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JPS62215855A - 基板検査装置 - Google Patents

基板検査装置

Info

Publication number
JPS62215855A
JPS62215855A JP61059694A JP5969486A JPS62215855A JP S62215855 A JPS62215855 A JP S62215855A JP 61059694 A JP61059694 A JP 61059694A JP 5969486 A JP5969486 A JP 5969486A JP S62215855 A JPS62215855 A JP S62215855A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
inspected
board
section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61059694A
Other languages
English (en)
Inventor
Tamio Miyake
三宅 民生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP61059694A priority Critical patent/JPS62215855A/ja
Publication of JPS62215855A publication Critical patent/JPS62215855A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、基板の両面をIa像して、この基板の表面に
取りfNJ’ tノられた部品と、鬼面に取り付けられ
た部品とを同時に検査する基板検査装置に関する。
(従来の技術) プリン]−阜仮に抵抗器や半導体素子等の各種チップ部
品をマウントするときにおいて自動マウント5A置を用
いた場合、マウント後においてマウントデータどうりに
部品がマウントされていないことがある。
このため、このような自動マウン1−装冒等を用いる場
合には、マウント後にプリント基板をチェックして、こ
のプリント基板上の正規の位置に正当なチップ部品が正
しい姿勢(位置、方向)でマウントされているかどうか
、また脱落がないかどうかを検査する必要がある。
しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査で行なっていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速度を高めることができ
ないという問題がある。
そこで、近年、この種の検査を自動釣に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。
第8図は、このような自動検査装置の一例を示すブロッ
ク図である。
この図に示す自動検査装置は、部品1が実装された被検
査プリント基板2−2を[1するTV力メラ3と、キー
ボード8から入力されたデータ、つまり第9図に示すよ
うに基準基板となる基を隻プリント基板2−1の種類等
に関するデータおよびこの基準プリント基板2−1上に
載っている各部品1の種類、配量位置、取付は姿勢、形
状等に関するデータおよびこれらの各部品1の検査処理
手順等に関する情報(データ)を記憶する記憶部4と、
この記憶部4に記憶されている情報と前記TVカメラ3
からの画像によって示される情報とを比較して前記被検
査プリン1一基板2−2上に全ての部品1が有るかどう
か、またこれらの部品1が位置ずれ等を起こしているか
どうかを判定する判定回路5と、この判定回路5の判定
結束を表示したり、プリントアラ1−シたりするモニタ
6とを備えて構成されている。
(弁明が解決しようとする問題点) ところでこの種の自動検査装置においては、被検査プリ
ント基板2−2を検査する場合、この被検査プリン1〜
基板2−2の一面のみを搬像して、この面に載せられた
部品1のみを検査するように構成されていたので、この
被検査プリント基板2−2が両面実装基板であるときに
は、一方の面上に取り(=itづられている部品1の検
査処理が終った後に、この被検査プリン1へ基板2−2
を裏返して、他方の面上に取り付【)られている部品1
の検査処理を行なわなければならなかった。
このため、従来の自動検査装置においては、このような
両面実装基板を検査するときに、検査時間が長くなると
いう問題があった。
本発明は上記の事情に鑑み、液検査プリント基板上の両
面に部品が実装されている場合にも、この被検査プリン
ト基板を寝返すことなくその両面に取り付けられている
部品を一度に検査することができ、これによってその処
理時間を短くすることができる基板検査装置を提供する
ことを目的としている。
(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するために本発明によるM仮検査8置
は、基板を画像して得られたデータを処理して前記基板
