JPS62209849A - 密着型イメ−ジセンサ - Google Patents
密着型イメ−ジセンサInfo
- Publication number
- JPS62209849A JPS62209849A JP61051485A JP5148586A JPS62209849A JP S62209849 A JPS62209849 A JP S62209849A JP 61051485 A JP61051485 A JP 61051485A JP 5148586 A JP5148586 A JP 5148586A JP S62209849 A JPS62209849 A JP S62209849A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- photodetector
- receiving element
- image sensor
- sensor substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、ファクシミリなどの画像を読み取るための
密着型イメージセンサに関する。
密着型イメージセンサに関する。
(従来の技術)
ファクシミリなどにおいて、原稿t−1対lで読み取る
ことができる密着型イメージセンサは、従来のCCDセ
ンサと異なり、光学的縮小系が不要で、センサ部を薄型
化できるので、装置を小型化することが可能となる。し
かも、受光素子アレイとして水素化アモルファスシリコ
ンを用いると、低温(200〜300℃)で高感度の素
子を実現できる。
ことができる密着型イメージセンサは、従来のCCDセ
ンサと異なり、光学的縮小系が不要で、センサ部を薄型
化できるので、装置を小型化することが可能となる。し
かも、受光素子アレイとして水素化アモルファスシリコ
ンを用いると、低温(200〜300℃)で高感度の素
子を実現できる。
ところで、原稿を読み取るためには、原稿面に光を照射
することが必要である。第2図(a) 、 (b) 。
することが必要である。第2図(a) 、 (b) 。
(e)に従来の主な光照射方法を示す。第2図(a)は
、例えば実開昭60−1077号公報に記載されている
ように、LED12からの光を原稿11で反射させ1反
射光をセルフォックレンズプレイ15を介してガラス基
板14上の受光素子13へと導く構造である。第2図(
b)は、例えば実開昭59−156213号公報に記載
されているように、原稿11からの反射光をオグティ力
ルファイパーアレイ16を通して受光素子13へ導く方
法であり、図中12は第2図(−と同様にLED、14
はガラス基板である。第2図(c)は、例えば特開皓6
0−91360号公報に記載されているように、LED
12よりの光をガラス基板14の裏側から導入し、絶縁
保護膜17に密着させた原稿11からの反射光を直接受
光素子13へ導く構造である。
、例えば実開昭60−1077号公報に記載されている
ように、LED12からの光を原稿11で反射させ1反
射光をセルフォックレンズプレイ15を介してガラス基
板14上の受光素子13へと導く構造である。第2図(
b)は、例えば実開昭59−156213号公報に記載
されているように、原稿11からの反射光をオグティ力
ルファイパーアレイ16を通して受光素子13へ導く方
法であり、図中12は第2図(−と同様にLED、14
はガラス基板である。第2図(c)は、例えば特開皓6
0−91360号公報に記載されているように、LED
12よりの光をガラス基板14の裏側から導入し、絶縁
保護膜17に密着させた原稿11からの反射光を直接受
光素子13へ導く構造である。
(発明が解決しようとする問題点)
しかるに、第2図(&)の第1の方法では、センサ基板
としてのガラス基板14と原稿11の間隔が広くなり、
薄型化が難しいという欠点がある。また、第2図(b)
の第2の方法では、前記第1の方法よりも原稿11とセ
ン、す基板との間隔は小さくなるが、高価になる欠点が
ある。さらに、第2図(c)の第3の方法は、光学系が
不要であるため薄型化が可能になるという特徴があるが
、各受光素子13の中央部にLED 12よりの光を通
すための穴18を開ける必要があるため製造が面倒であ
り、かつ加工精度が要求されるという欠点がある。
としてのガラス基板14と原稿11の間隔が広くなり、
薄型化が難しいという欠点がある。また、第2図(b)
