JPS63210690A - 金属異物検出方法 - Google Patents
金属異物検出方法Info
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- JPS63210690A JPS63210690A JP62043084A JP4308487A JPS63210690A JP S63210690 A JPS63210690 A JP S63210690A JP 62043084 A JP62043084 A JP 62043084A JP 4308487 A JP4308487 A JP 4308487A JP S63210690 A JPS63210690 A JP S63210690A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
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- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
-
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- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
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- B07C2501/0045—Return vending of articles, e.g. bottles
Landscapes
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、特に非磁性且つ非導電性を有する絶縁部材中
に混入せる微細金属を高怒度で検出する金属異物検出方
法に関する。
に混入せる微細金属を高怒度で検出する金属異物検出方
法に関する。
(従来の技術)
高圧電カケ−プルの絶縁部材として一般に、ポリエチレ
ンが使用されているが、当該ポリエチレンの製造工程及
び運搬過程中に微細な金属の異物が混入することがある
。このような金属異物がケーブルの絶縁層に混入すると
、パンクチエアと称するケーブルの大事故を起こす虞れ
がある。特に、電カケープルは益々高圧化となりつつあ
る現状から、絶縁部材中に混入した金属異物を除去する
という要求は益々高まってくる。
ンが使用されているが、当該ポリエチレンの製造工程及
び運搬過程中に微細な金属の異物が混入することがある
。このような金属異物がケーブルの絶縁層に混入すると
、パンクチエアと称するケーブルの大事故を起こす虞れ
がある。特に、電カケープルは益々高圧化となりつつあ
る現状から、絶縁部材中に混入した金属異物を除去する
という要求は益々高まってくる。
従来、前記電カケープルの製造過程において芯線を被覆
する絶縁部材中に混入せる微小な金属例えば、銅、アル
ミニュウム等の金属片を検出する場合、第3図に示すよ
うに、所定の間隔で離隔対向して磁気回路を構成する一
対のE型コア30.31を配置し、一方のコア30の中
央部30aに励磁コイル32を、他方のコア31の両側
31b、31cに夫々第1、第2の検出コイル33.3
4を巻回して検出器35を構成し、励磁コイル32に所
定の高周波励磁電流を印加して高周波磁界を発生させ、
これらの対向する各コア30.31の間を磁界の方向と
直交させて被検査対象物即ち、前記絶縁部材を通過させ
、この時の磁界の変化を各検出コイル32.33の出力
電圧の差として検出し、当該絶縁部材中に混入せる金属
異物を検出するようにしている。
する絶縁部材中に混入せる微小な金属例えば、銅、アル
ミニュウム等の金属片を検出する場合、第3図に示すよ
うに、所定の間隔で離隔対向して磁気回路を構成する一
対のE型コア30.31を配置し、一方のコア30の中
央部30aに励磁コイル32を、他方のコア31の両側
31b、31cに夫々第1、第2の検出コイル33.3
4を巻回して検出器35を構成し、励磁コイル32に所
