KR101413429B1 - Junction box and method of diagnosing the junction box - Google Patents
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Abstract
정션 박스, 및 정션 박스 고장 진단 방법이 개시된다. 정션 박스는 출력용 반도체부(Intelligent Power Switch; IPS), 출력 검출부, 및 마이컴부를 포함한다. 출력용 반도체부는 부하로 전력을 공급하고, 부하로 출력되는 전류와 비례하는 전류값, 및 부하로 출력되는 전압과 비례하는 전압값을 측정하고, 마이컴부는 출력용 반도체로 출력된 제어 신호, 측정된 전류값, 및 전압값에 따라 출력용 반도체의 고장 여부를 판단한다. 이와 같이, 출력용 반도체에서의 전류값 검출과 함께 부하로의 실제 전력 공급 여부에 대한 정보를 이용함으로써, 정션 박스 내의 출력용 반도체(IPS)의 고장 상태를 더욱 정확하게 판단할 수 있게 된다.A junction box, and a junction box failure diagnosis method are disclosed. The junction box includes an intelligent power switch (IPS), an output detector, and a microcomputer. The output semiconductor unit supplies power to the load, measures a current value proportional to the current output to the load, and a voltage value proportional to the voltage output to the load. The microcomputer calculates a control signal output to the output semiconductor, , And whether the output semiconductor is faulty according to the voltage value. As described above, by using the information about the actual power supply to the load as well as the current value detection in the output semiconductor, it is possible to more accurately determine the failure state of the output semiconductor IPS in the junction box.
Description
본 발명은 자동차의 정션 박스(Junction box)에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 정션 박스의 고장 여부를 자체적으로 진단할 수 있는 자동차 정션 박스(Junction box), 및 정션 박스의 고장 진단 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로 자동차의 전기장치는 일종의 신경계통으로서 전기장치가 정상적으로 작동해야만 비로소 자동차가 우수한 성능을 발휘할 수 있게 된다. 이러한 자동차의 전기 장치는 기관의 작동과 관련된 전기장치와 기관 이외의 차체 각부에 장치된 차체 전장품으로 다양하게 구성되어 있다.Generally, an electric device of a car is a kind of nervous system, and an electric device should operate normally, so that a car can exert excellent performance. The electric devices of such automobiles are variously constituted by electric devices related to the operation of the engine and body electrical devices installed at the car body parts other than the engine.
통상적으로 자동차의 다양한 전장품 및 모터 구동 장치들에 전기를 공급하기 위하여 정션 박스(Junction box)를 통한 배선이 구성된다. 정션 박스에는 예컨대, 연료탱크, 엔진, 에어컨, 등화장치, 경고 표시장치 등에 과전류 및 과부하가 발생하는 것을 방지하기 위한 보호 장치로서 퓨즈나 릴레이 등이 설치된다.Typically, a wiring through a junction box is configured to supply electricity to various electric devices and motor driving devices of an automobile. The junction box is provided with a fuse or a relay, for example, as a protection device for preventing an overcurrent and an overload from occurring in a fuel tank, an engine, an air conditioner, an equalizing device,
이러한 정션 박스는 자동차에서 퓨즈나 릴레이 등의 전기 회로를 집약하기 위하여 사용되는 것으로서, 자동차에 설치된 다양한 전기장치를 작동시킬 수 있도록 각 전기장치와 연결된 복수의 전기회로가 설치된다.Such a junction box is used for collecting electric circuits such as a fuse or a relay in an automobile, and a plurality of electric circuits connected to each electric device are installed so as to operate various electric devices installed in the automobile.
그리고 정션 박스는 자동차의 개별 전기 전자 부품에 전원을 공급하는 분배 센터의 역할을 하며 정션 박스를 구성하는 부품인 퓨즈, 릴레이, 다이오드 등을 통해 누전 및 전기적인 합선에 의한 화재로부터 배선 및 차량을 보호한다. 또한, 정션 박스는 램프, 전동 팬, 전원 모드 등과 같은 회로를 구성하여 관련된 전장품을 컨트롤할 수 있도록 한다.The junction box serves as a distribution center for supplying power to the individual electrical and electronic components of the vehicle and protects the wiring and the vehicle from short-circuiting and electrical short-circuiting by means of fuse, relay, diode, do. In addition, the junction box can configure circuits such as lamps, electric fans, and power modes to control related electrical components.
