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JPS63270461A - 対向ターゲット式スパッタ装置 - Google Patents

対向ターゲット式スパッタ装置

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Publication number
JPS63270461A
JPS63270461A JP62293980A JP29398087A JPS63270461A JP S63270461 A JPS63270461 A JP S63270461A JP 62293980 A JP62293980 A JP 62293980A JP 29398087 A JP29398087 A JP 29398087A JP S63270461 A JPS63270461 A JP S63270461A
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JP
Japan
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target
magnetic field
targets
facing
sputtering apparatus
Prior art date
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Application number
JP62293980A
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English (en)
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JPH0575827B2 (ja
Inventor
Sadao Kadokura
貞夫 門倉
Kazuhiko Honjo
和彦 本庄
Akio Kusuhara
楠原 章男
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Teijin Ltd
Original Assignee
Teijin Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Teijin Ltd filed Critical Teijin Ltd
Priority to JP62293980A priority Critical patent/JPS63270461A/ja
Publication of JPS63270461A publication Critical patent/JPS63270461A/ja
Publication of JPH0575827B2 publication Critical patent/JPH0575827B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/562Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/35Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
    • C23C14/352Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering using more than one target
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [利用分野] 本発明は、ターゲットを対向させた対向ターゲット式ス
パッタ装置に関し、更に詳しくはターゲット使用効率が
高く膜厚分布の制御が容易な磁気記録媒体、透明導電性
部材等の記録・電子部材の製造に好適な巾の広い長尺の
基板を移送しつつ連続的に所望の薄膜を形成するのに好
適な対向ターゲット式スパッタ装置に関する。
[従来技術] 前述の対向ターゲット式スパッタ装置は、特開昭57−
158380号公報等で公知の通り、真空槽内で対向さ
せたターゲットの対向方向に磁界を発生させ、ターゲッ
トの側方に配した基板上に膜形成するスパッタ装置で、
各種材料中でも磁性材の低温。
高速の膜形成ができる特徴を有し、磁性薄膜、薄膜型磁
気記録媒体等の製造に利用されている。
ところが、従来の対向ターゲット式スパッタ装置を用い
て膜形成例えば垂直磁気記録媒体のCo −C「合金膜
を連続形成した場合、ターゲットはその中心部に侵食が
集中し、ターゲットの利用効率が低いことがわかった(
IEEE Trans on HagneticsH八
G17. D31へ5(1981)) 、又基板の巾方
向においても膜厚分布が生じ、生産性面で問題があるこ
とがわかった。
これに対して、本発明者らは特開昭58−164781
号公報及び特開昭59−116376号公報において、
第17図の構成すなわち、ターゲットの周囲に磁界発生
R構のコアを配置し、磁界をターゲットの周囲に発生さ
