KR101313647B1 - 실리카 용기 및 그 제조방법 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는, 본 발명에 따른 실리카 용기의 다른 일례를 나타내는 개략 단면도이다.
도 3은, 본 발명에 따른 실리카 용기의 제조방법의 일례의 개략을 나타내는 플로차트이다.
도 4는, 본 발명에 따른 실리카 용기의 제조방법의 다른 일례의 개략을 나타내는 플로차트이다.
도 5는, 본 발명에 따른 실리카 용기의 제조방법에서 사용할 수 있는 외측 몰드의 일례를 나타내는 개략 단면도이다.
도 6은, 본 발명에 따른 실리카 용기의 제조방법에서의, 실리카 기체의 가성형체를 형성하는 공정의 일례를 모식적으로 나타내는 개략 단면도이다.
도 7은, 본 발명에 따른 실리카 용기의 제조방법에서의, 실리카 기체를 형성하는 공정의 일례의 일부(방전 가열 용융 전)를 모식적으로 나타내는 개략 단면도이다.
도 8은, 본 발명에 따른 실리카 용기의 제조방법에서의, 실리카 기체를 형성하는 공정의 일례의 일부(방전 가열 용융 중)를 모식적으로 나타내는 개략 단면도이다.
도 9는, 본 발명에 따른 실리카 용기의 제조방법에서의, 내층을 형성하는 공정의 일례를 모식적으로 나타내는 개략 단면도이다.
실시번호 | 실시예 1 | 실시예 2 | |
기체용 원료분말 |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
|
내층용 원료분말 | 없음 | 없음 | |
내층용 원료분말의 H2 방출량 (분자/g) |
- | - | |
실리카 금속의 가성형 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | |
실리카 기체의 용융 소결방법 | 감압 아크방전 용융법 | 감압 아크방전 용융법 | |
실리카 기체의 제작시 분위기 가스 | N2 60vol.%, O2 40vol.%, 이슬점 온도 10℃ |
N2 80vol.%, O2 20vol.%, 이슬점 온도 7℃ |
|
내층의 용융방법 | - | - | |
내층의 용융 분위기 가스 | - | - | |
실리카 기 체 의 물 성 |
색조 | 백색 불투명~무색 투명 | 백색 불투명~무색 투명 |
외경, 높이, 두께(㎜) | 외경450×높이450×두께13 | 외경450×높이450×두께13 | |
OH기 농도(wt.ppm | 30 | 15 | |
C기 농도(wt.ppm) | <10 | <10 | |
CO 방출량(분자/g) | 2×1017 | 1×1017 | |
CO2 방출량(분자/g) | 1×1017 | <1×1017 | |
H2O 방출량(분자/g) | 3×1017 | 2×1017 | |
Al 농도(wt.ppm) | 5 | 5 | |
무색 투명부층의 1400℃에서의 log(η/Pa·s)(η:점도(Pa·s)) | 10.4 | 10.4 | |
내 층 의 물 성 |
색조 | - | - |
두께(㎜) | - | - | |
OH기 농도(wt.ppm) | - | - | |
C 농도(wt.ppm) | - | - | |
평 가 |
실리콘 단결정 멀티 인상 | △ | △ |
내열변형성 | △ | △ | |
실리콘 단결정의 보이드와 핀홀 | △ | ○ | |
비용 | ○ | ○ |
실시번호 | 실시예 3 | 실시예 4 | |
기체용 원료분말 |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
|
내층용 원료분말 | 없음 | 없음 | |
내층용 원료분말의 H2 방출량 (분자/g) |
- | - | |
실리카 금속의 가성형 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | |
실리카 기체의 용융 소결방법 | 강(强)감압 아크방전 용융법 | 강(强)감압 아크방전 용융법 | |
실리카 기체의 제작시 분위기 가스 | N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
N2 95vol.%, O2 5vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
|
내층의 용융방법 | - | - | |
내층의 용융 분위기 가스 | - | - | |
실리카 기 체 의 물 성 |
색조 | 백색 불투명~무색 투명 | 백색 불투명~무색 투명 |
외경, 높이, 두께(㎜) | 외경450×높이450×두께13 | 외경450×높이450×두께13 | |
OH기 농도(wt.ppm | 10 | 15 | |
C기 농도(wt.ppm) | 10 | 20 | |