이러한 정션 박스는 제 2의 하니스(Harness)로 불리우며, 차량의 고급화 및 경량화에 따라 그 중요성이 증대되고 있다. 정션 박스는 하니스에서 퓨즈나 릴레이 터미널로 연결되는 배선을 인쇄회로기판(PCB)으로 처리하고, 인쇄회로 기판의 배선은 커넥터를 통해 하니스와 전기적으로 연결된다. Such a junction box is called a second harness, and the importance of the junction box has been increasing as the vehicle has become more sophisticated and lightweight. The junction box processes the wiring from the harness to the fuse or relay terminal to the printed circuit board (PCB), and the wiring of the printed circuit board is electrically connected to the harness through the connector.
이와 같이, 차량에 설치된 정션 박스는 작업성을 개선 시키면서 배선의 신뢰성을 제공하며, 엔진룸과 실내 운전석 주변에 장착되어 배선의 회로를 보호하게 된다.Thus, the junction box installed in the vehicle provides reliability of the wiring while improving the workability, and is mounted around the engine room and the driver's seat to protect the wiring circuit.
그런데 이러한 정션 박스는 운전자의 안전과 밀접한 관계가 있으므로, 운전자 또는 정비사가 정션 박스의 고장 여부를 쉽게 파악 수 있어야 한다.However, since the junction box is closely related to the safety of the driver, the driver or the mechanic must be able to easily recognize whether the junction box is malfunctioning.
도 1은 종래의 정션 박스의 개략적인 블록도이고, 도 2는 도 1의 IS 단자의 상세한 도면이다.Fig. 1 is a schematic block diagram of a conventional junction box, and Fig. 2 is a detailed view of the IS terminal of Fig.
도 1, 및 도 2에서 확인할 수 있는 바와 같이, 종래에는 정션 박스에 연결된 부하로 공급되는 출력용 반도체(Intelligent Power Switch; IPS)의 출력을 별도의 비례 출력 모니터링 단자(IS)를 통하여 측정하여 정션 박스의 고장 여부를 판단하였다.1 and 2, an output of an intelligent power switch (IPS), which is conventionally supplied to a load connected to a junction box, is measured through a separate proportional output monitoring terminal (IS) Was judged to be faulty.
이를 위해, 정션 박스 내에서 마이컴(Microcomputer; MCU)은 출력용 반도체(IPS)로 제어 신호를 출력하고, 이에 따라 출력용 반도체는 부하로 전력을 공급한다. 이때, 출력용 반도체는 IS 단자를 통해, 부하로 공급되는 전류와 비례하는 전류값을 측정하고, 측정된 전류값을 마이컴으로 출력하며, 마이컴은 출력용 반도체에서 전달된 전류값에 따라 정션 박스의 고장 여부를 판단한다.To this end, a microcomputer (MCU) outputs a control signal to the output semiconductor (IPS) in the junction box, and accordingly, the output semiconductor supplies power to the load. At this time, the output semiconductor measures the current value proportional to the current supplied to the load through the IS terminal, outputs the measured current value to the microcomputer, and the microcomputer determines whether the junction box is faulty .
그러나 도 2에서와 같이, 종래의 정션 박스에 출력용 반도체(IPS)의 전류를 확인할 수 있는 회로가 구성되어 있기는 하지만, 자기 진단 시에 연결 부하의 상태 등 출력과 관련된 부분에 대하여 한정적으로만 적용될 수 있어, 이를 통한 정션 박스 특히, 출력용 반도체의 고장 상태의 정확히 판단하기에는 어려움이 있었다.However, as shown in FIG. 2, a circuit for confirming the current of the output semiconductor (IPS) is formed in the conventional junction box. However, in the self diagnosis, only a limited portion It is difficult to accurately determine the faulty state of the junction box, in particular, the output semiconductor.
본 발명은 상술한 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 차량의 정션 박스, 특히, 정션 박스 내의 출력용 반도체(IPS)의 고장 상태를 더욱 정확하게 판단할 수 있도록 해주는 정션 박스를 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-described problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a junction box for a vehicle, more particularly a junction box for enabling a more accurate determination of a failure state of an output semiconductor (IPS) do.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 정션 박스는 출력용 반도체부(Intelligent Power Switch; IPS), 출력 검출부, 및 마이컴부를 포함한다.In order to achieve the above object, a junction box according to the present invention includes an intelligent power switch (IPS), an output detector, and a microcomputer.
