JPS62245600A - Data memory system using non-volatile memory - Google Patents
Data memory system using non-volatile memoryInfo
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- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 241000282461 Canis lupus Species 0.000 description 1
- 101100288554 Mus musculus Lcor gene Proteins 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 244000144972 livestock Species 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
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- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は不揮発性メモリを用いるデータ記憶方式に関す
る。本発明によるデータ記憶方式は例えば数値制御装置
、数値制御工作機械等に関して使用される数値制御プロ
グラム自動作成装置等に適用されることができる。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a data storage system using non-volatile memory. The data storage method according to the present invention can be applied to, for example, a numerical control program automatic creation device used for a numerical control device, a numerically controlled machine tool, etc.
一般に、数値制御装置、数値制御プログラム自動作成装
置等に関して、データ記憶のために用いられるメモリ装
置の一形態として電気的消去可能カプログラム可能なリ
ードオンリメモリE2FROMとスタティックランダム
アクセスメモリS、RAMを組合せた不揮発性ランダム
アクセスメモリが製造され市販されている。(例えばX
lcor社製X 2210 A )E”FROMとS、
RAMの組合せからガる不揮発性ランダムアクセスメモ
リの一例カ第3図に示される。不揮発性ランダムアクセ
スメモリ1はE”FROM2とS、RAM 3の組み合
わせからなるo S、RAM 3は外部回路4と接続さ
れている。Generally, a combination of electrically erasable programmable read-only memory E2FROM, static random access memory S, and RAM is used as a form of memory device used for data storage in numerical control devices, automatic numerical control program creation devices, etc. Non-volatile random access memories are manufactured and commercially available. (For example,
lcor X 2210 A) E”FROM and S,
An example of a nonvolatile random access memory derived from a combination of RAMs is shown in FIG. The nonvolatile random access memory 1 is composed of a combination of an E''FROM 2, an S, and a RAM 3. The RAM 3 is connected to an external circuit 4.
E”FROM2は不揮発性であ#)、 S、RAM 3
は揮発性である。外部回路からのストア信号にもとづき
S、RAMの内容はE 2FROMへとコビイされ%ま
た、外部回路からのリコール信号にもとづきE”FRO
Mの内容けS、 RAMへとコピイされる0第3図に示
される不揮発性メモリは、電源オフ時に失われては彦ら
ないデータを記憶させておくのに有用であるが、この不
揮発性メモリ[おいてはE”FROM の書換え回数の
限度を考慮する必要があり、とのことが問題点となる。E"FROM2 is non-volatile), S, RAM 3
is volatile. Based on the store signal from the external circuit, the contents of S and RAM are copied to E2FROM, and based on the recall signal from the external circuit, the contents of S and RAM are transferred to E'FROM.
Contents of M S, Copied to RAM The problem with memory is that it is necessary to take into account the limit on the number of times E"FROM can be rewritten.
すなわち、第3図の不揮発性メモリにおいて、S、RA
M3の内容全体がE”FROMNとコピイされる回数に
限界がある。S、RAM3の内容全体がE ”FROM
へとコビイされる回数をNとするとき、Nには保証値が
ある。このNの保証値はio、oooないし100.0
00である口そルてE”FROM2にコビイが行われる
とき、 E”FROM 2の各ビットにおいてデータ
が変化する回数にも限界がある口E”PROMのビット
毎の変化回数なnとするとき、nKも保証値がある。こ
のnの保証値は1.000ないし10.000である。That is, in the nonvolatile memory shown in FIG.
There is a limit to the number of times the entire contents of M3 are copied to E"FROM.The entire contents of S, RAM3 are copied to E"FROM.
When N is the number of times a player is co-opted, N has a guaranteed value. The guaranteed value of this N is io, ooo or 100.0
When a copy is performed on E"FROM2, which is 00, there is a limit to the number of times the data changes in each bit of E"FROM2.If n is the number of changes for each bit of E"PROM. , nK also have a guaranteed value. The guaranteed value of n is 1.000 to 10.000.
