KR101137865B1 - 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 박막트랜지스터 기판 - Google Patents
박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 박막트랜지스터 기판 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101137865B1 KR101137865B1 KR1020050053714A KR20050053714A KR101137865B1 KR 101137865 B1 KR101137865 B1 KR 101137865B1 KR 1020050053714 A KR1020050053714 A KR 1020050053714A KR 20050053714 A KR20050053714 A KR 20050053714A KR 101137865 B1 KR101137865 B1 KR 101137865B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- thin film
- active layer
- film transistor
- substrate
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/67—Thin-film transistors [TFT]
- H10D30/6729—Thin-film transistors [TFT] characterised by the electrodes
- H10D30/6737—Thin-film transistors [TFT] characterised by the electrodes characterised by the electrode materials
- H10D30/6739—Conductor-insulator-semiconductor electrodes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/67—Thin-film transistors [TFT]
- H10D30/6757—Thin-film transistors [TFT] characterised by the structure of the channel, e.g. transverse or longitudinal shape or doping profile
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D62/00—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
- H10D62/10—Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
- H10D62/117—Shapes of semiconductor bodies
- H10D62/118—Nanostructure semiconductor bodies
- H10D62/119—Nanowire, nanosheet or nanotube semiconductor bodies
- H10D62/121—Nanowire, nanosheet or nanotube semiconductor bodies oriented parallel to substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D86/00—Integrated devices formed in or on insulating or conducting substrates, e.g. formed in silicon-on-insulator [SOI] substrates or on stainless steel or glass substrates
- H10D86/01—Manufacture or treatment
- H10D86/021—Manufacture or treatment of multiple TFTs
- H10D86/0241—Manufacture or treatment of multiple TFTs using liquid deposition, e.g. printing
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/67—Thin-film transistors [TFT]
- H10D30/674—Thin-film transistors [TFT] characterised by the active materials
- H10D30/6755—Oxide semiconductors, e.g. zinc oxide, copper aluminium oxide or cadmium stannate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/902—Specified use of nanostructure
- Y10S977/932—Specified use of nanostructure for electronic or optoelectronic application
- Y10S977/936—Specified use of nanostructure for electronic or optoelectronic application in a transistor or 3-terminal device
- Y10S977/938—Field effect transistors, FETS, with nanowire- or nanotube-channel region
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
Description
Claims (11)
- 기판 위에 게이트라인 및 상기 게이트라인과 접속되는 게이트전극을 형성하는 단계와;상기 게이트라인 및 상기 게이트전극이 형성된 상기 기판 위에 게이트 절연물질을 전면 도포하는 단계와;전면 도포된 상기 게이트 절연물질을 패터닝하여 상기 기판 위에 박막 트랜지스터의 활성층이 형성될 영역과 대응되는 영역에 홈을 가지는 게이트 절연막을 형성하는 단계와;상기 게이트 절연막의 홈에 나노 와이어를 이용하여 상기 박막 트랜지스터의 활성층을 형성하는 단계와;상기 박막 트랜지스터의 활성층의 일측끝단에 접속되며 상기 게이트라인과 교차되는 데이터라인에 접속되는 소스전극 및 상기 박막 트랜지스터의 활성층의 타측끝단에 접속되어 상기 소스전극과 함께 상기 박막 트랜지스터의 채널부를 형성하며 상기 게이트라인과 상기 데이터라인의 교차구조로 마련되는 화소영역에 형성될 화소전극에 접속되는 드레인전극을 형성하는 단계와;상기 드레인전극 위에 컨택홀을 가지는 보호막을 형성하는 단계와;상기 컨택홀을 통하여 상기 드레인전극에 접속되는 상기 화소전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 홈을 가지는 게이트 절연막을 형성하는 단계는;상기 게이트 절연물질이 전면 도포된 상기 기판 상에 상기 박막 트랜지스터의 활성층이 형성될 영역과 대응되는 영역에 돌출부를 가지는 소프트몰드 또는 하드몰드를 정렬시키는 단계와;상기 소프트몰드 또는 하드몰드를 상기 게이트 절연물질에 접촉시키는 단계와;상기 소프트몰드 또는 하드몰드를 가압하여 상기 게이트 절연물질에 홈을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서,상기 게이트 절연물질은 무기 또는 유기 하이브리드 절연물질인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 박막 트랜지스터의 활성층을 형성하는 단계는,잉크젯을 이용하여 상기 게이트 절연막의 홈에 상기 나노 와이어를 도포하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.
