[go: up one dir, main page]

KR100462394B1 - 백색 발광다이오드 및 그 제조방법 - Google Patents

백색 발광다이오드 및 그 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR100462394B1
KR100462394B1 KR10-2002-0052521A KR20020052521A KR100462394B1 KR 100462394 B1 KR100462394 B1 KR 100462394B1 KR 20020052521 A KR20020052521 A KR 20020052521A KR 100462394 B1 KR100462394 B1 KR 100462394B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light emitting
emitting diode
white light
epoxy resin
pcb
Prior art date
Application number
KR10-2002-0052521A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20040021079A (ko
Inventor
이현우
Original Assignee
주식회사 티씨오
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 티씨오 filed Critical 주식회사 티씨오
Priority to KR10-2002-0052521A priority Critical patent/KR100462394B1/ko
Priority to PCT/KR2003/001780 priority patent/WO2004021459A1/en
Priority to CN03820799.0A priority patent/CN1679178A/zh
Priority to JP2004532445A priority patent/JP2005537655A/ja
Priority to AU2003257724A priority patent/AU2003257724A1/en
Publication of KR20040021079A publication Critical patent/KR20040021079A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100462394B1 publication Critical patent/KR100462394B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10H20/00
    • H01L25/0756Stacked arrangements of devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48257Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/85Packages
    • H10H20/8506Containers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/85Packages
    • H10H20/851Wavelength conversion means
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/85Packages
    • H10H20/852Encapsulations

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

본 발명은 백색 발광다이오드 및 그 제조방법에 관한 것으로, PCB기판에 430∼470㎚계의 발광다이오드 칩을 다이 본딩, 와이어 본딩을 하고 YAG계 형광체를 일정비율로 혼합한 에폭시수지로 트랜스퍼 몰드를 한 후, 쏘우잉 공정을 통하여 개별화 한 패키지를 다른 패키지의 PCB기판에 크림 솔더로 접착하고, 투광용 에폭시수지로 2차 트랜스퍼 몰드를 하고, 2차 쏘우잉 공정을 통하여 개별화함으로써 얻어지는 백색 발광다이오드 및 그 제조방법에 관한 관한 것이다.

