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KR101012795B1 - 박막 트랜지스터 표시판 및 그의 제조 방법 - Google Patents

박막 트랜지스터 표시판 및 그의 제조 방법 Download PDF

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KR101012795B1
KR101012795B1 KR1020030088082A KR20030088082A KR101012795B1 KR 101012795 B1 KR101012795 B1 KR 101012795B1 KR 1020030088082 A KR1020030088082 A KR 1020030088082A KR 20030088082 A KR20030088082 A KR 20030088082A KR 101012795 B1 KR101012795 B1 KR 101012795B1
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삼성전자주식회사
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Abstract

본 발명의 실시예에 따른 박막 트랜지스터 표시판은 절연 기판, 절연 기판 위에 형성되어 있는 차단막, 차단막 위에 형성되어 있으며 소스 영역, 채널 영역 및 드레인 영역을 가지는 다결정 규소층, 다결정 규소층 위에 형성되어 있는 게이트 절연막, 게이트 절연막 위에 형성되어 있으며 채널 영역과 중첩하는 게이트 전극을 가지는 게이트선, 게이트선 위에 형성되어 있는 제1 층간 절연막, 제1 층간 절연막 위에 형성되며 소스 영역과 전기적으로 연결되는 소스 전극을 가지는 데이터선, 제1 층간 절연막 위에 형성되며 드레인 영역과 전기적으로 연결되는 드레인 전극, 데이터선 및 드레인 전극 위에 형성되어 있는 제2 층간 절연막, 제2 층간 절연막 위에 형성되며 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극을 포함하고, 차단막은 PSG막을 가진다.
박막트랜지스터, 차단막, PSG막, 산화규소막

Description

박막 트랜지스터 표시판 및 그의 제조 방법{Thin film transistor array panel and Manufacturing method thereof}
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고,
도 2는 도 1의 박막 트랜지스터 표시판을 II-II' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,
도 3은 각각 도 1 및 도 2에 도시한 박막 트랜지스터 표시판을 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법의 중간 단계에서의 단면도이고,
도 4, 도 6, 도 10, 도 12 및 도 14는 각각 도 1 및 도 2에 도시한 박막 트랜지스터 표시판을 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법의 중간 단계에서의 배치도로서, 공정 순서대로 나열한 도면이고,
도 5는 도 4의 박막 트랜지스터 표시판을 V-V' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,
도 7은 도 6의 박막 트랜지스터 표시판을 VII-VII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,
도 8은 도 6의 박막 트랜지스터 표시판을 VII-VII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도로서 도 7 다음 단계에서의 도면이고,
도 9는 도 6의 박막 트랜지스터 표시판을 VII-VII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도로서 도 7 다음 단계에서의 도면이고,
도 11은 도 10의 박막 트랜지스터 표시판을 XI-XI' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,
도 13은 도 12의 박막 트랜지스터 표시판을 XIII-XIII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고,
도 15는 도 14의 박막 트랜지스터 표시판을 XV-XV' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
본 발명은 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법에 관한 것으로 특히 반도체층으로 다결정 규소를 이용한 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법에 관한 것이다.
박막 트랜지스터 표시판(Thin Film Transistor, TFT)은 액정 표시 장치나 유기 EL(Electro Luminescence) 표시 장치 등에서 각 화소를 독립적으로 구동하기 위한 회로 기판으로써 사용된다. 박막 트랜지스터 표시판은 주사 신호를 전달하는 주사 신호선 또는 게이트선과 화상 신호를 전달하는 화상 신호선 또는 데이터선이 형성되어 있고, 게이트선 및 데이터선과 연결되어 있는 박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터와 연결되어 있는 화소 전극 등을 포함하고 있다.
박막 트랜지스터는 게이트선에 연결되어 있는 게이트 전극과 채널을 형성하는 반도체층, 데이터선에 연결되어 있는 소스 전극과 반도체층을 중심으로 소스 전 극과 마주하는 드레인 전극 등으로 이루어진다. 박막 트랜지스터는 게이트선을 통하여 전달되는 주사 신호에 따라 데이터선을 통하여 화소 전극에 전달되는 화상 신호를 제어하는 스위칭 소자이다. 이때, 박막 트랜지스터 표시판에 형성되어 있는 박막 트랜지스터는 다결정 규소 또는 비정질 규소를 이용하여 형성할 수 있다.
