KR101108516B1 - 비휘발성 저장 장치와 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (18)
- 조건(condition)이 있었음을 나타내는 상태 값을 비휘발성으로 저장하는 장치(100)에 있어서,비휘발성 저장 수단(110)과,공급 전압을 인가할 때 에너지를 저장하는 에너지 저장 수단(130, 140)과,상기 조건이 발생하면 상기 상태 값을 기록하기 위하여 상기 에너지 저장 수단(130, 140)을 상기 비휘발성 저장 수단(110)에 연결하도록 설계된 스위칭 수단(120, 150)을 포함하며,상기 에너지 저장 수단(130, 140)에 저장된 상기 에너지는 외부 에너지 공급 없이 상기 상태 값을 기록하는데 충분한비휘발성 저장 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 조건은 상기 공급 전압이 기설정 값 아래로 떨어지면 존재하는비휘발성 저장 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 조건은 상기 공급 전압이 기설정 값 아래로 떨어지고 예측되는 스위치-오프를 나타내는 신호가 없으면 존재하는비휘발성 저장 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 스위칭 수단(120, 150)은 상기 공급 전압으로부터 유도된 전압이 인가되는 제어 단자를 포함하는비휘발성 저장 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 조건이 존재하면 상기 스위칭 수단(120, 150)을 위한 제어 신호를 발생하는 수단(175)을 포함하며, 상기 제어 신호는 상기 비휘발성 저장 수단(110)을 상기 에너지 저장 수단(130, 140)에 연결하기 위해 상기 스위칭 수단(120, 150)을 제어하는비휘발성 저장 장치.
- 조건이 있었음을 나타내는 상태 값을 비휘발성으로 저장하는 장치(100)에 있어서,비휘발성 저장 수단(110)과,공급 전압을 인가할 때 에너지를 저장하는 에너지 저장 수단(130, 140)과,상기 조건이 발생하면 상기 상태 값을 기록하기 위하여 상기 에너지 저장 수단(130, 140)을 상기 비휘발성 저장 수단(110)에 연결하도록 설계된 스위칭 수단(120, 150)을 포함하며,상기 에너지 저장 수단(130, 140)은 상기 스위칭 수단(120, 150)의 단자와 기준 전위와의 사이에 연결된 캐패시터(170, 170') 및 상기 캐패시터를 충전하기 위한 상기 에너지 저장 수단(130, 140)의 전압 단자와 상기 캐패시터(170, 170')와의 사이에 연결된 다이오드(160, 160')를 포함하는비휘발성 저장 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 스위칭 수단(120, 150)은 트랜지스터(180, 190)를 포함하는비휘발성 저장 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 스위칭 수단(120, 150)은 증보형 PMOS 트랜지스터(180, 190)를 포함하는비휘발성 저장 장치.
- 조건이 있었음을 나타내는 상태 값을 비휘발성으로 저장하는 장치(100)에 있어서,비휘발성 저장 수단(110)과,공급 전압을 인가할 때 에너지를 저장하는 에너지 저장 수단(130, 140)과,상기 조건이 발생하면 상기 상태 값을 기록하기 위하여 상기 에너지 저장 수단(130, 140)을 상기 비휘발성 저장 수단(110)에 연결하도록 설계된 스위칭 수단(120, 150)을 포함하고,상기 에너지 저장 수단(130, 140)은 제 1 에너지 저장 수단(130)과 제 2 에너지 저장 수단(140)으로 분할되며, 상기 스위칭 수단(120, 150)은 제 1 스위치(120)와 제 2 스위치(150)를 포함하고, 상기 제 1 스위치는 상기 제 1 에너지 저장 수단(130)을 상기 비휘발성 저장 수단(110)에 연결하도록 설계되며, 상기 제 2 스위치는 상기 제 2 에너지 저장 수단(140)을 상기 비휘발성 저장 수단(110)에 연결하도록 설계되는비휘발성 저장 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 장치(100)는 지연 수단에 연결되고, 상기 지연 수단은 상기 장치(100)가 연결된 프로세서 수단의 재시작을 지연시키도록 설계되어 있는비휘발성 저장 장치.
- 제 2 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 비휘발성 저장 수단(110)은 열전하 캐리어(hot charge carriers) 또는 포울러-노드하임(Fowler-Nordheim) 터널링 효과에 의해 프로그램가능하도록 설계된 EEPROM 셀(110), 또는 에너지를 낮춤으로써 프로그램가능하도록 설계된 고속 비휘발성 메모리 셀을 포함하는비휘발성 저장 장치.