の第2の方法では、前記第1の方法よりも原稿11とセ
ン、す基板との間隔は小さくなるが、高価になる欠点が
ある。さらに、第2図(c)の第3の方法は、光学系が
不要であるため薄型化が可能になるという特徴があるが
、各受光素子13の中央部にLED 12よりの光を通
すための穴18を開ける必要があるため製造が面倒であ
り、かつ加工精度が要求されるという欠点がある。
この発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的は
、第2図(c)の従来例のように光学系を必要としない
完全密着型であシながら、製造上の加工精度の要求や複
雑さを招くことのない光の導入方法を有する密着型イメ
ージセンサを提供することにある。
、第2図(c)の従来例のように光学系を必要としない
完全密着型であシながら、製造上の加工精度の要求や複
雑さを招くことのない光の導入方法を有する密着型イメ
ージセンサを提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
この発明では、センサ基板の表面上に受光素子を設け、
さらにそのセンサ基板の同一表面上に光導波路を形成す
る。この光導波路は、前記センサ基板の屈折率より大き
い屈折率を有する誘電体薄膜からなり、前記センサ基板
の表面上に、その所定位置から前記受光素子上に至るよ
うに形成され、受光素子上部部分の表面は凹凸面に形成
される。
さらにそのセンサ基板の同一表面上に光導波路を形成す
る。この光導波路は、前記センサ基板の屈折率より大き
い屈折率を有する誘電体薄膜からなり、前記センサ基板
の表面上に、その所定位置から前記受光素子上に至るよ
うに形成され、受光素子上部部分の表面は凹凸面に形成
される。
(作用)
このような光導波路には、受光素子と反対側の端から、
外部光源からの光が導入される。すると、光は、先導波
路の上下面で全反射を繰り返しなから光導波路中を進み
、受光素子上部へと導かれる。
外部光源からの光が導入される。すると、光は、先導波
路の上下面で全反射を繰り返しなから光導波路中を進み
、受光素子上部へと導かれる。
ところが、受光素子上部の光導波路表面は凹凸面に形成
されているため、該部分で全反射の条件が満たなくなり
、光は外部へ放出される。放出された光は、光導波路に
密着して設けられる原稿面で反射し、反射光は、再び光
導波路に入9、その下の受光素子に吸収され、電気信号
に変換される。
されているため、該部分で全反射の条件が満たなくなり
、光は外部へ放出される。放出された光は、光導波路に
密着して設けられる原稿面で反射し、反射光は、再び光
導波路に入9、その下の受光素子に吸収され、電気信号
に変換される。
(実施例)
以下この発明の一実施例を図面を参藤して説明する。第
1図はこの発明の一実施例を示す横断面図である。この
図において、21はセンサ基板としてのガラス基板で、
その表面上の所定部分には受光部構造体22が設けられ
°る。この受光部構造体22は、前記ガラス基板21の
表面上に形成された共通電極23、この共通電極23に
接続されて前記基板21上に形成され九m −81:
Hなどの半導体よりなる横一列の多数の受光素子24、
この各受光素子24上面のITOなどの透明導電性膜2
5、この透明導電性膜25から(受光素子24の上面か
ら)受光素子24の側面を経て基板21の表面上に引出
された個別電極26、この個別電極26と受光素子26
を絶縁するstowなとの絶縁膜27より構成される。
1図はこの発明の一実施例を示す横断面図である。この
図において、21はセンサ基板としてのガラス基板で、
その表面上の所定部分には受光部構造体22が設けられ
°る。この受光部構造体22は、前記ガラス基板21の
表面上に形成された共通電極23、この共通電極23に
接続されて前記基板21上に形成され九m −81:
Hなどの半導体よりなる横一列の多数の受光素子24、
この各受光素子24上面のITOなどの透明導電性膜2
5、この透明導電性膜25から(受光素子24の上面か
ら)受光素子24の側面を経て基板21の表面上に引出
された個別電極26、この個別電極26と受光素子26
を絶縁するstowなとの絶縁膜27より構成される。
このような受光部構造体22t−形成したガラス基板2
1の表面上(受光部構造体22を設けたその表面上)に
は、Tr Ot t−混合したSing t 3〜数l
Oμmの厚さにスノ量ツタリング法などにより形成する
