circuit board can be obtained by performing combined irradiation of ultraviolet white light and far ultraviolet light whose wavelength band is filtered by the optical wavelength filter.
<실험예 2><Experimental Example 2>
진공-가열 플레이트의 진공 홀의 진공 세기에 따른 기판의 휨 정도 비교Comparing the bending degree of the substrate with the vacuum intensity of the vacuum hole of the vacuum-heating plate
전술된 실시예 1의 방법으로 광 소결을 수행하되,Light sintering was performed by the method of Example 1 described above,
실험군으로 상기 진공-가열 플레이트의 진공 홀을 통한 진공 세기를 0.2MPa, 0.5MPa 및 0.8MPa로 달리하였고, 대조군으로 진공을 가하지 않은 경우와 함께 광 소결을 수행한 후, 인쇄회로 기판의 휨 정도를 측정하였다. Vacuum intensities of 0.2 MPa, 0.5 MPa and 0.8 MPa through vacuum holes of the vacuum-heating plate were varied as experimental groups. After the light sintering was performed in the case of not applying vacuum as a control group, the degree of warpage of the printed circuit board Respectively.
상기 기판의 휨 정도는 기판에 우그러짐이 발생했을 때 접히는 기판의 가로 길이로 측정되었다. The degree of bending of the substrate was measured as the width of the substrate folded when wrinkling occurred on the substrate.
도 5는 본 발명의 실험예 2에 따른 기판의 휨 정도를 비교한 이미지들이다.FIG. 5 is a graph comparing the degree of warping of the substrate according to Experimental Example 2 of the present invention.
도 5를 참조하면, 진공을 가하지 않은 경우에는 접히는 기판의 가로 길이가 1.2mm로 가장 긴 것을 알 수 있다. 이에 반하여, 상기 진공의 세기가 0.5MPa인 경우에 접히는 기판의 가로 길이가 0.3mm로 가장 짧음을 알 수 있다. Referring to FIG. 5, when vacuum is not applied, it can be seen that the width of the substrate to be folded is 1.2 mm longest. On the contrary, when the vacuum intensity is 0.5 MPa, the width of the substrate that is folded is 0.3 mm, which is the shortest.
<실험예 3><Experimental Example 3>
진공-가열 플레이트의 열 플레이트에 의한 가열 온도에 따른 기판의 휨 정도 비교Comparing the bending degree of the substrate with the heating temperature by the hot plate of the vacuum-heating plate
전술된 실시예 1의 방법으로 광 소결을 수행하되,Light sintering was performed by the method of Example 1 described above,
실험군으로 상기 진공-가열 플레이트의 열 플레이트를 이용하여 상기 인쇄회로 기판의 하부에 열을 가하되, 100℃, 200℃ 및 300℃로 온도를 각각 달리하여 소결하였고, 대조군으로는 상기 진공-가열 플레이트를 적용하지 않고 상온으로 유지하여 상기 인쇄회로 기판을 소결하였다. 그 다음에, 전술된 실험예 2와 같은 방법으로 기판의 휨 정도를 측정하였다. As a test group, heat was applied to the lower part of the printed circuit board using a thermal plate of the vacuum-heating plate, and sintering was performed at different temperatures of 100 ° C, 200 ° C and 300 ° C. As a control group, And the printed circuit board was sintered. Next, the degree of bending of the substrate was measured in the same manner as in Experimental Example 2 described above.
도 6은 본 발명의 실험예 3에 따른 기판의 휨 정도를 비교한 이미지들이다.FIG. 6 is an image comparing the degree of bending of the substrate according to Experimental Example 3 of the present invention.
도 6을 참조하면, 대조군과 같이 열을 가하지 않은 경우에는 접히는 기판의 가로 길이가 1.6mm로 가장 긴 것을 알 수 있다. 이에 반하여 가열 온도가 200℃인 경우에 접히는 기판의 가로 길이가 0.3mm로 가장 짧음을 알 수 있다. Referring to FIG. 6, it can be seen that when the heat is not applied as in the control group, the width of the substrate to be folded is 1.6 mm, which is the longest. On the contrary, when the heating temperature is 200 ° C, it can be seen that the width of the substrate to be folded is the shortest at 0.3 mm.
