KR100491019B1 - Multipoint thickness measurement system - Google Patents
Multipoint thickness measurement system Download PDFInfo
- Publication number
- KR100491019B1 KR100491019B1 KR10-2002-0010420A KR20020010420A KR100491019B1 KR 100491019 B1 KR100491019 B1 KR 100491019B1 KR 20020010420 A KR20020010420 A KR 20020010420A KR 100491019 B1 KR100491019 B1 KR 100491019B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- thickness
- measured
- measurement
- box
- ionizing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000010748 Photoabsorption Effects 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000005433 ionosphere Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/04—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/06—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring the deformation in a solid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/08—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring roughness or irregularity of surfaces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
본 발명은 다점계측 두께 측정계에 관한 것으로서, 검출부(2)내에 배열되는 전리상자(5)를 피측정물(4)의 흐름방향에 대하여 시계방향 또는 반시계 방향으로 회전시킨 배치로 하고, 이에 의해 종래의 전리상자의 배치에서 존재했던 방사선에 대한 감도가 낮은 영역, 즉 불감대를 없애는 것이 가능해져 피측정물(4)의 폭 방향측정을 연속적으로 정밀도 높게 실시할 수 있는 것으로, 피측정물에 대하여 폭 방향으로 전리상자의 방사선 감도에 대한 차가 적은, 보다 정밀도 높은 판두께 측정이 가능해지는 다점계측 두께 측정계를 제공하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a multi-point measurement thickness measuring system, wherein the ionizing box (5) arranged in the detection unit (2) is rotated clockwise or counterclockwise with respect to the flow direction of the measured object (4). It is possible to eliminate the low sensitivity to the radiation existing in the arrangement of the conventional ionospheric zone, i.e., the dead zone, so that the width direction measurement of the measured object 4 can be continuously and precisely performed. It is characterized by providing a multi-point measuring thickness measuring system which enables a more accurate plate thickness measurement with a small difference in radiation sensitivity of an ionizing box in the width direction.
Description
본 발명은 방사선을 사용하여 피측정물의 두께를 비접촉으로 측정하는 다점계측 두께 측정계에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-point measuring thickness measuring system that uses a radiation to measure the thickness of an object to be measured without contact.
최근, 철강업에서의 압연의 형상제어의 필요성이 높아짐에 따라서 보다 제어에 적합한 판형상의 측정기가 요구되고 있다. 종래, 판 폭방향의 두께 측정은 주사형 두께 측정계 등으로 실시해 왔지만, 피측정물은 판두께 측정중에도 연속적으로 이동하고 있는 경우가 대부분이므로, 그대로는 판형상을 구하는 것이 불가능하다. 따라서 많은 경우, 주사형 두께 측정계 이외에 판 중심을 측정하는 두께 측정계를 도입하여 이에 의해 얻어진 데이터를 기초로 보정을 실시하여 판형상을 구하고 있다.In recent years, as the necessity of the shape control of the rolling in the steel industry becomes high, the plate-shaped measuring device more suitable for control is calculated | required. Conventionally, the thickness measurement in the plate width direction has been carried out using a scanning thickness measuring system or the like. However, since the object to be measured mostly moves continuously during the measurement of the plate thickness, it is impossible to obtain the plate shape as it is. Therefore, in many cases, the plate shape is calculated | required by introducing the thickness measuring system which measures a plate center other than a scanning thickness measuring system, and correct | amends based on the data obtained by this.
다점계측 두께 측정계에 대해서 도 15를 참조하여 설명한다. 수평으로 배치된 판형상의 피측정물(4)의 판방향 상하에 약간 거리를 두고 대향하도록 역 ㄷ자형 프레임(1)의 상측에 검출부(2) 하측에 발생기(3)를 배치한다. 검출부(2)의 출력신호는 두께 연산기(7)에 보내어진다. 검출부(2)와 발생기(3)는 역 ㄷ자형 프레임(1)에 고정되어 있다. 검출부(2) 내에는 원통형상의 전리상자(5)가 피측정물(2)의 폭방향으로 복수개 평행으로 배치되고, 이들이 발생기(3)로부터 출력되는 부채꼴 형상의 방사선을 감지하지만, 전리상자(5)의 형상은 원통형으로 그 중심부와 단부에서는 방사선에 대한 감도에 큰 차이가 있다. 이에 대하여, 도 16∼도 18을 사용하여 더 설명한다.The multi-point measurement thickness measuring system will be described with reference to FIG. 15. The generator 3 is disposed below the detection unit 2 above the inverted c-shaped frame 1 so as to face the plate-shaped measurement object 4 arranged horizontally at a distance above and below the plate direction. The output signal of the detector 2 is sent to the thickness calculator 7. The detector 2 and the generator 3 are fixed to the inverted c-shaped frame 1. In the detection unit 2, a plurality of cylindrical ionizing boxes 5 are arranged in parallel in the width direction of the object 2 to be measured, and they detect the fan-shaped radiation output from the generator 3, but the ionizing boxes 5 ) Is cylindrical and there is a big difference in sensitivity to radiation at its center and end. This will be further described with reference to FIGS. 16 to 18.
도 16은 전리상자(5)와 피측정물(4)의 위치관계를 나타내는 사시도이다. 발생기(3)로부터 출력되는 부채꼴의 방사선을 파선으로 나타내고 있다. 도 17은 전리상자(5)의 바로 위에서 본 상태를 도시한 AA' 화살표에 의한 도면이다. 전리상자(5)는 도 17에 도시한 바와 같이 피측정물(4)에 대하여 평행으로 배열되어 있다. 전리상자(5)의 단부는 중심부에 비해 감도가 낮으므로, 피측정물(4)의 하이스폿(결함)의 검출이 곤란하다.16 is a perspective view showing the positional relationship between the ionizing box 5 and the object to be measured 4. The fan-shaped radiation output from the generator 3 is shown by the broken line. FIG. 17 is a view by an AA ′ arrow showing a state seen directly from the ionosphere 5. The ionizing box 5 is arranged in parallel with respect to the object 4 as shown in FIG. Since the edge part of the ionizing box 5 is lower than a center part, detection of the high spot (defect) of the to-be-measured object 4 is difficult.
도 18에 전리상자(5)를 피측정물(4)에 대하여 평행으로 배열한 경우의 감도분포를 나타낸다. 도 18에 도시한 바와 같이, 전리상자(5)의 감도가 낮으므로 정밀도 높게 판두께 측정을 할 수 없게 되는 불감대가 주기적으로 존재하게 되어, 폭방향의 연속적인 두께값이 얻어지지 않게 된다.FIG. 18 shows a sensitivity distribution when the ionization box 5 is arranged in parallel with the measurement object 4. As shown in Fig. 18, since the sensitivity of the ionizing box 5 is low, there is a dead band periodically in which the plate thickness measurement cannot be performed with high accuracy, and the continuous thickness value in the width direction is not obtained.