定の高周波励磁電流を印加して高周波磁界を発生させ、
これらの対向する各コア30.31の間を磁界の方向と
直交させて被検査対象物即ち、前記絶縁部材を通過させ
、この時の磁界の変化を各検出コイル32.33の出力
電圧の差として検出し、当該絶縁部材中に混入せる金属
異物を検出するようにしている。
かかる検出方法に使用する前記検出器35は2つの検出
コイル33.34の出力電圧のバランス調整を行う場合
、各コア30.31の両側に配置した図示しない鉄製の
ブロック(ライナ)の位置を調整して各検出コイル33
.34の出力電圧の差がOとなるように調整する。
コイル33.34の出力電圧のバランス調整を行う場合
、各コア30.31の両側に配置した図示しない鉄製の
ブロック(ライナ)の位置を調整して各検出コイル33
.34の出力電圧の差がOとなるように調整する。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記検出器においては磁界を強めるため
に強磁性体のコア30.31により磁気回路を形成して
いるが、このような強磁性体のコアを使用すると、検出
コイル33.34のインダクタンスが急激に増大し、こ
の結果、これらの各検出コイル33.34の周波数応答
特性が著しく悪化する。即ち、周波数応答範囲が著しく
低周波域に移動してしまう。かかる検出コイルの周波数
特性を改善するためには各検出コイル33.34の巻数
を少なくすればよいが、これらの検出コイル33.34
の巻数を少なくすると、検出感度が低下するという問題
がある。
に強磁性体のコア30.31により磁気回路を形成して
いるが、このような強磁性体のコアを使用すると、検出
コイル33.34のインダクタンスが急激に増大し、こ
の結果、これらの各検出コイル33.34の周波数応答
特性が著しく悪化する。即ち、周波数応答範囲が著しく
低周波域に移動してしまう。かかる検出コイルの周波数
特性を改善するためには各検出コイル33.34の巻数
を少なくすればよいが、これらの検出コイル33.34
の巻数を少なくすると、検出感度が低下するという問題
がある。
特に、極微細な金属異物を検査する場合には使用する励
磁電流の周波数をより高くする必要があり、このために
はコイルの周波数応答特性を高周波数域に伸ばすことが
必要とされる。その理由は、金属異物は1つの微小コイ
ルと見做され、この微小コイルの特性周波数feは次式
で近似的に求められる。
磁電流の周波数をより高くする必要があり、このために
はコイルの周波数応答特性を高周波数域に伸ばすことが
必要とされる。その理由は、金属異物は1つの微小コイ
ルと見做され、この微小コイルの特性周波数feは次式
で近似的に求められる。
f c−5066/σμr d2
ここに、σは金属異物の導電率、μ、は金属異物の比透
磁率、dは金属異物の直径を示す。但し、金属異物は直
径dの球体とする。
磁率、dは金属異物の直径を示す。但し、金属異物は直
径dの球体とする。
上式から明らかなように、特性周波数fcは、金属異物
の直径の自乗に逆比例し、従って、直径の小さい金属異
物即ち、極微細な金属異物を検出するためには検出コイ
ルの特性周波数の応答範囲を出来る限り高周波域にする
ことが必要不可欠である。
の直径の自乗に逆比例し、従って、直径の小さい金属異
物即ち、極微細な金属異物を検出するためには検出コイ
ルの特性周波数の応答範囲を出来る限り高周波域にする
ことが必要不可欠である。
しかしながら、上述したように磁気回路にコアを使用す
ると検出コイルの周波数特性が低域に移動するために検
出感度が低く、微細な金属を検出することが困難である
という問題がある。
ると検出コイルの周波数特性が低域に移動するために検
出感度が低く、微細な金属を検出することが困難である
という問題がある。
また、上記従来の検出器は鉄製ブロックの温度変化、或
いは振動等によって微小な変化を生じ、斯かる微小な変
化であっても検出コイルの出力バランスが崩れてしまう
ために当該検出器のバランス調整を定期的例えば、1日
毎に行うことが必要となる。しかるに、かかるバランス
調整は手間が掛かり、毎日行うことは極めて煩雑であり
