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JPS6226778B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6226778B2
JPS6226778B2 JP1379279A JP1379279A JPS6226778B2 JP S6226778 B2 JPS6226778 B2 JP S6226778B2 JP 1379279 A JP1379279 A JP 1379279A JP 1379279 A JP1379279 A JP 1379279A JP S6226778 B2 JPS6226778 B2 JP S6226778B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
elements
delay
circuits
multiplexer
multiplexers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1379279A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS55106141A (en
Inventor
Seiji Oomori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP1379279A priority Critical patent/JPS55106141A/en
Publication of JPS55106141A publication Critical patent/JPS55106141A/en
Publication of JPS6226778B2 publication Critical patent/JPS6226778B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は超音波診断装置に関し、特に超音波
ビームを電子的に制御して走査する電子走査形の
超音波診断装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus, and more particularly to an electronic scanning type ultrasonic diagnostic apparatus that electronically controls and scans an ultrasonic beam.

超音波診断装置は患者の体内の所定断層面内を
超音波ビームで走査し、体内各位置からのエコー
を受信して、そのエコー信号の強度に応じて輝度
変調を行ない、表示面における反射点に対応する
位置に輝点として表示することにより断層像を得
るものである。走査方式として典型的には超音波
ビームを平行に走査するリニア形あるいは扇形に
走査するセクタ形があり、従来の装置はいずれか
の走査方式のみを行なうものとして構成されてい
る。第1図にリニア走査形の装置の概略を示す。
この図で1は#1、#2…、#nk(nおよびk
は正の整数)の多数の超音波トランスデユーサ・
エレメントを1列に配してなるアレイ・トランス
デユーサである。マルチプレクサ2で一定個数
(例えばk個)のエレメントを順次選択し、受波
の場合には焦点用の遅延回路3を経て各エレメン
トからのエコー信号を加算回路4で加算する。送
波の場合も同様であり、遅延回路3は送信信号の
焦点用の遅延回路として働く。
Ultrasonic diagnostic equipment scans a predetermined tomographic plane within a patient's body with an ultrasound beam, receives echoes from various locations within the body, performs brightness modulation according to the intensity of the echo signal, and detects reflection points on the display surface. A tomographic image is obtained by displaying a bright spot at a position corresponding to the bright spot. Typical scanning methods include a linear type in which the ultrasonic beam is scanned in parallel or a sector type in which the ultrasonic beam is scanned in a fan shape, and conventional apparatuses are configured to perform only one of the scanning methods. FIG. 1 shows an outline of a linear scanning type device.
In this figure, 1 is #1, #2..., #nk (n and k
is a positive integer)
This is an array transducer with elements arranged in one row. A multiplexer 2 sequentially selects a fixed number (for example, k) of elements, and in the case of reception, echo signals from each element are added together in an adder circuit 4 via a focus delay circuit 3. The same applies to the case of wave transmission, and the delay circuit 3 works as a delay circuit for focusing the transmission signal.

第2図はセクタ形走査方式の構成を説明するた
めの図である。この図で1は第1図と同じくアレ
イ・トランスデユーサ、3は焦点用遅延回路であ
る。51〜5kは偏向用遅延回路であり、#1の
エレメントからのエコー信号はk個の遅延回路5
1〜5kを経るので最も遅れ、#kのエレメント
からのエコー信号は1個の遅延回路5kを経るの
みであるので最もその遅れが少ない。このように
順次遅れ時間を変えることにより、送波時及び受
波時の合成波面が傾いて所定の角度偏向させるこ
とができる。遅延回路51〜5kはそれぞれ可変
遅延形のもので構成されており、遅延時間を1
本、1本の超音波ビーム毎に変えることにより異
なる角度に偏向された超音波ビームが得られセク
タ走査が行なわれる。
FIG. 2 is a diagram for explaining the configuration of the sector type scanning method. In this figure, 1 is an array transducer as in FIG. 1, and 3 is a focusing delay circuit. 51 to 5k are deflection delay circuits, and the echo signal from the #1 element is sent to k delay circuits 5.
The echo signal from element #k passes through only one delay circuit 5k, so it has the least delay. By sequentially changing the delay time in this manner, the composite wavefront at the time of wave transmission and wave reception can be tilted and deflected by a predetermined angle. Each of the delay circuits 51 to 5k is of a variable delay type, and the delay time is set to 1.
By changing the angle for each ultrasonic beam, ultrasonic beams deflected at different angles are obtained and sector scanning is performed.

