KR100803046B1 - 비전 검사 시스템 및 이것을 이용한 피검사체의 검사 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 상면 양측에 제1 위치와 제2 위치가 각각 제공되어 있는 정반과;상기 정반의 상면에 설치되어 있고, 피검사체가 놓여지는 테이블을 가지며, 상기 제1 위치와 제2 위치 사이에서 상기 테이블을 직선운동시키는 제1 이송수단과;상기 정반의 상방에 상기 피검사체의 이미지를 촬영하여 이미지 데이터를 출력할 수 있도록 배치되어 있는 카메라와;상기 정반의 상면에 설치되어 있고, 상기 제1 위치와 제2 위치 사이에서 상기 카메라를 직선운동시키는 제2 이송수단과;상기 제1 이송수단, 상기 카메라, 상기 제2 이송수단과 접속되어 있고, 상기 제1 이송수단의 작동을 제어하여 상기 제1 위치로부터 상기 제2 위치로 상기 테이블을 이송시킴과 동시에 상기 제2 이송수단의 작동을 제어하여 상기 제2 위치로부터 상기 제1 위치로 상기 카메라를 이송시키도록 구성되어 있으며, 상기 카메라로부터 입력되는 이미지 데이터를 프로세싱하는 이미지 프로세싱 프로그램이 설치되어 있는 컴퓨터를 포함하는 비전 검사 시스템.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제1 이송수단은,상기 정반의 상면에 상기 제1 위치와 제2 위치 사이에서 상기 테이블의 이송을 직선운동으로 안내할 수 있도록 장착되어 있는 한 쌍의 리니어 모션 가이드들 과;상기 리니어 모션 가이드들 사이에 장착되어 있으며, 상기 리니어 모션 가이드들을 따라 상기 테이블을 이송할 수 있도록 상기 테이블에 연결되어 있는 리니어 모터로 구성되어 있는 비전 검사 시스템.
- 제 2 항에 있어서, 상기 제2 이송수단은,상기 정반의 상방에 상기 제1 위치와 상기 제2 위치 사이를 운동할 수 있도록 배치되어 있으며, 상기 카메라가 장착되어 있는 캐리지와;상기 정반의 상면에 상기 제1 위치와 제2 위치 사이에서 상기 캐리지의 이송을 직선운동으로 안내할 수 있도록 장착되어 있는 한 쌍의 리니어 모션 가이드들과;상기 리니어 모션 가이드들 사이에 장착되어 있으며, 상기 리니어 모션 가이드들을 따라 상기 캐리지를 이송할 수 있도록 상기 캐리지에 연결되어 있는 리니어 모터로 구성되어 있는 비전 검사 시스템.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 정반을 지지하는 복수의 베이스 아이솔레이터들을 더 구비하는 비전 검사 시스템.
- 상면 양측에 제1 위치와 제2 위치가 각각 제공되어 있는 정반과, 상기 정반의 상면에 설치되어 있으며 상기 제1 위치와 제2 위치 사이를 직선운동할 수 있는 테이블을 갖는 제1 이송수단과, 상기 정반의 상방에 배치되어 있는 하나 이상의 카메라와, 상기 정반의 상면에 설치되어 있고 상기 제1 위치와 제2 위치 사이에서 상기 카메라를 직선운동시킬 수 있는 제2 이송수단과, 상기 카메라로부터 입력되는 이미지 데이터를 프로세싱하는 컴퓨터를 구비하는 비전 검사 시스템에 의하여 피검사체를 검사하기 위한 방법에 있어서,제1 이송수단의 작동에 의하여 상기 제1 위치에 상기 테이블을 위치하는 단계와;상기 제1 위치에 위치되어 있는 상기 테이블에 상기 피검사체를 로딩하는 단계와;상기 제2 이송수단의 작동에 의하여 상기 제2 위치에 상기 카메라를 위치하는 단계와;상기 제1 이송수단의 작동에 의하여 상기 제1 위치로부터 상기 제2 위치로 상기 테이블을 이송함과 동시에 상기 제2 이송수단의 작동에 의하여 상기 제2 위치로부터 상기 제1 위치로 상기 카메라를 이송하는 단계와;상기 카메라에 의하여 상기 피검사체의 이미지를 촬영하여 상기 피검사체의 이미지 데이터를 획득하는 단계와;상기 카메라로부터 입력되는 이미지 데이터를 상기 컴퓨터에 의하여 프로세싱하는 단계로 이루어지는 비전 검사 시스템을 이용한 피검사체의 검사 방법.