、且つ作業効率が低下する等の問題がある。
いは振動等によって微小な変化を生じ、斯かる微小な変
化であっても検出コイルの出力バランスが崩れてしまう
ために当該検出器のバランス調整を定期的例えば、1日
毎に行うことが必要となる。しかるに、かかるバランス
調整は手間が掛かり、毎日行うことは極めて煩雑であり
、且つ作業効率が低下する等の問題がある。
本発明は上述の問題点を解決するためになされたもので
、検出感度が極めて高く微細な金属を検出可能な金属異
物検出方法を提供することを目的とする。
、検出感度が極めて高く微細な金属を検出可能な金属異
物検出方法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明によれば、非磁性且つ
非導電性を有する部材で形成される絶縁部材を移送する
移送通路の途中に当該通路を囲繞させて、励磁コイルと
、当該励磁コイルの両側等距離位置に2つの検出コイル
とを配置し、前記励磁コイルに高周波電流を印加し、前
記2つの検出コイルに誘起される起電力により前記通路
内を移動する前記絶縁部材に混入せる金属異物を検出す
るようにしたものである。
非導電性を有する部材で形成される絶縁部材を移送する
移送通路の途中に当該通路を囲繞させて、励磁コイルと
、当該励磁コイルの両側等距離位置に2つの検出コイル
とを配置し、前記励磁コイルに高周波電流を印加し、前
記2つの検出コイルに誘起される起電力により前記通路
内を移動する前記絶縁部材に混入せる金属異物を検出す
るようにしたものである。
(作用)
励磁コイルと検出コイルとを夫々空芯コイルとすること
により検出コイルの周波数特性を高周波域において良好
とされ、これに伴い検出感度が向上し、絶縁部材に混入
せる微細な金属の検出を可能とされる。
により検出コイルの周波数特性を高周波域において良好
とされ、これに伴い検出感度が向上し、絶縁部材に混入
せる微細な金属の検出を可能とされる。
(実施例)
以下本発明の一実施例を添付図面に基づいて詳述する。
第1図は本発明の金属異物検出方法に適用する検出器を
示し、検出器lは非導電性且つ非磁性を有する絶縁パイ
プ2と当該絶縁パイプ2に巻回された励磁コイル3、検
出コイル4.5とにより構成され、励磁コイル3は絶縁
パイプ2の略中央位置に巻回され、2つの検出コイル4
.5は励磁コイル2の両側に当該励磁コイル3から等距
離隔てた位置に巻回されている。即ち、励磁コイル3は
検出コイル4と5との中間位置に配置されている。
示し、検出器lは非導電性且つ非磁性を有する絶縁パイ
プ2と当該絶縁パイプ2に巻回された励磁コイル3、検
出コイル4.5とにより構成され、励磁コイル3は絶縁
パイプ2の略中央位置に巻回され、2つの検出コイル4
.5は励磁コイル2の両側に当該励磁コイル3から等距
離隔てた位置に巻回されている。即ち、励磁コイル3は
検出コイル4と5との中間位置に配置されている。
これらの励磁コイル3と各検出コイル4.5は夫々空芯
コイルとされている。このため、検出コイル4.5のイ
ンダクタンスが小さくなり、周波数特性は著しく改善さ
れて高周波域に移動させることが可能となり、また、巻
数を大幅に増加することができる。
コイルとされている。このため、検出コイル4.5のイ
ンダクタンスが小さくなり、周波数特性は著しく改善さ
れて高周波域に移動させることが可能となり、また、巻
数を大幅に増加することができる。
各コイルの磁気回路にはコアを使用しないために励磁コ
イル2により発生される磁束密度は低くなるが、検出コ
イル4.5の巻数を増加させることにより当該磁束密度
の減少による感度の低下分を補うことができる。また、
磁気回路にコアを使用しないために温度特性が大幅に改
善されて極めて良好となる。更に、絶縁パイプ2に励磁
コイル3、検出コイル4.5を巻回するだけであるため
にこれらの各検出コイル4.5の出力電圧のバランスの
調整が容易であり、しかも、製作時に一度調整すること
により以後調整を不要となり、取り扱いが容易である。
イル2により発生される磁束密度は低くなるが、検出コ