다결정 규소를 이용한 박막 트랜지스터는 비정질 규소를 이용한 박막 트랜지스터에 비해서 전자 이동도가 크기 때문에 고속 구동을 할 수 있다. 또한, 박막 트랜지스터 표시판을 구동하기 위한 구동 회로를 별도의 회로로 부착하지 않고 박막 트랜지스터와 동일한 기판 위에 형성할 수 있는 장점이 있다.
종래 기술에 따른 박막 트랜지스터 표시판은 유리 따위로 이루어진 절연 기판과 다결정 규소층의 사이에 절연 기판과 다결정 규소층의 접착성을 향상시키며, 절연 기판 내부에 존재하는 도전성 불순물이 다결정 규소층으로 확산하는 것을 방지하기 위한 차단층이 위치한다. 차단층은 다결정 규소층과의 계면 특성이 우수한 산화규소(SiO2)로 이루어진다. 이때, 차단층은 절연 기판 내부에 존재하는 도전성 불순물이 다결정 규소층으로 확산하는 것을 방지하기 위해 5000~6000Å 정도의 두께로 두껍게 형성한다. 또한, 다결정 규소층을 차단층 위에 형성하기 전에 차단층 전체에 오존(O3)을 이용하여 세정하는 세정 공정을 더 포함하기도 한다.
그러나, 종래 기술에 의한 박막 트래지스터 표시판의 제조 방법은 절연 기판과 다결정 규소층 사이에 위치하는 차단층의 두께를 절연 기판 내부에 존재하는 도전성 불순물이 다결정 규소층으로 확산하는 것이 방지되게 충분히 두껍게 형성하기 때문에 차단층을 형성하기 위한 공정 시간이 길어진다.
또한, 절연 기판의 도전성 불순물이 차단층을 투과하여 차단층 표면에 존재하는 것을 방지하기 위해 차단층 전면에 오존을 이용한 세정 공정이 더 추가되어 박막 트랜지스터 표시판을 형성하기 위한 전체 공정 시간이 길어지게 되며, 그로 인하여 박막 트랜지스터 표시판의 제조 수율이 떨어진다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 박막 트랜지스터 표시판의 불량을 방지하는 동시에 제조 공정 시간을 단축시킬 수 있는 박막 트랜지스터 표시판 및 그의 제조 방법을 제공하는 것이다.
이러한 과제를 달성하기 위해 본 발명에서는 다음과 같은 박막 트랜지스터 표시판 및 그의 제조 방법을 마련한다.
보다 상세하게는 절연 기판, 절연 기판 위에 형성되어 있는 차단막, 차단막 위에 형성되어 있으며 소스 영역, 채널 영역 및 드레인 영역을 가지는 다결정 규소층, 다결정 규소층 위에 형성되어 있는 게이트 절연막, 게이트 절연막 위에 형성되어 있으며 채널 영역과 중첩하는 게이트 전극을 가지는 게이트선, 게이트선 위에 형성되어 있는 제1 층간 절연막, 제1 층간 절연막 위에 형성되며 소스 영역과 전기적으로 연결되는 소스 전극을 가지는 데이터선, 제1 층간 절연막 위에 형성되며 드레인 영역과 전기적으로 연결되는 드레인 전극, 데이터선 및 드레인 전극 위에 형성되어 있는 제2 층간 절연막, 제2 층간 절연막 위에 형성되며 드레인 전극과 연결 되어 있는 화소 전극을 포함하고, 차단막은 PSG막을 가지는 박막 트랜지스터 표시판을 마련한다.
여기서, 차단막은 제1막 및 제2막이 차례로 적층되어 있으며, 제1막은 PSG로 이루어지고, 제2막은 산화 규소로 이루어지는 것이 바람직하다.
또한 소스 영역과 채널 영역 사이 드레인 영역과 채널 영역 사이에 형성되어 있으며 도전형 불순물이 저농도로 도핑되어 있는 저농도 도핑 영역을 더 포함하는 것이 바람직하다.
