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KR100222970B1 - 전자장치의 테스트모드 수행방법 - Google Patents

전자장치의 테스트모드 수행방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전자장치의 테스트모드 수행방법에 관한 것이다.
종래의 경우, 전자장치를 테스트하기 위해서는 테스트에 소요되는 시간만큼 할애하여야만 하므로, 시간과 인력의 손실이 발생하게 되고, 생산성이 저하되었다.
본 발명은 테스트모드가 선택되면, 타이머(클럭발생기, 가변클럭발생기)로부터 검출된 시간정보를 미리 설정된 임의의 배수만큼 승산·증속시킨 후, 해당 전자장치의 동작시간을 제어하도록 한 전자장치의 테스트모드 수행방법을 제시함으로써, 테스트에 소요되는 시간을 대폭 감소시켰다.

Description

전자장치의 테스트모드 수행방법
본 발명은 전자장치의 테스트모드(Test Mode) 수행방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 마이크로 컴퓨터를 내장한 모든 전자장치를 생산 및 제조하는 공정을 수행함에 있어서, 테스트모드가 선택되면 마이크로 컴퓨터가 타이머(클럭발생기)를 통하여 카운팅된 시간을 임의의 배수만큼 승산된 시간으로 인식하도록 함으로써, 테스트모드를 수행하는 시간을 절감하도록 한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 관한 것이다.
일반적으로, 마이크로 컴퓨터를 내장한 전자장치를 생산 및 제조하는 공정을 수행함에 있어서, 해당 전자장치의 결함여부를 확인하기 위한 테스트모드를 필수적으로 수행하게 된다. 이때, 이러한 테스트모드는 생산 및 제조되는 모든 제품을 대상으로 수행할 수도 있으며, 생산 및 제조되는 모든 제품 중 샘플링(Sampling)방식에 따라 축출된 임의의 제품을 대상으로 수행할 수도 있다.
예컨대, 텔레비젼(TV)을 테스트하는 경우, 텔레비젼의 슬립(Sleep)모드를 테스트하기 위해서는 슬립모드를 설정할 수 있는 최소시간만큼 대기하여야 한다. 즉, 텔레비젼의 슬립모드가 10분의 시간단위로 설정할 수 있다고 가정하면, 슬립모드가 정상적으로 수행하는가를 판단하기 위해서는 최소 10분을 기다려야만 한다.
또한, '볼륨'으로 통칭되는 음량조절장치가 정상적으로 동작되는가를 테스트하기 위해서는 음량조절장치의 최소음량으로부터 최대음량까지 증가시킨 후 다시 최소음량까지 감소시키는 과정을 수행하게 된다. 이때, 음량의 각 단위(또는, 스텝)간 이동소요시간은 대략 360밀리초(㎳)가 소요되는데, 최소음량으로부터 최대음량까지 100스텝으로 세분되어 있는 경우, 최소음량으로부터 최대음량까지 증가된 후 다시 최소음량까지 감소되는 과정을 수행하기 위해서는 72초가 소요된다.
결국, 전술한 바와 같이, 해당 전자장치를 테스트하기 위한 시간만큼 생산과정을 진행할 수 없으므로, 인력 및 시간손실이 발생하게 되고, 생산성이 저하되는 문제점이 발생하게 되었다.
따라서, 본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 테스트모드가 선택되면 마이크로 컴퓨터는 타이머로부터 검출된 시간정보가 임의의 배수만큼 승산되도록 함으로써, 테스트를 위한 대기시간을 절감하도록 한 전자장치의 테스트모드 수행방법을 제공함에 있다.