<실험예 4><Experimental Example 4>
예비 Spare 광조사Light irradiation 램프에 의한 기판의 가열에 따른 기판의 휨 정도 비교 Comparing the bending degree of the substrate with the heating of the substrate by the lamp
전술된 실험예 3의 방법으로 광 소결을 수행하되,The light sintering was performed by the method of Experimental Example 3 described above,
실험군으로 상기 진공-가열 플레이트의 열 플레이트가 아닌 예비 광조사 램프를 이용하여 상기 인쇄회로 기판의 하부에 열을 가하되, 100℃, 200℃ 및 300℃로 온도를 달리하였고, 대조군으로 가열 처리를 하지 않고 상온으로 유지한 다음, 광 소결을 수행하였다. 그 다음에, 전술된 실험예 2와 같은 방법으로 기판의 휨 정도를 측정하였다. As a test group, heat was applied to the lower part of the printed circuit board using a preliminary light irradiation lamp instead of the thermal plate of the vacuum-heating plate, temperatures were changed to 100 ° C, 200 ° C and 300 ° C, And then kept at room temperature, followed by photo-sintering. Next, the degree of bending of the substrate was measured in the same manner as in Experimental Example 2 described above.
<실험예 5><Experimental Example 5>
비아Via -홀 -hall 마스킹Masking 장치를 사용한 인쇄회로 기판의 소결 Sintering of printed circuit boards using devices
후술되는 특징을 제외하고는 전술된 실시예 1과 동일한 방법으로 광 소결을 수행하였다. Light sintering was performed in the same manner as in Example 1 except for the following features.
상기 인쇄회로 기판은 인쇄회로 패턴 부분 및 비아 홀이 동시에 형성된 기판으로, 상기 인쇄회로 패턴 부분 및 비아 홀을 각각 나누어서 개별적으로 소결을 진행하였다. The printed circuit board was sintered individually by dividing the printed circuit pattern part and the via hole into the printed circuit pattern part and the via hole simultaneously.
회로부분 소결 시 광 조사 조건으로는 강도는 6J/cm2, 펄스 수는 1회, 조사 시간은 5ms이고, 500mm 내지 600nm를 통과하는 광 파장 필터 적용 및 원자외선의 세기는 5mW/cm2로 진행하였다. In the sintering of the circuit portion, the light intensity was 6 J / cm 2 , the number of pulses was 1, the irradiation time was 5 ms, and the optical wavelength filter passing 500 to 600 nm and the intensity of the far ultraviolet light proceeded to 5 mW / cm 2 Respectively.
한편, 비아홀 부분을 소결하기 위해 비아홀 부분만 빛이 투과되는 마스킹 장치를 씌운 후 광 조사 조건으로 강도는 20J/cm2, 펄스 수는 10회, 조사 시간은 1 ms, 펄스 간격은 15ms이고, 500nm 내지 600 nm를 통과하는 광 파장 필터 적용 및 원자외선의 세기는 5 mW/cm2로 진행하였다.On the other hand, in order to sinter the via hole portion, a masking device through which light is transmitted only through the via hole portion was irradiated, then the intensity was 20 J / cm 2 under the irradiation condition, the number of pulses was 10, the irradiation time was 1 ms, And the intensity of the deep ultraviolet light was 5 mW / cm 2 .
<비교예 5-1>≪ Comparative Example 5-1 >
비아Via -홀 -hall 마스킹Masking 장치를 사용하지 않은 인쇄회로 기판의 소결 Sintering of unused printed circuit boards
후술되는 특징을 제외하고는 전술된 실험예 5와 동일하게 광 소결을 수행하였다. Light sintering was performed in the same manner as in Experimental Example 5, except for the following features.
