KR101118650B1 - 도전성 박막의 무손상 저항 균일성 평가 장치 - Google Patents
도전성 박막의 무손상 저항 균일성 평가 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101118650B1 KR101118650B1 KR1020100139416A KR20100139416A KR101118650B1 KR 101118650 B1 KR101118650 B1 KR 101118650B1 KR 1020100139416 A KR1020100139416 A KR 1020100139416A KR 20100139416 A KR20100139416 A KR 20100139416A KR 101118650 B1 KR101118650 B1 KR 101118650B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrode
- measuring
- voltage
- substrate
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000011077 uniformity evaluation Methods 0.000 title description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 72
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 64
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 새롭게 안출된 도전성 박막의 저항 균일성을 측정하기 위한 장치를 제공한다. 상기 저항 균일성 측정 장치는, 기판; 상기 기판의 전면에 형성되며 전압 측정용으로 사용하기 위한 다수의 전압 측정용 전극; 상기 기판의 전면에 형성되며 상기 전압 측정용 전극의 전원 공급용으로 사용하기 위한 둘 이상의 전원 공급용 전극; 상기 기판의 전면에 형성된 전극들과 상기 도전성 박막의 전극을 압력을 가하여 접촉시키는 가압롤러; 상기 전압 측정용 전극에 연결되어 전압을 측정하는 전압 측정 장치; 및 상기 전원 공급용 전극에 연결되어 전원을 공급하는 전원 공급 장치;를 포함한다. 상기 저항 균일성 측정장치는 상기 전압 측정용 전극의 전압을 측정함으로써 도전성 박막의 전기적 특성을 검사할 수 있다.
Description
도 2는 박막의 전극이 형성된 기판과 가압롤러를 이용한 저항 균일성 평가 장비의 구성을 설명하기 위한 개념도이다.
도 3은 도 2의 개념도를 입체적으로 나타낸 것이다. 점선은 기판의 전면(204a)에 형성된 전원 공급용 전극(203b)의 위치를 표시한 것이다. 전압 측정용 전극(203a)의 위치는 표시하지 않았다.
도 4는 측정을 위해 기판에 형성된 박막의 전극 구조에 대한 개념도이다.
도 5는 측정 기판에 전압 공급기의 연결과 전압 측정 장치의 연결도이다.
도 6은 측정된 출력 전압을 도표로 나타내어 시각적으로 균일성을 평가하는 예이다.
103 4 탐침방식 저항 측정기 104 평탄기판
105 수직방향 축이동 이송장치 201 가압롤러
202 측정 대상 전도성 박막 203 전압 측정용 및 전원 공급용 전극
203a 전압 측정용 전극 203b 전원 공급용 전극
204 기판 205 전압 측정 장치
206 전원 공급 장치 207 롤러 이송 방향
208a 이송 시작점 208b 이송 종료점
x 롤러의 길이 y 전원 공급용 전원 사이의 간격
Claims (11)
- 도전성 박막의 저항 균일성을 측정하기 위한 장치에 있어서,
기판;
상기 기판의 전면에 형성되며 전압 측정용으로 사용하기 위한 다수의 전압 측정용 전극;
상기 기판의 전면에 형성되며 상기 전압 측정용 전극의 전원 공급용으로 사용하기 위한 둘 이상의 전원 공급용 전극;
상기 기판의 전면에 형성된 전극들과 상기 도전성 박막의 전극을 압력을 가하여 접촉시키는 가압롤러;
상기 전압 측정용 전극에 연결되어 전압을 측정하는 전압 측정 장치; 및
상기 전원 공급용 전극에 연결되어 전원을 공급하는 전원 공급 장치;
를 포함하고,
상기 전압 측정용 전극의 전압을 측정하여 도전성 박막의 전기적 특성을 검사하는 저항 균일성 측정 장치. - 제1항에 있어서,
상기 전압 측정용 및 전원 공급용 전극은 선모양인 것을 특징으로 하는 것인, 저항 균일성 측정 장치. - 제2항에 있어서,
상기 전압 측정용 전극 및 전원 공급용 전극은 기판의 전면에 이격되어 평행하게 형성되는 것을 특징으로 하는 것인, 저항 균일성 측정 장치. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 가압롤러는 상기 전극의 형성 방향과 평행한 방향으로 이동하면서 상기 기판을 연속적으로 가압하는 것을 특징으로 하는 것인, 저항 균일성 측정 장치. - 제4항에 있어서,
상기 가압롤러는 가압시 기판에 이격되어 형성된 상기 전압 측정용 전극 및 전원 공급용 전극 모두를 동시에 가압하는 것을 특징으로 하는 것인, 저항 균일성 측정 장치. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 전압 측정 장치는 입력된 전압값을 도표화하여 표시하는 출력장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 것인, 저항 균일성 측정 장치. - 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 전원 공급용 전극의 단면적은 상기 전압 측정용 전극에 비해 넓은 것을 특징으로 하는 것인, 저항 균일성 측정 장치. - (S1) 다수의 전극이 형성된 기판을 제공하는 단계;
