KR100334004B1 - Lc소자,반도체장치및lc소자의제조방법 - Google Patents
Lc소자,반도체장치및lc소자의제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100334004B1 KR100334004B1 KR1019940029043A KR19940029043A KR100334004B1 KR 100334004 B1 KR100334004 B1 KR 100334004B1 KR 1019940029043 A KR1019940029043 A KR 1019940029043A KR 19940029043 A KR19940029043 A KR 19940029043A KR 100334004 B1 KR100334004 B1 KR 100334004B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrode
- channel
- semiconductor substrate
- electrodes
- electrically connected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 141
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title abstract description 53
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 175
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 127
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 62
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 67
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 67
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 23
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 17
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 16
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 11
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 11
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000002356 single layer Substances 0.000 claims description 7
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims 8
- 238000005553 drilling Methods 0.000 claims 7
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 abstract description 22
- 230000006870 function Effects 0.000 description 46
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 31
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 31
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 23
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 21
- 230000008859 change Effects 0.000 description 16
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 5
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 3
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 3
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 3
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000006258 conductive agent Substances 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 210000003746 feather Anatomy 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
- H10D89/60—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
- H10D89/601—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
- H10D89/811—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs using FETs as protective elements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
- H10D89/10—Integrated device layouts
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
Abstract
Description
Claims (106)
- n영역 또는 p영역의 어느 한쪽의 단일층이 표면측에 형성된 반도체기판;상기 반도체기판상에 절연층을 거쳐서 형성되고 소정 형상의 게이트로서 기능하는 제1 전극;상기 제1 전극에 대해서 대략 동일 평면내이고 또한 대략 평행하게 인접 해서 상기 반도체기판상에 형성된 소정 형상의 제2 전극;상기 반도체기판내에 있어서 상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널의 한쪽끝부근에 형성되는 제1 확산영역 및;상기 반도체기판내에 있어서 상기 채널의 다른쪽끝부근에 형성되는 제2 확산영역을 구비하고,상기 채널과 상기 제2전극의 각각에 의해서 형성되는 인덕터 및 이들 사이에 형성되는 캐패시터가 분포정수적으로 존재하고,적어도 상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널을 신호전파로로서 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 제1 및 제2 전극의 형상은 나선형상, 사행형상, 곡선형상 또는 직선형상인 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 반도체기판의 한쪽면측에 절연층을 거쳐서 형성되고, 게이트로서 기능하는 소정 형상의 제1 전극;상기 반도체기판의 다른쪽면측에 형성되고, 상기 제1 전극과 대략 대향하는 위치에 형성된 소정 형상의 제2 전극;상기 반도체기판내에 있어서 상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널의 한쪽끝부근에 형성되는 제1 확산영역 및;상기 반도체기판내에 있어서 상기 채널의 다른쪽끝부근에 형성되는 제2 확산영역을 구비하고,상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널과 상기 제2 전극의 각각에 의해서 형성되는 인덕터 및 이들 사이에 형성되는 캐패시터가 분포정수적으로 존재하고,적어도 상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널을 신호전파로로서 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 제1 및 제2 전극의 형상은 나선형상, 사행형상, 곡선형상 또는 직선형상인 것을 특징으로 하는 LC소자.
