KR100374641B1 - 스탠바이 모드에서 지연동기 루프회로의 전력소모를감소시키기 위한 제어회로를 구비하는 반도체 메모리장치및 이의 파우워 다운 제어방법 - Google Patents
스탠바이 모드에서 지연동기 루프회로의 전력소모를감소시키기 위한 제어회로를 구비하는 반도체 메모리장치및 이의 파우워 다운 제어방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (11)
- 셀프 리프레쉬 모드, 프리차지 파우워다운 모드, 및 스탠바이 모드를 가지며 시스템 클럭신호에 동기되어 동작하는 반도체 메모리장치에 있어서,상기 시스템 클럭신호에 동기되어 내부 클럭신호를 발생하는 지연동기 루프회로; 및상기 반도체 메모리장치가 상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오면 상기 내부 클럭신호의 소정의 클럭 싸이클 동안 상기 지연동기 루프회로를 활성화시킨 다음에 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키며, 상기 반도체 메모리장치가 상기 프리차지 파우워다운 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오면 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 제어회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제어회로는,상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 인에이블되고 상기 소정의 클럭 싸이클이 지난 후 디스에이블되는 제어신호를 발생하는 제1제어회로; 및상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 활성화시키고 상기 제어신호가 디스에이블될 때 또는 상기 프리차지 파우워다운 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 제2제어회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 제1제어회로는,상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호 및 상기 소정의 클럭 싸이클이 지났음을 알리는 신호에 응답하여 상기 제어신호를 발생하는 제어신호 발생회로; 및상기 제어신호에 응답하여 상기 내부 클럭신호를 카운트하여 상기 소정의 클럭 싸이클이 지났음을 알리는 신호를 발생하는 카운터 회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 제2제어회로는,상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 제1펄스신호를 발생하는 제1펄스신호 발생회로;상기 제어신호의 디스에이블에 응답하여 제2펄스신호를 발생하는 제2펄스신호 발생회로; 및상기 제1펄스신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 활성화시키고 상기 제2펄스신호 또는 상기 프리차지 파우워다운 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 스탠바이 신호를 발생하는 스탠바이 신호 발생회로를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 소정의 클럭 싸이클은 상기 지연동기 루프회로가 락킹될때까지 소요되는 시간보다 큰 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
- 시스템 클럭신호에 동기되어 내부 클럭신호를 발생하는 지연동기 루프회로를 구비하고 셀프 리프레쉬 모드, 프리차지 파우워다운 모드, 및 스탠바이 모드를 갖는 반도체 메모리장치의 파우워 다운 제어방법에 있어서,(a) 상기 반도체 메모리장치가 상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오면 상기 내부 클럭신호의 소정의 클럭 싸이클 동안 상기 지연동기 루프회로를 활성화시킨 다음에 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 단계; 및(b) 상기 반도체 메모리장치가 상기 프리차지 파우워다운 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오면 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 파우워 다운 제어방법.
- 제6항에 있어서, 상기 단계 (a)는,(a1) 상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 인에이블되고 상기 소정의 클럭 싸이클이 지난 후 디스에이블되는 제어신호를 발생하는 단계; 및(a2) 상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 활성화시키고 상기 제어신호가 디스에이블될 때 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 파우워 다운 제어방법.
- 제7항에 있어서, 상기 단계 (a1)은,(a11) 상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호 및 상기 소정의 클럭 싸이클이 지났음을 알리는 신호에 응답하여 상기 제어신호를 발생하는 단계; 및(a12) 상기 제어신호에 응답하여 상기 내부 클럭신호를 카운트하여 상기 소정의 클럭 싸이클이 지났음을 알리는 신호를 발생하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 파우워 다운 제어방법.
- 제7항에 있어서, 상기 단계 (a2)는,(a21) 상기 셀프 리프레쉬 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 제1펄스신호를 발생하는 단계;(a22) 상기 제어신호의 디스에이블에 응답하여 제2펄스신호를 발생하는 단계; 및(a23) 상기 제1펄스신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 활성화시키고 상기 제2펄스신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 스탠바이 신호를 발생하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 파우워 다운 제어방법.
- 제6항에 있어서, 상기 단계 (b)는,상기 프리차지 파우워다운 모드로부터 상기 스탠바이 모드로 빠져 나오는 것을 알리는 신호에 응답하여 상기 지연동기 루프회로를 비활성화시키는 스탠바이 신호를 발생하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 파우워 다운 제어방법.