更に最近コンパウンド形と称される走査方式が
提案されている。これは第3図に示すように所定
角度偏向した超音波ビームを平行に順次発射して
1フイールドを終わり、次の1フイールドでは異
なる角度に偏向させて平行に走査して行くと云う
もので、いわば従来のセクタ形とリニア形とを組
み合せたものとなつている。
Furthermore, recently a scanning method called a compound type has been proposed. As shown in Figure 3, this method involves emitting ultrasonic beams deflected at a predetermined angle in parallel in sequence to complete one field, and in the next field, the beams are deflected at a different angle and scanned in parallel. In other words, it is a combination of the conventional sector type and linear type.

本発明は上記のリニア形、セクタ形及びコンパ
ウンド形のいずれの方式の走査をも1台の装置で
行ない得る、多目的化された電子走査形の超音波
診断装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a multi-purpose electronic scanning ultrasonic diagnostic apparatus that can perform any of the above-mentioned linear, sector, and compound scanning methods with a single device.

以下、本発明の1実施例について第4図を参照
しながら説明する。第4図において、マルチプレ
クサ21は#1、#k+1、#2k+1、…、
#(n−1)k+1のn個のエレメントの1個を
選択するよう接続されている。同様にマルチプレ
クサ22は#2、#k+2、…、#(n−1)k
+2のn個に接続され、マルチプレクサ2kは
#k、#2k、…、#nkのn個のエレメントに接
続されている。このk個のマルチプレクサ21〜
2kの出力端子はそれぞれ遅延回路611〜61
kに接続されている。この遅延回路は段階的に遅
延時間が選べるタツプ付の遅延回路であり、各タ
ツプはマルチプレクサ711〜71kに接続され
ている。このマルチプレクサ711〜71kによ
つて選択されたタツプの信号が同様のタツプ付遅
延回路621〜62kに送られる。この遅延回路
621〜62kの各タツプはマルチプレクサ72
1〜72kによつて選択される。こうして遅延さ
れた各エコー信号は加算回路4を経て出力され
る。なお、第4図は受波時の構成を示している
が、送波時も同様であり、1個の駆動パルスを遅
延回路611〜61k,621〜62kでk通り
に遅延させて選択されたk個のエレメントに送る
よう構成すればよい。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 4, the multiplexers 21 are #1, #k+1, #2k+1,...
#(n-1) Connected to select one of k+1 n elements. Similarly, the multiplexer 22 is #2, #k+2,..., #(n-1)k
+2, and the multiplexer 2k is connected to n elements #k, #2k, . . . , #nk. These k multiplexers 21~
The 2k output terminals are delay circuits 611 to 61, respectively.
connected to k. This delay circuit is a delay circuit with taps in which the delay time can be selected in stages, and each tap is connected to multiplexers 711-71k. The tap signals selected by the multiplexers 711-71k are sent to similar delay circuits 621-62k with taps. Each tap of the delay circuits 621 to 62k is connected to a multiplexer 72.
Selected from 1 to 72k. Each echo signal thus delayed is outputted via the adder circuit 4. Although FIG. 4 shows the configuration when receiving waves, the configuration is the same when transmitting waves, and one drive pulse is delayed and selected in k ways by delay circuits 611 to 61k and 621 to 62k. The configuration may be such that it is sent to k elements.