도 1은 본 발명에 의한 테스트모드를 수행하기 위한 전자장치의 일실시예를 나타내는 개략적 블럭도,
도 2는 도 1에 도시된 마이크로 컴퓨터의 동작흐름도,
도 3은 본 발명에 의한 테스트모드를 수행하기 위한 전자장치의 다른 실시예를 나타내는 개략적 블럭도,
도 4는 도 3에 도시된 마이크로 컴퓨터의 동작흐름도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1,6 : 기능선택부 2,7 : 마이크로 컴퓨터
3 : 타이머 4 : 연산부
5,9 : 제어부 8 : 가변클럭발생기
전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 타이머로부터 시간정보를 검출하는 마이크로 컴퓨터를 포함한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 있어서: 테스트모드가 설정되면 상기 시간정보를 미리 설정된 임의의 배수만큼 승산하여 연산하고, 상기 연산된 시간값에 따라 상기 전자장치의 구동시간을 제어하도록 한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 있다.
전술한 본 발명의 특징에 있어서, 상기 연산된 시간값이 미리 설정된 설정값과 동일하면, 상기 테스트모드를 중지하고 일반모드로 전한하는 단계를 더 수행하도록 하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 미리 설정된 임의의 배수는, 그 범위를 인위적으로 조절할 수 있도록 설정할 수도 있다.
한편, 본 발명의 다른 특징은, 가변클럭발생기로부터 발생된 클럭을 이용하여 시간정보를 검출하는 마이크로 컴퓨터를 포함한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 있어서: 테스트모드가 설정되면, 상기 가변클럭발생기의 클럭발생속도를 미리 설정된 임의의 속도만큼 증속시켜 출력하도록 제어하고, 상기 증속 출력된 클럭을 카운팅하여 상기 전자장치의 구동시간을 제어하도록 한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 있다.
전술한 본 발명의 다른 특징에 있어서, 상기 미리 설정된 임의의 배수는, 그 범위를 인위적으로 조절할 수 있도록 설정할 수도 있다.
이하, 본 발명에 의한 전자장치의 테스트모드 수행방법의 바람직한 실시예에 대하여 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.
먼저, 본 발명의 제1 요지를 간략하게 언급하면, 마이크로 컴퓨터는 타이머(클럭발생기)에서 발생되는 소정속도의 클럭을 정상모드에서는 실시간으로 인식하고, 테스트모드에서는 소정속도의 클럭을 실시간으로부터 임의의 배수만큼 승산한 시간값으로 인식하도록 한 것에 있다.
즉, 1분에 60개의 클럭이 발생되는 클럭발생기를 이용하여 시간을 카운팅하도록 구성된 전자장치의 경우, 정상모드에서는 클럭 1개당 1초로 계산되지만, 테스트모드에서는 클럭 1개당 1분 또는 10초 등과 같이 임의의 배수만큼 승산된 값으로 인식하도록 하였다. 따라서, 테스트모드에서 클럭 1개당 1분으로 인식되도록 설정된 경우 실시간에서 10분이 소요되는 테스트과정을 10초만에 수행할 수 있게 되고, 클럭 1개당 10초로 설정된 경우 실시간에서 10분이 소요되는 테스트과정을 1분만에 수행할 수 있게 되는 것이다.
또한, 본 발명의 제2 요지를 간략하게 언급하면, 마이크로 컴퓨터는 정상모드에서 가변클럭발생기에서 발생되는 클럭을 정상속도로 발생시키고, 테스트모드에서는 임의의 배수만큼 증속된 클럭을 발생시켜 증속된 클럭을 이용하여 전자장치의 구동시간을 제어하도록 한 것에 있다.
도 1에는 본 발명에 의한 테스트모드를 수행하기 위한 전자장치의 일실시예를 나타내는 개략적 블럭도가 도시되어 있다.
도 1을 보면, 사용자가 해당 전자장치의 테스트모드와 각종 기능을 선택할 수 있도록 복수개의 기능키가 배열된 기능선택부(1)와, 기능선택부(1)로부터 인가된 해당기능에 따라 시스템내의 각 구성부를 제어하는 마이크로 컴퓨터(2)로 구성되어 있다.
여기서, 마이크로 컴퓨터(2)는 시간정보를 출력하는 타이머(3)와, 타이머(3)에서 출력된 시간정보를 기능선택부(1)에 의해 선택된 기능에 적합한 임의의 배속으로 승산하는 연산부(4)와, 연산부(4)에서 연산된 결과에 따라 시스템내의 각 구성부를 제어하는 제어부(5)로 구성되어 있다.