上の部品を検査する基板検査装置において、前記基板の
両面を撮像する撮像部と、この撮像部によって得られた
前記基板の両面画像情報を処理して前記基板の表面にあ
る部品と裏面にある部品とを検査する処理部とを備えた
ことを特徴としている。
(実施例) 第1図は本発明による基板検査装置の第一実施例を示す
ブロック図である。
この図に示す基板検査装置は、基準プリント基板1O−
1(または、被検査プリント基板1O−2)の両面を同
時に搬像することにより、この基準プリント基板1O−
1(または、被検査プリント基板1O−2)の各面に各
々取り付Cプられている各部品1l−1a〜1l−na
(または部品1l−1b〜1l−nb>を一度に処理す
るようにしたものであり、X−Yテーブル部12と、撮
像部13と、処理部14とを備えている。
X−Yテーブル部12は、前記処理部14からの制御イ
5″;″、に基づいて1」準プリント基板1O−1(ま
たは、被検査プリン1〜基板10−2>のX軸方向位置
およびY軸方向位置を決めるものであり、第2図に示す
如くX軸方向位置決め部15と、Y軸方向位置決め部1
6と、基板保持部17とを備えている。
X軸方向位置決め部15は、前記処理部14からのX方
向制御信号に基づいて動作するX軸周パルスモータ20
と、このX軸周パルスモータ20によって駆動される2
つの駆動プーリ21a、21bと、これらの各駆動プー
リ21a、21bと平行に配置される従動プーリ22a
、22bと、これら各従動プーリ22a、22bと前記
各駆動プーリ21a、21bとの間に各々掛けられるノ
ンスリップベルト23a、23bと、これらの各ノンス
リップベルト23a、23b上の同じ位置に固定される
スライドブロック24a、24bと、これらの各スライ
ドブロック24a、24bをX軸方向に移動自在にガイ
ドするスライド軸25 a 。
25bとを備えており、前記処理部14からのX方向制
御信号に基づいて基板保持部17のX軸方向位置を決め
る。
またY軸方向位置決め部16はその両端が前記各スライ
ドブロック24a、24b上に各々固定されるガイドレ
ール26と、ボールネジ機構18のナツトが嵌入された
状態で前記ガイドレール26に移動自在に取り付けられ
るスライドブロック29と、前記ガイドレール26の上
面一端に固定され、前記処理部14からのY方向制御信
号に基づいて前記ボールネジ機構18のネジ軸を回転駆
動し、前記スライドブロック29のY軸方向位置を決め
るY軸用パルスモータ27とを備えており、前記処理部
14からのY方向制御信号に基づいて基板保持部17の
Y軸方向位置を決める。
基板保1.′1部17は前記スライドブロック29に固
定されるホルダ31と、このホルダ31に装着されたl
 t%1プリント基板1O−1(または被検査プリント
基板1O−2)をこのホルダ31に固定させるチャック
機構30とを備えて構成されており、この基板保持部1
7にセットされた基準プリン1〜塁板10−1 (また
は被検査プリント基板1O−2)は前記X軸方向位置決
め部15と、Y軸方向位置決め部16とによってそのX
−Y方向位置が決められた後、その表面および裏面が撮
像部13によって撮像される。
搬像部13は前記基板保持部17の上方に配置される上
部TVカメラ32と、この上部T V jjメラ32の
レンズfiQ面に、これと同軸的に設けられる上部リン
グ照明装置33と、前記基板保持部17の下方に配置さ
れる下部TVカメラ34と、この下部TVカメラ34の
レンズ前面に、これと同軸的に設けられる下部リング照
明装置35と、これら上部TVカメラ32〜下部リング
照明装買35を支持するアングル36とを備えており、
前記基板保持部17にセットされて、位置出しされた基
準プリント基板10−1 (または、被検査プリント基
板10−2>は前記上部リング照明装着33と、下部リ
ング照明装置35によってその表面と、裏面とが照明さ
れながら前記上部TVカメラ32と、下部TVカメラ3
4とによってその両面が11像され、この撮像動作によ
り得られた上面側画像信号と、下面側画像信号とが処理
部14へ供給される。
処理部14はティーチングモードのとき、前記搬像部1
3から供給される上面側画像信号、下面側画像信号(前
記基準プリント基板10−1の上面側画像信号、下面側
画像信号)から前記基準プリント基板10−1の両面に
ある各部品1l−1a〜1l−naのパラメータを抽出
して判定データファイルを作成し、また検査モードのと
ぎ、前記陽像部13から供給される上面側画像信号、下
面側画像信号(前記被検査プリント基板10−2の上面
側画像化@5下面側画像信号)から前記被検査プリント
基板10−2の両面にある各部品1l−1b〜1l−n
bのパラメータを抽出して被検査データファイルを作成
するとともに、この被検査データファイルと11部記判
定データファイルとを比較して、この比較結果から前記
各部品1l−1b〜1l−nbの脱落1位置ずれ等を検
出するものであり、上部へ/D変換部42と、下部A/
D変換部43と、メモリ44と、ティーチングテーブル
45と、画像処理部46と、X−Yステージコント0−
547と、CRT表示器48と、プリンタ49と、キー
ボード50と、11部(MAIN−CPU)51とを備