遅延回路611〜61k及び遅延回路621〜
62kは例えば16個のタツプを持つ遅延線からな
る。遅延回路611〜61kのタツプ当りの遅延
時間をQとして、遅延回路621〜62kのタツ
プ当りの遅延時間を15Qとする。するとマルチプ
レクサ711〜71k,721〜72kにより量
子化遅延時間Qの256通りの遅延時間が得られる
ことになる。マルチプレクサ711,721はカ
ウンタ81によつて制御され、マルチプレクサ7
12,722はカウンタ82によつて制御され
る。マルチプレクサ71k,72kはカウンタ8
kにより制御され、他のマルチプレクサも対応す
るカウンタにより同様に制御される。ここでカウ
ンタ81〜8kをそれぞれ8ビツトカウンタで構
成し、その出力の下位桁4ビツトをマルチプレク
サ711〜71kのそれぞれに送り、上位桁4ビ
ツトをマルチプレクサ721〜72kに送つて遅
延時間の選択指令とする。カウンタ81〜8kの
各計数値はシフトレジスタ10によつて制御され
るゲート91〜9kのそれぞれを経て送られてき
たカウントアツプパルスの計数値である。
Delay circuits 611-61k and delay circuits 621-
62k consists of a delay line with, for example, 16 taps. It is assumed that the delay time per tap of the delay circuits 611 to 61k is Q, and the delay time per tap of the delay circuits 621 to 62k is 15Q. Then, 256 delay times of the quantization delay time Q are obtained by the multiplexers 711 to 71k and 721 to 72k. Multiplexers 711 and 721 are controlled by counter 81, and multiplexer 7
12,722 is controlled by counter 82. Multiplexers 71k and 72k are counters 8
k, and the other multiplexers are similarly controlled by corresponding counters. Each of the counters 81 to 8k is configured with an 8-bit counter, and the lower 4 bits of the output are sent to each of the multiplexers 711 to 71k, and the higher digit 4 bits are sent to the multiplexers 721 to 72k to issue a delay time selection command. do. Each count value of the counters 81 to 8k is a count value of a count up pulse sent through each of gates 91 to 9k controlled by the shift register 10.

つぎに動作についてリニア形走査の場合から説
明する。この場合にはあらかじめシフトレジスタ
10によりゲート91〜9kを制御して、焦点用
遅延時間のデータを計数値としてカウンタ81〜
8kに入力しておく。あるフイールドの最初には
エレメント#1〜#kが選択されており、このk
個のエレメントが駆動されて1本の超音波ビーム
が得られる。この超音波ビームの走査が終わる
と、つぎにマルチプレクサ21にシフトパルスが
送られ、マルチプレクサ21はエレメンテ#k+
1を選択する。したがつてマルチプレクサ22,
23,…、2k,21により#2〜#k+1のk
個のエレメントが選択されたことになる。そして
この時、同時にカウンタ81,82,…,8kに
保持されていた計数値はカウンタ81のものはカ
ウンタ82へ、カウンタ82のものはカウンタ8
3へ、…、カウンタ8kのものはカウンタ81へ
と移行される。したがつてこの時、エレメント
#2〜#k+1のk個のエレメントより1本の超
音波ビームが形成されることになる。以上の操作
を繰り返すとリニア形の走査が行なえる。
Next, the operation will be explained starting from the case of linear scanning. In this case, the shift register 10 controls the gates 91 to 9k in advance, and the counters 81 to 9k use the data of the focus delay time as a count value.
Enter it in 8k. Elements #1 to #k are selected at the beginning of a certain field, and this k
The elements are driven to obtain one ultrasonic beam. When the scanning of this ultrasonic beam is completed, a shift pulse is sent to the multiplexer 21, and the multiplexer 21
Select 1. Therefore multiplexer 22,
23,..., 2k, 21 for k from #2 to #k+1
This means that 1 element has been selected. At this time, the counted values held in the counters 81, 82, . . .
3, the counter 8k is transferred to the counter 81. Therefore, at this time, one ultrasonic beam is formed from k elements #2 to #k+1. By repeating the above operations, linear scanning can be performed.