전술한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명의 일실시예에 따른 동작에 대하여 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
마이크로 컴퓨터(2)내의 제어부(5)는 기능선택부(1)에 배열된 복수개의 기능키에 의해 선택된 기능이 있는가를 판단한다(S1). 여기서, 제어부(5)는 해당 전자장치가 테스트모드로 설정되었는가를 판단하여(S2), 테스트모드로 설정되지 않았다고 판단되면, 기능선택부(1)에 의해 선택된 해당기능키에 대응하는 제어신호에 따라 시스템내의 각 구성부를 제어하여 일반적인 해당기능을 수행하도록 제어한다(S3).
이때, 제어부(5)는 타이머(3)로부터 인가되는 실시간정보를 이용하여 시스템내의 각 구성부를 제어하게 된다.
한편, 테스트모드 선택키가 입력되면, 이 신호는 제어부(5)에 전달된다. 이에 따라, 제어부(5)는 해당 전자장치의 테스트모드가 선택되었음을 인식하고(S2), 타이머(3)를 리셋시킨 후(S5) 카운팅된 시간정보를 검출한다(S5).
이후, 검출된 시간정보를 연산부(4)에 전송하여, 타이머(3)에 의해 카운팅된 시간정보를 임의의 배수만큼 승산하는 연산과정을 수행하도록 제어한다(S6). 이때, 연산부(4)에는 해당 전자장치에 대하여 테스트하고자 하는 기준값이 설정되어 있다. 즉, 연산부(4)에는 시간정보를 승산하고자 하는 배수값과, 테스트모드를 종료하기 위한 종료시간 설정치가 설정되어 있다. 따라서, 연산부(4)는 제어부(5)로부터 전송된 시간정보를 미리 설정된 배수값과 연산하고, 연산된 결과가 설정된 종료시간과 동일한가를 비교한다(S7). 이 단계 7(S7)에서 연산결과와 설정시간이 서로 상이하다고 판단되면, 이것은 테스트에 필요한 시간이 소요되지 않은 것을 나타내므로, 제어부(5)는 전술한 단계 5(S5)로 귀환하여 단계 5(S5) 이후의 모든 과정을 반복 수행한다.
만약, 단계 7(S7)에서 연산결과와 설정시간이 서로 동일하다고 판단되면, 이것은 테스트에 필요한 시간이 모두 소요된 것을 나타내므로, 제어부(5)는 테스트모드를 종료하고 일반모드로 전환한 후(S8), 모든 진행을 종료한다.
전술한 바와 같은 본 발명의 동작에 대하여 일예를 들어 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
텔레비젼의 슬립모드를 테스트하고자 하여 테스트모드를 설정하면, 제어부(5)는 테스트모드가 설정되었음을 인식하고, 타이머(3)에 의해 카운팅된 시간정보를 검출한다. 이때, 슬립타임이 10분으로 설정되어 있고, 미리 설정된 배수값이 10이라고 가정하면, 연산부(4)는 카운팅된 시간정보가 1초 경과함에 따라 이것을 10초로 인식하게 되므로, 10분의 슬립타임은 결국 1분만에 종료하게 된다. 따라서, 테스트에 소요되는 시간을 줄일 수 있다.
한편, 도 3에는 본 발명에 의한 테스트모드를 수행하기 위한 전자장치의 다른 실시예를 나타내는 개략적 블럭도가 도시되어 있다.
도 3을 보면, 사용자가 해당 전자장치의 테스트모드와 각종 기능을 선택할 수 있도록 복수개의 기능키가 배열된 기능선택부(6)와, 기능선택부(6)로부터 인가된 해당기능에 따라 시스템내의 각 구성부를 제어하는 마이크로 컴퓨터(7)로 구성되어 있다.
여기서, 마이크로 컴퓨터(7)는 발생속도가 가변된 클럭을 발생하는 가변클럭발생기(8)와, 가변클럭발생기(8)에서의 클럭발생속도를 기능선택부(6)에 의해 선택된 기능에 적합한 임의의 배속으로 증속시키고 그에 따라 시스템내의 각 구성부를 제어하는 제어부(9)로 구성되어 있다.
