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JPS6234359Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6234359Y2
JPS6234359Y2 JP5049881U JP5049881U JPS6234359Y2 JP S6234359 Y2 JPS6234359 Y2 JP S6234359Y2 JP 5049881 U JP5049881 U JP 5049881U JP 5049881 U JP5049881 U JP 5049881U JP S6234359 Y2 JPS6234359 Y2 JP S6234359Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
power supply
system power
transistor
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP5049881U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS57166229U (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP5049881U priority Critical patent/JPS6234359Y2/ja
Publication of JPS57166229U publication Critical patent/JPS57166229U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPS6234359Y2 publication Critical patent/JPS6234359Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、メモリ保護回路に関し、特に電源の
オン・オフ時に偶発的に発生する書き込み信号か
らメモリの内容を保護する回路に関するものであ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a memory protection circuit, and more particularly to a circuit that protects the contents of a memory from write signals accidentally generated when power is turned on and off.

CMOS RAM(Complementary Metal Oxide
Semiconductor Random Access Memory)はき
わめて低消費電力であるため、停電時にも電池に
よるバツクアツプでコア・メモリのような不揮発
性メモリとして使用できる。CMOS RAMを不揮
発性メモリとして使用する場合、システム電源V
ccをCMOS RAMとCE(チツプ・イネーブル)供
給回路、コントロール部、周辺回路等のすべてに
供給するとともに、システム電源Vccが遮断した
ときには、電池BAT1からCMOS RAMとCE供
給回路に対して、メモリ内容保持に必要な電圧を
供給する。すなわち、従来、第1図に示すよう
に、システム電源Vcc,Vcc+VFが遮断したと
き、自動的にCMOS RAMの電源が電池BAT1
に切替わるような構成にするとともに、システム
電源のオン,オフ時に偶発的に発生するメモリの
書き込み信号によりメモリの内容が破壊されない
ように、対策が施されている。
CMOS RAM (Complementary Metal Oxide)
Semiconductor Random Access Memory (Semiconductor Random Access Memory) has extremely low power consumption, so it can be used as non-volatile memory like core memory with battery backup even during power outages. When using CMOS RAM as non-volatile memory, the system power supply V
cc is supplied to all of the CMOS RAM, CE (chip enable) supply circuit, control unit, peripheral circuits, etc., and when the system power supply V cc is cut off, memory is supplied from battery BAT1 to the CMOS RAM and CE supply circuit. Provides the voltage necessary to retain content. That is, conventionally, as shown in Fig. 1, when the system power supply V cc , V cc +V F is cut off, the CMOS RAM power is automatically switched to the battery BAT1.
At the same time, measures are taken to prevent the contents of the memory from being destroyed by memory write signals that occur accidentally when the system power is turned on and off.

システム電源のオン,オフ時に、確実にメモリ
の内容を保持するためには、通常、メモリのCE
(Chip−Enable)入力をシステム電源のオン,オ
フ時にロー・レベルにして、メモリを非能動状態
にすることにより、メモリへの書き込み動作を禁
止している。
To ensure that memory contents are retained when the system power is turned on and off, memory CE
By setting the (Chip-Enable) input to a low level when the system power is turned on and off to put the memory in an inactive state, write operations to the memory are prohibited.

第1図では、システム電源Vccが正常状態のと
き、つまり最低電圧値を越えているときには、ツ
エナ・ダイオードZD1がオンしてNPN形トラン
ジスタQ1のベースに一定以上の正電圧を加える
ため、トランジスタQ1はオンとなり、コレクタ
電位のロー・レベルを2入力ノア・ゲートNに入
力する。この場合、の値がロー・レベルのと
き、ノア・ゲートNの出力がハイ・レベルとなつ
てメモリの書き込み動作を可能にする。また、
の値がハイ・レベルのときには、ノア・ゲー
トNの出力はロー・レベルとなるので、メモリは
非能動状態になる。
In Figure 1, when the system power supply Vcc is in a normal state, that is, when it exceeds the minimum voltage value, the Zener diode ZD1 turns on and applies a positive voltage above a certain level to the base of the NPN transistor Q1. Q1 turns on and inputs the low level collector potential to the two-input NOR gate N. In this case, when the value of is low, the output of NOR gate N is high, enabling a memory write operation. Also,
When the value of N is high, the output of NOR gate N is low, so the memory is inactive.

