JPS6396800A - Cmosサンプルホ−ルド回路 - Google Patents
Cmosサンプルホ−ルド回路Info
- Publication number
- JPS6396800A JPS6396800A JP61242237A JP24223786A JPS6396800A JP S6396800 A JPS6396800 A JP S6396800A JP 61242237 A JP61242237 A JP 61242237A JP 24223786 A JP24223786 A JP 24223786A JP S6396800 A JPS6396800 A JP S6396800A
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- JP
- Japan
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- during
- turned
- gates
- switches
- voltage
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、CMOSインバータを用いたCMOSサンプ
ルホールド回路に関するものである。
ルホールド回路に関するものである。
本発明は、CMOSサンプルホールド回路において、サ
ンプル期間とホールド期間で別々にオンする複数のスイ
ッチを設け、ホールド時に電流源及びレベルシフト回路
を充放電用コンデンサ及びCMOSインバータと切離す
ことにより、入出力電圧間にオフセットがなくホールド
期間に電位変動がないようにしたものである。
ンプル期間とホールド期間で別々にオンする複数のスイ
ッチを設け、ホールド時に電流源及びレベルシフト回路
を充放電用コンデンサ及びCMOSインバータと切離す
ことにより、入出力電圧間にオフセットがなくホールド
期間に電位変動がないようにしたものである。
第4図は、従来のCMOSサンプルホールド回路の例を
示す回路図である。同図において、Ml及びM3はNH
O2トランジスタ、M2及びM4はPl’lOS l−
ランジスタ、Io及びIo′は電流源の電流、Csはコ
ンデンサ、Sはサンプリング・ゲート (スイッチ)、
VINは入力信号電圧、vouTは出力信号電圧を示す
。NMOSトランジスタM1とPMOSトランジスタM
2とはCMOSインバータ回路を構成し、NFIO5)
ランジスタM3とP間SトランジスタM4はそれぞれレ
ベルシフト回路を構成している。各MOSトランジスタ
M1〜M4のグリッドG及びソースS間の電圧をそれぞ
れVC!+1 、 MOS2 。
示す回路図である。同図において、Ml及びM3はNH
O2トランジスタ、M2及びM4はPl’lOS l−
ランジスタ、Io及びIo′は電流源の電流、Csはコ
ンデンサ、Sはサンプリング・ゲート (スイッチ)、
VINは入力信号電圧、vouTは出力信号電圧を示す
。NMOSトランジスタM1とPMOSトランジスタM
2とはCMOSインバータ回路を構成し、NFIO5)
ランジスタM3とP間SトランジスタM4はそれぞれレ
ベルシフト回路を構成している。各MOSトランジスタ
M1〜M4のグリッドG及びソースS間の電圧をそれぞ
れVC!+1 、 MOS2 。
MOS3 、 MOS4とし、MOSトランジスタの
チャンネル幅をW、チャンネル長さをLとするとき、V
GSI =VGS11 MOS4 =VGS2 、
I o = Io’になるようにW/L及び電流値を選
ぶと、VOUT=VINとなる。
チャンネル幅をW、チャンネル長さをLとするとき、V
GSI =VGS11 MOS4 =VGS2 、
I o = Io’になるようにW/L及び電流値を選
ぶと、VOUT=VINとなる。
ところが、MOS3 =vcs1. MOS4 ””
MOS2 。
MOS2 。
1o=Io’にして入出力電圧間にオフセットが生じな
いように設定しても、上記従来回路では、各素子のVt
h(Lきい値電圧)や温度特性のばらつき、 1/fノ
イズ(周波数に反比例する固有の雑音)及びIo、Io
’の信号レベルに対する変動により、どうしてもVOU
T”’VIN+Δ■ (ΔVはオフセント電圧)となる
。このオフセント電圧には、上記のばらつき分、1/f
ノイズ分及び信号レベルによる変動分が含まれている。