せるようにした構成を提案しな。すなわち、同図は、対
向ターゲッI一式スパッタ装置のターゲット部のみ示し
たもので、対向ターゲットT。
T′の周囲にシールドを兼ねて、端部301a、 30
2aをターゲラ?−T、T’の表面に望むように折曲さ
せたコア301,302の脚部301b、 302bに
磁界を発生させるコイル又は永久磁石からなる磁界発生
源301°、 302’を磁気的に結合させて設け、図
示のごとく磁界HなターゲットT、T′の周囲に集中的
に発生させるようにしたものである。図において310
は真空槽壁、 311.312はターゲットホルダー。
311a、 312aはターゲット冷却のための冷却配
管である。こあ構成により磁界はターゲットを経由しな
いで直接コア間に形成されるので、磁化の分布がターゲ
ツト材の透磁率、飽和磁化、ターゲットの厚みに影響さ
れず安定し且つ、プラズマ捕捉用磁界がターゲット周囲
に形成されるのでその侵食領域が中心部から周辺部へ拡
大し、ターゲットの利用率が向上しな、しかしながら、
スパッタの際放電電圧が高くなり、高いスパッタガス圧
でないと、高い生産性を得ることができない、又高いス
パッタガス圧のなめに望むところの結晶組織を得るとい
った対向ターゲツト法の特長を発現しにくい、又基板中
が広くなりターゲットの巾が広くなると、前述の基板中
方向でその中心部と端部の薄膜厚差が大きくなると共に
、中心部の侵食が速く全体としてのターゲットの利用率
が低下するという問題があることがわかった。
[発明の目的] 本発明はかかる問題に鑑みなされたもので、rixの広
いターゲットにおいても上述の問題のない生産性のよい
改良された対向ターゲット式スパッタ装置を目的とする
ものである。
[発明の構成及び作用コ すなわち、本発明は、前述の特開昭58−164781
号公報、特開昭59−116376号公報開示の対向タ
ーゲット式スパッタ装置の改良で、所定距離を隔てて対
向したターゲットの夫々の周囲に沿って磁界発生手段を
設け、ターゲット対向方向のプラズマ捕捉用の垂直磁界
を発生させて、対向したターゲット間の対向空間の側方
に配置した基板上に膜形成するようにした対向ターゲッ
ト式スパッタ装置において、夫々のターゲットの周辺部
又は/及び磁界発生手段の前面近傍に電子を反溌する反
射電極を設けたことを特徴とする対向ターゲット式スパ
ッタ装置である。
上述の本発明のなかでも、ターゲットの周辺部の前面近
傍に電子を捕捉するターゲツト面と平行な成分を有する
補助磁界を形成したものでは、ターゲットの侵食領域の
拡大面で特に大きな効果がある。
ところで、上述の本発明は、以下のようにしてなされた
ものである。すなわち特開昭58−164781号公報
、特開昭59−116376号公報をはじめ、従来のス
パッタ装置の前記問題は、これらスパッタ装置に配設さ
れているシールド(陽極部)と、γ電子を拘束させる垂
直磁界の相互作用に着目し、種々検討した結果、該シー
ルドがプラズマ中の電子(γ電子、熱電子)を吸収する
作用を奏しているのではないかと考えられた。そこでタ
ーゲット外周部に沿って設けた磁界発生手段によってi
、IJ御される電子の軌道域に従来のシールドに替えて
シールドと全く反対の作用を奏する反射電極を設けて、
電子を反攬させるようにしたところ、放電特性が大巾に
改良され、低ガス圧、低電圧で良好な特性の膜形成がで
きることが見出された。そして、更にターゲット外周部
に沿って、その前面近傍に電子を捕捉するターゲツト面
に平行な成分を有する補助磁界を形成すると、前記放電
特性が更に改良されると共に侵食領域が大巾に拡大し、
場合により従来不可能と思われていたターゲット全面の
均一な侵食もできることが見出された。本発明はこれら
知見に基いてなされたものである。
従って本発明によれば、(1)ターゲットの侵食領域と
その分布が調節でき、基板巾方向のHN、分布の均一性
が大巾に拡大できること、(2)スパッタ電圧が低くで
き、スパッタ膜質を向上させることのできる高真空スパ
ッタが容易に実現できること、更に(3基板への熱衝撃
の調節が基板中方向でさらに均一化されること等従来の
問題が解決された理想に近い対向ターゲット式スパッタ
装置が実現される。
又、本発明によれば、上述の通り前述した課題が解決さ
れる上、磁界発生手段をターゲットの周囲に配置する構
成によりターゲットの全面冷却が可能となり、従来のタ
ーゲット背後に磁界発生手段の磁石を収納したものに比
較してターゲットの冷却効果を10倍以上高めることが
可能になり、従来のスパッタ堆積速度を大巾に改善でき
る。
さらに本発明を用いてポリエステルフィルム等のプラス
チックフィルム上に1−Fe合金(パーマロイ)等の金
属薄膜を形成する場合にカールのない膜を形成できるこ
とがわかった。そして垂直磁気記録媒体として注目され
るCo−Cr合金垂直磁化膜の形成において、本発明を
用いると他の蒸着法やスパッタ法と対比して低温で高い
垂直抗磁力を有する記録特性に優れた膜を形成できるこ
ともわかった。このように本発明は形成する薄膜の膜質