Description

백색 발광다이오드 및 그 제조방법 {White Light Emitting Diode and its method of making}
본 발명은 백색 발광다이오드 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 일정 파장 변환 효율이 향상된 백색 발광다이오드 및 그 제조방법에 관한 것이다.
백색 발광다이오드 제조방법에 관한 종래기술은 도 1과 같이 InGaN, GaN계의 발광다이오드 칩(1)을 반사컵(17)부에 실장한 후, 이 반사컵(17)부에 광의 일부를 흡수하여 광의 파장과는 다른 파장을 가지는 포토루미네선스 형광체(3)를 포팅(Potting)하여 백색광을 얻는 방법이 최근에 가장 많이 개발되고 있는 백색 발광다이오드 제작 방법이다. 하지만, 포토루미네선스 형광체(3)를 포팅(Potting)하여 백색광을 얻는 방법은 그 공정이 매우 복잡하고, 형광체의 혼합비율이 일정하지 않으면 파장 불일치로 인하여 얼룩이 생기고 시인성도 그만큼 저하된다. 또, 포토루미네선스 형광체(3)를 포팅하여 백색광을 얻는 방법은 형광체의 두께와 혼합 비율에 따라 제조할 때마다 다른 파장의 제품이 생산됨으로 인하여 제조공정이 매우 어렵고, 또한 형광체의 손실 비용이 높아 백색 발광다이오드가 매우 고가이고, 휘도가 매우 낮아 백색광을 상용화하는 데는 어려움이 있다.
본 발명은 이러한 종래의 백색 발광다이오드 제조방법의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 다층 패키지 구조로 백색 발광다이오드를 제작함으로서 동일 파장 분포와 동일 색좌표를 갖도록 하여 기존의 양산성 문제를 개선한 발광효율이 뛰어난 백색 발광다이오드 소자 및 그 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적은 YAG계 형광체를 일정한 두께와 일정한 혼합비를 갖는 트랜스퍼 몰드용인 YAG 에폭시재를 적용함으로써 광휘도 및 색좌표, 색온도가 동일할 뿐 아니라, YAG계 형광체중 파장변환 형광체의 사용을 최소화하여 제조비용을 대폭 절감하는 백색 발광다이오드 및 그 제조방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 백색 발광다이오드 및 발광다이오드의 제조 시 패키지 사이즈별로 다른 제품을 생산할 때에 전 공정의 신규투자가 이루어져야 하는데 본 발명의 실시로 반도체 제조 공정의 과다한 투자비를 최소화 할 수 있는 백색발광다이오드 및 그 제조방법을 제공하는 것이다.이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 백색 발광다이오드의 제조방법은 한 쌍의 PCB 패턴부가 다수개의 1조로서 다수열로 배열구성되며, 단일 PCB 패턴마다 접착제로 도팅(Dotting)하는 제1공정과, 접착제에 발광다이오드 칩(430㎚∼470㎚)을 PCB 패드 컵 부분에 다이 본딩하는 제2공정과, 상기 발광다이오드 칩을 골드 와이어로 전극에 접합하는 제3공정과, 다수열로 배열되어 있는 PCB 패턴부를 몰드 금형에 안착시키고 YAG계 형광체와 에폭시수지를 혼합한 열경화성수지로 몰드하는 제4공정과, 몰드가 끝난 일련의 PCB 패턴부를 쏘우잉으로 단일화하는 제5공정에 있어서, 상기 단일화된 패키지를 인쇄된 다수열의 FR4 PCB 재질에 크림솔더로 다시 실장하고, 상기 다수열로 배열되어 있는 FR4 PCB를 몰드 금형에 안착시킨 후 투광형 에폭시수지로 렌즈형으로 몰드하여, 상기 몰드가 끝난 일련의 FR4 PCB 패턴부를 2차 쏘우잉으로 단일화하는 공정을 포함하여 이루어지는 특징이 있다.