또한, 가장자리부를 고분해능·고정밀도로 측정 가능한 장치의 필요성도 높아지고 있지만, 종래의 다점계측 두께 측정계로는 전리상자와 전리상자 사이에 존재하는 방사선에 대한 감도가 낮은 영역(이후 불감대라고 부름)에서 정밀도 높은 측정을 실시할 수 없고, 연속적인 가장자리 형상을 얻는 것이 곤란하다.In addition, the necessity of a device capable of measuring the edge portion with high resolution and high accuracy is also increasing. However, with a conventional multi-point measuring thickness gauge, precision in an area having low sensitivity to radiation existing between the ionizing box and the ionizing box (hereinafter referred to as dead band) High measurement cannot be performed and it is difficult to obtain a continuous edge shape.
상술한 바와 같이 다점계측 두께 측정계에서는 측정위치에서의 판두께는 전리상자의 높이 방향으로 입사한 방사선량의 총합의 평균을 구하여 판두께로 변환하지만, 전리상자는 원통형상 때문에, 중심부가 가장 방사선에 대한 감도가 높고, 단부에 근접함에 따라 그 감도는 낮다는 특성이 있다.As described above, in the multi-point measurement thickness measuring system, the plate thickness at the measurement position is converted to the plate thickness by calculating the average of the total radiation dose incident in the height direction of the ionizing box. The sensitivity is high, and the sensitivity is low as it approaches the end.
그 때문에, 측정 포인트가 마침 불감대인 경우, 전리상자의 높이 방향 전체 영역이 불감대가 된다. 이 때문에, 상기 위치에서 감도가 현저하게 낮아지고, 피측정물의 폭방향의 판두께 측정시에 측정할 수 없는 부분이 생긴다.Therefore, when the measuring point is the dead zone, the entire area in the height direction of the ionolysis box becomes the dead zone. For this reason, a sensitivity becomes remarkably low at the said position, and the part which cannot be measured at the time of the plate | board thickness measurement of the width direction of a to-be-tested object arises.
또한, 피측정물의 가장자리부로부터 임의의 거리에서의 위치의 두께 측정을 실시하는 경우에서, 폭 측정계 등의 외부장치인 판중심 어긋난 양 측정장치로부터 피측정물의 폭값을 연산기에 입력하고, 피측정물의 사행량에 맞추어 다점계측 두께 측정계를 이동장치(6)에 의해 이동시켜 측정을 실시하고 있지만, 대차(臺車)가 목표위치로 이동할 때까지는 목표위치에서의 측정을 실시할 수 없다.In the case of measuring the thickness of a position at an arbitrary distance from the edge of the object under measurement, the width value of the object to be measured is input to the calculator from a plate center deviation measuring device, which is an external device such as a width measuring system. Although the measurement is performed by moving the multi-point measuring thickness measuring system by the moving device 6 in accordance with the meandering amount, the measurement at the target position cannot be performed until the trolley moves to the target position.
한편, 전리상자를 인접시켜 배열한 경우, 인접하는 전리상자로부터의 산란선이 전리상자에 입사되므로 가장자리부의 정밀도 저하, 분해능력 저하 등 측정결과에 악영향을 미칠 우려가 있다.On the other hand, when the ionizing boxes are arranged adjacent to each other, scattering lines from adjacent ionizing boxes are incident on the ionizing boxes, which may adversely affect the measurement results such as deterioration of precision of edges and degradation of resolution.
본 발명은 이상의 사정을 고려하여 이루어진 것으로, 그 목적은 측정위치에 따른 방사선에 대한 감도의 차를 감소시키고, 보다 좋은 폭방향 측정이 가능해지는 다점계측 두께 측정계를 제공하는 데에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a multi-point measurement thickness measurement system which reduces the difference in sensitivity to radiation depending on the measurement position and enables better width direction measurement.
상기 목적을 달성하기 위해 본원 발명은 방사선원, 전리상자를 갖고 방사선원으로부터 방사되어 피측정물을 투과하여 입사된 방사선의 레벨에 관련된 출력신호를 얻는 검출수단 및 상기 검출수단의 출력신호로부터 피측정물의 두께를 연산하는 연산수단을 구비하며, 전리상자를 피측정물의 흐름 방향에 대해서 임의의 각도 회전시켜 배열한 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a radiation source, an ionizing box, and a detection means for radiating from a radiation source to pass through the object to obtain an output signal relating to the level of incident radiation and the thickness of the object to be measured from the output signal of the detection means. Comprising a calculation means for calculating the, characterized in that the ionizing box is arranged by rotating at an arbitrary angle with respect to the flow direction of the object to be measured.
본원 발명에 의하면 종래의 전리상자의 배치에서 존재했던 불감대의 부분을 없애는 것이 가능해지고, 피측정물의 두께의 폭방향 측정을 연속적으로 정밀도 높게 실시할 수 있다.According to this invention, it becomes possible to remove the dead zone which existed in the conventional arrangement of the ionizing box, and the width direction measurement of the thickness of a to-be-measured object can be performed continuously with high precision.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 연산수단이 피측정물의 폭을 측정하는 수단에 의해 측정된 폭값이 입력되고, 피측정물의 가장자리 위치, 또는 중심위치를 연산하고 검출수단의 출력신호로부터 연산한 두께에 대한 피측정물의 가장자리 위치, 또는 중심위치로부터의 위치를 특정할 수 있는 것임을 특징으로 한다.In the present invention, in the multi-point measuring thickness measuring system, a width value measured by means for measuring the width of an object to be measured is input, and the edge value or the center position of the object to be calculated is calculated on the thickness calculated from the output signal of the detecting means. It is characterized in that the position from the edge position, or the center position of the object to be measured.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 상기 연산수단이 피측정물의 가장자리를 검출하는 수단으로부터의 출력신호가 입력되고, 피측정물의 가장자리 위치를 연산하고 검출수단의 출력신호로부터 연산한 두께에 대한 피측정물의 가장자리 위치로부터의 위치를 특정할 수 있는 것임을 특징으로 한다.In the present invention, in the multi-point measuring thickness measuring system, an output signal from a means for detecting the edge of an object to be measured is input by the calculating means, and the edge position of the object to be calculated is calculated from the output signal of the detecting means. It is characterized in that the position from the edge position can be specified.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 연산수단이, 판중심 어긋난 양 측정장치로부터의 중심의 어긋남량이 입력되고 피측정물의 중심위치를 연산하여 검출수단의 출력신호로부터 연산한 두께에 대한 피측정물의 중심위치로부터의 위치를 특정할 수 있는 것을 특징으로 한다.In the present invention, in the multi-point measuring thickness measuring system, the computing means inputs the center deviation amount from the plate center displacement amount measuring device, calculates the center position of the measured object, and calculates the center position of the measured object with respect to the thickness calculated from the output signal of the detecting means. Characterized in that the position from the can be specified.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 전리상자가 목표측정위치를 포함하는 소정 범위의 위치에 배열되어 있는 것으로 하고, 연산수단이 피측정물의 폭을 측정하는 수단, 또는 피측정물의 가장자리를 검출하는 수단, 또는 판 중심 어긋난 양 측정장치로부터의 출력신호가 입력되고 피측정물의 사행량을 구함과 동시에 복수의 측정위치의 두께값을 기초로 측정위치간의 두께값을 산출하기 위한 보간함수를 구하고, 보간함수에 의해 목표측정위치로부터 사행량 어긋난 위치의 두께값을 연산하는 것임을 특징으로 한다.In the present invention, in the multi-point measuring thickness measuring system, the ionization box is arranged at a predetermined range of positions including a target measuring position, and the computing means measures the width of the measured object, or means for detecting the edge of the measured object, Alternatively, an output signal from the plate center misalignment measuring device is input and the meandering amount of the object to be measured is calculated, and an interpolation function for calculating the thickness value between the measurement positions is calculated based on the thickness values of the plurality of measurement positions. By calculating the thickness value of the position shifted from the meandering amount from the target measurement position.
