JPS63163150A - プリント基板検査装置 - Google Patents
プリント基板検査装置Info
- Publication number
- JPS63163150A JPS63163150A JP31135586A JP31135586A JPS63163150A JP S63163150 A JPS63163150 A JP S63163150A JP 31135586 A JP31135586 A JP 31135586A JP 31135586 A JP31135586 A JP 31135586A JP S63163150 A JPS63163150 A JP S63163150A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- holes
- arithmetic processing
- image sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95692—Patterns showing hole parts, e.g. honeycomb filtering structures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はプリント基板の穴の数、穴の大きさ。
穴の形状等を自動的に判別するプリント基板検査装置に
関する。
関する。
従来の技術
従来は第4図で示すようなカメラ1による穴検出が一般
的で、光源4より出た光の内、コンベア6により供給さ
れたプリント基板3の穴を通過した光をカメラ1で検出
し、コントローラ2で演算処理する方式である。
的で、光源4より出た光の内、コンベア6により供給さ
れたプリント基板3の穴を通過した光をカメラ1で検出
し、コントローラ2で演算処理する方式である。
発明が解決しようとする問題点
しかし従来の方式では、レンズの倍率、焦点合わせなど
光学系の煩雑な調整が必要であり、又カメラの視野周辺
部での光量低下9分解能劣化等により測定精度が悪くな
り、測定可能穴径が大きく制限される問題があった。
光学系の煩雑な調整が必要であり、又カメラの視野周辺
部での光量低下9分解能劣化等により測定精度が悪くな
り、測定可能穴径が大きく制限される問題があった。
問題点を解決するための手段
本発明は、上記のような問題を解決しようとするもので
、穴検出に密着形イメージセンサを利用したものである
。
、穴検出に密着形イメージセンサを利用したものである
。
、 作 用
本発明は、上記構成により、被検査体であるプリント基
板を当劾密着形イメージセンサから一定の距離の所を通
過するようにして、視野周辺部での光漬低下2分解能の
劣化を起こすことなく穴検出を行なうものである。密着
形イメージ七/すの構造図である第2図に示すように、
光源26から出fC′Jt、の内プリント基板23の穴
を通過した元は。
板を当劾密着形イメージセンサから一定の距離の所を通
過するようにして、視野周辺部での光漬低下2分解能の
劣化を起こすことなく穴検出を行なうものである。密着
形イメージ七/すの構造図である第2図に示すように、
光源26から出fC′Jt、の内プリント基板23の穴
を通過した元は。
ほぼ平行光線のまま受光素子群2で検出できるため、測
定面全域にて一様の検出が可能である。
定面全域にて一様の検出が可能である。
実施例
以下本発明の一実施例を添付図面にもとづいて説明する
。
。
第3図は構成図を示すが、31はプリント基板の穴検出
部で、穴の検出、穴の大きさを測定する。
部で、穴の検出、穴の大きさを測定する。
33は入力回路で外部装置36からの測定条件等の信号
を受ける回路である。32は演算処理部で。
を受ける回路である。32は演算処理部で。
穴検出部31からの信号を入力回路33より送られた測
定条件に従がって必要な演算を行う。34は出力回路で
、演算処理部2からの信号を必要な形態に変換し外部装
置36に出力する。次に具体例について説明する。
定条件に従がって必要な演算を行う。34は出力回路で
、演算処理部2からの信号を必要な形態に変換し外部装
置36に出力する。次に具体例について説明する。
第1図において13は密着形イメージセンサであり、被
検査体であるプリント基板16をコンベア16にて密着
形イメージセンサ13の下を通過させる。この時光源1
4からの元がプリント基板15の穴を通過して、密着形
イメージセンサ3内の受光面に穴の大きさ、配列に応じ
た明暗模様を作り、受光素子により明暗模様に応じた電
気信号に変換される。この信号変換はプリント基板6が
密着形イメージセンサ3の下を通過している間連続的に
行われる。
検査体であるプリント基板16をコンベア16にて密着
形イメージセンサ13の下を通過させる。この時光源1
4からの元がプリント基板15の穴を通過して、密着形
イメージセンサ3内の受光面に穴の大きさ、配列に応じ
た明暗模様を作り、受光素子により明暗模様に応じた電
気信号に変換される。この信号変換はプリント基板6が
密着形イメージセンサ3の下を通過している間連続的に
行われる。
上記受光素子により電気信号に変換された信号は、マイ
クロコンピュータを組み込んだコントローラ12内の演
算処理部に送られる。この演算処理部では上記受光素子
からの電気信号を基に、被検査プリント基板16内の穴
の数、穴の大きさ。
クロコンピュータを組み込んだコントローラ12内の演
算処理部に送られる。この演算処理部では上記受光素子
からの電気信号を基に、被検査プリント基板16内の穴
の数、穴の大きさ。
穴の形状等を予かしめ外部入力装置11より入力された
測定条件に従がって演算を行う。プリント基板16が密
着形イメージセンサ13の下を通過し終った時点で、上
記演算処理部はコントローラ12内の出力回路に演算結
果を送り出す。この出力回路は外部に接続される装置1
1に応じた信号を出力するために必要な信号変換を行う
。この実施列では外部人出装置としてパソコンを使用し
たもので、検査結果の一例を第1表に示す。
測定条件に従がって演算を行う。プリント基板16が密
着形イメージセンサ13の下を通過し終った時点で、上
記演算処理部はコントローラ12内の出力回路に演算結
果を送り出す。この出力回路は外部に接続される装置1
1に応じた信号を出力するために必要な信号変換を行う
。この実施列では外部人出装置としてパソコンを使用し
たもので、検査結果の一例を第1表に示す。
第1表
発明の効果
この発明は以上説明したように、密着形イメ°−ジセン
サの視野全体に渡り一様な検出特性があるため、被検査
体のプリント基板全面に渡り精度良く且つ密着形イメー
ジセンサの持つ分解能いっばいの小さな穴まで測定可能
である。しかも従来技術に比べて光学系の調整の簡素化
と光路長の大幅な削減が可能で、システムの小形がはか
れる効果がある。又密着形イメージセンサはファクシミ
リ装置に使用されており大量に生産されており非常に低
価格で入手可能のためのシステムの低価格化にも効果が
ある。
サの視野全体に渡り一様な検出特性があるため、被検査
体のプリント基板全面に渡り精度良く且つ密着形イメー
ジセンサの持つ分解能いっばいの小さな穴まで測定可能
である。しかも従来技術に比べて光学系の調整の簡素化
と光路長の大幅な削減が可能で、システムの小形がはか
れる効果がある。又密着形イメージセンサはファクシミ
リ装置に使用されており大量に生産されており非常に低
価格で入手可能のためのシステムの低価格化にも効果が
ある。
第1図は本発明の一実施例におけるプリント基板検査装
置の概略斜視図、第2図は密着形イメージセンサの断面
図、第3図はプリント基板検査装置1・・・・・・外部
入出力装置、12・・・・・・コントローラ%13・・
・・・・密着形イメージセンサ、14・・・・・・光源
。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図 第4図
置の概略斜視図、第2図は密着形イメージセンサの断面
