KR101856227B1 - 소켓 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
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- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R33/00—Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
- H01R33/74—Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
- H01R33/76—Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract
Description
도 2는 도 1(a)의 X-X 선에서 취한 단면도이다. 도 2의 좌측 절반은 커버 부재가 상방으로 압박되고 래치 부재는 가압할 준비가 된 위치에 있는 것을 도시하고 있다. 우측 절반은 커버 부재가 하방으로 완전히 이동되고 래치 부재는 소개된 위치에 있는 것을 도시하고 있다.
도 3은 소켓의 외양을 도시하는 사시도이다.
도 4는 어댑터를 도시한다. 도 4(a)는 평면도이고, 도 4(b)는 측면도이며, 도 4(c)는 정면도이다.
도 5는 도 4(a)의 X1-X1 선에서 취한 단면도이다.
도 6은 래치 부재를 도시한다.
도 7(a)는 종래의 래치 플레이트의 평면도이다. 도 7(b)는 래치 부재와 래치 플레이트의 결합을 도시한다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 소켓의 예시적인 평면도이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 소켓의 X2-X2 선에서 취한 단면도이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 래치 플레이트를 도시한다. 도 10(a)는 평면도이고 도 10(b)는 정면도이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따른 어댑터를 도시한다. 도 11(a)는 평면도이고 도 11(b)는 정면도이다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따른 래치 부재와 래치 플레이트 사이의 관계를 도시하는 평면도이다.
도 13은 본 발명의 실시예에 따른 소켓의 이동을 보여주는 예시적인 단면도이다.
도 14는 본 발명의 실시예에 따른 소켓의 이동을 보여주는 예시적인 단면도이다.
도 15는 본 발명의 실시예에 따른 소켓의 이동을 보여주는 예시적인 단면도이다.
도 16은 본 발명의 다른 실시예에 따른 소켓이다. 도 16(a)는 BGA 패키지의 크기의 예를 도시한다. 도 16(b)는 소켓의 예시적인 평면도이다.
Claims (10)
- 전자 소자를 시험하는 소켓으로서,
베이스 부재와,
상기 베이스 부재와 분리 가능하게 부착되고, 베이스 부재로부터 분리되는 위치와 베이스 부재에 인접한 위치 사이에서 왕복 운동하는 커버 부재와,
상기 베이스 부재와 각각 고정되고 제1 단부와 제2 단부 사이에 탄성 변형부를 갖는 복수 개의 접점과,
상기 베이스 부재 상에 회전 가능하게 지지되는 래치 부재로서, 래치 부재는 커버 부재의 이동에 응답하여 회전되고, 래치 부재는 이 래치 부재가 전자 소자를 가압할 수 있고 커버 부재가 베이스 부재로부터 분리된 위치에 있을 때에 제1 위치에 있으며, 래치 부재는 커버 부재가 베이스 부재에 인접한 위치에 있을 때에 소개된 제2 위치에 있는 것인 래치 부재와,
상기 베이스 부재에 부착되어 전자 소자를 위한 실장면을 제공하고, 상기 커버 부재의 이동에 응답하여 상승 및 하강 방향으로 이동할 수 있는 실장 부재와,
상기 실장 부재에 회전 가능하게 부착되어 탄성 부재에 의해 제1 방향으로 압박되는 래치 플레이트
를 포함하고, 상기 실장 부재에는 래치 플레이트가 전자 소자를 가압하는 가압 가능한 제1 위치에 있을 때에 래치 플레이트를 수직 방향으로 이동시키는 래치 플레이트 가이드가 형성되며,
상기 래치 부재는 래치 부재가 소개된 제2 위치로부터 가압 가능한 제1 위치로 이동될 때에 래치 플레이트와 접촉함으로써 제1 방향에 반대된 제2 방향으로 래치 플레이트를 회전시키고,
상기 래치 플레이트는 한쌍의 측벽들과 측벽들을 연결하는 가압부를 포함하고, 한쌍의 측벽에는 실장 부재와 회전 가능하게 결합되는 축부가 형성되며, 가압부의 대향 단부들에는 측벽 외측으로 연장되는 탭이 형성되는 것인 소켓. - 제1항에 있어서, 상기 래치 플레이트는 평탄한 표면을 포함하고, 상기 평탄한 표면은 래치 플레이트가 수직 방향으로 이동하고 래치 부재가 가압 가능한 제1 위치에 있을 때에 전자 소자의 표면에 평행한 것인 소켓.