본원 발명에 의하면 목표측정위치로부터 피측정물이 어긋난 경우에도 연속적으로 두께를 측정할 수 있다.According to the present invention, the thickness can be measured continuously even when the measured object is shifted from the target measurement position.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 전리상자는 원통의 측면으로부터 방사선을 입사하는 구조인 것으로 하고, 전리상자의 전체 길이와, 전리상자측벽의 두께에 안전율을 곱하여 구한 불감대의 값을 사용하여, 피측정물의 흐름방향에 대하여 불감대가 없어지는 전리상자의 회전각도를 결정한 것을 특징으로 한다.In the present invention, in the multi-point measuring thickness measuring system, the ionizing box is a structure in which radiation is incident from the side of the cylinder, and the measured length is determined by using the value of the dead band obtained by multiplying the overall length of the ionizing box by the safety factor by the thickness of the ionizing box side wall. It is characterized in that the rotation angle of the ionizing box that the dead zone disappears with respect to the flow direction of water.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 전리상자는 원통의 측면으로부터 방사선을 입사하는 구조의 것으로 하고, 전리상자의 전체 길이와, 전리상자 내부직경 및 전리상자 중심부에 대한 가스량비를 사용하여 구한 불감대의 값을 사용하여 피측정물의 흐름방향에 대하여 불감대가 없어지는 전리상자의 회전각도를 결정한 것을 특징으로 한다.In the present invention, in the multi-point measuring thickness measuring system, the ionizing box has a structure in which radiation is incident from the side of the cylinder, and the dead band value obtained by using the total length of the ionizing box, the inner diameter of the ionizing box, and the gas volume ratio with respect to the center of the ionizing box. It is characterized by determining the rotation angle of the ionizing box that the dead zone disappears with respect to the flow direction of the object to be measured.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 전리상자는 원통의 측면으로부터 방사선을 입사하는 구조의 것으로 하고, 전리상자의 전체 길이와, 전리상자 외부직경 및 가스충만계수를 사용하여 구한 불감대의 값을 사용하여 피측정물의 흐름방향에 대하여 불감대가 없어지는 전리상자의 회전각도를 결정한 것을 특징으로 한다.In the present invention, in the multi-point measuring thickness measuring system, the ionizing box has a structure in which radiation is incident from the side of the cylinder, and is avoided by using the total length of the ionizing box, the dead band obtained by using the ionizing box outer diameter and the gas filling coefficient. The rotation angle of the ionizing box which eliminates the dead zone with respect to the flow direction of the workpiece is determined.
본원 발명은 다점계측 두께 측정계에서 인접하는 2개의 전리상자간에 분리판을 삽입한 것을 특징으로 한다.The present invention is characterized in that the separator is inserted between two adjacent ionization boxes in the multi-point thickness gauge.
본원 발명에 의하면 인접한 전리상자로부터 입사하는 산란선의 영향이 없어지고, 가장자리부의 정밀도 저하, 분해능력 저하 등 측정결과에 악영향을 미치는 요인이 없는 우수한 측정을 실시할 수 있다.According to the present invention, it is possible to perform an excellent measurement without the influence of scattering lines incident from an adjacent ionizing box, and without causing adverse effects on the measurement results, such as a decrease in precision at the edges and a reduction in resolution.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태에 대해서 설명한다. 또한, 이하의 도면에서 종래예를 도시한 도면을 포함하고, 동일한 부호는 동일 부분 또는 대응부분을 나타낸다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described with reference to drawings. In addition, in the following drawings, the figure which shows the conventional example is included, and the same code | symbol shows the same part or the corresponding part.
(제 1 실시형태)(1st embodiment)
도 1∼도 4를 참조하여 본 발명의 제 1 실시형태에 대해서 설명한다.With reference to FIGS. 1-4, 1st Embodiment of this invention is described.
도 1에서 판형상의 피측정물(4)의 판두께를 측정할 수 있도록 다점계측 두께 측정계 이동장치(6)에 의한 역 ㄷ 자형 프레임(1)의 폭방향 이동조작이 실시된다. 역 ㄷ자형 프레임(1)에는 아래쪽에는 발생기(3), 위쪽에 검출부(2)가 고정되어 있다. 또한, 검출부(2) 내에는 전리상자(5)가 배열되어 있다.In FIG. 1, the widthwise movement operation of the reverse c-shaped frame 1 is performed by the multipoint measurement thickness measuring system moving device 6 so as to measure the plate thickness of the plate-shaped object 4. In the inverted c-shaped frame 1, a generator 3 is fixed to the lower side and a detector 2 is fixed to the upper side. In addition, the ionizing box 5 is arranged in the detection part 2.
발생기(3)로부터 출력되는 방사선은 피측정물(4)을 투과하여 전리상자(5)에 입사된다. 입사된 방사선은 전리상자(5)내에 밀봉된 기체를 광전흡수, 콤프톤 산란(compton scattering), 전자쌍 생성 등의 작용에 의해 전리하고, 이 때 발생한 전하는 전극간에 가해진 전계에 의해 전극에 끌어 당겨져, 전극에서 재결합하여 중성의 원자로 되돌아간다. 이 때 흘러나온 전류가 검출부(2)의 출력신호가 되고, A/D변환된 후에 두께 연산기(7)에 보내어져 피측정물(4)의 두께값으로 변환된다.The radiation output from the generator 3 passes through the object 4 and enters the ionizing box 5. The incident radiation ionizes the gas sealed in the ionization box 5 by photoabsorption, compton scattering, electron pair generation, and the like, and the electric charge generated at this time is attracted to the electrode by an electric field applied between the electrodes. Recombination at the electrode returns to the neutral atom. The current flowing out at this time becomes the output signal of the detection unit 2, and after A / D conversion, is sent to the thickness calculator 7 and converted into the thickness value of the measurement object 4.
종래예에서는 상술한 바와 같이 전리상자(5)를 피측정물(4)에 대하여 평행으로 배열하고 있으므로 불감대가 주기적으로 존재하여, 폭방향의 연속적인 두께값이 얻어지지 않았다. 그래서, 상기 실시형태에서는 전리상자(5)의 배열을 변경하여 불감대를 없애도록 하고 있다.In the conventional example, since the ionizing box 5 is arranged in parallel with respect to the to-be-measured object 4 as mentioned above, dead zones exist periodically and the continuous thickness value of the width direction was not obtained. Therefore, in the above embodiment, the arrangement of the ionization boxes 5 is changed to eliminate the dead zone.