다르게는 절연 기판 위에 PSG막 및 산화규소막을 차례로 적층하여 차단막 패턴을 형성하는 단계, 차단막 패턴 위에 다결정 규소층을 형성하는 단계, 다결정 규소막을 사진 식각하여 다결정 규소층을 형성하는 단계, 다결정 규소층 위에 게이트 절연막을 차례로 형성하는 단계, 게이트 절연막 위에 게이트 전극을 가지는 게이트선을 형성하는 단계, 다결정 규소층의 소정 영역에 도전형 불순물을 도핑하여 소스 영역, 드레인 영역 및 불순물이 도핑되지 않은 채널 영역을 형성하는 단계, 게이트선을 덮으며 제1 및 제2 접촉구를 가지는 제1 층간 절연막을 형성하는 단계, 제1 층간 절연막 위에 상기 제1 접촉구를 통해 소스 영역과 연결되는 소스 전극을 가지는 데이터선과 제2 접촉구를 통해 드레인 영역과 연결되는 드레인 전극을 형성하는 단계, 데이터선 및 드레인 전극을 덮으며 제3 접촉구를 가지는 제2 층간 절연막을 형성하는 단계, 제2 층간 절연막 위에 제3 접촉구를 통하여 드레인 전극과 연결되는 화소 전극을 형성하는 단계를 포함하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법을 마련한다.
또한 PSG막은 500Å 이하의 두께로 형성하는 것이 바람직하다.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 위에 있다고 할 때, 이는 다른 부분 바로 위에 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 바로 위에 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.
그러면 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 따른 박막 트랜지스터 표시판에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고, 도 2는 도 1의 박막 트랜지스터 표시판을 II-II' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 투명한 절연 기판(110) 위에 제1막(111p) 및 제2막(111q)이 차례로 적층되어 있는 이중막 구조의 차단막(111)이 형성되어 있다. 이때, 제1막(111p)은 500Å 이하의 두께로 형성되어 있으며, 제2막(111q)은 약 2000Å 정도의 두께로 형성되어 있다. 또한, 제1막(111p)은 금속 따위의 도전체와 결합력이 좋은 인(P)이 함유되어 있는 PSG(phosphorous silicate glass)막으로 이루어지고, 제2막(111q)은 후술하는 다결정 규소층과의 계면 특성이 우수한 산화 규소(SiO2)막으로 이루어진다.
그리고, 차단막(111) 위에 소스 영역(153), 드레인 영역(155) 및 채널 영역 (154)이 포함된 다결정 규소층(150)이 형성되어 있고, 다결정 규소층(150)을 포함하는 기판(110) 위에는 게이트 절연막(140)이 형성되어 있다.
게이트 절연막(140) 위에는 일 방향으로 긴 게이트선(121)이 형성되어 있고, 게이트선(121)의 일부가 연장되어 다결정 규소층(150)의 채널 영역(154)과 중첩되어 있으며, 중첩되는 게이트선(121)의 일부분은 박막 트랜지스터의 게이트 전극(124)으로 사용된다. 그리고 소스 영역(153)과 채널 영역(154) 사이, 드레인 영역(155)과 채널 영역(154) 사이에는 저농도 도핑 영역(152)이 형성되어 있다.
또한, 화소의 유지 용량을 증가시키기 위한 유지 전극선(131)이 게이트선 (121)과 평행하며, 동일한 물질로 동일한 층에 형성되어 있다. 다결정 규소층(150)과 중첩하는 유지 전극선(131)의 일 부분은 유지 전극(133)이 되며, 유지 전극(133)과 중첩하는 다결정 규소층(150)은 유지 전극 영역(157)이 된다. 게이트선(121)의 한쪽 끝부분은 외부 회로와 연결하기 위해서 게이트선(121) 폭보다 넓게 형성(도시하지 않음)할 수 있다.
게이트선(121) 및 유지 전극선(131)이 형성되어 있는 게이트 절연막(140) 위에 제1 층간 절연막(601)이 형성되어 있다. 제1 층간 절연막(601)은 소스 영역 (153)과 드레인 영역(155)을 각각 노출하는 제1 및 제2 접촉구(141, 142)를 포함하고 있다.
제1 층간 절연막(601) 위에 게이트선(121)과 교차하여 화소 영역을 정의하는 데이터선(171)이 형성되어 있다. 데이터선(171)의 일부분 또는 분지형 부분은 제1 접촉구(141)를 통해 소스 영역(153)과 연결되어 있으며 소스 영역(153)과 연결되어 있는 부분(173)은 박막 트랜지스터의 소스 전극으로 사용된다. 데이터선 (171)의 한쪽 끝부분은 외부 회로와 연결하기 위해서 데이터선(171) 폭보다 넓게 형성(도시하지 않음)할 수 있다.
그리고 데이터선(171)과 동일한 층에는 소스 전극(173)과 일정거리 떨어져 형성되어 있으며 제2 접촉구(142)를 통해 드레인 영역(155)과 연결되어 있는 드레인 전극(175)이 형성되어 있다.