このように、S、RAM 3からE”PROMへのコピ
イ回数NとE”FROMのビット毎の変化回数n前述の
事情から了解されるように、第3図に示される不揮発性
メモリにおいてはE”FROM 2の書換え回数はNで
はなく比較的小なる値であるnKより規制されることに
なる口このように、E’FROM とS、RAMの組
合せからなる不揮発性メモリにおいてはE”FROM
の書換え回数の限度を考慮する必要があることが問題点
を生じさせる。In this way, as understood from the above-mentioned circumstances, the number of copies N from RAM 3 to E"PROM and the number of changes for each bit of E"FROM, n, in the nonvolatile memory shown in FIG. The number of rewrites of "FROM 2" is regulated not by N but by nK, which is a relatively small value.In this way, in a nonvolatile memory consisting of a combination of E'FROM, S, and RAM, E"FROM
A problem arises in that it is necessary to consider the limit on the number of times the data can be rewritten.
本発明は前述の問題点にかんがみ、E ” FROMと
S、RAMの組合せからなる不揮発性メモリについて、
E”FROM の書換え回数を増大させ、E”FRO
MとS、RAMの組合せからなる不揮発性メモリの利用
柱管向上させることを目的とする口
〔問題点を解決するための手段〕
本発明においては、ストア回数およびビット毎書換え回
数に予め定められた限界のある不揮発性ランダム番アク
セス・メモリであって、スタティック・ランダム・アク
セス・メモリおよび電気的に消去可能なプログラム可能
なリード・オンリ・メモリから成り、ビット毎書換え回
数の限界回数がストア回数の限界回数より小とされてい
るもの;核子揮発性ランダム・アクセス・メモリに設け
られた複数め領域につき、領域毎に該限界回数に到達し
たことを検出する手段;および、メモリ動作を一つの領
域から他の領域へと移行させる手段;を用い%該領域毎
の書換え回数が限界回数に到達したことが検出されたと
き、メモリ動作が一つの領域から他の領域へ移行させら
れるようになっていることを特徴とする不揮発性メモリ
管用いるデータ記憶方式が提供される。In view of the above-mentioned problems, the present invention provides a non-volatile memory consisting of a combination of E'' FROM and S RAM.
By increasing the number of rewrites of E"FROM,
[Means for solving the problem] In the present invention, the number of stores and the number of rewrites per bit are predetermined. non-volatile random number access memory with a limited number of bit-by-bit rewrites, consisting of static random access memory and electrically erasable programmable read-only memory; A means for detecting that the limit number of times has been reached for each region in a plurality of regions provided in the nuclear volatile random access memory; When it is detected that the number of rewrites for each area has reached a limit, the memory operation is transferred from one area to another using means for transferring from one area to another area. A data storage system using a non-volatile memory tube is provided.
本発明による不揮発性メモリ管用いるデータ記憶方式の
動作原理が第1図會参照しつつ記述される。第1図には
E”FROM とS、RAMから成る不揮発性ランダ
ム・アクセス会メモリにおけるS、RAMについて、そ
のデータ記憶状況が示されるO
8.RAMは上方から順次に、領域指示用ポインタ、領
域Hnl、領域随2、・・・・・・領域隘1(例示とし
て1=10とする)?有する1域随1は最上部のストア
回数カウント1ml、および下方のデータ部分Malか
ら成る。領域凰2〜Malについても同様である。w1
図の左側に示される数字0.l。The operating principle of the data storage system using non-volatile memory tubes according to the present invention will be described with reference to FIG. Figure 1 shows the data storage status of S and RAM in a non-volatile random access memory consisting of E''FROM and S and RAM. Hnl, area 2, ... area 1 (as an example, 1=10)? 1 area 1 consists of the store count 1ml at the top and the data part Mal at the bottom.Area 凰The same applies to 2~Mal.w1
The number 0 shown on the left side of the diagram. l.
2・・・・・・10は8.RAMのアドレスをあられす
。2...10 is 8. Please give me the RAM address.