いように設定しても、上記従来回路では、各素子のVt
h(Lきい値電圧)や温度特性のばらつき、 1/fノ
イズ(周波数に反比例する固有の雑音)及びIo、Io
’の信号レベルに対する変動により、どうしてもVOU
T”’VIN+Δ■ (ΔVはオフセント電圧)となる
。このオフセント電圧には、上記のばらつき分、1/f
ノイズ分及び信号レベルによる変動分が含まれている。
ホールド期間に例えばIo>Io’になると、第5図に
示すようにか発生する。
示すようにか発生する。
したがって、本発明の目的は、CMOS各素子にばらつ
きがあっても入出力電圧間にオフセット電圧が生じない
ように、またホールド期間に電位変動が生じないように
するにある。
きがあっても入出力電圧間にオフセット電圧が生じない
ように、またホールド期間に電位変動が生じないように
するにある。
本発明は、入力電圧端子を第1及び第2のレベルシフト
回路(M3 、 Cm ; M4 、 C4)並
びに第1及び第2のスイッチ(Sl、32)を介して1
対のトランジスタ(Ml 、 M2 )の各ゲートに接
続すると共に、上記ゲート間に第1及び第2のコンデン
サ(C1,C2)の直列回路を接続し、上記1対のトラ
ンジスタ(M工1M2)の接続点より出力端子を導出す
る。入力電圧端子を第3及び第4のスイッチ(Sl、S
4)の直列回路を介して第1及び第2のコンデンサ(C
よ、C2)の接続点に接続し、この接続点と出力端子間
に第5のスイッチ(S6)を接続し、第3及び第4のス
イッチ(Sl、S4)の接続点と基準電位間に第3のコ
ンデンサ(Cs )を接続する。そして、第1、第2.
第3及び第5のスイッチ(SL、S2゜Sl、S5)を
サンプル期間にオンし、第4のスイッチ(S4)をホー
ルド期間にオンするようにした。
回路(M3 、 Cm ; M4 、 C4)並
びに第1及び第2のスイッチ(Sl、32)を介して1
対のトランジスタ(Ml 、 M2 )の各ゲートに接
続すると共に、上記ゲート間に第1及び第2のコンデン
サ(C1,C2)の直列回路を接続し、上記1対のトラ
ンジスタ(M工1M2)の接続点より出力端子を導出す
る。入力電圧端子を第3及び第4のスイッチ(Sl、S
4)の直列回路を介して第1及び第2のコンデンサ(C
よ、C2)の接続点に接続し、この接続点と出力端子間
に第5のスイッチ(S6)を接続し、第3及び第4のス
イッチ(Sl、S4)の接続点と基準電位間に第3のコ
ンデンサ(Cs )を接続する。そして、第1、第2.
第3及び第5のスイッチ(SL、S2゜Sl、S5)を
サンプル期間にオンし、第4のスイッチ(S4)をホー
ルド期間にオンするようにした。
サンプル時は従来と同様にオフセント電圧が出力に現わ
れるが、ホールド時は電流源及びレベルシフト回路が充
放電用コンデンサ及びCMOSインバータと切離される
ので、オフセント電圧が出力に現われず出力の変動もな
くなる。
れるが、ホールド時は電流源及びレベルシフト回路が充
放電用コンデンサ及びCMOSインバータと切離される
ので、オフセント電圧が出力に現われず出力の変動もな
くなる。
第1図は、本発明の好適な実施例を示す回路図である。
同図において、第4図と対応する素子には同一の符号を
付して重複説明を省略する。01〜C4はコンデンサ、
81〜S5はゲート(又はスイッチ)を示す。第2図は
、スイッチ81〜S5の動作を示すタイムチャートであ
る。すなわち、SL、S2.33.SSゲートがオンの
サンプル期間にはS4ゲートがオフであり、SL、S2
゜Sl、S5ゲートがオフのホールド期間にはS4ゲー
トがオンとなる。ただし、両ゲートが共にオンとなるの
を避けるため、タイミングを少しずらしである。いま、
MOS3 =Vcst 、 MOS4 =VGS2と
し、Sl、S2.Sl、S5ゲートがオンで84ゲート
がオフのサンプル時を考える。このときは、第4図とほ
ぼ同様な回路構成となり、点00間の電圧をΔVとする
と、0点の電圧はVINであるから、VOUT”’VI
N+Δνである。次にSi * S2 +S3.S5
ゲートがオフで84ゲートがオンのホールド時を考える
。このとき、電流源及びMO3トランジスタM3.M4
を含むレベルシフト回路は、充放電用コンデンサCs及
びMOSトランジスタMl 、M2を含むCMOSイン
バータ回路から遮断される。したがって、電流源の電流
IoとIo′が完全に等しくなくても、またMOSトラ