CO 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
CO2 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
H2O 방출량(분자/g) | 1×1017 | 1×1017 | |
Al 농도(wt.ppm) | 5 | 5 | |
무색 투명부층의 1400℃에서의 log(η/Pa·s)(η:점도(Pa·s)) | 10.5 | 10.5 | |
내 층 의 물 성 |
색조 | - | - |
두께(㎜) | - | - | |
OH기 농도(wt.ppm) | - | - | |
C 농도(wt.ppm) | - | - | |
평 가 |
실리콘 단결정 멀티 인상 | ○ | △ |
내열변형성 | △ | △ | |
실리콘 단결정의 보이드와 핀홀 | △ | ○ | |
비용 | ○ | ○ |
실시번호 | 실시예 5 | 실시예 6 | |
기체용 원료분말 |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
|
내층용 원료분말 | 합성 크리스토발라이트분말 입경 100~300㎛ 순도 99.9999wt.% |
합성 크리스토발라이트분말 입경 100~300㎛ 순도 99.9999wt.% |
|
내층용 원료분말의 H2 방출량 (분자/g) |
3×1017 | 3×1018 | |
실리카 금속의 가성형 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | |
실리카 기체의 용융 소결방법 | 감압 아크방전 용융법 | 감압 아크방전 용융법 | |
실리카 기체의 제작시 분위기 가스 | N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
|
내층의 용융방법 | 원료분말 살포 상압 아크방전 용융법 | 원료분말 살포 상압 아크방전 용융법 | |
내층의 용융 분위기 가스 | N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
|
실리카 기 체 의 물 성 |
색조 | 백색 불투명~무색 투명 | 백색 불투명~무색 투명 |
외경, 높이, 두께(㎜) | 외경450×높이450×두께13 | 외경450×높이450×두께13 | |
OH기 농도(wt.ppm | 10 | 10 | |
C기 농도(wt.ppm) | 10 | 10 | |
CO 방출량(분자/g) | 1×1017 | 1×1017 | |
CO2 방출량(분자/g) | 1×1017 | 1×1017 | |
H2O 방출량(분자/g) | 1×1017 | <1×1017 | |
Al 농도(wt.ppm) | 5 | 60 | |
무색 투명부층의 1400℃에서의 log(η/Pa·s)(η:점도(Pa·s)) | 10.6 | 10.7 | |
내 층 의 물 성 |
색조 | 무색 투명 | 무색 투명 |
두께(㎜) | 3 | 3 | |
OH기 농도(wt.ppm) | 15 | 20 | |
C 농도(wt.ppm) | <10 | <10 | |
평 가 |
실리콘 단결정 멀티 인상 | ○ | ○ |
내열변형성 | ○ | ○ | |
실리콘 단결정의 보이드와 핀홀 | ○ | ○ | |
비용 | △ | △ |
실시번호 | 실시예 7 | 실시예 8 | |
기체용 원료분말 |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
|
내층용 원료분말 | 없음 | 없음 | |
내층용 원료분말의 H2 방출량 (분자/g) |
- | - | |
실리카 금속의 가성형 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | |
실리카 기체의 용융 소결방법 | 감압 아크방전 용융법 | 감압 아크방전 용융법 | |
실리카 기체의 제작시 분위기 가스 | N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 -15℃ |
N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 -20℃ |
|
내층의 용융방법 | - | - | |
내층의 용융 분위기 가스 | - | - | |
실리카 기 체 의 물 성 |
색조 | 백색 불투명~무색 투명 | 백색 불투명~무색 투명 |
외경, 높이, 두께(㎜) | 외경450×높이450×두께13 | 외경450×높이450×두께13 | |
OH기 농도(wt.ppm | 8 | 5 | |
C기 농도(wt.ppm) | 10 | 10 | |
CO 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