- 제 5 항에 있어서, 상기 피검사체의 이미지 데이터를 획득하는 단계에서 상 기 피검사체의 이미지를 상기 카메라에 의하여 촬영 시 상기 피검사체와 상기 카메라가 서로 정렬되도록 정지시키는 비전 검사 시스템을 이용한 피검사체의 검사 방법.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101748162B1 (ko) | 2016-11-04 | 2017-06-16 | 다래비젼주식회사 | 능동형 비전 회로기판 검사장치 및 이를 이용한 회로기판 검사방법 |
WO2021162246A1 (ko) * | 2020-02-14 | 2021-08-19 | 경북대학교 산학협력단 | 기계적 진동을 저감시키는 촬영 시스템 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100863700B1 (ko) * | 2008-02-18 | 2008-10-15 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 비전 검사 시스템 및 이것을 이용한 피검사체의 검사 방법 |
CN105466937A (zh) * | 2014-08-25 | 2016-04-06 | 研祥智能科技股份有限公司 | 适应多尺寸显示装置的成像检测部件、检测系统和控制方法 |
US9759667B2 (en) | 2014-11-06 | 2017-09-12 | General Electric Company | Miniature air gap inspection crawler |
CN105088172B (zh) * | 2015-09-21 | 2017-12-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 膜厚控制系统及膜厚控制方法 |
CN105761766B (zh) * | 2016-03-16 | 2017-07-11 | 武汉大学 | 核安全壳高分辨率影像采集系统 |
KR101674966B1 (ko) * | 2016-05-04 | 2016-11-22 | 주식회사 사이언스타운 | 렌즈 검사장치 |
KR101683589B1 (ko) * | 2016-07-13 | 2016-12-08 | 에스에스오트론 주식회사 | 반도체소자의 비전검사방법 및 그 장치 |
US20190012782A1 (en) * | 2017-07-05 | 2019-01-10 | Integrated Vision Systems LLC | Optical inspection apparatus and method |
CN107271451B (zh) * | 2017-07-05 | 2023-09-26 | 杭州电子科技大学 | 一种自动变位的视觉检测装置 |
CN115129037B (zh) * | 2021-03-26 | 2025-02-18 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种基于厚板3d视觉检测系统的自动寻边装置及方法 |
CN113567337A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-10-29 | 深圳登科云软件有限公司 | 一种可柔性配置侧面特征检测相机数量的装置及使用方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010109805A (ko) * | 2000-06-02 | 2001-12-12 | 김종현 | 메모리 모듈 비전 검사기 |
JP2002365026A (ja) * | 2001-06-07 | 2002-12-18 | Sigma Technos Kk | 基板検査装置 |
KR20050055883A (ko) * | 2003-12-09 | 2005-06-14 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판의 검사장치 및 검사방법 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6081981A (en) * | 1998-02-06 | 2000-07-04 | Ethicon, Inc. | Control system for an automatic needle-suture assembly and packaging machine |
US6180914B1 (en) * | 1998-02-17 | 2001-01-30 | Advanced Foliar Technologies, Inc. | Laser marking of foliage and cigars |
JP3859859B2 (ja) * | 1998-03-18 | 2006-12-20 | セントラル硝子株式会社 | 透明板状体の欠陥検出方法および装置 |
JP2000099702A (ja) * | 1998-09-24 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | ラインセンサを用いた画像処理システム |
JP2000131245A (ja) * | 1998-10-29 | 2000-05-12 | Sekisui Chem Co Ltd | 透明フィルムの異物検査装置 |
US6359686B1 (en) * | 1999-06-29 | 2002-03-19 | Corning Incorporated | Inspection system for sheet material |
US6483935B1 (en) * | 1999-10-29 | 2002-11-19 | Cognex Corporation | System and method for counting parts in multiple fields of view using machine vision |
JP2002203314A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Showa Denko Kk | メモリディスク基板のチャンファー部角度の判別装置および方法 |
JP2003121382A (ja) * | 2001-10-17 | 2003-04-23 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 検査装置 |
DE10217404A1 (de) * | 2002-04-18 | 2003-11-06 | Leica Microsystems | Autofokusverfahren für ein Mikroskop und System zum Einstellen des Fokus für ein Mikroskop |
US7030351B2 (en) * | 2003-11-24 | 2006-04-18 | Mitutoyo Corporation | Systems and methods for rapidly automatically focusing a machine vision inspection system |
KR100525312B1 (ko) * | 2003-11-28 | 2005-11-23 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판의 파티클 측정방법 |
KR20050061752A (ko) * | 2003-12-18 | 2005-06-23 | 엘지전자 주식회사 | 비전 검사 시스템을 이용한 표면실장부품의 설치각 세팅방법 |
CN100360998C (zh) * | 2004-11-03 | 2008-01-09 | 均豪精密工业股份有限公司 | 面板裂片后缺陷检测装置以及检测方法 |
JP4626976B2 (ja) * | 2005-01-14 | 2011-02-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 基板検査装置及び基板検査方法 |
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-
2008
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010109805A (ko) * | 2000-06-02 | 2001-12-12 | 김종현 | 메모리 모듈 비전 검사기 |
JP2002365026A (ja) * | 2001-06-07 | 2002-12-18 | Sigma Technos Kk | 基板検査装置 |
KR20050055883A (ko) * | 2003-12-09 | 2005-06-14 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리기판의 검사장치 및 검사방법 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101748162B1 (ko) | 2016-11-04 | 2017-06-16 | 다래비젼주식회사 | 능동형 비전 회로기판 검사장치 및 이를 이용한 회로기판 검사방법 |
WO2021162246A1 (ko) * | 2020-02-14 | 2021-08-19 | 경북대학교 산학협력단 | 기계적 진동을 저감시키는 촬영 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5189586B2 (ja) | 2013-04-24 |
WO2008117907A1 (en) | 2008-10-02 |
TWI340242B (en) | 2011-04-11 |
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