드레인 전극(175) 및 데이터선(171)을 포함하는 제1 층간 절연막(601) 위에 제2 층간 절연막(602)이 형성되어 있다. 제2 층간 절연막(602)은 드레인 전극(173)을 노출하는 제3 접촉구(143)를 가진다.
제2 층간 절연막(602) 위에는 제3 접촉구(143)를 통해 드레인 전극(175)과 연결되어 있는 화소 전극(190)이 형성되어 있다.
이상 기술한 본 발명의 한 실시예에 따른 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 박막 트랜지스터 표시판의 배치도이고, 도 2는 도 1의 박막 트랜지스터 표시판을 II-II' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이 고, 도 3은 각각 도 1 및 도 2에 도시한 박막 트랜지스터 표시판을 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법의 중간 단계에서의 단면도이고, 도 4, 도 6, 도 10, 도 12 및 도 14는 각각 도 1 및 도 2에 도시한 박막 트랜지스터 표시판을 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법의 중간 단계에서의 배치도로서, 공정 순서대로 나열한 도면이고, 도 5는 도 4의 박막 트랜지스터 표시판을 V-V' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고, 도 7은 도 6의 박막 트랜지스터 표시판을 VII-VII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고, 도 8은 도 6의 박막 트랜지스터 표시판을 VII-VII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도로서 도 7 다음 단계에서의 도면이고, 도 9는 도 6의 박막 트랜지스터 표시판을 VII-VII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도로서 도 7 다음 단계에서의 도면이고, 도 11은 도 10의 박막 트랜지스터 표시판을 XI-XI' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고, 도 13은 도 12의 박막 트랜지스터 표시판을 XIII-XIII' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이고, 도 15는 도 14의 박막 트랜지스터 표시판을 XV-XV' 선을 따라 잘라 도시한 단면도이다.
먼저, 도 3에 도시한 바와 같이, 투명한 절연 기판(110) 위에 제1막(111p) 및 제2막(111q)이 차례로 형성되어 있는 이중막 구조를 가지는 차단막(111)을 형성한다. 이때 사용되는 투명 절연 기판(110)으로는 유리, 석영 또는 사파이어 등을 사용할 수 있으며, 절연 기판(110) 내부에는 칼슘(Ca) 또는 마그네슘(Mg) 따위의 도전성 불순물(도시하지 않음)이 존재한다.
차단막(111)은 먼저, PSG막으로 이루어진 제1막(111p)을 500Å 이하의 두께로 형성한 다음, 제1막(111p) 위에 산화 규소로 이루어진 제2막(111q)을 약 2000Å 두께로 형성하여 제1막(111p) 및 제2막(111q)이 차례로 적층되어 있는 이중막 구조로 형성한다. 이때, PSG막으로 이루어진 제1막(111p)은 산화 규소(SiO2) 및 산화 질소(NO2)와 금속 따위의 도전체와 결합력이 우수한 인(P)을 함유하는 PH3를 같이 흘려서 형성한다.
이어 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이, 차단막(111) 위에 비정질 규소를 증착하여 비정질 규소막(도시하지 않음)을 형성한다.
이후 비정질 규소막을 레이저 열처리(laser annealing), 노 열처리(furnace annealing) 또는 고상 결정화 공정을 통하여 비정질 규소를 결정화한 후 사진 식각 방법으로 패터닝하여 다결정 규소층(150)을 형성한다.
도 6 및 도 7에 도시한 바와 같이, 다결정 규소층(150) 위에 질화 규소 또는 산화 규소 등의 절연 물질을 증착하여 게이트 절연막(140)을 형성한다.
이후 게이트 절연막(140) 위에 몰리브덴 텅스텐 등의 금속 물질을 증착하여 게이트 도전층(도시하지 않음)을 형성한 다음 사진 식각 공정을 진행하여 다결정 규소층(150)과 일부분 중첩하는 게이트 전극(124)을 가지는 게이트선(121) 및 유지 전극(133)을 가지는 유지 전극선(131)을 형성한다.
도 8에 도시한 바와 같이, 그리고 게이트선(121) 및 유지 전극선(131)을 마스크로 다결정 규소층(150)에 N형 도전형 불순물을 저농도로 주입하여 저농도 도핑 영역(152)을 형성한다.