最初の記憶状態として、領域指示用ポインタにrlJ’
f−、領域P&Llのストア回数カウントl&LJに「
lJを、領域1mlのデータ部分1mlに記憶すべきデ
ータ管書込み、他の領域にはすべて「0」を書込む。領
域指示用ポインタの「l」はデータが書込まれているの
は領域Nllであることを示し、カウントtalの「l
」は書込み回数が1回であることを示すり
前述のように記憶されているS、RAM のデータを、
外部回路からのストア信号によりE”PROMh、移し
て記憶させる。As the initial storage state, rlJ' is set to the area specifying pointer.
f-, store number count l&LJ of area P&Ll is ``
Write lJ to the data tube to be stored in 1 ml of the data portion of the 1 ml area, and write "0" to all other areas. "l" in the area designation pointer indicates that the data is written in area Nll, and "l" in the count tal indicates that the data is written in area Nll.
” indicates that the number of writes is once, and the data in the S RAM stored as described above is
E''PROMh is moved and stored by a store signal from an external circuit.
次に、このような配憶状態にあるE”FROMのデータ
を変更するにあたっては、19.RAMのストア回数カ
ウントWolfプラス1し、領域NILlのデータ部分
mlのデータを変更しこれをE2PROMへ移して記憶
させる。このとき、S、RAM の領域部lのストア回
数カウントml、データ部分Nil以外の領域のデータ
の変更は行われない口それゆえ、これらに対応する領域
のE2FROMのデータは変化し々い口
このようにして順次、前述の動作が行われ。Next, to change the data in E"FROM that is in such a storage state, 19. Increase the RAM store count Wolf by 1, change the data in the data portion ml of area NILl, and move it to E2PROM. At this time, the data in areas other than S, the store count ml in area l of RAM, and the data area Nil are not changed.Therefore, the data in E2FROM in the area corresponding to these is not changed. The above-mentioned operations are performed one after another in this way.
S、RAMの領域miのストア回数カウントが増大し、
限界回数nに到達する口限界回数nに到達した次の回に
データを変更するときは、S、RAMの領域WL1はも
はや使用せず、領域N12’r使用する口これを行うた
め、領域指示用ポインタ?rlJから「2」に変更し、
領域N12のストア回数カウント醜2’i) r OJ
から「1」に変更し、データ部分1a2にデータを書込
む口そして、この8.RAMのデータをE”FROMへ
移して記憶させる。S, the number of stores in the RAM area mi increases,
When the limit number of times n is reached When data is changed the next time after reaching the limit number of times n, S, RAM area WL1 is no longer used, and area N12'r is used. Pointer for? Change from rlJ to "2",
Store count of area N12 Ugly 2'i) r OJ
8. to "1" and write data to the data portion 1a2. Move the data in RAM to E''FROM and store it.
領域Ha2のストア回数カランFが限界回数nに到達し
た後は領域813の使用を開始する◎以下同様に、領域
部3、領域部4・・・・・・領域N[Liの使用へ移行
する、
このようにすることにより、E”FROM のビタト
毎の書換え回数が限界回数nに制限されつつ、E”FR
OM の書換え回数はnX14で増大させられる。も
ちろんnXiの値はNの値を超えることはできかい。After the number of stores F in the area Ha2 reaches the limit number n, use of the area 813 is started ◎Similarly, area part 3, area part 4......Move to use of area N[Li By doing this, the number of rewrites for each bit of E"FROM is limited to the limit number n, while E"FR
The number of rewrites of OM is increased by nX14. Of course, the value of nXi cannot exceed the value of N.
なお、前述の動作中において、S、RAMtたはE”F
ROM に記憶されているデータを使用する場合または
変更する場合は、まず領域指示用ポインタを点検し、現
在どの領域が使用されていること全検出した上で行うこ
とになる。Note that during the above operation, S, RAMt or E”F
When using or changing the data stored in the ROM, first check the area designating pointer to fully detect which area is currently being used.