(S2) 기판에 형성된 전극과 측정 대상 도전성 박막의 전극이 마주보도록 상기 기판에 도전성 박막을 배치하는 단계;
(S3) 상기 기판에 형성된 전극과 도전성 박막의 전극이 접촉하도록 가압롤러로 가압하는 단계;
(S4) 상기 기판의 전면에 형성된 전극에 전원 공급 장치를 통해 전원을 공급하는 단계;
(S5) 상기 가압롤러가 압력을 유지하며 상기 전극의 한쪽 말단인 이송 시작점에서 상기 전극의 다른 말단인 이송 종료점까지 이송되는 단계; 및
(S6) 상기 기판에 형성된 각의 전극에 대한 전압이 측정되는 단계;
를 포함하며,
상기 기판에 형성된 전극을 통해 전원이 공급되며 상기 가압롤러의 가압으로 인해 상기 기판과 상기 도전성 박막이 전기적으로 연결되는 것인 도전성 박막의 저항 균일성 측정 방법. - 제8항에 있어서,
(S6)의 전압을 측정하는 단계는 롤러가 가압을 유지하며 이송됨에 따라 각 전극에서 전압이 연속적으로 측정되는 것을 특징으로 하는 것인, 저항 균일성 측정 방법. - 제8항 또는 제9항에 있어서,
상기 (S1) 단계에서의 전극은 전압 측정용 전극 및 전원 공급용 전극으로 이루어지는 것인, 저항 균일성 측정 방법. - 제8항 또는 제9항에 있어서,
상기 (S1) 단계에서의 전극은 선모양인 것으로 각 전극이 서로 평행하게 이격되어 형성되는 것인, 저항 균일성 측정 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100139416A KR101118650B1 (ko) | 2010-12-30 | 2010-12-30 | 도전성 박막의 무손상 저항 균일성 평가 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100139416A KR101118650B1 (ko) | 2010-12-30 | 2010-12-30 | 도전성 박막의 무손상 저항 균일성 평가 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101118650B1 true KR101118650B1 (ko) | 2012-03-06 |
Family
ID=46141356
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100139416A Expired - Fee Related KR101118650B1 (ko) | 2010-12-30 | 2010-12-30 | 도전성 박막의 무손상 저항 균일성 평가 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101118650B1 (ko) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020062134A (ko) * | 2001-01-18 | 2002-07-25 | 삼성에스디아이 주식회사 | 가스 방전 표시장치의 제조 방법 및 가스 방전 표시장치제조용 시트 부착장치 |
KR20050115297A (ko) * | 2003-03-26 | 2005-12-07 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 전기 저항 측정용 커넥터, 전기 저항 측정용 커넥터 장치및 그 제조 방법 및 회로 기판의 전기 저항 측정 장치 및측정 방법 |
KR20060088853A (ko) * | 2005-02-02 | 2006-08-07 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전자 기기, 광학 패널, 검사 프로브, 검사 장치, 및 광학패널의 검사 방법 |
KR20080035126A (ko) * | 2006-10-18 | 2008-04-23 | 엘지전자 주식회사 | 전기 접촉 박막의 특성 측정용 구조물 및 그의 제조방법과 전기 접촉 박막의 특성 측정 장치 |
-
2010
- 2010-12-30 KR KR1020100139416A patent/KR101118650B1/ko not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020062134A (ko) * | 2001-01-18 | 2002-07-25 | 삼성에스디아이 주식회사 | 가스 방전 표시장치의 제조 방법 및 가스 방전 표시장치제조용 시트 부착장치 |
KR20050115297A (ko) * | 2003-03-26 | 2005-12-07 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 전기 저항 측정용 커넥터, 전기 저항 측정용 커넥터 장치및 그 제조 방법 및 회로 기판의 전기 저항 측정 장치 및측정 방법 |
KR20060088853A (ko) * | 2005-02-02 | 2006-08-07 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전자 기기, 광학 패널, 검사 프로브, 검사 장치, 및 광학패널의 검사 방법 |
KR20080035126A (ko) * | 2006-10-18 | 2008-04-23 | 엘지전자 주식회사 | 전기 접촉 박막의 특성 측정용 구조물 및 그의 제조방법과 전기 접촉 박막의 특성 측정 장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11620024B2 (en) | Touch screen sensor | |