본 발명에 따른 백색 발광다이오드 제조방법의 다른 실시예는 한 쌍의 PCB 패턴부가 다수개의 1조로서 다수열로 배열구성되며, 단일 PCB 패턴마다 접착제로 도팅하는 제1공정과, 접착제에 발광다이오드 칩(430㎚∼470㎚)을 PCB 패드 컵 부분에 다이 본딩하는 제2공정과, 상기 발광다이오드 칩을 골드 와이어로 전극에 접합하는 제3공정과, 다수열로 배열되어 있는 PCB 패턴부를 몰드 금형에 안착시키고 YAG계 형광체와 에폭시수지를 혼합한 에폭시수지로 몰드하는 제4공정과, 몰드가 끝난 일련의 PCB 패턴부를 쏘우잉으로 단일화하는 제5공정에 있어서, 상기 단일화된 패키지를 인쇄된 다수열의 사출 리드프레임에 크림솔더로 다시 실장하고, 상기 다수열로 배열되어 있는 사출 리드프레임을 투광형 에폭시수지로 포팅하여 고착하고, 상기 고착이 끝난 일련의 사출 리드프레임을 트리밍(Trimming)과 동시에 포밍(Formming)하여 단일화하는 공정으로 이루어지는 특징이 있다.
도 1는 종래의 백색 발광 다이오드 패키지를 나타낸 종단면도,
도 2a,2b와 2c,2d는 각각 본 발명의 제1실시예에 따른 백색 발광 다이오드의 각기 다른 구조를 도시한 평단면도 및 종단면도,
도 3a는 본 발명에 따른 백색 발광 다이오드의 1차 공정도,
도 3b,3c는 도3a의 공정을 거쳐 단일화된 패키지의 평단면도 및 종단면도,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 백색 발광 다이오드의 2차 공정도,
도 5는 본 발명의 의해 제조된 백색 발광 다이오드의 스펙트럼분포도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : InGaN, GaN계 LED 칩(430nm~470nm)
2 : 골드 와이어 3 : YAG계 형광체(파장변환 형광체와 에폭시수지 혼합물)
4 : 에폭시 렌즈(구형, 타원) 5 : 금 도금층
6 : PbSn 도금층 7 : FR4 PCB 패턴
8 : PCB 패턴(BT-Resin) 9 : 크림 솔더
10 : 다이 접착제 10A : 광투과형 다이 접착제
11 : 투과형 에폭시수지 12 : 사출 리드프레임
13 : 리드 프레임 14 : 관통홀15 : 음극리드 16 : 양극리드16A : 양극리드 17 : 반사컵부
이하 첨부된 도면을 참조로 본 발명에 따른 백색 발광다이오드 및 그 제조방법의 실시예들을 구체적으로 설명하기로 한다.도 2a, 2b는 각각 본 발명의 일 실시예에 따른 백색 광 반도체 소자의 평단면도 및 종단면도이다.
도시된 바와 같이 본 발명에 따른 백색 광 반도체 소자의 구성은 접착제(10)에 다이 본딩된 발광다이오드 칩(1)(430nm~470nm)과, 이 칩(1)의 통전을 위한 통전 와이어(2)와 YAG계 형광체와 에폭시수지를 혼합한 에폭시수지(Epoxy)(3)로 몰드한 개별 패키지(P)와, 이 개별 패키지(P)를 FR4 PCB 패턴(7)에 실장하기 위한 크림 솔더(9)와, 이 개별 패키지(P) 위에 투광형 에폭시수지(11)로 몰드한 에폭시 렌즈(4)로 이루어진다.
도 2c, 2d는 본 발명의 또다른 실시예를 도시한 백색 광 반도체 소자의 평면도 및 단면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 백색 광 반도체 소자의 구성은 접착제(10)에 다이 본딩된 발광다이오드 칩(1)(430nm~470nm)과, 이 발광다이오드 칩(1)의 통전을 위한 통전 와이어(2)와, YAG계 형광체와 에폭시수지를 혼합한 에폭시수지(3)로 몰드한 개별 패키지(P)와, 이 개별 패키지(P)를 다른 사출 리드프레임(12)에 실장하기 위한 크림 솔더(9)와, 크림 솔더(9)로 실장한 사출 리드프레임 