- 제1항에 있어서, 서로 반대쪽에 있는 한쌍의 래치 부재가 배치되고 상기 한쌍의 래치 부재에 대응되도록 한쌍의 래치 플레이트가 배치되며, 한쌍의 래치 플레이트는 전자 소자의 전체 표면을 가압하는 것인 소켓.
- 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 실장 부재에는 전자 소자를 소켓 내에 도입하는 가이드가 형성되고, 래치 플레이트의 가압부는 래치 플레이트가 제1 방향으로 회전될 때에 가이드와 동일한 위치에 배치되거나 가이드 후방에 배치되는 것인 소켓.
- 제1항에 있어서, 상기 래치 플레이트는 돌출부를 포함하고, 상기 돌출부는 실장 부재의 래치 플레이트 가이드를 따라 수직 방향으로 슬라이딩하는 것인 소켓.
- 제1항에 있어서, 상기 래치 플레이트는 한쌍의 측벽들과 측벽들을 연결하는 가압부를 포함하고, 가압부는 전자 소자의 상부면과 접촉할 수 있는 제1 평탄한 주 표면을 가지며, 래치 부재는 측벽들 사이에 수용되고, 래치 부재의 가압부는 제1 주 표면에 대항하여 래치 플레이트의 제2 주 표면을 가압시키는 것인 소켓.
- 제7항에 있어서, 상기 래치 플레이트를 제1 방향으로 압박하는 코일 스프링을 더 포함하고, 상기 코일 스프링은 축 둘레에 권취되는 것인 소켓.
- 제7항에 있어서, 상기 래치 부재의 가압부는 래치 플레이트가 래치 부재의 회전에 의해 수직 방향에서 하방으로 압박될 때에 래치 플레이트의 제2 주 표면 상에서 슬라이딩하는 것인 소켓.
- 제1항에 있어서, 상기 실장 부재에는 실장면에 복수 개의 관통홀이 형성되고, 각 관통홀은 각 접점에 대응하며, 각 접점의 제1 단부는 실장 부재가 베이스 부재를 향해 이동될 때에 각 관통홀을 통해 실장 부재로부터 돌출되고, 각 접점의 제1 단부는 실장 부재가 베이스 부재로부터 분리되는 방향으로 이동될 때에 각 관통홀 내에 유지되는 것인 소켓.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010258609A JP5656578B2 (ja) | 2010-11-19 | 2010-11-19 | ソケット |
JPJP-P-2010-258609 | 2010-11-19 | ||
US13/251,348 US8602805B2 (en) | 2010-11-19 | 2011-10-03 | Socket |
US13/251,348 | 2011-10-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120054548A KR20120054548A (ko) | 2012-05-30 |
KR101856227B1 true KR101856227B1 (ko) | 2018-05-09 |
Family
ID=46064757
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110120850A Expired - Fee Related KR101856227B1 (ko) | 2010-11-19 | 2011-11-18 | 소켓 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8602805B2 (ko) |
JP (1) | JP5656578B2 (ko) |
KR (1) | KR101856227B1 (ko) |
CN (1) | CN102544913B (ko) |
TW (1) | TW201236285A (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5836112B2 (ja) * | 2011-12-28 | 2015-12-24 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
KR101485779B1 (ko) * | 2013-06-28 | 2015-01-26 | 황동원 | 반도체 소자 테스트용 소켓장치 |
KR101432007B1 (ko) | 2014-01-21 | 2014-08-21 | 유광룡 | 반도체 안착 검사장치 및 검사방법 |
JP6251104B2 (ja) * | 2014-03-31 | 2017-12-20 | 株式会社エンプラス | 昇降機構及び電気部品用ソケット |
KR101585182B1 (ko) * | 2014-04-28 | 2016-01-14 | 황동원 | 반도체 소자 테스트용 소켓장치 |
KR102211488B1 (ko) | 2014-10-31 | 2021-02-03 | 삼성전자주식회사 | 어댑터 구조물 및 이를 포함하는 반도체 패키지 검사 장치 |
KR101647443B1 (ko) * | 2014-12-31 | 2016-08-10 | 주식회사 아이에스시 | 전기적 검사소켓 |
KR101653594B1 (ko) | 2015-03-17 | 2016-09-05 | (주) 네스텍코리아 | 교환형 전자부품 테스트 소켓 |
KR101689392B1 (ko) * | 2015-06-19 | 2017-01-02 | (주)마이크로컨텍솔루션 | 반도체 칩 테스트 소켓 |
JP7018310B2 (ja) * | 2017-12-27 | 2022-02-10 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
KR102088305B1 (ko) | 2018-11-22 | 2020-03-13 | 주식회사 아이에스시 | 피검사 디바이스 검사용 테스트 소켓 |
US11237207B2 (en) | 2019-11-25 | 2022-02-01 | Sensata Technologies, Inc. | Semiconductor test socket with a floating plate and latch for holding the semiconductor device |
CN111786187B (zh) * | 2020-07-28 | 2025-06-06 | 公牛集团股份有限公司 | 适配器 |