- 제6항에 있어서, 상기 소정의 클럭 싸이클은 상기 지연동기 루프회로가 락킹될때까지 소요되는 시간보다 큰 것을 특징으로 하는 파우워 다운 제어방법.
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US6633987B2 (en) * | 2000-03-24 | 2003-10-14 | Intel Corporation | Method and apparatus to implement the ACPI(advanced configuration and power interface) C3 state in a RDRAM based system |
JP2002358782A (ja) * | 2001-05-31 | 2002-12-13 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
WO2003003295A1 (en) * | 2001-06-28 | 2003-01-09 | Trek 2000 International Ltd. | A portable device having biometrics-based authentication capabilities |
JP2003032104A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-31 | Mitsubishi Electric Corp | Dll回路とその制御方法 |
JP3948933B2 (ja) * | 2001-11-07 | 2007-07-25 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置、及びその制御方法 |
US6580660B1 (en) * | 2002-01-30 | 2003-06-17 | Agilent Technologies, Inc. | Circuit and method for synchronizing multiple digital data paths |
US6988218B2 (en) * | 2002-02-11 | 2006-01-17 | Micron Technology, Inc. | System and method for power saving delay locked loop control by selectively locking delay interval |
KR100477836B1 (ko) * | 2002-05-30 | 2005-03-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭 드라이버 |
US6809990B2 (en) * | 2002-06-21 | 2004-10-26 | Micron Technology, Inc. | Delay locked loop control circuit |
US6650594B1 (en) * | 2002-07-12 | 2003-11-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Device and method for selecting power down exit |
US6795365B2 (en) * | 2002-08-23 | 2004-09-21 | Micron Technology, Inc. | DRAM power bus control |
US6930949B2 (en) * | 2002-08-26 | 2005-08-16 | Micron Technology, Inc. | Power savings in active standby mode |
KR100507874B1 (ko) * | 2002-10-30 | 2005-08-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭 동기화 회로를 구비한 동기식 반도체 메모리 장치 및클럭 동기화 회로의 클럭 트리 온/오프 제어회로 |
US6971034B2 (en) * | 2003-01-09 | 2005-11-29 | Intel Corporation | Power/performance optimized memory controller considering processor power states |
US7171574B2 (en) | 2003-02-18 | 2007-01-30 | Marvell Semiconductor Israel Ltd. | DDR clocking |
KR100525096B1 (ko) * | 2003-04-23 | 2005-11-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로 |
KR100518226B1 (ko) * | 2003-04-23 | 2005-10-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | Ddl 장치의 클락 분주기 및 그 클락 분주 방법 |
KR100502664B1 (ko) * | 2003-04-29 | 2005-07-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 모드 전환 회로 및 그방법 |
US6975556B2 (en) | 2003-10-09 | 2005-12-13 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for controlling a clock synchronizing circuit for low power refresh operation |
KR100560297B1 (ko) * | 2003-10-29 | 2006-03-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프용 전원 공급 회로를 구비한 반도체 소자 |
US7456021B2 (en) * | 2004-01-16 | 2008-11-25 | Exxonmobil Chemical Patents Inc. | Analysis method |
US7217676B2 (en) * | 2004-01-16 | 2007-05-15 | Exxon Mobil Chemical Patents Inc. | Hydrophobization and silica for supported catalyst |
US7392338B2 (en) | 2006-07-31 | 2008-06-24 | Metaram, Inc. | Interface circuit system and method for autonomously performing power management operations in conjunction with a plurality of memory circuits |
US8386722B1 (en) | 2008-06-23 | 2013-02-26 | Google Inc. | Stacked DIMM memory interface |
US8111566B1 (en) | 2007-11-16 | 2012-02-07 | Google, Inc. | Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface |
US8060774B2 (en) | 2005-06-24 | 2011-11-15 | Google Inc. | Memory systems and memory modules |
US9507739B2 (en) | 2005-06-24 | 2016-11-29 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US7590796B2 (en) | 2006-07-31 | 2009-09-15 | Metaram, Inc. | System and method for power management in memory systems |
US20080028136A1 (en) | 2006-07-31 | 2008-01-31 | Schakel Keith R | Method and apparatus for refresh management of memory modules |
US8130560B1 (en) | 2006-11-13 | 2012-03-06 | Google Inc. | Multi-rank partial width memory modules |
US8796830B1 (en) | 2006-09-01 | 2014-08-05 | Google Inc. | Stackable low-profile lead frame package |
US8397013B1 (en) | 2006-10-05 | 2013-03-12 | Google Inc. | Hybrid memory module |
US7580312B2 (en) * | 2006-07-31 | 2009-08-25 | Metaram, Inc. | Power saving system and method for use with a plurality of memory circuits |
US8327104B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-12-04 | Google Inc. | Adjusting the timing of signals associated with a memory system |
US20080082763A1 (en) | 2006-10-02 | 2008-04-03 | Metaram, Inc. | Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof |
KR101318116B1 (ko) | 2005-06-24 | 2013-11-14 | 구글 인코포레이티드 | 집적 메모리 코어 및 메모리 인터페이스 회로 |
US8090897B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-01-03 | Google Inc. | System and method for simulating an aspect of a memory circuit |
US8089795B2 (en) | 2006-02-09 | 2012-01-03 | Google Inc. | Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities |
US9171585B2 (en) | 2005-06-24 | 2015-10-27 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US7386656B2 (en) | 2006-07-31 | 2008-06-10 | Metaram, Inc. | Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit |
US8055833B2 (en) | 2006-10-05 | 2011-11-08 | Google Inc. | System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage |
US7609567B2 (en) | 2005-06-24 | 2009-10-27 | Metaram, Inc. | System and method for simulating an aspect of a memory circuit |
US8335894B1 (en) | 2008-07-25 | 2012-12-18 | Google Inc. | Configurable memory system with interface circuit |
US8041881B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-10-18 | Google Inc. | Memory device with emulated characteristics |
US8081474B1 (en) | 2007-12-18 | 2011-12-20 | Google Inc. | Embossed heat spreader |
US9542352B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-01-10 | Google Inc. | System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits |
US8077535B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-12-13 | Google Inc. | Memory refresh apparatus and method |
US8169233B2 (en) | 2009-06-09 | 2012-05-01 | Google Inc. | Programming of DIMM termination resistance values |
US8359187B2 (en) | 2005-06-24 | 2013-01-22 | Google Inc. | Simulating a different number of memory circuit devices |
US10013371B2 (en) | 2005-06-24 | 2018-07-03 | Google Llc | Configurable memory circuit system and method |
US8438328B2 (en) | 2008-02-21 | 2013-05-07 | Google Inc. | Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs |
US8244971B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-08-14 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
KR100639230B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2006-10-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력 드라이버 제어 장치를 갖는 동기식 메모리 장치 |
DE112006004263B4 (de) | 2005-09-02 | 2015-05-13 | Google, Inc. | Speicherbaustein |
US7446579B2 (en) * | 2005-09-28 | 2008-11-04 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device having delay locked loop |
KR100808052B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2008-03-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
JP2007095265A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Hynix Semiconductor Inc | 遅延固定ループ回路 |
JP5153094B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2013-02-27 | エスケーハイニックス株式会社 | Dll装置及びdllクロック生成方法 |
KR100807111B1 (ko) * | 2005-09-29 | 2008-02-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력 제어장치 |
JP4764270B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2011-08-31 | 株式会社ハイニックスセミコンダクター | ロックフェイル防止のための遅延固定ループクロックの生成方法及びその装置 |
KR100815185B1 (ko) * | 2005-09-29 | 2008-03-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기식 반도체 메모리 소자의 지연고정루프 및 그 구동방법 |
JP5086572B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2012-11-28 | エスケーハイニックス株式会社 | 遅延固定ループのクロックドライバー制御装置 |
US9632929B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-04-25 | Google Inc. | Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits |
US7724589B2 (en) | 2006-07-31 | 2010-05-25 | Google Inc. | System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits |
KR100845784B1 (ko) * | 2006-12-08 | 2008-07-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프의 지연 장치 |
KR100834399B1 (ko) * | 2007-01-10 | 2008-06-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그의 구동방법 |
KR101018706B1 (ko) * | 2007-03-29 | 2011-03-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법 |
KR100945230B1 (ko) * | 2007-04-30 | 2010-03-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 제어 회로를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
KR100902050B1 (ko) | 2007-06-26 | 2009-06-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전원 제어 장치 및 이를 포함하는 dll 회로 |
US8209479B2 (en) | 2007-07-18 | 2012-06-26 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
US7613055B2 (en) * | 2007-08-09 | 2009-11-03 | Altera Corporation | Programmable control block for dual port SRAM application |
US8080874B1 (en) | 2007-09-14 | 2011-12-20 | Google Inc. | Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween |
KR100892678B1 (ko) * | 2007-10-10 | 2009-04-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