출력용 반도체부는 부하로 전력을 공급하고, 부하로 출력되는 전류와 비례하는 전류값, 및 부하로 출력되는 전압과 비례하는 전압값을 측정하고, 마이컴부는 출력용 반도체로 출력된 제어 신호, 측정된 전류값, 및 전압값에 따라 출력용 반도체의 고장 여부를 판단한다. 이와 같이, 출력용 반도체에서의 전류값 검출과 함께 부하로의 실제 전력 공급 여부에 대한 정보를 이용함으로써, 정션 박스 내의 출력용 반도체(IPS)의 고장 상태를 더욱 정확하게 판단할 수 있게 된다.The output semiconductor unit supplies power to the load, measures a current value proportional to the current output to the load, and a voltage value proportional to the voltage output to the load. The microcomputer calculates a control signal output to the output semiconductor, , And whether the output semiconductor is faulty according to the voltage value. As described above, by using the information about the actual power supply to the load as well as the current value detection in the output semiconductor, it is possible to more accurately determine the failure state of the output semiconductor IPS in the junction box.
또한, 정션 박스는 복수의 출력 검출부로부터 출력 여부의 정보를 전달받고, 전달받은 출력 정보 중 선택된 일부를 마이컴으로 전달하는 입력 선택부를 더 포함할 수 있다. 이러한 구성은 마이컴부가 다수의 출력 검출부와 함께 사용되는 경우 마이컴의 포트 수를 대폭 감소할 수 있도록 해 준다.The junction box may further include an input selection unit for receiving information on whether or not to output from the plurality of output detection units and for transmitting a selected part of the received output information to the microcomputer. Such a configuration can greatly reduce the number of ports of the microcomputer when the microcomputer is used together with a plurality of output detection units.
이때, 마이컴부는 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되지 않은 상태에서 부하로의 전력 출력이 검출되는 경우 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단할 수 있다.At this time, when the power output to the load is detected in a state in which the control signal for supplying power to the load is not outputted, the microcomputer unit can determine that there is an abnormality in the outputting semiconductor unit.
또한, 마이컴부는 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력된 상태에서 부하로의 전력 출력이 검출되지 않는 경우 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단할 수 있다.Further, the microcomputer can determine that there is an abnormality in the output semiconductor section when the power output to the load is not detected in a state in which the control signal for supplying power to the load is output.
또한, 마이컴부는 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되고 부하로의 전력 출력이 검출된 상태에서, 측정된 전류값이 미리 설정된 정상 범위보다 작은 경우 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단할 수 있다.When the measured current value is smaller than a preset normal range, the microcomputer can judge that there is an abnormality in the outputting semiconductor section in a state in which the control signal for supplying power to the load is outputted and the power output to the load is detected have.
또한, 마이컴부는 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되고 부하로의 전력 출력이 검출된 상태에서, 측정된 전류값이 미리 설정된 정상 범위보다 큰 경우 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단할 수 있다.When the measured current value is larger than a preset normal range, the microcomputer can determine that there is an abnormality in the output semiconductor section in a state where a control signal for supplying power to the load is output and a power output to the load is detected have.
아울러, 상기 정션 박스를 방법의 형태로 구현한 정션 박스 고장 진단 방법이 개시된다.In addition, a junction box failure diagnosis method in which the junction box is implemented in the form of a method is disclosed.
본 발명에 의하면, 출력용 반도체에서의 전류값 검출과 함께 부하로의 실제 전력 공급 여부에 대한 정보를 이용함으로써, 정션 박스 내의 출력용 반도체(IPS)의 고장 상태를 더욱 정확하게 판단할 수 있게 된다.According to the present invention, the failure state of the output semiconductor (IPS) in the junction box can be determined more accurately by using the information about the current value detection in the output semiconductor and the actual power supply to the load.
또한, 마이컴부가 다수의 출력 검출부와 함께 사용되는 경우에도 마이컴의 포트 수를 대폭 감소할 수 있게 된다.Further, even when the microcomputer is used together with a plurality of output detection units, the number of ports of the microcomputer can be greatly reduced.