本発明の実施例においては、第3図に示される形式のE
!FROM とS、RAMから成る不揮発性ランダム
アクセスメモリに前述の本発明の原理が適用される。E
2PROM およびisRAMにおけるピット毎書換
え回数の限界回数(n+はストア回数の限界回数Nより
小である。E2FROMまたはS、RAMに設けられた
複数の領域(ml 、m2・・・・・・NILl)につ
き、領域毎に骸限界回数(n)に到達したことを検出す
る手段が設けられる。ま71c、メモリ動作’に1つの
領域から他の領域へと(例えば領域NQIから領域m2
へと)移行させる手段が設けられる0以上にもとづき、
領域毎の書換え回数が限界回数に到達したことが検出さ
れたとき、メモリ動作が1つの領域から他の領域へと(
例えば領域mlから領域部2へと)移行する〇
前述の本発明の実施例におけるS、RAMまたはE”P
RO[ついての動作のフローチャートの例が11E2図
に示される。まずステリブSOIにおいてS、RAMの
アドレスO1のポインタの内容は何であるかを判定する
p判定結果が1,2・・・・・・、]0のいずれかとな
るに対応してステップSll。In an embodiment of the invention, an E of the form shown in FIG.
! The principles of the present invention described above are applied to a nonvolatile random access memory consisting of FROM, S, and RAM. E
The limit number of rewrites per pit in 2PROM and isRAM (n+ is smaller than the limit number N of stores).For multiple areas (ml, m2...NILl) provided in E2FROM or S, RAM , a means is provided for detecting that the limit number of times (n) has been reached for each area.Also, in 71c, a memory operation is performed from one area to another (for example, from area NQI to area m2).
Based on 0 or more provided with means for transitioning (to),
When it is detected that the number of rewrites per area has reached the limit, the memory operation is changed from one area to another (
For example, from area ml to area 2)
An example flowchart of the operation for RO is shown in Figure 11E2. First, in the sterib SOI, step Sll is performed in response to the p determination result of determining the content of the pointer at the address O1 of S and RAM being either 1, 2, . . . , ]0.
S12.・・・・・・5JOIのいずれかへ進む。例え
ば判定結果がlであるときはデータが領域la1に格納
されていることを示しており、ステップSIXにおいて
領域11L1のアドレス2〜lOのデータの書換えが行
われる。次いでステップ812において領域lのアドレ
スlのストア回数カウント1ali+1する。次いでス
テップ813においてストア信号を入力し、 S、 R
AMのデータをE”FROMへ移す0次いでステップ8
14においてS、 RAMの領域lのアドレスlのスト
ア回数カウントがnとなったかどうか?判定する。まだ
nに達していないときはリターンし、nに達したときは
ステップSO2へ進み、S、RAMのアドレス0のポイ
ンタ?+IL、使用する領域を領域miから領域部2へ
進める。次いでステップ803においてS、RAMのア
ドレス0のポインタが10を超えたかどうかを判定する
Oまだ1G’lj−超えていかいときはリターンし、l
Oを超えたときはステップS05へ進み、アラーム表示
を行う。S12. ...Proceed to one of the 5 JOIs. For example, when the determination result is 1, this indicates that the data is stored in the area la1, and in step SIX the data at addresses 2 to 10 in the area 11L1 is rewritten. Next, in step 812, the number of stores of address l in area l is counted by 1ali+1. Then, in step 813, a store signal is input, and S, R
Transfer AM data to E”FROM 0 then step 8
14, S, whether the store count of address l in area l of RAM has reached n? judge. If n has not yet been reached, return; if n has been reached, proceed to step SO2; S, RAM address 0 pointer? +IL, advance the area to be used from area mi to area section 2; Next, in step 803, S determines whether the pointer at address 0 in the RAM has exceeded 10. If it still exceeds 1G'lj-, return and return l.
If it exceeds O, the process advances to step S05 and an alarm is displayed.