도 2는 상기 실시형태에서의 전리상자(5)와 피측정물(4)의 위치관계를 나타내는 사시도이다. 발생기(3)로부터 출력되는 부채꼴상의 방사선을 파선으로 나타내고 있다. 도 3은 전리상자(5)의 바로 위에서 본 상태를 도시한 AA' 화살표에 의한 도면이다. 전리상자(5)의 배열을 도 3에 도시한 바와 같이 피측정물(4)에 대하여 비스듬히 배열한 구조로 한다. 이와 같이, 전리상자(5)를 피측정물(4)의 바로 위에서 본 평면상에서, 피측정물(4)의 흐름방향에 대하여 시계방향 또는 반시계 방향으로 임의의 각도회전시킨 상태로 배열함으로써, 종래의 전리상자의 배치에서 존재한 불감대의 부분을 없애는 것이 가능해지고, 피측정물(4)의 폭방향 측정을 연속적으로 정밀도 높게 실시할 수 있다.2 is a perspective view showing the positional relationship between the ionizing box 5 and the object to be measured 4 according to the embodiment. The fan-shaped radiation output from the generator 3 is shown by the broken line. 3 is a view by the AA 'arrow showing a state seen from directly above the ionospheric box (5). As shown in FIG. 3, the ionization box 5 is arranged at an angle with respect to the object 4 to be measured. In this way, the ionizing box 5 is arranged in a state of being rotated at an arbitrary angle clockwise or counterclockwise with respect to the flow direction of the object 4 on the plane seen from directly above the object 4, It becomes possible to eliminate the dead zone part which existed in the conventional arrangement of the ionizing box, and the width direction measurement of the to-be-measured object 4 can be performed continuously with high precision.
도 4에 전리상자(5)를 피측정물(4)의 흐름방향에 대하여 시계방향 또는 반시계방향으로 회전시킨 상기 실시형태에서의 감도분포를 나타낸다. 도면으로부터 밝혀진 바와 같이, 피측정물(4)의 판 폭방향에 대해서 일정 이상의 감도를 얻는 것이 가능해진다. 따라서, 피측정물(4)에 국소적으로 하이스폿(결함)이 있었던 경우, 이것을 용이하게 검출할 수 있다.Fig. 4 shows the sensitivity distribution in the above embodiment in which the iono box 5 is rotated clockwise or counterclockwise with respect to the flow direction of the object 4 to be measured. As is clear from the figure, it becomes possible to obtain a sensitivity higher than or equal to the plate width direction of the measurement target object 4. Therefore, when there exists a high spot (defect) locally in the to-be-measured object 4, this can be detected easily.
(제 2 실시형태)(2nd embodiment)
도 5는 본 발명의 제 2 실시형태의 구성을 도시한 도면이다. 상기 실시형태에서는 두께 연산기(7)에서, 제 1 실시형태의 경우와 동일하게 검출부(2)의 출력신호로부터 피측정물(4)의 두께 값을 연산함과 동시에 폭 측정계(8)에서 측정된 판 폭값을 두께 연산기(7)에 입력하고 피측정물(4)의 판 가장자리 위치, 또는 판 중심 위치를 연산한다.5 is a diagram illustrating a configuration of a second embodiment of the present invention. In the above embodiment, the thickness calculator 7 calculates the thickness value of the measured object 4 from the output signal of the detection unit 2 in the same manner as in the first embodiment, and at the same time measures the width measurement system 8. The plate width value is input to the thickness calculator 7 and the plate edge position or the plate center position of the measurement object 4 is calculated.
따라서, 연산기(7)에서는 검출부(2)의 출력신호로부터 연산한 두께에 대해서 피측정물(4)의 판 가장자리 위치, 또는 판중심 위치로부터의 위치를 특정할 수 있다.Therefore, in the calculator 7, it is possible to specify the position from the plate edge position or the plate center position of the measured object 4 with respect to the thickness calculated from the output signal of the detection unit 2.
(제 3 실시형태)(Third embodiment)
도 6은 본 발명의 제 3 실시형태의 구성을 도시한 도면이다. 상기 실시형태에서는 두께 연산기(7)에서 제 1 실시형태의 경우와 동일하게 검출부(2)의 출력신호로부터 피측정물(4)의 두께값을 연산하고 또한 가장자리 센서(9)에서 검출된 신호를 두께 연산기(7)에 입력하고 피측정물의 판 가장자리 위치를 연산한다.It is a figure which shows the structure of 3rd Embodiment of this invention. In the above embodiment, the thickness calculator 7 calculates the thickness value of the measured object 4 from the output signal of the detection unit 2 in the same manner as in the first embodiment, and further calculates the signal detected by the edge sensor 9. Input to the thickness calculator (7) and calculate the plate edge position of the object to be measured.
따라서, 연산기(7)에서는 검출부(2)의 출력신호로부터 연산한 두께에 대해서 피측정물의 판 가장자리 위치로부터의 위치를 특정할 수 있다.Therefore, the calculator 7 can specify the position from the plate edge position of the object to be measured with respect to the thickness calculated from the output signal of the detector 2.
(제 4 실시형태)(4th Embodiment)
도 7은 본 발명의 제 4 실시형태의 구성을 도시한 도면이다. 상기 실시형태에서는 두께 연산기(7)에서 제 1 실시형태의 경우와 동일하게 검출부(2)의 출력신호로부터 피측정물(4)의 두께값을 연산함과 동시에 입력하는 상위의 계산기 등으로 이루어진 외부장치인 판중심 어긋난 양 측정장치(10)에서 판 중심 어긋난 양을 두께 연산기(7)에 입력하고 판중심 위치를 연산한다.It is a figure which shows the structure of 4th Embodiment of this invention. In the above embodiment, the thickness calculator 7 is made of an external calculator made of a higher-level calculator or the like which calculates and simultaneously inputs the thickness value of the measured object 4 from the output signal of the detection unit 2 as in the case of the first embodiment. In the plate center offset amount measuring device 10 which is a device, the plate center offset amount is input to the thickness calculator 7 to calculate the plate center position.
따라서, 연산기(7)에서는 검출부(2)의 출력신호로부터 연산한 두께에 대해서 피측정물(4)의 판중심 위치로부터의 위치를 특정할 수 있다.Therefore, the calculator 7 can specify the position from the plate center position of the measurement object 4 with respect to the thickness calculated from the output signal of the detection unit 2.
(제 5 실시형태)(5th Embodiment)
도 8∼도 10은 본 발명의 제 5 실시형태를 설명하는 도면이다.8-10 is a figure explaining 5th embodiment of this invention.