- n영역 또는 p영역의 어느 한쪽의 단일층이 표면측에 형성된 반도체기판;상기 반도체기판상에 절연층을 거쳐서 형성되고 게이트로서 기능하는 소정형상의 제1 전극;상기 제1전극에 대해서 대략 동일 평면내이고 또한 대략 평행하게 인접해서 상기 반도체기판상에 형성된 소정 형상의 제2 전극 및;상기 반도체기판내에 있어서 상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널의 한쪽끝부근에 형성되는 확산영역을 구비하고,상기 채널과 상기 제2 전극의 각각에 의해서 형성되는 인덕터 및 이들 사이에 형성되는 캐패시터가 분포정수적으로 존재하고,상기 제2 전극을 신호전파로로서 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 제1 및 제2 전극의 형상은 나선형상, 사행형상, 곡선형상 또는 직선형상인 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 반도체기판의 한쪽면측에 절연층을 거쳐서 형성되고, 게이트로서 기능하는 소정 형상의 제1 전극;상기 반도체기판의 다른쪽면측에 형성되고, 상기 제1 전극과 대략 대향하는 위치에 형성된 소정 형상의 제2 전극 및;상기 반도체기판내에 있어서 상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널의 한쪽끝부근에 형성되는 확산영역을 구비하고,상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널과 상기 제2 전극의 각각에 의해서 형성되는 인덕터 및 이들 사이에 형성되는 캐패시터가 분포정수적으로 존재하고,상기 제2 전극을 신호전파로로서 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 제1 및 제2 전극 형상은 나선형상, 사행형상, 곡선형상 또는 직선형상인 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항 또는 제2항에 있어서,상기 반도체기판 대신에 상기 제1 및 제2 전극을 따라서 n영역 또는 p영역으로 이루어지는 반전층이 형성된 반도체기판을 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 반도체기판 대신에 상기 제1 전극의 인접하는 도체부분 사이 및 제2 전극의 인접하는 도체부분 사이에 n영역 또는 p영역으로 이루어지는 반전층이 형성된 반도체기판을 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 반도체기판 대신에 상기 제1 및 제2 전극을 따라서 n영역 또는 p영역으로 이루어지는 반전층이 형성된 반도체기판을 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 반도체기판 대신에 상기 제1 전극의 인접하는 도체부분 사이 및 제2 전극의 인접하는 도체부분 사이에 n영역 또는 p영역으로 이루어지는 반전층이 형성된 반도체기판을 사용하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 제1 및 제2 확산영역에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제2 전극의 한쪽끝 부근에 전기적으로 접속된 접지전극을 갖고,상기 제1 및 제2 입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 입력하고 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에, 상기 전지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 제1및 제2확산영역에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제2 전극의 한쪽끝 부근에 전기적으로 접속된 접지전극을 갖고,상기 제1 및 제2 입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 임력하고 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에, 상기 접지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제9항에 있어서,상기 제1 및 제2 확산영역에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및상기 제2 전극의 한쪽끝 부근에 전기적으로 접속된 접지전극을 갖고,상기 제1 및 제2입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 입력하고 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에, 상기 접지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제10항에 있어서,상기 제1및 제2확산영역에 전기적으로 접속된 제1및 제2입출력전극 및;상기 제2 전극의 한쪽끝 부근에 전기적으로 접속된 접지전극을 갖고,상기 제1및 제2입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 입력하고, 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에, 상기 접지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 제2 전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제1 전극 또는 상기 제1 전극을 분할한 전극부에 대응해서 형싱되는 채널의 한쪽끝부근에 형성된 상기 확산영역에 전기적으로 접속된 접지전극을 갖고,상기 제1및 제2입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 입력하고, 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에, 상기 접지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 제2 전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제1 전극 또는 상기 제1 전극을 분할한 전극부에 대응해서 형성되는 채널의 한쪽끝부근에 형성된 상기 확산영역에 전기적으로 접속된 전지전극을 갖고,상기 제1및 제2입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 입력하고, 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에, 상기 접지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제11항에 있어서,상기 제2 전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제1 전극 또는 상기 제1 전극을 분할한 전극부에 대응해서 형성되는 채널의 한쪽끝부근에 형성된 상기 확산영역에 전기적으로 접속된 접지전극을 갖고,상기 제1및 제2 입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 입력하고, 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에,상기 접지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제12항에 있어서,상기 제2 전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제1 전극 또는 상기 제1 전극을 분할한 전극부에 대응해서 형성되는 채널의 한쪽끝부근에 형성된 상기 확산영역에 전기적으로 접속된 접지전극을 갖고,상기 제1 및 제2입출력전극의 어느 한쪽에서 신호를 입력하고 다른쪽에서 신호를 출력함과 동시에, 상기 접지전극을 고정전위의 전원에 접속 또는 접지하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 제1및 제2확산영역에 전기적으로 접속된 제1및 제2입출력전극 및;상기 제2 전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제3 및 제4 입출력전극을 갖고,상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널과 상기 제2 전극의 양쪽을 신호전파로로 하는 공통모드형의 소자로서 