JPS633470A - 光電変換装置の作成方法 - Google Patents
光電変換装置の作成方法Info
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、絶縁表面を有する基板に、光照射により光起
電力を発生し得る接合を少なくとも1つ有するアモルフ
ァス半導体を含む非単結晶半導体からなる光電変換素子
(単に素子ともいう)をレーザスクライブ法を用いて複
数個電気的に直列接続した、高い電圧の発生を可能とす
る光電変換装置の作成方法に関する。
電力を発生し得る接合を少なくとも1つ有するアモルフ
ァス半導体を含む非単結晶半導体からなる光電変換素子
(単に素子ともいう)をレーザスクライブ法を用いて複
数個電気的に直列接続した、高い電圧の発生を可能とす
る光電変換装置の作成方法に関する。
光電変換装置を集積化させる技術の1つとしてのマスク
方式はレジスト塗布、露光、現像、エノチングなどの多
くの工程を必要としている。しかし、−方、レーザスク
ライプ加工による光電変換装置の集積化はレーザによる
直接加工を行うためにマスクを必要としないマスクレス
プロセスが可能でありしかも、レーザスクライプにより
形成された清福は30〜150μmであるため、電極接
合部分の面積が小さくて済むことによる有効面積の増大
が見込める等の利点を有している。
方式はレジスト塗布、露光、現像、エノチングなどの多
くの工程を必要としている。しかし、−方、レーザスク
ライプ加工による光電変換装置の集積化はレーザによる
直接加工を行うためにマスクを必要としないマスクレス
プロセスが可能でありしかも、レーザスクライプにより
形成された清福は30〜150μmであるため、電極接
合部分の面積が小さくて済むことによる有効面積の増大
が見込める等の利点を有している。
このようなレーザスクライプ加工による集積化技術の中
でも、特に光電変換素子の上部に形成された第2の電極
を分離させることにより光電変換素子を複数個電気的に
接続させる点が困難な点となっている。即ち上記第2の
電極のみを選択加工する場合、下部の光電変換素子に損
傷を与えないような深さ方向に対する厳密なコントロー
ルが必要になるからである。
でも、特に光電変換素子の上部に形成された第2の電極
を分離させることにより光電変換素子を複数個電気的に
接続させる点が困難な点となっている。即ち上記第2の
電極のみを選択加工する場合、下部の光電変換素子に損
傷を与えないような深さ方向に対する厳密なコントロー
ルが必要になるからである。
従来、上記光電変換装置の金属電極材料には、ITO(
酸化インジュームと酸化スズとの混合@3)+At、I
TO+Ag+AI及びITO+Crが用いられていた。
酸化インジュームと酸化スズとの混合@3)+At、I
TO+Ag+AI及びITO+Crが用いられていた。
しかしながら、ITO+AIおよびITO+Ag+AI
の金属材料を用いた金属電極をレーザスクライプ加工法
により作成する場合、上記の金属材料が、下層の光電変
換素子と反応してしまい、溶融状態を作ってしまったり
、また、光電変換素子にレーザ光が照射されてしまった
場合には、照射された部分が結晶化することにより結晶
化した部分の電気伝導度がよくなるためにリーク電流が
発生してしまい、光電変換装置の特性を悪化させてしま
っていた。またITO+Crの金属材料を用いた場合に
は下層の光電変換素子との反応もな(、金属電極部分の
みの加工をすることができるのであるが、ITO+Cr
の金属材料を再現性よく得ることができないため、−定
した金属電極を得ることができない等の問題があった。
の金属材料を用いた金属電極をレーザスクライプ加工法
により作成する場合、上記の金属材料が、下層の光電変
換素子と反応してしまい、溶融状態を作ってしまったり
、また、光電変換素子にレーザ光が照射されてしまった
場合には、照射された部分が結晶化することにより結晶
化した部分の電気伝導度がよくなるためにリーク電流が
発生してしまい、光電変換装置の特性を悪化させてしま
っていた。またITO+Crの金属材料を用いた場合に
は下層の光電変換素子との反応もな(、金属電極部分の
みの加工をすることができるのであるが、ITO+Cr
の金属材料を再現性よく得ることができないため、−定
した金属電極を得ることができない等の問題があった。
以上のような問題点を解決すべく、鋭意検討した結果、
ZnO+Alを金属材料として金属電極を形成させた場
合、金属電極のみを選択加工することができることを知
見するに至った。
ZnO+Alを金属材料として金属電極を形成させた場
合、金属電極のみを選択加工することができることを知
見するに至った。
本発明は上記の知見に基づいて成されたものであり、レ