えている。
上部A/D変換部42は前記撮像部13がら上面側画像
信号を供給されたとぎに、これをA/D変換(アナログ
・デジタル変換〉して上面側画像データを作成し、これ
を制御部51へ供給する。
また、下部A/D変換部43は前記上部A/D変換部4
2と同様に構成されるものであり、前記照像部13から
下面側画像信号を供給されたときに、これをA/D変換
して下面側画像データを作成し、これを制御部51へ供
給する。
またメモリ44は、RAM (ランダム・アクセス・メ
モリ)等を備えて構成されるものであり、前記制御部5
10作業エリアとして使われる。
また画像処理部46は前記制御i11部51を介して上
面側画像データ、下面側画像データを供給されたとき、
これら上面側画像データおよび下面側画像データを2値
化して各部品画像毎にラベル(識別番号)を付すもので
あり、ここで11られたラベル付きの各部品画像は前記
制御部51へ供給される。
またテイーヂングテーブル45は、フロッピーディスク
装置等を備えており、ティーチング時において前記制御
部51から判定データファイル等を供給されたとぎに、
これを記憶し、また検査時において、前記制御部51が
転送要求を出力したとぎ、この要求に応じて判定データ
ファイル等を読み出して、これを制御部51などへ供給
する。
またX−YステージコントO−ラ47は前記制御部51
と前記X−Yテーブル部12とを接続するインタフェー
ス等を備えて構成されるものであり、前記制御部51の
出力に基づいて前記X−Yテーブル部12を制御する。
またCRT表示皿48はブラウン管(CRT)を喝えて
おり、前記制御部51から画像データ。
判定結果、キー人力データ等を供給されたとき、これを
画面上に表示させる。
またプリンタ49は、前記制御部51から判定結果等を
供給されたとき、これを予め決められた91式(フォー
マツ1−)でプリントアウトする。
またキーボード50は操作情報や前記基準プリント基板
10−1に関するデータ、この基準プリント基板10−
1上にある部品1l−1a〜1l−naに関するデータ
等を入力するのに必要な各種キーを備えており、このキ
ーボード50から入力された情報やデータ等は制御部5
1へ供給される。
制御部51は、マイクロプロセッサ等を備えており、次
に述べるように動作する。
まず、新たな被検査プリント基板10−2を検査すると
きには、制御部51は第3図(A)に示すようにメイン
フローチャートのステップST1で第3図(B)のフロ
ーチャートで示されるティーチングルーチン52を呼び
出し、このティーチングルーチン52のステップST2
でX−Yテーブル部12の基板保持部17に基準プリン
ト基板10−1がセットされるまで待つ。
そしてX−Yテーブル部12の基板保持部17に基準プ
リント基板10−1がセットされれば、制御部51は前
記ステップST2からステップST3へ分岐し、ここで
X−Yテーブル部12を制御して上部TVカメラ32の
下方に基準プリント基板10−1のII像エリア53−
18 (第4図参照)を配置させる。このとき、下部T
Vカメラ34の上方に前記撮像エリア53−1 aの裏
面が位置する。
この後、制御部51はステップST4で上部TVカメラ
32と、下部TVカメラ34とを動作させて、前記基準
プリント基板10−1の撮像エリア53−1a部分の表
面側と、裏面側とを各々撮像させるとともに、これによ
って冑られた上面側画像信号と下面側画像信号とを上部
A/D変換器42と、下部A/D変換器43とで各々A
/D変換させて、このA/D変換結果(基準プリント基
板10−1の両面画像データ)をメモリ44にリアルタ
イムで記憶させる。
次いで、制御部51はステップST5で前記メモリ44
から基準プリント基板10−1の両面画像データを読み
出し、これを画像処理部46に供給して2値化させると
ともに、この2tjri化処理によって得られた各部品
1l−1a〜1l−ia(2≦i≦n)の部品画像毎に
ラベルを伺けさせる。
次いで、制御部51はステップST6で前記画像処理部
46によ・つて得られたラベル付きの各部品画像を取り
込み、各部品11 1a〜1l−iaの位29色、形状
、形態等のパラメータを抽出するとともに、ステップS
T7でこれらの各パラメータから各部品1l−1a〜1
i−iaに関する判定データを作成する。
この後、制御部51はステップST8で各部品1i−1
a〜1l−iaの全てについて判定データが得られたか
どうかをチェックし、部品1l−1a〜1l−iaの全
てについて判定データが117られるまで、前記ステッ
プST6〜ステップST8を繰り返し実行する。
そして、これら各部品1l−1a〜1l−iaの全てに
ついて判定データが1iIられたとき、制Oa部51は
前記ステップST8からステップST9へ分岐し、ここ
で基準プリン1〜基板10−1の全@像1リア53−1
 a〜53−maについて処理が終了したかどうかをチ
ェックする。
そして、まだ処理されていない撮像エリアが残っていれ
ば、制御部51はこのステップST9から前記ステップ
ST3へ戻り、上述した動作を繰り返す。
そして、1ffilElエリア53−1〜53−maの