사용되는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 제1 및 제2 확산영역에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제2 전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제3 및 제4 입출력전극을 갖고,상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널과 상기 제2 전극의 양쪽을 신호전파로로 하는 공통모드형의 소자로서 사용되는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제9항에 있어서,상기 제1 및 제2 확산영역에 전기적으로 접속된 제1 및 제2 입출력전극 및;상기 제2전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제3 및 제4입출력 전극을 갖고,상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널과 상기 제2 전극의 양쪽을 신호전파로로 하는 공통모트형의 소자로서 사용되는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제10항에 있어서,상기 제1및 제2확산영역에 전기적으로 접속된 제1및 제2 입출력전극 및;상기 제2 전극의 한쪽끝 및 다른쪽끝에 전기적으로 접속된 제3 및 제4 입출력전극을 갖고,상기 제1 전극에 대응해서 형성되는 채널과 상기 제2 전극의 양쪽을 신호전파로로 하는 공통모드형의 소자로서 사용되는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 채널만을 신호전파로로서 사용하고,상기 제2 전극을 여러개로 분할하고, 분할된 여러개의 전극부의 각각을 서로 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 채널만을 신호전파로로서 사용하고,상기 제2 전극을 여러개로 분할하고, 분할된 여러개치 전극부의 각각을 서로 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제13항에 있어서,상기 채널만을 신호전파로로서 사용하고,상기 제2전극을 여러개로 분할하고, 분할된 여러개의 전극부의 각각을 서로 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제14항에 있어서,상기 채널만을 신호전파로로서 사용하고,상기 제2 전극을 여러개로 분할하고, 분할된 여러개의 전극부의 각각을 서로 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 제1 전극을 여러개로 분할하고, 분할된 여러개의 전극부의 각각에 대응해서 형성되는 여러개의 채널의 각각의 한쪽끝부근에 확산영역을 마련하고, 이들 여러개의 확산영역을 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 제1 전극을 여러개로 분할하고, 분할된 여러개의 전극부의 각각에 대응해서 형성되는 여러개의 채널의 각각의 한쪽끝부근에 확산영역을 마련하고, 이들 여러개의 확산영역을 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제17항에 있어서,상기 제1 전극을 여러개로 분할하고,분할된 여러개의 전극부의 각각에 대응해서 형성되는 여러개의 채널의 각각의 한쪽끝부근에 확산영역을 마련하고, 이들 여러개의 확산영역을 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제18항에 있어서,상기 제1 전극을 여러개로 분할하고, 분할된 여러개의 전극부의 각각에 대응해서 형성되는 여러개의 채널의 각각의 한쪽끝부근에 확산영역을 마련하고, 이들 여러개의 확산영역을 전기적으로 접속하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제13항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 실정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제14항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 실정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제17항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제18항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제21항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 적어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제22항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 인가하는 게이트전압을 가변으로 설정하는 것에 의해 직어도 상기 채널의 저항값을 가변으로 제어하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 반도체기관 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제13항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제14항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1전극에 대응하는 위치에 미리캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제17항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제18항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제21항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제22항에 있어서,상기 반도체기판 표면 부근이고 또한 상기 제1 전극에 대응하는 위치에 미리 캐리어를 주입하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2 전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키근 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2 전극의 길이를 길게 또는 짧게 실성s'1는것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2 전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2 전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제13항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제14항에 있어서,상기 제1전극에 대해서 상기 제2전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제17항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2 전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제18항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2 전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제21항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제22항에 있어서,상기 제1 전극에 대해서 상기 제2 전극의 길이를 길게 또는 짧게 설정하는 것에 의해 상기 채널과 상기 제2 전극을 부분적으로 대응시키는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제13항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제14항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제17항에 있어서,상피 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제18항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제21항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제22항에 있어서,상기 신호전파로의 출력측에 버퍼를 접속한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제13항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제14항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자