イル4.5の巻数を増加させることにより当該磁束密度
の減少による感度の低下分を補うことができる。また、
磁気回路にコアを使用しないために温度特性が大幅に改
善されて極めて良好となる。更に、絶縁パイプ2に励磁
コイル3、検出コイル4.5を巻回するだけであるため
にこれらの各検出コイル4.5の出力電圧のバランスの
調整が容易であり、しかも、製作時に一度調整すること
により以後調整を不要となり、取り扱いが容易である。
励磁コイル3は励磁回路6に接続され、各検出コイル4
.5は信号処理回路7に接続される。励磁回路6は高周
波発振回路を備え、励磁コイル3に高周波電流を印加し
て当該励磁コイル3を励磁する。信号処理回路7は例え
ば、差動増幅器を備え、2つの検出コイル4と5との誘
起起電力の差に応じた電圧を出力する。
.5は信号処理回路7に接続される。励磁回路6は高周
波発振回路を備え、励磁コイル3に高周波電流を印加し
て当該励磁コイル3を励磁する。信号処理回路7は例え
ば、差動増幅器を備え、2つの検出コイル4と5との誘
起起電力の差に応じた電圧を出力する。
因みに、本発明の検出器1と第3図に示す従来のコアを
使用した検出器35との実験結果を第1表に示す。
使用した検出器35との実験結果を第1表に示す。
ここに、検出器lの絶縁バイブ2の内径を2゜I、励磁
コイル3の巻数を100回、各検出コイル4.50巻数
を夫々1000回、励磁コイル3の励磁電流の周波数を
500kHzとし、検出器35の励磁コイル32の巻数
を20回、各検出コイル33.34の巻数を夫々42回
、励磁コイル32の励磁電流の周波数を300kHzと
する。
コイル3の巻数を100回、各検出コイル4.50巻数
を夫々1000回、励磁コイル3の励磁電流の周波数を
500kHzとし、検出器35の励磁コイル32の巻数
を20回、各検出コイル33.34の巻数を夫々42回
、励磁コイル32の励磁電流の周波数を300kHzと
する。
また、検出すべきサンプル(金属異物)9として銅球を
使用し、当該サンプル9を検出器1.35内を自然落下
させて通過させる。そして、このサンプル9の直径D−
を変化させたときの各検出器1.35の出力電圧(mV
)を対比したものである。
使用し、当該サンプル9を検出器1.35内を自然落下
させて通過させる。そして、このサンプル9の直径D−
を変化させたときの各検出器1.35の出力電圧(mV
)を対比したものである。
第1表
この実験結果から以下のことが判明した。
(1) 直径の大きいサンプルに対しては検出器1と
35との出力電圧は略同じである。即ち、このときの検
出感度は双方とも略同じである。
35との出力電圧は略同じである。即ち、このときの検
出感度は双方とも略同じである。
(2)従来の検出B35の出力は、サンプルの直径りの
約4,7乗に比例する。即ち、出力電圧Eは、E”D”
’ で表される。
約4,7乗に比例する。即ち、出力電圧Eは、E”D”
’ で表される。
(3) 一方、本発明の検出器lの出力は、銅球の直
径りの約2.6乗に比例する。即ち、出力電圧Eは、E
OCD客・6で表される。
径りの約2.6乗に比例する。即ち、出力電圧Eは、E
OCD客・6で表される。
(4)検出器35はサンプル9の直径りが0.16n+
m以下では検出不能であるが、本発明の検出器1は検出
可能であり、サンプル9の直径りが0.16m+wのと
きには約125 a+V、0.1mo+のときには約
37mVとなる。
m以下では検出不能であるが、本発明の検出器1は検出
可能であり、サンプル9の直径りが0.16m+wのと
きには約125 a+V、0.1mo+のときには約
37mVとなる。
従って、サンプル9の直径りが0.5anよりも小さい
場合には、本発明の検出器1の検出感度は従来の検出器
35に比して極めて高くなることは明らかである。
場合には、本発明の検出器1の検出感度は従来の検出器
35に比して極めて高くなることは明らかである。
第2図は第1図に示す検出器1を通用して絶縁部材中に
混入せる金属異物の検出方法を実施するための検出装置
の一例を示す。金属異物検出装置10は架台11と、ダ