도 1은 종래의 정션 박스의 개략적인 블록도.
도 2는 도 1의 IS 단자의 상세한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 정션 박스의 일 실시예의 개략적인 블록도.
도 4는 MCU의 고장 진단표.
도 5는 본 발명에 따른 정션 박스의 다른 일 실시예의 개략적인 블록도.
도 6은 도 3의 MCU에서 수행되는 고장 진단 처리의 순서도.1 is a schematic block diagram of a conventional junction box;
2 is a detailed view of the IS terminal of Fig.
3 is a schematic block diagram of an embodiment of a junction box according to the present invention;
Fig. 4 is a fault diagnosis table of the MCU.
5 is a schematic block diagram of another embodiment of a junction box according to the present invention;
FIG. 6 is a flowchart of a failure diagnosis process performed in the MCU of FIG. 3;
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 3은 본 발명에 따른 정션 박스의 일 실시예의 개략적인 블록도이다. 도 3에서, 정션 박스(100)는 출력용 반도체(IPS; 110), 마이컴(MCU;130), 및 전류/전압 변환 회로(150)을 포함하며, 출력용 반도체(110)는 다시 OUT 단자(120)을 포함한다.3 is a schematic block diagram of one embodiment of a junction box in accordance with the present invention. 3, the
출력용 반도체(110)는 부하로 전력을 공급하고, IS 단자를 통해 부하로 출력되는 전류와 비례하는 전류값, 및 전압 분배 원리를 이용하여 부하로 출력되는 전압과 비례하는 전압값을 측정한다. The
일반적으로 출력용 반도체는 지능형 전력 스위치(Intelligent Power Switch)로서, 퓨즈(Fuse)와 릴레이(Relay) 기능을 포함하며, 전압 및 전류를 모니터링하여 현재 상태를 외부로 전송할 수 있고, 부하로의 전원을 차단할 수 있는 출력 소자이다. 도 3에서의 출력용 반도체(110)는 종래의 출력용 반도체에, 부하로 출력하는 전압을 확인할 수 있는 회로를 추가한 것이다.Generally, the output semiconductor is an intelligent power switch. It includes a fuse and a relay. It monitors the voltage and current to transmit the current state to the outside, . The
이때, OUT 단자(120)는 확인된 IPS(110)의 출력 전압값을 마이컴(130)으로 출력한다.At this time, the
마이컴(130)은 출력용 반도체(110)로 제어 신호를 출력하고, 출력된 제어 신호, 측정된 전류값, 및 검출된 출력 여부에 따라 출력용 반도체(110)의 고장 여부를 판단한다.The
전류/전압 변환 회로(150)는 IS 단자에서 출력된 전류값을 전압값으로 변환한다. MCU(130)에서는 전류값을 바로 이용하기 어렵기 때문에 IS 단자에서 출력된 전류값을 대응하는 전압값으로 변환시켜야 하기 때문이다..The current /
도 4는 도 3의 MCU의 고장 진단표이다. 도 4에서 마이컴(MCU)이 진단하는 출력용 반도체(110)의 상태를 확인할 수 있다.4 is a failure diagnosis table of the MCU of FIG. In FIG. 4, the status of the
도 3에서 마이컴(130)의 입출력 포트로 출력용 반도체(110)의 온/오프 제어용 1개(I/O CH1)와 출력 전류를 확인하여 그 값을 읽는 ADC 포트(ADC CH1) 1개, 그리고 전압 출력 유무를 확인하는 입출력 포트(I/O CH2) 1개, 모두 3개의 마이컴 포트를 이용하여 출력용 반도체와 통신한다. 이때, IPS(110)의 출력 전류값은 MCU(130)에서 전류값으로 읽을 수 없어 전류/전압 변환 회로를 이용하여 전류에 대응하는 전압값으로 변환시켜 MCU(130)에 입력된다.3, one input (I / O CH1) for on / off control of the
이와 같이, 하나의 출력용 반도체 소자(110)와 통신하기 위해 마이컴(130)은 1개의 ADC 포트와 2개의 I/O 포트를 필요로하는데, 마이컴(130)이 다수의 출력용 반도체 소자(110)와 함께 사용되는 경우, 사용되는 포트 수가 함께 증가하여야 하기 때문에 문제가 있다.In this way, the
이러한 문제를 해결하기 위해 마이컴(130)의 입출력 포트 확장 효과를 나타낼 수 있는 입출력 선택 소자를 사용하여 하나의 마이컴 포트로 다수의 출력용 반도체 소자의 출력값을 확인할 수 있도록 한다.In order to solve this problem, an output value of a plurality of output semiconductor devices can be checked with one microcomputer port by using an input / output selection device capable of showing the effect of expanding the input / output port of the