- 제 4 항에 있어서,상기 나노 와이어는 에탄올 및 메탄올 등의 알코올계 용매에 용해되어 상기 잉크젯을 통하여 도포되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 박막 트랜지스터의 활성층을 형성하는 단계는,상기 상기 박막 트랜지스터의 활성층이 산화되는 것을 방지하기 위하여 상기 소스전극 및 드레인전극과 접속되는 상기 나노 와이어의 양끝단을 열처리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.
- 제 1 항에 있어서,상기 나노 와이어의 위치를 상기 게이트 절연막의 홈에 고정하는 고분자 절연막을 상기 박막 트랜지스터의 활성층 위에 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판의 제조방법.
- 기판과;상기 기판 위에 게이트라인 및 상기 게이트라인과 접속되는 게이트전극과;상기 기판 위에 박막 트랜지스터의 활성층이 형성될 영역과 대응되는 영역에 홈을 가지는 게이트 절연막과;상기 게이트 절연막의 홈에 나노 와이어를 이용하여 형성되는 상기 박막 트랜지스터의 활성층과;상기 박막 트랜지스터의 활성층의 일측끝단에 접속되며 상기 게이트라인과 교차되는 데이터라인에 접속되는 소스전극 및 상기 박막 트랜지스터의 활성층의 타측끝단에 접속되어 상기 소스전극과 함께 상기 박막 트랜지스터의 채널부를 형성하며 상기 게이트라인과 상기 데이터라인의 교차구조로 마련되는 화소영역에 형성될 화소전극에 접속되는 드레인전극과;상기 드레인전극 위에 컨택홀을 가지는 보호막과;상기 컨택홀을 통하여 상기 드레인전극에 접속되는 상기 화소전극을 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판.
- 제 8 항에 있어서,상기 게이트 절연막은 무기 또는 유기 하이브리드 절연막인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판.
- 제 8 항에 있어서,상기 나노 와이어는 에탄올 및 메탄올 등의 알코올계 용매에 용해되어 잉크젯을 통하여 상기 게이트 절연막의 홈에 도포되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판.
- 제 8 항에 있어서,상기 박막 트랜지스터의 활성층 위에 상기 나노 와이어의 위치를 상기 게이 트 절연막의 홈에 고정시키는 고분자 절연막을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터 기판.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050053714A KR101137865B1 (ko) | 2005-06-21 | 2005-06-21 | 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 박막트랜지스터 기판 |
US11/312,605 US7465612B2 (en) | 2005-06-21 | 2005-12-21 | Fabricating method for thin film transistor substrate and thin film transistor substrate using the same |
CNB2005101350018A CN100466206C (zh) | 2005-06-21 | 2005-12-23 | 薄膜晶体管基板及其制造方法 |
JP2005379395A JP4718999B2 (ja) | 2005-06-21 | 2005-12-28 | 薄膜トランジスタ基板の製造方法、および、液晶表示装置の薄膜トランジスタ製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050053714A KR101137865B1 (ko) | 2005-06-21 | 2005-06-21 | 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 박막트랜지스터 기판 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060133845A KR20060133845A (ko) | 2006-12-27 |
KR101137865B1 true KR101137865B1 (ko) | 2012-04-20 |
Family
ID=37572528
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050053714A Expired - Fee Related KR101137865B1 (ko) | 2005-06-21 | 2005-06-21 | 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 박막트랜지스터 기판 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7465612B2 (ko) |
JP (1) | JP4718999B2 (ko) |
KR (1) | KR101137865B1 (ko) |
CN (1) | CN100466206C (ko) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101157983B1 (ko) * | 2005-12-26 | 2012-06-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막 패턴의 제조방법 및 이를 이용한 평판표시소자의제조방법 |
JP4970997B2 (ja) | 2006-03-30 | 2012-07-11 | パナソニック株式会社 | ナノワイヤトランジスタの製造方法 |
US7838865B2 (en) * | 2006-12-22 | 2010-11-23 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method for aligning elongated nanostructures |
KR101366983B1 (ko) * | 2006-12-27 | 2014-02-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 제조방법 |
KR100852628B1 (ko) * | 2007-02-05 | 2008-08-18 | 연세대학교 산학협력단 | 1d 나노와이어 채널을 이용한 박막트랜지스터의 제조방법 |
KR101362138B1 (ko) * | 2007-03-07 | 2014-02-13 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시패널 및 그 제조방법 |
KR101407288B1 (ko) * | 2007-04-27 | 2014-06-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 그의 제조 방법 |
US8193526B2 (en) * | 2007-08-07 | 2012-06-05 | Panasonic Corporation | Transistor having an organic semiconductor with a hollow space |
EP2232528A4 (en) * | 2007-12-14 | 2015-06-17 | Oned Material Llc | METHOD FOR FORMING SUBSTRATE ELEMENTS |
US8018675B2 (en) * | 2008-03-06 | 2011-09-13 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head |
