JPS62234129A - 液晶素子 - Google Patents
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- JPS62234129A JPS62234129A JP7670486A JP7670486A JPS62234129A JP S62234129 A JPS62234129 A JP S62234129A JP 7670486 A JP7670486 A JP 7670486A JP 7670486 A JP7670486 A JP 7670486A JP S62234129 A JPS62234129 A JP S62234129A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、液晶表示素子や液晶−光シャッタ等で用いる
液晶素子、特に強請’+tt性液晶を用いた液晶素子に
関し、更に詳しくは液晶分子の初期配向状態を改みする
ことにより、表示特性を改善した液晶素子に関するもの
である。
液晶素子、特に強請’+tt性液晶を用いた液晶素子に
関し、更に詳しくは液晶分子の初期配向状態を改みする
ことにより、表示特性を改善した液晶素子に関するもの
である。
[従来の技術]
強誘電性液晶分子の屈折率異方性を利用して偏光素子と
の組み合わせにより透過光線を制御する型の表示素子か
クラーク(Clark)及びラガーウオル(Lager
wal l)により提案されている(特開昭56−10
7216号公報、米国特許第4367924号明細書″
!P>。この強誘電性液晶は、一般に特定の温度域にお
いて、カイラルスメクチックC相(S@(:”)又はH
相(Smll”)を有し、この状態において、加えられ
る電界に応答して第1の光学的安定状態と第2の光学的
安定状態のいずれかを取り、且つ電界の印加のないとき
はその状態を維持する性質、すなわち双安定性を有し、
また電界の変化に対する応答も速やかてあり、高速なら
びに記憶型の表示素子としての広い利用が期待されてい
る。
の組み合わせにより透過光線を制御する型の表示素子か
クラーク(Clark)及びラガーウオル(Lager
wal l)により提案されている(特開昭56−10
7216号公報、米国特許第4367924号明細書″
!P>。この強誘電性液晶は、一般に特定の温度域にお
いて、カイラルスメクチックC相(S@(:”)又はH
相(Smll”)を有し、この状態において、加えられ
る電界に応答して第1の光学的安定状態と第2の光学的
安定状態のいずれかを取り、且つ電界の印加のないとき
はその状態を維持する性質、すなわち双安定性を有し、
また電界の変化に対する応答も速やかてあり、高速なら
びに記憶型の表示素子としての広い利用が期待されてい
る。
この双安定性を有する液晶を用いた光学変調素子か所定
の駆動特性を発揮するためには、一対の平行ノ^板間に
配ごされる液晶が、電界の印加状通とは無関係に、上記
2つの安定状態の間での変換が効果的に起るような分子
配列状態にあることが必要である。たとえば5tsC”
またはSmH”相を有する強誘電性液晶については、5
taC”またはSmH”相を有する液晶分子相か基板面
に対して垂直で、したかって液晶分子軸か基板面にほぼ
平行に配列した領域(モノドメイン)か形成される必要
がある。
の駆動特性を発揮するためには、一対の平行ノ^板間に
配ごされる液晶が、電界の印加状通とは無関係に、上記
2つの安定状態の間での変換が効果的に起るような分子
配列状態にあることが必要である。たとえば5tsC”
またはSmH”相を有する強誘電性液晶については、5
taC”またはSmH”相を有する液晶分子相か基板面
に対して垂直で、したかって液晶分子軸か基板面にほぼ
平行に配列した領域(モノドメイン)か形成される必要
がある。
ところで、強誘電性液晶の配向方法としては、−股にラ
ビング処理や斜方蒸着処理などによる一軸性配向処理を
施した配向制御膜を用いる方法か知られている。
ビング処理や斜方蒸着処理などによる一軸性配向処理を
施した配向制御膜を用いる方法か知られている。
この従来からの配向方法は、そのほとんどか双安定性を
示さないらせん構造をもつ強誘電性液晶に対するもので
あった。例えば、特開昭60−2:106:15号公報
に開示された配向方法は、双安定性を示さないらせん構
造の状態下で強誘電性液晶をラビング処理したポリイミ
ド膜によって配向制御するものであった。
示さないらせん構造をもつ強誘電性液晶に対するもので
あった。例えば、特開昭60−2:106:15号公報
に開示された配向方法は、双安定性を示さないらせん構
造の状態下で強誘電性液晶をラビング処理したポリイミ
ド膜によって配向制御するものであった。
しかしながら、前述した如きの従来の配向制御膜をクラ
ークとラガウオールによって発表された双安定性を示す
非らせん構造の強誘電性液晶に対する配向制御に適用し
た場合には、下述の如き問題点を有していた。
ークとラガウオールによって発表された双安定性を示す
非らせん構造の強誘電性液晶に対する配向制御に適用し
た場合には、下述の如き問題点を有していた。
[発明か解決しようとする問題点]
すなわち1本発明者らの実験によれば、従来の配向制御
膜によって配向させて得られた非らせん構造の強誘電性
液晶でのチルト角(後述の第3図に示す角度)からせん
構造をもつ強誘電性液晶てのチルト角■(後述の第2図
に示す三角錐の頂角の1/2に相当する)と較べて小さ
くなっていることが判明した。特に、従来の配向制御膜
によって配向させて得た非らせん構造の強誘電性液晶で
のチルト角0は、一般に100程度で、その時の透過率
はせいぜい3〜5%程度であった。
膜によって配向させて得られた非らせん構造の強誘電性
液晶でのチルト角(後述の第3図に示す角度)からせん
構造をもつ強誘電性液晶てのチルト角■(後述の第2図
に示す三角錐の頂角の1/2に相当する)と較べて小さ
くなっていることが判明した。特に、従来の配向制御膜
によって配向させて得た非らせん構造の強誘電性液晶で
のチルト角0は、一般に100程度で、その時の透過率
はせいぜい3〜5%程度であった。
この様に、クラークとラガウオールによれば双安定性を
実現する非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角から
せん構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角と同一の角度
をもつはずであるが、実際には非らせん構造でのチルト
角θの方がらせん構造でのチルト角■より小さくなって
いる。しかも、この非らせん構造でのチルト角0からせ
ん構造てのチルト角0より小さくなる原因か非らせん構
造ての液晶分子のねしれ配列に帰因していることが判明
した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電性液晶では、
液晶分子が第4図に示す様に基板の法線に対してL基板
に隣接する液晶分子の軸42より下ノ、(板に隣接する
液晶分子の軸43(ねじれ配列の方向44)へ連続的に
ねじれ角δでねじれて配列しており、このことが非らせ
ん構造てのチルト角0からせん構造でのチルト角0より
小さくなる原因となっている。
実現する非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角から
せん構造をもつ強誘電性液晶でのチルト角と同一の角度
をもつはずであるが、実際には非らせん構造でのチルト
角θの方がらせん構造でのチルト角■より小さくなって
いる。しかも、この非らせん構造でのチルト角0からせ
ん構造てのチルト角0より小さくなる原因か非らせん構
造ての液晶分子のねしれ配列に帰因していることが判明
した。つまり、非らせん構造をもつ強誘電性液晶では、
液晶分子が第4図に示す様に基板の法線に対してL基板
に隣接する液晶分子の軸42より下ノ、(板に隣接する
液晶分子の軸43(ねじれ配列の方向44)へ連続的に