상기 인쇄회로 패턴 부분 및 비아 홀을 나누지 않고, 동시에 광 소결을 수행하였다. 광 조사 조건으로 강도는 20J/cm2, 펄스 수는 10회, 조사 시간은 1 ms, 펄스 간격은 15ms이고, 500nm 내지 600 nm를 통과하는 광 파장 필터 적용 및 원자외선의 세기는 5 mW/cm2로 진행하였다Light sintering was performed at the same time without dividing the printed circuit pattern portion and the via hole. The light intensity was 20 J / cm 2 under the light irradiation condition, the number of pulses was 10, the irradiation time was 1 ms, the pulse interval was 15 ms, the application of the optical wavelength filter passing through 500 nm to 600 nm and the intensity of the deep ultraviolet light were 5 mW / cm 2
<비교예 5-2>≪ Comparative Example 5-2 &
비아Via -홀 -hall 마스킹Masking 장치를 사용하지 않은 인쇄회로 기판의 소결 Sintering of unused printed circuit boards
상기 비교예 5-1과 동일하게 광 소결을 수행하되, 광 조사 조건으로는 강도는 6J/cm2, 펄스 수는 1회, 조사 시간은 5ms이고, 500mm 내지 600 nm를 통과하는 광 파장 필터 적용 및 원자외선의 세기는 5 mW/cm2로 진행하였다. Light sintering was carried out in the same manner as in Comparative Example 5-1 except that the light irradiation conditions were an intensity of 6 J / cm 2 , a pulse number of once, an irradiation time of 5 ms, and an optical wavelength filter passing through 500 to 600 nm And the intensity of the far ultraviolet ray was 5 mW / cm 2 .
하기의 표 2는 전술된 실험예 5, 비교예 5-1 및 5-2에 따른 소결 결과를 나타낸 것이다. Table 2 below shows the results of sintering according to Experimental Example 5 and Comparative Examples 5-1 and 5-2 described above.
상기 표 2를 참조하면, 비교예 5-1의 경우, 비교예 5-2에 비하여 높은 에너지를 가한 경우에는 회로 부분 및 비아-홀 부분이 모두 번 아웃(burnout)되어 저항이 형성되지 않았다. 비교예 5-2의 경우, 회로 부분에만 0.033 Ohm/sq의 저항이 형성되었으나, 비아-홀 부분에는 형성되지 않았다.Referring to Table 2, in the case of Comparative Example 5-1, when a higher energy was applied than in Comparative Example 5-2, the circuit portion and the via-hole portion were burned out and resistance was not formed. In the case of Comparative Example 5-2, a resistance of 0.033 Ohm / sq was formed only in the circuit portion, but not in the via-hole portion.
실험예 5의 경우, 즉, 광조사 조건을 달리하고, 비아-홀 마스킹 장치를 사용하여 상기 회로부분과 비아-홀 부분을 개별적으로 소결을 진행한 경우 회로 부분과 비아홀 부분 각각 저항이 형성됨을 확인할 수 있다. In Experimental Example 5, that is, when the circuit portion and the via-hole portion were separately sintered using the via-hole masking apparatus with different light irradiation conditions, it was confirmed that resistance was formed in each of the circuit portion and the via hole portion .
즉, 비아-홀의 경우 잉크의 두께가 기판의 두께만큼 두껍기 때문에 상기 회로부분보다는 높은 강도의 빛 에너지가 필요하다. 이에 상기 다층의 인쇄회로 기판에서 상기 비아-홀과 인쇄회로 패턴을 소결시 광 조사 조건을 다르게 설정함으로써 각각의 소결 효율을 더 높일 수 있다. 다시 말해서, 상기 비아-홀에만 광 투과가 가능한 마스킹 장치를 통하여 개별적으로 소결을 진행함으로써, 잉크 또는 기판의 손상 없이 인쇄회로 기판의 소결이 가능해질 수 있다. That is, in the case of the via-hole, since the thickness of the ink is as thick as the thickness of the substrate, a higher intensity of light energy than the circuit portion is required. In the multilayer printed circuit board, the sintering efficiency of each of the via-holes and the printed circuit pattern can be further improved by setting different light irradiation conditions in sintering the via-holes and the printed circuit pattern. In other words, by sintering individually through the masking device capable of transmitting light only in the via-holes, sintering of the printed circuit board can be made without damaging the ink or the substrate.
도 7a 및 도 7b는 각각 비교예 1 및 실시예 1에 따른 인쇄회로 기판의 패턴을 나타낸 사진이다. 7A and 7B are photographs showing patterns of the printed circuit board according to Comparative Example 1 and Example 1, respectively.