ーザスクライプ(以下LSという)加工において最上層
の金属電極のみを選択加工し、下層の光電変換素子に損
傷を与えないように金属電極を形成させることにより、
光電変換装置の集積化を目的としてなされたものであり
、絶縁表面を有する基板上に透光性導電膜の第1の電極
と、該電極上の光照射により光起電力を発生させる非単
結晶半導体層と、該非単結晶半導体層上に、形成された
酸化亜鉛導電膜または酸化亜鉛を主成分とする導電膜及
び該導電膜上の金属膜からなる第2の電極を有する光電
変換素子を複数個互いに電気的に直列接続せしめた光電
変換装置の作成方法において、1J/cm”以上5J/
cm”以下のパワー密度を有するレーザビームを1回照
射して、前記第2の電極を複数個に分離することにより
複数個の発電区域を形成することを特徴とする光電変換
装置の作成方法を提供することにより、上記の目的を達
成したものである。
ーザスクライプ(以下LSという)加工において最上層
の金属電極のみを選択加工し、下層の光電変換素子に損
傷を与えないように金属電極を形成させることにより、
光電変換装置の集積化を目的としてなされたものであり
、絶縁表面を有する基板上に透光性導電膜の第1の電極
と、該電極上の光照射により光起電力を発生させる非単
結晶半導体層と、該非単結晶半導体層上に、形成された
酸化亜鉛導電膜または酸化亜鉛を主成分とする導電膜及
び該導電膜上の金属膜からなる第2の電極を有する光電
変換素子を複数個互いに電気的に直列接続せしめた光電
変換装置の作成方法において、1J/cm”以上5J/
cm”以下のパワー密度を有するレーザビームを1回照
射して、前記第2の電極を複数個に分離することにより
複数個の発電区域を形成することを特徴とする光電変換
装置の作成方法を提供することにより、上記の目的を達
成したものである。
本発明に用いられる金属膜としては、AI、Cr、Ni
+MoおよびAg+AI膜が挙げられ、特にA1膜が好
ましい。
+MoおよびAg+AI膜が挙げられ、特にA1膜が好
ましい。
本発明に用いられるレーザ光には、エキシマレーザ(パ
ルス巾2On秒、KrF レーザ、波長248nm)を
用い、ビームを被加工物に照射する場合にはビームエキ
スパンダにより所望のビーム形状に調整した。
ルス巾2On秒、KrF レーザ、波長248nm)を
用い、ビームを被加工物に照射する場合にはビームエキ
スパンダにより所望のビーム形状に調整した。
パワー密度の調整はビームサイズを変えること及びフユ
ーズドシリカ板(透過率83%)をフィルターとして用
いることにより行い、1〜5 J/cm”のパワー密度
で被加工物に照射した。パワー密度がI J/c+w”
未満であると、金属膜および酸化亜鉛膜を取り除かせる
に十分なエネルギを与えることができないために部分的
に金属膜等が残っているような状態であったり、またま
った(加工できない等のため電極間を分離することがで
きない。またパワー密度が5 J/cm”を越えるよう
ビームサイズを調整した場合には、波面収差の影響によ
り得られたビームは長方形状のビニムの回りに像のぼけ
た部分が生じているため、エネルギを集中させることが
できない。このために、電極間を分離させることができ
ない。
ーズドシリカ板(透過率83%)をフィルターとして用
いることにより行い、1〜5 J/cm”のパワー密度
で被加工物に照射した。パワー密度がI J/c+w”
未満であると、金属膜および酸化亜鉛膜を取り除かせる
に十分なエネルギを与えることができないために部分的
に金属膜等が残っているような状態であったり、またま
った(加工できない等のため電極間を分離することがで
きない。またパワー密度が5 J/cm”を越えるよう
ビームサイズを調整した場合には、波面収差の影響によ
り得られたビームは長方形状のビニムの回りに像のぼけ
た部分が生じているため、エネルギを集中させることが
できない。このために、電極間を分離させることができ
ない。
本発明の光電変換装置の作成方法を図面に従って詳述す
る。
る。
第1図は本発明の方法を用いた光電変換装置の製造工程
を示す縦断面図である。
を示す縦断面図である。
透光性基板(1)の上面に透光性導電膜(2)を真空蒸
着法、スパッタ法、プラズマCVD法またはスプレー法
により凹凸表面を有して形成させた。その後、この透光
性導電膜に平均出力10〜200mWのYAGレーザ(
530nm)を用いて第1の開溝(17)を形成させた
。この第1の開溝は、本発明の実施に用いられるエキシ
マレーザを使用してもよい。
着法、スパッタ法、プラズマCVD法またはスプレー法
により凹凸表面を有して形成させた。その後、この透光
性導電膜に平均出力10〜200mWのYAGレーザ(
530nm)を用いて第1の開溝(17)を形成させた