ンジスタM3.M4に多少のばらつきがあっても、コン
デンサCsの充放電に何の影響も与えない。すなわち、
ホールド期間中■点の電位は変動しない。
付して重複説明を省略する。01〜C4はコンデンサ、
81〜S5はゲート(又はスイッチ)を示す。第2図は
、スイッチ81〜S5の動作を示すタイムチャートであ
る。すなわち、SL、S2.33.SSゲートがオンの
サンプル期間にはS4ゲートがオフであり、SL、S2
゜Sl、S5ゲートがオフのホールド期間にはS4ゲー
トがオンとなる。ただし、両ゲートが共にオンとなるの
を避けるため、タイミングを少しずらしである。いま、
MOS3 =Vcst 、 MOS4 =VGS2と
し、Sl、S2.Sl、S5ゲートがオンで84ゲート
がオフのサンプル時を考える。このときは、第4図とほ
ぼ同様な回路構成となり、点00間の電圧をΔVとする
と、0点の電圧はVINであるから、VOUT”’VI
N+Δνである。次にSi * S2 +S3.S5
ゲートがオフで84ゲートがオンのホールド時を考える
。このとき、電流源及びMO3トランジスタM3.M4
を含むレベルシフト回路は、充放電用コンデンサCs及
びMOSトランジスタMl 、M2を含むCMOSイン
バータ回路から遮断される。したがって、電流源の電流
IoとIo′が完全に等しくなくても、またMOSトラ
ンジスタM3.M4に多少のばらつきがあっても、コン
デンサCsの充放電に何の影響も与えない。すなわち、
ホールド期間中■点の電位は変動しない。
また、コンデンサC1,C2の両端電圧はサンプル期間
に等しい電圧に充電されており、ホールド時に01と0
2の接続点が0点に接続され且つ0点と切離されるので
、コンデンサC1,C2はホールド期間中等しい電圧を
維持し、0点の電圧VOUTは0点の電圧VIHに等し
くなる。すなわち、サンプル期間はVOUT=VIN+
ΔVであるが、ホールド期間にはVoυ丁−VINとな
る。第3図は、その状況を示す説明図である。この図か
ら分かるように、ホールド期間に、オフセット電圧ΔV
が含まれず、且つIo、Io’の変動の影響を受けな′
at 〔発明の効果〕 以上説明したとおり、本発明によれば、次のような顕著
な効果がある。
に等しい電圧に充電されており、ホールド時に01と0
2の接続点が0点に接続され且つ0点と切離されるので
、コンデンサC1,C2はホールド期間中等しい電圧を
維持し、0点の電圧VOUTは0点の電圧VIHに等し
くなる。すなわち、サンプル期間はVOUT=VIN+
ΔVであるが、ホールド期間にはVoυ丁−VINとな
る。第3図は、その状況を示す説明図である。この図か
ら分かるように、ホールド期間に、オフセット電圧ΔV
が含まれず、且つIo、Io’の変動の影響を受けな′
at 〔発明の効果〕 以上説明したとおり、本発明によれば、次のような顕著
な効果がある。
(イ)素子にばらつきがあっても、ホールド期間には入
出力信号間にオフセットが生じない。
出力信号間にオフセットが生じない。
(ロ)1/fノイズの減少により、S/N比のよい出力
信号が得られる。
信号が得られる。
(ハ)ホールド期間における出力レベルの変動がなくな
る。
る。
第1図は本発明の好適な実施例を示す回路図、第2図は
第1図のスイッチ81〜S5の動作を示すタイムチャー
ト、第3図は本発明の効果を示す説明図、第4図は従来
例を示す回路図、第5図は従来例の問題点の1つを示す
説明図である。 M 1 、 M 2 ・・・CMOSインバータ回路
を構成する1対のトランジスタ、(C3、M3 ) 、
(C4。 M4) ・・・第1及び第2のレベルシフト回路、8
1〜S5 ・・・第1ないし第5のスイッチ、C工。 C2・・・第1及び第2のコンデンサ、Cs ・・第3
のコンデンサ。 同 松隈秀盛
第1図のスイッチ81〜S5の動作を示すタイムチャー
ト、第3図は本発明の効果を示す説明図、第4図は従来
例を示す回路図、第5図は従来例の問題点の1つを示す
説明図である。 M 1 、 M 2 ・・・CMOSインバータ回路
を構成する1対のトランジスタ、(C3、M3 ) 、
(C4。 M4) ・・・第1及び第2のレベルシフト回路、8
1〜S5 ・・・第1ないし第5のスイッチ、C工。 C2・・・第1及び第2のコンデンサ、Cs ・・第3
のコンデンサ。 同 松隈秀盛
