JPWO2017119114A1 - Repair device and repair method - Google Patents
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Abstract
検査リペア装置(30)は、基板上に部品を配置する実装システム(10)に用いられる装置であって、基板上に配置された部品の位置を変更可能な矯正部(45)と、基板上に配置された部品の配置状態を検査した検査結果を取得し取得した検査結果に位置ずれの生じた部品の情報が含まれるときにはこの基板上に配置された部品の位置ずれを矯正部(45)に矯正させる制御部(31)と、を備えている。The inspection repair device (30) is a device used in a mounting system (10) for placing components on a substrate, and includes a correction unit (45) capable of changing the position of the components placed on the substrate, If the inspection result obtained by inspecting the arrangement state of the component arranged in the board includes information on the component in which the positional deviation has occurred, the position deviation correcting unit (45) corrects the positional deviation of the component arranged on the substrate. And a control unit (31) for correcting.
Description
本発明は、リペア装置及びリペア方法に関する。 The present invention relates to a repair device and a repair method.
従来、部品を基板に実装する実装処理の検査装置としては、例えば、部品が搭載された基板の実装状態を検査し、不良と判断された不良基板の検査結果データから、搭載すべき部品のうち未搭載の部品に関する情報を取得し、このデータに基づいて不良基板に見搭載部品を搭載させるためのリペアプログラムを作成するものが提案されている(例えば、特許文献1参照)。この装置では、未搭載の部品がある不良基板が生産ラインに搬入されると、リペアプログラムで定められた処理のみ行うものとし、部品の再搭載処理を効率よく行うことができるとしている。また、検査装置としては、部品の搭載後の部品の高さと基板の高さとを測定し、その高さの差に基づいて部品の搭載不良を判定し、搭載不良時には、部品の再搭載を行うものが提案されている(例えば、特許文献2参照)。この装置では、部品を基板に搭載後に部品の搭載を検査することができるとしている。 Conventionally, as an inspection device for mounting processing for mounting a component on a substrate, for example, the mounting state of a substrate on which the component is mounted is inspected, and from the inspection result data of the defective substrate determined to be defective, There has been proposed a method for acquiring information related to an unmounted component and creating a repair program for mounting a mounted component on a defective board based on this data (see, for example, Patent Document 1). In this apparatus, when a defective board having an unmounted component is carried into the production line, only the process determined by the repair program is performed, and the component remounting process can be performed efficiently. In addition, the inspection device measures the height of the component after mounting the component and the height of the board, determines the component mounting failure based on the difference in height, and remounts the component when mounting failure occurs. The thing is proposed (for example, refer patent document 2). In this apparatus, the mounting of the component can be inspected after the component is mounted on the substrate.
しかしながら、特許文献1、2に記載の装置では、部品が位置ずれして搭載された基板については、生産ラインから外して作業者が修正を行う必要があった。 However, in the apparatuses described in Patent Documents 1 and 2, it is necessary for the operator to remove the board on which the components are displaced from the production line and make corrections.
本発明は、このような課題に鑑みなされたものであり、部品に位置ずれが生じた際に、実装処理をより効率よく行うことができるリペア装置及びリペア方法を提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem, and a main object of the present invention is to provide a repair device and a repair method capable of performing mounting processing more efficiently when a positional deviation occurs in a component. .
本発明は、上述の主目的を達成するために以下の手段を採った。 The present invention adopts the following means in order to achieve the main object described above.
本発明のリペア装置は、
基板上に部品を配置する実装システムに用いられるリペア装置であって、
基板上に配置された部品の位置を変更可能な矯正部と、
基板上に配置された部品の配置状態を検査した検査結果を取得し、取得した前記検査結果に位置ずれの生じた前記部品の情報が含まれるときには、該基板上に配置された部品の位置ずれを前記矯正部に矯正させる制御部と、
を備えたものである。The repair device of the present invention is
A repair device used in a mounting system for placing components on a board,
A correction unit capable of changing the position of the component arranged on the substrate;
When the inspection result obtained by inspecting the arrangement state of the component arranged on the substrate is acquired, and the acquired inspection result includes information on the component in which the positional deviation has occurred, the positional deviation of the component arranged on the substrate A control unit for correcting the correction unit,
It is equipped with.
