JPS6360533B2 - - Google Patents
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- JPS6360533B2 JPS6360533B2 JP56152632A JP15263281A JPS6360533B2 JP S6360533 B2 JPS6360533 B2 JP S6360533B2 JP 56152632 A JP56152632 A JP 56152632A JP 15263281 A JP15263281 A JP 15263281A JP S6360533 B2 JPS6360533 B2 JP S6360533B2
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
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- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
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- H01L2224/81801—Soldering or alloying
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-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15312—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は多数の凸起電極を有する半導体素子
をセラミツク等からなる基板に固着する半導体装
置に関するものである。
をセラミツク等からなる基板に固着する半導体装
置に関するものである。
従来この種のフエースダウンボンデイング方式
半導体装置においては、凸起電極に熱応力がかか
ることによる機械的損傷を避けるため凸起電極を
半導体素子の中央部にもつてきたりして、かなり
無理なプロセスを採つていた。また、電極を半導
体素子の周辺部に設ける場合においては素子の大
きさに制限があり、このフエースダウンボンデイ
ング方式は大きな素子には適用できなかつた。
半導体装置においては、凸起電極に熱応力がかか
ることによる機械的損傷を避けるため凸起電極を
半導体素子の中央部にもつてきたりして、かなり
無理なプロセスを採つていた。また、電極を半導
体素子の周辺部に設ける場合においては素子の大
きさに制限があり、このフエースダウンボンデイ
ング方式は大きな素子には適用できなかつた。
本発明は上記欠点を除くためになされたもの
で、熱応力が凸起電極にかかるのを防止でき、高
信頼度な素子と基板との接続部を得ることのでき
る半導体装置を提供することを目的とする。
で、熱応力が凸起電極にかかるのを防止でき、高
信頼度な素子と基板との接続部を得ることのでき
る半導体装置を提供することを目的とする。
本発明に係る半導体装置は、半導体素子の凸起
電極を有する面と反対の面部に、基板と同一の材
質からなるサポータを固着したものである。
電極を有する面と反対の面部に、基板と同一の材
質からなるサポータを固着したものである。
以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。
る。
第1図は本実施例の構成を示し、1は半導体素
子2を1個あるいは複数個搭載するための基板
で、通常はセラミツク、あるいはガラスエポキシ
材からなる。3は半導体素子2と基板1とを電気
的、機械的に接続するための凸起電極を示し、半
導体素子2、及び基板1の両方、あるいは一方に
凸起を設けた、いわゆる“バンプ”である。ま
た、4は基板1と同一材質からなるサポータ、5
は接着層である。
子2を1個あるいは複数個搭載するための基板
で、通常はセラミツク、あるいはガラスエポキシ
材からなる。3は半導体素子2と基板1とを電気
的、機械的に接続するための凸起電極を示し、半
導体素子2、及び基板1の両方、あるいは一方に
凸起を設けた、いわゆる“バンプ”である。ま
た、4は基板1と同一材質からなるサポータ、5
は接着層である。
また、第2図は半導体装置が温度サイクルを受
けた場合にバンプが変位するときの変位量を説明
するための模式図であり、aは従来の装置、bは
本実施例による装置について示している。
けた場合にバンプが変位するときの変位量を説明
するための模式図であり、aは従来の装置、bは
本実施例による装置について示している。
以下、これらの図を用いて本実施例におけるサ
ポータ4の機能について詳細に説明する。
ポータ4の機能について詳細に説明する。
通常、バンプは半田等の軟材質からなり、比較
的機械的には弱い、従来の半導体装置では、温度
サイクルを受けるとシリコンと基板との熱膨張差
によりこの弱いバンプ部に熱応力が加わり、第2
図aに示すようにバンプ3に歪が生じ破壊が生じ
て、装置が不良となつていた。
的機械的には弱い、従来の半導体装置では、温度
サイクルを受けるとシリコンと基板との熱膨張差
によりこの弱いバンプ部に熱応力が加わり、第2
図aに示すようにバンプ3に歪が生じ破壊が生じ
て、装置が不良となつていた。
本実施例では、凸起電極3を有する面と反対の
面に、基板1と同一の材質からなり、かつ、半導
体素子2を拘束するに十分な厚さを有するサポー
タ4を設け、接着層5により固着させている。
面に、基板1と同一の材質からなり、かつ、半導
体素子2を拘束するに十分な厚さを有するサポー
タ4を設け、接着層5により固着させている。
これにより、装置が熱サイクルを受けた場合
に、基板1とサポータ4とが同じように伸縮し、
第2図bに示すように半導体素子2もサポータ4
に拘束されてほぼ同じように伸縮するため、バン
プ3の変位を従来に比して小さくすることができ
る。従つて、本実施例の如くサポータを有する場
合には、従来の如くサポータのない場合のような
低サイクルでのバンプ破壊を防止することがで