CO2 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
H2O 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
Al 농도(wt.ppm) | 5 | 5 | |
무색 투명부층의 1400℃에서의 log(η/Pa·s)(η:점도(Pa·s)) | 10.6 | 10.6 | |
내 층 의 물 성 |
색조 | - | - |
두께(㎜) | - | - | |
OH기 농도(wt.ppm) | - | - | |
C 농도(wt.ppm) | - | - | |
평 가 |
실리콘 단결정 멀티 인상 | ○ | ○ |
내열변형성 | ○ | ○ | |
실리콘 단결정의 보이드와 핀홀 | ○ | ○ | |
비용 | ○ | ○ |
실시번호 | 실시예 9 | 실시예 10 | |
기체용 원료분말 |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
|
내층용 원료분말 | 합성 크리스토발라이트분말 입경 100~300㎛ 순도 99.9999wt.% |
합성 크리스토발라이트분말 입경 100~300㎛ 순도 99.9999wt.% |
|
내층용 원료분말의 H2 방출량 (분자/g) |
3×1017 | 3×1018 | |
실리카 금속의 가성형 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | |
실리카 기체의 용융 소결방법 | 감압 아크방전 용융법 | 감압 아크방전 용융법 | |
실리카 기체의 제작시 분위기 가스 | N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 -15℃ |
N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 -20℃ |
|
내층의 용융방법 | 원료분말 살포 상압 아크방전 용융법 | 원료분말 살포 상압 아크방전 용융법 | |
내층의 용융 분위기 가스 | N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
N2 90vol.%, O2 10vol.%, 이슬점 온도 5℃ |
|
실리카 기 체 의 물 성 |
색조 | 백색 불투명~무색 투명 | 백색 불투명~무색 투명 |
외경, 높이, 두께(㎜) | 외경450×높이450×두께13 | 외경450×높이450×두께13 | |
OH기 농도(wt.ppm | 8 | 5 | |
C기 농도(wt.ppm) | 10 | 10 | |
CO 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
CO2 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
H2O 방출량(분자/g) | <1×1017 | <1×1017 | |
Al 농도(wt.ppm) | 60 | 60 | |
무색 투명부층의 1400℃에서의 log(η/Pa·s)(η:점도(Pa·s)) | 10.7 | 10.8 | |
내 층 의 물 성 |
색조 | 무색 투명 | 무색 투명 |
두께(㎜) | 3 | 3 | |
OH기 농도(wt.ppm) | 15 | 20 | |
C 농도(wt.ppm) | <10 | <10 | |
평 가 |
실리콘 단결정 멀티 인상 | ○ | ○ |
내열변형성 | ○ | ○ | |
실리콘 단결정의 보이드와 핀홀 | ○ | ○ | |
비용 | △ | △ |
실시번호 | 비교예 1 | 비교예 2 | |
기체용 원료분말 |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
천연석영분말 입경 50~500㎛ 순도 99.999wt.% |
|
내층용 원료분말 | 없음 | 합성 크리스토발라이트분말 입경 100~300㎛ 순도 99.9999wt.% |
|
내층용 원료분말의 H2 방출량 (분자/g) |
- | 1×1016 | |
실리카 금속의 가성형 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | 그라파이트 몰드내 회전 성형법 | |
실리카 기체의 용융 소결방법 | 상크방전 용융법 | 상크방전 용융법 | |
실리카 기체의 제작시 분위기 가스 | 대기, 습도 조정 없음 (측정한 이슬점 온도 15℃) |
대기, 습도 조정 없음 (측정한 이슬점 온도 17℃) |
|
내층의 용융방법 | - | 원료분말 살포 상압 아크방전 용융법 | |
내층의 용융 분위기 가스 | - | 대기, 습도 조정 없음 (측정한 이슬점 온도 17℃) |
|
실리카 기 체 의 물 성 |
