JPS6276434A - クロマトスキャナ - Google Patents
クロマトスキャナInfo
- Publication number
- JPS6276434A JPS6276434A JP21846385A JP21846385A JPS6276434A JP S6276434 A JPS6276434 A JP S6276434A JP 21846385 A JP21846385 A JP 21846385A JP 21846385 A JP21846385 A JP 21846385A JP S6276434 A JPS6276434 A JP S6276434A
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- JP
- Japan
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- slit disk
- slit
- rotating
- light
- disk
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光吸収測定法の応用機器、とり分はクロマト
スキャナに関するものである。
スキャナに関するものである。
（従来の技術）
紫外、可視あるいは時には赤外の分光光度計又はその他
の光吸収分析を行なわせる場合、出口スリットの幅、高
さを変えることにより波長分解能及び線幅（バンド幅と
も称される）並びに試料への入射光量を変えることがで
きる。しかし、通常の固定スリットを用いた方式では試
料内、もしくは試料表面上での空間方向に対する１次元
又は２次元方向の吸光度分布を遂次連続的に分析し調べ
るのには適さない。
の光吸収分析を行なわせる場合、出口スリットの幅、高
さを変えることにより波長分解能及び線幅（バンド幅と
も称される）並びに試料への入射光量を変えることがで
きる。しかし、通常の固定スリットを用いた方式では試
料内、もしくは試料表面上での空間方向に対する１次元
又は２次元方向の吸光度分布を遂次連続的に分析し調べ
るのには適さない。
そこで、１つの方式として試料上での入射光すなわち照
射点を、試料を固定しておいてから逐次移動させるフラ
イングスポット方式が提案されている。
射点を、試料を固定しておいてから逐次移動させるフラ
イングスポット方式が提案されている。
第４図にフライングスポット方式のクロマトスキャナの
一例を示す。
一例を示す。
ｌａ、ｌｂは光源ランプ、２は集光鏡、３はカットフィ
ルタ、４は入口スリット、５はコリメータ鏡、６は平面
回折格子、７はパルスモータである。
ルタ、４は入口スリット、５はコリメータ鏡、６は平面
回折格子、７はパルスモータである。
パルスモータ７の回転軸には回転スリット円板９が取り
つけられ、回転スリット円板９には回転角に比例して中
心からの距離の増分が現われる螺旋状みぞ穴があけられ
ている。８は出口スリット部組立であり、そのスリット
板には回転スリット円板９の螺旋状みぞ穴と交差する位
置に出口スリットの幅方向を規定する方形穴８ａがあけ
られており、回転スリット円板９と重ならない位置に幅
と高さの固定された複数種類の方形穴８ｂがあけられて
いる。パルスモータ７と出口スリット部組立８は、矢印
で示されるＡ、Ｂ方向に直線的に移動することのできる
摺動基台１０に取りつけられている。１１は遮光板であ
る。
つけられ、回転スリット円板９には回転角に比例して中
心からの距離の増分が現われる螺旋状みぞ穴があけられ
ている。８は出口スリット部組立であり、そのスリット
板には回転スリット円板９の螺旋状みぞ穴と交差する位
置に出口スリットの幅方向を規定する方形穴８ａがあけ
られており、回転スリット円板９と重ならない位置に幅
と高さの固定された複数種類の方形穴８ｂがあけられて
いる。パルスモータ７と出口スリット部組立８は、矢印
で示されるＡ、Ｂ方向に直線的に移動することのできる
摺動基台１０に取りつけられている。１１は遮光板であ
る。
フライングスポット方式のジグザグ走査を行なう場合に
は、螺旋状の細長い溝穴を打ち抜いた回転スリット円板
をその半径上で平行に合わせて置かれた（僅かな空隙は