き、フエースダウンボンデイング方式の実装の最
大の欠陥を軽減し、温度サイクルによる装置の寿
命を伸ばすことができる。
に、基板1とサポータ4とが同じように伸縮し、
第2図bに示すように半導体素子2もサポータ4
に拘束されてほぼ同じように伸縮するため、バン
プ3の変位を従来に比して小さくすることができ
る。従つて、本実施例の如くサポータを有する場
合には、従来の如くサポータのない場合のような
低サイクルでのバンプ破壊を防止することがで
き、フエースダウンボンデイング方式の実装の最
大の欠陥を軽減し、温度サイクルによる装置の寿
命を伸ばすことができる。
なお、上記サポータ4は単に板状のものでもよ
いが、放熱特性向上のための手段や、さらに外部
への電極取り出し等のためのスルーホールを設け
ることも可能である。
いが、放熱特性向上のための手段や、さらに外部
への電極取り出し等のためのスルーホールを設け
ることも可能である。
また、図示はしていないが、本発明は、基板1
へ半導体素子2を多数搭載するいわゆるモジユー
ルの場合にも適用できるし、その場合には、サポ
ータ4は多数の半導体素子2に共通的な構造にも
できるのは言うまでもない。
へ半導体素子2を多数搭載するいわゆるモジユー
ルの場合にも適用できるし、その場合には、サポ
ータ4は多数の半導体素子2に共通的な構造にも
できるのは言うまでもない。
以上のようにこの発明に係る半導体装置によれ
ば、半導体素子の凸起電極を有する面と反対の面
に基板と同一材質からなるサポータを設けたの
で、半導体素子と基板が同じように伸縮し、最も
弱い凸起電極部への熱応力の緩和が可能であり、
大きな半導体素子においてもフエースダウンボン
デイング方式の適用を可能になし得る効果があ
る。
ば、半導体素子の凸起電極を有する面と反対の面
に基板と同一材質からなるサポータを設けたの
で、半導体素子と基板が同じように伸縮し、最も
弱い凸起電極部への熱応力の緩和が可能であり、
大きな半導体素子においてもフエースダウンボン
デイング方式の適用を可能になし得る効果があ
る。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図で、第
2図は温度サイクルによるバンプの変位を示す摸
式図である。 1は基板、2は半導体素子、3は凸起電極、4
はサポータである。なお図中同一符号は同一又は
相当部分を示す。
2図は温度サイクルによるバンプの変位を示す摸
式図である。 1は基板、2は半導体素子、3は凸起電極、4
はサポータである。なお図中同一符号は同一又は
相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一面に凸起電極を有する半導体素子と、該凸
起電極により該半導体素子と接続される基板とを
有する半導体装置において、 上記半導体素子の上記凸起電極を有する面と反
対の面に上記基板と同一材質からなるサポータを
設けたことを特徴とする半導体装置。 2 上記基板はセラミツクからなるものであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導
体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56152632A JPS5853838A (ja) | 1981-09-26 | 1981-09-26 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56152632A JPS5853838A (ja) | 1981-09-26 | 1981-09-26 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5853838A JPS5853838A (ja) | 1983-03-30 |
JPS6360533B2 true JPS6360533B2 (ja) | 1988-11-24 |
Family
ID=15544626
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56152632A Granted JPS5853838A (ja) | 1981-09-26 | 1981-09-26 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5853838A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04122460U (ja) * | 1991-04-15 | 1992-11-04 | 三菱自動車工業株式会社 | 工作物固定装置 |
JP2002270634A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-09-20 | Rohm Co Ltd | 半導体装置 |
JP2007318182A (ja) * | 2007-09-03 | 2007-12-06 | Rohm Co Ltd | 半導体装置 |
JP2011044755A (ja) * | 2010-12-03 | 2011-03-03 | Rohm Co Ltd | 半導体装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS48101085A (ja) * | 1972-03-31 | 1973-12-20 |
-
1981
- 1981-09-26 JP JP56152632A patent/JPS5853838A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS48101085A (ja) * | 1972-03-31 | 1973-12-20 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5853838A (ja) | 1983-03-30 |
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