도 5는 본 발명에 따른 정션 박스의 다른 일 실시예의 개략적인 블록도이다. 도 5는 정션 박스(100)에 다수의 출력용 반도체(110)가 사용되는 예가 도시되어 있다.5 is a schematic block diagram of another embodiment of a junction box according to the present invention. FIG. 5 shows an example in which a plurality of
도 5에서 다채널 입출력 선택 소자(140)가 복수의 출력용 반도체(110)로부터 출력 여부의 정보를 전달받고, 전달받은 출력 정보 중 선택된 일부를 마이컴(130)으로 전달하는 것을 확인할 수 있다.In FIG. 5, it can be confirmed that the multi-channel input /
이와 같은 구성에 의하면, 마이컴(130)의 포트 수를 대폭 줄일 수 있게 된다. 예를 들어, 32개의 출력용 반도체 소자를 사용할 경우 입출력 선택 소자(140)를 사용하지 않을 경우 I/O 포트가 64개 필요하나, 8 bit 채널 선택소자를 사용할 경우 I/O 포트는 36개만이 필요하기 때문이다.According to such a configuration, the number of ports of the
마이컴(130)은 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되지 않은 상태에서 부하로의 전력 출력이 검출되는 경우, 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력된 상태에서 부하로의 전력 출력이 검출되지 않는 경우, 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되고 부하로의 전력 출력이 검출된 상태에서 전류값이 미리 설정된 정상 범위보다 크거나 작은 경우, 각각 출력용 반도체(110)에 이상이 있는 것으로 판단할 수 있다.When the power output to the load is detected in a state in which the control signal for supplying power to the load is not output, the
도 6은 본 발명에 따른 정션 박스 고장 진단 방법의 일 실시예를 수행하기 위한 개략적인 흐름도이다. 도 6에는 도 3의 MCU에서 수행되는 고장 진단 처리 과정이 도시되어 있다. FIG. 6 is a schematic flow chart for performing an embodiment of a junction box failure diagnosis method according to the present invention. FIG. 6 shows a fault diagnosis process performed by the MCU of FIG.
먼저 도 6에서, MCU는 IPS로 오프(OFF) 제어 신호를 출력한다(S110). 이어서, MCU는 미리 설정된 시간을 대기한 후(S112), 실제로 IPS의 출력이 오프되었는 지를 확인한다(S120). First, in FIG. 6, the MCU outputs an OFF control signal to the IPS (S110). Subsequently, the MCU waits for a preset time (S112) and confirms whether the output of the IPS is actually off (S120).
IPS 출력이 오프 되지 않은 경우 MCU는 IPS에서의 전류 측정에 무관하게 IPS가 이상 상태(IPS OFF Error)라고 판단하고(S130), 오프된 경우에는 IPS 출력 오프를 확인(S140)한 후 다음 단계로 진행한다.If the IPS output is not turned off, the MCU determines that the IPS is in an abnormal state (S130) regardless of the current measurement in the IPS (S130). If the IPS output is off, Go ahead.
다음으로, MCU는 IPS로 온(ON) 제어 신호를 출력하고(S150), 역시 미리 설정된 시간을 대기한 후(S152) 실제로 IPS의 출력이 온되었는 지를 확인한다(S160). Next, the MCU outputs an ON control signal to the IPS (S150). After waiting for a preset time (S152), the MCU also checks whether the IPS output is actually turned on (S160).
IPS가 온이 되지 않은 경우 IPS에서의 전류 측정에 무관하게 IPS를 이상(IPS ON Error)으로 판단하고(170), 온이 된 경우 IPS 출력 전류에 비례한 전압을 측정한다(S180).If the IPS is not turned on, the IPS is determined as an IPS ON error regardless of the current measurement in the IPS, and if it is turned on, the voltage proportional to the IPS output current is measured (S180).