必要になるが）細長い方形スリット８ａの前後（図の場
合は後）で回転させ、両者の交差する部分に生じた穴を
もれ出る光束が方形スリットの高さ方向に移動する現象
を利用する。そして、固定スリットによる測定方式に切
換え企にはこの回転スリット円板９のシステムを主光束
の位置から完全に移動させ、固定スリット用の方形穴８
ｂのいずれかを主光束の位置に位置決めする。
は、螺旋状の細長い溝穴を打ち抜いた回転スリット円板
をその半径上で平行に合わせて置かれた（僅かな空隙は
必要になるが）細長い方形スリット８ａの前後（図の場
合は後）で回転させ、両者の交差する部分に生じた穴を
もれ出る光束が方形スリットの高さ方向に移動する現象
を利用する。そして、固定スリットによる測定方式に切
換え企にはこの回転スリット円板９のシステムを主光束
の位置から完全に移動させ、固定スリット用の方形穴８
ｂのいずれかを主光束の位置に位置決めする。
（発明が解決しようとする問題点）
第４図のクロマトスキャナでは、回転スリット円板９の
直径が大きくなると、フライングスポット方式から固定
スリット方式への切替えの際に相当の距離に渡り直線移
動させねばならないので、機械設計上からもスペースロ
スが大きいことがわかる。また固定スリットを取りつけ
ている出口スリット部組立８が摺動基台１０に対して取
りつけられる際、周囲の他の機械部品との「当り」を避
けるため、場合によっては無理のある（即ち完全に振動
やたわみの影響をカバーしきれない）状態で取りつけら
れてしまう可能性もある。
直径が大きくなると、フライングスポット方式から固定
スリット方式への切替えの際に相当の距離に渡り直線移
動させねばならないので、機械設計上からもスペースロ
スが大きいことがわかる。また固定スリットを取りつけ
ている出口スリット部組立８が摺動基台１０に対して取
りつけられる際、周囲の他の機械部品との「当り」を避
けるため、場合によっては無理のある（即ち完全に振動
やたわみの影響をカバーしきれない）状態で取りつけら
れてしまう可能性もある。
回転スリット円板９は一方向にのみ回転させられる。そ
のため、フライングスポット方式のジグザグ走査では光
が螺旋状みぞ穴を通過する部分と、回転スリット円板９
に遮られて全く光の通過しない部分とが存在する。その
ため検出器の光電子増倍管の負高圧レベルの急変や測光
信号の応答異常というような測光上の不都合が生じる。
のため、フライングスポット方式のジグザグ走査では光
が螺旋状みぞ穴を通過する部分と、回転スリット円板９
に遮られて全く光の通過しない部分とが存在する。その
ため検出器の光電子増倍管の負高圧レベルの急変や測光
信号の応答異常というような測光上の不都合が生じる。
本発明の目的は、フライングスポット方式のジグザグ走
査において、測光上の不都合が生じないようにすること
にある。
査において、測光上の不都合が生じないようにすること
にある。
本発明の他の目的は、フライングスポット方式のジグザ
グ走査において、測光上の不都合が生じないようにする
とともに、フライングスポット方式と固定スリット方式
との間の切替えに際し、回転スリット円板及び固定スリ
ットとその周辺機構部分をスライド移動させなくてもす
むようにして、複雑で調整工数のかかるスライド式移動
機構を不要にすることにある。
グ走査において、測光上の不都合が生じないようにする
とともに、フライングスポット方式と固定スリット方式
との間の切替えに際し、回転スリット円板及び固定スリ
ットとその周辺機構部分をスライド移動させなくてもす
むようにして、複雑で調整工数のかかるスライド式移動
機構を不要にすることにある。
（問題点を解決するための手段）
一実施例を示す第１図（Ａ）を参照して説明すると、本
発明のクロマトスキャナでは、回転角に比例して中心か
らの距離の増分が現われる螺旋状みぞ穴（１３）があけ
られた回転スリット円板（１２）を出口スリット位置に
設け、螺旋状みぞ穴（１３）を光束が通過する範囲内で
回転スリット円板（１２）を正逆往復回転させることに
よりフライングスポット方式のジグザグ走査を行なう。
発明のクロマトスキャナでは、回転角に比例して中心か
らの距離の増分が現われる螺旋状みぞ穴（１３）があけ
