KR100765294B1 - 액정 디스플레이 패널의 얼룩 결함 검출 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 액정 디스플레이 패널의 얼룩 결함을 검출하기 위한 방법에 있어서,a) 적어도 하나의 촬영 장치를 이용하여 액정 디스플레이 패널의 영상을 촬영하는 단계;b) 상기 촬영된 영상에 최소제곱법(Least Square Method)을 적용하는 단계;c) 상기 b) 단계의 결과에 노이즈 제거 필터를 적어도 1회 이상 적용하는 단계;d) 상기 c) 단계의 결과에 최소제곱법을 적용하는 단계;e) 상기 d) 단계의 최소제곱법 적용 전후의 각 화소별 그레이 값의 차이를 이용하여 얼룩을 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼룩 결함 검출 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 b) 단계의 최소제곱법을 적용한 결과는 흑백의 형태로 표현되는 얼룩 결함 검출 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 e) 단계는f) 상기 d) 단계의 최소제곱법 적용 전후의 각 화소별 그레이 값의 차이의 절대값을 계산하는 단계g) 상기 절대값의 평균에 대한 각 화소별 상기 절대값의 이격도에 따라 각 화소의 값을 흑백의 형태로 표현하는 단계h) 상기 g) 단계의 흑백 형태의 결과에 노이즈 제거 필터를 적어도 1회 이상 적용하는 단계를 포함하는 얼룩 결함 검출 방법.
- 제3항에 있어서, 상기 b) 단계의 최소제곱법 적용 전후의 그레이 값의 차이의 절대값이 상기 사전 결정된 기준값보다 큰 경우에는 백색으로, 작은 경우에는 흑색으로 표현하는 얼룩 결함 검출 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 g) 단계는 상기 절대값의 평균과 상기 각 화소별 절대값의 차이를, 상기 각 화소별 절대값의 표준편차에 특정 배수를 곱한 값과 비교한 결과의 대소에 따라 각 화소값을 흑 또는 백으로 표현하는 얼룩 결함 검출 방법.
- 제1항 내지 제5항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 노이즈 제거 필터는 미디언 필터(Median Filter)인 얼룩 결함 검출 방법.
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---|---|---|---|---|
KR101857328B1 (ko) * | 2015-12-16 | 2018-06-25 | 순천대학교 산학협력단 | 작물의 잎사귀 건강 상태를 판별하는 이미지 프로세싱 방법 및 시스템 |
CN109358438A (zh) * | 2018-10-30 | 2019-02-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 云纹评价方法、装置和系统 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06337653A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Yokogawa Electric Corp | 液晶ディスプレイ検査装置 |
JPH08145848A (ja) * | 1994-11-18 | 1996-06-07 | Sharp Corp | 液晶パネル欠陥検査装置 |
KR980007500A (ko) * | 1996-06-26 | 1998-03-30 | 배순훈 | 피디피(pdp) 티브이의 노이즈 제거장치 |
KR20050052034A (ko) * | 2003-11-28 | 2005-06-02 | 주식회사 쓰리비 시스템 | 플랫패널용 광관련판요소의 선형 얼룩 검출방법 |
-
2006
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06337653A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Yokogawa Electric Corp | 液晶ディスプレイ検査装置 |
JPH08145848A (ja) * | 1994-11-18 | 1996-06-07 | Sharp Corp | 液晶パネル欠陥検査装置 |
KR980007500A (ko) * | 1996-06-26 | 1998-03-30 | 배순훈 | 피디피(pdp) 티브이의 노이즈 제거장치 |
KR20050052034A (ko) * | 2003-11-28 | 2005-06-02 | 주식회사 쓰리비 시스템 | 플랫패널용 광관련판요소의 선형 얼룩 검출방법 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101857328B1 (ko) * | 2015-12-16 | 2018-06-25 | 순천대학교 산학협력단 | 작물의 잎사귀 건강 상태를 판별하는 이미지 프로세싱 방법 및 시스템 |
CN109358438A (zh) * | 2018-10-30 | 2019-02-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 云纹评价方法、装置和系统 |
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