。この第1の開溝は、本発明の実施に用いられるエキシ
マレーザを使用してもよい。
か(して第1の電極を構成するCTF (2)を切断し
て、それぞれの領域(14) 、 (17)を電気的に
分離絶縁して、第1の開溝を形成させた。
て、それぞれの領域(14) 、 (17)を電気的に
分離絶縁して、第1の開溝を形成させた。
この後、この上面にプラズマCVD法又はLPCVD法
によりPNまたはPIN接合を有する珪素を主成分とす
る非単結晶半導体層(3)を0.2〜1.0μm、代表
的には0.7μmの厚さに形成させた。
によりPNまたはPIN接合を有する珪素を主成分とす
る非単結晶半導体層(3)を0.2〜1.0μm、代表
的には0.7μmの厚さに形成させた。
その代表例はP型非晶質半導体(SixC1−、x=0
.8.平均厚さ約50〜150人)−1型非晶質又は半
非晶質構造のシリコン半導体(0,5〜0.9μm)
−N型の1μm以下の厚さを有する微結晶半導体よりな
る一つのPIN接合を有する非単結晶半導体、又はP型
非単結晶半導体(SixCt−x) I型非晶質ま
たは非晶質珪素半導体(Eg =1.7〜1.8 eV
) −N型Si微結晶化半導体よりなる2つのPIN接
合とひとつのPN接合を有するタンデム型のPINPI
N・・・PIN接合の半導体(3)である。
.8.平均厚さ約50〜150人)−1型非晶質又は半
非晶質構造のシリコン半導体(0,5〜0.9μm)
−N型の1μm以下の厚さを有する微結晶半導体よりな
る一つのPIN接合を有する非単結晶半導体、又はP型
非単結晶半導体(SixCt−x) I型非晶質ま
たは非晶質珪素半導体(Eg =1.7〜1.8 eV
) −N型Si微結晶化半導体よりなる2つのPIN接
合とひとつのPN接合を有するタンデム型のPINPI
N・・・PIN接合の半導体(3)である。
かかる非単結晶半導体(3)を全面に均一の膜厚で形成
させた。さらに第1図(B)に示される如く第1の開溝
(17)の左方向側に第2の開溝(18)を本発明に使
用されるエキシマレーザを使用してしS工程により形成
させた。
させた。さらに第1図(B)に示される如く第1の開溝
(17)の左方向側に第2の開溝(18)を本発明に使
用されるエキシマレーザを使用してしS工程により形成
させた。
その後、前記半導体層(3)の上面に第1図(C)に示
されるように、第2の電極用の金属膜(4)を以下に述
べる如くにして設けた。この金属膜(4)はまず前記半
導体(3)上面にZnO膜を300〜3000Å好まし
くは100〜1500人形成させ、更にZnO膜上面に
金属を540〜3800人好ましくは2500〜300
0人形成させることにより設けた。
されるように、第2の電極用の金属膜(4)を以下に述
べる如くにして設けた。この金属膜(4)はまず前記半
導体(3)上面にZnO膜を300〜3000Å好まし
くは100〜1500人形成させ、更にZnO膜上面に
金属を540〜3800人好ましくは2500〜300
0人形成させることにより設けた。
上記の如くにして設けられた第2の電極用の導電膜(4
)を第1図(C)に示される如く形成した。
)を第1図(C)に示される如く形成した。
か(して複数の素子(11) 、 (13)を連結部(
12)で直列接続する光電変換装置を作ることができた
。
12)で直列接続する光電変換装置を作ることができた
。
第1図(D)はさらに本発明を光電変換装置として完成
させんとしたものである。即ち、パッシベイション膜と
して外部接続領域(5)を除き、ポリイミド、ポリアミ
ド、カプトンまたはエポキシ等の有機樹脂(22)を2
0〜30μmの厚さにコートして耐湿防止をした。
させんとしたものである。即ち、パッシベイション膜と
して外部接続領域(5)を除き、ポリイミド、ポリアミ
ド、カプトンまたはエポキシ等の有機樹脂(22)を2
0〜30μmの厚さにコートして耐湿防止をした。
又、本発明の光電変換装置の作成方法は、第2の開溝を
形成させる際、透光性導電膜にまで第2の開講を形成さ
せることによっても実施できる。
形成させる際、透光性導電膜にまで第2の開講を形成さ
せることによっても実施できる。
即ち第2図(23)に示すように、第2の開講を形成さ
せても本発明を実施することができる。
せても本発明を実施することができる。
実施例1
10cm X 10cmの硝子基板上に、全面にわたっ
てハロゲン元素が添加された酸化スズを主成分とする透
光性導電膜を1000人の厚さでプラズマCVD法によ
り形成した後、この透光性導電膜にYAGレーザ(53
0nm)を使用して出力80mWを加え、マイクロコン
ピュータによりスポット径を20μmφに制御して被膜
側よりレーザ光を照射し、走査速度40cm/分により
幅約20μmの第1の開溝を形成させた。