ンパ12と、シェード13と、選別ボックス14と、パ
ケットエ5と、当S亥パケット15を駆動する電磁弁1
6及び前記金属検出器1により構成される。ダンパ12
は被検査物例えば、前記絶縁部材25を貯溜するもので
、架台11の上方位置に配置されその底部を略円錐形を
なして縮径され中央の孔にはシュート13の上端を接続
される。このシュート13は垂下され、下端を選別ボッ
クス14の上端中央に臨んで開口する。このシュート1
3は非導電性且つ非磁性を有する部材により形成され、
検出器lに電気的及び磁気的影響を与えないようにされ
ている。
混入せる金属異物の検出方法を実施するための検出装置
の一例を示す。金属異物検出装置10は架台11と、ダ
ンパ12と、シェード13と、選別ボックス14と、パ
ケットエ5と、当S亥パケット15を駆動する電磁弁1
6及び前記金属検出器1により構成される。ダンパ12
は被検査物例えば、前記絶縁部材25を貯溜するもので
、架台11の上方位置に配置されその底部を略円錐形を
なして縮径され中央の孔にはシュート13の上端を接続
される。このシュート13は垂下され、下端を選別ボッ
クス14の上端中央に臨んで開口する。このシュート1
3は非導電性且つ非磁性を有する部材により形成され、
検出器lに電気的及び磁気的影響を与えないようにされ
ている。
選別ボックス14は架台11の下部位置11aの略中央
に且つ前記ダンパ12の下方位置に配置され、その上端
14aを開口され、下端を吐出口14b、14Cの2股
に形成され、一方の吐出口14bを良品の吐出口、他方
の吐出口14Cを不良品の吐出口とされる。良品吐出口
14bは例えば、前記電カケープルの被覆工程の移送通
路に、不良品吐出口14Cは廃品回収容器(共に図示せ
ず)に接続される。
に且つ前記ダンパ12の下方位置に配置され、その上端
14aを開口され、下端を吐出口14b、14Cの2股
に形成され、一方の吐出口14bを良品の吐出口、他方
の吐出口14Cを不良品の吐出口とされる。良品吐出口
14bは例えば、前記電カケープルの被覆工程の移送通
路に、不良品吐出口14Cは廃品回収容器(共に図示せ
ず)に接続される。
パケット15は選別ボックス14内中央にその上部を軸
16により揺動可能に軸支されて収納されており、上端
15aを下端15bよりも僅かに大径の筒体とされてい
る。このパケット15は上端15aを揺動位置に拘らず
常にシュート13の下端に臨んで開口し、実線で示す一
側に揺動されると下端15bを良品吐出口14bに、2
点鎖線で示す他側に揺動されると不良品吐出口14Cに
夫々臨んで開口される。
16により揺動可能に軸支されて収納されており、上端
15aを下端15bよりも僅かに大径の筒体とされてい
る。このパケット15は上端15aを揺動位置に拘らず
常にシュート13の下端に臨んで開口し、実線で示す一
側に揺動されると下端15bを良品吐出口14bに、2
点鎖線で示す他側に揺動されると不良品吐出口14Cに
夫々臨んで開口される。
電磁弁17はパケット15を揺動させるもので、ロンド
18を介してパケット15の回動輪16に連結される。
18を介してパケット15の回動輪16に連結される。
この電磁弁17は消勢時にはパケット15を実線で示す
位置に保持して当該パケット15の下端15bを良品吐
出口14bに連通させ、付勢されると2点鎖線の位置に
揺動させて下端15bを不良品吐出口14cに連通させ
る。
位置に保持して当該パケット15の下端15bを良品吐
出口14bに連通させ、付勢されると2点鎖線の位置に
揺動させて下端15bを不良品吐出口14cに連通させ
る。
検出器1は架台11の略中央にシールドケース20を介
して配置され、当該シールドケース2゜は防振部材例え
ばスプリング21を介して中央部11a上に載置されて
いる。この検出器1は前記第1図に示す検出器と同様に
構成されており、絶縁パイプ2は非導電性且つ非磁性部
材により形成され、シュート13に外嵌されている。こ
の絶縁パイプ2をシュート13に外嵌することにより、
各コイル3〜5の充填効率の向上が図られる。この絶縁
パイプ2に巻回された励磁コイル3及び検出コイル4.