- 제17항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제18항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제21항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제22항에 있어서,적어도 상기 제1 전극에 과전압을 동작전원라인측 또는 접지측에 바이패스시키는 보호회로를 마련한 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제1항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고, 이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제3항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고, 이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에 의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오글 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제5항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고,이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제7항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고,이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에 의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제13항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고,이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제14항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고, 이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에 의해서 제거하여 구멍을 뚫고,그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제17항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고, 이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에 의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제18항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고, 이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에 의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제21항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고, 이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 제22항에 있어서,전표면에 절연막을 형성하고, 이 절연막의 일부를 에칭 또는 레이저광조사에 의해서 제거하여 구멍을 뚫고, 그 구멍을 땜납에 의해 표면까지 솟아오를 정도로 봉하는 것에 의해 단자부착을 실행하는 것을 특징으로 하는 LC소자.
- 특허청구범위 제1항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전극의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제3항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전측의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제5항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전극의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제7항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전측의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제13항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전극의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제14항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전극의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제17항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전극의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제18항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전극의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제21항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전측의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 특허청구의 범위 제22항에 기재된 LC소자를 기판의 일부로서 형성하고, 상기 제1 전극에 대응해서 형성된 채널 및 상기 제2 전극의 적어도 한쪽을 신호라인 또는 전원라인에 삽입해서 일체 성형한 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 반도체기판에 부분적으로 불순물을 주입하는 것에 의해 제1 및 제2 확산영역을 형성하는 제1 공정;상기 반도체기판상의 전면에 또는 부분적으로 절연층을 형성함과 동시에 상기 제1 및 제2 확산영역을 연결하도록 나선형상의 제1 전극을, 이 제1 전극에 따라 대략 평행하고 인접한 위치에 나선형상의 제2 전극을 각각 형성하는 제2 공정 및;상기 제1 및 제2 확산영역과 상기 제1 및 제2 전극의 각각에 전기적으로 접속되는 배선층을 형성하는 제3 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 LC소자의 제조방법.
- 반도체기판에 부분적으로 불순물을 주입하는 것에 의해 제1 및 제2 확산영역을 형성하는 제1 공정;상기 반도체기판상의 전면에 또는 부분적으로 절연층을 형성함과 동시에 상기 제1 및 제2 확산영역을 연결하도록 사행형상의 제1 전극을, 이 제1 전극을 따른 대략 평행하고 인접한 위치에 사행형상의 제2전극을 각각 형성하는 제2 공정 및;상기 제1 및 제2 확산영역과 상기 제1 및 제2 전극의 각각에 전기적으로 접속되는 배선층을 형성하는 제3 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 LC소자의 제조방법.
- 반도체기판에 부분적으로 불순물을 주입하는 것에 의해 확산영역을 형성하는 제1 공정;상기 반도체기판상의 전면에 또는 부분적으로 절연층을 형성함과 동시에 상기 확산영역의 근방에 한쪽끝이 위치하도록 나선형상의 제1 전극을, 이 제1 전극을 따른 대략 평행하고 인접한 위치에 나선형상의 제2 전극을 각각 형성하는 제2 공정 및;상기 확산영역과 제1 및 제2 전극의 각각에 전기적으로 접속되는 배선층을 형성하는 제3 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 LC소자의 제조방법.