ねじれ角δでねじれて配列しており、このことが非らせ
ん構造てのチルト角0からせん構造でのチルト角0より
小さくなる原因となっている。
尚、図中41は上下基板に形成したラビング処理や斜方
蒸着処理によって得られた一軸性配向軸を表わしている
。
蒸着処理によって得られた一軸性配向軸を表わしている
。
ところで、液晶の複屈折を利用した液晶素子の場合、直
交ニコル下での透過率は、 △口d 1/I(1= 5in240 sin”□π入 で表わされる。前述の非らせん構造におけるチルト0は
第1と第2の配向状態てのねじれ配列した液晶分子の平
均分子軸方向の角度として現われることになる。上式に
よれば、かかるチルトOか22、5@の角度の時最大の
透過率となるか、双安定性を実現する非らせん構造ての
チルト角θは大きくてlO°程度の角度てあり、従って
表示装置としての適用を考慮した時にはその透過率は3
〜5%程度で十分なものとはならない問題かある。
交ニコル下での透過率は、 △口d 1/I(1= 5in240 sin”□π入 で表わされる。前述の非らせん構造におけるチルト0は
第1と第2の配向状態てのねじれ配列した液晶分子の平
均分子軸方向の角度として現われることになる。上式に
よれば、かかるチルトOか22、5@の角度の時最大の
透過率となるか、双安定性を実現する非らせん構造ての
チルト角θは大きくてlO°程度の角度てあり、従って
表示装置としての適用を考慮した時にはその透過率は3
〜5%程度で十分なものとはならない問題かある。
従って、本発明の目的は、前述の問題点を解決すること
、すなわち少なくとも2つの安定状態、特に双安定性を
実現する非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角を増
大し、これによって画素シャッタ開口時の透過率を向上
させた液晶素子を提供することにある。
、すなわち少なくとも2つの安定状態、特に双安定性を
実現する非らせん構造の強誘電性液晶でのチルト角を増
大し、これによって画素シャッタ開口時の透過率を向上
させた液晶素子を提供することにある。
本発明の別の目的は、強7A電性液晶のモノドメイン形
成に適した配向制御膜を用いた液晶素子を提供すること
にある。
成に適した配向制御膜を用いた液晶素子を提供すること
にある。
[問題点を解決するための手段]及び[作 用]すなわ
ち、本発明は一対の平行基板と、該一対の平行基板の面
に対して垂直又は略垂直な複数の層を形成している分子
の配列をもつ強誘電性液晶とを有する液晶素子において
、前記一対の平行ノλ板のうち少なくとも一方の基板か
前記複数の層を一方向に優先して配向させる高分子物質
の被膜を有し、しかも該高分子物質の被膜か同一分子内
に親水性部分と疎水性部分を併有して単分子I模又は単
分子累積膜として成膜された中量体を重合して得られる
高分子物質により形成されていることを48徴とする液
晶素子である。
ち、本発明は一対の平行基板と、該一対の平行基板の面
に対して垂直又は略垂直な複数の層を形成している分子
の配列をもつ強誘電性液晶とを有する液晶素子において
、前記一対の平行ノλ板のうち少なくとも一方の基板か
前記複数の層を一方向に優先して配向させる高分子物質
の被膜を有し、しかも該高分子物質の被膜か同一分子内
に親水性部分と疎水性部分を併有して単分子I模又は単
分子累積膜として成膜された中量体を重合して得られる
高分子物質により形成されていることを48徴とする液
晶素子である。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の液晶素子の一実施態様を示す断面図
である。第1図に示す液晶素子は、一対の平行配こした
上基板11a及び下基板11bと、それぞれの基板に配
線した透明電極12aと12bを備えている。上基板1
1aと下基板11bとの間には強誘電性液晶、好ましく
は少なくとも2つの安定状IEを示す非らせん構造の強
誘電性液晶13が配置されている。
である。第1図に示す液晶素子は、一対の平行配こした
上基板11a及び下基板11bと、それぞれの基板に配
線した透明電極12aと12bを備えている。上基板1
1aと下基板11bとの間には強誘電性液晶、好ましく
は少なくとも2つの安定状IEを示す非らせん構造の強
誘電性液晶13が配置されている。
前述した透明電極12aと12bは、強誘電性液晶13
をマルチブレクシング駆動するために、それぞれストラ
イブ形状で配線され、且つそのストライブ形状か互いに
交差させて配置されていることか好ましい。
をマルチブレクシング駆動するために、それぞれストラ
イブ形状で配線され、且つそのストライブ形状か互いに
交差させて配置されていることか好ましい。
本発明の液晶素子は、基板11aとIlbにそれぞれ重
合性単分子膜あるいは単分子累積膜て形成された高分子
物質の被膜からなる配向制御膜14aと+4bか配置さ
れている。
合性単分子膜あるいは単分子累積膜て形成された高分子
物質の被膜からなる配向制御膜14aと+4bか配置さ
れている。
本発明における単分子膜又は単分子膜J1に膜を構成す
る分子は、その分子内に重合性部を有し、さらに疎水性
部分及び親水性部分を併有する分子であれば使用可能で
ある。
る分子は、その分子内に重合性部を有し、さらに疎水性
部分及び親水性部分を併有する分子であれば使用可能で
ある。
このような分子の重合性部位の構成要素として代表的な
ものは、ビニレン、ビニリデン、アセチレン基等を少な
くとも1個もつ不飽和炭化水素基であって、直鎖状のも
のも分枝状のものも使用しつる。
ものは、ビニレン、ビニリデン、アセチレン基等を少な
くとも1個もつ不飽和炭化水素基であって、直鎖状のも
のも分枝状のものも使用しつる。
これらの重合性部位は疎水性を示すか、他の疎水性部分
を構成する基としては、例えばフェニル、ナフチル、ア
ントラニル等の如き縮合多環フェニル基、ビフェニル、
ターフェニル等の鎖状多環フェニルノ!笠の疎水基等が
挙げられる。これらは各々単独又はその複数か組み合さ
れて上記分子の疎水性部分を構成する。一方、親水性部
分の構成要素として最も代表的なものは、例えばカルボ
キシル基及びその金属塩並びにアミン塩、スルホン酸基
及びその金属塩並びに〜アミン塩、スルホンアミド基、
アミド基、アミノ基、イミノ基、ヒドロキシル基、4級
アミノ基、オキシアミノ基、オキシイミノ基、ジアゾニ
ウム基、グアニジン基、ヒドラジン基、リンfI7I#
基、ケイ酸基、アルミン酸基等の親水性基等が挙げられ
る。これらも各/?単独又はその複数か組み合わされて
上記分子の親水性部分を構成する。
を構成する基としては、例えばフェニル、ナフチル、ア
ントラニル等の如き縮合多環フェニル基、ビフェニル、
ターフェニル等の鎖状多環フェニルノ!笠の疎水基等が
挙げられる。これらは各々単独又はその複数か組み合さ
れて上記分子の疎水性部分を構成する。一方、親水性部
分の構成要素として最も代表的なものは、例えばカルボ
キシル基及びその金属塩並びにアミン塩、スルホン酸基
及びその金属塩並びに〜アミン塩、スルホンアミド基、
アミド基、アミノ基、イミノ基、ヒドロキシル基、4級
アミノ基、オキシアミノ基、オキシイミノ基、ジアゾニ
ウム基、グアニジン基、ヒドラジン基、リンfI7I#
基、ケイ酸基、アルミン酸基等の親水性基等が挙げられ
る。これらも各/?単独又はその複数か組み合わされて
上記分子の親水性部分を構成する。
ここで、分子内に親水性部分及び疎水性部分を有すると
は、例えば分子か上記のような親木基及び疎水基の両者
を分子内に1つずつ有するか、又は分子内に1つ以上の
親木基及び疎水基を有する場合には、分子全体の構成に
おいである部分か他の部分との関係において親水性てあ
つ、−劣後者の部分は前者の部分との関係において疎水
性の関係を有することをいう。
は、例えば分子か上記のような親木基及び疎水基の両者
を分子内に1つずつ有するか、又は分子内に1つ以上の
親木基及び疎水基を有する場合には、分子全体の構成に