この装置では、基板上に配置された部品の配置位置を検査した検査結果を取得し、取得した検査結果に位置ずれの生じた部品の情報が含まれるときには、基板上に配置された部品の位置ずれを矯正部に矯正させる。例えば、位置ずれした部品を有する基板がある場合は、この基板を排出して作業者が部品の矯正を行うことがある。しかしながら、作業者のスキルに頼ったリペア処理は、品質に影響を与え、また多くの時間を要することがある。この装置では、部品の位置を変更可能な矯正部により部品の位置ずれを矯正するため、部品に位置ずれが生じた際に、実装処理をより効率よく行うことができる。 In this apparatus, an inspection result obtained by inspecting an arrangement position of a component arranged on a substrate is acquired, and when the acquired inspection result includes information on a component having a positional deviation, the position of the component arranged on the substrate is acquired. Let the correction part correct the deviation. For example, when there is a substrate having a misaligned component, the operator may discharge the substrate and correct the component. However, the repair process that relies on the skill of the operator affects the quality and may take a lot of time. In this apparatus, since the misalignment of the component is corrected by the correction unit capable of changing the position of the component, the mounting process can be performed more efficiently when the misalignment occurs in the component.
本発明のリペア装置において、前記矯正部は、前記位置ずれした部品を横方向から押すことにより前記部品の位置ずれを矯正するものとしてもよい。この装置では、部品の位置ずれを横方向から修正するため、例えば、部品の位置ずれが比較的小さい場合に、より良好に位置ずれを矯正することができる。 In the repair apparatus according to the present invention, the correction unit may correct the positional deviation of the component by pushing the misaligned component from the lateral direction. In this apparatus, since the positional deviation of the component is corrected from the lateral direction, for example, when the positional deviation of the component is relatively small, the positional deviation can be corrected more favorably.
あるいは、本発明のリペア装置において、前記矯正部は、前記位置ずれした部品を採取して配置位置へ再配置させることにより前記部品の位置ずれを矯正するものとしてもよい。この装置では、部品を取り外して部品の位置ずれを修正するため、例えば、部品の位置ずれが比較的大きい場合に、より良好に位置ずれを矯正することができる。 Or the repair apparatus of this invention WHEREIN: The said correction | amendment part is good also as what correct | amends the position shift of the said component by extract | collecting the said components which shifted | deviated, and rearranging to the arrangement position. In this apparatus, since the component displacement is corrected by removing the component, for example, when the component displacement is relatively large, the displacement can be corrected more favorably.
本発明のリペア装置において、前記制御部は、前記部品を前記基板に配置する実装部の実装処理よりも低速な動作により前記矯正部に前記部品の位置ずれを矯正させるものとしてもよい。この装置では、より低速な動作で部品の位置ずれを矯正するため、より正確に部品の位置ずれを矯正することができる。 In the repair apparatus according to the present invention, the control unit may cause the correction unit to correct the misalignment of the component by an operation slower than a mounting process of the mounting unit that places the component on the substrate. In this apparatus, since the position shift of the component is corrected with a slower operation, the position shift of the component can be corrected more accurately.
本発明のリペア装置は、前記部品が配置された前記基板を撮像する撮像部と、前記撮像部により撮像された画像に基づいて前記部品の配置状態を検査する検査部と、を備えたものとしてもよい。この装置では、基板上の部品の配置状態を検査すると共に、検査結果を利用して部品の位置ずれを矯正することができる。この装置は、上述したリペア装置を備えた検査装置としてもよい。このリペア装置において、前記矯正部は、前記撮像部が配設された検査ヘッドに配設されているものとしてもよい。この装置では、検査ヘッドに矯正部が配設されるため、検査と矯正とでヘッドを共用することによって、装置構成をより簡素化することができる。 The repair device of the present invention includes an imaging unit that images the board on which the component is arranged, and an inspection unit that inspects the arrangement state of the component based on an image captured by the imaging unit. Also good. In this apparatus, the arrangement state of components on the board can be inspected, and the misalignment of the components can be corrected using the inspection result. This apparatus may be an inspection apparatus provided with the repair apparatus described above. In the repair apparatus, the correction unit may be disposed in an inspection head in which the imaging unit is disposed. In this apparatus, since the correction unit is disposed in the inspection head, the apparatus configuration can be further simplified by sharing the head for inspection and correction.