5は夫々制御回路22に接続される。
して配置され、当該シールドケース2゜は防振部材例え
ばスプリング21を介して中央部11a上に載置されて
いる。この検出器1は前記第1図に示す検出器と同様に
構成されており、絶縁パイプ2は非導電性且つ非磁性部
材により形成され、シュート13に外嵌されている。こ
の絶縁パイプ2をシュート13に外嵌することにより、
各コイル3〜5の充填効率の向上が図られる。この絶縁
パイプ2に巻回された励磁コイル3及び検出コイル4.
5は夫々制御回路22に接続される。
制御回路22は励磁コイル2に高周波電流を印加する励
磁する励磁回路、各検出コイル3.4に誘起される起電
力により絶縁パイプ2内を通過する絶縁部材25中に混
入せる微小金属異物の有無を検出し、金属異物を検出し
た時には当該検出した時から一定時間Tdの後所定時間
Tの開駆動信号Sを出力する信号処理回路(共に図示せ
ず)を備え、前記信号処理回路は駆動信号Sを前記電磁
弁17に印加して当該電磁弁1Gを駆動する。
磁する励磁回路、各検出コイル3.4に誘起される起電
力により絶縁パイプ2内を通過する絶縁部材25中に混
入せる微小金属異物の有無を検出し、金属異物を検出し
た時には当該検出した時から一定時間Tdの後所定時間
Tの開駆動信号Sを出力する信号処理回路(共に図示せ
ず)を備え、前記信号処理回路は駆動信号Sを前記電磁
弁17に印加して当該電磁弁1Gを駆動する。
前記一定時間Tdは絶縁部材25に混入せる金属異物が
検出された位置即ち、検出器1からシェード13の下端
にいたるまでの時間であり、シュート13内を流下する
絶縁部材25の流下速度、検出器1のパケット15から
の高さ等により決定され、前記所定時間Tは絶縁部材2
5の当該金属異物を混入する部分のみを除去する時間で
あり、金属異物の検出時間、絶縁部材25の流下速度等
により決定される。この時間Tは一般に極短時間である
。
検出された位置即ち、検出器1からシェード13の下端
にいたるまでの時間であり、シュート13内を流下する
絶縁部材25の流下速度、検出器1のパケット15から
の高さ等により決定され、前記所定時間Tは絶縁部材2
5の当該金属異物を混入する部分のみを除去する時間で
あり、金属異物の検出時間、絶縁部材25の流下速度等
により決定される。この時間Tは一般に極短時間である
。
以下に絶縁部材に混入せる金属異物の検出方法について
説明する。
説明する。
ダンパ12内に投入された絶縁部材25は自重によりシ
ュート13内を流下してパケット15にする。検出器1
は当該絶縁部材25内に金属異物を検出しないときには
各検出コイル4.5の出力は平衡状態にあり、制御回路
22は駆動信号Sを出力せず、電磁弁16は消勢状態に
あり、パケット15は実線で示す位置に保持されている
。この結果、絶縁部材25はシュート13内を流下して
パケット15に流入し、当該パケット15の下端15b
から良品吐出口14bに導かれ、前述した被覆工程に移
送される。
ュート13内を流下してパケット15にする。検出器1
は当該絶縁部材25内に金属異物を検出しないときには
各検出コイル4.5の出力は平衡状態にあり、制御回路
22は駆動信号Sを出力せず、電磁弁16は消勢状態に
あり、パケット15は実線で示す位置に保持されている
。この結果、絶縁部材25はシュート13内を流下して
パケット15に流入し、当該パケット15の下端15b
から良品吐出口14bに導かれ、前述した被覆工程に移
送される。
今、時刻tにおいて検出器1が絶縁部材25内に混入せ
る金属異物を検出した場合には、制御回路22は当該時
刻tから前記一定時間Tdの後、所定時間Tの開駆動信
号Sを出力する。この駆動信号Sが出力されるまでの時
間Ta2間に、検出器1からシュート13の下端に至る
までの当該シュート13内を流下する金属異物を混入し
ない1色縁部材25が良品吐出口14bに導かれる。そ
して、前記時刻tから時間Tdの後、絶縁部材25の異
物を混入する部分がシュート13の下端に達する。この
時、電磁弁16が所定時間Tの間付勢され、パケット1
5が2点鎖線で示す位置に揺動され、下端15bを不良
品吐出口14cに臨んで開口される。この結果、前記絶
縁部材25の前記金属異物を混入せる部分が当該パケッ
ト15を介して不良品吐出口14Cに導かれる。
る金属異物を検出した場合には、制御回路22は当該時
刻tから前記一定時間Tdの後、所定時間Tの開駆動信
号Sを出力する。この駆動信号Sが出力されるまでの時
間Ta2間に、検出器1からシュート13の下端に至る
までの当該シュート13内を流下する金属異物を混入し