US7728638B2 (en) * | 2008-04-25 | 2010-06-01 | Qimonda North America Corp. | Electronic system that adjusts DLL lock state acquisition time |
KR100902126B1 (ko) * | 2008-04-30 | 2009-06-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자와 그의 구동 방법 |
KR101062743B1 (ko) * | 2009-04-15 | 2011-09-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로 및 그 제어 방법 |
JP5375330B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2013-12-25 | 富士通セミコンダクター株式会社 | タイミング調整回路、タイミング調整方法及び補正値算出方法 |
KR101040243B1 (ko) * | 2009-07-30 | 2011-06-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dll 회로의 업데이트 제어 장치 |
KR101027688B1 (ko) * | 2009-09-30 | 2011-04-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치 |
KR101103067B1 (ko) * | 2010-03-29 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 가변 단위지연회로 및 그를 이용한 반도체 장치의 클럭 생성회로 |
KR101175244B1 (ko) | 2010-04-29 | 2012-08-22 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 및 이의 동작방법, 메모리 시스템 |
US8441873B2 (en) | 2010-08-31 | 2013-05-14 | Terry Grunzke | Memory devices and methods of operating memory |
WO2012115839A1 (en) | 2011-02-23 | 2012-08-30 | Rambus Inc. | Protocol for memory power-mode control |
US9047237B2 (en) * | 2012-08-03 | 2015-06-02 | Cypress Semiconductor Corporation | Power savings apparatus and method for memory device using delay locked loop |
US11049543B2 (en) | 2019-09-03 | 2021-06-29 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for deactivating a delay locked loop update in semiconductor devices |
US11250894B2 (en) | 2020-01-21 | 2022-02-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory device for supporting new command input scheme and method of operating the same |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5886946A (en) * | 1996-04-26 | 1999-03-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device allowing reduction in power consumption during standby |
KR19990075064A (ko) * | 1998-03-17 | 1999-10-05 | 윤종용 | 반도체 메모리장치의 전원 노이즈를 최소화하는 지연 동기 루프용 내부전원 전압 발생회로 |
JPH11273342A (ja) * | 1998-03-20 | 1999-10-08 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JP2000195265A (ja) * | 1998-12-28 | 2000-07-14 | Nec Corp | 半導体装置 |
KR20010064123A (ko) * | 1999-12-24 | 2001-07-09 | 박종섭 | 전력 소모를 감소시킨 지연고정루프 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3724654B2 (ja) * | 1995-07-06 | 2005-12-07 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
JP4014669B2 (ja) * | 1996-04-22 | 2007-11-28 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型半導体記憶装置 |
JP3862333B2 (ja) * | 1996-12-10 | 2006-12-27 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
JP2000048567A (ja) * | 1998-05-22 | 2000-02-18 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
JP2000067577A (ja) * | 1998-06-10 | 2000-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
JP2000011648A (ja) * | 1998-06-26 | 2000-01-14 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体装置 |
US6111807A (en) * | 1998-07-17 | 2000-08-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Synchronous semiconductor memory device allowing easy and fast text |
JP2000163961A (ja) * | 1998-11-26 | 2000-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体集積回路装置 |
JP2000163965A (ja) * | 1998-11-27 | 2000-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
JP3973308B2 (ja) * | 1998-11-27 | 2007-09-12 | 富士通株式会社 | セルフタイミング制御回路を内蔵する集積回路装置 |
JP4822572B2 (ja) * | 1999-09-02 | 2011-11-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2002008370A (ja) * | 2000-06-21 | 2002-01-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
-
2000
- 2000-11-24 KR KR10-2000-0070489A patent/KR100374641B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-06-19 US US09/884,774 patent/US6525988B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5886946A (en) * | 1996-04-26 | 1999-03-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device allowing reduction in power consumption during standby |
KR19990075064A (ko) * | 1998-03-17 | 1999-10-05 | 윤종용 | 반도체 메모리장치의 전원 노이즈를 최소화하는 지연 동기 루프용 내부전원 전압 발생회로 |
JPH11273342A (ja) * | 1998-03-20 | 1999-10-08 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JP2000195265A (ja) * | 1998-12-28 | 2000-07-14 | Nec Corp | 半導体装置 |
KR20010064123A (ko) * | 1999-12-24 | 2001-07-09 | 박종섭 | 전력 소모를 감소시킨 지연고정루프 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6525988B2 (en) | 2003-02-25 |
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US20020064083A1 (en) | 2002-05-30 |
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