KR101532058B1 (ko) * | 2008-09-26 | 2015-06-29 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 제조용 절연막 패턴, 이의 제조 방법 및 이를 이용한 박막 트랜지스터 기판 제조 방법 |
JP4913190B2 (ja) * | 2009-09-24 | 2012-04-11 | 株式会社東芝 | 不揮発性記憶装置 |
KR101309263B1 (ko) * | 2010-02-19 | 2013-09-17 | 한국전자통신연구원 | 유기 박막 트랜지스터 및 그 형성방법 |
KR101357480B1 (ko) * | 2010-11-17 | 2014-02-03 | 샤프 가부시키가이샤 | 박막 트랜지스터 기판 및 이를 구비한 표시장치 그리고 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 |
JP5700291B2 (ja) * | 2011-03-24 | 2015-04-15 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタとその製造方法、および当該薄膜トランジスタを用いた画像表示装置 |
JP5853390B2 (ja) * | 2011-03-28 | 2016-02-09 | 凸版印刷株式会社 | 薄膜トランジスタ及びその製造方法並びに画像表示装置 |
CN103107065B (zh) * | 2011-11-15 | 2017-04-05 | 黄辉 | 一种基于纳米线有序排列的纳米线器件的制备方法 |
CN102403231B (zh) * | 2011-11-22 | 2014-09-03 | 复旦大学 | 使用纳米压印和接触式光刻制备硅纳米线晶体管的方法 |
TWI467307B (zh) * | 2012-02-10 | 2015-01-01 | E Ink Holdings Inc | 電泳顯示面板及其製作方法與電泳顯示裝置 |
CN103972296B (zh) * | 2013-01-31 | 2017-10-24 | 清华大学 | 薄膜晶体管 |
CN103165471A (zh) * | 2013-02-19 | 2013-06-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 薄膜晶体管及其制作方法和显示装置 |
CN103236442B (zh) | 2013-04-23 | 2016-12-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 薄膜晶体管及其制造方法、阵列基板、电子装置 |
TWI508305B (zh) | 2013-05-06 | 2015-11-11 | E Ink Holdings Inc | 主動元件 |
KR20150110961A (ko) | 2014-03-21 | 2015-10-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 |
CN104183648B (zh) * | 2014-07-25 | 2017-06-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板和显示装置 |
CN108091700A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-05-29 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 薄膜晶体管及其制造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030082649A (ko) * | 2002-04-17 | 2003-10-23 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 정전기 방지를 위한 박막트랜지스터 어레이 기판 및 그제조방법 |
KR20040016489A (ko) * | 2002-08-17 | 2004-02-25 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02224275A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-06 | Hitachi Ltd | 薄膜トランジスタ |
JP2726786B2 (ja) * | 1992-09-28 | 1998-03-11 | 株式会社フロンテック | 薄膜トランジスタと液晶表示装置および薄膜トランジスタの製造方法 |
KR100660813B1 (ko) * | 1999-12-31 | 2006-12-26 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 엑스레이 디텍터용 어레이기판 제조방법 |
KR100803177B1 (ko) * | 2001-05-14 | 2008-02-14 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 |
US7569153B2 (en) * | 2002-05-23 | 2009-08-04 | Lg Display Co., Ltd. | Fabrication method of liquid crystal display device |
JP2007515776A (ja) * | 2003-05-20 | 2007-06-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 半導体構成用の構造およびその製造方法 |
JP2005045188A (ja) * | 2003-07-25 | 2005-02-17 | Fuji Xerox Co Ltd | 電子素子、集積回路およびその製造方法 |
US7365395B2 (en) * | 2004-09-16 | 2008-04-29 | Nanosys, Inc. | Artificial dielectrics using nanostructures |
US7405129B2 (en) * | 2004-11-18 | 2008-07-29 | International Business Machines Corporation | Device comprising doped nano-component and method of forming the device |
KR101109623B1 (ko) * | 2005-04-07 | 2012-01-31 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막트랜지스터와 그 제조방법. |
-
2005
- 2005-06-21 KR KR1020050053714A patent/KR101137865B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2005-12-21 US US11/312,605 patent/US7465612B2/en active Active
- 2005-12-23 CN CNB2005101350018A patent/CN100466206C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-12-28 JP JP2005379395A patent/JP4718999B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030082649A (ko) * | 2002-04-17 | 2003-10-23 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 정전기 방지를 위한 박막트랜지스터 어레이 기판 및 그제조방법 |