색조 | 백색 불투명 | 백색 불투명 |
외경, 높이, 두께(㎜) | 외경450×높이450×두께13 | 외경450×높이450×두께13 | |
OH기 농도(wt.ppm | 100 | 90 | |
C기 농도(wt.ppm) | 60 | 50 | |
CO 방출량(분자/g) | 4×1017 | 3×1017 | |
CO2 방출량(분자/g) | 2×1017 | 2×1017 | |
H2O 방출량(분자/g) | 4×1017 | 5×1017 | |
Al 농도(wt.ppm) | 5 | 5 | |
무색 투명부층의 1400℃에서의 log(η/Pa·s)(η:점도(Pa·s)) | 10.2 | 10.2 | |
내 층 의 물 성 |
색조 | 무색 투명 | 무색 투명 |
두께(㎜) | - | 3 | |
OH기 농도(wt.ppm) | - | 130 | |
C 농도(wt.ppm) | - | 30 | |
평 가 |
실리콘 단결정 멀티 인상 | × | × |
내열변형성 | △ | △ | |
실리콘 단결정의 보이드와 핀홀 | × | △ | |
비용 | △ | × |
원소 | 실시예5 | 실시예6 | 실시예9 | 실시예10 | 비교예2 |
Li | 10 | 8 | 6 | 6 | 9 |
Na | 42 | 40 | 41 | 40 | 40 |
K | 23 | 21 | 22 | 23 | 20 |
Ti | 5 | 6 | 6 | 5 | 5 |
V | 2 | 3 | 2 | 2 | 2 |
Cr | 10 | 8 | 9 | 9 | 8 |
Fe | 25 | 20 | 23 | 22 | 25 |
Co | 2 | 2 | 2 | 2 | 1 |
Ni | 10 | 5 | 10 | 10 | 10 |
Cu | 6 | 6 | 6 | 5 | 7 |
Zn | 3 | 2 | 2 | 3 | 3 |
Mo | 2 | 2 | 2 | 1 | 1 |
W | 1 | 1 | 1 | 1 | 1 |
Claims (20)
- 실리카를 구성성분으로 하고, C의 농도가 30wt.ppm 이하이고, OH기 농도가 30wt.ppm 이하이고, 외주 부분에 기포를 함유하는 백색 불투명층부를 갖고, 내주 부분에 실리카 유리로 이루어진 무색 투명층부를 갖는, 회전 대칭성을 갖는 실리카 기체를 구비해 이루어진 실리카 용기를 제조하는 방법으로서,
상기 실리카 기체를 형성하기 위한 실리카 입자인 기체용 원료분말을 준비하는 공정;
회전 대칭성을 갖고 있고, 감압용 홀이 내벽에 분배되어 형성된, 외측 몰드를 회전시키면서, 상기 외측 몰드의 내벽에 상기 기체용 원료분말을 도입하고, 상기 기체용 원료분말을 상기 외측 몰드의 내벽을 따른 소정의 형상으로 가성형하여 실리카 기체의 가성형체로 하는 공정; 및
제습에 의해 이슬점 온도를 10℃ 이하로 한, O2가스와 불활성가스를 포함하는 혼합가스를, 상기 실리카 기체의 가성형체의 내측에서 공급하고, 상기 외측 몰드 내의 가스를 환기해, 상기 외측 몰드 내에서의 습도를 조정하면서, 상기 외측 몰드에 형성되어 있는 감압용 홀에 의해 감압함으로써, 상기 실리카 기체의 가성형체를 외주측에서 감압해 탈가스하면서, 탄소 전극에 의한 방전 가열 용융법에 따라 상기 실리카 기체의 가성형체의 내측에서 가열함으로써, 상기 실리카 기체의 가성형체의 외주 부분을 소결체로 함과 동시에, 상기 실리카 기체의 가성형체의 내주 부분을 용융 유리체로 하고, 상기 실리카 기체를 형성하는 공정;
을 포함하는 것을 특징으로 하는 실리카 용기의 제조방법.
- 제1항의 실리카 용기의 제조방법에 있어서, 상기 방전 가열 용융법에 따라 실리카 기체를 형성하는 공정보다 후에, 상기 실리카 기체의 내측에서, 실리카 입자로 이루어지고, 상기 기체용 원료분말보다 실리카 순도가 높은 내층용 원료분말을 살포하면서, 방전 가열 용융법에 따라 내측에서 가열함으로써, 상기 실리카 기체의 내측 표면 상에 투명 실리카 유리로 이루어진 내층을 형성하는 공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실리카 용기의 제조방법.
- 제2항에 있어서, 상기 내층용 원료분말을, 1000℃ 진공 하에서의 H2 방출량이 1×1016~1×1019분자/g인 것으로 하는 것을 특징으로 하는 실리카 용기의 제조방법.
- 제2항에 있어서, 상기 내층용 원료분말의 Li, Na, K의 각 농도를 60wt.ppb 이하로 하고, Ti, V, Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo, W의 각 농도를 30wt.ppb 이하로 하는 것을 특징으로 하는 실리카 용기의 제조방법.