向上、適用できる基板材料の範囲の拡大等薄膜製造にお
いても大きな寄与をなすものである。
以下本発明の詳細を実施例に基いて説明する。
第1図は実施例の全体構成を示す概略図、第2図はその
一方のターゲットの平面図、第3図は基板と直交する第
2図のAB線での側断面図である。
第1図から明らかな通り、本装置は前述の特開昭57−
158380号公報等で公知の対向ターゲット式スパッ
タ装置と基本的に同じ構成となっている。
すなわち、図において10は真空槽、20は真空槽10
を排気する真空ポンプ等からなる排気系、 30は真空
槽10内に所定のガスを導入して真空′W!10内の圧
力を10−!〜10’ Torr程度の所定のガス圧力
に設定するガス導入系である。
そして、真空槽10内には、図示のごとくターゲット部
100 、100’により基板Sに面する辺が長い長方
形の1対のターゲットT、T′が、空間を隔てて平行に
対面するように配設しである。
ターゲット部100 、100°は全く同じ構成であり
、以下その一方のターゲット100に基いて説明する。
ターゲット部100は従来と異なり、第2図、第3図か
ら明らかなように、グラスフ捕捉用垂直磁界と補助磁界
を形成するように磁界発生手段120がターゲット1背
後でなく、その周囲に配置され、且つその前面にγ電子
等の電子を反溌する負電位の反射型[i 110を設け
た構成となっている。すなわち、第2図、第3図におい
て101は、その上にターゲット′rが取着されるター
ゲットホルダーで、ターゲットTと同じ外形の所定肉厚
の筒状体からなり、その上には、テフロン(デュポン社
商品名)等の絶縁材からなる絶縁ブロック102を介し
て、図で上面にターゲットTを冷却するための第2図に
点線で示すようなジグザグの連続した冷却溝103aを
全面に亘って穿設したステンレス等の熱電導性の良い材
からなる冷却板103がボルトにより固定されている。
そして、冷却板103上には、ターゲットTがその周囲
に所定間隔で穿設したボルト穴104を介してボルト1
04aで固定される。冷却板103のこの冷却溝103
aには、接続口103bに図示省略した冷却配管が接続
され、冷却媒体の循環により直接ターゲットT全面を冷
却するようになっている。なお、ターゲットホルダ10
1の上面、絶縁ブロック102.冷却板103.ターゲ
ットTの各接触面は、当然の事ながらパツキン(図示省
略)によりシールされている8以上の構成によりターゲ
ット′rの交換が簡単になると共にターゲットTは隅々
迄均−冷却が用油となり、従来の磁石内蔵型に比牧する
とターゲットの冷却効率は7019以上となり、堆積速
度が大「iに向上し、生産性、安定運転面で効果大であ
る。
電子を反射する反射電極110は、本例では断面り字型
の銅、鉄等により図示の通りターゲット]゛の周囲に沿
った枠構成として、冷却板103の側面に直接ボルトで
取着し、冷却板103を介して冷却できるようにすると
共にその電位はターゲット′Fと同電位になるようにな
っている。
なお、本例では反射電極110は、その対向辺部110
aがターゲットTの前面より対向空間IP!I(図で上
方)に数鴎程度突き出すように配置しである。
これは磁性体ターゲットの場合に対向辺部110aを後
述の磁界発生手段120の磁極として用いるためである
ターゲットホルダー101の外側にはステンレス等の非
磁性導電材からなるチャンネル型の磁石ホルダー105
がボルト(図示省略)により固定されている。磁石ホル
ダー105は、その内部に磁界発生手段120のコア1
21.永久磁石122が収納できるようにその先端部外
側にチャンネル型ホルダ一部105aが形成されており
、又ターゲットT及び冷却板103と所定の間隙106
を有するように配置されている。
磁界発生手段120のコア121と永久磁石122とは
、図示め通り、鉄、バマロイ等の軟磁性材の板状体から
なる発生磁界を全周に亘って均一化するためのコア12
1が図で上部の前面側に位置し、その背後に永久磁石1
22がターゲットTのスパッタ面に垂直方向の磁界を発
生する磁極配置で、非磁性体ターゲットの場合に有効な
補助磁界が形成できるようにコア121の前面か略ター
ゲットTの前面に略一致す゛るように磁石ホルダー10
5にボルト等により固定される。なお、永久磁石122
は、所定長の角棒状磁石をその合成磁界が前記プラズマ
捕捉用磁界を形成するように並設したものである。
従って磁界は反射電極110の材質によりコア121又
は反射電極110の対向辺部110aの前面を磁極とし
て発生するので、ターゲットTの周辺に均一な前述の垂
直磁界及び補助磁界ならなるプラズマ捕捉用磁界を生ず
る。なお磁界発生手段120はターゲットホルダー10
1を介して接地されている。
接地されたリング状のアノード電′If1130が、反
射電jf1110前方(図で上部)の近傍空間にターゲ
ット間空間を囲むように設けられている。このアノード
電極130の配置によって、スパツタ時のγ電子の捕集
を調節でき、その位置によりターゲット1゛の侵食及び
基板巾方向の膜厚分布の調節が出来る。