ない1色縁部材25が良品吐出口14bに導かれる。そ
して、前記時刻tから時間Tdの後、絶縁部材25の異
物を混入する部分がシュート13の下端に達する。この
時、電磁弁16が所定時間Tの間付勢され、パケット1
5が2点鎖線で示す位置に揺動され、下端15bを不良
品吐出口14cに臨んで開口される。この結果、前記絶
縁部材25の前記金属異物を混入せる部分が当該パケッ
ト15を介して不良品吐出口14Cに導かれる。
前記所定時間Tの後、電磁弁17が消勢されるとパケッ
ト15は再び実線で示す位置に揺動されて下端15bを
良品吐出口14bに臨んで開口され、シュート13を流
下して当該パケット15内に流入せる絶縁部材25を良
品吐出口14aに導く。このようにして、絶縁部材25
の前記金属異物を混入する部分のみが除去される。
ト15は再び実線で示す位置に揺動されて下端15bを
良品吐出口14bに臨んで開口され、シュート13を流
下して当該パケット15内に流入せる絶縁部材25を良
品吐出口14aに導く。このようにして、絶縁部材25
の前記金属異物を混入する部分のみが除去される。
尚、本実施例においては電カケープルを被覆する絶縁部
材に混入せる微細金属部材を検出する場合についてつい
て記述したが、これに限るものではなく、他の非導電性
且つ非磁性を存する部材に混入せる微細金属の検出に適
用することができることは勿論である。
材に混入せる微細金属部材を検出する場合についてつい
て記述したが、これに限るものではなく、他の非導電性
且つ非磁性を存する部材に混入せる微細金属の検出に適
用することができることは勿論である。
(発明の効果)
以上説明したように本発明によれば、非磁性且つ非導電
性を有する部材で形成されるkfiM部材を移送する移
送通路の途中に当該通路を囲繞させて、励磁コイルと、
当該励磁コイルの両側等距離位置に2つの検出コイルと
を配置し、前記励磁コイルに高周波電流を印加し、前記
2つの検出コイルに誘起される起電力により前記通路内
を移動する前記絶縁部材に混入せる金属異物を検出する
ようにしたので、前記検出コイルの周波数特性を高周波
域に移動させることができると共にこれらの各検出コイ
ルの巻数を大幅に増加させることが可能となり、これに
伴い検出悪魔を従来に比して大幅に高くすることができ
、この結果、前記絶縁部材に混入せる極めて微細な金属
異物の検出が可能となる。更に、前記各コイルを空芯コ
イルとすることにより温度特性を大幅に改善することが
可能となり、且つ前記検出コイルのバランスの調整は製
作時に調整すれば以後不要となり、取り扱いが容易であ
る等の優れた効果がある。
性を有する部材で形成されるkfiM部材を移送する移
送通路の途中に当該通路を囲繞させて、励磁コイルと、
当該励磁コイルの両側等距離位置に2つの検出コイルと
を配置し、前記励磁コイルに高周波電流を印加し、前記
2つの検出コイルに誘起される起電力により前記通路内
を移動する前記絶縁部材に混入せる金属異物を検出する
ようにしたので、前記検出コイルの周波数特性を高周波
域に移動させることができると共にこれらの各検出コイ
ルの巻数を大幅に増加させることが可能となり、これに
伴い検出悪魔を従来に比して大幅に高くすることができ
、この結果、前記絶縁部材に混入せる極めて微細な金属
異物の検出が可能となる。更に、前記各コイルを空芯コ
イルとすることにより温度特性を大幅に改善することが
可能となり、且つ前記検出コイルのバランスの調整は製
作時に調整すれば以後不要となり、取り扱いが容易であ
る等の優れた効果がある。
第1図は本発明に係る金属異物の検出方法に適用する検
出器の一実施例を示す斜視図、第2図は本発明に係る金
属異物の検出方法を実施する検出装置の一実施例を示す
図、第3図は従来の金属異物の検出器を示す図である。 1・・・検出器、2・・・絶縁パイプ、3・・・励磁コ
イル、4.5・・・検出コイル、6・・・信号処理回路
、7・・・励磁回路、9・・・サンプル、10・・・検
出装置、11・・・架台、12・・・ダンパ、13・・
・シュート、14・・・選別ボックス、15・・・パケ
ット、16・・・電磁弁、22・・・制御回路、25・
・・絶縁部材。 第1図 第3図
出器の一実施例を示す斜視図、第2図は本発明に係る金
属異物の検出方法を実施する検出装置の一実施例を示す
図、第3図は従来の金属異物の検出器を示す図である。 1・・・検出器、2・・・絶縁パイプ、3・・・励磁コ
イル、4.5・・・検出コイル、6・・・信号処理回路
、7・・・励磁回路、9・・・サンプル、10・・・検
出装置、11・・・架台、12・・・ダンパ、13・・
・シュート、14・・・選別ボックス、15・・・パケ