- 제3항에 있어서, 상기 내층용 원료분말의 Li, Na, K의 각 농도를 60wt.ppb 이하로 하고, Ti, V, Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo, W의 각 농도를 30wt.ppb 이하로 하는 것을 특징으로 하는 실리카 용기의 제조방법.
- 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 혼합가스의 O2가스 함유 비율을 1~40vol.%로 하는 것을 특징으로 하는 실리카 용기의 제조방법.
- 삭제
- 삭제
- 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 기체용 원료분말에 Al을 10~500wt.ppm의 농도로 함유시키는 것을 특징으로 하는 실리카 용기의 제조방법.
- 실리카를 구성성분으로 하고, 회전 대칭성을 갖는 실리카 기체를 구비해 이루어진 실리카 용기로서,
상기 실리카 기체는, C의 농도가 30wt.ppm 이하이고, OH기 농도가 30wt.ppm 이하이고, 외주 부분에 기포를 함유하는 백색 불투명층부를 갖고, 내주 부분에 실리카 유리로 이루어진 무색 투명층부를 갖는 것인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제10항에 있어서, 상기 실리카 기체의 무색 투명층부를 진공 하에서 1000℃로 가열했을 때 방출되는 가스분자의 양이, CO분자에 관해 2×1017분자/g 이하이고, CO2분자에 관해 1×1017분자/g 이하인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제10항에 있어서, 상기 실리카 기체의 무색 투명층부를 진공 하에서 1000℃로 가열했을 때 방출되는 H2O분자가 3×1017분자/g 이하인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제11항에 있어서, 상기 실리카 기체의 무색 투명층부를 진공 하에서 1000℃로 가열했을 때 방출되는 H2O분자가 3×1017분자/g 이하인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제10항에 있어서, 상기 실리카 기체의 무색 투명층부의 1400℃에서의 점도가 1010.4Pa·s 이상인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제11항에 있어서, 상기 실리카 기체의 무색 투명층부의 1400℃에서의 점도가 1010.4Pa·s 이상인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제12항에 있어서, 상기 실리카 기체의 무색 투명층부의 1400℃에서의 점도가 1010.4Pa·s 이상인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제13항에 있어서, 상기 실리카 기체의 무색 투명층부의 1400℃에서의 점도가 1010.4Pa·s 이상인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제10항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 실리카 기체가 Al을 10~500wt.ppm의 농도로 함유하는 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제10항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 실리카 기체의 내측 표면 상에, 상기 실리카 기체보다 실리카 순도가 높은 투명 실리카 유리로 이루어진 내층을 구비하고, 상기 내층은, C의 농도가 30wt.ppm 이하이고, OH기 농도가 30wt.ppm 이하이고, Li, Na, K의 각 농도가 60wt.ppb 이하이고, Ti, V, Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo, W의 각 농도가 30wt.ppb 이하인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
- 제18항에 있어서, 상기 실리카 기체의 내측 표면 상에, 상기 실리카 기체보다 실리카 순도가 높은 투명 실리카 유리로 이루어진 내층을 구비하고, 상기 내층은, C의 농도가 30wt.ppm 이하이고, OH기 농도가 30wt.ppm 이하이고, Li, Na, K의 각 농도가 60wt.ppb 이하이고, Ti, V, Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo, W의 각 농도가 30wt.ppb 이하인 것을 특징으로 하는 실리카 용기.