도 9에 도시한 바와 같이, 다결정 규소층(150)을 덮도록 감광막(도시하지 않음)을 형성한 후 패터닝하여 감광막 패턴(PR)을 형성한다. 여기서 감광막 패턴(PR)은 감광막 패턴의 가장자리가 게이트선(121)의 측벽을 덮는 형태로 형성한다. 따라서 게이트선(121) 및 유지 전극선(131)과 인접한 다결정 규소층(150)의 소정 부분이 노출되지 않도록 한다. 노광량은 형성한 감광막의 두께에 따라 노광 시간 및 광의 세기 등으로 조정한다.
이후 감광막 패턴(PR)을 마스크로 N형 불순물을 고농도로 도핑하여 소스 영역(153), 드레인 영역(155) 및 채널 영역(154)을 형성한다. 채널 영역(154)은 게이트 전극(123) 아래에 위치한 다결정 규소층(150)으로 불순물이 도핑되지 않으며 소스 영역(153)과 드레인 영역(155)을 분리한다. 그리고 저농도 도핑 영역(152)은 감광막 패턴(PR)에 의해 보호된 다결정 규소층(150)의 소정 부분으로, 소스 영역(153)과 채널 영역(154) 사이, 드레인 영역(155)과 채널 영역(154) 사이 및 유지 전극선(131)과 인접한 부분으로 축소된다.
또한, 다결정 규소층(150)과 유지 전극선(131)의 길이 및 폭의 차이 때문에 유지 전극선(131) 바깥에 노출되는 다결정 규소층(150A)이 생길 수 있다. 이들 영역도 도핑되어 있으며 유지 전극 영역(157)에 인접하며 드레인 영역(155)과는 분리되어 있다.
이어 도 10 및 도 11에 도시한 바와 같이, 다결정 규소층(150)을 덮도록 기판 전면에 절연 물질을 적층하여 제1 층간 절연막(601)을 형성한다. 이후 층간 절연막(601)에 사진 식각 방법으로 소스 영역(153)과 드레인 영역(155)을 노출하는 제1 접촉구(141) 및 제2 접촉구(142)를 형성한다.
도 12 및 도 13에 도시한 바와 같이, 제1 접촉구(141) 및 제2 접촉구(142) 내부를 포함하여 제1층간 절연막(601) 위에 데이터 도전막을 형성한 후 패터닝하여 데이터선(171)과 드레인 전극(175)을 형성한다. 데이터선(171)은 제1 접촉구(141)를 통해 소스 영역(153)과 연결하고, 드레인 전극(175)은 제2 접촉구(142)를 통해 드레인 영역(155)과 연결한다.
데이터선(171)은 알루미늄 또는 알루미늄 네오디뮴(AlND)과 같은 알루미늄 함유 금속의 단일층이나 알루미늄 합금층과 크롬(Cr)이나 몰리브덴(Mo) 합금층 등으로 이루어지는 복수층의 도전 물질을 증착하여 데이터 도전막을 형성한 후 사진 식각하여 형성한다.
도 14 및 도 15에 도시한 바와 같이, 데이터선(171) 및 드레인 전극(175)을 포함하여 제1층간 절연막(601) 위에 절연 물질을 적층하여 제2 층간 절연막(602)을 형성한다. 이후 제2 층간 절연막(602)에 사진 식각 방법으로 드레인 전극(175)을 노출하는 제3 접촉구(143)를 형성한다.
도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 제3 접촉구(143) 내부를 포함하는 제2 층간 절연막(602) 위에 투명한 물질인 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide) 등을 증착한 후, 이를 패터닝하여 화소 전극(190)과 게이트선 또는 데이터선의 한쪽 끝부분과 연결되는 접촉 보조 부재(도시하지 않음)를 형성한다. 화소 전극(190)은 제3 접촉구(143)를 통해 드레인 전극(175)과 연결한다. 접촉 보조 부재는 제1 및 2 층간 절연층(601, 602)에 걸쳐 형성되어 있는 제4 접촉구(도시하지 않음), 제1 및 제2층간 절연층(601, 102)과 게이트 절연막(140)에 걸쳐 형성되어 있는 제5 접촉구(도시하지 않음)을 통해 각각 데이터선(171) 및 게이트선(121)의 한쪽 끝부분과 연결한다.