おいである部分か他の部分との関係において親水性てあ
つ、−劣後者の部分は前者の部分との関係において疎水
性の関係を有することをいう。
本発明における単分子膜又は単分子累積膜を構成する上
記の如き分子の具体例としては、例えば下記の如き一般
式(I)、(II)て示される分子か挙げられる。
記の如き分子の具体例としては、例えば下記の如き一般
式(I)、(II)て示される分子か挙げられる。
■ L+C11,←X−R2−−−−−−(r )(
式中、X=(:00. C0NII、 OCO,rl、
=c11.−. C112C11−1112=I+、
−CH=CI+2. −C(CIl、)−(:112
. −C112C11−(:112.10≦n≦25を
示す) ■ Il+Cll□廿C= C−CN C+CH□)−
X−Ra (II )(式中、X=C0O,C0NI
I、OCO,R2=lI、 −CIkCI+2゜−C(
(:H3)−CIlg、−Cl1gC11−CL、0
≦m、n、10≦l+n≦25を示す) 本発明における単分子膜又は単分子累積膜の作成方法の
概要につき、一般に広く知られているクーン(Kuhm
)の研究グループか考案したラングミュア・プロジェッ
ト法の成膜装置を使用する場合を例として説明する。尚
、本例では単分子1模を展開する液体を水として説明を
行う。
式中、X=(:00. C0NII、 OCO,rl、
=c11.−. C112C11−1112=I+、
−CH=CI+2. −C(CIl、)−(:112
. −C112C11−(:112.10≦n≦25を
示す) ■ Il+Cll□廿C= C−CN C+CH□)−
X−Ra (II )(式中、X=C0O,C0NI
I、OCO,R2=lI、 −CIkCI+2゜−C(
(:H3)−CIlg、−Cl1gC11−CL、0
≦m、n、10≦l+n≦25を示す) 本発明における単分子膜又は単分子累積膜の作成方法の
概要につき、一般に広く知られているクーン(Kuhm
)の研究グループか考案したラングミュア・プロジェッ
ト法の成膜装置を使用する場合を例として説明する。尚
、本例では単分子1模を展開する液体を水として説明を
行う。
まず、前述の分子な成膜分子とし、これをベンゼン、ク
ロロホルム等の揮発性溶媒に溶解する。
ロロホルム等の揮発性溶媒に溶解する。
この溶液を入れた槽(トラフ)にスポイト等で滴下し、
水相上に該成1模分子の単分子膜を展開する。次に、単
分子膜か水相上を自由に拡散して拡がりすぎないように
するために設けられている浮子(または仕切板)を動か
し、単分子11!2の展開面植を縮小して単分子膜か二
次元固体膜の状態になるまで、単分子膜に表面圧をかけ
る。この表面圧を維持しながら、基板を水面に垂直に且
つこれを横切るように静かに上下させることにより、単
分子膜を基板上に移し取る。単分子膜は以上で製造され
るか、単分子累積膜は、前記の上下の操作を繰り返すこ
とにより所望の累積度の単分子累積膜か形成される。
水相上に該成1模分子の単分子膜を展開する。次に、単
分子膜か水相上を自由に拡散して拡がりすぎないように
するために設けられている浮子(または仕切板)を動か
し、単分子11!2の展開面植を縮小して単分子膜か二
次元固体膜の状態になるまで、単分子膜に表面圧をかけ
る。この表面圧を維持しながら、基板を水面に垂直に且
つこれを横切るように静かに上下させることにより、単
分子膜を基板上に移し取る。単分子膜は以上で製造され
るか、単分子累積膜は、前記の上下の操作を繰り返すこ
とにより所望の累積度の単分子累積膜か形成される。
以上、クーン(にu b ta )の成膜装置によって
単分子膜又は単分子累積膜を作成する場合を示したか、
本発明における単分子膜又は単分子累積膜を作成するた
めの装置は上記例に限定されるものではなく、その他水
平付着方法や円筒回転法等のラングミュア・プロジェッ
ト法の原理に基〈成膜装置を広く使用することが可能で
ある。
単分子膜又は単分子累積膜を作成する場合を示したか、
本発明における単分子膜又は単分子累積膜を作成するた
めの装置は上記例に限定されるものではなく、その他水
平付着方法や円筒回転法等のラングミュア・プロジェッ
ト法の原理に基〈成膜装置を広く使用することが可能で
ある。
このようにして、基板上に形成される単分子膜又は中分
子累積1漠は高密度で高度な秩序性を有しているので、
好適な方法、例えば紫外線あるいはX線等を照射して単
量体を重合することにより、薄く均質な高分子物質の被
膜を形成することかできる。これらの高分子物質の被膜
は絶縁膜としても機能をもたせることか可能て1通常+
00A〜Ig程度、好ましくは200A〜100OAの
範囲の膜厚て形成される。
子累積1漠は高密度で高度な秩序性を有しているので、
好適な方法、例えば紫外線あるいはX線等を照射して単
量体を重合することにより、薄く均質な高分子物質の被
膜を形成することかできる。これらの高分子物質の被膜
は絶縁膜としても機能をもたせることか可能て1通常+
00A〜Ig程度、好ましくは200A〜100OAの
範囲の膜厚て形成される。
次に、本発明の液晶素子に用いられる一対の平行基板の
面に対して垂直な複数の層を形成している分子の配列を
もつ強誘電性液晶について説明する。
面に対して垂直な複数の層を形成している分子の配列を
もつ強誘電性液晶について説明する。
第2図は、らせん構造を用いた強誘電性液晶セルの例を
模式的に描いたものである。21aと21bは、In2
O3、SnO□やITO(Indium Tin 0x
ide)等の透明電極かコートされた基板(ガラス板)
であり、その間に複数の液晶分子層22がガラス基板面
に対して垂直な層となるよう配向したSac” (カイ
ラルスメクチックC相)の液晶か封入されている。太線
て示した線23か液晶分子を表わしており、この液晶分
子23は、その分子に直交した方向に双極子モーメント
(P、 ) 24を有している。この時の三角錐の頂角
・をなす角度かかかるらせん構造のカイラルスメクチッ
ク相てのチルト角■を表わしている。基板21aと21
b上の電極間に一定の閾値以上の電圧を印加すると、液
晶分子23のらせん構造がほどけ、双極子モーメント(
P工)24はすべて電界方向に向くよう、液晶分子23
の配向方向を変えることかできる。
模式的に描いたものである。21aと21bは、In2
O3、SnO□やITO(Indium Tin 0x
ide)等の透明電極かコートされた基板(ガラス板)
であり、その間に複数の液晶分子層22がガラス基板面
に対して垂直な層となるよう配向したSac” (カイ
ラルスメクチックC相)の液晶か封入されている。太線
て示した線23か液晶分子を表わしており、この液晶分
子23は、その分子に直交した方向に双極子モーメント
(P、 ) 24を有している。この時の三角錐の頂角
・をなす角度かかかるらせん構造のカイラルスメクチッ
ク相てのチルト角■を表わしている。基板21aと21
b上の電極間に一定の閾値以上の電圧を印加すると、液
晶分子23のらせん構造がほどけ、双極子モーメント(
P工)24はすべて電界方向に向くよう、液晶分子23
の配向方向を変えることかできる。
しかし、このらせん構造を用いた強誘電性液晶は、電界
無印加時には、もとのらせん構造に復帰するもので、下
述する双安定性を示さない。
無印加時には、もとのらせん構造に復帰するもので、下
述する双安定性を示さない。
本発明の好ましい具体例では、少なくとも2つの安定状
態、特に双安定状態をもつ第3図に示す強誘電性液晶素
子を用いることがてきる。すなわち、液晶セルの厚さを
充分に薄くシた場合(例えば1終)には、第3図に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造はほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントPa又はpbは上向き(:14a)又は下向き(:
14b)のどちらかの状態をとり、双安定状態か形成さ
れる。このようなセルに第3図に示す如く一定の闇値以