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US9221709B2 (en) * | 2011-03-31 | 2015-12-29 | Raytheon Company | Apparatus for producing a vitreous inner layer on a fused silica body, and method of operating same |
KR101202701B1 (ko) | 2011-04-15 | 2012-11-19 | 쟈판 스파 쿼츠 가부시키가이샤 | 실리카 유리 도가니의 제조 방법 및 제조 장치 |
JP5250097B2 (ja) | 2011-12-12 | 2013-07-31 | 信越石英株式会社 | 単結晶シリコン引き上げ用シリカ容器及びその製造方法 |
EP2711446B1 (en) * | 2012-01-13 | 2017-04-19 | Shin-Etsu Quartz Products Co., Ltd. | Silica vessel for pulling monocrystalline silicon and method for producing same |
JP5497247B1 (ja) * | 2012-05-15 | 2014-05-21 | 信越石英株式会社 | 単結晶シリコン引き上げ用シリカ容器及びその製造方法 |
DE102012011793A1 (de) * | 2012-06-15 | 2013-12-19 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung eines Quarzglastiegels |
CN104395509A (zh) * | 2013-04-08 | 2015-03-04 | 信越石英株式会社 | 单晶硅提拉用二氧化硅容器及其制造方法 |
US9957431B2 (en) * | 2013-11-11 | 2018-05-01 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Composite material, heat-absorbing component, and method for producing the composite material |
KR101856091B1 (ko) * | 2013-12-28 | 2018-05-09 | 가부시키가이샤 섬코 | 석영 유리 도가니 및 그의 왜곡 측정 장치 |
US10308541B2 (en) | 2014-11-13 | 2019-06-04 | Gerresheimer Glas Gmbh | Glass forming machine particle filter, a plunger unit, a blow head, a blow head support and a glass forming machine adapted to or comprising said filter |
JP6659408B2 (ja) * | 2016-03-07 | 2020-03-04 | クアーズテック株式会社 | シリコン単結晶引上げ用シリカガラスルツボの製造方法 |
WO2018051714A1 (ja) * | 2016-09-13 | 2018-03-22 | 株式会社Sumco | 石英ガラスルツボ及びその製造方法 |
TWI755502B (zh) * | 2017-03-16 | 2022-02-21 | 美商康寧公司 | 用於減少玻璃熔體表面上氣泡壽命之方法 |
CN108585450A (zh) * | 2018-04-09 | 2018-09-28 | 江阴龙源石英制品有限公司 | 一种6轴联动石英坩埚熔制机及其熔制方法 |
JP7694149B2 (ja) | 2021-05-25 | 2025-06-18 | 株式会社Sumco | 石英ガラスルツボ及びその製造方法並びにシリコン単結晶の製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004262690A (ja) | 2003-02-28 | 2004-09-24 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボの製造方法および該製造方法で製造された石英ガラスルツボ |
Family Cites Families (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0729871B2 (ja) * | 1987-12-03 | 1995-04-05 | 信越半導体 株式会社 | 単結晶引き上げ用石英るつぼ |
US4935046A (en) | 1987-12-03 | 1990-06-19 | Shin-Etsu Handotai Company, Limited | Manufacture of a quartz glass vessel for the growth of single crystal semiconductor |
JPH01148718A (ja) | 1987-12-03 | 1989-06-12 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 石英るつぼの製造方法 |
JPH0422861A (ja) | 1990-05-17 | 1992-01-27 | Matsushita Seiko Co Ltd | 炭酸ガス検知装置 |
JP2933404B2 (ja) * | 1990-06-25 | 1999-08-16 | 信越石英 株式会社 | シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボとその製造方法 |
EP0474158B1 (en) | 1990-09-07 | 1995-04-19 | Mitsubishi Chemical Corporation | Silica glass powder and a method for its production and a silica glass body product made thereof |
JPH0729871A (ja) | 1993-06-25 | 1995-01-31 | Toshiba Corp | 表面処理方法および表面処理装置 |
JPH07206451A (ja) | 1993-12-29 | 1995-08-08 | Nippon Steel Corp | 合成石英ガラスの製造方法 |
JP3702904B2 (ja) | 1994-04-04 | 2005-10-05 | セイコーエプソン株式会社 | 合成石英ガラスの製造方法 |
JPH07277743A (ja) | 1994-04-04 | 1995-10-24 | Nippon Steel Corp | 合成石英ガラスの製造方法 |
JP3100836B2 (ja) | 1994-06-20 | 2000-10-23 | 信越石英株式会社 | 石英ガラスルツボとその製造方法 |
US5976247A (en) | 1995-06-14 | 1999-11-02 | Memc Electronic Materials, Inc. | Surface-treated crucibles for improved zero dislocation performance |
JP4285788B2 (ja) * | 1996-03-14 | 2009-06-24 | 信越石英株式会社 | 単結晶引き上げ用大口径石英るつぼの製造方法 |
