JPS6332316A - 精密水準測量器 - Google Patents
精密水準測量器Info
- Publication number
- JPS6332316A JPS6332316A JP17546686A JP17546686A JPS6332316A JP S6332316 A JPS6332316 A JP S6332316A JP 17546686 A JP17546686 A JP 17546686A JP 17546686 A JP17546686 A JP 17546686A JP S6332316 A JPS6332316 A JP S6332316A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- telescope
- measured
- image
- image plane
- objective lens
- Prior art date
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- Granted
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- Amplifiers (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野）
本発明は、望遠鏡と、この望遠鏡の対物レンズの前側節
点においてその前側主面と共に配置されている第１の像
面と、望遠鏡の光路の外側に設けられていて且つ測定値
の表示並びに評価のための測定手段が含まれた第２の像
面を有する、後続配置された結像系と、及び上記望遠鏡
対物レンズの前方の測定点に配置された標尺とを備えた
精密水準測量器に関する。本発明は中ても高度測定のた
めの水準測量器に使用することができる。
点においてその前側主面と共に配置されている第１の像
面と、望遠鏡の光路の外側に設けられていて且つ測定値
の表示並びに評価のための測定手段が含まれた第２の像
面を有する、後続配置された結像系と、及び上記望遠鏡
対物レンズの前方の測定点に配置された標尺とを備えた
精密水準測量器に関する。本発明は中ても高度測定のた
めの水準測量器に使用することができる。
望遠鏡の規準線が傾斜補償器または特別な補償手段によ
って自動的に鉛直方向に対して安定化されるコンペンセ
ータ水準測量器のような種々の測量器が知られている。
って自動的に鉛直方向に対して安定化されるコンペンセ
ータ水準測量器のような種々の測量器が知られている。
それらにおける測定誤差はその規準軸を水平向きにする
ための回転軸が支持軸の近傍に配置されているけれとも
、対物レンズの前方側節点はそうではないこと、その読
取り指標を傾斜補償器を介して結像させる際にスタンド
（Ｓｔａ’ｔ、ｉｖ） の震動がマイクロメーターの
読取り菩困難にすること、あるいはまた目標像が震動に
際して揺れ動いたり振動したりして標尺の読取りが困難
になること、などによって測定誤差か生じ得る。東ドイ
ツ特許第４５２８１ 号公報から、直径上に向かいあ
った二つの望遠鏡位置において測定するための測定用ま
たは規準用望遠鏡が、そして東ドイツ特許第１０２８２
０号公報からは折り曲げられた光学軸を有する規準用望
遠鏡か公知であり、この場合に対物レンズの物体側の節
点が物体側の頂点に、そして規準マークか物体側の節点
に配置されている。東ドイツ特許第２１２０９７号公報
には、高さ位置の値の読取りのための多数の表示手段か
含まれている高度測定用の装置が、そして経済特許第Ｇ
ＯＩＧ ２７０１６０７号公報にはマイクロメーターの
表示を自動的に記録することによって観測者の負担が軽
減され、そしてマイクロコンピュータ−とデータメモリ
ーを使用して規準過程を合理化することにより測定デー
タ検出過程が自動化されるような装置かそれぞれ記述さ
れている。
ための回転軸が支持軸の近傍に配置されているけれとも
、対物レンズの前方側節点はそうではないこと、その読
取り指標を傾斜補償器を介して結像させる際にスタンド
（Ｓｔａ’ｔ、ｉｖ） の震動がマイクロメーターの
読取り菩困難にすること、あるいはまた目標像が震動に
際して揺れ動いたり振動したりして標尺の読取りが困難
になること、などによって測定誤差か生じ得る。東ドイ
ツ特許第４５２８１ 号公報から、直径上に向かいあ
った二つの望遠鏡位置において測定するための測定用ま
たは規準用望遠鏡が、そして東ドイツ特許第１０２８２
０号公報からは折り曲げられた光学軸を有する規準用望
遠鏡か公知であり、この場合に対物レンズの物体側の節
点が物体側の頂点に、そして規準マークか物体側の節点
に配置されている。東ドイツ特許第２１２０９７号公報
には、高さ位置の値の読取りのための多数の表示手段か
含まれている高度測定用の装置が、そして経済特許第Ｇ
ＯＩＧ ２７０１６０７号公報にはマイクロメーターの
表示を自動的に記録することによって観測者の負担が軽
減され、そしてマイクロコンピュータ−とデータメモリ