本発明のリペア方法は、
基板上に部品を配置する実装システムに用いられ、基板上に配置された部品の位置を変更可能な矯正部、を備えたリペア方法であって、
(a)基板上に配置された部品の配置位置を検査した検査結果を取得するステップと、
(b)前記ステップ(a)で取得した前記検査結果に位置ずれの生じた前記部品の情報が含まれるときには、該基板上に配置された部品の位置ずれを前記矯正部に矯正させるステップと、
を含むものである。The repair method of the present invention includes:
A repair method including a correction unit that is used in a mounting system that places components on a board and can change the position of the parts placed on the board,
(A) obtaining an inspection result obtained by inspecting an arrangement position of a component arranged on the substrate;
(B) when the inspection result acquired in step (a) includes information on the component that has been misaligned, correcting the misalignment of the component arranged on the substrate by the correction unit;
Is included.
このリペア方法は、上述したリペア装置と同様に、部品の位置を変更可能な矯正部により部品の位置ずれを矯正するため、部品に位置ずれが生じた際に、実装処理をより効率よく行うことができる。なお、このリペア方法において、上述したリペア装置の種々の態様を採用してもよいし、また、上述したリペア装置の各機能を実現するようなステップを追加してもよい。 This repair method, like the above-described repair device, corrects the component misalignment by the correction unit that can change the component position, so that when the component misalignment occurs, the mounting process is performed more efficiently. Can do. In this repair method, various aspects of the repair device described above may be adopted, and steps for realizing each function of the repair device described above may be added.
次に、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。図1は、本発明の一実施形態である実装システム10の構成の一例を示す概略説明図である。図2は、検査リペア装置30の説明図である。図3は、部品Pが配置された基板Sの説明図である。実装システム10は、以上の電子部品(部品P)を基板S(後述図2参照)上に実装する複数の実装装置20と、部品Pの実装状態を検査する1以上の検査リペア装置30と、各実装装置20や各検査リペア装置30での処理に関する情報を管理する管理コンピュータ(PC)80とを備えている。実装システム10は、様々な部品Pを収容したリールなどを装着した複数の実装装置20が接続されており、基板Sを搬送すると共に部品Pを実装する実装ラインとして構成されている。本実施形態において、左右方向(X軸)、前後方向(Y軸)及び上下方向(Z軸)は、図1、2に示した通りとする。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic explanatory diagram illustrating an example of a configuration of a
実装装置20は、基板S上へ部品Pを実装する装置であり、制御部21と、基板処理ユニット23と、実装処理ユニット24と、供給ユニット26を備えている。制御部21は、CPUを中心とするマイクロプロセッサとして構成されており、処理プログラムを記憶するROM、作業領域として用いられるRAMなどの記憶部を備えている。基板処理ユニット23は、基板Sの搬送及び固定を行うユニットであり、基板Sを搬送するベルトコンベアと、基板Sを固定するクランプ装置とを備えている。実装処理ユニット24は、部品Pの採取及び配置を行うユニットであり、実装ヘッドと、実装ヘッドに装着された吸着ノズルと、実装ヘッドをXY方向に移動させるヘッド移動部とを備えている。供給ユニット26は、実装処理ユニット24へ部品Pを供給するユニットであり、部品Pを収容したテープを捲回したリールや部品Pを載置したトレイなどを備えている。 The