도 8은 제 1 실시형태와 같은 구성의 다점계측 두께 측정계를, 피측정물(4)의 가장자리부로부터 임의의 거리 떨어진 목표위치의 판두께를 측정하기 위해 사용하는 경우의 구성을 도시하고 있다. 다점계측 두께 측정계는 피측정물(4)의 가장자리로부터 임의의 거리 떨어진 목표위치를 측정하기 위해, 상기 위치를 중심으로 한 소정 범위의 위치에 판두께를 측정할 수 있도록 전리상자(5)를 배열한다.FIG. 8 shows a configuration in the case where a multi-point measurement thickness measuring system having the same configuration as in the first embodiment is used to measure the plate thickness at a target position separated by an arbitrary distance from the edge of the object to be measured 4. In order to measure a target position at an arbitrary distance from the edge of the measurement object 4, the multi-point measurement thickness measuring instrument arranges the ionizing box 5 so that the plate thickness can be measured at a predetermined range of positions about the position. do.
두께 연산기(7)에서, 검출부(2)의 출력신호로부터 목표측정위치 근방의 소정 범위의 복수의 측정위치에서의 판두께 값(11, 12, 13)이 구해지고, 또한 폭 측정계(8), 또는 가장자리 센서(9)로부터의 출력신호에 의해 가장자리 위치가 구해지면, 도 9에 도시한 바와 같이 판두께 값(11, 12, 13)을 각각 가장자리 위치로부터 측정 위치까지에서의 거리에 대응한 위치에 플롯하고, 상기 판두께 측정결과를 보간함수(14)로 연결하고 그래프화할 수 있다. 목표측정위치가 실제의 측정위치 사이에 위치하는 경우에도 보간함수(14)로부터, 가장자리 위치로부터 임의의 거리(15) 떨어진 목표측정위치의 판두께값(16)을 구할 수 있다.In the thickness calculator 7, the plate thickness values 11, 12, 13 at a plurality of measurement positions in a predetermined range near the target measurement position are obtained from the output signal of the detection unit 2, and the width measuring system 8, Alternatively, when the edge position is obtained by the output signal from the edge sensor 9, as shown in Fig. 9, the plate thickness values 11, 12, and 13 respectively correspond to the distances from the edge position to the measurement position. And plot the plate thickness measurement results with an interpolation function (14). Even when the target measurement position is located between the actual measurement positions, the plate thickness value 16 of the target measurement position can be obtained from the interpolation function 14 at an arbitrary distance 15 from the edge position.
또한, 피측정물(4)은 통판되어 올 때 폭방향으로 사행하면서 오는 경우가 대부분이다. 폭 측정계(8), 또는 가장자리 센서(9), 또는 외부장치인 판중심 어긋난 양 측정장치(10) 등으로부터의 판폭, 또는 가장자리 위치, 또는 중심 어긋남량(사행량) 등을 나타내는 출력신호를 두께 연산기(7)에 입력하고 피측정물(4)의 사행량을 연산한다. 그리고, 목표측정위치 근방의 판두께 측정결과를 보간함수로 연결하고 도 10에 도시한 바와 같이 그래프화한다. 즉, 목표측정위치에서의 판두께값(17)과 그 근방의 위치에서의 판두께값(18, 19)을 보간함수(20)에서 연결한다. 폭 측정계(8) 등으로부터 얻은 가장자리 위치에 의해 판 어긋남량 즉 사행량(21)이 산출된 경우, 보간함수(20)로부터 판두께값(22)이 구해진다. 상기 값을 목표측정위치의 판두께값으로 함으로써, 목표측정위치로부터 피측정물(4)이 어긋난 경우에도 연속적으로 판두께를 측정할 수 있게 된다.In addition, in most cases, the measured object 4 comes to meander in the width direction when it is mailed. The thickness of the output signal indicating the width of the plate from the width measuring system 8, the edge sensor 9, or an external device such as the plate center shift amount measuring device 10, or the edge position, or the center shift amount (meandering amount). It inputs to the calculator 7 and calculates the meandering quantity of the to-be-measured object 4. Then, the plate thickness measurement results in the vicinity of the target measurement position are connected by an interpolation function and graphed as shown in FIG. That is, the interpolation function 20 connects the plate thickness value 17 at the target measurement position with the plate thickness values 18 and 19 at the vicinity thereof. When the plate shift amount, that is, the meandering amount 21 is calculated by the edge position obtained from the width measuring system 8 or the like, the plate thickness value 22 is obtained from the interpolation function 20. By setting this value as the plate thickness value of the target measurement position, it is possible to continuously measure the plate thickness even when the object to be measured 4 is shifted from the target measurement position.
(제 6 실시형태)(6th Embodiment)
도 11∼도 13은 본 발명의 제 6 실시형태를 설명하는 도면이다. 전리상자(5)의 방사선에 대한 감도는 전리상자(5)내의 가스량에 비례한다. 전리상자(5) 단부에서는 가스량이 적으므로 감도가 저하되고, 전리상자(5)의 측벽부분에서는 방사선에 대한 감도가 없어진다.11-13 is a figure explaining the 6th Embodiment of this invention. The sensitivity to the radiation of the ionizing box 5 is proportional to the amount of gas in the ionizing box 5. Since the amount of gas is small at the end of the ionizing box 5, the sensitivity is lowered, and the sensitivity to radiation is lost at the side wall of the ionizing box 5.
상기 실시형태에서는 전리상자(5)가 원통의 측면으로부터 방사선을 입사하는 구조인 것으로 하고, 도 11에 도시한 바와 같이 피측정물의 흐름방향에 대하여 상기 불감대가 없어지는 전리상자(5)의 회전각도(α)를 결정한다.In the above embodiment, the ionizing box 5 has a structure in which radiation is incident from the side surface of the cylinder, and as shown in FIG. 11, the rotation angle of the ionizing box 5 in which the dead zone disappears with respect to the flow direction of the object to be measured. (α) is determined.
우선, 회전각도(α)를 결정하는 제 1 방법으로서, 전리상자의 전체 길이와, 전리상자측벽의 두께에 안전율을 곱하여 구한 불감대의 값을 사용하여 구할 수 있다. 즉, 전리상자(5)의 전체 길이를 2L로 하고, 전리상자측벽의 두께(t)에 안전율(γ)을 곱하여 구한 불감대(11)의 값을 T(=t·γ)로 한 경우, 피측정물(4)의 흐름방향에 대하여 불감대가 없어지는 전리상자(5)의 회전각도(α)는 α=tan-1(T/L)로서 구해진다. 안전율(γ)은 임의의 정수(예를 들어, 2)로 한다.First, as a first method of determining the rotation angle α, the total length of the ionizing box and the thickness of the ionizing box side wall can be obtained using the dead band value obtained by multiplying the safety factor. That is, when the total length of the ionizing box 5 is 2L, and the value of the dead zone 11 obtained by multiplying the thickness t of the ionizing box side wall by the safety factor γ is T (= t · γ), The rotation angle α of the ionizing box 5 that the dead zone disappears with respect to the flow direction of the object 4 to be measured is obtained as α = tan −1 (T / L). Safety factor (gamma) is made into arbitrary integers (for example, 2).