いま、システム電源Vccが何らかの原因で遮断
されるか、最低電圧値以下になつたときには、ツ
エナ・ダイオードZD1がオフとなり、NPN形ト
ランジスタQ1のベースにほゞアース電位が加わ
るため、トランジスタQ1はオフとなり、コレク
タ電位のハイ・レベルがノア・ゲートNに入力す
る。これにより、の値がハイ・レベルでも、
ロー・レベルでも、ノア・ゲートNの出力はロ
ー・レベルとなつて、メモリは非能動状態となる
ため、書き込みは阻止される。
Now, when the system power supply V cc is cut off for some reason or drops below the minimum voltage value, the zener diode ZD1 is turned off and the base of the NPN transistor Q1 is applied with approximately ground potential, so the transistor Q1 is It is turned off, and a high level collector potential is input to the NOR gate N. As a result, even if the value of is at a high level,
Even at a low level, the output of the NOR gate N goes low and the memory becomes inactive, so writing is inhibited.

なお、電圧値VFは、ダイオードD1の順方向
電圧で、システム電源Vccが投入されているとき
に、CMOS RAMの電源もVccと同レベルになる
ように、VFだけ高い電圧(Vcc+VF)の電源か
ら供給する。
Note that the voltage value V F is the forward voltage of the diode D1 , and when the system power supply V cc is turned on, a voltage higher by V F (V cc + V F ) power supply.

このように、第1図に示す従来のメモリ保護回
路では、システム電源のオン,オフ時に起りうる
周辺ロジツクの不安定な信号を抑止するため、メ
モリ内容の破壊は防止できるが、ツエナ・ダイオ
ードZD1、NPNトランジスタQ1の他に、2入
力ノア・ゲートNを構成するための複数の素子が
必要であり、回路素子数が多くなる。また、2入
力ノア・ゲートNへ電流が流れ、さらにトランジ
スタQ1を通しての洩れ電流も発生するので、無
駄な電力消費がある。CMOS RAMの電池による
バツクアツプにおいて、消費電流が多いと、電池
のバツクアツプ時間がその分だけ短縮されるの
で、できるだけ消費電流の少ない回路が望まれ
る。
In this way, the conventional memory protection circuit shown in Figure 1 can prevent memory contents from being destroyed by suppressing unstable signals from the peripheral logic that can occur when the system power is turned on and off. , NPN transistor Q1, a plurality of elements are required to configure the two-input NOR gate N, and the number of circuit elements increases. Furthermore, current flows to the two-input NOR gate N, and leakage current also occurs through the transistor Q1, resulting in wasteful power consumption. When backing up a CMOS RAM using a battery, if the current consumption is large, the battery backup time will be shortened accordingly, so a circuit that consumes as little current as possible is desired.

本考案の目的は、このような従来の要求に答え
るため、少ない回路素子数と洩れ電流の少ない回
路を用いて、システム電源のオン・オフ時に起る
偶発的な書き込み信号を無効にし、メモリ内容を
有効に保持することができるメモリ保護回路を提
供することにある。
The purpose of this invention is to respond to these conventional demands by using a circuit with a small number of circuit elements and low leakage current to invalidate accidental write signals that occur when the system power is turned on and off, and to protect the memory contents. The object of the present invention is to provide a memory protection circuit that can effectively maintain the memory.

本考案のメモリ保護回路は、電源電圧が動作最
低電圧を越えるとオンして、コレクタ電位をチツ
プ・イネーブル出力とするPNP形トランジスタ、
およびこのPNPトランジスタのベースと電源電圧
が抵抗を介して一方の端子に、チツプ・イネーブ
ル入力電圧が他方の端子にそれぞれ接続されたツ
エナ・ダイオードを具備することを特徴としてい
る。
The memory protection circuit of this invention consists of a PNP transistor that turns on when the power supply voltage exceeds the minimum operating voltage and uses the collector potential as a chip enable output.
The base of the PNP transistor and the power supply voltage are connected to one terminal of the PNP transistor through a resistor, and the chip enable input voltage is connected to the other terminal of the Zener diode.