- 반도체기판에 부분적으로 불순물을 주입하는 것에 의해 확산영역을 형성하는 제1 공정;상기 반도체기판상의 전면에 또는 부분적으로 절연층을 형성함과 동시에 상기 확산영역의 근방에 한쪽끝이 위치하도록 사행형상의 제1 전극을, 이 제1 전극을 따른 대략 평행하고 인접한 위치에 사행형상의 제2 전극을 각각 형성하는 제2 공정및;상기 확산영역과 제1 및 제2 전극의 각각에 전기적으로 접속되는 배선층을 형성하는 제3 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 LC소자의 제조방법.
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP93-305954 | 1993-11-10 | ||
JP30595493A JP3390065B2 (ja) | 1993-11-10 | 1993-11-10 | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 |
JP32314993A JP3390070B2 (ja) | 1993-11-29 | 1993-11-29 | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 |
JP93-323149 | 1993-11-29 | ||
JP93-353810 | 1993-12-28 | ||
JP35381093A JP3497221B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950015758A KR950015758A (ko) | 1995-06-17 |
KR100334004B1 true KR100334004B1 (ko) | 2002-11-11 |
Family
ID=27338801
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940029043A Expired - Fee Related KR100334004B1 (ko) | 1993-11-10 | 1994-11-07 | Lc소자,반도체장치및lc소자의제조방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100334004B1 (ko) |
DE (1) | DE69425474T2 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101674909B1 (ko) * | 2015-08-26 | 2016-11-10 | 동국대학교 산학협력단 | 커먼 센트로이드 레이아웃 기법, 커먼 센트로이드 레이아웃 기법을 이용한 디지털-아날로그 컨버터 및 아날로그-디지털 컨버터 |
-
1994
- 1994-11-04 DE DE69425474T patent/DE69425474T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-11-07 KR KR1019940029043A patent/KR100334004B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101674909B1 (ko) * | 2015-08-26 | 2016-11-10 | 동국대학교 산학협력단 | 커먼 센트로이드 레이아웃 기법, 커먼 센트로이드 레이아웃 기법을 이용한 디지털-아날로그 컨버터 및 아날로그-디지털 컨버터 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69425474D1 (de) | 2000-09-14 |
DE69425474T2 (de) | 2001-04-19 |
KR950015758A (ko) | 1995-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5497028A (en) | LC element and semiconductor device having a signal transmission line and LC element manufacturing method | |
KR100316220B1 (ko) | 인덕턴스가변소자 | |
KR100299714B1 (ko) | Lc소자,반도체장치및lc소자의제조방법 | |
KR100315267B1 (ko) | Lc소자,반도체장치및lc소자의제조방법 | |
KR100320001B1 (ko) | Lc소자,반도체장치및lc소자의제조방법 | |
JPH07142258A (ja) | インダクタンス可変素子 | |
KR100334004B1 (ko) | Lc소자,반도체장치및lc소자의제조방법 | |
JP3563113B2 (ja) | インダクタンス可変素子 | |
JP3419525B2 (ja) | Lc素子及び半導体装置 | |
JP3497221B2 (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
JP3390065B2 (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
JP3390070B2 (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
JP3597879B2 (ja) | Lc素子,半導体装置 | |
JP3442841B2 (ja) | Lc素子及び半導体装置 | |
JP3474636B2 (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
JP3482008B2 (ja) | インダクタ素子および半導体装置 | |
JP3373267B2 (ja) | Lc素子及び半導体装置 | |
JP3290276B2 (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
JPH0897373A (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
JP3461886B2 (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
JPH07147383A (ja) | Lc素子,半導体装置及びlc素子の製造方法 | |
HK1115240A1 (en) | Semiconductor filter structure and method of manufacture | |
HK1115240B (en) | Semiconductor filter structure and method of manufacture |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 19941107 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19991005 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 19941107 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20010730 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20020312 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20020411 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20020411 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20050314 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20050314 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
PC1903 | Unpaid annual fee |
Termination category: Default of registration fee Termination date: 20070310 |