패드 컵 위에 포팅한 투광형 에폭시수지(11)로 이루어진다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 백색 광 반도체 소자의 제1공정을 도시한 것이고, 도 3b 및 도 3c는 상기 공정에서 만들어진 개별패키지(P)의 평단면도 및 종단면도로써, 한 쌍의 PCB 패턴부(8)가 다수개의 1조로서 다수열로 배열구성되며, 단일 PCB 패턴마다 도팅(Dotting)하는 접착제(10)와, PCB 패드 컵(17)부분에 도팅된 접착제(10)위에 접착되는 발광다이오드 칩(1)(430nm~470nm)과, 상기 발광다이오드 칩(1)을 전극 접합하는 골드 와이어(2)와, 다수열로 배열되어 있는 PCB 패턴부를 몰드 금형에 안착시키고 YAG계 형광체와 에폭시수지 혼합 에폭시수지(3)로 몰드(Mold)하고 일련의 PCB 패턴부(8)를 쏘우잉하여 단일화 한 패키지(P)로 이루어진다.도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 백색 광 반도체 소자의 제2공정에 관한 것으로서, 제1공정에서 개별화된 패키지(P)를 크림 솔더(9)를 사용하여 FR4 PCB 패턴(7)에 실장하고, FR4 PCB 패턴(7)위에 실장된 개별 패키지(P)위에 투광형 에폭시수지(11)를 몰드한다.(도 2a, 2b참조) 이로써 제1공정에서 일정 색 좌표를 갖는 개별화된 백색 발광다이오드 소자를 투광형 에폭시수지(11)로 구성된 렌즈를 갖춘 에폭시수지로 몰드함으로서 1차 공정을 통해 얻어진 균일한 색좌표와 휘도를 가진 개별화된 백색 발광다이오드를 분류 사용할 수 있는 장점과, 이후에 거쳐야 할 테스트 및 쏘우잉공정을 생략가능한 상태의 다양한 규격의 저가 패키지를 만들 수 있으므로 형광체의 사용을 최소화하면서 고휘도(렌즈를 갖추었기에 고휘도가 됨)의 백색 발광다이오드를 얻을 수 있다. 또한, 소형 저가로 제작된 개별화된 발광다이오드 소자를 대형 고가의 백색 발광다이오드 패키지(Package)소자에 실장함으로써 공정수율을 향상시킬 뿐 아니라 균일한 색 좌표와 휘도를 갖는 각종 규격의 제품을 별도의 고가 장비의 투자없이도 제품의 양산이 가능하게 된다.또한 제1차공정에서 개별화된 패키지(P)중 균일한 색좌표 및 휘도를 갖는 백색다이오드 만을 별도로 분류하고 크림솔더를 사용하여 다른 사출리드프레임에 실장하며 사출리드프레임의 패드컵 위에 실장된 개별 패키지(P)위에 투광형 에폭시수지를 포팅하고 트리밍 및 포밍함으로서 색의 불균형 현상을 방지할 수 있으며, 1차 쏘우잉시까지의 장비를 갖춘 후 각각 크기(예 1608, 3528, 2012, 5050 등)에 실장하는 장비는 제일 큰 장비 기준으로 하나만 갖추면 작업이 가능하므로 장비투자비용도 절감할 수 있다.도 5는 각각 본 발명의 일 실시예에 따른 백색 발광다이오드의 파장스펙트럼분포도이다. 이 파장 분포도는 기본의 제조방법에 따른 백색발광다이오드보다 우수한 것을 보여준다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의한 백색 발광다이오드에서 구현한 백색광은 종래의 백색 발광다이오드 제작방법보다 저가로 생산할 수 있고, 고휘도의 제품을 얻을 수 있다. 또, 경년 변화가 없는 백색광을 얻을 수 있다. 본 발명의 실시예에 따르면 고가의 형광체를 일정 비율로 혼합한 에폭시수지의 사용을 최소화 할 수 있고 항상 동일한 두께로 형광 에폭시를 형성할 수 있으므로 제조비용이 저렴하고 일정 색 좌표 및 고휘도의 백색광을 얻을 수 있다. 또한, 사출 반사컵의 리드프레임과, 투광형 렌즈의 에폭시수지를 형광 에폭시 위에 형성시킴으로써 광의 집속도를 향상시킬 수 있다.