以下、本考案の実施例を、第2図により説明す
る。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be explained with reference to FIG.

本考案は、第2図に示すように、PNP形トラン
ジスタQ2のスイツチング回路とツエナ・ダイオ
ードZD2を用いて、電源電圧Vccが最低電圧値
を越えたときトランジスタQ2をオンにし、電源
電圧が最低電圧値により大きく変動したときツエ
ナ・ダイオードZD2,トランジスタQ2をとも
にオフにして、偶発的に発生するメモリの書き込
み信号からメモリ内容を保護する。
As shown in Fig. 2, the present invention uses a switching circuit of PNP transistor Q2 and a Zener diode ZD2 to turn on transistor Q2 when the power supply voltage Vcc exceeds the minimum voltage value. When the voltage value fluctuates greatly, the Zener diode ZD2 and transistor Q2 are both turned off to protect the memory contents from accidental memory write signals.

抵抗R10およびツエナ・ダイオードZD2
は、システム電源Vccの最低電圧値を決めるもの
で、システム電源Vccが最低電圧値を越えたとき
PNP形トランジスタQ2がオンするように、抵抗
R10の値とツエナ電圧を決定する。第2図で
は、システム電源Vccの最低電圧値が4.5Vに設定
されている。また、抵抗R11は、ツエナ・ダイ
オードZD2の保護抵抗(電流制限抵抗)であ
り、抵抗R12はCMOS RAMの入力レベルを決
めるものである。
Resistor R10 and Zena diode ZD2
determines the minimum voltage value of the system power supply Vcc , and when the system power supply Vcc exceeds the minimum voltage value
The value of resistor R10 and Zener voltage are determined so that PNP transistor Q2 is turned on. In FIG. 2, the lowest voltage value of the system power supply Vcc is set to 4.5V. Further, the resistor R11 is a protection resistor (current limiting resistor) for the Zener diode ZD2, and the resistor R12 determines the input level of the CMOS RAM.

第2図において、システム電源Vccが4.5V以下
のときには、PNP形トランジスタQ2のエミツタ
に一定値以上の正電位が与えられないため、
信号のロー・レベル,ハイ・レベルに関係なく、
トランジスタQ2はオフとなり、そのコレクタ電
位をほゞアース電位にする。したがつて、CMOS
RAMに入力されるCE信号はロー・レベルとな
り、メモリ非能動状態にする。一方、システム電
源Vccが4.5V〜5.5Vで、かつ信号がロー・レ
ベルのときには、ツエナ電圧を越えるためツエ
ナ・ダイオードZD2がオンし、PNP形トランジ
スタQ2のベースに適正な電圧が与えられるた
め、トランジスタQ2がオンとなり、そのコレク
タ電位をハイ・レベルにする。したがつて、
CMOS RAMに入力されるCE信号はハイ・レベ
ルとなり、メモリを能動状態にする。
In FIG. 2, when the system power supply V cc is 4.5V or less, a positive potential above a certain value is not applied to the emitter of the PNP transistor Q2.
Regardless of the low level or high level of the signal,
Transistor Q2 is turned off, bringing its collector potential to approximately ground potential. Therefore, CMOS
The CE signal input to the RAM becomes low level, making the memory inactive. On the other hand, when the system power supply V cc is 4.5V to 5.5V and the signal is low level, the Zener diode ZD2 turns on because it exceeds the Zener voltage, and an appropriate voltage is applied to the base of the PNP transistor Q2. , transistor Q2 is turned on and its collector potential becomes high level. Therefore,
The CE signal input to CMOS RAM goes high, making the memory active.