앞서 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 차단막(111)은 칼슘(Ca) 또는 마그네슘(Mg) 따위의 도전성 불순물이 존재하는 절연 기판(110) 위에 먼저, 도전체와 결합력이 우수한 인(P)을 함유하는 PSG막을 이용하여 500Å 이하의 두께를 가지는 제1막을 형성한다. 그리고, 제1막 위에 다결정 규소층과의 계면 특성이 우수한 산화 규소로 이용하여 제2막을 형성할 때, 절연 기판 내에 존재하는 도전성 불순물이 다결정 규소층으로 확산하는 것을 제1막에서 차단하게 되어, 종래의 5000~6000Å의 두께로 형성하던 산화 규소막을 2000Å 정도의 두께로 낮출 수 있다. 따라서, 차단막의 전체 두께를 낮출 수 있게 되어 차단막을 형성하기 위한 공정 시간을 단축할 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따르면 절연 기판과 다결정 규소층 사이에 PSG막을 포함하는 차단막을 형성함으로써 차단막의 총 두께를 감소시켜 차단막을 형성하기 위한 공정 시간을 최소화할 수 있다.
또한, 차단막 형성 후에 별도로 진행하는 오존 세정 공정을 생략할 수 있어 전체 공정을 간소화할 수 있다.
따라서, 박막 트랜지스터 표시판의 제조 수율을 향상시킬 수 있다.

Claims (6)

  1. 절연 기판,
    상기 절연 기판 위에 형성되어 있는 차단막,
    상기 차단막 위에 형성되어 있으며 소스 영역, 채널 영역 및 드레인 영역을 가지는 다결정 규소층,
    상기 다결정 규소층 위에 형성되어 있는 게이트 절연막,
    상기 게이트 절연막 위에 형성되어 있으며 상기 채널 영역과 중첩하는 게이트 전극을 가지는 게이트선,
    상기 게이트선 위에 형성되어 있는 제1 층간 절연막,
    상기 제1 층간 절연막 위에 형성되며 상기 소스 영역과 전기적으로 연결되는 소스 전극을 가지는 데이터선,
    상기 제1 층간 절연막 위에 형성되며 상기 드레인 영역과 전기적으로 연결되는 드레인 전극,
    상기 데이터선 및 드레인 전극 위에 형성되어 있는 제2 층간 절연막,
    상기 제2 층간 절연막 위에 형성되며 상기 드레인 전극과 연결되어 있는 화소 전극을 포함하고,
    상기 차단막은 PSG막과 산화 규소막의 이중막으로 이루어지는 박막 트랜지스터 표시판.
  2. 삭제
  3. 제1항에서,
    상기 PSG막의 두께는 500Å 이하인 박막 트랜지스터 표시판.
  4. 제1항에서,
    상기 소스 영역과 채널 영역 사이 드레인 영역과 채널 영역 사이에 형성되어 있으며 도전형 불순물이 저농도로 도핑되어 있는 저농도 도핑 영역을 더 포함하는 박막 트랜지스터 표시판.
  5. 절연 기판 위에 차단막을 형성하는 단계,
    상기 차단막 위에 다결정 규소층을 형성하는 단계,
    상기 다결정 규소막을 사진 식각하여 다결정 규소층을 형성하는 단계,
    상기 다결정 규소층 위에 게이트 절연막을 차례로 형성하는 단계,
    상기 게이트 절연막 위에 게이트 전극을 가지는 게이트선을 형성하는 단계,
    상기 다결정 규소층에 도전형 불순물을 도핑하여 소스 영역, 드레인 영역 및 불순물이 도핑되지 않은 채널 영역을 형성하는 단계,
    상기 게이트선을 덮으며 제1 및 제2 접촉구를 가지는 제1 층간 절연막을 형성하는 단계,
    상기 제1 층간 절연막 위에 상기 제1 접촉구를 통해 상기 소스 영역과 연결되는 소스 전극을 가지는 데이터선과 상기 제2 접촉구를 통해 상기 드레인 영역과 연결되는 드레인 전극을 형성하는 단계,
    상기 데이터선 및 드레인 전극을 덮으며 제3 접촉구를 가지는 제2 층간 절연막을 형성하는 단계,
    상기 제2 층간 절연막 위에 상기 제3 접촉구를 통하여 상기 드레인 전극과 연결되는 화소 전극을 형성하는 단계를 포함하고,
    상기 차단막은 PSG막과 산화 규소막을 차례로 적층하여 형성하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법.
  6. 제5항에서,
    상기 PSG막은 500Å 이하의 두께로 형성하는 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법.
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