検査リペア装置30は、基板S上に配置された部品Pの状態を検査する装置であり、制御部31と、基板処理ユニット33と、検査ユニット34と、パーツカメラ35と、操作パネル37とを備えている。制御部31は、CPU32を中心とするマイクロプロセッサとして構成されており、処理プログラムを記憶するROM、作業領域として用いられるRAMなどの記憶部を備えている。この記憶部には、検査条件情報が記憶されている。検査条件情報には、検査リペア装置30での検査に用いられる条件情報や、検査対象である基板Sの実装後の正しい部品Pの状態を撮像した基準画像データなどが含まれている。条件情報には、検査を行う1以上の領域の順番や、検査を行う部品の順番などが含まれる。この検査条件情報は、管理PC80から最新のものに更新されて制御部31の記憶部に記憶される。基板処理ユニット33は、基板Sの搬送及び固定を行うユニットであり、基板Sを搬送するベルトコンベアと、基板Sを固定するクランプ装置とを備えている。 The
検査ユニット34は、基板S上の部品Pの状態を検査し、補修するユニットである。検査ユニット34は、検査ヘッド40と、ヘッド移動部49とを備えている。検査ヘッド40は、撮像部41と、矯正部45とを備えている。撮像部41は、基板Sの画像を撮像するカメラである。矯正部45は、基板S上に配置された部品Pの位置を変更して矯正するものであり、基板S上に配置された部品Pの位置を変更可能な部材である。矯正部45は、図2に示すように、1対のリペアピン46を有している。リペアピン46は、棒状の部材であり、対向する他のリペアピン46との距離を変更するようスライド移動する。矯正部45は、基板S上で位置ずれした部品Pを横方向から押すことにより部品Pの位置ずれを矯正する部材である。また、矯正部45は、位置ずれした部品Pを把持することにより採取して配置位置へ再配置させることによりこの部品Pの位置ずれを矯正することもできる。この矯正部45は、撮像部41が配設された検査ヘッド40に取り外し可能に装着されている。即ち、検査ヘッド40は、部品Pの検査と、位置ずれした部品Pの位置矯正との2つの処理機能を兼ね備えている。この矯正部45は、Z軸を中心として回転可能に検査ヘッド40に支持されており、図示しないモータにより軸回転する。この検査リペア装置30では、部品Pの種別に応じた1以上の種別の矯正部45が図示しないストッカに収容されており、矯正する部品Pに応じて矯正部45が取り替えられる。ヘッド移動部49は、検査ヘッド40をXY方向に移動させるものである。このヘッド移動部49は、ガイドレールに導かれてXY方向へ移動するスライダと、スライダを駆動するモータとを備えている。検査ヘッド40は、スライダに取り外し可能に装着されている。 The
パーツカメラ35は、例えば、矯正部45に把持された部品Pを下方から撮像するカメラである。このパーツカメラ35は、基板処理ユニット33の前方に配設されている。このパーツカメラ15の撮像範囲は、パーツカメラ15の上方である。操作パネル37は、画面を表示する表示部38と、作業者からの入力操作を受け付ける操作部39とを備えている。 The
基板Sには、図3に示すように、複数種別の部品Pが配置される。検査条件情報には、基板Sの大きさと撮像部41の撮像範囲との関係で1以上の検査領域50が定められている。また、検査条件情報には、基板Sの各配置位置の部品Pに対して、リペア不要領域52と、リペア可能領域54とが定められている。リペア不要領域52は、リフロー処理などを経た後の最終製品において不具合が生じない程度の部品Pの位置ずれの範囲として経験的に定められている。基板Sは、部品Pがリペア不要領域52内に配置されれば良好な製品となる。リペア可能領域54は、横方向から部品Pを押すことにより部品Pをリペア不要領域52内へ矯正可能な程度の部品Pの位置ずれの範囲として経験的に定められている。基板Sは、部品Pがリペア可能領域54内に配置されたのち、所定のリペア処理を経てリペア不要領域52内に矯正されることによって良好な製品となる。なお、検査リペア装置30では、部品Pがリペア可能領域54外に配置されると、横方向から部品Pを押すことにより部品Pの位置ずれを矯正できない程度に大きな位置ずれであるものとして、部品Pを採取して配置位置へ再配置させることにより部品Pの位置ずれを矯正する。 As shown in FIG. 3, a plurality of types of components P are arranged on the substrate S. In the inspection condition information, one or
管理PC80は、複数の実装装置20や複数の検査リペア装置30の情報を管理するコンピュータである。管理PC80には、実装装置20での実装に用いられる実装条件情報や、検査リペア装置30での検査に用いられる検査条件情報などが記憶されている。 The
次に、こうして構成された本実施形態の検査リペア装置30の動作、まず、実装装置20による実装処理について説明する。実装処理を開始すると、制御部21は、例えば、供給ユニット26のテープやトレイに収容されている部品Pを吸着ノズルで採取するよう実装処理ユニット24を制御する。そして、制御部21は、採取した部品Pを基板S上の所定の配置位置まで移動させ、基板Sに実装させる。このとき、制御部21は、実装時間の短縮のため、できるだけ短距離で、且つできるだけ高速に部品Pを移動させる。制御部21は、この処理を、基板Sへの部品Pの配置がすべて終了するまで繰り返し行う。また、制御部21は、現在の基板Sへの部品Pの配置処理が終了すると、基板Sを次工程の装置へ搬送し、新たな基板Sを搬入して上記と同様の処理を行う。 Next, the operation of the inspection /