磁石ホルダ705のボルダ部105aの外面には、ステ
ンレス等からなる金網107が布設されている。
金網107により、これら部位に堆積するスパッタ付着
物のスパッタ中での剥離すなわち異常放電が防止され、
又清掃が簡単になり、生産性、安全運転面で大きな効果
が得られる。反射電極110は冷却板103に直接数り
付け、アノード電極130は冷却媒体を通す冷却路13
1を設けてあり、水冷することによりこれらの加熱が防
止されるため、スパyり速度をあげても、基板への輻射
熱が少ないので基板の熱変形が少なく、高速生産性が実
現される。
アノード電極130の材質は導電材であれば良く、前述
のコア121と同様の軟磁性材でも良く、その他銅、ス
テンレス等でも良い0反射電極110は目的に応じ導電
材、絶縁材共に適用される0例えば電位を電源から積極
的にかける場合は導電材が、直流スパッタリングで自己
バイアスを利用する場合は絶縁材が適用される。図の配
置及び後述するその作用から明らかな通り、反射電極1
10はスパッタされるので、反射電極110の材質はタ
ーゲツト材そのもの、又はこれらの構成材の一つあるい
はその組み合わせを用いることが、形成される薄膜に余
分の成分が混入する恐れがない点で好ましい、なお、本
例では、反射電極110の電位をターゲット1゛と同一
にしているがγ電子等を反射するに必要負電極になるよ
うにターゲット電位と異なる電源を用いて又は、ターゲ
ット電位とアース電位とを分割して形成することが出来
る。そして反射電極110は実質的にスパッタされない
電位にすることが好ましい。
第5図、第6図にこれらの点を考慮した生産設備に適し
た反射電極110.磁界発生手段120.アノード電極
130の取付は構造を示す、第5図は、反射電極110
の対向辺部110aを交換可能とした例で、図示の通り
、対向辺部110aに反射板111をビス等により取り
付けたもので、反射板111のみターゲットと同一組成
とする等必要に応じ交換すれば良い。なお反射板111
を図示の通りターゲット側突き出すことにより、タープ
・yトT周辺部のエロージョンが調整でき、ターゲット
Tの取り付はボルト等のスパッタリングの防止が可能と
なる。
アノード電極130は、磁界発生手段120を囲むシー
ルド板と兼用し、その先端部に冷却管132を配設する
ことによりその加熱を防止するようにしである。この構
造によりターゲツト材辺の冷却が強化されると共に基板
等への輻射熱が減少し、スパッタ速度の向上が可能とな
る。第6図は、第5図に対し反射電極110の冷却強化
によりスパッタ速度の更なる向上を計ったものである。
すなわち、冷却板103の側部に直接磁石ホルダ105
を取着し、磁界発生手段120を収納して、磁界発生手
段20を冷却するようにすると共に、そのコア121を
冷却通路121aを形成した管状のコアとして、その上
に直接ビス止め等により板状の反射電極110を取着し
、コア121の冷却通路121aに冷却水等を流すこと
により、反射電極110及び磁界発生手段120を冷却
するようになっている。従って、反射電極110及び磁
界発生手段120の冷却が強化され、スパッタ速度の更
なる向上が可能となる。なお、反射電極110を独立し
た電位にする場合は、コア121と磁石122の間に絶
縁材を介在させて電気絶縁すれば冷却面及び磁界発生面
で殆ど影響はない。
第1図に戻って、以上の構成のターゲット部100 、
100°に取着された対向ターゲットT、T’の側方に
は、磁性薄膜などが形成される長尺の基板Sを保持する
基板保持手段40が設けられている。
基板保持手段40は、図示省略した支持ブラケットによ
り夫々回転自在かつ互いに軸平行に支持された、ロール
状の基板Sを保持する繰り出しロール41と支持ロール
42と、巻取ロール43との3個のロールからなり、基
板SをターゲットT、T′間の空間に対面するようにス
パッタ面に対して略直角方向に保持するように配しであ
る。支持ロール42はその表面温度が調節可能となって
いる。
なお、ターゲット部100 、100’の他の(図で左
側の)側方に、もう1つの長尺の基板Sを保持する基板
保持手段(図示せず)を設けることが出来る。
一方、スパッタ電力を供給する直流電源からなる電力供
給手段50はプラス側をアースに、マイナス側をターゲ
ットT、T’に夫々接続する。従って、電力供給手段5
0からのスパッタ電力は、アースをアノードとし、ター
ゲットT、T′をカンードとして、アノード、カソード
間に供給される。
なお、本例では導電材ターゲットに適した直流電源を示
したが、絶縁物ターゲットの場合には必要に応じ公知の
高周波電源に変更すれば良い。
以上の通り、上述の構成は前述の特開昭57−1583
80号公報のものと基本的には同じ構成であり、公知の
通り高速低温スパッタが可能となる。すなわち、ターゲ
ット1’、T’間の空間に、プラズマ捕捉用垂直磁界の
作用によりスパッタガスイオン。
スパッタにより放出されたγ電子等か束縛された高密度
プラズマが形成される。従って、ターゲットT、T’の
スパッタが促進されて前記空間より析出量が増大し、基