られた回転スリット円板（１２）を出口スリット位置に
設け、螺旋状みぞ穴（１３）を光束が通過する範囲内で
回転スリット円板（１２）を正逆往復回転させることに
よりフライングスポット方式のジグザグ走査を行なう。
また、本発明のクロマトスキャナでは、ほぼ半円領域に
回転角に比例して中心からの距離の増分が現われる螺旋
状みぞ穴（１３）があけられ、残りのほぼ半円領域に方
形の穴（１４−１〜１−４−５）があけられた回転スリ
ット円板（１２）を出口スリット位置に設け、フライン
グスポット方式のジグザグ走査を行なう場合には螺旋状
みぞ穴（１３）を光束が通過する範囲内で回転スリット
円板（１２）を正逆往復回転させ、固定スリット方式の
走査を行なう場合には回転スリット円板（１２）の方形
の穴（１４−１〜１４−５）を選択してその選択された
方形の穴を光束が通過する位置に回転スリット円板（１
２）を固定する。
回転角に比例して中心からの距離の増分が現われる螺旋
状みぞ穴（１３）があけられ、残りのほぼ半円領域に方
形の穴（１４−１〜１−４−５）があけられた回転スリ
ット円板（１２）を出口スリット位置に設け、フライン
グスポット方式のジグザグ走査を行なう場合には螺旋状
みぞ穴（１３）を光束が通過する範囲内で回転スリット
円板（１２）を正逆往復回転させ、固定スリット方式の
走査を行なう場合には回転スリット円板（１２）の方形
の穴（１４−１〜１４−５）を選択してその選択された
方形の穴を光束が通過する位置に回転スリット円板（１
２）を固定する。
（実施例）
第１図（Ａ）は一実施例における回転スリット円板１２
をパルスモータ７に取りつけた状態の正面図を表わし、
同図（Ｂ）は側面図である。
をパルスモータ７に取りつけた状態の正面図を表わし、
同図（Ｂ）は側面図である。
回転スリット円板１２は支持板１６に貼りつけられてパ
ルスモータフの回転軸に取りつけられている。
ルスモータフの回転軸に取りつけられている。
回転スリット円板１２の半円の領域に螺旋状みぞ穴スリ
ット１３が打ち抜かれている。みぞ穴スリット１３は回
転スリット円板１２が図で時計方向に回転するとＸ軸（
図上の水平軸のこと）とこのみぞ穴スリットとが交差す
る位置は、中心である原点からの半径で表わして ｒ ＝ ｒ １＋（ｒ ２− ｒ ｌ）θ／１８０とな
る。１５は回転角原点検出用穴であり、θは回転角原点
検出用穴１５が設けられている位置から反時計まわりの
角度（度）である０回転スリット円板１２が時計回りを
する場合、ｒの大きさはｒ１→ｒ２に向って増大し、そ
の後、反時計回りをする場合にはｒ２→ｒｌに向けて減
少する。
ット１３が打ち抜かれている。みぞ穴スリット１３は回
転スリット円板１２が図で時計方向に回転するとＸ軸（
図上の水平軸のこと）とこのみぞ穴スリットとが交差す
る位置は、中心である原点からの半径で表わして ｒ ＝ ｒ １＋（ｒ ２− ｒ ｌ）θ／１８０とな
る。１５は回転角原点検出用穴であり、θは回転角原点
検出用穴１５が設けられている位置から反時計まわりの
角度（度）である０回転スリット円板１２が時計回りを
する場合、ｒの大きさはｒ１→ｒ２に向って増大し、そ
の後、反時計回りをする場合にはｒ２→ｒｌに向けて減
少する。
このことから図上でｙ軸（鉛直軸）上のｙ ＝ ｒ ｍ
（＝ （ｒ ｌ＋ｒ２）／２）なる位置を分光器の出
口スリットを通る主光束（要するに光軸）の位置に定め
、円板を±９０°の回転角で正逆両方向に交互に回転さ
せると、ｙ＝ｒ ｌからｙ＝ｒ２までの範囲内でみぞ穴
１３から漏れ出る光束の位置が周期的振動をする。そし
て、回転スリット円板１２の回転中に１回転スリット円
板１２を通過する光が完全に遮断されることもない。
（＝ （ｒ ｌ＋ｒ２）／２）なる位置を分光器の出
口スリットを通る主光束（要するに光軸）の位置に定め
、円板を±９０°の回転角で正逆両方向に交互に回転さ
せると、ｙ＝ｒ ｌからｙ＝ｒ２までの範囲内でみぞ穴
１３から漏れ出る光束の位置が周期的振動をする。そし
て、回転スリット円板１２の回転中に１回転スリット円
板１２を通過する光が完全に遮断されることもない。
また１回転スリット円板１２の残りの半円の領域には、