CN113484736A (zh) * | 2021-08-09 | 2021-10-08 | 苏州日月新半导体有限公司 | 集成电路测试装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6193525B1 (en) | 1997-11-28 | 2001-02-27 | Enplas Corporation | Socket for electrical parts |
US6984142B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-01-10 | Enplas Corporation | Socket for electrical parts |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3103760B2 (ja) * | 1996-03-05 | 2000-10-30 | 山一電機株式会社 | Icソケットにおけるic押え機構 |
CN1118889C (zh) * | 1999-08-06 | 2003-08-20 | 泓进科技股份有限公司 | 模组化的集成电路插座 |
JP2003168532A (ja) * | 2001-11-29 | 2003-06-13 | Texas Instr Japan Ltd | 半導体装置用ソケットおよび半導体装置のソケットへの取付け方法 |
JP2003332010A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-21 | Yamaichi Electronics Co Ltd | Icソケット |
JP4312685B2 (ja) * | 2004-08-31 | 2009-08-12 | 山一電機株式会社 | 半導体装置の着脱方法、それが用いられる半導体装置の着脱装置、および半導体装置用ソケット |
KR100675343B1 (ko) * | 2004-12-20 | 2007-01-29 | 황동원 | 반도체용 테스트 및 번인 소켓 |
CN101237105B (zh) * | 2007-02-02 | 2010-06-16 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 测试连接器 |
CN201054401Y (zh) * | 2007-05-07 | 2008-04-30 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 电连接器 |
JP4868413B2 (ja) | 2007-12-04 | 2012-02-01 | センサータ テクノロジーズ インコーポレーテッド | ソケット |
-
2010
- 2010-11-19 JP JP2010258609A patent/JP5656578B2/ja active Active
-
2011
- 2011-10-03 US US13/251,348 patent/US8602805B2/en active Active
- 2011-11-18 CN CN201110379160.8A patent/CN102544913B/zh active Active
- 2011-11-18 TW TW100142181A patent/TW201236285A/zh unknown
- 2011-11-18 KR KR1020110120850A patent/KR101856227B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6193525B1 (en) | 1997-11-28 | 2001-02-27 | Enplas Corporation | Socket for electrical parts |
US6984142B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-01-10 | Enplas Corporation | Socket for electrical parts |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5656578B2 (ja) | 2015-01-21 |
JP2012109178A (ja) | 2012-06-07 |
CN102544913B (zh) | 2015-11-25 |
TW201236285A (en) | 2012-09-01 |
US8602805B2 (en) | 2013-12-10 |
KR20120054548A (ko) | 2012-05-30 |
US20120129379A1 (en) | 2012-05-24 |
CN102544913A (zh) | 2012-07-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20111118 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20161118 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20111118 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20171018 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20180410 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20180502 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20180502 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210427 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220421 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230503 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20250213 |