板S上への堆積速度が増し、高速スパッタが出来る上、
基板SがターゲットT。
T′の側方にあるので低温スバ・yりが出来る。
ところで、ターゲット’T’、T’の表面からスパッタ
される高いエネルギーを持っγ電子は前述のターゲット
T、T”の空間に放射されるが、ターゲットの中央及び
外周部近傍までは磁界の影響を受けないなめ、はぼ一様
なγ電子密度になりスパッタに使われる八「+イオンの
形成がターゲットT。
T′の全面でほぼ一様になされる。一方、ターゲット外
周縁部に形成されている強い磁界領域には、第4図に示
すようにターゲットT、T’に亘るターゲツト面に垂直
方向の垂直磁力線Mのほか、ターゲット間を介しての帰
還磁気回路によりターゲツト面に平行な成分を有する補
助磁力線M′が形成されている0図で点線は非磁性ター
ゲットで非磁性の反射電極110を用いた場合すなわち
磁極がコア121の前面となる場合、一点鎖線は磁性タ
ーゲットで磁性の反射電極110を用いた場合すなわち
磁極が反射電極110の前面となる場合である。
このためターゲ・ヅト’I’、T′の中央部の表面から
放射された陰極電位降下部〈ターゲット表面数量の間隔
)で加速されるγ電子は、垂直磁力線Mに沿ってつる巻
き状に拘束され、ターゲットT、T′の間を往復運動す
るが、ターゲット外縁部で生ずるγ電子の一部は、補助
磁力線M′に拘束されて磁界発生手段120のコア12
1面に向かって運動する。ところが、第17図に示す特
開昭59−186376号公報等の従来技術で使用して
いるアノードとして作用する接地されたシールドを磁界
発生手段120上に設ける場合又はそのコアと兼ねて用
いる場合にはターゲラ1〜外縁部に捕捉されたγ電子の
一部はシールドに吸収されると考えられ、従って、ター
ゲット周辺部ではプラズマ密度が中央部より小さくなり
、ターゲットのエロージョン、形成される膜の厚さが中
心部に片寄る傾向があった。これを解決するためにはタ
ーゲットT、T’で発生するγ電子をターゲット間で吸
収されることなく往復させる必要があり、スパッタ電圧
を高くする、あるいはスパッタガス圧を高める等の対策
が考えられるが、前述の通りその効果には限界があり、
又それに伴う改質等別の問題があった。
これに対して本発明では、磁界発生手段120のコア1
21部の前面にγ電子を反射する負電位の反射電極11
0を設けているので、第4図から自明のごとく、磁力線
M、M’に沿って運動する捕捉されたγ電子は、反射電
極110表面で反射し、吸収されることなくターゲット
T、T’間に戻される。
従って、周縁部の強い磁界で捕捉されたγ電子等は吸収
されることなくターゲット間空間に蓄積されるので、後
述の膜形成例に示す通り放電特性が大巾に改良され、従
来実現が困難であった低電圧。
低ガス圧のスパッタが可能となり内部歪やアルゴンガス
等の混入の少ない高品質薄膜の形成が可能となったと考
えられる。
又、大巾にターゲットのエロージョン領域が改良される
が、これは次のように考えられる。すなわち、補助磁力
線M′によりターゲット周縁部にはターゲツト面と平行
な磁界によりマグネトロンスパッタと同様な捕捉磁界が
形成され、反射電極110で反射されたγ電子等が効果
的に周縁部表面に捕捉され周縁部のプラズマ密度が高く
でき、よって周縁部まで略均−なスパッタすなわちエロ
ージョンが達成できると考えられる。また、アノード電
極13(lの配置によっては、γ電子の吸収を調節する
ことができる。
このなめ、本発明によれば、ターゲット]゛。
T′の全面を一様にスパッタできることはもちろん、γ
電子の拘束を厳密に行なうことができるので、基板の巾
方向の膜厚分布を広い範囲に亘って任意に調節すること
ができるほか、前述の種々の作用が得られるのである。
以上から明らかな通り、本発明の反射電極は、磁力線M
、M′に拘束された電子を反射するものであれば良く、
従ってターゲットと同極性の電位具体的に負電位である
ことが必要であるが、電位の大きさは形成する膜等によ
り異なり実験的に決めるべきである。ターゲットと同電
位にすると電源が簡略できる点で有利である。なお直流
スパッタリングの場合には単に絶縁体を配するのみでも
良い。
又反射電極の設置箇所は、前述の電子を最も効果的に反
射できる磁束発生手段のコア前面が好ましいが、この近
傍又は/及びターゲット周辺部の近傍であっても良いこ
とはその作用から明らかである。
その形状も、ターゲット周囲を連続して囲むリング状が
好ましく、更には板状体でターゲットと磁界発生手段と
の間の隙間をカバーするものが好ましいが、場合によっ
ては必要箇所に部分的に設けるのみで゛も良く、その形
状も棒状体、網状体等でも良いことはその作用から明ら
かである。
又、前述の作用から本発明において補助磁界は必須では
ないが、ターゲットエロージョン領域の拡大という点で
補助磁界を少なくともターゲット周辺部の前面近傍に形
成することが好ましい、この補助磁界は、実施例の如く
垂直磁界発生用の磁界発生手段と共用すると構成が簡単
となり、好ましいが、別体としても良いことは云うまで