幅（円周方向）と高さく半径方向）が固定された５種類
の方形スリット１４−１〜１４−５が打ち抜かれている
。方形スリット１４−１〜１４−５は回転角原点検出用
穴１５が設けられている位置から時計まわりにそれぞれ
θｌ〜θ５の位置に設けられている。
幅（円周方向）と高さく半径方向）が固定された５種類
の方形スリット１４−１〜１４−５が打ち抜かれている
。方形スリット１４−１〜１４−５は回転角原点検出用
穴１５が設けられている位置から時計まわりにそれぞれ
θｌ〜θ５の位置に設けられている。
これらの方形スリット１４−１〜１４−５のいずれかを
選択するには、回転角原点検出用穴１５がフォトカプラ
の溝を横切って原点検出をした後、そこからの必要パル
ス数を円板駆動用のパルスモータフに送り込んで特定の
幅、高さの方形スリット１４−１〜１４−５を主光束の
位置に位置決めする。この操作は本体機器に接続されて
いる操作部のキーボードからの入力により行なうことが
できる。
選択するには、回転角原点検出用穴１５がフォトカプラ
の溝を横切って原点検出をした後、そこからの必要パル
ス数を円板駆動用のパルスモータフに送り込んで特定の
幅、高さの方形スリット１４−１〜１４−５を主光束の
位置に位置決めする。この操作は本体機器に接続されて
いる操作部のキーボードからの入力により行なうことが
できる。
回転スリット円板Ｉ２の各半円の領域に異なるパターン
のスリット六を打ち抜くので、回転スリット円板１２を
貼りつける支持円板１６には双方の領域に対して質量の
片寄りがなく、うまくバランスが取れて回転スリット円
板１２が正常に回転するように逃がし穴（スリット部分
以外の穴）を打ち抜いておく。
のスリット六を打ち抜くので、回転スリット円板１２を
貼りつける支持円板１６には双方の領域に対して質量の
片寄りがなく、うまくバランスが取れて回転スリット円
板１２が正常に回転するように逃がし穴（スリット部分
以外の穴）を打ち抜いておく。
第１図（Ａ）の回転スリット円板１２を用いてフライン
グスポット方式のジグザグ走査を行なうときは、光束が
螺旋状みぞ穴１３を通過する半円の範囲内で回転スリッ
ト円板１２を正逆両方向に交互に回転させる。光束は絶
えず回転スリット円板１２のみぞ穴１３から漏れ出し、
また、光束が他の半円領域の方形スリット１４−１〜１
４−５を通過することもない。そのため、測光系には、
急激な光量変化による光電子増倍管の負高圧レベルの突
発的変動や測光信号の応答異常のような悪影響は現われ
ない。
グスポット方式のジグザグ走査を行なうときは、光束が
螺旋状みぞ穴１３を通過する半円の範囲内で回転スリッ
ト円板１２を正逆両方向に交互に回転させる。光束は絶
えず回転スリット円板１２のみぞ穴１３から漏れ出し、
また、光束が他の半円領域の方形スリット１４−１〜１
４−５を通過することもない。そのため、測光系には、
急激な光量変化による光電子増倍管の負高圧レベルの突
発的変動や測光信号の応答異常のような悪影響は現われ
ない。
このフライングスポット方式のジグザグ走査の様子を示
すと第２図のようになる。図で２２は幅方向スリット、
２３は結像用光学素子（球面鏡でもよい）、２４は折曲
げ鏡である。２５は薄層プレート又は二次元泳動ゲルで
ある。回転スリット円板１２と幅方向スリット２２を通
過した光”スポットは、薄層プレート又は二次元泳動ゲ
ル２５上でＸ方向（すなわち左右）に移動し、薄層プレ
ート２５はＸ−Ｙステージ（図示路）により光スポット
の移動方向Ｘと直交するＹ方向に移動させられる。
すと第２図のようになる。図で２２は幅方向スリット、
２３は結像用光学素子（球面鏡でもよい）、２４は折曲
げ鏡である。２５は薄層プレート又は二次元泳動ゲルで
ある。回転スリット円板１２と幅方向スリット２２を通
過した光”スポットは、薄層プレート又は二次元泳動ゲ
ル２５上でＸ方向（すなわち左右）に移動し、薄層プレ
ート２５はＸ−Ｙステージ（図示路）により光スポット
の移動方向Ｘと直交するＹ方向に移動させられる。
固定スリット方式に切り替える場合は、所定の方形スリ
ット１４−１〜１４−５を主光束の位置へ位置決めし、
回転スリット円板１２を固定する。