次に、検査リペア装置30の動作、特に、実装装置20により基板S上に実装された部品Pの配置状態を検査する処理について説明する。図4は、検査リペア装置30のCPU32により実行される検査リペア処理ルーチンの一例を表すフローチャートである。このルーチンは、制御部31の記憶部に記憶され、作業者による実装処理の開始入力に応じて適宜実行開始される。なお、部品Pの検査処理では、部品Pの形状が正常であるか否かについても検査するが、ここでは、部品Pの位置ずれを主として説明する。このルーチンを開始すると、制御部31のCPU32は、検査条件情報を取得し(ステップS100)、基板Sの搬送及び固定処理を実行する(ステップS110)。制御部31は、制御部31の記憶部から検査条件情報を取得する。この検査条件情報には、検査領域50、リペア不要領域52及びリペア可能領域54などが含まれている。 Next, the operation of the inspection /
次に、CPU32は、検査条件情報に含まれる条件情報に基づいて、検査領域50の撮像処理を検査ユニット34に実行させる(ステップS130)。検査ユニット34は、撮像部41により、1以上の検査領域50を所定の順番で撮像する。次に、CPU32は、撮像した画像と、検査条件情報に含まれる基準画像データとに基づいて位置ずれした部品があるか否かを判定する(ステップS140)。CPU32は、例えば、この処理において、画像データ中の部品Pの領域を二値化処理など周知の方法により抽出し、正常な状態の部品の画像の位置から、撮像画像の部品の位置がずれているか否かを判定する。位置ずれした部品Pがあるときには、CPU32は、リペア可能領域54内に部品Pがあるか否かを判定する(ステップS150)。 Next, the
リペア可能領域54内に部品があるときには、CPU32は、リペア処理(ステップS160〜S190)を検査ユニット34に実行させる。即ち、制御部31は、撮像部41により撮像された画像に基づいて部品Pの配置状態を検査する検査処理を行い、この検査結果に位置ずれの生じた部品Pの情報が含まれるときには、この基板S上に配置された部品Pの位置ずれを矯正部45に矯正させるリペア処理を行う。このリペア処理において、まず、CPU32は、横方向から押圧することによりリペア可能な部品Pの位置などの情報を取得し(ステップS160)、撮像画像に基づいて該当する部品Pの角度ずれ量Aを取得する(ステップS170)。この処理では、例えば、ステップS140で抽出した部品Pの領域の情報に基づき、部品Pの端部(辺)を認識し、正常位置に配置された部品Pに対する角度を求めるものとする。続いて、CPU32は、部品Pの角度及び位置を矯正する処理を行う(ステップS180)。この処理では、基板S上で位置ずれした部品Pを横方向からリペアピン46で押すことにより部品Pの位置ずれを矯正する。このとき、制御部31は、微少な位置ずれを矯正する観点から、部品Pを基板Sに配置する実装処理ユニット24の実装処理よりも低速な動作により矯正部45に部品Pの位置ずれを矯正させる。例えば、実装処理における吸着ノズルの最高移動速度の5%〜50%のうちいずれかの移動速度を上限としてリペアピン46を移動するものとしてもよい。 When there is a part in the
図5は、部品Pの位置ずれを横方向から押圧して矯正する一連の処理の説明図であり、図5(a)〜(d)が平面図であり、図5(e)〜(h)がそれらに各々対応する側面図である。まず、CPU32は、部品Pの位置ずれの方向及び位置ずれ量を求める。部品Pの位置ずれの方向及び量は、例えば、部品Pの中心座標Cのずれとして求めることができる。位置ずれの方向及び量を把握すると、CPU32は、部品Pの中心座標C1を正常位置の部品Pの中心座標Cへ動かすようリペアピン46が押圧すべき基本方向を定めることができる。次に、CPU32は、部品Pの角度ずれ量Aを求める(図5(a),(e))。ここでは、部品Pの長手方向の辺の角度を求めるものとし、その角度ずれ量が値A1である場合について説明する。CPU32は、正常位置の部品Pの角度(図5の点線参照)となるよう部品Pを横方向からリペアピン46で押すことにより、角度A1を矯正する。なお、「横方向」とは、図1,2,5の前後左右方向をいうものとする。ここでは、1本のリペアピン46が部品Pの左端部を前側から押圧するものとして説明するが、部品Pの右端部を後ろ側から押圧するものとしてもよい。部品Pの角度矯正は、例えば、部品Pの中心位置(座標)と、リペアピン46により押す位置と、リペアピン46の移動量と、部品Pの角度ずれ量Aとを対応づけたテーブルを用意しておき、部品Pの中心位置と角度ずれ量Aとが入力されると、これに基づいてリペアピン46の押圧開始位置と移動量とを導き出すことにより行うことができる。なお、CPU32は、部品Pに角度ずれがない場合はこの角度矯正処理を省略する。次に、CPU32は、上記基本方向に基づいて、XY方向の位置ずれを矯正する。例えば、図5(b)に示すように、CPU32は、角度矯正での押圧側(前側)の反対側の横方向(後ろ側)から正常位置における部品Pの辺の位置までリペアピン46を移動させる(図5(b),(f))。すると、部品Pは、前後方向の位置ずれ量Y1が矯正される。なお、リペアピン46の押圧方向が変更される場合は、CPU32は、それに応じて矯正部45を軸回転させるものとする。次に、CPU32は、位置ずれしている左右方向のいずれかから正常位置における部品Pの辺の位置までリペアピン46を移動させる(図5(c),(g))。