- 제 2 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 장치(100)는 카운터 및 카운터 제어 수단에 연결되며, 상기 카운터 제어 수단은 상기 상태 값에 따라 상기 카운터를 증가시키거나 또는 감소시키도록 설계된비휘발성 저장 장치.
- 조건이 있었음을 나타내는 상태 값을 비휘발성으로 저장하는 장치(100)에 있어서,비휘발성 저장 수단(110)과,공급 전압을 인가할 때 에너지를 저장하는 에너지 저장 수단(130, 140)과,상기 조건이 발생하면 상기 상태 값을 기록하기 위하여 상기 에너지 저장 수단(130, 140)을 상기 비휘발성 저장 수단(110)에 연결하도록 설계된 스위칭 수단(120, 150)을 포함하되,상기 비휘발성 저장 수단(110)은 열전하 캐리어 또는 포울러-노드하임 터널링 효과에 의해 프로그램가능하도록 설계된 EEPROM 셀(110), 또는 에너지를 낮춤으로써 프로그램가능하도록 설계된 고속 비휘발성 메모리 셀을 포함하고,상기 장치(100)는 카운터 및 카운터 제어 수단에 연결되며, 상기 카운터 제어 수단은 상기 상태 값에 따라 상기 카운터를 증가시키거나 또는 감소시키도록 설계되며,상기 에너지 저장 수단(130, 140)에 저장된 상기 에너지는 외부 에너지 공급 없이 상기 상태 값을 기록하는데 충분한비휘발성 저장 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 카운터 제어 수단은, 상기 카운터의 계수가 기설정 조건을 만족하는 경우, 상기 장치(100), 상기 카운터 및 상기 카운터 제어 수단을 포함하는 프로세서 수단을 차단하도록 설계되는비휘발성 저장 장치.
- 조건이 있었음을 나타내는 상태 값을 비휘발성으로 저장하는 방법에 있어서,공급 전압이 인가될 때 에너지 저장 수단(130, 140)에 에너지를 저장하는 단계와,상기 조건이 발생하면 상기 상태 값을 비휘발성 저장 수단(110)에 기록하기 위하여 상기 에너지 저장 수단(130, 140)을 상기 비휘발성 저장 수단(110)에 연결하는 단계를 포함하며,상기 에너지 저장 수단(130, 140)에 저장된 상기 에너지는 외부 에너지 공급 없이 상기 상태 값을 기록하는데 충분한비휘발성 저장 방법.
- 제 15 항에 있어서,상기 조건은 공급 전압이 기설정 값 아래로 떨어지면 존재하는비휘발성 저장 방법.
- 제 15 항에 있어서,상기 조건은 공급 전압이 기설정 값 아래로 떨어지고 예측되는 스위치-오프 를 나타내는 신호가 없으면 존재하는비휘발성 저장 방법.
- 제 16 항 또는 제 17 항에 있어서,상기 비휘발성 저장 수단(110)은 열전하 캐리어 또는 포울러-노드하임 터널링 효과에 의해 프로그램가능하도록 설계된 EEPROM 셀(110), 또는 에너지를 낮춤으로써 프로그램가능하도록 설계된 고속 비휘발성 메모리 셀을 포함하는비휘발성 저장 방법.