JP3764776B2 (ja) | 1996-03-18 | 2006-04-12 | 信越石英株式会社 | 単結晶引き上げ用石英ガラスるつぼ及びその製造方法 |
JP3798849B2 (ja) | 1996-07-09 | 2006-07-19 | 信越石英株式会社 | 石英ルツボの製造装置及び方法 |
JP3798907B2 (ja) | 1997-09-30 | 2006-07-19 | 信越石英株式会社 | シリコン単結晶製造用石英ガラスるつぼおよび その製造方法 |
US6106610A (en) | 1997-09-30 | 2000-08-22 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Quartz glass crucible for producing silicone single crystal and method for producing the crucible |
JP3625636B2 (ja) * | 1998-01-08 | 2005-03-02 | 東芝セラミックス株式会社 | シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボの製造方法 |
JP4138959B2 (ja) * | 1998-08-28 | 2008-08-27 | 信越石英株式会社 | シリコン単結晶引き上げ用大口径石英ガラスるつぼ及びその製造方法 |
JP4077952B2 (ja) * | 1998-09-04 | 2008-04-23 | コバレントマテリアル株式会社 | シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボの製造方法 |
JP2001302391A (ja) * | 2000-04-14 | 2001-10-31 | Toshiba Ceramics Co Ltd | Si単結晶引上げ用石英ガラスるつぼの製造方法 |
JP4592037B2 (ja) * | 2000-05-31 | 2010-12-01 | 信越石英株式会社 | 石英ガラスルツボの製造方法 |
EP1167309B1 (en) * | 2000-06-28 | 2006-10-18 | Japan Super Quartz Corporation | Synthetic quartz powder, its production process, and synthetic quartz crucible |
DE10114484C2 (de) | 2001-03-24 | 2003-10-16 | Heraeus Quarzglas | Verfahren für die Herstellung eines Komposit-Werkstoffs mit einem SiO¶2¶-Gehalt von mindestens 99 Gew.-%, und Verwendung des nach dem Verfahren erhaltenen Komposit-Werkstoffs |
DE10262015B3 (de) | 2002-09-20 | 2004-07-15 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Verfahren für die Herstellung eines opaken Quarzglas-Kompositwerkstoffs |
JP2004292211A (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Kuramoto Seisakusho Co Ltd | 石英ルツボの内面透明層形成方法 |
JP4339003B2 (ja) | 2003-04-02 | 2009-10-07 | ジャパンスーパークォーツ株式会社 | 石英ガラスルツボの製造方法 |
WO2004106247A1 (ja) * | 2003-05-30 | 2004-12-09 | Shin-Etsu Quartz Products Co., Ltd. | シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボ |
WO2009017071A1 (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-05 | Japan Super Quartz Corporation | 石英ガラスルツボの製造方法 |
JP2011088755A (ja) * | 2008-03-14 | 2011-05-06 | Japan Siper Quarts Corp | 石英ガラスルツボおよびその製造方法 |
DE102008026890B3 (de) * | 2008-06-05 | 2009-06-04 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Tiegels aus Quarzglas |
JP4907735B2 (ja) * | 2009-04-28 | 2012-04-04 | 信越石英株式会社 | シリカ容器及びその製造方法 |
KR101315684B1 (ko) * | 2009-05-26 | 2013-10-10 | 신에쯔 세끼에이 가부시키가이샤 | 실리카 용기 및 그 제조방법 |
JP4922355B2 (ja) * | 2009-07-15 | 2012-04-25 | 信越石英株式会社 | シリカ容器及びその製造方法 |
JP4951057B2 (ja) * | 2009-12-10 | 2012-06-13 | 信越石英株式会社 | シリカ容器及びその製造方法 |
US8281620B1 (en) * | 2011-04-27 | 2012-10-09 | Japan Super Quartz Corporation | Apparatus for manufacturing vitreous silica crucible |
CN103649383B (zh) * | 2012-03-23 | 2016-08-17 | 信越石英株式会社 | 单晶硅提拉用二氧化硅容器及其制造方法 |
-
2009
- 2009-08-05 JP JP2009182610A patent/JP4951040B2/ja active Active
-
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2014
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004262690A (ja) | 2003-02-28 | 2004-09-24 | Shinetsu Quartz Prod Co Ltd | シリコン単結晶引上げ用石英ガラスルツボの製造方法および該製造方法で製造された石英ガラスルツボ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20130925 Patent event code: PR07011E01D |
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PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160831 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
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