ことにより、fラス基板21の端部から前記受光部構造
体22の受光素子24上に至る前記810!薄膜からな
る光導波路28が形成される。この光導波路28は、前
記受光素子24上部部分の表面が、プラズマエツチング
あるいはウェットエツチングにより凹凸面29に形成さ
れる。また、光導波路28は、基板21端部に対応する
端部に、外部光源からの光ファイバ30の端が接着剤に
より接着されている。なお、光導波路28は、この例で
は、TtOtt−混合したSiへで形成したが、これに
限定されるものでなく、センサ基板例えばガラス基板2
1の屈折率より大きい屈折率を有する誘電体物質であれ
ばよい。
1の表面上(受光部構造体22を設けたその表面上)に
は、Tr Ot t−混合したSing t 3〜数l
Oμmの厚さにスノ量ツタリング法などにより形成する
ことにより、fラス基板21の端部から前記受光部構造
体22の受光素子24上に至る前記810!薄膜からな
る光導波路28が形成される。この光導波路28は、前
記受光素子24上部部分の表面が、プラズマエツチング
あるいはウェットエツチングにより凹凸面29に形成さ
れる。また、光導波路28は、基板21端部に対応する
端部に、外部光源からの光ファイバ30の端が接着剤に
より接着されている。なお、光導波路28は、この例で
は、TtOtt−混合したSiへで形成したが、これに
限定されるものでなく、センサ基板例えばガラス基板2
1の屈折率より大きい屈折率を有する誘電体物質であれ
ばよい。
このように構成された一実施例の動作を説明する。外部
光源からの光は、光ファイバ30を介してガラス基板2
1の端部(光導波路28の端部に一致する)から光導波
路28中へ導入される。すると、光は、先導波路28の
上下面で全反射を繰シ返しながら光導波路28中を進み
、受光素子24上部へと導かれる。ところが、受光素子
24上部の光導波路28表面は凹凸面29に形成されて
いるため、該部分で全反射の条件が満たなくなり、光は
凹凸面29を通して外部へ放出される。原稿31は、第
1図に示すように、光導波路28の凹凸面29に密着し
て移動している。したがって、前記放出された光は原稿
31面で反射し、反射光は、再び凹凸面29から光導波
路28に入シ、その下の受光素子24に吸収され、電気
信号に変換される。
光源からの光は、光ファイバ30を介してガラス基板2
1の端部(光導波路28の端部に一致する)から光導波
路28中へ導入される。すると、光は、先導波路28の
上下面で全反射を繰シ返しながら光導波路28中を進み
、受光素子24上部へと導かれる。ところが、受光素子
24上部の光導波路28表面は凹凸面29に形成されて
いるため、該部分で全反射の条件が満たなくなり、光は
凹凸面29を通して外部へ放出される。原稿31は、第
1図に示すように、光導波路28の凹凸面29に密着し
て移動している。したがって、前記放出された光は原稿
31面で反射し、反射光は、再び凹凸面29から光導波
路28に入シ、その下の受光素子24に吸収され、電気
信号に変換される。
この場合問題になるのは、光導波路28から受光素子2
4への光の漏れであるが、第1図に示すように受光素子
24の個別電極26を、受光素子24と光導波路28間
に介在されるようにして引出し、個別電極26を遮光膜
として用いることにより容易に解決できる。
4への光の漏れであるが、第1図に示すように受光素子
24の個別電極26を、受光素子24と光導波路28間
に介在されるようにして引出し、個別電極26を遮光膜
として用いることにより容易に解決できる。
(発明の効果)
以上詳述したように、この発明の密着型イメージセンサ
によれば、センサ基板の受光素子を設けた表面上に光導
波路を形成し、該光導波路を介して、受光素子と同一表
面上で横方向から光を導くようにしたから、第2図(c
)の従来例と同様に完全密着型で薄型化が可能でありな
から、その従来例のように受光素子のそれぞれに採光穴
を設ける必要がなく、製造上の加工精度の要求や複雑さ
を無くすことができる。また、先導波路の受光素子上部
の凹凸面は素子ごとに分離して設ける必要はなく、横一
列に設けられる受光素子全体の幅で素子列の方向へ延び
た一次元的な形で良いので容易に実現できる。また、光
導波路としての誘電体薄膜はノ(ツシペーション膜を兼
ね、したがって、この発明のセンサによれば、/4ツシ
ベーション膜の形成を省略することができる。さらに、
この発明のセンサは廉価である。