ーを使用して規準過程を合理化することにより測定デー
タ検出過程が自動化されるような装置かそれぞれ記述さ
れている。
本発明は標尺目盛の測定において疲労により生ずる高さ
測定誤差を取除いて測定過程の最適化を達成しようとす
るものである。
測定誤差を取除いて測定過程の最適化を達成しようとす
るものである。
即ち本発明は、測定点に設けられた標尺を、その測定過
程のためにマイクロメーターを使用することなく、疑似
絶対的（ｑｕａｓｉ−ａｂｓｏｌｕｔｅ ）水平線の原
理（望遠鏡の二つの位置における測定及び対物レンズの
前方側節点における像面）を維持しなからマイクロメー
ター精度てオプト電子工学的に読取るように水準測量器
を構成することを課題とする。
程のためにマイクロメーターを使用することなく、疑似
絶対的（ｑｕａｓｉ−ａｂｓｏｌｕｔｅ ）水平線の原
理（望遠鏡の二つの位置における測定及び対物レンズの
前方側節点における像面）を維持しなからマイクロメー
ター精度てオプト電子工学的に読取るように水準測量器
を構成することを課題とする。
本発明に従えばこの課題は、第１の像面内に少なくとも
二つ以上の補助刻線が固定配置されており、それらの位
置を測定手段によって測定対象物の像の位置とともに測
定してその測定対象物に対する基準点として用いること
によって解決される。有利には上記測定手段がＣＣＤ
列であってこれか互いに独立な少なくとも二つ以上の
電気的領域を有し、それらのうち一方の領域は上記補助
刻線に、そしてもう一方の領域か測定対象物の像に従属
するようにするのが良い。
二つ以上の補助刻線が固定配置されており、それらの位
置を測定手段によって測定対象物の像の位置とともに測
定してその測定対象物に対する基準点として用いること
によって解決される。有利には上記測定手段がＣＣＤ
列であってこれか互いに独立な少なくとも二つ以上の
電気的領域を有し、それらのうち一方の領域は上記補助
刻線に、そしてもう一方の領域か測定対象物の像に従属
するようにするのが良い。
以下本発明を添付図に図式的に表わした実施例によって
更に詳細に説明する。
更に詳細に説明する。
第１図に本発明に従うコンベンセータ水準測量器の一実
施例の、測定望遠鏡または規準望遠鏡並びに各主要部材
を含む断面図が示されており、これは望遠鏡対物レンズ
１の前方の測定点に設けられている測定用標尺５の測定
対象の像を前側焦点距離の半分のところに設けた振り子
ミラー２を介して、望遠鏡対物レンズ１の前側節点にお
いて面側主面とともに存在する第１の像面３内に結像さ
せるための上記対物レンズ１を備えている。図示してい
ない他の結像用光学部材はこの装置の規準線の安定性に
対してなんらの影うを有しない。この場合に対物レンズ
１は固定配置されている。上記第１像面３内に設けられ
ている二本の補助刻線４（例えば目盛盤の刻線図形）と
−緒に、水準測量用標尺５の目盛が中間結像系６を介し
て望遠鏡光路の外側に設けられている第２の像面の上に
結像されるが、この像面にはオプト電子工学的受光手段
、即ちＣＣＤ 列７が設けられていて上記目盛像が測
定される。この場合に刻線図形４は水準測量用標尺５の
コード化された目盛像の評価のための基準点として用い
られ、そして対物レンズ１の上に固定して設けられてい
る。それ以後のそれぞれの測定値の評価と記録とは公知
の、例えばマイクロコンピュータ−及びメモリーのよう
な種々の手段によって行われる。
施例の、測定望遠鏡または規準望遠鏡並びに各主要部材
を含む断面図が示されており、これは望遠鏡対物レンズ
１の前方の測定点に設けられている測定用標尺５の測定
対象の像を前側焦点距離の半分のところに設けた振り子
ミラー２を介して、望遠鏡対物レンズ１の前側節点にお
いて面側主面とともに存在する第１の像面３内に結像さ
せるための上記対物レンズ１を備えている。図示してい
ない他の結像用光学部材はこの装置の規準線の安定性に
対してなんらの影うを有しない。この場合に対物レンズ
１は固定配置されている。上記第１像面３内に設けられ
ている二本の補助刻線４（例えば目盛盤の刻線図形）と
−緒に、水準測量用標尺５の目盛が中間結像系６を介し
て望遠鏡光路の外側に設けられている第２の像面の上に
結像されるが、この像面にはオプト電子工学的受光手段
、即ちＣＣＤ 列７が設けられていて上記目盛像が測
定される。この場合に刻線図形４は水準測量用標尺５の
コード化された目盛像の評価のための基準点として用い
られ、そして対物レンズ１の上に固定して設けられてい
る。それ以後のそれぞれの測定値の評価と記録とは公知
の、例えばマイクロコンピュータ−及びメモリーのよう
な種々の手段によって行われる。
本発明によれば標尺の目盛を読取ることにより生ずる高
さ測定誤差を疑似絶対的水平線の原理を維持しなからオ
プト電子工学的な測定値の検出によって除くことを可能
とする。得られた測定値はコンピューターに支援された
吟味の後に記憶され且つ更に処理される。
さ測定誤差を疑似絶対的水平線の原理を維持しなからオ