つぎにセクタ形の走査について説明する。この
場合、まずマルチプレクサ21〜2kにより例え
ば#1〜#kのk個のエレメントが選択されてい
るものとする。マルチプレクサ21〜2kはこの
状態を維持し、#1〜#kのエレメントのみが用
いられる。ここであるフイールドにおいて右方向
に所定角度偏向した1本の超音波ビームをk個の
前記のエレメントから形成する場合について述べ
る。この場合には、まずシフトレジスタ10の右
方向のシリアル入力端子に+5Vを加え、この入
力が常に“1”になるようにする。そして右方向
にシフトせよと云うシフトライトの信号を加えて
おく。この状態でカウントアツプパルスを加え
る。最初はゲート91〜9kの総てが開かれてい
るため、カウンタ81〜81kの総てが計数を行
なう。カウンタ81に所定の計数が行なわれたと
き、シフトクロツクをシフトレジスタ10に送つ
てゲート91を閉じる。更にゲート92〜9kは
開かれているためカウンタ82〜8kに計数が行
われてゆき、カウンタ82が所定の計数値に達し
たとき、次のシフトクロツクを送つてシフトレジ
スタ10において入力された“1”をシフトさせ
てゲート92も閉じる。このようにして順次ゲー
トを閉じてゆき、カウンタ81〜8kにそれぞれ
必要な偏向用遅延時間及び焦点用遅延時間に対応
する計数値を保持させる。総てのカウンタ81〜
8kが計数完了した状態ではカウンタ81の計数
値が最も小さく、カウンタ82,83,…と大き
くなり、カウンタ8kが最大値をとる。こうして
カウンタ81〜8kに保持された計数値に対応す
る遅延時間が各エレメントからのエコー信号に加
えられて、右方向に所定角度偏向した1本の超音
波ビームが形成されることになる。つぎに偏向角
度の異なる超音波ビームを形成する場合には、カ
ウンタ81〜8k及びシフトレジスタ10はいつ
たんクリアされ、偏向角度に対応する偏向用およ
び焦点用遅延時間の計数値が各カウンタ81〜8
kに保持されるよう上記と同様の動作が行なわれ
る。このようにして偏向角度の異なる超音波ビー
ムの1本ずつについてカウンタ81〜8kの計数
値を変えて行くことによりセクタ形の走査が行な
われる。なお反対方向(例えば左方向)に偏向さ
せる場合には、シフトレジスタ10の左方向のシ
リアル入力を“1”としシフトレフトの指令を与
えればよい。
Next, sector-type scanning will be explained. In this case, it is assumed that, for example, k elements #1 to #k are selected by the multiplexers 21 to 2k. Multiplexers 21 to 2k maintain this state, and only elements #1 to #k are used. Here, a case will be described in which one ultrasonic beam deflected by a predetermined angle to the right in a certain field is formed from the k elements described above. In this case, first, +5V is applied to the right serial input terminal of the shift register 10 so that this input is always "1". Then add a shift light signal that tells you to shift to the right. Add a count-up pulse in this state. Initially, all gates 91-9k are open, so all counters 81-81k perform counting. When the counter 81 has counted a predetermined value, a shift clock is sent to the shift register 10 and the gate 91 is closed. Further, since the gates 92 to 9k are open, the counters 82 to 8k continue to count, and when the counter 82 reaches a predetermined count value, the next shift clock is sent and the "1" input in the shift register 10 is counted. ” and closes the gate 92. In this way, the gates are sequentially closed, and the counters 81 to 8k are made to hold count values corresponding to the necessary deflection delay time and focus delay time, respectively. All counters 81~
When the counter 8k has completed counting, the count value of the counter 81 is the smallest, and the count value of the counters 82, 83, . . . becomes larger, and the counter 8k takes the maximum value. In this way, a delay time corresponding to the count value held in the counters 81 to 8k is added to the echo signal from each element, and one ultrasonic beam deflected to the right by a predetermined angle is formed. Next, when forming ultrasonic beams with different deflection angles, the counters 81 to 8k and the shift register 10 are cleared once, and the count values of the deflection and focus delay times corresponding to the deflection angles are stored in the respective counters 81 to 8k. 8
The same operation as above is performed to maintain the value k. In this way, sector-shaped scanning is performed by changing the counts of the counters 81-8k for each ultrasonic beam having a different deflection angle. In addition, when deflecting in the opposite direction (for example, leftward), the leftward serial input of the shift register 10 may be set to "1" to give a shift left command.