すると、部品Pは、左右方向の位置ずれ量X1が矯正される(図5(d),(h))。このようにして、検査リペア装置30では、部品Pの位置ずれを検出すると共に、この位置ずれを矯正する処理を行う。 FIG. 5 is an explanatory diagram of a series of processes for correcting the positional deviation of the component P by pressing it from the lateral direction, FIGS. 5A to 5D are plan views, and FIGS. ) Is a side view corresponding to each of them. First, the
続いて、CPU32は、部品Pのリペア処理がすべて終了したか否かを判定し(ステップS190)、部品Pのリペア処理がすべて終了していないときには、ステップS150以降の処理を実行する。一方、ステップS150でリペア可能領域54内の部品Pがない、即ちリペア可能領域54外の部品があるときには、CPU32は、リペア処理(ステップS200〜S220)を検査ユニット34に実行させる。このリペア処理において、まず、CPU32は、該当する部品Pを矯正部45に採取させパーツカメラ35上に移動させて部品Pをパーツカメラ35に撮像させる(ステップS200)。次に、CPU32は、ステップS170と同様の処理により、撮像画像に基づいて該当する部品Pの角度ずれ量Aを取得する(ステップS210)。続いて、CPU32は、部品Pの角度及び位置を矯正した状態で部品Pを配置位置へ再配置させ(ステップS220)、ステップS190以降の処理を実行する。部品Pの再配置時には、CPU32は、上記と同様に、実装処理よりも低速な動作により矯正部45に部品Pの位置ずれを矯正させるものとする。このように、検査リペア装置30は、横方向から押すことにより位置ずれを解消しにくい程度の位置ずれが部品Pにある場合には、部品Pを再配置させて位置ずれを解消する。 Subsequently, the
一方、ステップS190で部品Pのリペア処理がすべて終了したとき、または、ステップS140で位置ずれした部品Pがないときには、CPU32は、検査結果やリペア結果を履歴情報として記憶部に記憶させ、その旨の情報を作業者へ報知する(ステップS230)。位置ずれした部品Pがないときには、CPU32は、リペアしていない旨の情報を履歴情報に記憶させる。また、CPU32は、検査結果及びリペア結果を報知するに際して、操作パネル37にその旨のメッセージや画像を表示させる。そして、CPU32は、すべての基板Sの検査処理が完了したか否かを判定し(ステップS240)、すべての基板Sの検査処理が完了していないときには、ステップS120以降の処理を繰り返し実行する。一方、ステップS240ですべての基板Sの検査処理が完了したときには、そのままこのルーチンを終了する。 On the other hand, when all the repair processing of the component P is completed in step S190, or when there is no component P displaced in step S140, the
ここで、本実施形態の構成要素と本発明の構成要素との対応関係を明らかにする。本実施形態の矯正部45(リペアピン46)が本発明の矯正部に相当し、制御部31が制御部及び検査部に相当し、撮像部41が撮像部に相当する。なお、本実施形態では、検査リペア装置30の動作を説明することにより本発明のリペア方法の一例も明らかにしている。 Here, the correspondence between the components of the present embodiment and the components of the present invention will be clarified. The correction unit 45 (repair pin 46) of the present embodiment corresponds to the correction unit of the present invention, the
以上説明した実施形態の検査リペア装置30では、基板S上に配置された部品Pの配置位置を検査した検査結果を取得し、取得した検査結果に位置ずれの生じた部品Pの情報が含まれるときには、基板S上に配置された部品Pの位置ずれを矯正部45に矯正させる。例えば、位置ずれした部品を有する基板がある場合は、この基板を排出して作業者が部品の矯正を行うことがある。しかしながら、作業者のスキルに頼ったリペア処理は、品質に影響を与え、また多くの時間を要することがある。この検査リペア装置30では、部品Pの位置を変更可能な矯正部45によって部品Pの位置ずれを矯正するため、部品Pに位置ずれが生じた際に、基板Sの生産処理(実装処理)をより効率よく行うことができる。 In the