もない。
また、磁界発生手段も構成簡単な永久磁石を用いる例を
示したが、前述の第17図に示す構成等公知の他の構成
も適用できることは云うまでもない。
又、アノード電極も、電子の吸収が適切にできる位置に
設ければ良く、各反射電極、ターゲットの近傍又は周囲
に設けて良く、又ターデフ1〜間の中間位置に1個設け
ても良い、その形状ら実施例の棒状リングの他、網状体
等でも良く、ターゲット全周に亘ってシールドと兼ねて
設けても、必要な箇所のみに設けても良い、ターゲット
のエロージョンの均−北面からはその全周に亘ってその
ターゲット間空間を囲むように設けることが好ましい。
アノード電極の配置は形成される膜の膜厚分布に大きな
相関を有するので、目的に応じて実験的に定めることが
好ましい。
又、本発明が適用されるターゲットの形状も矩形2円形
等特に限定されないことは本発明の趣旨から明らかであ
るが、膜厚分布の制御、エロージョンの不均一化等で問
題の多い中広の長方形ターゲットにおいて本発明の効果
はより大きく発現する。なお、本発明は先に本発明者ら
が特願昭61−142962号で提案した分割されたタ
ーゲットにも適用できる。
以下、本発明の効果を実施例の装置による膜形成例に基
づいて具体的に説明する。
膜形成例1 第3図のターゲット構造を用い、ターゲットT。
T′は124間×575III11の巾広め長方形で厚
さが20鰭の鉄からなるターゲット、ターゲットT、T
’の間隔!は120市で、ターゲットT、T′の夫々の
前面から2市突き出して鉄製の反射電極110を配置し
、その電位をターゲットと同電位とした。
磁界発生手段120にアルニコ7磁石を用い、反射電極
110表面の磁場強度を、ターゲット表面と垂直方向に
330ガウスとした。ターゲットT、T’の夫々に対し
て棒状のアノードリング13Gを電極110面より10
間はなした空間に配した。第7図にスパッタ電圧の1例
を示す、 Arガス圧2Pa〜0.2Paの範囲で45
0〜700vとすぐれた電圧−電流特性を示した。一点
鎖線は、比較のため、反射電極110をターゲットと絶
縁して接地し、γ電子の反射に用いるのでなく、従来の
接地されたシールド板(アノードとして作用)として用
いた従来例の場合である。八「ガス圧2Paの場合でも
、スパッタ電圧が高くなる様子がわかる。
第8図には、反射′8極110を設けた本発明による場
合のターゲットT、T′のエロージョンの状態を斜線で
示しな、ターゲットT、T′をホルダ−と固定するなめ
に使用しているボルト穴部まで一様なスパッタがなされ
、全面はぼ一様な深さに侵食され、その侵蝕比はターゲ
ットT、T′全面積の90%以上であった。
第9図には、同じく反射’S[!110を設けた本発明
による場合のターゲットT、T’の端部から30m1の
位置に設けた基板の中方向の膜厚分布特性を示しな。ア
ノード電[!130の位置を反射電極110に対して調
節することにより、A、Bの膜厚分布を得た。Aは反射
電極110の外縁上に沿って設けた場合、Bはターゲッ
トT、T’の125市巾の部分のアノード電極130の
位置のみAの場合より5柑内側に配置し、他の辺はAと
同じとした場合である。
膜形成例2 ターゲツト材質を膜形成例1と同様に鉄として、ターゲ
ットサイズ125間×125市X20++vnその他の
条件は膜形成例1と同じにしてスパッタ特性を調べた結
果を第10図に示す、投入電力密度Pi(w/、J)を
70w/Jまで増加した場合、対向ターゲット空間の中
央部(ターゲットより60市の位置)でターゲット端部
から3G++m離れた場所の堆積速度Rd(μ11/l
1n)の様子を調べなところ5投入電力密度Piに堆積
速度Rdが比例し、投入電力密度Piが70vt/aA
で1゜9μm/n i nの堆積速度11dを得な、な
おArガス圧が0,5〜2. OPaでも堆積速度Rd
と投入電力密度P1の関係は一様であった。すなわち、
本発明によれば、ターゲットの冷却効率が向上し、且つ
スパッタ電圧(500〜900V )を低くすることか
出来なので、極めて生産性に優れかつガス圧変動に左右
されない安定した対向ターゲット式スバ・Vり装置が実
現したことが理解される。
膜形成例3 反射電極110の電子反溌作用及びターゲット周辺部の
ターゲット面に平行な磁界成分を有する補助磁界による
プラズマ捕捉作用の効果を確認するため膜形成例1に用
いた第3図のターゲラl−m*を基本とし、以下の通り
反射f:’f1110 、磁界発生手段120の位置を
変更して膜形成を行なった。なお、ターゲットT、T′
は垂直磁気記録媒体の垂直磁気記録層として公知のCo
−Cr(Cr含有量:17wt%)合金ターゲットとし
、Co−Cr合金膜を形成した。
第11図に検討したターゲット構造を示す、膜形成例1
すなわち、第4図のターゲット構造(タイプE1という
)に対し、第11図(A)に示すタイプE2は補助磁界
のない例で磁極となるCo製の反射電極110の対向辺
110aをターゲラI−T表面と略同−面の位置とし、
補助磁界が形成されないようにしたものである。第11