図、第3図はプリント基板検査装置1・・・・・・外部
入出力装置、12・・・・・・コントローラ%13・・
・・・・密着形イメージセンサ、14・・・・・・光源
。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第3
図 第4図
Claims (1)
- プリント基板の穴の数、穴の大きさ、穴の形状等を検査
する装置で、プリント基板の穴検出部と、この穴検出部
からの測定データと予め設定した基準値とを比較しプリ
ント基板の良否を判断する演算処理部とから構成され、
プリント基板の穴検出部が密着形イメージセンサを使用
したことを特徴とするプリント基板検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31135586A JPS63163150A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | プリント基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31135586A JPS63163150A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | プリント基板検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63163150A true JPS63163150A (ja) | 1988-07-06 |
Family
ID=18016158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31135586A Pending JPS63163150A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | プリント基板検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63163150A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02105155U (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-21 | ||
JPH03276092A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-06 | Rohm Co Ltd | 物品整列用治具への物品セッティング方法 |
WO2000007031A1 (en) * | 1998-07-28 | 2000-02-10 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Inspection system for inspecting discrete wiring patterns formed on a continuous substrate sheet of a flexible material |
KR101195694B1 (ko) | 2010-06-18 | 2012-10-29 | 마하비전 아이엔씨. | 회로판의 전원층과 접지층의 결함을 검측하는 방법 |
ITMI20122131A1 (it) * | 2012-12-13 | 2014-06-14 | Bancor Srl | Lettore ottico per documenti con zone stampate e/o forate |
CN105699386A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-06-22 | 东华大学 | 一种采用接触式图像传感器的自动验布标记方法 |
CN105738376A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-07-06 | 东华大学 | 一种采用接触式图像传感器的自动验布机 |
CN105784712A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-07-20 | 东华大学 | 一种采用接触式图像传感器的自动验布方法 |
CN111929305A (zh) * | 2020-09-22 | 2020-11-13 | 维嘉数控科技(苏州)有限公司 | 检测设备 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62276443A (ja) * | 1986-05-24 | 1987-12-01 | Kyoei Sangyo Kk | 自動穴ミス検査機 |
-
1986
- 1986-12-25 JP JP31135586A patent/JPS63163150A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62276443A (ja) * | 1986-05-24 | 1987-12-01 | Kyoei Sangyo Kk | 自動穴ミス検査機 |
Cited By (11)
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JPH02105155U (ja) * | 1989-02-08 | 1990-08-21 | ||
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WO2000007031A1 (en) * | 1998-07-28 | 2000-02-10 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Inspection system for inspecting discrete wiring patterns formed on a continuous substrate sheet of a flexible material |
US6700603B1 (en) | 1998-07-28 | 2004-03-02 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Inspection system for inspecting discrete wiring patterns formed on a continuous substrate sheet of a flexible material |
KR101195694B1 (ko) | 2010-06-18 | 2012-10-29 | 마하비전 아이엔씨. | 회로판의 전원층과 접지층의 결함을 검측하는 방법 |
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EP2743863A1 (en) * | 2012-12-13 | 2014-06-18 | Bancor SRL | Optical reader for documents with perfored and printed zones |
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CN105738376A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-07-06 | 东华大学 | 一种采用接触式图像传感器的自动验布机 |
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CN111929305A (zh) * | 2020-09-22 | 2020-11-13 | 维嘉数控科技(苏州)有限公司 | 检测设备 |
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