てハロゲン元素が添加された酸化スズを主成分とする透
光性導電膜を1000人の厚さでプラズマCVD法によ
り形成した後、この透光性導電膜にYAGレーザ(53
0nm)を使用して出力80mWを加え、マイクロコン
ピュータによりスポット径を20μmφに制御して被膜
側よりレーザ光を照射し、走査速度40cm/分により
幅約20μmの第1の開溝を形成させた。
この後、この透光性導電膜上にプラズマCVD法により
P型非晶質半導体1ii (SixC1−x x =
0.8100人)、I型非晶質半導体層(シリコン半導
体、0.6μl11)及びN型微結晶半導体層(Six
C,−x X =0.9100人)を形成させた。こ
の形成されたPIN半導体にエキシマレーザ(KrFレ
ーザ、波長248nm)を使用して、従来行われている
方法によりPIN半導体層のみに第2の開講を形成させ
た。さらに上記半導体層上に酸化亜鉛膜1200人およ
びアルミニューム膜2500人からなる金属電極を形成
させた。かかる金属電極にエキシマレーザをビームサイ
ズ130μm X 102m+m 、パワー密度2.Q
J/cm”にて−回照射することで金属電極のみを除去
し、第3の間溝を形成させた。形成された第3の開溝は
その下層の半導体層を損傷することはなかった。その結
果、複数の直列接続を有する光電変換装置を作ることが
できた。
P型非晶質半導体1ii (SixC1−x x =
0.8100人)、I型非晶質半導体層(シリコン半導
体、0.6μl11)及びN型微結晶半導体層(Six
C,−x X =0.9100人)を形成させた。こ
の形成されたPIN半導体にエキシマレーザ(KrFレ
ーザ、波長248nm)を使用して、従来行われている
方法によりPIN半導体層のみに第2の開講を形成させ
た。さらに上記半導体層上に酸化亜鉛膜1200人およ
びアルミニューム膜2500人からなる金属電極を形成
させた。かかる金属電極にエキシマレーザをビームサイ
ズ130μm X 102m+m 、パワー密度2.Q
J/cm”にて−回照射することで金属電極のみを除去
し、第3の間溝を形成させた。形成された第3の開溝は
その下層の半導体層を損傷することはなかった。その結
果、複数の直列接続を有する光電変換装置を作ることが
できた。
実施例2
実施例1と同様に、透光性導電膜を形成させた後、第1
の開溝を形成させ、さらにPIN半導体を形成させた。
の開溝を形成させ、さらにPIN半導体を形成させた。
このPIN半導体およびその下部の透光性導電膜へ実施
例1と同様のエキシマレーザを照射し、第2の開溝を形
成させた。そして上記半導体の上部に実施例1と同様に
金属電極を形成させた後、この金属電極にビームサイズ
105μm×40mm、パワー密度2.3J/cm”の
エキシマレーザを一回照射し、第3の開溝を形成させた
。形成された第3の開溝は、その下層の半導体層を損傷
することはなかった。その結果、複数の直列接続を有す
る光電変換装置を作ることができた。
例1と同様のエキシマレーザを照射し、第2の開溝を形
成させた。そして上記半導体の上部に実施例1と同様に
金属電極を形成させた後、この金属電極にビームサイズ
105μm×40mm、パワー密度2.3J/cm”の
エキシマレーザを一回照射し、第3の開溝を形成させた
。形成された第3の開溝は、その下層の半導体層を損傷
することはなかった。その結果、複数の直列接続を有す
る光電変換装置を作ることができた。
実施例3
実施例1において、エキシマレーザを用いて従来行われ
ている方法により第1及び第2の開溝を形成させ、さら
にその上部に酸化亜鉛1200人、アルミニューム膜3
000人からなる金属電極を形成させた。かかる金属電
極にビームサイズ105μmx40IIII、パワー密
度1.4J/cm”のエキシマレーザを一回照射し、第
3の開溝を形成させた。形成された第3の開講は、その
下層の半導体を損傷することはなかった。その結果、複
数の直列接続を有する光電変換装置を作ることができた
。
ている方法により第1及び第2の開溝を形成させ、さら
にその上部に酸化亜鉛1200人、アルミニューム膜3
000人からなる金属電極を形成させた。かかる金属電
極にビームサイズ105μmx40IIII、パワー密
度1.4J/cm”のエキシマレーザを一回照射し、第
3の開溝を形成させた。形成された第3の開講は、その
下層の半導体を損傷することはなかった。その結果、複
数の直列接続を有する光電変換装置を作ることができた
。
実施例4
実施例2において、エキシマレーザを用いて従来行われ
ている方法により第1および第2の開溝を形成させ、さ
らにその上部に酸化亜鉛1200人、アルミニューム膜
3000人からなる金属電極を形成させた。かかる金属
電極にビームサイズ50μm×371、パワー密度4.