全てについて処理が終了したとき、制御部51は前記ス
テップST9からステップ5T10へ分岐し、ここで前
記各部品1l−1a〜1l−naについての各判定デー
タから被検査プリント基板10−2を検査するのに必要
な判定1−タフアイルを作成し、これをティーチングテ
ーブル45に記憶さゼた後、このティーチングルーチン
52を終了する。
また、このティーチングルーチン52が終了して、検査
モードにされれば、制御部51はメインフローチャー1
−のステップ5T11で第3図(C)のフローチャー1
・で示される検査ルーチン54を呼び出し、この検査ル
ーチン54のステップ5T12でティーチングテーブル
45やキーボード50からその日の日付データ、被検査
プリント基板10−2のIDナンバ(識別番号)を取り
込むとともに、ティーチングテーブル45から判定デー
タファイルを読み出して、これらをメモリ44に記憶さ
せる。
次いで、制御部51はステップ5T13でX−Yテーブ
ル部12の基板保持部17に被検査プリント基板10−
2がセットされるまで待つ。
そして、X−Yテーブル部12の基板保持部17に被検
査プリント基板10−2がセットされれば、制御部51
は前記ステップ5T13からステップ5T14へ分岐し
、ここでX−Yテーブル部12を制御して上部TVカメ
ラ32の下方に被検査プリント基板10−2の画像エリ
ア53−1b(第5図参照)を配置させる。このとき、
下部TVカメラ34の上方に前記[11エリア53−1
 bの裏面が位置する。
この後、制御部51はステップ5T15で上部TVカメ
ラ32と、下部TVカメラ34とを動作させて、前記被
検査プリント基板10−2のRaエリア53−1 b部
分の表面側と、裏面側とを各々に1像させるとともに、
これによって得られた上面側画像信号と、下面側内B4
信号とを上部A/D変換器42と、下部A/D変換器4
3とで各々A/D変換させて、このA/D変換結果(被
検査プリント基板10−2の両面画像データ)をリアル
タイムでメモリ44に記憶さける。
次いで、制御部51はステップ5T16で前記メモリ4
4から被検査プリント基板10−2の両面画像データを
読み出し、これを画像処理部46に供給して2値化させ
るとともに、この2値化処理によって得られた各部品1
l−1b〜1l−ib(2≦i≦n)の部品画像毎にラ
ベルを付けさせる。
次いで、制御部51はステップ5T17で前記画像処理
部16によって得られたラベル付きの各部品画像を取り
込み、各部品1l−1b〜1l−ibの位巴1色、形状
、形態等のパラメータを抽出させるとともに、これらの
各パラメータに基づき、部品1l−1b〜1l−ibの
全てについて被検査データを作成する。
この後、制御部51はステップ5T18で前記メモリ4
4から判定データファイル中の画像エリア53−1aに
関する各判定データを読み出すとともに、これらの各判
定データと前記各被検査データとを各々比較して、被検
査プリント基板1〇−2上の部品11−1 b〜1l−
ibが欠落1位置ずれ等を起こしているか否かを判定し
、この判定結果をメモリ44に記憶させる。
この後、制御部51はステップST19から前記ステッ
プST14へ戻り、被検査プリント基板10−2の画像
エリア53−2b 〜53−mbについて上述した処理
を順次実行する。
そして、@像エリア53−1 b 〜53−mbの全て
について処理が終了したとき、制御部51は前記ステッ
プ5T19からステップ5T20へ分岐し、ここでメモ
リ44に記憶されている各部品1l−1b〜1l−nb
の判定結果を読み出して、これをCRT表示器48に表
示させたり、プリンタ49からプリントアウトさせたり
する。
このようにこの実施例においては、Bt準プリンIへ基
板1O−1(または被検査プリント基板1O−2)の各
面を上部TVカメラ32と、下部TVカメラ34とによ
って同時に撮像させるようにしているので、その両面に
部品1l−1a〜1l−na(または、部品11−1 
b 〜11−nb)が実装されている基準プリント基板
1O−1(または、被検査プリント基板1O−2)を高
速で処理することができる。
また、上Jした実施例においては、上部TVカメラ32
と、下部TVカメラ34とを用いて基準プリント基板1
O−1(または、被検査プリント基板1O−2)の両面
画像データを17でいるが、第6図または第7図に示す
如く1つのTVカメラ60によって基準プリント基板1
O−1(または、被検査プリント・基板1O−2)の両
面画像データを得るようにしても良い。
この場合、第6図に示す撮像部13−2はTVカメラ6
0ど、このTVカメラ6oのレンズ+’+N面に回転自
在に配置される切換ミラー61と、基板保持部17にセ
ットされた基準プリント基板1O−1(または、被検査
プリント基板10−2>の上面光学像を前記切換ミラー
61まで導く2つの上部ミラー62.63と、前記基準
プリン+−m板1O−1(または、被検査プリント基1
i10−2)の下面光学像を前記切換ミラー61まで導
く2つの下部ミラー64.65と、前記TVカメラ60
〜下部ミラー65および上部リング照明装置33゜下部
リング照明装置35を支持するアーム66とを備えてお