コンパウンド形の走査を行なう場合には、前記
のセクタ形の走査の場合と同様に、カウンタ81
〜8kに偏向用遅延延時間及び焦点用遅延時間に
対応する計数値を保持させておく。そしてリニア
形の走査の場合と同様にマルチプレクサ21〜2
kに順次シフトクロツクを送つて最初#1〜
#k、つぎに#2〜#k+1…と選択されるエレ
メントを1つずつずらして行く。そして、これと
同時にカウンタ81〜8kの各計数値をカウンタ
81のものはカウンタ82に、カウンタ82のも
のはカウンタ83にと1つずつずらす。こうして
ある一定の角度に偏向したままその角度に平行な
超音波ビームが次々に形成されて行つて1フイー
ルドが終了する。次のフイールドではカウンタ8
1〜8k及びシフトレジスタ10を1たんクリア
して、他の偏向角度に対応する偏向用遅延時間及
び焦点用遅延時間の計数値をカウンタ81〜8k
に保持させる。そして同様に先のフイールドとは
異なる角度偏向した超音波ビームを次々に平行に
形成して行つて、次のフイールドが終わる。この
ようにしてコンパウンド形の走査が行なわれる。
When performing compound type scanning, the counter 81
~8k is made to hold count values corresponding to the deflection delay time and the focus delay time. Then, as in the case of linear scanning, multiplexers 21 to 2
Send the shift clock to k sequentially and start #1~
The elements to be selected are shifted one by one from #k, then from #2 to #k+1, and so on. At the same time, the count values of the counters 81 to 8k are shifted one by one from the counter 81 to the counter 82 and from the counter 82 to the counter 83. In this way, ultrasonic beams parallel to a certain angle are formed one after another while being deflected at a certain angle, and one field ends. Counter 8 in next field
1 to 8k and the shift register 10 are cleared once, and the counted values of the deflection delay time and focus delay time corresponding to other deflection angles are stored in the counters 81 to 8k.
hold it. Similarly, ultrasonic beams deflected at different angles from those in the previous field are successively formed in parallel, and the next field ends. In this way, a compound type scan is performed.