KR20040016489A (ko) * | 2002-08-17 | 2004-02-25 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1885509A (zh) | 2006-12-27 |
JP2007005757A (ja) | 2007-01-11 |
CN100466206C (zh) | 2009-03-04 |
JP4718999B2 (ja) | 2011-07-06 |
US20060284181A1 (en) | 2006-12-21 |
US7465612B2 (en) | 2008-12-16 |
KR20060133845A (ko) | 2006-12-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101137865B1 (ko) | 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 및 이를 이용한 박막트랜지스터 기판 | |
US10303021B2 (en) | BOA liquid crystal display panel and manufacturing method thereof | |
US7923287B2 (en) | Thin film transistor substrate having transparent conductive metal and method of manufacturing the same | |
KR101050292B1 (ko) | 박막트랜지스터 어레이 기판의 제조방법 | |
CN101097371B (zh) | 制造用于平板显示器件的薄膜晶体管的方法 | |
US7986382B2 (en) | Method of manufacturing a liquid crystal display having top gate thin film transistors wherein each gate electrode contacts an auxiliary electrode | |
US8735870B2 (en) | Organic thin film transistor and method for manufacturing the same | |
US8043550B2 (en) | Manufacturing method of display device and mold therefor | |
KR20080091638A (ko) | 액정표시장치 및 그의 제조방법 | |
KR20110004307A (ko) | 액정표시장치용 어레이 기판 및 이의 제조 방법 | |
CN106229347A (zh) | 一种低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法 | |
US7295256B2 (en) | Method for forming pattern of liquid crystal display device and method for fabricating thin film transistor array substrate of liquid crystal display device using the same | |
US20100020258A1 (en) | Thin film transistor substrate, method of manufacturing thereof and liquid crystal display device | |
US8420302B2 (en) | Method of fine patterning a thin film and method of manufacturing a display substrate using the method | |
US20190081179A1 (en) | Thin film transistor, method for fabricating the same, array substrate, and display device | |
US7179697B2 (en) | Method of fabricating an electronic device | |
KR101310911B1 (ko) | 평판 표시장치용 폴리실리콘 박막 트랜지스터 기판의제조방법 | |
KR101087242B1 (ko) | 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 소자 및 그의 제조 방법 | |
US11177356B2 (en) | Thin film transistor, array substrate, display apparatus, and method of fabricating thin film transistor | |
KR101366983B1 (ko) | 액정표시장치 제조방법 | |
US20060258033A1 (en) | Active matrix substrate and method for fabricating the same | |
KR100459211B1 (ko) | 폴리실리콘 박막트랜지스터 및 그 제조방법 그리고, 이를적용한 액정표시소자의 제조방법 | |
US6842201B2 (en) | Active matrix substrate for a liquid crystal display and method of forming the same | |
KR20080042288A (ko) | 패턴 형성 방법 및 이에 의해 제조된 액정 표시 장치 | |
KR20050065819A (ko) | 박막트랜지스터 어레이 기판의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20050621 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20100609 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20050621 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20110818 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20120321 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20120412 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20120413 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160329 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160329 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170320 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170320 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190318 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190318 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200319 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210315 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20230123 |