また、検査リペア装置30は、矯正部45が部品Pの位置ずれを横方向から修正するため、例えば、部品Pの位置ずれが比較的小さい場合に、より良好に位置ずれを矯正することができる。更に、検査リペア装置30は、位置ずれした部品Pを採取して配置位置へ再配置させることにより部品Pの位置ずれを矯正するため、例えば、部品の位置ずれが比較的大きい場合に、より良好に位置ずれを矯正することができる。更にまた、検査リペア装置30は、制御部31が部品Pを基板Sに配置する実装装置20の実装処理よりも低速な動作により矯正部45に部品Pの位置ずれを矯正させるため、より正確に部品Pの位置ずれを矯正することができる。そしてまた、検査リペア装置30は、部品Pが配置された基板Sを撮像する撮像部41と、撮像部41により撮像された画像に基づいて部品Pの配置状態を検査する制御部31(検査部)とを備えているため、基板S上の部品Pの配置状態を検査すると共に、検査結果を利用して部品Pの位置ずれを矯正することができる。そして更にまた、検査リペア装置30は、矯正部45が、撮像部41の配設された検査ヘッド40に配設されているため、検査処理と矯正処理とでヘッドを共用することによって、装置構成をより簡素化することができる。 Moreover, since the correction |
なお、本発明は上述した実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。 It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that the present invention can be implemented in various modes as long as it belongs to the technical scope of the present invention.
例えば、上述した実施形態では、矯正部45が撮像部41の配設された検査ヘッド40に配設されているものとしたが、特にこれに限定されず、例えば、図6に示すように、矯正部45が検査ヘッド40とは別の矯正ヘッド40Bに配設されているものとしてもよい。図6は、別の検査リペア装置30Bの説明図である。この検査リペア装置30Bは、撮像部41が配設された検査ヘッド40と、検査ヘッド40をXY方向に移動するヘッド移動部49と、矯正部45が配設された矯正ヘッド40Bと、矯正ヘッド40BをXY方向に移動するヘッド移動部49Bとを備えている。この検査リペア装置30Bでは、装置構成が多くなるが、検査処理と矯正処理とを同時並行的に実行することができる。 For example, in the above-described embodiment, the
上述した実施形態では、リペア可能領域54内に部品Pがあるか否かで横方向から押して位置ずれを矯正するか、部品Pを採取したのち再配置させて位置ずれを矯正するかを切り替えるものとしたが、特にこれに限定されず、リペア可能領域54にかかわらず部品Pを再配置させてもよいし、横方向から押して位置ずれを矯正するものとしてもよい。なお、リペア可能領域54外に部品Pがあるときには、矯正部45により矯正できないものとして、該当する基板Sを生産ライン外に排出するものとしてもよい。 In the above-described embodiment, whether to correct misalignment by pushing from the lateral direction depending on whether or not there is a part P in the
上述した実施形態では、矯正部45は、リペアピン46を備えるものとして説明したが、特にこれに限定されず、例えば、図7に示すように、吸着ノズル48を備えたものとしてもよい。図7は、別の検査リペア装置30Cの説明図である。この検査リペア装置30Cは、吸着ノズル48によって部品Pを吸着採取して再配置させることにより部品Pの位置ずれを矯正する。この装置においても、部品Pに位置ずれが生じた際に、基板Sの生産処理(実装処理)をより効率よく行うことができる。 In the embodiment described above, the
上述した実施形態では、矯正部45は、1対のリペアピン46を備えるものとしたが、特にこれに限定されず、1本のリペアピン46のみ備えるものとしてもよいし、4本のリペアピン46を備えるものとしてもよい。また、リペアピン46は、スライド可能に矯正部45に配設されているものとしたが、スライド不能に 固定されているものとしてもよい。 In the embodiment described above, the
上述した実施形態では、撮像部41と矯正部45とを備えた検査リペア装置30としたが、撮像部41を備えた検査装置と、矯正部45を備えたリペア装置とに分けるものとしてもよい。この場合、リペア装置は、検査装置から検査結果を取得し、検査結果に応じた部品Pの位置ずれを矯正するものとすればよい。 In the embodiment described above, the inspection /
上述した実施形態では、本発明を検査リペア装置30として説明したが、本発明をリペア方法やリペア装置の制御方法としてもよいし、本発明を上述した処理をコンピュータが実行するプログラムとしてもよい。 In the above-described embodiment, the present invention has been described as the
本発明は、部品を基板上に配置する実装装置に利用可能である。 The present invention can be used in a mounting apparatus that arranges components on a substrate.
10 実装システム、20 実装装置、21 制御部、23 基板処理ユニット、24 実装処理ユニット、26 供給ユニット、30,30B,30C 検査リペア装置、31