上の極性の異なる電界EaまたはEbを付与すると、双
極子モーメント電界Ea又はEbは電界ベクトルに対応
して上向き34a又は、下向き34bと向きを変え、そ
れに応じて液晶分子は第1の安定状態33aかあるいは
第2の安定状m 33 bの何れか一方に配向する。こ
の時の第1と第2の安定状態のなす角度の1/2かチル
ト角0に相当している。
態、特に双安定状態をもつ第3図に示す強誘電性液晶素
子を用いることがてきる。すなわち、液晶セルの厚さを
充分に薄くシた場合(例えば1終)には、第3図に示す
ように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせん
構造はほどけ、非らせん構造となり、その双極子モーメ
ントPa又はpbは上向き(:14a)又は下向き(:
14b)のどちらかの状態をとり、双安定状態か形成さ
れる。このようなセルに第3図に示す如く一定の闇値以
上の極性の異なる電界EaまたはEbを付与すると、双
極子モーメント電界Ea又はEbは電界ベクトルに対応
して上向き34a又は、下向き34bと向きを変え、そ
れに応じて液晶分子は第1の安定状態33aかあるいは
第2の安定状m 33 bの何れか一方に配向する。こ
の時の第1と第2の安定状態のなす角度の1/2かチル
ト角0に相当している。
このような強誘電性液晶を光学変調素子として用いるこ
との利点は2つある。第1に、応答速度か極めて速いこ
と、第2に液晶分子の配向か双安定性を有することであ
る。:tr、2の点を、例えば第3図によって説明する
と、電界Eaを印加すると液晶分子は第1の安定状態3
3aに配向するか、この状態は電界を切っても安定であ
る。又、逆向きの電界Ebを印加すると、液晶分子は第
2の安定状態33bに配向して、その分子の向きを変え
るが、やはり電界を切ってもこの状態に留っている。こ
のような応答速度の速さと、双安定性によるメモリー効
果か有効に実現されるには、セルとしては出来るだけ薄
い方か好ましく、一般的には、0.5ル〜20μ、特に
1.〜5鉢か適している。この種の強誘電性液晶を用い
たマトリクス電極構造を有する液晶−電気光学装置は、
例えばクラークとラガハルにより、米国特許第4:16
792’1号明細書で提案されている。
との利点は2つある。第1に、応答速度か極めて速いこ
と、第2に液晶分子の配向か双安定性を有することであ
る。:tr、2の点を、例えば第3図によって説明する
と、電界Eaを印加すると液晶分子は第1の安定状態3
3aに配向するか、この状態は電界を切っても安定であ
る。又、逆向きの電界Ebを印加すると、液晶分子は第
2の安定状態33bに配向して、その分子の向きを変え
るが、やはり電界を切ってもこの状態に留っている。こ
のような応答速度の速さと、双安定性によるメモリー効
果か有効に実現されるには、セルとしては出来るだけ薄
い方か好ましく、一般的には、0.5ル〜20μ、特に
1.〜5鉢か適している。この種の強誘電性液晶を用い
たマトリクス電極構造を有する液晶−電気光学装置は、
例えばクラークとラガハルにより、米国特許第4:16
792’1号明細書で提案されている。
本発明の液晶素子て用いることかできる強誘電性液晶と
しては、例えばp−デシロキシベンジリデン−p′−ア
ミノ−2−メチルブチルシンナメート(DOB八MへC
) 、 P−へキシロキシベンジリデン−p′−アミ
ノ−2−クロルプロピルシンナメート(1108八cp
c)、p−デシロキシベンジリデン−p’−アミノ−2
−メチルブチル−α−シアノシンナメー)−(DOBA
MBCC)、p−テトラデシロキシベンジリデン−p′
−アミノ−2−メチルフチルーα−シアノシンナメート
(TDOBAMBCC) 、 P−オクチルオキシベ
ンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル−α−ク
ロロシンナメート(OOBAMBCC)、p−オクチル
オキシベンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル
−α−メチルシンナメート、4.4′−アゾキシシンナ
ミックアシットービス(2−メチルブチル)エステル、
4−o−(2−メチル)プチルレゾシリデンー4゛−オ
クチルアニリン、4−(2’−メチルブチル)フェニル
−4′−オクチルオキシビフェニル−4−カルボキシレ
ート、4−へキシルオキシフェニル−4−(2″−メチ
ルブチル)ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−
オクチルオキシフェニル−4−(2″−メチルブチル)
ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−へブチルフ
ェニル−4−(4”−メチルヘキシル)ビフェニル−4
′−カルボキシレート、4− (2”−メチルブチル)
フェニル−4−(4″−メチルヘキシル)ビフェニル−
4′−カルボキシレートなどを挙げることかてき、これ
らは単独又は2種以上組合せて用いることかてき、又強
誘電性を示す範囲で他のコレステリック液晶やスメクチ
ック液晶を含有させることかできる。
しては、例えばp−デシロキシベンジリデン−p′−ア
ミノ−2−メチルブチルシンナメート(DOB八MへC
) 、 P−へキシロキシベンジリデン−p′−アミ
ノ−2−クロルプロピルシンナメート(1108八cp
c)、p−デシロキシベンジリデン−p’−アミノ−2
−メチルブチル−α−シアノシンナメー)−(DOBA
MBCC)、p−テトラデシロキシベンジリデン−p′
−アミノ−2−メチルフチルーα−シアノシンナメート
(TDOBAMBCC) 、 P−オクチルオキシベ
ンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル−α−ク
ロロシンナメート(OOBAMBCC)、p−オクチル
オキシベンジリデン−p′−アミノ−2−メチルブチル
−α−メチルシンナメート、4.4′−アゾキシシンナ
ミックアシットービス(2−メチルブチル)エステル、
4−o−(2−メチル)プチルレゾシリデンー4゛−オ
クチルアニリン、4−(2’−メチルブチル)フェニル
−4′−オクチルオキシビフェニル−4−カルボキシレ
ート、4−へキシルオキシフェニル−4−(2″−メチ
ルブチル)ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−
オクチルオキシフェニル−4−(2″−メチルブチル)
ビフェニル−4′−カルボキシレート、4−へブチルフ
ェニル−4−(4”−メチルヘキシル)ビフェニル−4
′−カルボキシレート、4− (2”−メチルブチル)
フェニル−4−(4″−メチルヘキシル)ビフェニル−
4′−カルボキシレートなどを挙げることかてき、これ
らは単独又は2種以上組合せて用いることかてき、又強
誘電性を示す範囲で他のコレステリック液晶やスメクチ
ック液晶を含有させることかできる。
又、本発明では強誘電性液晶としてカイラルスメクチッ
ク相を用いることかてき、具体的には、カイラルスメク
チックC相(SIlG”) 、 H相(Sall’)、
I相(S+sl″)、K相(SmK”)やG相(SmG
”)を用いることかてぎる。
ク相を用いることかてき、具体的には、カイラルスメク
チックC相(SIlG”) 、 H相(Sall’)、
I相(S+sl″)、K相(SmK”)やG相(SmG
”)を用いることかてぎる。
次に、本発明の液晶素子においては、前述した配向制御
1漠14aとt4bは、前述の高分子物質の被膜表面を
ラビング処理などの一軸性配向処理を施すことによって
得ることができる。この際、本発明では、ラビング軸な
どの一軸性配向軸を互いに平行又は交差させることかで
きる。
1漠14aとt4bは、前述の高分子物質の被膜表面を
ラビング処理などの一軸性配向処理を施すことによって
得ることができる。この際、本発明では、ラビング軸な
どの一軸性配向軸を互いに平行又は交差させることかで
きる。