전압 측정 결과 IPS 출력 전류에 대한 전압값이 미리 설정된 정상범위와 동일한 지를 확인하는 데(S182), 동일하다고 확인된 경우 IPS가 정상 동작 상태라고 판단한다(S184).If it is confirmed that the voltage value of the IPS output current is equal to the predetermined normal range (S182) as a result of the voltage measurement, it is determined that the IPS is in the normal operation state (S184).
만일 동일하지 않다고 확인된 경우, 다시 IPS 출력 전류에 대한 전압값이 미리 설정된 정상 범위 전압보다 작은 지를 확인하고(S186), 작다고 확인된 경우, IPS 전류가 저전류이고 IPS가 개방(Open Error)되었다고 판단한다(S190).If it is confirmed that the voltage value for the IPS output current is smaller than the preset normal range voltage (S186), it is determined that the IPS current is low and the IPS is open error (S190).
만일 작지 않다고 확인된 경우에는 IPS 출력 전류에 대한 전압값이 미리 설정된 정상 범위 전압보다 큰지 확인하여(S192), 크다고 확인되는 경우, IPS 전류가 과전류이고 IPS가 단락 상태(Short Error)라고 판단한다(S200). If it is determined that the IPS output current is not small, it is determined whether the voltage value for the IPS output current is greater than a predetermined normal range voltage (S192). If it is determined that the IPS current is larger than the predetermined normal range voltage, the IPS current is determined to be an overcurrent and the IPS is determined as a short error S200).
마지막으로, IPS 전류에 대한 전압값이 미리 설정된 오류 범위에 해당한다고 확인되는 경우(S202), 마찬가지로 IPS가 단락 상태(Short Error)라고 판단한다(S210).
Finally, when it is confirmed that the voltage value for the IPS current corresponds to a predetermined error range (S202), it is determined that the IPS is short-circuited (S210).
본 발명이 비록 일부 바람직한 실시예에 의해 설명되었지만, 본 발명의 범위는 이에 의해 제한되어서는 아니 되고, 특허청구범위에 의해 뒷받침되는 상기 실시예의 변형이나 개량에도 미쳐야 할 것이다.
Although the present invention has been described in terms of some preferred embodiments, the scope of the present invention should not be limited thereby but should be modified and improved in accordance with the above-described embodiments.
100: 정션 박스
110: 출력용 반도체(IPS)
120: OUT 단자
130: 마이컴(MCU)
140: 다채널 입출력 선택 소자100: junction box
110: Output semiconductor (IPS)
120: OUT terminal
130: Microcomputer (MCU)
140: Multi-channel input / output selection device
Claims (12)
상기 출력용 반도체부로 출력된 제어 신호, 상기 제어 신호에 대응한 상기 출력용 반도체부로부터 상기 부하로의 전력 출력 여부, 및 상기 측정된 전류값에 따라 상기 출력용 반도체의 고장 여부를 판단하는 마이컴부를 포함하며,
상기 마이컴부는 상기 전압값으로부터 상기 부하로의 전력 출력 여부를 검출하는 것을 특징으로 하는 정션 박스.An output semiconductor section for supplying power to the load, measuring a current value proportional to a current output to the load, and a voltage value proportional to a voltage output to the load; And
And a microcomputer for judging whether or not the output semiconductor is faulty according to the control signal output to the output semiconductor section, whether the output semiconductor section corresponding to the control signal outputs power to the load, and the measured current value,
And the microcomputer detects whether or not the power is output from the voltage value to the load.
복수의 상기 출력용 반도체부로부터 상기 측정된 전압값을 전달받고, 전달받은 전압값 중 선택된 일부를 상기 마이컴으로 전달하는 입력 선택부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정션 박스.The method according to claim 1,
Further comprising an input selection unit receiving the measured voltage value from the plurality of output semiconductor units and transmitting a selected one of the received voltage values to the microcomputer.
상기 마이컴부는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되지 않은 상태에서 상기 부하로의 전력 출력이 검출되는 경우 상기 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 정션 박스.The method according to claim 1,
Wherein the microcomputer determines that there is an abnormality in the output semiconductor section when a power output to the load is detected while a control signal for supplying power to the load is not output.