Claims (10)

  1. (정정) 한 쌍의 PCB 패턴부가 다수개의 1조로서 다수열로 배열되며 단일 PCB 패턴마다 접착제(10)로 도팅하는 제1공정과, 이 접착제(10)에 발광다이오드 칩(1) (430nm~470nm)을 PCB 패드 컵(17)부분에 다이 본딩하는 제2공정과, 상기 발광다이오드 칩(1)을 골드 와이어(2)에 의해 전극 접합하는 제3공정과, 상기 제3공정에 의해 완성한 후, 다수열로 배열되어 있는 PCB 패턴부를 몰드 금형에 안착시키고 YAG계 형광체와 에폭시수지를 혼합한 에폭시수지(3)로 몰드하는 제4공정과, 상기 몰드가 끝난 일련의 PCB 패턴부를 쏘우잉으로 단일화하는 제5공정으로 이루어진 제조방법에 있어서,
    상기 단일화된 패키지를 인쇄된 다수열의 FR4 PCB 패턴(7)에 크림솔더(9)로 다시 실장하고,
    상기 다수열로 배열되어 있는 FR4 PCB 패턴(7)을 몰드 금형에 안착시킨 후 투광형 에폭시수지(11)로 렌즈형으로 몰드하여 상기 몰드가 끝난 일련의 FR4 PCB 패턴부를 2차 쏘우잉으로 단일화하는 공정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 백색 발광다이오드의 제조방법.
  2. 청구항 1의 제조방법에 의해 제조된 백색 발광다이오드.
  3. (정정) 한 쌍의 PCB 패턴부가 다수개의 1조로서 다수열로 배열되며 단일 PCB 패턴 마다 접착제(10)로 도팅하는 제1공정과, 이 접착제(10)에 발광다이오드 칩(1:430nm~470nm)을 PCB 패드 컵(17) 부분에 다이 본딩하는 제2공정과, 상기 발광다이오드 칩(1)을 골드 와이어(2)에 의해 전극 접합하는 제3공정과, 상기 다수열로 배열되어 있는 PCB 패턴부를 몰드 금형에 안착시키고 YAG계 형광체와 에폭시수지를 혼합한 에폭시수지(3)로 몰드하는 제4공정과, 상기 몰드가 끝난 일련의 PCB 패턴부를 쏘우잉으로 단일화하는 제5공정으로 이루어지는 제조방법에 있어서,
    상기 단일화된 패키지를 인쇄된 다수열의 사출 리드프레임(12)에 크림 솔더(9)로 실장하고,
    상기 다수열로 배열되어 있는 사출 리드프레임(12)을 투광형 에폭시수지(11)로 포팅하여 고착하고,
    상기 고착이 끝난 일련의 사출 리드프레임(12)을 트리밍(Trimming)과 동시에 포밍(Forming)하여 단일화하는 공정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 백색 발광다이오드의 제조방법.
  4. 청구항 3의 제조방법으로 제조된 백색 발광다이오드.
  5. (삭제)
  6. (삭제)
  7. (삭제)
  8. (삭제)
  9. (삭제)
  10. (삭제)
KR10-2002-0052521A 2002-09-02 2002-09-02 백색 발광다이오드 및 그 제조방법 KR100462394B1 (ko)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0052521A KR100462394B1 (ko) 2002-09-02 2002-09-02 백색 발광다이오드 및 그 제조방법
PCT/KR2003/001780 WO2004021459A1 (en) 2002-09-02 2003-09-01 White light emitting diode and its methode of making
CN03820799.0A CN1679178A (zh) 2002-09-02 2003-09-01 白色发光二极管及其制作方法
JP2004532445A JP2005537655A (ja) 2002-09-02 2003-09-01 白色発光ダイオード及び白色発光ダイオードの製造方法
AU2003257724A AU2003257724A1 (en) 2002-09-02 2003-09-01 White light emitting diode and its methode of making

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2002-0052521A KR100462394B1 (ko) 2002-09-02 2002-09-02 백색 발광다이오드 및 그 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20040021079A KR20040021079A (ko) 2004-03-10
KR100462394B1 true KR100462394B1 (ko) 2004-12-17

Family

ID=31973619

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2002-0052521A KR100462394B1 (ko) 2002-09-02 2002-09-02 백색 발광다이오드 및 그 제조방법