도 7a를 참조하면, 비교예 1과 같이, 진공-가열 플레이트, 원자외선 및 광 파장 필터를 적용하지 않은 백색광 조사 장치만으로 소결하였을 때 소결 후 기판의 우그러짐이 두드러지게 나타난 것을 확인할 수 있다. 또한, 상기 비교예 1의 경우, 기판 전체의 소결이 균일하지 않고, 소결이 되지 않은 부분 및 과소결된 부분들이 발생하는 것을 확인 할 수 있다.Referring to FIG. 7A, it can be seen that the sintering of the substrate after sintering was markedly prominent when the sintering was performed only by a white light irradiation apparatus to which a vacuum-heating plate, a deep ultraviolet ray and an optical wavelength filter were not applied. In addition, in the case of Comparative Example 1, it can be confirmed that sintering of the entire substrate is not uniform, and portions not sintered and undersized portions are generated.
도 7b를 참조하면, 본 발명의 실시예 1의 경우, 기판이 균일하게 소결될 뿐만 아니라 높은 전도성 및 휨 현상이 없는 고품질의 인쇄회로 기판을 얻을 수 있음을 확인할 수 있다.Referring to FIG. 7B, it can be seen that in the case of the first embodiment of the present invention, a high-quality printed circuit board can be obtained which not only uniformly sinters the substrate but also has high conductivity and no warping.
한편, 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시 예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시 예들 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.It should be noted that the embodiments of the present invention disclosed in the present specification and drawings are only illustrative of specific examples for the purpose of understanding and are not intended to limit the scope of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that other modifications based on the technical idea of the present invention are possible in addition to the embodiments disclosed herein.
100: (인쇄)회로 기판
100': 기판의 휨(기판의 우그러짐)
101, 102b, 102e: 회로 패턴
102b: 제1 회로 패턴 102e: 제2 회로 패턴
102: 비아-홀 구조 102a: 베이스층
102c: 절연층 102d: 비아-홀
200: 진공-가열 플레이트 210, 211: 기판 이송부
220: 하부 가이드 레일 221: 상부 가이드 레일
300: 광 출력부 310: 극단파 백색광 출력부
311: 빔 가이드 312: 본 조사 램프
313: 예비 광 조사 램프 320: 원자외선 출력부
400: 광 파장 필터 410: 반사경 100: (Print) circuit board
100 ': substrate warpage (substrate wrinkle)
101, 102b, 102e: Circuit pattern
102b:
102: via-
102c: insulating
200: vacuum-
220: lower guide rail 221: upper guide rail
300: optical output unit 310: extreme-wave white-light output unit
311: Beam guide 312: Main illumination lamp
313: preliminary light irradiation lamp 320: far ultraviolet ray output section
400: optical wavelength filter 410: reflector
Claims (17)
상기 진공-가열 플레이트의 상부에 위치하고 광을 조사하여 상기 인쇄회로 기판을 광 소결시키는 광 출력부; 및
상기 진공-가열 플레이트의 일 측에 위치하고, 상기 인쇄회로 기판을 일 방향으로 이송시키는 기판 이송부를 포함하고,
상기 광 출력부는 서로 마주보는 측면에 설치된 상부 가이드 레일을 포함하고, 상기 진공-가열 플레이트는 서로 마주보는 측면에 설치된 하부 가이드 레일을 포함하고,
상기 가이드 레일들은 상기 광 출력부가 하방 이동할 때 상기 인쇄회로 기판을 사이에 두고 서로 마주보도록 배열되는 것인, 광 소결 장치.A vacuum hole for applying a vacuum to fix the printed circuit board; A vacuum-heating plate including a heat plate for heating or cooling the printed circuit board;
A light output unit positioned above the vacuum-heating plate and optically sintering the printed circuit board by irradiating light; And
And a substrate transfer unit positioned at one side of the vacuum-heating plate and transferring the printed circuit board in one direction,
Wherein the light output portion includes upper guide rails provided on side surfaces facing each other, and the vacuum-heating plate includes lower guide rails provided on the side surfaces facing each other,
Wherein the guide rails are arranged to face each other with the printed circuit board interposed therebetween when the light output portion moves downward.
상기 광 출력부는 상기 인쇄회로 기판의 상부에서 상하 운동이 가능하도록 하는 수직 이동부와 연결되어 있으며, 상기 광 출력부는 광 소결 시, 상기 인쇄회로 기판 방향으로 하방 이동하는 것을 특징으로 하는 광 소결 장치. The method according to claim 1,
Wherein the optical output unit is connected to a vertically moving unit that allows upward and downward movement of the optical output unit at an upper portion of the printed circuit board, and the optical output unit moves downward in the direction of the printed circuit board during photo-sintering.