CN100573432C (zh) | 多点电阻触摸屏 | |
CN103424623A (zh) | 电阻率量测装置 | |
US20100045264A1 (en) | Probe for temporarily electrically contacting a solar cell | |
US8278561B2 (en) | Conductive pattern forming film, and conductive pattern forming method and conductive pattern forming apparatus for the conductive pattern forming film | |
US9513313B2 (en) | Method for inspecting electronic device and electronic device inspection apparatus | |
JP2005537498A5 (ko) | ||
EP1624309A4 (en) | BLADE-DIGIT PROBE, PROCESS FOR THEIR MANUFACTURE AND ITS APPLICATION | |
US10802063B2 (en) | Detection device and detection method | |
CN107680523B (zh) | 阵列基板十字线缺陷的检测方法 | |
US10332811B2 (en) | Film test structure and array substrate | |
US20210098735A1 (en) | Display device and test method for moisture blocking effect of display device | |
TWI491896B (zh) | 具複數檢測頭之陳列檢測裝置 | |
CN204666124U (zh) | 一体化板板面平整度检测装置 | |
KR101118650B1 (ko) | 도전성 박막의 무손상 저항 균일성 평가 장치 | |
CN105259709A (zh) | 阵列基板及液晶显示面板 | |
KR101087828B1 (ko) | 표면 저항 측정기 | |
CN206788515U (zh) | 一种测量装置、及测量系统 | |
KR20120066418A (ko) | 프로브 유닛 및 이를 이용한 박막 패턴의 검사 장치 | |
KR102707576B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판의 휘어짐 측정 방법 | |
CN103257466B (zh) | 显示板检测装置的连接头、显示板检测装置和方法 | |
US8269742B2 (en) | Manufacturing method of coordinate position detecting device | |
CN113823638A (zh) | 一种基于tft基板的快速电磁定位系统及方法 | |
KR20110098331A (ko) | 터치 센서 검사 장치 | |
KR101104784B1 (ko) | 반데르포우법을 이용한 전도성 박막의 면저항 측정장치 및 그 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20101230 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20120111 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20120214 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20120215 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150130 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20150130 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160126 Year of fee payment: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160126 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170119 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170119 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180109 Year of fee payment: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180109 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190201 Year of fee payment: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190201 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210215 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220214 Start annual number: 11 End annual number: 11 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230213 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20241125 |