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP2005537655A (ko)
KR (1) KR100462394B1 (ko)
CN (1) CN1679178A (ko)
AU (1) AU2003257724A1 (ko)
WO (1) WO2004021459A1 (ko)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100638868B1 (ko) * 2005-06-20 2006-10-27 삼성전기주식회사 금속 반사 층을 형성한 엘이디 패키지 및 그 제조 방법
US7329907B2 (en) 2005-08-12 2008-02-12 Avago Technologies, Ecbu Ip Pte Ltd Phosphor-converted LED devices having improved light distribution uniformity
CN100573837C (zh) * 2006-05-30 2009-12-23 亿光电子工业股份有限公司 一种发光二极管和印刷电路板的制造方法
CN100414701C (zh) * 2006-06-08 2008-08-27 弘元科技有限公司 发光系统、发光装置及其形成方法
US7763478B2 (en) * 2006-08-21 2010-07-27 Cree, Inc. Methods of forming semiconductor light emitting device packages by liquid injection molding
EP2135302A2 (en) * 2007-03-08 2009-12-23 Sensors For Medicine And Science, Inc. Light emitting diode for harsh environments
WO2009091337A1 (en) * 2008-01-18 2009-07-23 Pne Micron Holdings Ltd Process for organic coating
CN101619136B (zh) * 2008-06-30 2011-11-23 柏腾科技股份有限公司 用于转换光谱的有机薄膜及发光二极管芯片封装模块
KR101509227B1 (ko) * 2008-07-21 2015-04-10 서울반도체 주식회사 Led 패키지 제조방법
US8679865B2 (en) * 2009-08-28 2014-03-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Resin application apparatus, optical property correction apparatus and method, and method for manufacturing LED package
KR101106106B1 (ko) * 2009-11-26 2012-01-18 정상열 진공 순환 방식의 보일러
JP5375776B2 (ja) * 2010-09-09 2013-12-25 パナソニック株式会社 Ledパッケージ製造システム
KR20120067153A (ko) 2010-12-15 2012-06-25 삼성엘이디 주식회사 발광소자, 발광소자 패키지, 발광소자의 제조방법, 및 발광소자의 패키징 방법
CN112718545B (zh) * 2020-11-11 2022-09-20 珠海格力智能装备有限公司 一种喷胶机视觉检测装置及全自动喷胶流水线

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS624380A (ja) * 1985-06-29 1987-01-10 Toshiba Corp 発光ダイオ−ド装置
US20010042865A1 (en) * 1997-01-15 2001-11-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device and its manufacturing method

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2912120B2 (ja) * 1993-05-14 1999-06-28 日本電気株式会社 不揮発性半導体記憶装置及びその製造方法
JP3329573B2 (ja) * 1994-04-18 2002-09-30 日亜化学工業株式会社 Ledディスプレイ
JP2002043625A (ja) * 2000-07-19 2002-02-08 Koha Co Ltd Led装置
JP2002050798A (ja) * 2000-08-04 2002-02-15 Stanley Electric Co Ltd 白色ledランプ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS624380A (ja) * 1985-06-29 1987-01-10 Toshiba Corp 発光ダイオ−ド装置
US20010042865A1 (en) * 1997-01-15 2001-11-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device and its manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
AU2003257724A1 (en) 2004-03-19
KR20040021079A (ko) 2004-03-10
JP2005537655A (ja) 2005-12-08
CN1679178A (zh) 2005-10-05
WO2004021459A1 (en) 2004-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20230352617A1 (en) Optoelectronic semiconductor component
KR100621154B1 (ko) 발광 다이오드 제조방법
KR100723247B1 (ko) 칩코팅형 led 패키지 및 그 제조방법
KR101521260B1 (ko) 발광 다이오드 패키지 및 이의 제조방법
KR100462394B1 (ko) 백색 발광다이오드 및 그 제조방법
US20080258162A1 (en) Package for a high-power light emitting diode
EP2400567A2 (en) Phosphor selection for a Light-Emitting Device
EP1643566A1 (en) Process for producing light-emitting diode element emitting white light
KR101217660B1 (ko) Led의 제조방법
US20040251464A1 (en) Multi-chip light emitting diode package
JP2002094123A (ja) 表面実装型発光ダイオード及びその製造方法
JP4003866B2 (ja) 表面実装型発光ダイオード及びその製造方法
JP2012134295A (ja) 半導体発光装置及びその製造方法
US6667497B1 (en) LED package
JP2007281218A (ja) 発光ダイオードおよびその製造方法
JP3332880B2 (ja) 表面実装型発光ダイオードの製造方法
KR200383148Y1 (ko) 반사식 파장변환형 발광다이오드 및 그 제조방법
JP2000124507A (ja) 表面実装型発光ダイオード
KR100628884B1 (ko) 백색 발광다이오드 및 그 제조방법
KR100748707B1 (ko) 발광 소자의 제조 방법
JP3138706U (ja) 高効率横型発光効果を有する発光ダイオードチップの封止構造。
KR20060064714A (ko) 반사식 파장변환형 발광다이오드 및 그 제조방법
KR100999712B1 (ko) 발광 다이오드 패키지
KR100610272B1 (ko) 넓은 지향각의 구조를 갖는 멀티칼러 발광다이오드 구조
KR101308552B1 (ko) 칩온보드 타입 발광 모듈 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20020902