상기 광 출력부는 서로 마주보는 두 쌍의 측면에 설치된 상부 가이드 레일을 포함하고, 상기 진공-가열 플레이트는 서로 마주보는 두 쌍의 측면에 설치된 하부 가이드 레일을 포함하고, 상기 가이드 레일들은 상기 광 출력부가 하방 이동할 때 상기 인쇄회로 기판을 사이에 두고 서로 마주보도록 배열되는 것인 광 소결 장치.The method according to claim 1,
Wherein the light output portion includes upper guide rails provided on two pairs of side faces facing each other, wherein the vacuum-heating plate includes lower guide rails provided on two pairs of side faces facing each other, And are arranged to face each other with the printed circuit board interposed therebetween when moving downward.
상기 가이드 레일들은 회전이 가능하되, 상기 광 출력부가 하방 이동할 때 상기 상부 가이드 레일 및 하부 가이드 레일은 각각 상기 진공-가열 플레이트의 중심부에서 외부 방향으로 회전함으로써, 상기 인쇄회로 기판이 펼쳐지도록 하는 광 소결 장치.5. The method of claim 4,
Wherein the guide rails are rotatable, wherein when the light output portion moves downward, the upper guide rails and the lower guide rails rotate in the outward direction from the central portion of the vacuum-heating plate, respectively, Device.
상기 광 출력부는 극단파 백색광 출력부, 상기 극단파 백색광 출력부의 일 측에 위치하는 원자외선 출력부를 포함하고, 상기 극단파 백색광 및 상기 원자외선을 동시 또는 순차 조사하는 것인 광 소결 장치.The method according to claim 1,
Wherein the light output unit includes an extreme ultraviolet wave output unit and a far ultraviolet ray output unit located on one side of the extreme ultraviolet ray output unit and irradiates the extreme ultraviolet ray and the far ultraviolet ray simultaneously or sequentially.
상기 극단파 백색광 출력부는,
적어도 하나의 극단파 백색광 램프;
상기 램프의 상부에 배치되어 광을 반사시키는 반사경;
상기 램프의 하부에 배치되어 광 경로를 조정하는 빔 가이드; 및
상기 빔 가이드 내부에 배치되어, 빛의 파장대역을 조절하는 광 파장 필터를 포함하는 광 소결 장치.The method according to claim 6,
Wherein the extreme ultraviolet wave output unit comprises:
At least one extreme wave white light lamp;
A reflector disposed on the lamp and reflecting the light;
A beam guide disposed under the lamp to adjust an optical path; And
And a light wavelength filter disposed inside the beam guide for adjusting a wavelength band of light.
상기 광 파장 필터는 광의 파장을 300nm 내지 700nm로 조절하되,
상기 광 파장 필터와 상기 원자외선 출력부를 동시에 적용하여 광 소결을 수행하는 것인 광 소결 장치.8. The method of claim 7,
The optical wavelength filter adjusts the wavelength of the light to 300 to 700 nm,
And the optical sintering is performed by simultaneously applying the optical wavelength filter and the far ultraviolet ray output unit.
상기 극단파 백색광 램프는,
본 조사 램프 및 예비 광조사 램프를 구비하고,
상기 예비 광조사 램프는 상기 본 조사 램프보다 광이 먼저 조사되고, 상기 본 조사 램프에서 조사되는 광보다 낮은 세기의 광을 조사하는 것인 광 소결 장치. 8. The method of claim 7,
In the extreme ultraviolet wave lamp,
The present irradiation lamp and the preliminary light irradiation lamp,
Wherein the preliminary light irradiation lamp is irradiated with light first than the main illumination lamp and irradiates light having a lower intensity than light emitted from the main illumination lamp.
상기 진공 홀은 상기 진공-가열 플레이트의 내부에 복수개가 서로 이격 배치되고, 상기 인쇄회로 기판의 하부에 진공을 가하고, 상기 홀의 직경은 100μm 내지 1mm이며, 상기 홀의 간격은 1cm 내지 5cm인 광 소결 장치.The method according to claim 1,
Wherein a plurality of vacuum holes are arranged in the vacuum-heating plate, vacuum is applied to a lower portion of the printed circuit board, the diameter of the holes is 100 to 1 mm, and the intervals of the holes are 1 to 5 cm. .