상기 마이컴부는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력된 상태에서 상기 부하로의 전력 출력이 검출되지 않는 경우 상기 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 정션 박스.The method according to claim 1,
Wherein the microcomputer determines that there is an abnormality in the output semiconductor section when a power output to the load is not detected in a state in which a control signal for supplying power to the load is output.
상기 마이컴부는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되고 상기 부하로의 전력 출력이 검출된 상태에서, 상기 전류값이 미리 설정된 정상 범위보다 작은 경우 상기 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 정션 박스.The method according to claim 1,
The microcomputer determines that there is an abnormality in the output semiconductor section when the control signal for supplying power to the load is output and the power output to the load is detected and the current value is smaller than a preset normal range A junction box characterized by.
상기 마이컴부는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되고 상기 부하로의 전력 출력이 검출된 상태에서, 상기 전류값이 미리 설정된 정상 범위보다 큰 경우 상기 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 정션 박스.The method according to claim 1,
The microcomputer determines that there is an abnormality in the output semiconductor unit when the control signal for supplying power to the load is output and the power output to the load is detected and the current value is greater than a preset normal range A junction box characterized by.
마이컴부가 상기 출력용 반도체부로 출력된 제어 신호, 상기 제어 신호에 대응한 상기 출력용 반도체부로부터 상기 부하로의 전력 출력 여부, 및 상기 측정된 전류값에 따라 상기 출력용 반도체의 고장 여부를 판단하는 고장 판단 단계를 포함하며,
상기 고장 판단 단계는 상기 전압값으로부터 상기 부하로의 전력 출력 여부를 검출하는 것을 특징으로 하는 정션 박스 고장 진단 방법.A measuring step of measuring a current value proportional to a current output to the load and a voltage value proportional to a voltage output to the load; And
The microcomputer determines whether or not the control signal outputted to the output semiconductor section, the power output from the output semiconductor section corresponding to the control signal to the load, and the failure of the output semiconductor according to the measured current value, / RTI >
Wherein the failure determination step detects whether or not power is output from the voltage value to the load.
상기 측정 단계와 상기 고장 판단 단계 사이에, 입력 선택부가 복수의 상기 출력용 반도체부로부터 상기 측정된 전압값을 전달받고, 전달받은 전압값 중 선택된 일부를 상기 마이컴부로 전달하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 정션 박스 고장 진단 방법.8. The method of claim 7,
Further comprising the steps of: receiving the measured voltage value from the plurality of outputting semiconductor units and transmitting a selected one of the received voltage values to the microcomputer unit, between the measurement step and the failure determination step; A method for diagnosing a junction box failure.
상기 고장 판단 단계는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되지 않은 상태에서 상기 부하로의 전력 출력이 검출되는 경우 상기 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 정션 박스 고장 진단 방법.8. The method of claim 7,
Wherein the failure determination step includes a step of determining that there is an abnormality in the output semiconductor section when a power output to the load is detected in a state in which a control signal for supplying power to the load is not output Junction box fault diagnosis method.
상기 고장 판단 단계는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력된 상태에서 상기 부하로의 전력 출력이 검출되지 않는 경우 상기 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 정션 박스 고장 진단 방법.8. The method of claim 7,
Wherein the failure determination step includes a step of determining that there is an abnormality in the output semiconductor section when a power output to the load is not detected in a state in which a control signal for supplying power to the load is output Junction box fault diagnosis method.
상기 고장 판단 단계는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되고 상기 부하로의 전력 출력이 검출된 상태에서, 상기 전류값이 미리 설정된 정상 범위보다 작은 경우 상기 출력용 반도체에 이상이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 정션 박스 고장 진단 방법.8. The method of claim 7,
The failure determination step determines that the output semiconductor is abnormal when the control signal for supplying power to the load is output and the power output to the load is detected and the current value is smaller than a preset normal range Wherein the junction box failure diagnosis method comprises the steps of:
상기 고장 판단 단계는 상기 부하로 전력을 공급하도록 하는 제어 신호가 출력되고 상기 부하로의 전력 출력이 검출된 상태에서, 상기 전류값이 미리 설정된 정상 범위보다 큰 경우 상기 출력용 반도체부에 이상이 있는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 정션 박스 고장 진단 방법.8. The method of claim 7,
The failure determination step may be such that when the control signal for supplying power to the load is output and the power output to the load is detected and the current value is greater than a predetermined normal range, And determining a failure of the junction box based on the detected failure.
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