特に1本発明では、第5図に示す様に一軸性配向軸を交
差させることか好ましい。すなわち、第5図に示す様に
、上基板と下基板に形成する一軸性配向処理面では、無
電界時にそれぞれの一軸性配向軸51と52か第4図に
示すねしれ配列の方向44とは反対方向55の角度て交
差している。この様な一軸性配向処理面の存在下にカイ
ラルスメクチック相を該相より高温側の相よりの降温て
配向させた時に、上下基板に隣接する液晶分子の軸53
は互いに平行となる。このカイラルスメクチック相では
降温下で一軸性配向軸51と52の中間の角度をもって
配向したスメクチックA相(SiA)ての液晶分子の軸
54からチルト角θ(又は−〇)をもって液晶分子か配
向し、第1と第2の安定状態(チルト角0のとき第1の
安定状態、チルト−〇の時第2の安定状態)を形成する
ことかできる。
差させることか好ましい。すなわち、第5図に示す様に
、上基板と下基板に形成する一軸性配向処理面では、無
電界時にそれぞれの一軸性配向軸51と52か第4図に
示すねしれ配列の方向44とは反対方向55の角度て交
差している。この様な一軸性配向処理面の存在下にカイ
ラルスメクチック相を該相より高温側の相よりの降温て
配向させた時に、上下基板に隣接する液晶分子の軸53
は互いに平行となる。このカイラルスメクチック相では
降温下で一軸性配向軸51と52の中間の角度をもって
配向したスメクチックA相(SiA)ての液晶分子の軸
54からチルト角θ(又は−〇)をもって液晶分子か配
向し、第1と第2の安定状態(チルト角0のとき第1の
安定状態、チルト−〇の時第2の安定状態)を形成する
ことかできる。
この液晶素子ては、直交ニコルの一方の偏光軸56を第
1の安定状IEにおける分子軸方向に対応する液晶分子
の軸53と平行として、他方の偏光軸57を偏光軸56
と直交させた時に最大コントラストを得ることかできる
。
1の安定状IEにおける分子軸方向に対応する液晶分子
の軸53と平行として、他方の偏光軸57を偏光軸56
と直交させた時に最大コントラストを得ることかできる
。
本発明の好ましい具体例では、交流印加前処理により前
述したチルトθをらせん構造でのチルト0と等しいか、
あるいは同程度の角度まで増大させることができる。こ
の時のチルト角をθ′とする。この際に用いる交流とし
ては、電圧20〜500ボルト、好ましくは30〜15
0ボルトで周波数10〜50011z 、好ましくはl
O〜20旧1zを用いることがてき、その印加時間を数
秒〜IO分間程度で交流印加前処理を施すことかできる
。又、かかる交流印加前処理は、液晶素子を例えば映像
信号や情報信号に応して占込みを行う前の段階で行なわ
れ、好ましくはかかる液晶素子を装置に組込み、かかる
装置を操作する時のウェイトタイムて前述の交流印加前
処理を行なうか、あるいはかかる液晶素子の製造時でも
交流印加前処理を施すことができる。
述したチルトθをらせん構造でのチルト0と等しいか、
あるいは同程度の角度まで増大させることができる。こ
の時のチルト角をθ′とする。この際に用いる交流とし
ては、電圧20〜500ボルト、好ましくは30〜15
0ボルトで周波数10〜50011z 、好ましくはl
O〜20旧1zを用いることがてき、その印加時間を数
秒〜IO分間程度で交流印加前処理を施すことかできる
。又、かかる交流印加前処理は、液晶素子を例えば映像
信号や情報信号に応して占込みを行う前の段階で行なわ
れ、好ましくはかかる液晶素子を装置に組込み、かかる
装置を操作する時のウェイトタイムて前述の交流印加前
処理を行なうか、あるいはかかる液晶素子の製造時でも
交流印加前処理を施すことができる。
かかる交流印加前処理は、本発明者らが行なった実験、
すなわち第4図又は第5図に示す双安定状態をもつ強誘
電性液晶素子に交流電場を印加すると、印加前のチルト
角θがらせん構造てのチルト0と同程度にまで増大させ
たチルト角θ′とすることかでき、しかも第5図に示す
状態の場合てはかかる交流印加を除去した後であっても
その増大されたチルト角θ′を維持することかてきる。
すなわち第4図又は第5図に示す双安定状態をもつ強誘
電性液晶素子に交流電場を印加すると、印加前のチルト
角θがらせん構造てのチルト0と同程度にまで増大させ
たチルト角θ′とすることかでき、しかも第5図に示す
状態の場合てはかかる交流印加を除去した後であっても
その増大されたチルト角θ′を維持することかてきる。
又、かかる交流印加前処理は、自発分極の大きい強誘電
性液晶(例えば25℃で5 nc/cm2以上、好まし
くは10nc/c+s2〜:100nc/cm” ;
ncはナノクーロンを示す単位である)に対して有効
である。この自発分極は10074セルで三角波印加法
1により測定することかできる。
性液晶(例えば25℃で5 nc/cm2以上、好まし
くは10nc/c+s2〜:100nc/cm” ;
ncはナノクーロンを示す単位である)に対して有効
である。この自発分極は10074セルで三角波印加法
1により測定することかできる。
1ジヤパニーズ・ジャーナル・オブ・アプライド°フィ
ジックス (Japanese Journal of
AppliedPbysics) 22 (10)号
、661〜66:1頁(1983年)に掲載されたケー
・ミャサト(に、 Miyasato)らの共著の“タ
イレックト・メソッド・クイズ・ドライアングラ−・ウ
エーブズ・フォー・メジャーリンク・スボンタナス・ボ
ーラリゼーション・イン・フェロエレクトリック・リキ
ッド・クリスタル”(“ Direct Metho
d wish Triangular Wave
sfor Measuring 5pontane
ous Po1ariza目on 1nFerro
electric Liquid Crystal”)
による。
ジックス (Japanese Journal of
AppliedPbysics) 22 (10)号
、661〜66:1頁(1983年)に掲載されたケー
・ミャサト(に、 Miyasato)らの共著の“タ
イレックト・メソッド・クイズ・ドライアングラ−・ウ
エーブズ・フォー・メジャーリンク・スボンタナス・ボ
ーラリゼーション・イン・フェロエレクトリック・リキ
ッド・クリスタル”(“ Direct Metho
d wish Triangular Wave
sfor Measuring 5pontane
ous Po1ariza目on 1nFerro
electric Liquid Crystal”)
による。
本発明では、前述した配向制御膜14aと1llbのう
ち、一方の配向制御膜の使用を省略することかてきる。
ち、一方の配向制御膜の使用を省略することかてきる。
又、本発明の別の具体例では、前述した配向制御膜14
aと14bのうち、一方の配向制御膜を別の配向制御膜
とすることも可能である。この他の配向制御膜を形成す
る被膜としては、例えばポリビニルアルコール、ポリア
ミド、ポリエステル、ポリイミド、ポリアミドイミド、
ポリエステルイミドなどの被膜を挙げることができる。
aと14bのうち、一方の配向制御膜を別の配向制御膜
とすることも可能である。この他の配向制御膜を形成す
る被膜としては、例えばポリビニルアルコール、ポリア
ミド、ポリエステル、ポリイミド、ポリアミドイミド、
ポリエステルイミドなどの被膜を挙げることができる。
又、他の配向制御膜としてSiOや5i02などの無機
物質を斜方蒸着によって形成したものも使用可能である
。
物質を斜方蒸着によって形成したものも使用可能である
。
[実施例]
以下、本発明を実施例及び比較例を示し、さらに具体例
を挙げて説明する。
を挙げて説明する。
実施例1
2枚の0.7 am厚のガラス板を用意し、それぞれの
ガラス板の上に100OAのITO膜を形成した。
ガラス板の上に100OAのITO膜を形成した。
次に、ω−トリコセン酸をクロロホルムに溶解(e度1
tag/mR) L/ タ後、KIICO+ テpf
16.8 ニ調整されたCdC1’z水溶液(濃度4
X 10−’mol/j)、水温20℃)上に展開した