以上、実施例について説明したように、本発明
の超音波診断装置は、n及びkを正の整数とする
とき、nk個の超音波トランスデユーサ・エレメ
ントよりなるアレイ・トランスデユーサと、第1
番目、第k+1番目、…、第(n−1)k+1番
目のn個のエレメントのうち1個を選択する第1
のマルチプレクサ(第4図では21)と、第2番
目、第k+2番目、…、第(n−1)k+2番目
のn個のエレメントのうちの1個を選択する第2
のマルチプレクサ(同22)と、同様にしてn個
のエレメントのうちの1個を選択する第3〜第k
のマルチプレクサ(同23〜2k)と、上記k個
のマルチプレクサにより選択されたk個のエレメ
ントに関する遅延時間のデータを保持する書き換
え可能なk個の記憶回路(実施例ではカウンタ8
1〜8k)と、前記k個のマルチプレクサのそれ
ぞれに接続され前記k個の記憶回路のそれぞれの
データに基づいて遅延時間が定められるk個の遅
延回路(実施例では遅延回路611,621〜6
1k,62kのk組の遅延回路)と、前記k個の
記憶回路のそれぞれに遅延時間に関するデータを
書き込むための制御を行なうとともに前記記憶回
路のそれぞれの内容を他の記憶回路に移し換える
制御をする記憶回路の制御回路(実施例ではシフ
トレジスタ10)とを有してなるので、1台の超
音波診断装置でリニア、セクタあるいはコンパウ
ンドの各形の走査を行なうことができるため、多
目的な診断が行なえ、能率の向上及び経費の節減
を実現できる。
As described above with respect to the embodiments, the ultrasonic diagnostic apparatus of the present invention includes an array transducer consisting of nk ultrasonic transducer elements, where n and k are positive integers; 1
The first step of selecting one of the n elements of the (n-1)th, k+1st, ..., (n-1)th k+1st
(21 in FIG. 4), and a second multiplexer for selecting one of the n elements of the second, k+2, ..., (n-1) k+2.
multiplexer (22), and the third to kth multiplexers that similarly select one of the n elements.
multiplexers (23 to 2k), and k rewritable memory circuits (counter 8 in the embodiment) that hold delay time data regarding the k elements selected by the k multiplexers.
1 to 8k), and k delay circuits (in the embodiment, delay circuits 611, 621 to 6) connected to each of the k multiplexers and whose delay time is determined based on the data of each of the k storage circuits.
1k and 62k delay circuits) and the k memory circuits, respectively, and performs control to write data related to the delay time into each of the k memory circuits, and controls to transfer the contents of each of the memory circuits to other memory circuits. Since it has a control circuit (shift register 10 in the embodiment) for a storage circuit that performs a memory circuit, a single ultrasonic diagnostic device can perform linear, sector, or compound scanning, making it a versatile diagnostic tool. can be carried out, improving efficiency and reducing costs.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のリニア形走査方式の構成の概略
を示すブロツク図、第2図は従来のセクタ形走査
方式の構成の概略を示すブロツク図、第3図はコ
ンパウド形走査を説明するための概略図、第4図
は本発明の1実施例を示すブロツク図である。 1……アレイ・トランスデユーサ、2,21〜
2k,711〜71k,721〜72k……マル
チプレクサ、3……焦点用遅延回路、4……加算
回路、51〜5k……偏向用遅延回路、611〜
61k,621〜62k……タツプ付遅延回路、
81〜8k……カウンタ、91〜9k……ゲー
ト、10……シフトレジスタ。
FIG. 1 is a block diagram showing an outline of the configuration of a conventional linear scanning system, FIG. 2 is a block diagram showing an outline of a configuration of a conventional sector scanning system, and FIG. 3 is a block diagram showing an outline of a configuration of a conventional sector scanning system. FIG. 4 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. 1...Array transducer, 2, 21~
2k, 711-71k, 721-72k...multiplexer, 3...delay circuit for focus, 4...addition circuit, 51-5k...delay circuit for deflection, 611-
61k, 621~62k...delay circuit with tap,
81-8k...Counter, 91-9k...Gate, 10...Shift register.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 n及びkを正の整数とするとき、nk個の超
音波トランスデユーサ・エレメントよりなるアレ
イ・トランスデユーサと、第1番目、第k+1番
目、…、第(n−1)k+1番目のn個のエレメ
ントのうち1個を選択する第1のマルチプレクサ
と、第2番目、第k+2番目、…、第(n−1)
k+2番目のn個のエレメントのうちの1個を選
択する第2のマルチプレクサと、同様にしてn個
のエレメントのうちの1個を選択する第3〜第k
のマルチプレクサと、上記k個のマルチプレクサ
により選択されたk個のエレメントに関する遅延
時間のデータを保持する書き換え可能なk個の記
憶回路と、前記k個のマルチプレクサのそれぞれ
に接続され前記k個の記憶回路のそれぞれのデー
タに基づいて遅延時間が定められるk個の遅延回
路と、前記k個の記憶回路のそれぞれに遅延時間
に関するデータを書き込むための制御を行なうと
ともに前記記憶回路のそれぞれの内容を他の記憶
回路に移し換える制御をする記憶回路の制御回路
とを有してなる超音波診断装置。
1, where n and k are positive integers, an array transducer consisting of nk ultrasonic transducer elements, 1st, k+1st, ..., (n-1)k+1st a first multiplexer that selects one of the n elements;
a second multiplexer that selects one of the k+2th n elements; and a third to kth multiplexer that similarly selects one of the n elements;
a multiplexer, k rewritable memory circuits that hold delay time data regarding the k elements selected by the k multiplexers, and the k memory circuits connected to each of the k multiplexers. Control is performed to write data regarding the delay time into each of the k delay circuits whose delay time is determined based on the data of each of the circuits, and the k memory circuits, and the contents of each of the memory circuits are written to other memory circuits. An ultrasonic diagnostic apparatus comprising: a control circuit for a memory circuit that controls data transfer to a memory circuit;
JP1379279A 1979-02-08 1979-02-08 Ultrasoniccwave diagnosis device Granted JPS55106141A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1379279A JPS55106141A (en) 1979-02-08 1979-02-08 Ultrasoniccwave diagnosis device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1379279A JPS55106141A (en) 1979-02-08 1979-02-08 Ultrasoniccwave diagnosis device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS55106141A JPS55106141A (en) 1980-08-14
JPS6226778B2 true JPS6226778B2 (en) 1987-06-10

Family

ID=11843091

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