3J/c+a”のエキシマレーザを一回照射し、第3の
開溝を形成させた。形成された第3の開溝は、その下層
の半導体を損傷することはなかった。その結果、複数の
直列接続を有する光電変換装置を作ることができた。
ている方法により第1および第2の開溝を形成させ、さ
らにその上部に酸化亜鉛1200人、アルミニューム膜
3000人からなる金属電極を形成させた。かかる金属
電極にビームサイズ50μm×371、パワー密度4.
3J/c+a”のエキシマレーザを一回照射し、第3の
開溝を形成させた。形成された第3の開溝は、その下層
の半導体を損傷することはなかった。その結果、複数の
直列接続を有する光電変換装置を作ることができた。
比較例1
実施例3において照射ビームサイズ100μm×120
mn+ 、パワー密度0.8J/c+m”のエキシマレ
ーザを使用する以外は実施例3と同様に行った。その結
果、アルミニューム膜を取り除くことはできなかった。
mn+ 、パワー密度0.8J/c+m”のエキシマレ
ーザを使用する以外は実施例3と同様に行った。その結
果、アルミニューム膜を取り除くことはできなかった。
比較例2
実施例4において照射ビームサイズ50μm×37mm
、パワー密度5.4J/cm”のエキシマレーザを使
用する以外は実施例4と同様に行った。その結果、下層
の半導体層を損傷してしまっていた。
、パワー密度5.4J/cm”のエキシマレーザを使
用する以外は実施例4と同様に行った。その結果、下層
の半導体層を損傷してしまっていた。
実験例1
10cm X 10cmのガラス基板上に、全面にわた
ってハロゲン元素が添加された酸化スズを主成分とする
透光性導電膜を1000人の厚さでプラズマCVD法で
形成させた後、さらにこの透光性導電膜上に実施例1と
同様にPIN型非単結晶半導体および酸化亜鉛膜120
0人、アルミニューム膜2500人からなる金属電極を
形成させた。この金属電極にエキシマレーザをビームサ
イズ50μmX37m+n、パワー密度5J/am”に
て−回照射することで金属電極のみを除去することがで
きた。
ってハロゲン元素が添加された酸化スズを主成分とする
透光性導電膜を1000人の厚さでプラズマCVD法で
形成させた後、さらにこの透光性導電膜上に実施例1と
同様にPIN型非単結晶半導体および酸化亜鉛膜120
0人、アルミニューム膜2500人からなる金属電極を
形成させた。この金属電極にエキシマレーザをビームサ
イズ50μmX37m+n、パワー密度5J/am”に
て−回照射することで金属電極のみを除去することがで
きた。
実験例2
酸化亜鉛膜形成までを実験例1と同様の方法で実施し、
さらに酸化亜鉛膜上にアルミニューム膜1800人を形
成させ、金属電極とした。この後、金属電極にエキシマ
レーザをビームサイズ100μmX 120mm 、パ
ワー密度1J/cII+2にて一回照射することで金属
電極のみを除去することができた。
さらに酸化亜鉛膜上にアルミニューム膜1800人を形
成させ、金属電極とした。この後、金属電極にエキシマ
レーザをビームサイズ100μmX 120mm 、パ
ワー密度1J/cII+2にて一回照射することで金属
電極のみを除去することができた。
実施例1〜4および比較例1.2で得られた光電変換装
置のAMI (100mW/cn+”)での特性を表1
に示す。
置のAMI (100mW/cn+”)での特性を表1
に示す。
光電変換装置の素子面積は69.02cm2であり、1
5段を直列に接続させである。
5段を直列に接続させである。
表1から明らかなように、本発明による光電変換装面は
優れた特性を示していた。
優れた特性を示していた。
本発明の光電変換半導体装置の作成方法によれば、レー
ザスクライプ加工において最上層の金属電極のみを金属
電極の下層の非単結晶半導体を損傷させることなく選択
加工することができ、かつレーザ光を一回照射すること
により、電極に開溝を形成させることができるため、効
率良く複数個の光電変換素子を直列接続させることがで
きるのである。
ザスクライプ加工において最上層の金属電極のみを金属
電極の下層の非単結晶半導体を損傷させることなく選択
加工することができ、かつレーザ光を一回照射すること
により、電極に開溝を形成させることができるため、効
率良く複数個の光電変換素子を直列接続させることがで
きるのである。
本発明は、光電変換半導体装置のみに限定されることな
(、その他の非単結晶半導体を用いて、IGFETを用
い液晶画像表示装置と更に光センサ、圧力センサ等に対
して用いてもまったく同様に有効である。
(、その他の非単結晶半導体を用いて、IGFETを用
い液晶画像表示装置と更に光センサ、圧力センサ等に対
して用いてもまったく同様に有効である。
第1図は本発明方法を用いた光電変換装置の製造工程を
示す縦断面図である。 第2図は本発明方法を用いた光電変換装置の製造工程の
1つを示す縦断面図である。 1・・・基板 2・・・透光性基板 3・・・非単結晶半導体層 4・・・裏面導電膜
示す縦断面図である。 第2図は本発明方法を用いた光電変換装置の製造工程の