。
tag/mR) L/ タ後、KIICO+ テpf
16.8 ニ調整されたCdC1’z水溶液(濃度4
X 10−’mol/j)、水温20℃)上に展開した
。
溶媒のクロロホルムを蒸着除去した後、表面圧を:1O
dyn/csまで高め単分子膜を形成した。表面圧を一
定に保ちながら、上記ITO基板を水面を横切る方向に
上下速度20■醜/分て静かに上下して10層に累植し
た。
dyn/csまで高め単分子膜を形成した。表面圧を一
定に保ちながら、上記ITO基板を水面を横切る方向に
上下速度20■醜/分て静かに上下して10層に累植し
た。
このようにして重合性単分子累積膜を形成した基板をX
線リソグラフィー用のX線照射装置(Rh La線、
線源−基板間圧ra: l0cm、入射X線: 20+
sJ/cm2・m1n)に入れ1分間露光して重合処理
を施した。この時の重合した単分子累積膜の膜厚は約2
50Aてあった。その被膜には、布によるラビング処理
かなされ、それぞれの配向制御膜におけるラビンク軸か
互いに平行となる様に2枚のガラス基板をセル組みした
。
線リソグラフィー用のX線照射装置(Rh La線、
線源−基板間圧ra: l0cm、入射X線: 20+
sJ/cm2・m1n)に入れ1分間露光して重合処理
を施した。この時の重合した単分子累積膜の膜厚は約2
50Aてあった。その被膜には、布によるラビング処理
かなされ、それぞれの配向制御膜におけるラビンク軸か
互いに平行となる様に2枚のガラス基板をセル組みした
。
セル厚(上下基板の間隔)は下基板に予め形成しておい
たフォトレジストスペーサーで保持した。
たフォトレジストスペーサーで保持した。
この液晶セル(これを1.8μ鳳セルという)に下達の
混合液晶を等吉相下で真空注入してから、等吉相から0
.5℃/hで30°Cまで徐冷することにより配向させ
ることかできた。以後の実験は30℃で行った。
混合液晶を等吉相下で真空注入してから、等吉相から0
.5℃/hで30°Cまで徐冷することにより配向させ
ることかできた。以後の実験は30℃で行った。
混合液晶
(重量比)
(:11゜
CI+。
(S+s(:”+7)温度範囲:3〜35℃)直交ニコ
ル下でこのセルを観察すると、一様て欠陥のない非らせ
ん構造のカイラルスメクチックC相を形成したモノドメ
インか得られていた。
ル下でこのセルを観察すると、一様て欠陥のない非らせ
ん構造のカイラルスメクチックC相を形成したモノドメ
インか得られていた。
この液晶セルにパルス電界(20V 、 500use
c )を印加することにより、一方の安定状態に液晶分
子方向をそろえ、直交ニコル下で、液晶セルを回転させ
ながら透過光量か最も低くなる最暗状態となる位置を見
つけ、次に、前のパルスと逆極性のパルス電界(−20
V 、 500終sec )を印加することによって、
もう一方の安定分子配列状態に転移させて明状態とした
後、再び液晶セルを回転させて最暗状態となる角度を見
つけた。以上2つの最暗状態の位置は、液晶の安定な平
均的分子軸を検出していることに対応し、これら2つの
状態の間のん度かチルト角20に相当している。
c )を印加することにより、一方の安定状態に液晶分
子方向をそろえ、直交ニコル下で、液晶セルを回転させ
ながら透過光量か最も低くなる最暗状態となる位置を見
つけ、次に、前のパルスと逆極性のパルス電界(−20
V 、 500終sec )を印加することによって、
もう一方の安定分子配列状態に転移させて明状態とした
後、再び液晶セルを回転させて最暗状態となる角度を見
つけた。以上2つの最暗状態の位置は、液晶の安定な平
均的分子軸を検出していることに対応し、これら2つの
状態の間のん度かチルト角20に相当している。
こうして前述の液晶セルのチルト角を“測定したところ
、13°であった。すなわち、本例の液晶セルは、双安
定性カイラルスメクチック相で実現したメモリー状態下
で、そのチルト角か従来のものにはない大きなチルト角
を示していた。又、この液晶セルにおける最明状態での
透過光量を測定したところ、11〜12%であった。こ
の時の透過光量の測定は、フォトマルによって行なった
。
、13°であった。すなわち、本例の液晶セルは、双安
定性カイラルスメクチック相で実現したメモリー状態下
で、そのチルト角か従来のものにはない大きなチルト角
を示していた。又、この液晶セルにおける最明状態での
透過光量を測定したところ、11〜12%であった。こ
の時の透過光量の測定は、フォトマルによって行なった
。
次に、本発明者らは、前述の液晶セルにおけるノ1(板
の法線方向に対する液晶分子のねしれ配列角度とその方
向を測定した。この測定のために、前述の液晶セルで用
いた1、8.1の)オドレジストスペーサに代えて、:
1.04mのアルミナビーズをスペーサとして用いたほ
かは、全く同様の方法で液晶セル(:1.o=履セルと
いう)を作成した。
の法線方向に対する液晶分子のねしれ配列角度とその方
向を測定した。この測定のために、前述の液晶セルで用
いた1、8.1の)オドレジストスペーサに代えて、:
1.04mのアルミナビーズをスペーサとして用いたほ
かは、全く同様の方法で液晶セル(:1.o=履セルと
いう)を作成した。
液晶分子のねじれ配列角度の測定は、直交ニコル下での
最暗状態時の交差角から、一方の検光子を回転させて、
その交差角を変化させ、さらに暗い状態となる位置を見
つけ、直交時から一方の検光子を回転させた角度な゛測
定した。この角度は、前述のねじれ角δに相当している
。
最暗状態時の交差角から、一方の検光子を回転させて、
その交差角を変化させ、さらに暗い状態となる位置を見
つけ、直交時から一方の検光子を回転させた角度な゛測
定した。この角度は、前述のねじれ角δに相当している
。
従って、前述の3.0鉢−セルに関して、観察者から見
て、時計まわりを正(+)とし、反時計まわりを負(−
)とすると、検光子を直交ニコルから負方向に4〜6°
回転し、次いで液晶セルを回転して暗状態を捜すことか
できた。また、偏光子を直交ニコルから正方向に4〜6
°回転しても同様に暗状態か得られた。従って、この素
子での液晶分子は、正方向にねしれ配列を形成しており
、Lトノ上板の隣接面にある液晶分子の長袖か4〜6″
のねじれ角δをもってねじれていることか判った。
て、時計まわりを正(+)とし、反時計まわりを負(−
)とすると、検光子を直交ニコルから負方向に4〜6°
回転し、次いで液晶セルを回転して暗状態を捜すことか
できた。また、偏光子を直交ニコルから正方向に4〜6
°回転しても同様に暗状態か得られた。従って、この素
子での液晶分子は、正方向にねしれ配列を形成しており
、Lトノ上板の隣接面にある液晶分子の長袖か4〜6″
のねじれ角δをもってねじれていることか判った。
実施例2
実施例1の1.8μmセルて用いた平行なうピンク軸に
代えて、負方向(−)に45″′及び20°の角度て交
差したラビング軸を用いたほかは、実施例1と全く同様
の方法で液晶セルを作成した。
代えて、負方向(−)に45″′及び20°の角度て交
差したラビング軸を用いたほかは、実施例1と全く同様
の方法で液晶セルを作成した。
この液晶セルのチルト角を測定したところ、何れも14
°であった。これら2つの液晶セルは、何れもSac”
の高温側にSEAが存在しているが、SmAの光軸は交
差したラビング軸のなす角度の二等分線上に存在してい
ることか判った。
°であった。これら2つの液晶セルは、何れもSac”
の高温側にSEAが存在しているが、SmAの光軸は交
差したラビング軸のなす角度の二等分線上に存在してい
ることか判った。
次いで、上述した2種の液晶セルにそれぞれ電圧70ボ
ルトて周波数70Hzの高電界交流を約5分間印加した
(交流印加前処理)。この時のチルト角θ′を測定した
。この結果を下記の表1に示す。
ルトて周波数70Hzの高電界交流を約5分間印加した
(交流印加前処理)。この時のチルト角θ′を測定した
。この結果を下記の表1に示す。
表 1
この2種の液晶セルについて、前述の3μmセルの液晶