다음에, 회전각도(α)를 결정하는 제 2 방법으로서 전리상자의 전체 길이와, 전리상자 내부직경 및 전리상자 중심부에 대한 가스량비를 사용하여 구한 불감대의 값을 사용하여 구할 수 있다. 도 12에 도시한 바와 같이 전리상자(5)의 중심부(O)에 대하여 가스량비가 c가 되는 위치를 불감대(11)와의 경계가 되는 위치로 하고, 중심부(O)를 지나는 수평선상의 상기 위치를 B로 한다. 즉, 위치 B는 전리상자 내부직경을 2r로 했을 때, 위치 B로부터 그 위쪽의 내벽의 위치 C까지의 거리를 l1로 하면, l1=c·r이 되는 위치로 한다. 또한, 도면에서 중심부(O)의 위쪽의 내벽의 위치를 A, 중심부(O)로부터 위치 B까지의 거리를 t", 위치 B로부터 그 수평방향의 내벽의 위치 D까지의 거리를 t'로 하고, OA와 OC가 이루는 각도를 β로 한다.Next, the second method for determining the rotation angle α can be obtained using the total length of the ionizing box, the dead band obtained using the ratio of the inner diameter of the ionizing box and the gas amount ratio to the center of the ionizing box. As shown in FIG. 12, the position where the gas amount ratio becomes c with respect to the center portion O of the ionizing box 5 is a position that is a boundary with the dead zone 11, and the position on the horizontal line passing through the center portion O is shown. Let B be. That is, the position B is a position where l 1 = c · r when the distance from the position B to the position C of the inner wall above it is l 1 when the inside diameter of the ionobox is 2r. Further, in the drawing, the position of the inner wall above the center O is defined as A, the distance from the center O to the position B is t ", and the distance from the position B to the position D of the inner wall in the horizontal direction is t '. , The angle formed by OA and OC is β.
여기에서 l1=c·r이지만 도면에서 l1=rcosβ가 되므로, c=cosβ가 되고, 따라서 전리상자 중심부에 대한 가스량비(c)가 주어지면 각도 β를 구할 수 있다. 또한, 도면에서 t"=rsinβ이므로 불감대(11)의 값 T는 다음과 같이 하여 구할 수 있다.Here, l 1 = c · r, but l 1 = rcosβ in the drawing, so c = cosβ, and thus, the angle β can be obtained if the gas amount ratio c to the center of the ionization box is given. In addition, since t "= rsinβ in the figure, the value T of the dead zone 11 can be obtained as follows.
그리고, 이와 같이 하여 구한 불감대(11)의 값 T와 전리상자(5)의 전체길이(2L)로부터 피측정물(4)의 흐름방향에 대해서 불감대가 없어지는 전리상자(5)의 회전각도(α)를 α=tan-1(T/L)로 하여 구할 수 있다. 또한, 전리상자 중심부에 대한 가스량비(c)는 임의의 정수(예를 들어, 0.5)로 할 수 있다.Then, the rotation angle of the ionizing box 5 in which the dead band disappears from the value T of the dead band 11 and the total length 2L of the ionizing box 5 obtained in this way with respect to the flow direction of the object 4 to be measured. (α) can be obtained by setting α = tan −1 (T / L). In addition, the gas amount ratio c with respect to the center of the ionizing box can be any integer (for example, 0.5).
또한, 제 3 방법으로서 전리상자의 전체 길이와, 전리상자 외부직경 및 가스충만계수(가스가 충만하고 있는 유효직경의 계수)를 사용하여 구한 불감대의 값을 사용하여 구할 수 있다. 전리상자 외부직경을 2R로 했을 때 도 13에 도시한 바와 같이 전리상자(5)의 중심부(O)를 지나는 수평선상에서 중심부(O)로부터의 거리가 전리상자 외부직경의 반의 값(R)에 가스충만계수(c')를 곱한 값의 위치 E를 불감대(11)와의 경계로 하고, 불감대(11)의 값(T)을 다음과 같이 하여 구한다.Further, as a third method, it can be obtained using the dead band obtained by using the total length of the ionizing box, the ionizing box outer diameter, and the gas filling coefficient (coefficient of the effective diameter filled with gas). When the outside diameter of the ionizing box is 2R, as shown in Fig. 13, the distance from the center O on the horizontal line passing through the center O of the ionizing box 5 is equal to half the value R of the outside diameter of the ionizing box. The position E of the value multiplied by the fullness coefficient c 'is defined as the boundary with the dead zone 11, and the value T of the dead zone 11 is obtained as follows.
그리고, 이와 같이 하여 구한 불감대(11)의 값(T)과 전리상자(5)의 전체 길이(2L)로부터 피측정물(4)의 흐름방향에 대해서 불감대가 없어지는 전리상자(5)의 회전각도(α)를 α=tan-1(T/L)로 하여 구할 수 있다. 또한, 가스충만계수(c')는 임의의 정수(예를 들어 0.7∼0.8정도의 값)으로 할 수 있다.Then, from the value T of the dead zone 11 thus obtained and the total length 2L of the ionizing box 5, the dead band disappears in the flow direction of the object 4 to be measured. The rotation angle α can be obtained by setting α = tan −1 (T / L). In addition, the gas filling coefficient c 'may be any integer (for example, a value of about 0.7 to 0.8).
(제 7 실시형태)(7th Embodiment)
도 14는 본 발명의 제 7 실시형태를 설명하는 도면이다. 제 1∼제 6 실시형태와 같이, 전리상자(5)를 복수개 인접시켜 배열하고 있는 경우, 전리상자(5)에는 발생기(3)로부터 방사된 방사선(14) 이외에 인접하는 전리상자(5)로부터의 산란선(13)이 입사되므로, 가장자리부의 정밀도 저하, 분해능력 저하 등 측정결과에 악영향을 미치는 경우가 있다.It is a figure explaining the 7th Embodiment of this invention. As in the first to sixth embodiments, when the plurality of ionizing boxes 5 are arranged adjacent to each other, the ionizing boxes 5 are provided from adjacent ionizing boxes 5 in addition to the radiation 14 radiated from the generator 3. Since the scattering line 13 is incident, the measurement result may be adversely affected, such as a decrease in accuracy of the edge portion and a decrease in resolution.
그래서, 상기 실시형태에서는 이와 같은 산란선(13)의 영향을 감소시키기 위해 인접하는 전리상자(5) 사이에 분리판(12)을 배치하고 있다.Therefore, in the said embodiment, in order to reduce the influence of such scattering lines 13, the separating plate 12 is arrange | positioned between the adjacent ionizing boxes 5.
분리판(12)의 두께는 산란선을 충분히 흡수할 수 있는 두께로 하고 분리판(12)의 길이, 높이에 대해서는 각각 전리상자(5)의 길이, 높이와 동등 이상으로 한다.The thickness of the separating plate 12 is a thickness capable of sufficiently absorbing scattering lines, and the length and height of the separating plate 12 are equal to or greater than the length and height of the ionizing box 5, respectively.
또한, 분리판(12)의 재질은 스텐레스강(예를 들어 SUS304)을 사용할 수 있지만, 산란선을 흡수할 수 있는 재질이면 한정되지 않는다. 예를 들어, 텅스텐, 아연 등을 사용할 수 있다.In addition, although the material of the separator 12 can use stainless steel (for example, SUS304), it will not be limited if it is a material which can absorb a scattering line. For example, tungsten, zinc or the like can be used.