プト電子工学的な測定値の検出によって除くことを可能
とする。得られた測定値はコンピューターに支援された
吟味の後に記憶され且つ更に処理される。
添付の図面は本発明に従う装置の一実施例の断面図であ
る。 １・・・望遠鏡対物レンズ ２・・・振り子ミラー ３・・・第１像面４・・・補
助刻線 ５・・・標尺６・・・中間結像系 ７・・・受光手段（像面） Ｆｉｇ、１
る。 １・・・望遠鏡対物レンズ ２・・・振り子ミラー ３・・・第１像面４・・・補
助刻線 ５・・・標尺６・・・中間結像系 ７・・・受光手段（像面） Ｆｉｇ、１
Claims (2)
- （１）望遠鏡と、この望遠鏡の対物レンズ（１）の前側
節点においてその前側主面と共に配置されている第１の
像面（３）と、望遠鏡の光路の外側に設けられていて且
つ測定値の表示並びに評価のための測定手段が含まれた
第２の像面（７）を有する、後続配置された結像系と、
及び上記望遠鏡対物レンズ（１）の前方の測定点に配置
された標尺（５）とを含む精密水準測量器において、上
記第１の像面（３）内に少なくとも２本以上の補助刻線
が固定配置されており、それらの位置を上記測定手段（
７）によって測定対象物の像の位置とともに測定してそ
の測定対象物に対する基準点として用いることを特徴と
する、上記精密水準測量器。 - （２）測定手段（７）が互いに独立した少なくとも二つ
以上の領域を有するＣＣＤ列であり、その際一方の領域
は各補助刻線に、そしてもう一方の領域は測定対象物の
像に従属している、特許請求の範囲第１項に従う精密水
準測量器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61175466A JP2537035B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 精密水準測量器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61175466A JP2537035B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 精密水準測量器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6332316A true JPS6332316A (ja) | 1988-02-12 |
| JP2537035B2 JP2537035B2 (ja) | 1996-09-25 |
Family
ID=15996552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61175466A Expired - Lifetime JP2537035B2 (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 精密水準測量器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2537035B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59197806A (ja) * | 1983-04-25 | 1984-11-09 | Toshiba Corp | 距離測定装置 |
| JPS6025413A (ja) * | 1983-07-22 | 1985-02-08 | Asahi Seimitsu Kk | 水準測量における標尺目盛検出方法及びその装置 |
| JPS60129610U (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-30 | 旭精密株式会社 | 測量機械における機械高測定装置 |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61175466A patent/JP2537035B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59197806A (ja) * | 1983-04-25 | 1984-11-09 | Toshiba Corp | 距離測定装置 |
| JPS6025413A (ja) * | 1983-07-22 | 1985-02-08 | Asahi Seimitsu Kk | 水準測量における標尺目盛検出方法及びその装置 |
| JPS60129610U (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-30 | 旭精密株式会社 | 測量機械における機械高測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2537035B2 (ja) | 1996-09-25 |
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