素子でのねしれ角δを測定した時の方法と同様の方法で
第4図に示すねじれ角δを測定したところ、交差角−4
5°と一20°の交差ラビング軸を用いた液晶素子では
、上下基板の法線に対する液晶分子のねじれ角δは[察
されず、上下基板に隣接する液晶分子軸は互いに平行で
あることが判った。しかも交差角−45°と一20’の
交差ラビング軸を用いた液晶素子では+20ボルトと一
20ボルトの駆動用矩形パルスをl rasecで交互
に印加し続けても表1のチルト角θ′を維持することが
できた。これは、実際に映像信号や情報信号に応じて、
この液晶素子に例えば特開昭59−19:1426号公
報や特開昭59−19347号公報に記載された様な時
分割駆動法を適用した場合てあっても、最大チルト角θ
′を維持することがてきる点に対応したものである。又
、この時の透過率を測定したところ、何れも約14%で
あった。
素子でのねしれ角δを測定した時の方法と同様の方法で
第4図に示すねじれ角δを測定したところ、交差角−4
5°と一20°の交差ラビング軸を用いた液晶素子では
、上下基板の法線に対する液晶分子のねじれ角δは[察
されず、上下基板に隣接する液晶分子軸は互いに平行で
あることが判った。しかも交差角−45°と一20’の
交差ラビング軸を用いた液晶素子では+20ボルトと一
20ボルトの駆動用矩形パルスをl rasecで交互
に印加し続けても表1のチルト角θ′を維持することが
できた。これは、実際に映像信号や情報信号に応じて、
この液晶素子に例えば特開昭59−19:1426号公
報や特開昭59−19347号公報に記載された様な時
分割駆動法を適用した場合てあっても、最大チルト角θ
′を維持することがてきる点に対応したものである。又
、この時の透過率を測定したところ、何れも約14%で
あった。
ねじれ角δをもつねじれ配列状態の方向は、基板とその
界面付近の液晶との相互作用により決まる。つまり、界
面付近の液晶分子の分極方向か基板に対して内向きか、
外向きかか、基板の性質により決められ、上下基板とも
同一の配向制御膜を用いた場合、基板間の液晶は強制的
にねじれ配列をもって配向させられる。
界面付近の液晶との相互作用により決まる。つまり、界
面付近の液晶分子の分極方向か基板に対して内向きか、
外向きかか、基板の性質により決められ、上下基板とも
同一の配向制御膜を用いた場合、基板間の液晶は強制的
にねじれ配列をもって配向させられる。
基板の法線に沿ったねじれ配列の方向と一軸性配向軸の
ずらし方向が同一方向の場合、基板の界面付近の分子は
各基板の配向軸方向に配列するため、ねじれ配列状態が
より安定化され、前述の交流印加前処理の後のチルト角
θ′の状態では準安定の配向状態となる。
ずらし方向が同一方向の場合、基板の界面付近の分子は
各基板の配向軸方向に配列するため、ねじれ配列状態が
より安定化され、前述の交流印加前処理の後のチルト角
θ′の状態では準安定の配向状態となる。
前述の交流印加前処理の後のチルト角θ′の状ぶては界
面付近の分子の分極が、一方の基板では内向きて、他の
基板ては外向きの配列をとる必要かある。
面付近の分子の分極が、一方の基板では内向きて、他の
基板ては外向きの配列をとる必要かある。
液晶のねじれ配列方向と反対方向に一軸性配向軸をずら
した場合、すなわち、ねじれ配列方向と反対方向の角度
で一軸性配向軸を交差した場合、分子分極と界面との相
互作用による安定化エネルギーよりも、−軸配向性軸に
よる強制的なアンカリンクによる安定化エネルギーの方
が大きく、従って安定なチルト角θ′をもつ状態か実現
できる。
した場合、すなわち、ねじれ配列方向と反対方向の角度
で一軸性配向軸を交差した場合、分子分極と界面との相
互作用による安定化エネルギーよりも、−軸配向性軸に
よる強制的なアンカリンクによる安定化エネルギーの方
が大きく、従って安定なチルト角θ′をもつ状態か実現
できる。
従って、透過率が高い強誘電性液晶素子を実現するため
には、ねじれ配列状態を解消し、しかも交流印加前処理
によって付加された理想的な配列状態を安定化する方向
に一軸性配向軸に互いにずらすことか必要である。その
方向とは、液晶と基板界面によって決められるねじれ角
δをもつ液晶のねじれ配列方向の反対方向である。
には、ねじれ配列状態を解消し、しかも交流印加前処理
によって付加された理想的な配列状態を安定化する方向
に一軸性配向軸に互いにずらすことか必要である。その
方向とは、液晶と基板界面によって決められるねじれ角
δをもつ液晶のねじれ配列方向の反対方向である。
比較例1
実施例1の1.81Lmセルを作成した時に用いた配向
制ml)!2として、3.3’、4.4’−’)7xニ
ールテトラカルボン酸無水物とp−フェニレンジアミン
とをl:lのモル比で脱氷縮合反応させて得たポリアミ
ック酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液に
よる塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド111
2にラビング処理したものに代えて使用したほかは、全
く同様の方法で液晶セルを作成した。
制ml)!2として、3.3’、4.4’−’)7xニ
ールテトラカルボン酸無水物とp−フェニレンジアミン
とをl:lのモル比で脱氷縮合反応させて得たポリアミ
ック酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液に
よる塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド111
2にラビング処理したものに代えて使用したほかは、全
く同様の方法で液晶セルを作成した。
この液晶セルにおけるチルト角0と透過率を実施例1と
同様の方法で測定したところ、チルト角0は6@〜8″
で、その時の透過率は3〜5%程度であった。すなわち
、本比較セルは、双安定性カイラルスメクチック相て実
現したメモリー状態下でのチルト角か小さく、又その透
過率は表示装置に適用するには全く不十分である。
同様の方法で測定したところ、チルト角0は6@〜8″
で、その時の透過率は3〜5%程度であった。すなわち
、本比較セルは、双安定性カイラルスメクチック相て実
現したメモリー状態下でのチルト角か小さく、又その透
過率は表示装置に適用するには全く不十分である。
比較例2
実施例1の1.8Bセルを作成した時に用いた配向制u
4膜として、3.3’、4.4’−ジフェニルテトラカ
ルボン酸無水物と4,4′−ジアミノジフェニルとをl
:1のモル比て脱水縮合反応させて得たポリアミック酸
の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液による塗
布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラビング
処理したものに代えて使用したほかは、全く同様の方法
て液晶セルを作成した。
4膜として、3.3’、4.4’−ジフェニルテトラカ
ルボン酸無水物と4,4′−ジアミノジフェニルとをl
:1のモル比て脱水縮合反応させて得たポリアミック酸
の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液による塗
布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラビング
処理したものに代えて使用したほかは、全く同様の方法
て液晶セルを作成した。
この液晶セルにおけるチルト角0と透過率を実施例1と
同様の方法で測定したところ、チルト角0は61〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であった。
同様の方法で測定したところ、チルト角0は61〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であった。
比較例3
実施例1の128μ膳セルを作成した時に用いた配向面