図(B)に示すタイプE3は、Cu製の反射電極110
を磁界発生手段120の前面でターゲットTの周囲でそ
の表面より後方に位置せしめた例で、第11図(C)に
示すタイプE4タイプE3において反射電極を除去した
ものすなわち従来例に近いタイプで、補助磁界らない例
である。
以上の各タイプによる膜形成において、八「ガス圧Pを
0.1〜1.OPaの範囲で変えた時のスS・ンタ電流
Iが1=10Aに一定の条件下でのスパッタ電圧■との
関係を第12図に示す0図の横軸は肘ガス圧P(Pa)
、W軸はスパッタ電圧V(ボルト)である、又、この膜
形成で形成されたCo−Cr垂直膜のターゲラ1−Tの
長辺方向(5751tll巾)の膜厚分布を第13図に
示す。図の横軸は、基板上の巾方向位置で、縦軸は膜厚
で相対値である0図のCはターゲットTの中心に対応す
る基板の中心位置である。
なお、この場合のターゲットのエロージョン分布はタイ
プE1では第6図に示す通り全面均一となるが、タイプ
E2〜E、は共に中心部が深く周辺部が浅い従来と同様
若しくは若干改善された分布である。
従来例に近いタイプE、と本発明のE2〜E4との比較
より本発明の反射電極によりスパッタ特性が大巾に改善
され、従来困難であった低ガス圧。
低電圧でのスパッタが可能となり、後述の通りアルゴン
ガス等の混入の少ない、内部歪等も小さい高品質薄膜の
形成が可能となることがわかる。そして補助磁界を組み
合わせることによりターゲツトのエロージョン領域が大
巾に改良され、略全面均−という理想に近いエロージョ
ンが可能となると共に、横巾の長いターゲットにおいて
も形成される薄膜の膜厚が均一化できるという薄膜製造
面で待望の性能が得られることも確認された。
膜形成例4 第5図に示すターゲット構造とし、その機械的寸法は膜
形成例1と同様とし、そのうちターゲットT、T′をN
 l aoF e 15M Os  (添数字:wt%
)をのパーマロイを用いて公知の二層構造の垂直磁気記
録媒体の軟磁性層を長尺のポリエチレンテレフタレート
(PET)フィルム基板上に連続的に形成した。又反射
電fl!110の反射板111にはNi板を用いた。
ターゲットT、T’の間隔!を130.160.200
正と変えた場合について、^「ガス圧Pを0.1から1
、OPaの範囲で10Aの一定スパッタ電流Iに対する
スパッタ電圧■を求めた結果を第14図に示す。
第15図には、ロール42の表面温度が60〜70℃の
東件下で50μm厚みのPETフィルムを走行させなが
らPETフィルムの片面に0.3μmの厚みのバー70
イ層(N i B5F e 15M O5)を形成した
場合のカールにpの値を示す、なおり−ルKpは第16
図に示す如く、直径りが30市の円板のサンプルにおい
てカールによる両端の変位hl 、h2の合計が最大の
直径の変位り、、h2を用い、にp=1 (hx +h
z ) / 2D ) xloo(%)と定義した。
本発明によればガス圧Pを調節することによりPETフ
ィルムの片面にパーマロイ層を形成しても驚くべきこと
ににpを略零にすることすなわちカールのない薄膜形成
が出来ることがわかった。また磁気特性を調べたところ
、ガス圧Pか0.1〜0.5 Paの範囲で抗磁力をt
lcは2oe以下でありすぐれた軟磁気特性を示した。
すなわち初透磁率μ1(CGS単位)を調べたところ、
例えばターゲット間隔1 =200 inで成膜した場
合にKl)〜O%の部分では初透磁率μmは300〜4
50で磁気異方性が少なかった。Co−Cr垂直膜とパ
ーマロイ膜を設けた二rf1膜媒体ではこれまで、パー
マロイのHc≦30eでは磁気異方性が増大するためフ
レキシブルディスクには周方向の信号レベル変動すなわ
ちモジュレーションが生じる問題があった。なお反射電
極110を設けない従来装置を用いた場合では、スパッ
タガス圧Pを0.5Paより低くするとスパッタ電圧■
は800v以上となりカールにpを零にすることが出来
なかった。
これに対して、二層膜の垂直磁気記録媒体において、主
磁極wJ磁梨型ヘッド用いるとμiが200以上では信
号レベルはほぼ一様になることが知られており上述しな
ところがら本発明装置を用いることにより垂直磁気記録
フレキシブルディスクの場合の上記課題である信号レベ
ル変動を解消でききる見通しが得られた。
又、上記膜形成においてターゲットT、T’の間扇!が
120叩の場合に比較して200 cmの場合には、同
一投入電力に対ルて基板へ堆積する生産速度は30%増
加する結果を得た。
膜形成例5 膜形成例4のうちターゲットT、T”をCo a。
Ct” 20 (添数字:wt%)の合金ターゲット、
反射板111にCo板を用い、6.5μl、12μl厚
のポリエチレン−2,6−ナフタレートフィルムをロー
ル42の表面温度を130℃にして走行させながら、C
o−Cr薄膜を膜厚0.1μlで形成し、磁気テープ用
の垂直磁気記録媒体を作成した。Co−Cr層の結晶構
造は最密六方晶(hcp)でC軸配向しており、ロッキ
ング曲線から求めたC軸分散△θ5oは5°であった。
垂直抗磁力Hc、は800 oe、面内抗磁力HC2は