상기 진공의 세기는 0.1MPa 내지 0.6MPa인 광 소결 장치.11. The method of claim 10,
And the intensity of the vacuum is 0.1 MPa to 0.6 MPa.
상기 진공-가열 플레이트에 의하여 상기 인쇄회로 기판의 온도는 -50℃ 내지 300℃로 조절되는 것인 광 소결 장치.The method according to claim 1,
Wherein the temperature of the printed circuit board is controlled by the vacuum-heating plate from -50 ° C to 300 ° C.
상기 진공-가열 플레이트의 가열판에 의하여 기판의 온도는 100℃ 내지 300℃로 조절되는 것인 광 소결 장치.13. The method of claim 12,
Wherein the temperature of the substrate is controlled by the heating plate of the vacuum-heating plate to 100 ° C to 300 ° C.
상기 기판 이송부는 상기 진공-가열 플레이트의 양측에 위치하여 상기 인쇄회로 기판을 일 방향으로 이동시키는 롤 형태이거나, 상기 인쇄회로 기판의 하부에 위치하고 자체 회전하는 컨베이어 벨트 형태인 광 소결 장치.The method according to claim 1,
Wherein the substrate transfer unit is in the form of a roll positioned on both sides of the vacuum-heating plate to move the printed circuit board in one direction, or in the form of a conveyor belt positioned below the printed circuit board and rotating by itself.
상기 인쇄회로 기판은 전도성 금속 잉크 또는 전도성 금속 페이스트 패턴을 구비하는 것인 광 소결 장치.The method according to claim 1,
Wherein the printed circuit board comprises a conductive metal ink or a conductive metal paste pattern.
상기 인쇄회로 기판은 다층의 회로 패턴과 비아-홀을 포함하는 것인 광 소결 장치.The method according to claim 1,
Wherein the printed circuit board includes a multilayer circuit pattern and a via-hole.
상기 다층의 회로 패턴과 비아-홀을 포함하는 상기 인쇄회로 기판의 광 소결을 수행할 시에는, 상기 회로 패턴보다 상기 비아-홀에 광을 먼저 통과시키는 마스킹 장치를 더 포함하는 것인 광 소결 장치.
17. The method of claim 16,
And a masking device for passing light through the via-hole before the circuit pattern, when performing the photo-sintering of the printed circuit board including the multilayer circuit pattern and the via-hole, .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160068704A KR101882576B1 (en) | 2016-06-02 | 2016-06-02 | Light sintering device having protecting damage to substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160068704A KR101882576B1 (en) | 2016-06-02 | 2016-06-02 | Light sintering device having protecting damage to substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20170137236A KR20170137236A (en) | 2017-12-13 |
KR101882576B1 true KR101882576B1 (en) | 2018-07-27 |
Family
ID=60944518
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020160068704A Expired - Fee Related KR101882576B1 (en) | 2016-06-02 | 2016-06-02 | Light sintering device having protecting damage to substrate |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101882576B1 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102687707B1 (en) * | 2021-11-10 | 2024-08-13 | 참엔지니어링(주) | Repairing apparatus |
KR102481806B1 (en) * | 2021-12-20 | 2022-12-27 | (주)디피테크닉스 | Apparatus for sintering substrate |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013229476A (en) * | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Osaka Univ | Light irradiation device and light irradiation method |
KR101343010B1 (en) * | 2012-08-01 | 2013-12-18 | 한국과학기술연구원 | Roll to roll apparatus for forming pattern and roll to roll method for forming pattern |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009059814A (en) | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Denso Corp | Manufacturing method of multilayer printed board |
KR20120134035A (en) * | 2011-05-30 | 2012-12-11 | 한양대학교 산학협력단 | Intense pulsed light sintering system |
DE102013104577B3 (en) * | 2013-05-03 | 2014-07-24 | Heraeus Noblelight Gmbh | Apparatus for drying and sintering metal-containing ink on a substrate |
KR101600690B1 (en) * | 2014-07-09 | 2016-03-07 | 한양대학교 산학협력단 | Multi-photonic annealing and sintering of semiconductor oxide using intense pulsed white light, near infrared ray and deep ultraviolet |
-
2016
- 2016-06-02 KR KR1020160068704A patent/KR101882576B1/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20170137236A (en) | 2017-12-13 |
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A201 | Request for examination | ||
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|
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