또한, 선흡수 계수가 큰 재질의 것일수록 판두께를 얇게 할 수 있다.In addition, the plate thickness can be made thinner as the material having a larger linear absorption coefficient.
또한, 이와 같이 분리판(12)을 사용한 경우, 피측정물(4)의 흐름방향에 대해서 불감대가 없어지는 전리상자(5)의 회전각도(α')는 분리판(12)의 판두께를 t2로 했을 때, 제 6 실시형태의 경우의 T 대신, (T+0.5t2)를 사용하여 α'=tan-1{(T+0.5t2)/L}로 하여 구할 수 있다.In addition, when the separator 12 is used in this manner, the rotation angle α 'of the ionizing box 5 which eliminates the dead zone with respect to the flow direction of the object 4 is determined by the plate thickness of the separator 12. When it is set to t 2 , instead of T in the sixth embodiment, (T + 0.5t 2 ) can be used to obtain α ′ = tan −1 {(T + 0.5t 2 ) / L}.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면 전리상자의 배치를 피측정물의 흐름방향에 대하여 시계방향 또는 반시계 방향으로 회전시킴으로써 방사선 감도가 낮은 영역이 감소하고, 측정영역 전체에 걸쳐어 감도의 변화가 적은 다점계측 두께 측정계를 얻을 수 있고, 피측정물에 국소적으로 하이스폿(결함)이 있는 경우에, 이것을 용이하게 검출할 수 있다.As described above, according to the present invention, by rotating the ionizing box in a clockwise or counterclockwise direction with respect to the flow direction of the object to be measured, the area having low radiation sensitivity is reduced, and the change in sensitivity is small throughout the measurement area. A measurement thickness measuring system can be obtained, and this can be easily detected when there is a high spot (defect) locally in the object to be measured.
또한, 입력된 신호로부터 사행량을 구하고 이것을 각 측정위치간을 보간한 함수에 적용함으로써 피측정물의 사행에 의한 목표측정위치의 어긋남에 대응할 수 있고, 목표측정위치 부근의 측정을 연속적으로 실시할 수 있다.Furthermore, by calculating the meandering amount from the input signal and applying it to a function interpolated between the respective measuring positions, it is possible to cope with the deviation of the target measuring position due to the meandering of the measured object, and to continuously measure the vicinity of the target measuring position. have.
도 1은 본 발명의 제 1 실시형태에 관한 다점계측 두께 측정계의 구성을 도시한 정면도,1 is a front view showing the configuration of a multi-point measurement thickness measuring system according to a first embodiment of the present invention;
도 2는 제 1 실시형태에서의 전리상자의 배열을 도시한 사시도,FIG. 2 is a perspective view showing the arrangement of the ionizing box in the first embodiment; FIG.
도 3은 도 2에서 전리상자의 바로 위에서 본 상태를 도시한 AA'화살표에 의한 도면,Figure 3 is a view by the AA 'arrow showing a state seen from directly above the iono box in FIG.
도 4는 제 1 실시형태에서의 전리상자의 폭방향에 대한 감도분포를 도시한 도면,FIG. 4 is a diagram showing a sensitivity distribution with respect to the width direction of the ionizing box in the first embodiment; FIG.
도 5는 본 발명의 제 2 실시형태에 관한 다점계측 두께 측정계의 구성을 도시한 도면,5 is a diagram showing the configuration of a multi-point measurement thickness measuring system according to a second embodiment of the present invention;
도 6은 본 발명의 제 3 실시형태에 관한 다점계측 두께 측정계의 구성을 도시한 도면,6 is a diagram showing the configuration of a multi-point measurement thickness measuring system according to a third embodiment of the present invention;
도 7은 본 발명의 제 4 실시형태에 관한 다점계측 두께 측정계의 구성을 도시한 도면,7 is a diagram showing the configuration of a multi-point measurement thickness measuring system according to a fourth embodiment of the present invention;
도 8은 본 발명의 제 5 실시형태에 관한 다점계측 두께 측정계의 구성을 도시한 도면,8 is a diagram showing the configuration of a multi-point measurement thickness measuring system according to a fifth embodiment of the present invention;
도 9는 제 5 실시형태에서의 목표측정위치가 실제의 측정위치 사이에 있는 경우에 목표측정위치의 판두께값을 보간하여 구하는 그래프를 도시한 도면,9 is a graph showing a graph obtained by interpolating a plate thickness value of a target measurement position when the target measurement position in the fifth embodiment is between the actual measurement positions;
도 10은 제 5 실시형태에서의 피측정물이 사행(蛇行)한 경우에 목표측정위치의 판두께값을 보간하여 구하는 그래프를 도시한 도면,FIG. 10 is a graph showing a graph obtained by interpolating a plate thickness value of a target measurement position when the measured object meanders in the fifth embodiment;
도 11은 본 발명의 제 6 실시형태에서의 전리상자의 회전각도를 결정하는 방법을 설명하기 위한 도면,FIG. 11 is a view for explaining a method for determining the rotation angle of an ionizing box in a sixth embodiment of the present invention; FIG.
도 12는 본 발명의 제 6 실시형태에서의 전리상자 내부직경, 전리상자 중심부에 대한 가스량비 등을 사용하여 전리상자의 회전각도를 결정하는 방법을 설명하기 위한 도면,12 is a view for explaining a method of determining the rotation angle of an ionizing box by using the inside diameter of the ionizing box, the gas amount ratio with respect to the center of the ionizing box, and the like in the sixth embodiment of the present invention;
도 13은 본 발명의 제 6 실시형태에서의 전리상자 외부직경, 가스충만계수 등을 사용하여 전리상자의 회전각도를 결정하는 방법을 설명하기 위한 도면,FIG. 13 is a view for explaining a method of determining the rotation angle of an ionizing box by using an ionizing box outer diameter, a gas filling factor, and the like in a sixth embodiment of the present invention; FIG.