とのように第1図、第3図によってあられされる本発明
によるデータ記憶方式においては、不揮発性ランダムア
クセスメモリの容量に比べて、記憶すべきデータ量が小
である場合に、E”FROMの各ビットの書換え限度回
数nが守られながら、E2PROMの書換え回数をnX
1(ここにiはS、RAMまたはE2FROM の領域
の数である)まで増大させることができる。この場合、
S、RAMからE2PROMへのストアの限度回数Nに
ついて、N≧nXiという条件が存在するり
〔発明の効果〕
本発明によれば、E2FROMとS、RAMの組合せか
らなる不揮発性メモリについて、E2PROMの畜換え
回数が増大させられ% E ” F ROMとS、RA
Mの組合せからなる不揮発性メモリの利用性を向上させ
ることができる。In the data storage system according to the present invention as shown in FIGS. 1 and 3, when the amount of data to be stored is small compared to the capacity of the nonvolatile random access memory, E"FROM The number of times the E2PROM can be rewritten is set to nX while the maximum number of rewrites of each bit of
1 (where i is the number of S, RAM or E2FROM regions). in this case,
Regarding the limit number N of stores from S, RAM to E2PROM, the condition N≧nXi exists. [Effects of the Invention] According to the present invention, for a nonvolatile memory consisting of a combination of E2FROM and S, RAM, The number of livestock changes is increased and % E” F ROM and S, RA
It is possible to improve the usability of a nonvolatile memory made up of M combinations.
第1図は本発明による不揮発性メモリを用いるデータ記
憶方式の動作原理を説明する図、γ2図は本発明の実施
例に2けるS、RAMまたはE2FROM について
の動作の流れケ示す図、第3図はS、RAMとE 2F
ROMの組合せからなる不揮発性ランダム・アクセス・
メモリを示−rdである。
第1図FIG. 1 is a diagram explaining the operating principle of a data storage system using non-volatile memory according to the present invention, γ2 diagram is a diagram showing the operation flow for S, RAM or E2FROM in the second embodiment of the present invention, and FIG. The diagram shows S, RAM and E 2F
Non-volatile random access system consisting of a combination of ROMs
The memory is -rd. Figure 1
Claims (1)
限界のある不揮発性ランダム・アクセス・メモリであっ
て、スタティック・ランダム・アクセス・メモリおよび
電気的に消去可能なプログラム可能なリード、オンリ・
メモリから成り、ビット毎書換え回数の限界回数がスト
ア回数の限界回数より小とされているもの; 該不揮発性ランダム・アクセス・メモリに設けられた複
数の領域につき、領域毎に該限界回数に到達したことを
検出する手段:および、 メモリ動作を一つの領域から他の領域へと移行させる手
段;を用い、該領域毎の書換え回数が限界回数に到達し
たことが検出されたとき、メモリ動作が一つの領域から
他の領域へ移行させられるようになっていることを特徴
とする不揮発性メモリを用いるデータ記憶方式。[Claims] Non-volatile random access memory with predetermined limits on the number of stores and the number of rewrites per bit, comprising static random access memory and electrically erasable programmable read. , only
consisting of a memory in which the limit number of bit-by-bit rewrites is smaller than the limit number of stores; the limit number of times is reached for each area of multiple areas provided in the non-volatile random access memory; When it is detected that the number of rewrites for each area has reached the limit number, the memory operation is performed using means for detecting that the memory operation has been performed from one area to another area; A data storage system using non-volatile memory characterized in that it can be migrated from one area to another.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61087197A JPS62245600A (en) | 1986-04-17 | 1986-04-17 | Data memory system using non-volatile memory |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61087197A JPS62245600A (en) | 1986-04-17 | 1986-04-17 | Data memory system using non-volatile memory |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62245600A true JPS62245600A (en) | 1987-10-26 |
Family
ID=13908251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61087197A Pending JPS62245600A (en) | 1986-04-17 | 1986-04-17 | Data memory system using non-volatile memory |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62245600A (en) |
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-
1986
- 1986-04-17 JP JP61087197A patent/JPS62245600A/en active Pending
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