制御部、32 CPU、33 基板処理ユニット、34 検査ユニット、35 パーツカメラ、37 操作パネル、38 表示部、39 操作部、40 検査ヘッド、40B 矯正ヘッド、41 撮像部、45 矯正部、46 リペアピン、48 吸着ノズル、49,49B ヘッド移動部、50 検査領域、52 リペア不要領域、54 リペア可能領域、80 管理PC、P 部品、S 基板。DESCRIPTION OF
Control unit, 32 CPU, 33 Substrate processing unit, 34 Inspection unit, 35 Parts camera, 37 Operation panel, 38 Display unit, 39 Operation unit, 40 Inspection head, 40B Correction head, 41 Imaging unit, 45 Correction unit, 46 Repair pin, 48 suction nozzle, 49, 49B head moving unit, 50 inspection area, 52 repair unnecessary area, 54 repairable area, 80 management PC, P component, S substrate.
Claims (7)
基板上に配置された部品の位置を変更可能な矯正部と、
基板上に配置された部品の配置状態を検査した検査結果を取得し、取得した前記検査結果に位置ずれの生じた前記部品の情報が含まれるときには、該基板上に配置された部品の位置ずれを前記矯正部に矯正させる制御部と、
を備えたリペア装置。A repair device used in a mounting system for placing components on a board,
A correction unit capable of changing the position of the component arranged on the substrate;
When the inspection result obtained by inspecting the arrangement state of the component arranged on the substrate is acquired, and the acquired inspection result includes information on the component in which the positional deviation has occurred, the positional deviation of the component arranged on the substrate A control unit for correcting the correction unit,
Repair device with
前記部品が配置された前記基板を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像された画像に基づいて前記部品の配置状態を検査する検査部と、
を備えたリペア装置。The repair device according to any one of claims 1 to 4,
An imaging unit for imaging the substrate on which the component is disposed;
An inspection unit for inspecting an arrangement state of the component based on an image captured by the imaging unit;
Repair device with
(a)基板上に配置された部品の配置位置を検査した検査結果を取得するステップと、
(b)前記ステップ(a)で取得した前記検査結果に位置ずれの生じた前記部品の情報が含まれるときには、該基板上に配置された部品の位置ずれを前記矯正部に矯正させるステップと、
を含むリペア方法。A repair method including a correction unit that is used in a mounting system that places components on a board and can change the position of the parts placed on the board,
(A) obtaining an inspection result obtained by inspecting an arrangement position of a component arranged on the substrate;
(B) when the inspection result acquired in step (a) includes information on the component that has been misaligned, correcting the misalignment of the component arranged on the substrate by the correction unit;
Including repair method.
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