ット、16・・・電磁弁、22・・・制御回路、25・
・・絶縁部材。 第1図 第3図
Claims (1)
- 非磁性且つ非導電性を有する部材で形成される絶縁部材
を移送する移送通路の途中に当該通路を囲繞させて、励
磁コイルと、当該励磁コイルの両側等距離位置に2つの
検出コイルとを配置し、前記励磁コイルに高周波電流を
印加し、前記2つの検出コイルに誘起される起電力によ
り前記通路内を移動する前記絶縁部材に混入せる金属異
物を検出することを特徴とする金属異物検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62043084A JPS63210690A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 金属異物検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62043084A JPS63210690A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 金属異物検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63210690A true JPS63210690A (ja) | 1988-09-01 |
Family
ID=12653971
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62043084A Pending JPS63210690A (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 金属異物検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63210690A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0395981U (ja) * | 1990-01-23 | 1991-09-30 | ||
JPH064687U (ja) * | 1992-02-28 | 1994-01-21 | 東洋ナッツ食品株式会社 | 粒状食品用金属質異物検出装置 |
JP2015175639A (ja) * | 2014-03-13 | 2015-10-05 | アンリツ産機システム株式会社 | 金属検出装置 |
JP2017015451A (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-19 | 株式会社荏原製作所 | 金属検知用センサー及び該センサーを用いた金属検知方法 |
JP2019012085A (ja) * | 2018-10-22 | 2019-01-24 | 株式会社荏原製作所 | 金属検知用センサー及び該センサーを用いた金属検知方法 |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP62043084A patent/JPS63210690A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0395981U (ja) * | 1990-01-23 | 1991-09-30 | ||
JPH064687U (ja) * | 1992-02-28 | 1994-01-21 | 東洋ナッツ食品株式会社 | 粒状食品用金属質異物検出装置 |
JP2015175639A (ja) * | 2014-03-13 | 2015-10-05 | アンリツ産機システム株式会社 | 金属検出装置 |
JP2017015451A (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-19 | 株式会社荏原製作所 | 金属検知用センサー及び該センサーを用いた金属検知方法 |
US10739488B2 (en) | 2015-06-29 | 2020-08-11 | Ebara Corporation | Metal detection sensor and metal detection method using same |
JP2019012085A (ja) * | 2018-10-22 | 2019-01-24 | 株式会社荏原製作所 | 金属検知用センサー及び該センサーを用いた金属検知方法 |
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