り、切換ミラー61の角度を切換えることにより前記基
準プリント丼板1O−1(または、被検査プリント基板
1O−2)の上面側と下面側とをTVカメラ60によっ
て順次撮像し、この搬像動作により得られた上面側画像
信号と、下面側画像信号とを時分割で出力する。
また第7図に示す撮像部13−3が、第6図に示す1l
lti部13−2と異なる点は、切換ミラー61に代え
て、固定式の三角ミラー7oを設けたことである。
このように構成することにより、この撮像部13−3で
は、TVカメラ60によつ′C阜基準リント塁板1O−
1(または、被検査プリント基板1O−2)の上面側と
下面側とを一度にR像することとができる。
(発明の効果) 以上説明したJ、うに本発明によれば、被検査プリント
基板上の両面に部品が実装されている場合にも、この被
検査プリント基板を裏返すことなく、その両面に取り付
けられている部品を一度に検査することができ、これに
よってその処理時間を短くすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるM板検査装置の第1実施例を示す
ブロック図、第2図は第1図に示すX−Yテーブル部の
一構成を示す斜視図、第3図(A)は同実施例の動作例
を説明するためのメインフローチャート、第3図(B)
は同実施例のティーチングルーチン例を示すフローチャ
ート、第3図(C)は同実施例の検査ルーチン例を示す
フローチャート、第4図は同実施例の基準プリント基板
に対して設定される撮像エリアの一例を示す模式図、第
5図は同実施例の被検査プリント基板に対して設定され
る撮像エリアの一例を示す模式図、第6図は本発明の第
2実施例を説明するための側面図、第7図は本゛発明の
第3実施例を説明するための側面図、第8図は従来の自
動検査装置の一例を示すブロック図、第9図はこの自動
検査装置の検査基準となる基準プリント基板の一例を示
す側面図である。 10−1・・・基板(基準プリント基板)、10−2・
・・基板(被検査プリント基板)、1l−1a〜11−
 n a ・・・部品、11−1 b 〜11− n 
b・gtS品、12・・・X−Yテーブル部、13・・
・岡像部、14・・・処理部。 特許出願人   立石電機株式会社 代理人 弁理士 吉倉哲二(他1名) 第4図 第5図 第6図 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板を撮像して得られたデータを処理して前記基板上
    の部品を検査する基板検査装置において、前記基板の両
    面を撮像する撮像部と、この撮像部によつて得られた前
    記基板の両面画像情報を処理して前記基板の表面にある
    部品と裏面にある部品とを検査する処理部とを備えたこ
    とを特徴とする基板検査装置。
JP61059694A 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置 Pending JPS62215855A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61059694A JPS62215855A (ja) 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61059694A JPS62215855A (ja) 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62215855A true JPS62215855A (ja) 1987-09-22

Family

ID=13120570

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61059694A Pending JPS62215855A (ja) 1986-03-18 1986-03-18 基板検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62215855A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02114155A (ja) * 1988-10-24 1990-04-26 Rhythm Watch Co Ltd プリント基板の半田付検査方法
JP2003014654A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Ngk Spark Plug Co Ltd 基板の検査方法及び検査装置並びに電子機器用製品の製造方法
JP2006184022A (ja) * 2004-12-24 2006-07-13 Saki Corp:Kk 外観検査装置
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KR101472623B1 (ko) * 2012-04-30 2014-12-24 삼성전기주식회사 표면 실장 시스템 및 표면 실장 방법

Cited By (5)

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