150oaと、垂直磁気記録に適した磁気特性であった
。なお、反射電極110を設けない従来装置の場合、ロ
ール42の温度130℃ではHcは550 oeと低い
値となった。従って、本発明によれば高密度記録により
適したCo−Cr系垂直磁化膜を形成できることがわか
った。ハイビジョンVTR等に必要な高密度記録用テー
プとカールのないかつ垂直磁気異方性にすぐれた垂直磁
気記録媒体媒体の形成が出来る。
[発明の効果] 以上の通り本発明によればターゲットT、T’のエロー
ジョンはターゲット全面でほぼ均一におこなわれること
、ターゲットの冷却効率が向上し、スパッタ電圧を低く
できたので極めて生産性に優れ、広いスパッタガス圧で
膜形成が出来るので例えば、Co−Cr、 N1−Fe
−Ha等の結晶組織の制御を必要とする薄膜形成にはす
ぐれた特性を発現する。
上述の例では直流電源を用いた場合を説明したが、例え
ば非磁性材料例えば錫酸化物ターゲラI−を用いて透明
導電性薄膜等のJR能性薄膜を作成する場合には交流電
源を用いることにより、より優れた結晶構造体の形成適
用できる。このように本発明は広範囲に適用できるもの
で薄膜の工業生産1品質向上に寄与するところ大である
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例の全構成の説明図、第2図は
そのターゲット部の平面図、第3図は第2図のA−B線
での断面図、第4図は本発明の詳細な説明するため磁力
線の分布の説明図、第5図、第6図はターゲット全面の
他の実施例の部分側断面図、第7図は膜作成例1でのス
パッタ特性を示す電圧Vと電流Iの関係のグラフ、第8
図は同例でのターゲットのエロージョンの説明図、第9
図は同じく同例で得られた薄膜の基板巾方向の膜厚分布
図、第10図は膜形成例2で得られた投入電力密度Pi
と膜の堆積速度Rdとの関係を示すグラフ、第11図は
膜形成例3における反射電極、磁界発生手段の位置を示
す説明図、第12図は膜形成例3での各タイプによる放
電特性のグラフ、第13図は同じく各タイプによる基板
方向の膜圧分布のグラフ、第14図は膜形成例4での放
電特性のグラフ、第15図は同例でのガス圧とカールの
関係を示すグラフ、第16図はカールの定義の説明図、
第17図は従来例のターゲット部の構成の説明図である

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、所定距離隔てて対向したターゲットの夫々の周囲に
    沿って磁界発生手段を設け、ターゲット対向方向の垂直
    磁界を発生させて、ターゲット間の対向空間の側方に配
    置した基板上に膜形成するようにした対向ターゲット式
    スパッタ装置において、夫々のターゲットの周辺部又は
    /及び磁界発生手段の前面近傍に電子を反撥する反射電
    極を設けたことを特徴とする対向ターゲット式スパッタ
    装置。 2、前記夫々のターゲットの少なくとも周辺部の前面近
    傍に電子を捕捉するターゲットの面に平行な成分を有す
    る補助磁界が形成されている特許請求の範囲第1項記載
    の対向ターゲット式スパッタ装置。 3、前記磁界発生手段の磁極は前記垂直磁界及び補助磁
    界を形成するように配置されている特許請求の範囲第2
    項記載の対向ターゲット式スパッタ装置。 4、前記磁界発生手段の磁極がターゲットの夫々の前面
    より対向空間側に位置する特許請求の範囲第3項記載の
    対向ターゲット式スパッタ装置。 5、前記磁界発生手段の磁極が反射電極である特許請求
    の範囲第4項記載の対向ターゲット式スパッタ装置。 6、前記磁界発生手段は棒状の永久磁石の集合体とその
    前面に配置した磁性材からなるコアとからなる特許請求
    の範囲第1項〜第5項記載のいずれかの対向ターゲット
    式スパッタ装置。 7、コアが反射電極である特許請求の範囲第6項記載の
    対向ターゲット式スパッタ装置。8、反射電極は連続し
    たリング状である特許請求の範囲第1項〜第7項記載の
    いずれかの対向ターゲット式スパッタ装置。 9、反射電極は所定巾の板上体でターゲットホルダーと
    磁界発生手段との間隙をカバーするように設けられてい
    る特許請求の範囲第8項記載の対向ターゲット式スパッ
    タ装置。 10、反射電極はターゲットと同じ材料である特許請求
    の範囲第8項又は第9項記載の対向ターゲット式スパッ
    タ装置。 11、アノード電極が磁界発生手段の側面を囲むように
    配置されているシールドである特許請求の範囲第1項〜
    第10項記載のいずれかの対向ターゲット式スパッタ装
    置。 12、前記ターゲットは、冷却流体が流通する冷却溝を
    穿設した支持体上に直接取着されている特許請求の範囲
    第1項〜第11項記載のいずれかの対向ターゲット式ス
    パッタ装置。
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