ット１４−１〜１４−５を主光束の位置へ位置決めし、
回転スリット円板１２を固定する。
このとき、回転スリット円板１２の方形スポットを通過
した光スポットは固定されており、薄層プレート又は二
次元泳動ゲル２５がＸ−ＹステージによりＸ、Ｙ両方向
にジグザグ走査させられるか、Ｙ方向のみにリニア走査
させられる。
した光スポットは固定されており、薄層プレート又は二
次元泳動ゲル２５がＸ−ＹステージによりＸ、Ｙ両方向
にジグザグ走査させられるか、Ｙ方向のみにリニア走査
させられる。
第３図に他の実施例を示す。
分光器出口スリット上で結像（試料面上へのピント合わ
せ）がスリット高さ方向と幅方向とで多少ずれがあり１
両方向各々に分けて出口スリット位置を取扱わなければ
ならない場合、回転スリット円板１２の固定スリットと
しては高さ方向の大きさを変えた数種類を打ち抜き、回
転スリット円板１２に対して光束の進行方向から見て前
又は後（図の場合は後）に幅方向を規定する可変のスリ
ット２６を設ける。ただし、この場合は図のように２枚
の刃先のギャップを連続可変させてしまうようなタイプ
が適する。
せ）がスリット高さ方向と幅方向とで多少ずれがあり１
両方向各々に分けて出口スリット位置を取扱わなければ
ならない場合、回転スリット円板１２の固定スリットと
しては高さ方向の大きさを変えた数種類を打ち抜き、回
転スリット円板１２に対して光束の進行方向から見て前
又は後（図の場合は後）に幅方向を規定する可変のスリ
ット２６を設ける。ただし、この場合は図のように２枚
の刃先のギャップを連続可変させてしまうようなタイプ
が適する。
（発明の効果）
本発明によれば、次のような効果を達成することができ
る。
る。
（１）フライングスポット方式での測定実行中は螺旋状
みぞ穴の切られている範囲内のみで正逆交互往復回転さ
せるので、途中で光束が完全に遮断されたり、固定用ス
リットの方形穴が光束をよぎるということがない。その
ため、測光系に、光電子増倍管の負高圧レベルの急変や
測光信号の応答異常というような悪影響を与えることが
ない。
みぞ穴の切られている範囲内のみで正逆交互往復回転さ
せるので、途中で光束が完全に遮断されたり、固定用ス
リットの方形穴が光束をよぎるということがない。その
ため、測光系に、光電子増倍管の負高圧レベルの急変や
測光信号の応答異常というような悪影響を与えることが
ない。
（２）フライングスポット方式用のスリットから固定用
スリットへの切替えは、回転スリット円板の回転の制御
だけで行なうことが可能になるので、モータを含めた回
転スリット円板の機構全体を直線移動させる必要がない
。同時にそのような移動のための複雑な機構が不必要と
なる。また、コストダウンにもなる。
スリットへの切替えは、回転スリット円板の回転の制御
だけで行なうことが可能になるので、モータを含めた回
転スリット円板の機構全体を直線移動させる必要がない
。同時にそのような移動のための複雑な機構が不必要と
なる。また、コストダウンにもなる。
第１図は本発明の一実施例で用いられる回転スリット円
板をモータに取りつけた状態を表わし。 同図（Ａ）は回転スリット円板側から見た正面図、同図
（Ｂ）は側面図である。第２図は同実施例におけるフラ
イングスポット方式のジグザグ走査を示す概略図、第３
図は他の実施例を示す側面図、第４図は従来のクロマト
スキャナを示す平面図である。 １２・・・・・・回転スリット円板、 １３・・・・・・螺旋状みぞ穴、 １４−１〜１４−５・・・・・・方形スリット、１５・
・・・・・回転角原点検出用穴。
板をモータに取りつけた状態を表わし。 同図（Ａ）は回転スリット円板側から見た正面図、同図
（Ｂ）は側面図である。第２図は同実施例におけるフラ
イングスポット方式のジグザグ走査を示す概略図、第３
図は他の実施例を示す側面図、第４図は従来のクロマト
スキャナを示す平面図である。 １２・・・・・・回転スリット円板、 １３・・・・・・螺旋状みぞ穴、 １４−１〜１４−５・・・・・・方形スリット、１５・
・・・・・回転角原点検出用穴。
Claims (2)
- （１）回転角に比例して中心からの距離の増分が現われ
る螺旋状みぞ穴があけられた回転スリット円板を出口ス