전술한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명의 다른 실시예에 따른 동작에 대하여 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
마이크로 컴퓨터(7)내의 제어부(9)는 기능선택부(6)에 배열된 복수개의 기능키에 의해 선택된 기능이 있는가를 판단한다(S9). 여기서, 해당 전자장치가 테스트모드로 설정되었는가를 판단하여(S10), 테스트모드로 설정되지 않았다고 판단되면, 가변클럭발생기(8)에서 발생되는 클럭의 속도를 정상속도로 설정한다(S11).
이때, 제어부(9)는 가변클럭발생기(8)로부터 정상속도의 클럭을 정보를 인가받아 이를 실시간정보로 인식하여 시스템내의 각 구성부를 제어하게 된다.
한편, 테스트모드 선택키가 입력되면, 이 신호는 제어부(9)에 전달된다. 이에 따라, 제어부(9)는 해당 전자장치의 테스트모드가 선택되었음을 인식하고(S10), 가변클럭발생기(8)를 제어하여 가변클럭발생기(8)에서 발생되는 클럭의 속도를 임의의 배수만큼 증속시킨다(S12). 이에 따라, 제어부(9)는 증속된 시간을 기준으로 하여 시스템내의 각 구성부의 동작시간을 제어한다.
이후, 제어부(9)는 테스트모드가 중지되었는가를 체크하여(S13), 테스트모드가 중지되지 않았다고 판단되면 전술한 단계 12(S12)로 귀환하여 단계 12(S12) 이후의 모든 과정을 반복 수행하고, 테스트모드가 중지되었다고 판단되면 모든 진행을 종료한다.
한편, 본 발명에서 미리 설정된 임의의 배수는 그 범위를 인위적으로 조작할 수 있도록 설정하여도 무방하다. 이러한 경우, 인위적인 조작상태에 대하여 별도의 상세설명을 부가하지 않더라도, 당업자에 의해 용이하게 실시할 수 있음이 자명하다.
결국, 본 발명에 의한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 따르면, 마이크로 컴퓨터는 타이머(클럭발생기)로 검출된 시간정보를 정상모드에서는 실시간으로 인식하고, 테스트모드에서는 임의의 배수만큼 승산한 시간값으로 인식함으로써, 테스트에 소요되는 시간을 줄일 수 있는 이점이 있다.
또한, 테스트에 소요되는 시간이 감소됨에 따라, 인력 및 시간손실을 최소화할 수 있으며, 생산성을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.

Claims (5)

  1. 타이머로부터 시간정보를 검출하는 마이크로 컴퓨터를 포함한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 있어서:
    테스트모드가 설정되면 상기 시간정보를 미리 설정된 임의의 배수만큼 승산하고, 상기 연산된 시간값에 따라 상기 전자장치의 구동시간을 제어하도록 한 전자장치의 테스트모드 수행방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 연산된 시간값이 미리 설정된 설정값과 동일하면, 상기 테스트모드를 중지하고 일반모드로 전한하는 단계를 더 수행하도록 한 것을 특징으로 하는 전자장치의 테스트모드 수행방법.
  3. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 미리 설정된 임의의 배수는,
    그 범위를 인위적으로 조절할 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 전자장치의 테스트모드 수행방법.
  4. 가변클럭발생기로부터 발생된 클럭을 이용하여 시간정보를 검출하는 마이크로 컴퓨터를 포함한 전자장치의 테스트모드 수행방법에 있어서:
    테스트모드가 설정되면, 상기 가변클럭발생기의 클럭발생속도를 미리 설정된 임의의 속도만큼 증속시켜 출력하도록 제어하고, 상기 증속 출력된 클럭을 카운팅하여 상기 전자장치의 구동시간을 제어하도록 한 전자장치의 테스트모드 수행방법.
  5. 청구항 4에 있어서, 상기 미리 설정된 임의의 배수는,
    그 범위를 인위적으로 조절할 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 전자장치의 테스트모드 수행방법.
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