gi+娘として、3.3’A、C−ジフェニルテトラカ
ルボンNi無水物と4,4′−ジアミノターフェニルと
をl=1のモル比て脱水縮合反応させて得たポリアミッ
ク酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液によ
る塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラビ
ング処理したものに代えて使用したほかは、全く同様の
方法で液晶セルを作成した。
gi+娘として、3.3’A、C−ジフェニルテトラカ
ルボンNi無水物と4,4′−ジアミノターフェニルと
をl=1のモル比て脱水縮合反応させて得たポリアミッ
ク酸の3.5重量%N−メチル−2−ピロリドン液によ
る塗布膜を脱水閉環させて形成したポリイミド膜にラビ
ング処理したものに代えて使用したほかは、全く同様の
方法で液晶セルを作成した。
この液晶セルにおけるチルト角θと透過率を実施例1と
同様の方法で測定したところ、チルト角Qは5°〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であった。
同様の方法で測定したところ、チルト角Qは5°〜7°
で、その時の透過率は3〜4%程度であった。
実施例3〜6
実施例1の1.8gm+セルで用いた配向制御膜を下記
の表2に挙げた被膜をラビング処理したものに代えて使
用したほかは、実施例1と全く同様の方法で液晶セルを
作成してから、同様の方法て液晶セルにおけるチルト角
0と、その時の透過率を測定した。その結果を表2に示
す。
の表2に挙げた被膜をラビング処理したものに代えて使
用したほかは、実施例1と全く同様の方法で液晶セルを
作成してから、同様の方法て液晶セルにおけるチルト角
0と、その時の透過率を測定した。その結果を表2に示
す。
[発明の効果コ
未発11の液晶素子による配向制御によれば1強誘電性
液晶、特に非らせん4Ij造によって得られる少なくと
も2つの安定状態をもつ強誘電性液晶のモノドメインを
得ることかできる点に第1の効果を有し、さらに強誘電
性液晶の非ら°せん構造によって発現する少なくとも2
つの安定状態下、特に双安定状態下、(すなわち、メモ
リー状yE下)てのチルト角0を増大させることかてき
る点に第2の優れた効果を有する。
液晶、特に非らせん4Ij造によって得られる少なくと
も2つの安定状態をもつ強誘電性液晶のモノドメインを
得ることかできる点に第1の効果を有し、さらに強誘電
性液晶の非ら°せん構造によって発現する少なくとも2
つの安定状態下、特に双安定状態下、(すなわち、メモ
リー状yE下)てのチルト角0を増大させることかてき
る点に第2の優れた効果を有する。
第1図は本発明の液晶素子の1つの実施態様を表わす断
面図、第2図はらせん構造の強誘電性液晶を用いた液晶
素子を模式的に表わす斜視図、第3図は非らせん構造の
強誘電性液晶を用いた液晶素子を模式的に表わす斜視図
、第4図は基板の一軸配向軸と非らせん構造の強誘電性
液晶との関係を表わす説明図、第5図は本発明の液晶素
子で用いた一軸配向軸と液晶分子の軸との関係を表わす
説明図である。 11a・・・上基板 11b・・・下基板12
a、12b・・・透明電極 I3・・・強誘電性液晶
14a 、 14b・・・配向制御膜 21・・・基板
22・・・液晶分子層 23・・・液晶分子24
・・・双極子モーメント 33a・・・第1の安定状態
33b・・・第2の安定状態 34a・・・上向き双極子モーメント 34b・・・下向き双極子モーメント ■・・・らせん構造でのチルト角 θ・・・非らせん構造でのチルト角 Ea、Eb・・・電界
面図、第2図はらせん構造の強誘電性液晶を用いた液晶
素子を模式的に表わす斜視図、第3図は非らせん構造の
強誘電性液晶を用いた液晶素子を模式的に表わす斜視図
、第4図は基板の一軸配向軸と非らせん構造の強誘電性
液晶との関係を表わす説明図、第5図は本発明の液晶素
子で用いた一軸配向軸と液晶分子の軸との関係を表わす
説明図である。 11a・・・上基板 11b・・・下基板12
a、12b・・・透明電極 I3・・・強誘電性液晶
14a 、 14b・・・配向制御膜 21・・・基板
22・・・液晶分子層 23・・・液晶分子24
・・・双極子モーメント 33a・・・第1の安定状態
33b・・・第2の安定状態 34a・・・上向き双極子モーメント 34b・・・下向き双極子モーメント ■・・・らせん構造でのチルト角 θ・・・非らせん構造でのチルト角 Ea、Eb・・・電界
Claims (5)
- (1)一対の平行基板と、該一対の平行基板の面に対し
て垂直又は略垂直な複数の層を形成している分子の配列
をもつ強誘電性液晶とを有する液晶素子において、前記
一対の平行基板のうち少なくとも一方の基板が前記複数
の層を一方向に優先して配向させる高分子物質の被膜を
有し、しかも該高分子物質の被膜が同一分子内に親水性
部分と疎水性部分を併有して単分子膜又は単分子累積膜
として成膜された単量体を重合して得られる高分子物質
により形成されていることを特徴とする液晶素子。 - (2)前記強誘電性液晶が少なくとも2つの安定状態を
もつ液晶である特許請求の範囲第1項記載の液晶素子。 - (3)前記強誘電性液晶が双安定性をもつ液晶である特
許請求の範囲第1項記載の液晶素子。 - (4)前記強誘電性液晶がカイラルスメクチック液晶で
ある特許請求の範囲第1項記載の液晶素子。 - (5)前記強誘電性液晶が非らせん構造のカイラルスメ
クチック液晶である特許請求の範囲第1項記載の液晶素
子。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7670486A JPS62234129A (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 液晶素子 |
US07/376,940 US5009489A (en) | 1986-04-04 | 1989-07-07 | Liquid crystal device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7670486A JPS62234129A (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 液晶素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62234129A true JPS62234129A (ja) | 1987-10-14 |
Family
ID=13612903
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7670486A Pending JPS62234129A (ja) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | 液晶素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62234129A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6352119A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Ricoh Co Ltd | 液晶素子 |
-
1986
- 1986-04-04 JP JP7670486A patent/JPS62234129A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6352119A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-05 | Ricoh Co Ltd | 液晶素子 |
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