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 入力電圧端子をCMOSインバータ回路を構成する1対
のトランジスタの各ゲートにそれぞれ第1及び第2のレ
ベルシフト回路並びに第1及び第2のスイッチを介して
接続すると共に上記ゲート間に第1及び第2のコンデン
サの直列回路を接続し、上記1対のトランジスタの接続
点より出力端子を導出し、 上記入力電圧端子を第3及び第4のスイッチの直列回路
を介して上記第1及び第2のコンデンサの接続点に接続
し、 該接続点と上記出力端子間に第5のスイッチを接続し、 上記第3及び第4のスイッチの接続点と基準電位間に第
3のコンデンサを接続し、 上記第1、第2、第3及び第5のスイッチをサンプル期
間にオンし、上記第4のスイッチをホールド期間にオン
するようにしたCMOSサンプルホールド回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61242237A JPS6396800A (ja) | 1986-10-13 | 1986-10-13 | Cmosサンプルホ−ルド回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61242237A JPS6396800A (ja) | 1986-10-13 | 1986-10-13 | Cmosサンプルホ−ルド回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6396800A true JPS6396800A (ja) | 1988-04-27 |
Family
ID=17086275
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61242237A Pending JPS6396800A (ja) | 1986-10-13 | 1986-10-13 | Cmosサンプルホ−ルド回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6396800A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0279299A (ja) * | 1988-08-08 | 1990-03-19 | Tektronix Inc | 高速信号処理回路及びサンプル・ホールド回路 |
US5247301A (en) * | 1990-09-20 | 1993-09-21 | Hitachi, Ltd. | Analog-to-digital conversion method and apparatus with a controlled switch for high-speed conversion |
US5479121A (en) * | 1995-02-27 | 1995-12-26 | Industrial Technology Research Institute | Compensating circuit for MOSFET analog switches |
-
1986
- 1986-10-13 JP JP61242237A patent/JPS6396800A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0279299A (ja) * | 1988-08-08 | 1990-03-19 | Tektronix Inc | 高速信号処理回路及びサンプル・ホールド回路 |
US5247301A (en) * | 1990-09-20 | 1993-09-21 | Hitachi, Ltd. | Analog-to-digital conversion method and apparatus with a controlled switch for high-speed conversion |
US5479121A (en) * | 1995-02-27 | 1995-12-26 | Industrial Technology Research Institute | Compensating circuit for MOSFET analog switches |
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