PA0201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
PN2301 Change of applicant

Patent event date: 20030704

Comment text: Notification of Change of Applicant

Patent event code: PN23011R01D

A302 Request for accelerated examination
PA0302 Request for accelerated examination

Patent event date: 20031016

Patent event code: PA03022R01D

Comment text: Request for Accelerated Examination

Patent event date: 20020902

Patent event code: PA03021R01I

Comment text: Patent Application

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20031215

Patent event code: PE09021S01D

PG1501 Laying open of application
AMND Amendment
E90F Notification of reason for final refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Final Notice of Reason for Refusal

Patent event date: 20040511

Patent event code: PE09021S02D

AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
E801 Decision on dismissal of amendment
PE0601 Decision on rejection of patent

Patent event date: 20040907

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PE06012S01D

Patent event date: 20040511

Comment text: Final Notice of Reason for Refusal

Patent event code: PE06011S02I

Patent event date: 20031215

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PE06011S01I

PE0801 Dismissal of amendment

Patent event code: PE08012E01D

Comment text: Decision on Dismissal of Amendment

Patent event date: 20040907

Patent event code: PE08011R01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20040708

Patent event code: PE08011R01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20040313

J201 Request for trial against refusal decision
PJ0201 Trial against decision of rejection

Patent event date: 20041006

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event code: PJ02012R01D

Patent event date: 20040907

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PJ02011S01I

Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal

Decision date: 20041125

Appeal identifier: 2004101004591

Request date: 20041006

AMND Amendment
PB0901 Examination by re-examination before a trial

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20041104

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal

Patent event date: 20041006

Patent event code: PB09011R01I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20040708

Patent event code: PB09011R02I

Comment text: Amendment to Specification, etc.

Patent event date: 20040313

Patent event code: PB09011R02I

B701 Decision to grant
PB0701 Decision of registration after re-examination before a trial

Patent event date: 20041125

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event code: PB07012S01D

Patent event date: 20041115

Comment text: Transfer of Trial File for Re-examination before a Trial

Patent event code: PB07011S01I

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

Comment text: Registration of Establishment

Patent event date: 20041208

Patent event code: PR07011E01D

PR1002 Payment of registration fee

Payment date: 20041209

End annual number: 3

Start annual number: 1

PG1601 Publication of registration
PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20071206

Start annual number: 4

End annual number: 4

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20081208

Start annual number: 5

End annual number: 5

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20091207

Start annual number: 6

End annual number: 6

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20101119

Start annual number: 7

End annual number: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120105

Year of fee payment: 8

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20120105

Start annual number: 8

End annual number: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130605

Year of fee payment: 9

PR1001 Payment of annual fee

Payment date: 20130605

Start annual number: 9

End annual number: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
PC1903 Unpaid annual fee

Termination category: Default of registration fee

Termination date: 20141109