도 14는 본 발명의 제 7 실시형태에 관한 다점계측 두께 측정계의 주요부의 구성을 도시한 도면,14 is a diagram showing the configuration of main parts of a multi-point measurement thickness measuring system according to a seventh embodiment of the present invention;
도 15는 종래예의 구성을 도시한 정면도,15 is a front view showing the structure of a conventional example;
도 16은 종래예에서의 전리상자의 배열을 도시한 사시도,16 is a perspective view showing the arrangement of the ionolysis box in the conventional example;
도 17은 도 16에서 전리상자의 바로 위에서 본 상태를 도시한 AA'사시도 및FIG. 17 is an AA ′ perspective view showing a state seen directly from above the ionolysis box in FIG. 16;
도 18은 종래예에서의 전리상자의 폭방향에 대한 감도분포를 도시한 도면이다.Fig. 18 is a diagram showing a sensitivity distribution in the width direction of the ionizing box in the conventional example.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
1: 역 ㄷ자형 프레임 2: 검출부1: inverted U-shaped frame 2: detector
3: 발생기 4: 피측정물3: Generator 4: Measured Object
5: 전리상자 6: 다점계측 두께 측정계 이동장치5: ionizing box 6: multi-point thickness gauge moving device
7: 두께 연산기 8: 폭 측정계7: thickness calculator 8: width measuring system
9: 가장자리 센서 10: 판중심 어긋난 양 측정장치9: Edge sensor 10: Plate center misalignment measuring device
11: 불감대 12: 분리판11: deadband 12: separator
13: 산란선 14: 방사선13: scatter line 14: radiation
Claims (9)
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2001-00056817 | 2001-03-01 | ||
JP2001056817 | 2001-03-01 | ||
JPJP-P-2002-00013937 | 2002-01-23 | ||
JP2002013937A JP3948965B2 (en) | 2001-03-01 | 2002-01-23 | Multi-point thickness gauge |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020070824A KR20020070824A (en) | 2002-09-11 |
KR100491019B1 true KR100491019B1 (en) | 2005-05-24 |
Family
ID=26610434
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2002-0010420A Expired - Lifetime KR100491019B1 (en) | 2001-03-01 | 2002-02-27 | Multipoint thickness measurement system |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3948965B2 (en) |
KR (1) | KR100491019B1 (en) |
CN (1) | CN1223827C (en) |
TW (1) | TWI272371B (en) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10307356A1 (en) * | 2003-02-21 | 2004-09-16 | Sikora Ag | Method and device for determining the thickness of the insulation of a flat cable in areas of the metallic conductor tracks |
JP2006170883A (en) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Toshiba Corp | Thickness profile measuring device |
JP2009098095A (en) * | 2007-10-19 | 2009-05-07 | Yasuto Ioka | Ionization chamber type x-ray foreign matter detector and cylindrical ionization chamber |
KR100921417B1 (en) * | 2007-12-17 | 2009-10-14 | 한국원자력연구원 | Multi-sided thickness measuring device and measuring method using single point isotope radiation source |
JP5847674B2 (en) * | 2012-09-10 | 2016-01-27 | 株式会社東芝 | X-ray thickness gauge |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5890112A (en) * | 1981-11-26 | 1983-05-28 | Toshiba Corp | Radiation ray thickness meter |
JPS60230008A (en) * | 1984-04-28 | 1985-11-15 | Toshiba Corp | Radiation thickness gauge |
KR100319430B1 (en) * | 1993-04-26 | 2002-06-20 | 쟝 가브리엘 메날드 | Calibrator and its calibration method for the assembly of measuring thickness profiles of flat products |
-
2002
- 2002-01-23 JP JP2002013937A patent/JP3948965B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-02-25 TW TW091103292A patent/TWI272371B/en not_active IP Right Cessation
- 2002-02-27 KR KR10-2002-0010420A patent/KR100491019B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-02-28 CN CNB02119825XA patent/CN1223827C/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5890112A (en) * | 1981-11-26 | 1983-05-28 | Toshiba Corp | Radiation ray thickness meter |
JPS60230008A (en) * | 1984-04-28 | 1985-11-15 | Toshiba Corp | Radiation thickness gauge |
KR100319430B1 (en) * | 1993-04-26 | 2002-06-20 | 쟝 가브리엘 메날드 | Calibrator and its calibration method for the assembly of measuring thickness profiles of flat products |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20020070824A (en) | 2002-09-11 |
TWI272371B (en) | 2007-02-01 |
CN1378067A (en) | 2002-11-06 |
JP3948965B2 (en) | 2007-07-25 |
JP2002328016A (en) | 2002-11-15 |
CN1223827C (en) | 2005-10-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1076712A (en) | Self-compensating x-ray or gamma ray thickness gauge | |
KR970003620B1 (en) | Axial Position Detector of Piston Rod | |
KR20100083834A (en) | Method for ascertaining rethe pressure and the profile depth in a vehicle tyre | |
JP6512980B2 (en) | X-ray transmission inspection apparatus and X-ray transmission inspection method | |
US8184766B2 (en) | X-ray computer tomograph and method for investigating an object by means of X-ray computer tomography | |
US4951222A (en) | Method and system for dimensional and weight measurements of articles of manufacture by computerized tomography | |
KR100491019B1 (en) | Multipoint thickness measurement system | |
JPS5949524B2 (en) | measurement system | |
US6480802B1 (en) | Method for determining the flatness of a material strip | |
RU2164661C1 (en) | Intertubular multi-channel profilometer | |
JPS5842904A (en) | Length measuring device | |
JPS5985930A (en) | shape detection device | |
RU2708682C1 (en) | Contact sensor of specific electric conductivity of liquid | |
RU2119643C1 (en) | Method determining planeness of moving strip of material | |
JP2004317137A (en) | Displacement measurement method of structure | |
EP0592520B1 (en) | Method for calibrating an x-ray layer thickness measuring apparatus | |
JP4371535B2 (en) | Radiation instrumentation system calibration method | |
JP2988645B2 (en) | Measurement method of sheet material distortion shape | |
JPH04273010A (en) | Measurement of plate thickness of thick plate | |
JP2001147116A (en) | Plate thickness measuring device | |
JPH02205705A (en) | Profile measuring apparatus | |
JPS623609A (en) | Range finder | |
JPH04353707A (en) | Measuring apparatus utilizing radiation | |
JPS57124561A (en) | Measuring device for roll alignment | |
JPH04319612A (en) | Apparatus for measuring sectional shape |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20020227 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20040531 Patent event code: PE09021S01D |
|
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20041221 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20040531 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
|
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
PJ0201 | Trial against decision of rejection |
Patent event date: 20050119 Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event code: PJ02012R01D Patent event date: 20041221 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PJ02011S01I Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal Decision date: 20050413 Appeal identifier: 2005101000263 Request date: 20050119 |
|
PB0901 | Examination by re-examination before a trial |
Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20050119 Patent event code: PB09011R02I Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event date: 20050119 Patent event code: PB09011R01I Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event date: 20041005 Patent event code: PB09011R02I |
|
B701 | Decision to grant | ||
PB0701 | Decision of registration after re-examination before a trial |
Patent event date: 20050413 Comment text: Decision to Grant Registration Patent event code: PB07012S01D Patent event date: 20050316 Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial Patent event code: PB07011S01I |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20050513 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20050516 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20080428 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20090429 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20100428 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20110330 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20120423 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130419 Year of fee payment: 9 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20130419 Start annual number: 9 End annual number: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140421 Year of fee payment: 10 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20140421 Start annual number: 10 End annual number: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160408 Year of fee payment: 12 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20160408 Start annual number: 12 End annual number: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170420 Year of fee payment: 13 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170420 Start annual number: 13 End annual number: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180417 Year of fee payment: 14 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20180417 Start annual number: 14 End annual number: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190417 Year of fee payment: 15 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190417 Start annual number: 15 End annual number: 15 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200422 Start annual number: 16 End annual number: 16 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210421 Start annual number: 17 End annual number: 17 |
|
PC1801 | Expiration of term |
Termination date: 20220827 Termination category: Expiration of duration |