1つを示す縦断面図である。 1・・・基板 2・・・透光性基板 3・・・非単結晶半導体層 4・・・裏面導電膜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、絶縁表面を有する基板上に透光性導電膜の第1の電
極と、該電極上の光照射により光起電力を発生させる非
単結晶半導体層と、該非単結晶半導体層上に、形成され
た酸化亜鉛導電膜または酸化亜鉛を主成分とする導電膜
及び該導電膜上の金属膜からなる第2の電極を有する光
電変換素子を複数個互いに電気的に直列接続せしめた光
電変換装置の作成方法において、1J/cm^2以上5
J/cm^2以下のパワー密度を有するレーザビームを
1回照射することにより、前記第2の電極を複数個に分
離することにより複数個の発電区域を形成することを特
徴とする光電変換装置の作成方法。 2、特許請求の範囲第1項において、金属膜がアルミニ
ューム膜であることを特徴とする光電変換装置の作成方
法。 3、特許請求の範囲第1項において、1J/cm^2以
上5J/cm^2以下のパワー密度を有するレーザビー
ムは長方形を有していることを特徴とする光電変換装置
の作成方法。 4、特許請求の範囲第1項において、レーザが波長19
3nm、248nm、308nmおよび351nmのエ
キシマレーザであることを特徴とする光電変換装置の作
成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61148375A JPS633470A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 光電変換装置の作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61148375A JPS633470A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 光電変換装置の作成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS633470A true JPS633470A (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=15451354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61148375A Pending JPS633470A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | 光電変換装置の作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS633470A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5956572A (en) * | 1996-08-26 | 1999-09-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method of fabricating integrated thin film solar cells |
JP2000208794A (ja) * | 1999-01-19 | 2000-07-28 | Fuji Electric Co Ltd | 薄膜太陽電池等のパタ―ン状薄膜層のレ―ザパタ―ニング方法および装置 |
US6168968B1 (en) | 1997-02-27 | 2001-01-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method of fabricating integrated thin film solar cells |
-
1986
- 1986-06-23 JP JP61148375A patent/JPS633470A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5956572A (en) * | 1996-08-26 | 1999-09-21 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method of fabricating integrated thin film solar cells |
US6168968B1 (en) | 1997-02-27 | 2001-01-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method of fabricating integrated thin film solar cells |
JP2000208794A (ja) * | 1999-01-19 | 2000-07-28 | Fuji Electric Co Ltd | 薄膜太陽電池等のパタ―ン状薄膜層のレ―ザパタ―ニング方法および装置 |
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