によれば、センサ基板の受光素子を設けた表面上に光導
波路を形成し、該光導波路を介して、受光素子と同一表
面上で横方向から光を導くようにしたから、第2図(c
)の従来例と同様に完全密着型で薄型化が可能でありな
から、その従来例のように受光素子のそれぞれに採光穴
を設ける必要がなく、製造上の加工精度の要求や複雑さ
を無くすことができる。また、先導波路の受光素子上部
の凹凸面は素子ごとに分離して設ける必要はなく、横一
列に設けられる受光素子全体の幅で素子列の方向へ延び
た一次元的な形で良いので容易に実現できる。また、光
導波路としての誘電体薄膜はノ(ツシペーション膜を兼
ね、したがって、この発明のセンサによれば、/4ツシ
ベーション膜の形成を省略することができる。さらに、
この発明のセンサは廉価である。
第1図はこの発明の密着型イメージセンサの一実施例を
示す横断面図、第2図(a) 、 (b) 、 ((り
は各々従来の主な光照射方法を示す断面図である。 21・・・ガラス基板、24・・・受光素子、28・・
・光導波路、29・・・凹凸面、30・・・光ファイバ
。
示す横断面図、第2図(a) 、 (b) 、 ((り
は各々従来の主な光照射方法を示す断面図である。 21・・・ガラス基板、24・・・受光素子、28・・
・光導波路、29・・・凹凸面、30・・・光ファイバ
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (a)センサ基板と、 (b)このセンサ基板の表面上に設けられた受光素子と
、 (c)前記センサ基板の屈折率より大きい屈折率を有す
る誘電体薄膜からなり、前記受光素子と同一側の前記セ
ンサ基板表面上に、その所定位置から前記受光素子上に
至るように形成され、受光素子上部部分の表面は凹凸面
に形成された光導波路と、 (d)この光導波路に、その受光素子と反対側の端部か
ら、光源からの光を導入する手段とを具備してなる密着
型イメージセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61051485A JPS62209849A (ja) | 1986-03-11 | 1986-03-11 | 密着型イメ−ジセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61051485A JPS62209849A (ja) | 1986-03-11 | 1986-03-11 | 密着型イメ−ジセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62209849A true JPS62209849A (ja) | 1987-09-16 |
Family
ID=12888260
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61051485A Pending JPS62209849A (ja) | 1986-03-11 | 1986-03-11 | 密着型イメ−ジセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62209849A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01278076A (ja) * | 1988-04-28 | 1989-11-08 | Ricoh Res Inst Of Gen Electron | 光センサー |
JP2021120974A (ja) * | 2020-01-30 | 2021-08-19 | 株式会社Flosfia | 半導体装置および半導体システム |
-
1986
- 1986-03-11 JP JP61051485A patent/JPS62209849A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01278076A (ja) * | 1988-04-28 | 1989-11-08 | Ricoh Res Inst Of Gen Electron | 光センサー |
JP2021120974A (ja) * | 2020-01-30 | 2021-08-19 | 株式会社Flosfia | 半導体装置および半導体システム |
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