リット位置に設け、 前記螺旋状みぞ穴を光束が通過する範囲内で前記回転ス
リット円板を正逆往復回転させることによりフライング
スポット方式のジグザグ走査を行なうことを特徴とする
クロマトスキャナ。 - （２）ほぼ半円領域に回転角に比例して中心からの距離
の増分が現われる螺旋状みぞ穴があけられ、残りのほぼ
半円領域に方形の穴があけられた回転スリット円板を出
口スリット位置に設け、 フライングスポット方式のジグザグ走査を行なう場合に
は前記螺旋状みぞ穴を光束が通過する範囲内で前記回転
スリット円板を正逆往復回転させ、固定スリット方式の
走査を行なう場合には前記回転スリット円板の方形の穴
を選択してその方形の穴を主光束が通過する位置に前記
回転スリット円板を固定することを特徴とするクロマト
スキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21846385A JPS6276434A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | クロマトスキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21846385A JPS6276434A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | クロマトスキャナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6276434A true JPS6276434A (ja) | 1987-04-08 |
| JPH0441941B2 JPH0441941B2 (ja) | 1992-07-09 |
Family
ID=16720298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21846385A Granted JPS6276434A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | クロマトスキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6276434A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002025253A1 (en) | 2000-09-25 | 2002-03-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Device for chromatographic quantitative measurement |
| JP2002098631A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 小型試料濃度測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4913088A (ja) * | 1972-05-18 | 1974-02-05 | ||
| JPS5123795A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-02-25 | Shimadzu Corp |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP21846385A patent/JPS6276434A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4913088A (ja) * | 1972-05-18 | 1974-02-05 | ||
| JPS5123795A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-02-25 | Shimadzu Corp |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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