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Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008084016A1 (fr) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Proton World International N.V. | Protection d'informations contenues dans un circuit electronique |
WO2008084018A1 (fr) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Proton World International N.V. | Verrouillage temporaire d'un circuit electronique |
WO2008084017A1 (fr) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Proton World International N.V. | Limitation d'acces a une ressource d'un circuit electronique |
FR2924262B1 (fr) * | 2007-11-26 | 2009-12-11 | Sagem Securite | Procede de masquage de passage en fin de vie d'un dispositif electronique et dispositif comportant un module de controle correspondant |
US20100013631A1 (en) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | Infineon Technologies Ag | Alarm recognition |
US8274828B2 (en) * | 2010-12-15 | 2012-09-25 | Fs Semiconductor Corp., Ltd. | Structures and methods for reading out non-volatile memory using referencing cells |
US8670277B2 (en) * | 2011-07-27 | 2014-03-11 | Infineon Technologies Ag | Memory and method for programming memory cells |
US9577009B1 (en) | 2015-11-13 | 2017-02-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | RRAM cell with PMOS access transistor |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06244384A (ja) * | 1993-02-19 | 1994-09-02 | Sony Corp | Dramセルと不揮発性メモリセルが複合された複合メモリセル及びその作製方法 |
US20030005315A1 (en) * | 2000-01-19 | 2003-01-02 | Helmut Horvat | Integrated security circuit |
KR100471147B1 (ko) * | 2002-02-05 | 2005-03-08 | 삼성전자주식회사 | 보안 기능을 갖는 반도체 집적 회로 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4777626A (en) * | 1984-12-22 | 1988-10-11 | Tokyo Electric Co., Ltd. | Memory device having backup power supply |
JPS63316191A (ja) | 1987-06-19 | 1988-12-23 | Fanuc Ltd | Icカ−ドの寿命管理装置 |
US4962484A (en) * | 1988-01-25 | 1990-10-09 | Hitachi, Ltd. | Non-volatile memory device |
US5691947A (en) * | 1992-12-18 | 1997-11-25 | Motorola Inc. | Multiplexed programming voltage and status over single conductor |
JP3151123B2 (ja) * | 1995-04-24 | 2001-04-03 | シャープ株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
DE19610070A1 (de) * | 1996-03-14 | 1997-09-18 | Siemens Ag | Chipkarte |
AT408925B (de) * | 1996-10-22 | 2002-04-25 | Posch Reinhard Dr | Anordnung zum schutz von elektronischen recheneinheiten, insbesondere von chipkarten |
DE19818830A1 (de) | 1998-04-27 | 1999-10-28 | Deutsche Telekom Mobil | Verfahren und Anordnung zur Verhinderung der mißbräuchlichen Verwendung der auf einem Chipkarten-Interface vorhandenen Authentifizierungsprozeduren |
JP4439683B2 (ja) * | 1999-06-03 | 2010-03-24 | 三星電子株式会社 | リダンダンシ選択回路を備えたフラッシュメモリ装置及びテスト方法 |
US6598165B1 (en) | 1999-06-18 | 2003-07-22 | Phoenix Technologies Ltd. | Secure memory |
DE19942437A1 (de) * | 1999-09-06 | 2001-03-15 | Giesecke & Devrient Gmbh | Selbstlöschende Speicherzelle |
DE19947574A1 (de) | 1999-10-01 | 2001-04-12 | Giesecke & Devrient Gmbh | Verfahren zur Sicherung eines Datenspeichers |
JP3604991B2 (ja) * | 2000-03-14 | 2004-12-22 | Necエレクトロニクス株式会社 | 低電源電圧検知回路 |
US6426910B1 (en) * | 2000-08-30 | 2002-07-30 | Micron Technology, Inc. | Enhanced fuse configurations for low-voltage flash memories |
JP3875153B2 (ja) | 2002-07-04 | 2007-01-31 | Necエレクトロニクス株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置およびその書き換え禁止制御方法 |
KR20040044023A (ko) * | 2002-11-20 | 2004-05-27 | 엘지엔시스(주) | 메모리 데이터 관리장치 및 방법 |
KR20040091205A (ko) | 2003-04-19 | 2004-10-28 | 엘지전자 주식회사 | 다채널 유체 조작 장치 |
DE10327285A1 (de) | 2003-06-17 | 2005-01-13 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung |
KR100560665B1 (ko) * | 2003-07-02 | 2006-03-16 | 삼성전자주식회사 | 독출 방지 기능을 갖는 반도체 메모리 장치 |
JP2005243143A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-09-08 | Pioneer Electronic Corp | 情報記録装置、情報再生装置、情報記録方法及び情報記録プログラム |
-
2005
- 2005-11-29 DE DE102005056940.4A patent/DE102005056940B4/de active Active
-
2006
- 2006-11-29 US US11/564,695 patent/US7660169B2/en active Active
- 2006-11-29 KR KR1020060119253A patent/KR100883457B1/ko active Active
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2008
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06244384A (ja) * | 1993-02-19 | 1994-09-02 | Sony Corp | Dramセルと不揮発性メモリセルが複合された複合メモリセル及びその作製方法 |
US20030005315A1 (en) * | 2000-01-19 | 2003-01-02 | Helmut Horvat | Integrated security circuit |
KR100471147B1 (ko) * | 2002-02-05 | 2005-03-08 | 삼성전자주식회사 | 보안 기능을 갖는 반도체 집적 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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KR20070057032A (ko) | 2007-06-04 |
DE102005056940A1 (de) | 2007-06-06 |
DE102005056940B4 (de) | 2016-06-30 |
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