この場合、システム電源Vccが4.5Vを越えてい
るときに、信号がハイ・レベルに確定してい
れば、ツエナ電圧に達しないため、ツエナ・ダイ
オードZD2はオフ状態にあり、トランジスタQ
2のベースに適当な電圧が与えられないため、ト
ランジスタQ2はオフとなり、そのコレクタ電位
をロー・レベルにする。したがつて、メモリの内
容が破壊されることはない。なお、システムの論
理回路が4.5V〜5.5Vで設計されていれば、4.5V
のときに信号を確実にハイ・レベルにするこ
とができるのは勿論である。
In this case, if the signal is determined to be high level when the system power supply V cc exceeds 4.5V, the zener diode ZD2 is in the off state because the zener voltage is not reached, and the transistor Q
Since an appropriate voltage is not applied to the base of transistor Q2, transistor Q2 is turned off, bringing its collector potential to a low level. Therefore, the contents of memory are not destroyed. In addition, if the system logic circuit is designed for 4.5V to 5.5V, 4.5V
Of course, the signal can be reliably brought to a high level when .

また、第2図におけるダイオードD2は、シス
テム電源(Vcc+VF)から電池(BAT1)に電
流を流さないようにするものであり、ダイオード
D1は電池(BAT1)からシステム電源(Vcc
F)に電流を流さないようにするものである。
Further, diode D2 in FIG. 2 prevents current from flowing from the system power supply (V cc +V F ) to the battery (BAT1), and diode D1 prevents current from flowing from the battery (BAT1) to the system power supply (V cc +
This prevents current from flowing through V F ).

第2図においては、第1図の従来の回路と比較
すれば明らかなように、2入力ノア・ゲートNを
設けなくてよいため、素子数が少なくなる。さら
に、2入力ノア・ゲートNを設けず、回路構成も
簡単になつているので、洩れ電流は少なく、無駄
な電力消費が少ない。したがつて、CMOSRAM
の電池によるバツクアツプが、有効に行われる。
In FIG. 2, as is clear from the comparison with the conventional circuit of FIG. 1, the number of elements is reduced because there is no need to provide a two-input NOR gate N. Furthermore, since the two-input NOR gate N is not provided and the circuit configuration is simplified, leakage current is low and wasteful power consumption is low. Therefore, CMOSRAM
Backup using batteries is effectively performed.

以上説明したように、本考案によれば、少ない
素子を用いて、システム電源のオン・オフ時に起
る偶発的な書き込み信号からメモリ内容を保護す
ることができ、かつ洩れ電流が少ないので、電池
のバツクアツプ時間を長くできる。
As explained above, according to the present invention, it is possible to protect the memory contents from accidental write signals that occur when the system power is turned on and off using a small number of elements, and since the leakage current is small, the battery backup time can be increased.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のメモリ保護回路の構成図、第2
図は本考案の実施例を示すメモリ保護回路の構成
図である。 N……2入力ノア・ゲート、Q1,Q2……ト
ランジスタ、ZD1,ZD2……ツエナ・ダイオー
ド、CE……チツプ・イネーブル信号、Vcc……
電源電圧。
Figure 1 is a configuration diagram of a conventional memory protection circuit;
The figure is a block diagram of a memory protection circuit showing an embodiment of the present invention. N...2-input NOR gate, Q1, Q2...transistor, ZD1, ZD2...Zena diode, CE...chip enable signal, Vcc ...
Power-supply voltage.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 電源電圧があらかじめ定めた最低電圧を越えた
とき導通して、チツプ・イネーブル出力信号をメ
モリに直接供給するPNP形トランジスタ、および
該PNP形トランジスタのベースと上記電源電圧を
抵抗を介して一方の端子に、かつチツプ・イネー
ブル入力信号を他方の端子に、それぞれ接続する
ツエナ・ダイオードを具備することを特徴とする
メモリ保護回路。
A PNP type transistor that conducts when the power supply voltage exceeds a predetermined minimum voltage and supplies a chip enable output signal directly to the memory, and connects the base of the PNP type transistor and the above power supply voltage to one terminal through a resistor. and a chip enable input signal connected to the other terminal of the memory protection circuit.
JP5049881U 1981-04-08 1981-04-08 Expired JPS6234359Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5049881U JPS6234359Y2 (en) 1981-04-08 1981-04-08

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JP5049881U JPS6234359Y2 (en) 1981-04-08 1981-04-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57166229U JPS57166229U (en) 1982-10-20
JPS6234359Y2 true JPS6234359Y2 (en) 1987-09-02

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ID=29847214

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JP5049881U Expired JPS6234359Y2 (en) 1981-04-08 1981-04-08

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